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液晶透鏡優(yōu)化方法及使用其的系統(tǒng)的制作方法

文檔序號:2715050閱讀:177來源:國知局
液晶透鏡優(yōu)化方法及使用其的系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提出一種液晶透鏡優(yōu)化方法。所述液晶透鏡優(yōu)化方法包括提供一平行光,使所述平行光依次經(jīng)過起偏器、液晶透鏡及檢偏器,并獲得所述平行光依次經(jīng)過所述起偏器、所述液晶透鏡及所述檢偏器后產(chǎn)生的干涉光的干涉光強(qiáng)分布曲線;對比所述干涉光強(qiáng)分布曲線與參考分布曲線;及根據(jù)所述干涉光強(qiáng)分布曲線與所述參考分布曲線的誤差調(diào)整液晶透鏡對應(yīng)位置的電極的電壓,以調(diào)整所述液晶透鏡的折射率分布。本發(fā)明還提供一種使用所述液晶透鏡優(yōu)化方法的液晶透鏡優(yōu)化系統(tǒng)。本發(fā)明的液晶透鏡優(yōu)化方法及系統(tǒng)根據(jù)干涉光強(qiáng)分布曲線與參考分布曲線的誤差調(diào)整液晶透鏡的折射率分布,操作簡單、可靠且準(zhǔn)確度局。
【專利說明】液晶透鏡優(yōu)化方法及使用其的系統(tǒng)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種顯示裝置,特別涉及一種適用于液晶顯示裝置的透鏡優(yōu)化方法及 使用其的優(yōu)化系統(tǒng)。

【背景技術(shù)】
[0002] 液晶透鏡式裸眼三維顯示技術(shù)由于其結(jié)構(gòu)簡單、易于實(shí)現(xiàn)二維/三維的轉(zhuǎn)換以及 驅(qū)動(dòng)可調(diào)等優(yōu)點(diǎn)而被廣泛應(yīng)用。而液晶透鏡的折射率分布是影響裸眼三維顯示效果的重要 因素之一,因此,通常需要優(yōu)化液晶透鏡的折射率,以提高三維顯示效果。
[0003] 圖1為液晶透鏡的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1所示,液晶透鏡10包括下基板101、上基板 102、下電極103、上電極104、液晶層105、框膠106。其中,下電極103位于下基板101的朝 向液晶層105的一個(gè)表面上,上電極104位于上基板102的朝向液晶層105的一個(gè)表面上, 下基板101與上基板102通過框膠106粘合固定在一起。
[0004] 圖2a為圖1所示液晶透鏡的上下電極未施加電壓時(shí)液晶透鏡10的工作原理示意 圖。圖2b為圖1所示液晶透鏡的上下電極施加電壓時(shí)液晶透鏡10的工作原理示意圖。請 同時(shí)參閱圖2a及圖2b,在液晶透鏡10的下電極103、上電極104未施加電壓時(shí),在下電極 103與上電級104之間沒有電場形成,液晶分子的長軸均沿著平行于上基板101與下基板 102的平面排列,線偏振光經(jīng)過液晶層105后,均可以沿著原來的方向前進(jìn)而進(jìn)入人的左右 目艮,此時(shí)為二維顯示模式;當(dāng)下電極103與上電極104處于加電狀態(tài)下,下電極103與上電 極105之間形成電場,不同位置的液晶分子分別受到不同強(qiáng)度的電場力的作用,不同的液 晶分子在空間中漸變排列,使其折射率同樣產(chǎn)生過度漸變,線偏振光經(jīng)過液晶層105后發(fā) 生折射,形成漸變式折射率透鏡,線偏振光經(jīng)過液晶層105之后均改變原來的方向前進(jìn),而 使得液晶面板(圖未示)左右像素產(chǎn)生的畫面分別進(jìn)入人的左右眼,此時(shí)為三維顯示模式。
