使用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備測(cè)試具有不同性能特性和要求的數(shù)據(jù)包收發(fā)器的系統(tǒng)和方法
【專利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種系統(tǒng)和方法，該系統(tǒng)和方法用于測(cè)試無(wú)線數(shù)據(jù)包信號(hào)收發(fā)器受測(cè)裝置(DUT)，該測(cè)試通過(guò)使用與測(cè)試器分離的DUT控制電路系統(tǒng)存取并執(zhí)行測(cè)試程序指令而進(jìn)行，以便在利用測(cè)試器進(jìn)行測(cè)試期間控制DUT。測(cè)試程序指令可被預(yù)先提供并存儲(chǔ)，以便在該測(cè)試器或外部控制源(例如，個(gè)人計(jì)算機(jī))的控制下供后續(xù)存取和執(zhí)行。另選地，可緊鄰測(cè)試之前，諸如在開(kāi)始測(cè)試新的或不同性能特性或要求的DUT時(shí)，通過(guò)測(cè)試器或外部控制源提供測(cè)試程序指令。因此，雖然DUT所采用的各種芯片組之間具有差異，但仍可與標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試器構(gòu)造協(xié)作來(lái)執(zhí)行不同DUT的特定化測(cè)試，而無(wú)需重新構(gòu)造或重新程序化該測(cè)試器。
【專利說(shuō)明】
使用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備測(cè)試具有不同性能特性和要求的數(shù)據(jù)包收發(fā)器的系統(tǒng)和方法
【背景技術(shù)】
[0001]本發(fā)明涉及測(cè)試數(shù)據(jù)包收發(fā)器受測(cè)裝置(DUT)，并且具體地涉及在DUT所采用的各種芯片組之間具有差異的情況下與標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試器構(gòu)造協(xié)作而執(zhí)行不同DUT的特定化測(cè)試而無(wú)需重新構(gòu)造或重新程序化測(cè)試器。
[0002]許多現(xiàn)今的電子裝置為了連接和通信這兩種目的使用無(wú)線技術(shù)。因?yàn)闊o(wú)線裝置發(fā)送以及接收電磁能量，并且因?yàn)閮蓚€(gè)或更多個(gè)無(wú)線裝置可能因其信號(hào)頻率和功率頻譜密度而干擾彼此的運(yùn)作，這些裝置及其無(wú)線技術(shù)必須遵循各種無(wú)線技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格。
[0003]在設(shè)計(jì)此類無(wú)線裝置時(shí)，工程師附加注意要確保此類裝置會(huì)符合或優(yōu)于根據(jù)其所包括的無(wú)線技術(shù)所規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)的每一項(xiàng)規(guī)格。此外，當(dāng)這些裝置之后進(jìn)入量產(chǎn)時(shí)，其會(huì)經(jīng)測(cè)試以確保制造缺陷不會(huì)導(dǎo)致不適當(dāng)?shù)倪\(yùn)作，包括其是否遵循所包括的無(wú)線技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格。
[0004]為了在制造和裝配之后測(cè)試這些裝置，目前無(wú)線裝置測(cè)試系統(tǒng)采用子系統(tǒng)用于分析從每個(gè)裝置接收到的信號(hào)。這些子系統(tǒng)通常至少包括用于提供待傳輸至受測(cè)裝置的來(lái)源信號(hào)的向量信號(hào)產(chǎn)生器(VSG)、以及用于分析由受測(cè)裝置所產(chǎn)生的信號(hào)的向量信號(hào)分析器(VSA) JSG對(duì)于測(cè)試信號(hào)的產(chǎn)生以及VSA所執(zhí)行的信號(hào)分析通常是可編程的，以便允許將各自都用于測(cè)試各種裝置是否遵循各種具有不同頻率范圍、帶寬、以及信號(hào)調(diào)變特性的無(wú)線技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。
[0005]在無(wú)線通信裝置的制造過(guò)程中，制造測(cè)試有關(guān)的成本占了所需生產(chǎn)成本中相當(dāng)高的一部分。通常，測(cè)試成本與進(jìn)行測(cè)試所需的測(cè)試儀器精密度之間有直接關(guān)聯(lián)性。因此，可保持測(cè)試準(zhǔn)確度并且同時(shí)最小化儀器成本(例如，因提高必要測(cè)試儀器或測(cè)試器的精密度所增加的成本)的創(chuàng)新相當(dāng)重要的，并且可大幅節(jié)省成本，尤其是當(dāng)考慮到制造和測(cè)試為數(shù)眾多的此類裝置。
