一種光配向特性檢測(cè)方法、裝置及系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種光配向特性檢測(cè)方法、裝置及系統(tǒng)，其中，該方法包括：形成具有第一光學(xué)器件和第二光學(xué)器件的光學(xué)組合，所述第一光學(xué)器件包括至少一偏光片，所述第二光學(xué)器件是設(shè)置有已光固化配向膜的待測(cè)材料；使光線透過所述光學(xué)組合，同時(shí)改變所述第一光學(xué)器件中偏光片的光軸與所述第二光學(xué)器件中配向膜的光軸之間的夾角；以及測(cè)量透過所述光學(xué)組合后的光線，以獲得不同所述夾角情況下的光強(qiáng)，從而獲得所述配向膜的光配向特性。通過上述方式，本發(fā)明能夠把偏振光測(cè)試法應(yīng)用于面板生產(chǎn)過程中的線上檢測(cè)，以解決測(cè)試方法受到基板類型局限的技術(shù)問題。
【專利說明】一種光配向特性檢測(cè)方法、裝置及系統(tǒng)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及移動(dòng)終端【技術(shù)領(lǐng)域】，特別是涉及一種光配向特性檢測(cè)方法、裝置及系 統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002] 現(xiàn)有技術(shù)中，通過向配向膜或配向?qū)樱ㄒ韵路Q作"光配向膜）照射偏極化紫外光， 與光極化方向平行的高分子發(fā)生光化學(xué)反應(yīng)，使薄膜表面產(chǎn)生異向性分布，誘導(dǎo)液晶分子 排列，以此進(jìn)行配向的被稱作光配向的技術(shù)，該光配向被廣泛應(yīng)用于液晶顯示顯示面板的 液晶顯示元件所具有的液晶配向膜的配向等。
[0003] 現(xiàn)有的光配向技術(shù)檢測(cè)方法通常分為單膜檢測(cè)和成盒檢測(cè)，其中，單膜檢測(cè)一般 包括偏振吸收譜測(cè)試、相位延遲量測(cè)，成盒測(cè)試包括光學(xué)特性量測(cè)。
[0004] 通常，在面板生成過程中的線上檢測(cè)對(duì)于面板生產(chǎn)至關(guān)重要，但對(duì)于光配向技術(shù)， 現(xiàn)有的線上檢測(cè)方法一般為相位延遲量測(cè)，其利用膜面對(duì)光的反射特性及時(shí)判定材料照光 后的配向特性。但是，這種方法的應(yīng)用會(huì)受到基板類型的局限，無法量測(cè)某些類型的。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0005] 本發(fā)明主要解決的技術(shù)問題是提供一種光配向特性檢測(cè)方法、裝置及系統(tǒng)，把偏 振光測(cè)試法應(yīng)用于面板生產(chǎn)過程中的線上檢測(cè)，以解決測(cè)試方法受到基板類型局限的技術(shù) 問題。
[0006] 為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的一個(gè)技術(shù)方案是：提供一種光配向特性檢測(cè) 方法，所方法包括：形成具有第一光學(xué)器件和第二光學(xué)器件的光學(xué)組合，所述第一光學(xué)器件 包括至少一偏光片，所述第二光學(xué)器件是設(shè)置有已光固化配向膜的待測(cè)材料；使光線透過 所述光學(xué)組合，同時(shí)改變所述第一光學(xué)器件中偏光片的光軸與所述第二光學(xué)器件中配向膜 的光軸之間的夾角；以及測(cè)量透過所述光學(xué)組合后的光線，以獲得不同所述夾角情況下的 光強(qiáng)，從而獲得所述配向膜的光配向特性。
[0007] 其中，所述形成具有第一光學(xué)器件和第二光學(xué)器件的光學(xué)組合的步驟具體為：根 據(jù)所述待測(cè)材料類型確定所述第一光學(xué)器件中包含的偏光片的數(shù)量、各所述偏光片之間的 光軸關(guān)系、各所述偏光片與所述第二光學(xué)器件之間的光學(xué)位置關(guān)系。