[0005] 目前的液晶透鏡的優(yōu)化方法,主要是根據(jù)液晶透鏡對平行線偏振光的會聚性能來 評判液晶透鏡的性能,從而優(yōu)化液晶透鏡。但僅從液晶透鏡會聚效果很難判斷液晶透鏡哪 一局部區(qū)域液晶分子需要調(diào)整,哪一局部區(qū)域液晶分子不需要調(diào)整,因此液晶透鏡電極上 的電壓該如何調(diào)整無從下手,優(yōu)化調(diào)整液晶透鏡準(zhǔn)確度不高、可靠性低。此外,對于一些有 特殊要求的折射率分布不規(guī)則的液晶透鏡,無法從液晶透鏡的會聚性能來調(diào)整。
[0006] 因此,有必要提供改進(jìn)的技術(shù)方案以克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的以上技術(shù)問題。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0007] 本發(fā)明要解決的主要技術(shù)問題是提供一種簡單、可靠且準(zhǔn)確度高的液晶透鏡優(yōu)化 方法。
[0008] 為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供了一種液晶透鏡優(yōu)化方法,所述液晶透鏡優(yōu)化 方法包括:提供一平行光,使所述平行光依次經(jīng)過起偏器、液晶透鏡及檢偏器,并獲得所述 平行光依次經(jīng)過所述起偏器、所述液晶透鏡及所述檢偏器后產(chǎn)生的干涉光的干涉光強(qiáng)分布 曲線;對比所述干涉光強(qiáng)分布曲線與參考分布曲線;及根據(jù)所述干涉光強(qiáng)分布曲線與所述 參考分布曲線的誤差調(diào)整液晶透鏡對應(yīng)位置的電極的電壓,以調(diào)整所述液晶透鏡的折射率 分布。
[0009] 優(yōu)選地,所述平行光為單色光且分布均勻。
[0010] 優(yōu)選地,所述起偏器與所述檢偏器的偏振軸平行或垂直。
[0011] 優(yōu)選地,對比所述干涉光強(qiáng)分布曲線與參考分布曲線的步驟包括:根據(jù)不同位置 液晶透鏡的理想有效非尋常折射率獲得所述參考分布曲線。
[0012] 優(yōu)選地,根據(jù)不同位置液晶透鏡的理想有效非尋常折射率獲得所述參考分布曲線 的步驟包括:獲得液晶分子的理想有效非尋常折射率、尋常折射率、液晶透鏡的盒間隙及所 述平行光的波長;及根據(jù)所述液晶分子的理想有效非尋常折射率、尋常折射率、所述液晶透 鏡的盒間隙及所述平行光的波長獲得參考分布曲線。
[0013] 本發(fā)明還提供一種液晶透鏡優(yōu)化系統(tǒng),該液晶透鏡優(yōu)化系統(tǒng)用于調(diào)整液晶透鏡的 折射率分布,所述液晶透鏡包括電極,所述液晶透鏡優(yōu)化系統(tǒng)包括:光發(fā)生器,用于產(chǎn)生平 行光;起偏器,接收所述光發(fā)生器產(chǎn)生的平行光,并根據(jù)所述平行光產(chǎn)生偏振光;檢偏器, 與所述起偏器分別位于所述液晶透鏡的兩側(cè),用于檢測經(jīng)過所述檢偏器的偏振光,以產(chǎn)生 干涉光;及處理器,用于根據(jù)所述干涉光獲得干涉光強(qiáng)分布曲線,并根據(jù)所述干涉光強(qiáng)分布 曲線與參考分布曲線的誤差調(diào)整液晶透鏡對應(yīng)位置的電極的電壓,從而調(diào)整所述液晶透鏡 的折射率分布。
[0014] 優(yōu)選地,所述起偏器與所述檢偏器的偏振軸平行或垂直。
[0015] 優(yōu)選地,所述液晶透鏡優(yōu)化系統(tǒng)還包括:存儲單元,用于存儲所述液晶透鏡的盒 間隙、所述平行光的波長、所述液晶分子的理想有效非尋常折射率、所述液晶分子的尋常折 射率。