[0006]因此，需要的是一種技術(shù)，該技術(shù)用于測(cè)試愈趨精密且性能特性和要求愈趨多變的DUT，而無(wú)需同時(shí)使用愈趨精密且測(cè)試特性和要求同樣愈趨多變的測(cè)試器。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]根據(jù)本發(fā)明，提供用于測(cè)試無(wú)線數(shù)據(jù)包信號(hào)收發(fā)器受測(cè)裝置(DUT)的系統(tǒng)和方法，該測(cè)試通過(guò)使用與測(cè)試器分離的DUT控制電路系統(tǒng)來(lái)存取并執(zhí)行測(cè)試程序指令而進(jìn)行，以便在利用測(cè)試器進(jìn)行測(cè)試期間控制該DUT。測(cè)試程序指令可被預(yù)先提供并存儲(chǔ)，以便在該測(cè)試器或外部控制源(例如，個(gè)人計(jì)算機(jī))的控制下供后續(xù)存取和執(zhí)行。另選地，可緊鄰測(cè)試之前，例如，在開(kāi)始測(cè)試新的或不同性能特性或要求的DUT時(shí)，通過(guò)測(cè)試器或外部控制源提供測(cè)試程序指令。因此，雖然DUT所采用的各種芯片組之間具有差異，但仍可與標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試器構(gòu)造協(xié)作而執(zhí)行不同DUT的特定化測(cè)試，而無(wú)需重新構(gòu)造或重新程序化測(cè)試器。
[0008]根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，用于測(cè)試無(wú)線數(shù)據(jù)包信號(hào)收發(fā)器受測(cè)裝置(DUT)的系統(tǒng)包括:數(shù)據(jù)包信號(hào)路徑，該數(shù)據(jù)包信號(hào)路徑用于與DUT進(jìn)行通訊以傳送來(lái)自該DUT的傳輸數(shù)據(jù)包信號(hào)并將接收數(shù)據(jù)包信號(hào)至傳送該DUT;測(cè)試器，該測(cè)試器耦接至該數(shù)據(jù)包信號(hào)路徑以接收該傳輸數(shù)據(jù)包信號(hào)并提供該接收數(shù)據(jù)包信號(hào)，以及通過(guò)提供一個(gè)或多個(gè)測(cè)試控制信號(hào)來(lái)響應(yīng)于一個(gè)或多個(gè)測(cè)試命令;DUT控制信號(hào)接口，該DUT控制信號(hào)接口用于與該DUT進(jìn)行通訊以將至少DUT控制信號(hào)傳送至該DUT ；以及DUT控制電路系統(tǒng)，該DUT控制電路系統(tǒng)耦接在該測(cè)試器和該DUT控制信號(hào)接口之間，其通過(guò)執(zhí)行多個(gè)測(cè)試程序操作以提供該至少DUT控制信號(hào)來(lái)響應(yīng)于至少該一個(gè)或多個(gè)測(cè)試控制信號(hào)，其中該傳輸數(shù)據(jù)包信號(hào)響應(yīng)于該接收數(shù)據(jù)包信號(hào)和至少一個(gè)DUT控制信號(hào)中的至少一者。
[0009]根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例，測(cè)試無(wú)線數(shù)據(jù)包信號(hào)收發(fā)器受測(cè)裝置(DUT)的方法包括:利用測(cè)試器接收來(lái)自DUT的傳輸數(shù)據(jù)包信號(hào);利用該測(cè)試器將接收數(shù)據(jù)包信號(hào)傳輸至該DUT;利用該測(cè)試器通過(guò)提供一個(gè)或多個(gè)測(cè)試控制信號(hào)來(lái)響應(yīng)于一個(gè)或多個(gè)測(cè)試命令；以及利用DUT控制電路系統(tǒng)，通過(guò)執(zhí)行多個(gè)測(cè)試程序操作以將至少一個(gè)DUT控制信號(hào)提供至該DUT來(lái)響應(yīng)于至少該一個(gè)或多個(gè)測(cè)試控制信號(hào)，其中該傳輸數(shù)據(jù)包信號(hào)響應(yīng)于該接收數(shù)據(jù)包信號(hào)和該至少一個(gè)DUT控制信號(hào)中的至少一者。
【附圖說(shuō)明】
[0010]圖1描繪了用于測(cè)試數(shù)據(jù)包收發(fā)器的常規(guī)測(cè)試環(huán)境。
