液晶盒隱性不良檢測方法及檢測膜材的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及顯示【技術(shù)領(lǐng)域】，公開了一種液晶盒隱性不良檢測方法，在液晶盒檢測時，將上偏光片或下偏光片至少之一覆蓋在一透明軟薄膜的第一表面，并通過所述透明軟薄膜的第二表面對所述液晶盒的表面施加壓力。本發(fā)明還公開了一種用于液晶盒隱性不良檢測的膜材。本發(fā)明使得隱性的點(diǎn)/線不良也在該階段被檢測出來，從而減少以后制程的耗材使用及人力設(shè)備等成本，減少不良后流至客戶的風(fēng)險。
【專利說明】液晶盒隱性不良檢測方法及檢測膜材

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示【技術(shù)領(lǐng)域】，特別涉及一種液晶盒隱性不良檢測方法及檢測膜材。

【背景技術(shù)】
[0002]如圖1所示，目前TFT-1XD制程中液晶盒檢測(Cell Test)時背光模組2、第一玻璃基板3、上偏光片4 (上偏光片4貼敷在第一玻璃基板3上)、第二玻璃基板5、下偏光片6 (下偏光片6貼敷在第二玻璃基板5上)與液晶盒1之間均未接觸，造成一些不良在CellTest檢測時為良品。但是在模組檢測時由于進(jìn)行了偏光片貼附等制程，相當(dāng)于給了液晶盒一個壓力。如圖2所示，液晶盒的陣列基板有第一電極11，彩膜基板上有第二電極12，陣列基板和彩膜基板之間設(shè)有隔墊物7，其間還有一個異物8。左邊為Cell Test檢測的階段，此時液晶盒沒有受壓，異物8造成的不良沒有體現(xiàn)出來，右邊為模組檢測階段，由于液晶盒受壓，異物8起到連接第一電極11和第二電極12的作用，從而呈現(xiàn)出點(diǎn)/線不良。即在模組檢測階段使一些隱性的點(diǎn)/線呈現(xiàn)出來，檢測成了不良品。這個現(xiàn)象在TFT-1XD行業(yè)比較常見，由于是在偏光片貼附后才進(jìn)行模組點(diǎn)燈發(fā)現(xiàn)有不良，這樣就造成了偏光板等耗材的浪費(fèi)(偏光板的費(fèi)用約占總成本的25% )以及其他人工等成本的增加。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003](一 )要解決的技術(shù)問題
[0004]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是:如何在Cell Test階段檢測出隱性的點(diǎn)/線良。
[0005]( 二 )技術(shù)方案
[0006]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種液晶盒隱性不良檢測方法，在液晶盒檢測時，將上偏光片或下偏光片至少之一覆蓋在一透明軟薄膜的第一表面，并通過所述透明軟薄膜的第二表面對所述液晶盒的表面施加壓力。
[0007]其中，將所述上偏光片覆蓋在所述透明軟薄膜的第一表面。
[0008]其中，通過所述第二表面對所述液晶盒的表面施加壓力的具體方式為:以所述第二表面面向所述液晶盒，將所述透明軟薄膜覆蓋在所述液晶盒表面。
[0009]其中，對所述透明軟薄膜的第一表面施加壓力，壓力從所述第二表面?zhèn)鬟f至所述液晶盒。
[0010]其中，通過所述第二表面對所述液晶盒的表面施加壓力的具體方式為:以所述透明軟薄膜的第一表面朝里將所述透明軟薄膜卷在滾軸上，滾軸滾過所述液晶盒的表面時逐漸打開所述透明軟薄膜以使所述第二表面對所述液晶盒表面施加壓力。
[0011]其中，所述透明軟薄膜為透明硅橡膠。
