技術(shù)編號：2716299
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及顯示，公開了一種液晶盒隱性不良檢測方法，在液晶盒檢測時，將上偏光片或下偏光片至少之一覆蓋在一透明軟薄膜的第一表面，并通過所述透明軟薄膜的第二表面對所述液晶盒的表面施加壓力。本發(fā)明還公開了一種用于液晶盒隱性不良檢測的膜材。本發(fā)明使得隱性的點(diǎn)/線不良也在該階段被檢測出來，從而減少以后制程的耗材使用及人力設(shè)備等成本，減少不良后流至客戶的風(fēng)險(xiǎn)。專利說明液晶盒隱性不良檢測方法及檢測膜材 [0001]本發(fā)明涉及顯示，特別涉及一種液晶盒隱性不良檢測方法及...
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