[0008] 其中，所述根據(jù)所述待測(cè)材料類型確定所述第一光學(xué)器件中包含的偏光片的數(shù) 量、各所述偏光片之間的光軸關(guān)系、各所述偏光片與所述第二光學(xué)器件之間的光學(xué)位置關(guān) 系的步驟包括：當(dāng)所述待測(cè)材料類型為設(shè)置有已光固化配向膜的基板時(shí)，相應(yīng)地確定所述 第一光學(xué)器件中包含一片偏光片，以及確定所述偏光片位于所述基板的朝向或背對(duì)所述光 線的方向。
[0009] 其中，所述根據(jù)所述待測(cè)材料類型確定所述第一光學(xué)器件中包含的偏光片的數(shù) 量、各所述偏光片之間的光軸關(guān)系、各偏光片與第二光學(xué)器件之間的光學(xué)位置關(guān)系的步驟 包括：所述待測(cè)材料類型為設(shè)置有已光固化配向膜的基板，相應(yīng)地確定所述第一光學(xué)器件 中包含兩片偏光片，以及確定各所述偏光片位于所述基板的朝向或背對(duì)所述光線的方向， 其中，所述兩片偏光片的光軸相互平行。
[0010] 其中，所述設(shè)置有已光固化配向膜的基板為涂有聚酰亞胺薄膜PI的素玻璃基板、 陣列玻璃基板或彩色濾光片基板。
[0011] 其中，所述根據(jù)所述待測(cè)材料類型確定所述第一光學(xué)器件中包含的偏光片的數(shù) 量、各所述偏光片之間的光軸關(guān)系、各偏光片與第二光學(xué)器件之間的光學(xué)位置關(guān)系的步驟 包括：所述待測(cè)材料類型為設(shè)置有已光固化配向膜的基板，相應(yīng)地確定所述第一光學(xué)器件 中包含兩片偏光片，以及確定各所述偏光片位于所述基板的朝向或背對(duì)所述光線的方向， 其中，所述兩片偏光片的光軸相互垂直。
[0012] 其中，所述設(shè)置有已光固化配向膜的基板為成盒后的液晶基板。
[0013] 為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的另一個(gè)技術(shù)方案是：提供一種光配向特性檢 測(cè)裝置，所述裝置包括：第一光學(xué)器件，包括至少一偏光片；第二光學(xué)器件，為設(shè)置有已光 固化配向膜的待測(cè)材料；光源，用于向所述第一光學(xué)器件和第二光學(xué)器件形成的光學(xué)組合 發(fā)出光線，所述第一光學(xué)器件中偏光片的光軸與所述第二光學(xué)器件中配向膜的光軸之間的 夾角同時(shí)發(fā)生改變使所述光線透過所述光學(xué)組合；以及光線探測(cè)器，用于測(cè)量透過所述光 學(xué)組合后的光線，以獲得不同所述夾角情況下的光強(qiáng)，所述光強(qiáng)用于確定所述配向膜的光 配向特性。
[0014] 其中，所述待測(cè)材料為包括第一區(qū)域和第二區(qū)域的基板，其中，所述第一區(qū)域?yàn)橥?有PI的素玻璃基板，所述第二區(qū)域?yàn)樵O(shè)置有已光固化配向膜的陣列玻璃基板或彩色濾光 片基板。
[0015] 為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的另一個(gè)技術(shù)方案是：提供一種光配向特性檢 測(cè)系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括光配向特性檢測(cè)裝置以及光配向特性處理裝置；所述光配向特性檢 測(cè)裝置包括：第一光學(xué)器件，包括至少一偏光片；第二光學(xué)器件，為設(shè)置有已光固化配向膜 的待測(cè)材料；光源，用于向所述第一光學(xué)器件和第二光學(xué)器件形成的光學(xué)組合發(fā)出光線，所 述第一光學(xué)器件中偏光片的光軸與所述第二光學(xué)器件中配向膜的光軸之間的夾角同時(shí)發(fā) 生改變使所述光線透過所述光學(xué)組合；以及光線探測(cè)器，用于測(cè)量透過所述光學(xué)組合后的 光線，以獲得不同所述夾角情況下的光強(qiáng)；所述光配向特性處理裝置用于根據(jù)所述光線探 測(cè)器獲得的不同所述夾角情況下的光強(qiáng)確定所述配向膜的光配向特性。