[0011]圖2描繪了根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例的用于測(cè)試數(shù)據(jù)包收發(fā)器的測(cè)試環(huán)境。
[0012]圖3描繪了根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例的測(cè)試程序流程。
【具體實(shí)施方式】
[0013]以下是本發(fā)明的示例性實(shí)施例在參照附圖下的詳細(xì)說(shuō)明。這些說(shuō)明意為說(shuō)明性的而非限制本發(fā)明的范圍。此類實(shí)施例以足夠細(xì)節(jié)被說(shuō)明使得本領(lǐng)域普通技術(shù)人員能夠?qū)嵤┍景l(fā)明，并且應(yīng)理解，可在不脫離本發(fā)明的實(shí)質(zhì)或范圍的情況下，可以某些改變來(lái)實(shí)施其他實(shí)施例。
[0014]在本公開(kāi)內(nèi)容各處，如無(wú)與本文相反的明確指示，可理解所描述的相應(yīng)電路組件在數(shù)目上可為單數(shù)或復(fù)數(shù)。例如，“電路”和“電路系統(tǒng)”可包括單個(gè)或多個(gè)組件，可為有源和/或無(wú)源的，并且經(jīng)連接或以其他方式耦接在一起(例如，作為一個(gè)或多個(gè)集成電路芯片)以提供所述的功能。另外，“信號(hào)”可指一個(gè)或多個(gè)電流、一個(gè)或多個(gè)電壓或數(shù)據(jù)信號(hào)。在說(shuō)明書(shū)附圖中，類似的或相關(guān)的組件會(huì)有類似的或相關(guān)的字母、數(shù)字或文數(shù)字標(biāo)志符。此外，雖然已經(jīng)討論使用離散電子電路系統(tǒng)(優(yōu)選地以一個(gè)或多個(gè)集成電路芯片的形式)的情況下實(shí)施本發(fā)明，惟取決于欲處理的信號(hào)頻率或數(shù)據(jù)率，可另外地使用一個(gè)或多個(gè)經(jīng)適當(dāng)編程的處理器實(shí)施此類電路系統(tǒng)的任一部分的功能。此外，就圖標(biāo)描述不同實(shí)施例的功能區(qū)塊圖的方面而言，此類功能區(qū)塊不一定表示硬件電路系統(tǒng)之間的分割。
[0015]如下列更為詳細(xì)的討論，根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，測(cè)試器與DUT之間的相互作用可經(jīng)控制以致減少測(cè)試器與DUT之間的延遲和必要通信量，由此減少測(cè)試時(shí)間，以及因此減少所產(chǎn)生的與測(cè)試時(shí)間相關(guān)的成本。例如，可通過(guò)使測(cè)試器能夠在信號(hào)傳輸和操作信號(hào)接收模式之間更快地轉(zhuǎn)換以減少通信延遲，而通信量可通過(guò)減少?gòu)臏y(cè)試器流動(dòng)到DUT所需的控制命令來(lái)達(dá)到最小化。
[0016]用于最小化測(cè)試器和DUT之間的相互作用的技術(shù)涉及使用來(lái)自測(cè)試器的單一命令來(lái)發(fā)起多個(gè)、預(yù)定的測(cè)試器數(shù)據(jù)包交易，直到這些測(cè)試器數(shù)據(jù)包的預(yù)定數(shù)量已被傳輸完成。(這部分已被詳細(xì)公開(kāi)于美國(guó)專利申請(qǐng)11/422,475、11/422,489和11/696,921，其內(nèi)容以引用方式并入本文。)另一技術(shù)涉及使用為DUT和測(cè)試器兩者所知的一個(gè)預(yù)定序列的測(cè)試步驟，以減少DUT和測(cè)試器之間所需交換的命令。(這部分已被詳細(xì)公開(kāi)于美國(guó)專利申請(qǐng)11/279,778,11/839,814,11/839，788和11/839，828，其內(nèi)容以引用方式并入本文。)然而，在部分的測(cè)試器或DUT、或兩者上，需要支持涉及多個(gè)測(cè)試器數(shù)據(jù)包和測(cè)試步驟排序的這些排序技術(shù)，諸如附加硬件、固件或軟件(例如，測(cè)試命令的附加程序化)。例如，為支持這些節(jié)省時(shí)間的測(cè)試技術(shù)，DUT可能需要針對(duì)其處理子系統(tǒng)(例如，其具體芯片組)的固件，并且可能需要一個(gè)或多個(gè)集成電路制造廠商支持這些具有特定驅(qū)動(dòng)程序功能的技術(shù)。