[0012]其中，所述透明軟薄膜的第二表面設(shè)有若干凸起。
[0013]其中，所述若干凸起均勻地分布在所述透明軟薄膜的第二表面。
[0014]本發(fā)明還提供了一種用于液晶盒隱性不良檢測的膜材，包括透明軟薄膜及位于所述透明軟薄膜的第一表面的偏光片，第二表面用于覆蓋所述液晶盒。
[0015]其中，所述透明軟薄膜為透明硅橡膠，且第二表面上形成有若干凸起。
[0016](三)有益效果
[0017]本發(fā)明在液晶盒檢測時對液晶盒表面施加一定壓力，使得隱性的點(diǎn)/線不良也在該階段被檢測出來，從而減少以后制程的耗材使用及人力設(shè)備等成本，減少不良后流至客戶的風(fēng)險。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0018]圖1是現(xiàn)有的液晶盒檢測方法中各部件的位置關(guān)系圖；
[0019]圖2是現(xiàn)有的液晶盒檢測方法中檢測的合格產(chǎn)品在后續(xù)制程中呈現(xiàn)出不良的示意圖；
[0020]圖3是本發(fā)明實(shí)施例的一種液晶盒隱性不良檢測方法中各部件位置關(guān)系示意圖；
[0021]圖4是本發(fā)明實(shí)施例的一種液晶盒隱性不良檢測方法中對液晶盒施加壓力的示意圖；
[0022]圖5是本發(fā)明實(shí)施例的一種用于液晶盒隱性不良檢測的膜材。

【具體實(shí)施方式】
[0023]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例，對本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】作進(jìn)一步詳細(xì)描述。以下實(shí)施例用于說明本發(fā)明，但不用來限制本發(fā)明的范圍。
[0024]本發(fā)明的液晶盒隱性不良檢測方法中，在液晶盒檢測時，將上偏光片或下偏光片至少之一覆蓋在一透明軟薄膜的第一表面，并通過所述第二表面對所述液晶盒的表面施加壓力。透明軟薄膜可以為透明硅橡膠。
[0025]本發(fā)明在液晶盒檢測時對液晶盒表面施加一定壓力，使得隱性的點(diǎn)/線不良也在該階段就被檢測出來，從而減少以后制程的耗材使用及人力設(shè)備等成本，減少不良后流至客戶的風(fēng)險。
[0026]本實(shí)施例中，各部件的位置關(guān)系如圖3所示，為了便于觀察不良和方便施壓，將上偏光片4覆蓋在所述透明軟薄膜9的第一表面。透明軟薄膜9的第二表面直接覆蓋在液晶盒1的表面。液晶盒1下方依次是下偏光片6的玻璃基板5、下偏光片6和背光源2。由于透明軟薄膜9和上偏光片4本身有一定的重量，放在液晶盒1上，對液晶盒1形成一定的壓力，從而可以將一些在現(xiàn)有的Cell Test階段無法檢測的隱性不良檢測出來。
[0027]進(jìn)一步地，為了檢測出所有的隱性不良，對透明軟薄膜9的第一表面施加壓力，壓力從第二表面?zhèn)鬟f至液晶盒1。施壓時可以在整個表面均勻施壓，也可以對局部進(jìn)行局部施壓。
[0028]如圖4所示，通過所述第二表面對所述液晶盒1的表面施加壓力的具體方式還可以為:以所述透明軟薄膜9的第一表面朝里將所述透明軟薄膜9卷在滾軸10上，朝圖4中箭頭方向，滾軸10滾過所述液晶盒1的表面時逐漸打開所述透明軟薄膜9以使所述第二表面對所述液晶盒1表面施加壓力。這樣不僅可以在滾動過程中控制壓力大小，且在檢測完成后回滾滾軸10，就可以將透明軟薄膜9和上偏光片4(圖4中未示出)卷起重回初始位置。
[0029]更進(jìn)一步地，透明軟薄膜9的第二表面設(shè)有若干凸起91，凸起91主要用于增強(qiáng)對液晶盒1的壓力，使隱性不良更加容易檢出。優(yōu)選地，為了使液晶盒1受力均勻，所述若干凸起91均勻地分布在所述透明軟薄膜9的第二表面。