[0016] 本發(fā)明的有益效果是：區(qū)別于現(xiàn)有技術(shù)的情況，本發(fā)明提供的一種光配向特性檢 測(cè)方法、裝置及系統(tǒng)，根據(jù)待測(cè)材料的類型確定第一光學(xué)器件中包含的偏光片的數(shù)量、各偏 光片之間的光軸關(guān)系、各偏光片與第二光學(xué)器件之間的光學(xué)位置關(guān)系，并改變?cè)摰谝还鈱W(xué) 器件中偏光片的光軸與該第二光學(xué)器件中配向膜的光軸之間的夾角使光線透過第一光學(xué) 器件和第二光學(xué)器件組成的光學(xué)組合，從而根據(jù)透過該光學(xué)組合的光強(qiáng)及對(duì)應(yīng)的夾角計(jì)算 配向膜的光配向特性。利用本發(fā)明，能夠在線上檢測(cè)時(shí)直接根據(jù)待測(cè)材料選擇測(cè)試所用的 光學(xué)器件，并通過測(cè)量光線的偏振吸收以測(cè)量相應(yīng)的光配向特性，而不會(huì)受到待測(cè)材料基 板類型的局限，提高測(cè)試效率及生產(chǎn)效率。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0017] 圖1是本發(fā)明第一實(shí)施方式中的一種光配向特性檢測(cè)方法的流程示意圖；
[0018] 圖2是本發(fā)明第二實(shí)施方式中的一種光配向特性檢測(cè)方法的流程示意圖；
[0019] 圖3是本發(fā)明一實(shí)施方式中的光學(xué)組合的示意圖；
[0020] 圖4是本發(fā)明另一實(shí)施方式中的光學(xué)組合的示意圖；
[0021] 圖5是本發(fā)明再一實(shí)施方式中的光學(xué)組合的示意圖；
[0022] 圖6是本發(fā)明實(shí)施方式中的光配向特性檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0023] 圖7是本發(fā)明實(shí)施方式中的光配向特性檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0024] 圖8是本發(fā)明實(shí)施方式中P偏光片的光軸與PI的配向膜的光軸之間的夾角與線 性偏振光吸收量的關(guān)系示意圖；
[0025] 圖9是本發(fā)明實(shí)施方式中光配向PI材料在不同anneal溫度下的配向特性示意 圖；
[0026] 圖10是本發(fā)明實(shí)施方式中偏光片的光軸與成盒的液晶的配向膜的光軸之間的夾 角與線性偏振光吸收量的關(guān)系示意圖；
[0027] 圖11是本發(fā)明實(shí)施方式中光配向PI材料在不同anneal溫度下的配向特性示意 圖。
[0028] 元件標(biāo)號(hào)：
[0029] 光源 30、40、50、63、712
[0030] 偏光片 31、41、43、51、53
[0031] 待測(cè)材料 32、42、52、64、714
[0032] 光線探測(cè)器 33、44、54、65、713
[0033] 裝置 60、71
[0034] 第一光學(xué)器件 61、710
[0035] 第二光學(xué)器件 62、711
[0036] 光學(xué)組合 66、715
[0037] 系統(tǒng) 70
[0038] 光配向特性處理裝置72
【具體實(shí)施方式】
[0039] 為詳細(xì)說明本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容、構(gòu)造特征、所實(shí)現(xiàn)目的及效果，以下結(jié)合附圖和實(shí) 施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說明。