[0017]然而，這些難題可經(jīng)由本發(fā)明避免，其使得能夠使用多個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)包與測(cè)試步驟排序技術(shù)，而對(duì)DUT(并且在大多數(shù)情況下，也對(duì)測(cè)試器)不需要有特別規(guī)定。根據(jù)示例性實(shí)施例，使用外部處理子系統(tǒng)以控制DUT與測(cè)試器協(xié)作。此外部子系統(tǒng)可經(jīng)設(shè)計(jì)以容納不同的多個(gè)DUT和其關(guān)聯(lián)的芯片組，以支持多重測(cè)試數(shù)據(jù)包和測(cè)試步驟排序技術(shù)，而無(wú)需修改DUT的硬件或固件。
[0018]參照?qǐng)D1，用于測(cè)試無(wú)線數(shù)據(jù)包收發(fā)器受測(cè)裝置(DUT)的熟知測(cè)試環(huán)境包括測(cè)試器
12,DUT 14(或，另選地，待同時(shí)測(cè)試或依序測(cè)試的多個(gè)DUT，取決于測(cè)試器構(gòu)造)以及控制器16(例如，個(gè)人計(jì)算機(jī))。如以上所討論，測(cè)試器包括數(shù)據(jù)包信號(hào)源12g(通常以VSG的形式)和數(shù)據(jù)包信號(hào)接收器和分析器12a(通常以VSA的形式)。測(cè)試器也可包括控制電路系統(tǒng)12c，其用于根據(jù)內(nèi)部存儲(chǔ)的測(cè)試程序或測(cè)試命令或由外部來(lái)源(例如，控制器16)所接收的程序執(zhí)行各種控制功能。
[0019]測(cè)試器12和DUT 14經(jīng)由信號(hào)路徑13進(jìn)行通信。信號(hào)路徑13通常是傳導(dǎo)射頻(RF)信號(hào)路徑的形式，例如，同軸電纜和連接器。然而，信號(hào)路徑13也可以輻射信號(hào)路徑的形式，例如，經(jīng)由使用射頻天線(未示出)所形成的，該射頻天線連接到測(cè)試器12和DUT 14的信號(hào)端口以根據(jù)眾所周知的原理發(fā)射和接收電磁信號(hào)。
[0020]控制器16經(jīng)由信號(hào)接口17t，17d提供測(cè)試指令并接收來(lái)自測(cè)試器12和DUT 14的測(cè)試數(shù)據(jù)，信號(hào)接口 17t，17d通常是多個(gè)導(dǎo)體電纜的形式。
[0021]如以上所討論，此類測(cè)試環(huán)境可支持多個(gè)測(cè)試包和測(cè)試步驟的排序。然而，也正如以上所討論，此支持的代價(jià)是必須對(duì)至少DUT 14(并且在某些情況下，也對(duì)測(cè)試器12)的硬件或固件進(jìn)行修改。
[0022]參照?qǐng)D2，根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例的測(cè)試環(huán)境100包括外部子系統(tǒng)102，104，如以上所討論，其與測(cè)試器12協(xié)作操作并包括根據(jù)DUT 14芯片組的要求支持DUT 14多個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)包和測(cè)試步驟排序所需的任何必要硬件、固件或軟件。
[0023]當(dāng)測(cè)試DUT14時(shí)，測(cè)試器12經(jīng)由信號(hào)路徑13傳送數(shù)據(jù)包信號(hào)至DUT 14，并監(jiān)控從DUT 14接收的響應(yīng)，其形式例如為確認(rèn)信號(hào)(“ACK”)或其他類型的數(shù)據(jù)包信號(hào)。這些響應(yīng)信號(hào)通過(guò)測(cè)試器接收電路系統(tǒng)12a所接收并進(jìn)行分析，諸如通過(guò)測(cè)量并根據(jù)符合于DUT 14所經(jīng)設(shè)計(jì)用于操作的信號(hào)標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)定值而比較各種物理信號(hào)特性(例如，信號(hào)功率、頻率、調(diào)變型態(tài)或比特率)。
[0024]在此測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試器12與DUT 14之間的協(xié)作是必要的，并且此協(xié)作通常是通過(guò)以下進(jìn)行:從測(cè)試器12(例如，經(jīng)由數(shù)據(jù)包信號(hào)接口 13)發(fā)出命令到DUT 14，或諸如通過(guò)控制信號(hào)接口 17d將來(lái)自控制器16的指令提供到DUT 14而與測(cè)試器12協(xié)作。因此，在一個(gè)完整的測(cè)試序列期間，將需要在一個(gè)或多個(gè)時(shí)間間隔期間從測(cè)試器12或控制器16傳送眾多控制命令到DUT 14，在該一個(gè)或多個(gè)時(shí)間間隔期間并未通過(guò)測(cè)試器12執(zhí)行任何測(cè)試測(cè)量(相對(duì)于從DUT 14接收到的數(shù)據(jù)包信號(hào))，但其仍然消耗時(shí)間。因此，如果控制命令所需的這些次數(shù)在持續(xù)期間和/或數(shù)量上可以減少的話，那么就可以減少整體測(cè)試時(shí)間。