[0016] 優(yōu)選地,所述處理器包括:半導(dǎo)體裝置,用于接收所述干涉光,并將所述干涉光轉(zhuǎn) 換為干涉電信號;計(jì)算單元,用于計(jì)算所述干涉光強(qiáng)分布曲線與參考分布曲線的誤差;控 制單元,用于根據(jù)所述干涉光強(qiáng)分布曲線與參考分布曲線的誤差調(diào)整液晶透鏡對應(yīng)位置的 電極的電壓,從而調(diào)整所述液晶透鏡的折射率分布。
[0017] 優(yōu)選地,所述液晶透鏡優(yōu)化系統(tǒng)還包括:顯示裝置,與所述處理器電連接,用于顯 示所述干涉條紋、所述干涉光強(qiáng)分布曲線及所述參考分布曲線。
[0018] 本發(fā)明的液晶透鏡優(yōu)化方法及系統(tǒng)根據(jù)干涉光強(qiáng)分布曲線與參考分布曲線的誤 差調(diào)整液晶透鏡的折射率分布,操作簡單、可靠且準(zhǔn)確度高。
[0019] 通過以下參考附圖的詳細(xì)說明,本發(fā)明的其它方面和特征變得明顯。但是應(yīng)當(dāng)知 道,附圖僅僅為解釋的目的設(shè)計(jì),而不是作為本發(fā)明的范圍的限定,這是因?yàn)槠鋺?yīng)當(dāng)參考附 加的權(quán)利要求。還應(yīng)當(dāng)知道,除非另外指出,不必要依比例繪制附圖,它們僅僅力圖概念地 說明此處描述的結(jié)構(gòu)和流程。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0020] 下面將結(jié)合附圖,對本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】進(jìn)行詳細(xì)的說明。
[0021] 圖1為液晶透鏡的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0022] 圖2a為圖1所示液晶透鏡的上下電極未施加電壓時(shí)液晶透鏡的工作原理示意圖。
[0023] 圖2b為圖1所示液晶透鏡的上下電極施加電壓時(shí)液晶透鏡的工作原理示意圖。
[0024] 圖3為本發(fā)明一實(shí)施方式的液晶透鏡優(yōu)化方法的流程示意圖。
[0025] 圖4為本發(fā)明一實(shí)施方式的液晶透鏡的有效非尋常折射率與液晶透鏡中心相對 位置的關(guān)系模擬示意圖。
[0026] 圖5a為本發(fā)明一實(shí)施方式的液晶透鏡在起偏器與檢偏器的偏振軸垂直時(shí)的工作 原理示意圖。
[0027] 圖5b為本發(fā)明另一實(shí)施方式的的液晶透鏡在起偏器與檢偏器的偏振軸平行時(shí)的 工作原理示意圖。
[0028] 圖6為本發(fā)明一實(shí)施方式的液晶透鏡的參考分布曲線模擬示意圖。
[0029] 圖7為本發(fā)明一實(shí)施方式的液晶透鏡干涉光強(qiáng)分布曲線模擬結(jié)果示意圖。
[0030] 圖8為本發(fā)明一實(shí)施方式的液晶透鏡優(yōu)化系統(tǒng)的模塊示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0031] 為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更加明顯易懂,下面結(jié)合附圖對本發(fā)明 的【具體實(shí)施方式】做詳細(xì)的說明。
[0032] 圖3為本發(fā)明一實(shí)施方式的液晶透鏡優(yōu)化方法的流程示意圖。如圖3所示,液晶 透鏡優(yōu)化方法包括:
[0033] 步驟S31 :首先提供一平行光,使該平行光依次經(jīng)過起偏器、液晶透鏡及檢偏器, 并獲得該平行光依次經(jīng)過起偏器、液晶透鏡及檢偏器后產(chǎn)生的干涉光的干涉光強(qiáng)分布曲 線.