[0040] 請(qǐng)參閱圖1，為本發(fā)明第一實(shí)施方式中的一種光配向特性檢測(cè)方法的流程示意圖。 該實(shí)施方式示出的一種光配向特性檢測(cè)方法包括如下步驟：
[0041] 步驟S10,形成具有第一光學(xué)器件和第二光學(xué)器件的光學(xué)組合，該第一光學(xué)器件包 括至少一偏光片，該第二光學(xué)器件是設(shè)置有已光固化配向膜的待測(cè)材料。
[0042] 步驟S11，使光線透過該光學(xué)組合，同時(shí)改變?cè)摰谝还鈱W(xué)器件中偏光片的光軸與該 第二光學(xué)器件中配向膜的光軸之間的夾角。
[0043] 步驟S12,測(cè)量透過該光學(xué)組合后的光線，以獲得不同夾角情況下的光強(qiáng)，從而獲 得該配向膜的光配向特性。
[0044] 設(shè)置有已光固化配向膜的待測(cè)材料經(jīng)過光配向后具有各向異性特性，對(duì)不同方向 的線性偏振光的吸收/透射特性不同。例如，聚酰亞胺薄膜PI材料為各向同性，對(duì)線性偏 振光吸收無方向的選擇性。當(dāng)進(jìn)行光配向后，PI材料發(fā)生光化學(xué)反應(yīng)，分子呈有序性分布， 具有各向異性，只有線性偏振光方向與分子長(zhǎng)軸方向平行，材料才會(huì)產(chǎn)生最大吸收。因此， 通過確認(rèn)吸收峰值所對(duì)應(yīng)的偏振片角度，即可確定光配向角度。
[0045] 具體地，通過轉(zhuǎn)動(dòng)偏光片或該待測(cè)材料使光線透過，并測(cè)量透過該光學(xué)組合后的 光線，相應(yīng)地確定最大光強(qiáng)和最小光強(qiáng)。其中，從該最大光強(qiáng)、最小光強(qiáng)、該最大光強(qiáng)對(duì)應(yīng)的 夾角、該最小光強(qiáng)對(duì)應(yīng)的夾角以及基準(zhǔn)配向角度中選擇相應(yīng)的參數(shù)以計(jì)算該待測(cè)材料的光 配向特性，該光配向特性可以包括配向角度、配向強(qiáng)弱、膜面配向均勻性等。其中，該基準(zhǔn)配 向角度為與該待測(cè)材料相同的合格材料的配向角度，為已知值。例如，通過計(jì)算二向色性比 以確定光配向強(qiáng)弱，通過最大光強(qiáng)或最小光強(qiáng)對(duì)應(yīng)的夾角計(jì)算光配向角度。
[0046] 請(qǐng)參閱圖2,為本發(fā)明第二實(shí)施方式中的一種光配向特性檢測(cè)方法的流程示意圖。 該實(shí)施方式示出的一種光配向特性檢測(cè)方法包括如下步驟：
[0047] 步驟S20,根據(jù)待測(cè)材料類型確定第一光學(xué)器件中包含的偏光片的數(shù)量、各偏光片 之間的光軸關(guān)系、各偏光片與第二光學(xué)器件之間的光學(xué)位置關(guān)系，以形成具有第一光學(xué)器 件和第二光學(xué)器件的光學(xué)組合。
[0048] 其中，該第一光學(xué)器件包括至少一偏光片，該第二光學(xué)器件是設(shè)置有已光固化配 向膜的待測(cè)材料。
[0049] 其中，該待測(cè)材料類型為設(shè)置有已光固化配向膜的基板。
[0050] 步驟S21，使光線透過該光學(xué)組合，同時(shí)改變?cè)摰谝还鈱W(xué)器件中偏光片的光軸與該 第二光學(xué)器件中配向膜的光軸之間的夾角。
[0051] 步驟S22,測(cè)量透過該光學(xué)組合后的光線，以獲得不同夾角情況下的光強(qiáng)，從而獲 得該配向膜的光配向特性。
[0052] 進(jìn)一步地，當(dāng)該設(shè)置有已光固化配向膜的基板為涂有聚酰亞胺薄膜PI的素玻璃 基板、陣列玻璃基板或彩色濾光片基板時(shí)，在一實(shí)施方式中，根據(jù)該待測(cè)材料類型相應(yīng)地確 定該第一光學(xué)器件中包含一片偏光片，以及確定該偏光片位于該基板的朝向或背對(duì)該光線 的方向。