[0025]—般而言，減少控制命令的數(shù)量需要一個(gè)或多個(gè)命令涵蓋多于一個(gè)的測(cè)試事件。例如，使DUT 14準(zhǔn)備接收來(lái)自測(cè)試器12的測(cè)試數(shù)據(jù)包信號(hào)的典型命令涵蓋一個(gè)事件，S卩，發(fā)送測(cè)試信號(hào)。詢問(wèn)DUT 14是否正確地接收到測(cè)試信號(hào)的第二命令也涵蓋一個(gè)事件。然而，如果DUT14經(jīng)預(yù)先程序化以響應(yīng)于單一命令而接收來(lái)自測(cè)試器12的預(yù)定義數(shù)量的測(cè)試數(shù)據(jù)包，并且自動(dòng)確認(rèn)這些測(cè)試數(shù)據(jù)包為正確地接收，則該單一原始命令可以涵蓋潛在延伸序列的測(cè)試事件。
[0026]作為進(jìn)一步的實(shí)例，如果DUT14和測(cè)試器12根據(jù)預(yù)先商定的測(cè)試步驟執(zhí)行序列來(lái)操作，并且在同步后立即開(kāi)始執(zhí)行那些測(cè)試步驟直到所有測(cè)試步驟完成，或者直到測(cè)試步驟已超時(shí)，那么同步信號(hào)的初始交換可涵蓋整個(gè)測(cè)試序列，包括接收(RX)和傳輸(TX)測(cè)試(以DUT14的觀點(diǎn)而言)兩者，其中測(cè)試信號(hào)具有預(yù)定物理特性(例如，頻率、功率、調(diào)變類型、比特率等)。或者，測(cè)試器12和DUT 14可彼此傳輸或接收數(shù)據(jù)包，直到由傳輸單元接收來(lái)自接收單元的控制或響應(yīng)信號(hào)為止，該信號(hào)指示該組測(cè)試步驟完成并發(fā)信號(hào)表示該傳輸單元可以進(jìn)行下一個(gè)預(yù)定義操作。
[0027]根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例，外部子系統(tǒng)102具有(例如，程序化有)與DUT14及其芯片組特定匹配的程序，由此確保DUT 14的特定特性和能力可以使用省時(shí)測(cè)試技術(shù)來(lái)充分測(cè)試，諸如多重測(cè)試數(shù)據(jù)包和測(cè)試步驟排序技術(shù)。這有利地避免對(duì)DUT 14(諸如透過(guò)擴(kuò)充或訂制的硬件、固件或經(jīng)修改或附加的驅(qū)動(dòng)軟件)進(jìn)行特別制備或訂制的要求。因此，與測(cè)試器12協(xié)作工作時(shí)，意識(shí)到及負(fù)責(zé)管理存取以及執(zhí)行測(cè)試排序要求的是外部處理子系統(tǒng)102(例如，微控制器)，而不是DUT 14。因此，不需要特別制備或修改DUT 14本身即可達(dá)成測(cè)試排序的測(cè)試速度和測(cè)試成本效益。
[0028]DUT控制器102經(jīng)由控制信號(hào)接口 103t與測(cè)試器12通信(例如，通過(guò)交換作為觸發(fā)器或含有指令或數(shù)據(jù)的控制信號(hào))。同樣地，DUT控制器102經(jīng)由另一控制信號(hào)接口 103d與DUT 14通信(例如，通過(guò)交換指令及數(shù)據(jù))。對(duì)于在測(cè)試期間控制DUT 14所需的程序的指令，可以存儲(chǔ)在分離的存儲(chǔ)電路系統(tǒng)104內(nèi)部或是外部，存儲(chǔ)電路系統(tǒng)104可經(jīng)由存儲(chǔ)器接口105存取。這些程序(例如，DUT控制指令和信號(hào)參數(shù)值)可以預(yù)程序化至DUT控制器102或存儲(chǔ)器104中，或者可由測(cè)試器12(例如，從測(cè)試器控制器12c)提供，或由外部控制器16經(jīng)由另一個(gè)存儲(chǔ)器接口 117m直接提供至存儲(chǔ)器104。
[0029]DUT 14的測(cè)試發(fā)起通常開(kāi)始于測(cè)試器12指示DUT控制器102構(gòu)造DUT 14用于待執(zhí)行的測(cè)試序列。作為響應(yīng)，DUT控制器102存取適當(dāng)?shù)某绦颍⑻峁┻@些測(cè)試所需的指令和參數(shù)數(shù)據(jù)?；蛘?，外部控制器16可以經(jīng)由控制接口 117c指示DUT控制器102構(gòu)造DUT 14用于進(jìn)行測(cè)試。
