技術(shù)編號(hào)：2717176
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開(kāi)了一種光配向特性檢測(cè)方法、裝置及系統(tǒng)，其中，該方法包括形成具有第一光學(xué)器件和第二光學(xué)器件的光學(xué)組合，所述第一光學(xué)器件包括至少一偏光片，所述第二光學(xué)器件是設(shè)置有已光固化配向膜的待測(cè)材料；使光線(xiàn)透過(guò)所述光學(xué)組合，同時(shí)改變所述第一光學(xué)器件中偏光片的光軸與所述第二光學(xué)器件中配向膜的光軸之間的夾角；以及測(cè)量透過(guò)所述光學(xué)組合后的光線(xiàn)，以獲得不同所述夾角情況下的光強(qiáng)，從而獲得所述配向膜的光配向特性。通過(guò)上述方式，本發(fā)明能夠把偏振光測(cè)試法應(yīng)用于面板生產(chǎn)過(guò)程中的線(xiàn)...
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