[0053] 請(qǐng)同時(shí)參閱圖3,為本發(fā)明一實(shí)施方式中的光學(xué)組合的示意圖。在本實(shí)施方式中， 該偏光片31位于光源30與待測(cè)材料32之間，一光線探測(cè)器33位于待測(cè)材料32遠(yuǎn)離偏光 片31的一側(cè)。該光源30發(fā)出光線照射該光學(xué)組合時(shí)，轉(zhuǎn)動(dòng)偏光片31以改變其光軸與該待 測(cè)材料32配向膜的光軸之間的夾角，光線依次透過偏光片31和待測(cè)材料32,并被該光線探 測(cè)器33接收以檢測(cè)透出該待測(cè)材料32的光線在偏光片31的光軸與待測(cè)材料32的配向膜 的光軸之間的夾角處于不同情況下的光強(qiáng)。
[0054] 在另一實(shí)施方式中，根據(jù)該待測(cè)材料類型相應(yīng)地確定該第一光學(xué)器件中包含兩片 偏光片，以及確定各偏光片位于該基板的朝向或背對(duì)該光線的方向。其中，該兩片偏光片的 光軸相互平行。
[0055] 請(qǐng)同時(shí)參閱圖4,為本發(fā)明另一實(shí)施方式中的光學(xué)組合的示意圖。在另一實(shí)施方 式中，該待測(cè)材料42位于偏光片41、43之間，光源40位于偏光片41遠(yuǎn)離待測(cè)材料42的一 側(cè)，光線探測(cè)器44位于偏光片43遠(yuǎn)離待測(cè)材料42的一側(cè)。并且，偏光片41、43在初始狀 態(tài)時(shí)，二者的光軸相互平行。該光源40發(fā)出光線照射該光學(xué)組合時(shí)，同時(shí)轉(zhuǎn)動(dòng)偏光片41、43 以改變其光軸與該待測(cè)材料42配向膜的光軸之間的夾角，光線會(huì)依次透過偏光片41、待測(cè) 材料42和偏光片43,并被該光線探測(cè)器44接收以檢測(cè)透出該偏光片43的光線在偏光片 41、43的光軸與待測(cè)材料42的配向膜的光軸之間的夾角處于不同情況下的光強(qiáng)。其中，偏 光片41、43同時(shí)轉(zhuǎn)動(dòng)且轉(zhuǎn)動(dòng)角度是相同的。
[0056] 進(jìn)一步地，當(dāng)該設(shè)置有已光固化配向膜的基板為成盒后的液晶基板時(shí)，在本實(shí)施 方式中，根據(jù)該待測(cè)材料類型相應(yīng)地確定該第一光學(xué)器件中包含兩片偏光片，以及確定各 偏光片位于該基板的朝向或背對(duì)該光線的方向，其中，該兩片偏光片的光軸相互垂直。
[0057] 請(qǐng)同時(shí)參閱圖5,為本發(fā)明再一實(shí)施方式中的光學(xué)組合的示意圖。在再一實(shí)施方 式中，該待測(cè)材料52位于偏光片51、53之間，光源50位于偏光片51遠(yuǎn)離待測(cè)材料52的一 偵牝光線探測(cè)器55位于偏光片53遠(yuǎn)離待測(cè)材料52的一側(cè)。并且，偏光片51、53在初始狀態(tài) 時(shí)，二者的光軸相互垂直。該光源50發(fā)出光線照射該光學(xué)組合時(shí)，轉(zhuǎn)動(dòng)待測(cè)材料52以改變 其配向膜的光軸與該偏光片51、53的光軸之間的夾角，光線會(huì)依次透過偏光片51、待測(cè)材 料52和偏光片53,并被該光線探測(cè)器55接收以檢測(cè)透出該偏光片53的光線在偏光片51、 53的光軸與待測(cè)材料52的配向膜的光軸之間的夾角處于不同情況下的光強(qiáng)。在其他實(shí)施 方式中，還可以同時(shí)轉(zhuǎn)動(dòng)偏光片51、53以改變其光軸與該待測(cè)材料52配向膜的光軸之間的 夾角。其中，偏光片51、53同時(shí)轉(zhuǎn)動(dòng)且轉(zhuǎn)動(dòng)角度是相同的。
[0058] 請(qǐng)參閱圖6,為本發(fā)明實(shí)施方式中的光配向特性檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。該裝置 60包括：
[0059] 第一光學(xué)器件61，包括至少一偏光片。