[0030]在經(jīng)由測(cè)試器12的接口 103t接收來(lái)自測(cè)試器12的開(kāi)始信號(hào)后，DUT控制器102指示DUT 14發(fā)起一序列的發(fā)送或接收數(shù)據(jù)包，直到DUT 14已發(fā)送了預(yù)定數(shù)量的資料包，或直到測(cè)試器12通知DUT控制器102測(cè)試操作已經(jīng)完成(例如，測(cè)試器12已傳輸本次測(cè)試所需的所有數(shù)據(jù)包)。[0031 ]例如，在DUT的TX信號(hào)測(cè)量的情況下，測(cè)試器12會(huì)獲取從DUT14所傳輸?shù)臄?shù)據(jù)包，以及當(dāng)所需要的數(shù)據(jù)包已被測(cè)試器12獲取時(shí)，其會(huì)發(fā)信號(hào)通知DUT控制器102終止DUT 14的數(shù)據(jù)包傳輸并進(jìn)行到下一個(gè)測(cè)試操作。同樣地，在一個(gè)DUT的RX測(cè)試的情況下，測(cè)試器12會(huì)經(jīng)由DUT控制器102發(fā)信號(hào)通知DUT 14，以經(jīng)由信號(hào)路徑13開(kāi)始接收數(shù)據(jù)包，并且當(dāng)所需數(shù)量的數(shù)據(jù)包已由測(cè)試器12傳輸?shù)紻UT 14時(shí)，測(cè)試器12可以指示DUT控制器102進(jìn)行到下一個(gè)DUT測(cè)試操作。另外，根據(jù)需要，DUT控制器102可經(jīng)由其信號(hào)接口 103t對(duì)測(cè)試器12發(fā)信號(hào)通知其已預(yù)備。因此，通過(guò)這些實(shí)例可以看到，可以利用來(lái)自外部控制器16的單一命令和來(lái)自測(cè)試器12的開(kāi)始信號(hào)使測(cè)試器12和DUT 14傳輸和接收多個(gè)數(shù)據(jù)包。因此，可避免來(lái)自外部控制器16的通信和測(cè)試流程控制，并且測(cè)試器12可基于存儲(chǔ)于專用DUT控制器102內(nèi)并由其所執(zhí)行的預(yù)先編程的測(cè)試程序來(lái)控制測(cè)試操作流程。
[0032]參照?qǐng)D3，根據(jù)示例性實(shí)施例，用于使用圖2的環(huán)境進(jìn)行測(cè)試的程序流程可以如下進(jìn)行。在來(lái)自外部控制器16或測(cè)試器12的開(kāi)始命令202之后，DUT控制器102和DUT 14經(jīng)初始化(或“啟動(dòng)”)204。在沒(méi)有發(fā)生中斷209(例如，呈來(lái)自測(cè)試器12的命令、請(qǐng)求或其他種類的信號(hào)形式)、并且程序索引為零的情況下，程序流程205繼續(xù)進(jìn)行到判斷是否已發(fā)生中斷208。如果已發(fā)生中斷209，則重復(fù)此檢查是否發(fā)生中斷的步驟208—直到判定為沒(méi)有中斷發(fā)生為止。
[0033]之后，程序流程繼續(xù)到下一個(gè)步驟，在該步驟中索引遞增210，接著根據(jù)索引值執(zhí)行下一個(gè)測(cè)試命令212。在此之后，判定測(cè)試流程是否已完成214。如果尚未完成215，重復(fù)檢查是否發(fā)生中斷208、索引遞增210以及執(zhí)行下一個(gè)測(cè)試命令212的程序。如果測(cè)試流程已完成，然后測(cè)試流程返回到開(kāi)始，以等待下一個(gè)開(kāi)始命令202。
[0034]作為進(jìn)一步的替代方案，子系統(tǒng)102，104組件可被包括作為DUT14的部分(如在DUT14內(nèi)部)。例如，控制器102和存儲(chǔ)器104可為DUT 14內(nèi)部的組件，其在其正常使用期間為DUT14提供功能性，也如同上述提供特定用于且專用于測(cè)試操作的功能性。再進(jìn)一步的替代方案包括其中測(cè)試器12發(fā)出多種類型的命令并且在其中DUT 14傳輸信號(hào)(例如，自發(fā)起或是響應(yīng)于來(lái)自測(cè)試器12的信號(hào))的測(cè)試環(huán)境。