[0030]本實(shí)施例的液晶盒隱性不良檢測的過程和現(xiàn)有的檢測過程基本相同，不同的是將現(xiàn)有的上偏光片的玻璃基板換成了透明軟薄膜，且將透明軟薄膜貼敷在液晶盒表面，還可以通過透明軟薄膜對液晶盒施壓，檢測過程中觀察是否有點(diǎn)/線不良。由于在檢測過程中對液晶盒施加了一定的壓力，能夠?qū)㈦[性不良檢測出來。
[0031]本發(fā)明還提供了一種用于液晶盒隱性不良檢測的膜材，如圖5所示，包括透明軟薄膜9及位于所述透明軟薄膜的第一表面的偏光片4丨(可以為上偏光片或下偏光片)，第二表面用于覆蓋所述液晶盒。檢測時對透明軟薄膜9施壓，壓力由第二表面?zhèn)鬟f至液晶盒。所述透明軟薄膜9為透明硅橡膠，進(jìn)一步地，為了增加對液晶盒表面的壓力，第二表面上形成有若干凸起91，優(yōu)選地，若干凸起91均勻地分布在所述第二表面。
[0032]以上實(shí)施方式僅用于說明本發(fā)明，而并非對本發(fā)明的限制，有關(guān)【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，還可以做出各種變化和變型，因此所有等同的技術(shù)方案也屬于本發(fā)明的范疇，本發(fā)明的專利保護(hù)范圍應(yīng)由權(quán)利要求限定。
【權(quán)利要求】
1.一種液晶盒隱性不良檢測方法，其特征在于，在液晶盒檢測時，將上偏光片或下偏光片至少之一覆蓋在一透明軟薄膜的第一表面，并通過所述透明軟薄膜的第二表面對所述液晶盒的表面施加壓力。
2.如權(quán)利要求1所述的液晶盒隱性不良檢測方法，其特征在于，將所述上偏光片覆蓋在所述透明軟薄膜的第一表面。
3.如權(quán)利要求1所述的液晶盒隱性不良檢測方法，其特征在于，通過所述第二表面對所述液晶盒的表面施加壓力的具體方式為:以所述第二表面面向所述液晶盒，將所述透明軟薄膜覆蓋在所述液晶盒表面。
4.如權(quán)利要求3所述的液晶盒隱性不良檢測方法，其特征在于，對所述透明軟薄膜的第一表面施加壓力，壓力從所述第二表面?zhèn)鬟f至所述液晶盒。
5.如權(quán)利要求1所述的液晶盒隱性不良檢測方法，其特征在于，通過所述第二表面對所述液晶盒的表面施加壓力的具體方式為:以所述透明軟薄膜的第一表面朝里將所述透明軟薄膜卷在滾軸上，滾軸滾過所述液晶盒的表面時逐漸打開所述透明軟薄膜以使所述第二表面對所述液晶盒表面施加壓力。
6.如權(quán)利要求1所述的液晶盒隱性不良檢測方法，其特征在于，所述透明軟薄膜為透明硅橡膠。
7.如權(quán)利要求1?6中任一項(xiàng)所述的液晶盒隱性不良檢測方法，其特征在于，所述透明軟薄膜的第二表面設(shè)有若干凸起。
8.如權(quán)利要求7所述的液晶盒隱性不良檢測方法，其特征在于，所述若干凸起均勻地分布在所述透明軟薄膜的第二表面。
9.一種用于液晶盒隱性不良檢測的膜材，其特征在于，包括透明軟薄膜及位于所述透明軟薄膜的第一表面的偏光片，第二表面用于覆蓋所述液晶盒。
10.如權(quán)利要求9所述的用于液晶盒隱性不良檢測的膜材，其特征在于，所述透明軟薄膜為透明硅橡膠，且第二表面上形成有若干凸起。
【文檔編號】G02F1/13GK104280910SQ201410610301
【公開日】2015年1月14日 申請日期:2014年10月31日 優(yōu)先權(quán)日:2014年10月31日
【發(fā)明者】韓君奇, 李靜, 劉利萍, 吳健, 高歡 申請人:合肥鑫晟光電科技有限公司, 京東方科技集團(tuán)股份有限公司