[0060] 第二光學(xué)器件62,為設(shè)置有已光固化配向膜的待測(cè)材料64。
[0061] 光源63,用于向該第一光學(xué)器件61和第二光學(xué)器件62形成的光學(xué)組合66發(fā)出光 線，該第一光學(xué)器件61中偏光片的光軸與該第二光學(xué)器件62中配向膜的光軸之間的夾角 同時(shí)發(fā)生改變使該光線透過該光學(xué)組合66。
[0062] 光線探測(cè)器65,用于測(cè)量透過該光學(xué)組合后的光線，以獲得不同夾角情況下的光 強(qiáng)，該光強(qiáng)用于確定該配向膜的光配向特性。
[0063] 本發(fā)明的光配向特性檢測(cè)裝置所包括的各元器件及裝置、單元的位置連接關(guān)系并 不僅限于圖中所示，該圖僅為示意圖，并不作為具體限定。
[0064] 請(qǐng)參閱圖7,為本發(fā)明實(shí)施方式中的光配向特性檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。該系統(tǒng) 70包括光配向特性檢測(cè)裝置71以及光配向特性處理裝置72,其中，該光配向特性檢測(cè)裝置 71包括：
[0065] 第一光學(xué)器件710,包括至少一偏光片。
[0066] 第二光學(xué)器件711，為設(shè)置有已光固化配向膜的待測(cè)材料714。
[0067] 光源712,用于向該第一光學(xué)器件711和第二光學(xué)器件712形成的光學(xué)組合715發(fā) 出光線，該第一光學(xué)器件711中偏光片的光軸與該第二光學(xué)器件712中配向膜的光軸之間 的夾角同時(shí)發(fā)生改變使該光線透過該光學(xué)組合。
[0068] 光線探測(cè)器713,用于測(cè)量透過該光學(xué)組合715后的光線，以獲得不同該夾角情況 下的光強(qiáng)。
[0069] 該光配向特性處理裝置72用于根據(jù)該光線探測(cè)器713獲得的不同該夾角情況下 的光強(qiáng)確定該配向膜的光配向特性。
[0070] 其中，該第一光學(xué)器件710根據(jù)該待測(cè)材料714的類型確定其中包含的偏光片的 數(shù)量，以及各偏光片之間的光軸關(guān)系、各偏光片與該第二光學(xué)器件711之間的光學(xué)位置關(guān) 系。
[0071] 該待測(cè)材料714的類型為設(shè)置有已光固化配向膜的基板。
[0072] 當(dāng)該設(shè)置有已光固化配向膜的基板為涂有聚酰亞胺薄膜PI的素玻璃基板、陣列 玻璃基板或彩色濾光片基板時(shí)，在一實(shí)施方式中，該第一光學(xué)器件710根據(jù)該待測(cè)材料714 的類型相應(yīng)地確定其中包含一片偏光片，以及確定該偏光片位于該基板的朝向或背對(duì)該光 源712的方向。具體的位置關(guān)系如圖3所示。在另一實(shí)施方式中，該第一光學(xué)器件710根 據(jù)該待測(cè)材料714的類型相應(yīng)地確定其中包含兩片偏光片，以及確定各偏光片位于該基板 的朝向或背對(duì)該光源712的方向。其中，該兩片偏光片的光軸相互平行。具體位置關(guān)系如 圖4所示。
[0073] 當(dāng)該設(shè)置有已光固化配向膜的基板為成盒后的液晶基板時(shí)，在本實(shí)施方式中，該 第一光學(xué)器件710根據(jù)該待測(cè)材料714的類型相應(yīng)地確定其中包含兩片偏光片，以及確定 各偏光片位于該基板的朝向或背對(duì)該光源712的方向，其中，該兩片偏光片的光軸相互垂 直。具體的位置關(guān)系如圖5所示。
[0074] 進(jìn)一步地，該光線探測(cè)器713測(cè)量透過該光學(xué)組合后的光線，相應(yīng)地確定最大光 強(qiáng)和最小光強(qiáng)。該光配向特性處理裝置72從該光線探測(cè)器713確定的最大光強(qiáng)、最小光強(qiáng)， 以及獲取該最大光強(qiáng)對(duì)應(yīng)的夾角、該最小光強(qiáng)對(duì)應(yīng)的夾角、基準(zhǔn)配向角度，并從這些參數(shù)中 選擇相應(yīng)的參數(shù)以計(jì)算該待測(cè)材料714的光配向特性，該光配向特性可以包括配向角度、 配向強(qiáng)弱、膜面配向均勻性等。其中，該基準(zhǔn)配向角度為與該待測(cè)材料相同的合格材料的配 向角度，為已知值。