[0035]對(duì)本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，在不背離本發(fā)明的實(shí)質(zhì)和范圍下，可輕易構(gòu)思出本發(fā)明的結(jié)構(gòu)和操作方法的各種其他修改和替代例。盡管已通過(guò)特定優(yōu)選實(shí)施例說(shuō)明本發(fā)明，應(yīng)理解本發(fā)明如所請(qǐng)求不應(yīng)過(guò)度地受限于這些特定實(shí)施例。我們意在以下列的權(quán)利要求書(shū)限定本發(fā)明的范圍并意在從而涵蓋該權(quán)利要求書(shū)的范圍內(nèi)的結(jié)構(gòu)與方法以及其等同形式。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種包括用于測(cè)試無(wú)線數(shù)據(jù)包信號(hào)收發(fā)器受測(cè)裝置(DUT)的系統(tǒng)的設(shè)備，所述設(shè)備包括: 數(shù)據(jù)包信號(hào)路徑，所述數(shù)據(jù)包信號(hào)路徑用于與DUT進(jìn)行通訊以傳送來(lái)自所述DUT的傳輸數(shù)據(jù)包信號(hào)并將接收數(shù)據(jù)包信號(hào)傳送至所述DUT; 測(cè)試器，所述測(cè)試器耦接至所述數(shù)據(jù)包信號(hào)路徑以接收所述傳輸數(shù)據(jù)包信號(hào)并提供所述接收數(shù)據(jù)包信號(hào)，并且通過(guò)提供一個(gè)或多個(gè)測(cè)試控制信號(hào)來(lái)響應(yīng)于一個(gè)或多個(gè)測(cè)試命令； DUT控制信號(hào)接口，所述DUT控制信號(hào)接口用于與所述DUT進(jìn)行通訊以將至少一個(gè)DUT控制信號(hào)傳送至所述DUT;以及 DUT控制電路系統(tǒng)，所述DUT控制電路系統(tǒng)耦接在所述測(cè)試器和所述DUT控制信號(hào)接口之間，所述DUT控制電路系統(tǒng)通過(guò)執(zhí)行多個(gè)測(cè)試程序操作以提供所述至少一個(gè)DUT控制信號(hào)來(lái)響應(yīng)于至少所述一個(gè)或多個(gè)測(cè)試控制信號(hào)，其中所述傳輸數(shù)據(jù)包信號(hào)響應(yīng)于所述接收數(shù)據(jù)包信號(hào)和所述至少一個(gè)DUT控制信號(hào)中的至少一者。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其中所述數(shù)據(jù)包信號(hào)路徑包括傳導(dǎo)射頻(RF)信號(hào)路徑。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其中所述DUT控制信號(hào)接口包括多個(gè)電信號(hào)導(dǎo)體。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其中所述測(cè)試器響應(yīng)于來(lái)自外部命令源的一個(gè)或多個(gè)測(cè)試命令。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其中所述DUT控制電路系統(tǒng)通過(guò)執(zhí)行多個(gè)測(cè)試程序操作以提供所述至少一個(gè)DUT控制信號(hào)來(lái)進(jìn)一步響應(yīng)于來(lái)自外部命令源的一個(gè)或多個(gè)控制命令。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其中所述DUT控制電路系統(tǒng)包括通過(guò)進(jìn)行以下操作來(lái)響應(yīng)于所述至少所述一個(gè)或多個(gè)測(cè)試控制信號(hào)的處理電路系統(tǒng)和存儲(chǔ)電路系統(tǒng): 存取來(lái)自所述存儲(chǔ)電路系統(tǒng)的多個(gè)測(cè)試程序指令；以及 利用所述處理電路系統(tǒng)執(zhí)行所述多個(gè)測(cè)試程序指令。7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的設(shè)備，其中所述處理電路系統(tǒng)包括微控制器電路系統(tǒng)。8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其中所述DUT控制電路系統(tǒng)包括通過(guò)進(jìn)行以下操作來(lái)響應(yīng)于所述至少所述一個(gè)或多個(gè)測(cè)試控制信號(hào)的處理電路系統(tǒng): 存取來(lái)自外部指令源的多個(gè)測(cè)試程序指令；以及 利用所述處理電路系統(tǒng)執(zhí)行所述多個(gè)測(cè)試程序指令。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的設(shè)備，其中所述處理電路系統(tǒng)包括微控制器電路系統(tǒng)。10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其中: 所述DUT控制信號(hào)接口進(jìn)一步用于與所述DUT進(jìn)行通訊以傳送來(lái)自所述DUT的至少一個(gè)測(cè)試響應(yīng)信號(hào)；以及 所述DUT控制電路系統(tǒng)通過(guò)終止所述執(zhí)行所述多個(gè)測(cè)試程序指令來(lái)進(jìn)一步響應(yīng)于所述至少一個(gè)測(cè)試響應(yīng)信號(hào)。11.一種測(cè)試無(wú)線數(shù)據(jù)包信號(hào)收發(fā)器受測(cè)裝置(DUT)的方法，所述方法包括: 利用測(cè)試器接收來(lái)自DUT的傳輸數(shù)據(jù)包信號(hào)； 利用所述測(cè)試器將接收數(shù)據(jù)包信號(hào)傳輸至所述DUT; 利用所述測(cè)試器通過(guò)提供一個(gè)或多個(gè)測(cè)試控制信號(hào)來(lái)響應(yīng)于一個(gè)或多個(gè)測(cè)試命令；以及 利用DUT控制電路系統(tǒng)通過(guò)執(zhí)行多個(gè)測(cè)試程序操作以將至少一個(gè)DUT控制信號(hào)提供至所述DUT來(lái)響應(yīng)于至少所述一個(gè)或多個(gè)測(cè)試控制信號(hào)，其中所述傳輸數(shù)據(jù)包信號(hào)響應(yīng)于所述接收數(shù)據(jù)包信號(hào)和所述至少一個(gè)DUT控制信號(hào)中的至少一者。12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其中所述利用所述測(cè)試器響應(yīng)于一個(gè)或多個(gè)測(cè)試命令包括響應(yīng)于來(lái)自外部命令源的一個(gè)或多個(gè)測(cè)試命令。13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其中所述利用DUT控制電路系統(tǒng)響應(yīng)于至少所述一個(gè)或多個(gè)測(cè)試控制信號(hào)包括通過(guò)執(zhí)行多個(gè)測(cè)試程序操作以提供所述至少一個(gè)DUT控制信號(hào)來(lái)進(jìn)一步響應(yīng)于來(lái)自外部命令源的一個(gè)或多個(gè)控制命令。14.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其中所述利用DUT控制電路系統(tǒng)通過(guò)執(zhí)行多個(gè)測(cè)試程序操作以將至少一個(gè)DUT控制信號(hào)提供至所述DUT來(lái)響應(yīng)于至少所述一個(gè)或多個(gè)測(cè)試控制信號(hào)包括: 存取來(lái)自本地指令源的多個(gè)測(cè)試程序指令；以及 執(zhí)行所述多個(gè)測(cè)試程序指令。15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法，其中所述執(zhí)行所述多個(gè)測(cè)試程序指令包括利用微控制器電路系統(tǒng)執(zhí)行所述多個(gè)測(cè)試程序指令。16.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其中所述利用DUT控制電路系統(tǒng)通過(guò)執(zhí)行多個(gè)測(cè)試程序操作以將至少一個(gè)DUT控制信號(hào)提供至所述DUT來(lái)響應(yīng)于至少所述一個(gè)或多個(gè)測(cè)試控制信號(hào)包括: 存取來(lái)自外部指令源的多個(gè)測(cè)試程序指令；以及 執(zhí)行所述多個(gè)測(cè)試程序指令。17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，其中所述執(zhí)行所述多個(gè)測(cè)試程序指令包括利用微控制器電路系統(tǒng)執(zhí)行所述多個(gè)測(cè)試程序指令。18.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，進(jìn)一步包括利用所述DUT控制電路系統(tǒng)接收來(lái)自所述DUT的至少一個(gè)測(cè)試響應(yīng)信號(hào)，以及響應(yīng)于所述至少一個(gè)測(cè)試響應(yīng)信號(hào)而終止所述執(zhí)行所述多個(gè)測(cè)試程序指令。
【文檔編號(hào)】H04L12/26GK105874748SQ201480071575
【公開(kāi)日】2016年8月17日
【申請(qǐng)日】2014年12月16日
【發(fā)明人】克里斯蒂安·沃爾夫·厄爾高
【申請(qǐng)人】萊特普茵特公司