[0075] 進(jìn)一步地，該待測(cè)材料714為一包括第一區(qū)域和第二區(qū)域的基板，其中，該第一區(qū) 域?yàn)橥坑蠵I的素玻璃基板，該第二區(qū)域?yàn)樵O(shè)置有已光固化配向膜的陣列玻璃基板或彩色 濾光片基板。其中，該陣列玻璃基板可以是薄膜晶體管TFT玻璃基板。
[0076] 請(qǐng)同時(shí)參閱圖8、9，其中，圖8為本發(fā)明實(shí)施方式中P偏光片的光軸與PI的配向膜 的光軸之間的夾角與線性偏振光吸收量的關(guān)系示意圖，圖9為本發(fā)明實(shí)施方式中光配向PI 材料在不同anneal (退火）溫度下的配向特性示意圖。
[0077] 其中，PI膜配向特性以二向性比（Dichromic ratio, DR)來表征，表達(dá)式為：
【權(quán)利要求】
1. 一種光配向特性檢測(cè)方法，其特征在于，所方法包括： 形成具有第一光學(xué)器件和第二光學(xué)器件的光學(xué)組合，所述第一光學(xué)器件包括至少一偏 光片，所述第二光學(xué)器件是設(shè)置有已光固化配向膜的待測(cè)材料； 使光線透過所述光學(xué)組合，同時(shí)改變所述第一光學(xué)器件中偏光片的光軸與所述第二光 學(xué)器件中配向膜的光軸之間的夾角；W及 測(cè)量透過所述光學(xué)組合后的光線，W獲得不同所述夾角情況下的光強(qiáng)，從而獲得所述 配向膜的光配向特性。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光配向特性檢測(cè)方法，其特征在于，所述形成具有第一光學(xué) 器件和第二光學(xué)器件的光學(xué)組合的步驟具體為： 根據(jù)所述待測(cè)材料類型確定所述第一光學(xué)器件中包含的偏光片的數(shù)量、各所述偏光片 之間的光軸關(guān)系、各所述偏光片與所述第二光學(xué)器件之間的光學(xué)位置關(guān)系。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的光配向特性檢測(cè)方法，其特征在于，所述根據(jù)所述待測(cè)材料 類型確定所述第一光學(xué)器件中包含的偏光片的數(shù)量、各所述偏光片之間的光軸關(guān)系、各所 述偏光片與所述第二光學(xué)器件之間的光學(xué)位置關(guān)系的步驟包括： 當(dāng)所述待測(cè)材料類型為設(shè)置有已光固化配向膜的基板時(shí)，相應(yīng)地確定所述第一光學(xué)器 件中包含一片偏光片，W及確定所述偏光片位于所述基板的朝向或背對(duì)所述光線的方向。
4. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的光配向特性檢測(cè)方法，其特征在于，所述根據(jù)所述待測(cè)材料 類型確定所述第一光學(xué)器件中包含的偏光片的數(shù)量、各所述偏光片之間的光軸關(guān)系、各偏 光片與第二光學(xué)器件之間的光學(xué)位置關(guān)系的步驟包括： 所述待測(cè)材料類型為設(shè)置有已光固化配向膜的基板，相應(yīng)地確定所述第一光學(xué)器件中 包含兩片偏光片，W及確定各所述偏光片位于所述基板的朝向或背對(duì)所述光線的方向，其 中，所述兩片偏光片的光軸相互平行。
5. 根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的光配向特性檢測(cè)方法，其特征在于，所述設(shè)置有已光固化 配向膜的基板為涂有聚酷亞胺薄膜PI的素玻璃基板、陣列玻璃基板或彩色濾光片基板。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光配向特性檢測(cè)方法，其特征在于，所述根據(jù)所述待測(cè)材料 類型確定所述第一光學(xué)器件中包含的偏光片的數(shù)量、各所述偏光片之間的光軸關(guān)系、各偏 光片與第二光學(xué)器件之間的光學(xué)位置關(guān)系的步驟包括： 所述待測(cè)材料類型為設(shè)置有已光固化配向膜的基板，相應(yīng)地確定所述第一光學(xué)器件中 包含兩片偏光片，W及確定各所述偏光片位于所述基板的朝向或背對(duì)所述光線的方向，其 中，所述兩片偏光片的光軸相互垂直。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的光配向特性檢測(cè)方法，其特征在于，所述設(shè)置有已光固化配 向膜的基板為成盒后的液晶基板。
8. -種光配向特性檢測(cè)裝置，其特征在于，所述裝置包括： 第一光學(xué)器件，包括至少一偏光片； 第二光學(xué)器件，為設(shè)置有已光固化配向膜的待測(cè)材料； 光源，用于向所述第一光學(xué)器件和第二光學(xué)器件形成的光學(xué)組合發(fā)出光線，所述第一 光學(xué)器件中偏光片的光軸與所述第二光學(xué)器件中配向膜的光軸之間的夾角同時(shí)發(fā)生改變 使所述光線透過所述光學(xué)組合；W及光線探測(cè)器，用于測(cè)量透過所述光學(xué)組合后的光線，W 獲得不同所述夾角情況下的光強(qiáng)，所述光強(qiáng)用于確定所述配向膜的光配向特性。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的光配向特性檢測(cè)裝置，其特征在于，所述待測(cè)材料為包括第 一區(qū)域和第二區(qū)域的基板，其中，所述第一區(qū)域?yàn)橥坑蠵I的素玻璃基板，所述第二區(qū)域?yàn)?設(shè)置有已光固化配向膜的陣列玻璃基板或彩色濾光片基板。
10. -種光配向特性檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括光配向特性檢測(cè)裝置W及光 配向特性處理裝置；所述光配向特性檢測(cè)裝置包括： 第一光學(xué)器件，包括至少一偏光片； 第二光學(xué)器件，為設(shè)置有已光固化配向膜的待測(cè)材料； 光源，用于向所述第一光學(xué)器件和第二光學(xué)器件形成的光學(xué)組合發(fā)出光線，所述第一 光學(xué)器件中偏光片的光軸與所述第二光學(xué)器件中配向膜的光軸之間的夾角同時(shí)發(fā)生改變 使所述光線透過所述光學(xué)組合；W及 光線探測(cè)器，用于測(cè)量透過所述光學(xué)組合后的光線，W獲得不同所述夾角情況下的光 強(qiáng)； 所述光配向特性處理裝置用于根據(jù)所述光線探測(cè)器獲得的不同所述夾角情況下的光 強(qiáng)確定所述配向膜的光配向特性。
11. 一種光配向特性檢測(cè)方法，其特征在于，所方法包括： 形成具有第一光學(xué)器件和第二光學(xué)器件的光學(xué)組合，所述第一光學(xué)器件包括至少一偏 光片，所述第二光學(xué)器件是設(shè)置有已光固化配向膜的待測(cè)材料； 使光線透過所述光學(xué)組合，同時(shí)改變所述第一光學(xué)器件中偏光片的光軸與所述第二光 學(xué)器件中配向膜的光軸之間的夾角；W及 測(cè)量透過所述光學(xué)組合后的光線，W獲得不同所述夾角情況下的光吸收量，從而獲得 所述配向膜的光配向特性。
【文檔編號(hào)】G02F1/13GK104460062SQ201410770463
【公開日】2015年3月25日 申請(qǐng)日期:2014年12月12日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月12日
【發(fā)明者】宋彥君 申請(qǐng)人:深圳市華星光電技術(shù)有限公司