[0034] 步驟S32 :對比干涉光強(qiáng)分布曲線與參考分布曲線;及
[0035] 步驟S33 :根據(jù)干涉光強(qiáng)分布曲線與參考分布曲線的誤差調(diào)整液晶透鏡對應(yīng)位置 的電極的電壓,以調(diào)整液晶透鏡的折射率分布。
[0036] 在本發(fā)明一實(shí)施方式中,步驟S32包括:
[0037] 根據(jù)不同位置液晶透鏡的理想有效非尋常折射率獲得參考分布曲線。
[0038] 具體的,根據(jù)不同位置液晶透鏡的理想有效非尋常折射率獲得參考分布曲線包 括:獲得液晶分子的理想有效非尋常折射率、尋常折射率、液晶透鏡的盒間隙及平行光的波 長;及
[0039] 根據(jù)液晶分子的理想有效非尋常折射率、尋常折射率、液晶透鏡的盒間隙及平行 光的波長獲得參考分布曲線。
[0040] 在本發(fā)明一實(shí)施方式中,平行光為單色光且分布均勻。起偏器與檢偏器的偏振軸 平行或垂直。
[0041] 圖4為本發(fā)明中的液晶透鏡的理想狀態(tài)的有效非尋常折射率與液晶分子的相對 位置的關(guān)系模擬示意圖。如圖4所示,液晶透鏡的理想有效非尋常折射率neff(0)與液晶 分子的相對位置關(guān)系呈二次曲線分布,此處的液晶分子的相對位置是指液晶分子在X方向 (請參考圖5a或圖5b)上相對于液晶透鏡1的中心點(diǎn)0的相對距離。
[0042] 圖5a為本發(fā)明一實(shí)施方式的液晶透鏡1在起偏器2與檢偏器3的偏振軸垂直時(shí)的 工作原理示意圖。如圖5a所示,液晶透鏡1包括下基板101、上基板102、液晶分子105及 上電極(圖中未示出)及下電極(圖中未示出),起偏器2與檢偏器3分別位于液晶透鏡1 的兩側(cè)。其中,起偏器2、檢偏器3與液晶透鏡1中的下基板101、上基板102相互平行。起 偏器2的偏振軸El與檢偏器3的偏振軸E2垂直。其中0點(diǎn)位于液晶透鏡1的中心位置, ΧΟΥ平面與液晶透鏡1中的下基板101、上基板102相平行,Ζ軸方向垂直于液晶透鏡1所 在的平面。
[0043] 液晶透鏡1的液晶分子105配向方向沿Υ軸方向,一束光強(qiáng)為L且分布均勻的平 行光經(jīng)過起偏器2產(chǎn)生的線偏振光Ε1照射到液晶透鏡1后,線偏振光Ε1可分解為線偏振 光Ex和線偏振光Ey。由于液晶分子105對線偏振光Ex和線偏振光Ey的折射率不同,所以 經(jīng)過液晶分子105后線偏振光Ex和線偏振光Ey分別記為Ex'和Ey',線偏振光Ex'和線 偏振光Ey'再經(jīng)過檢偏器3,后在檢偏器3的偏振軸E2方向的透過的分量滿足相干條件, 產(chǎn)生干涉。
[0044] 設(shè)平行光的傳播方向沿Z軸方向,偏振平面為E10Z平面,液晶分子105的光軸 151始終在YOZ平面內(nèi)轉(zhuǎn)動(dòng),在沿著X軸的方向,例如當(dāng)X的值為X e,即在X方向上相對于 液晶透鏡1的中心點(diǎn)〇的相對距離為|Xe I處的液晶分子105的光軸151與Y軸的平均夾 角為Θ,則液晶透鏡1的有效非尋常折射率nefT( Θ )滿足:
[0045] Ι/neff ( Θ )2 = cos2 Θ /ne+sin2 Θ /no
[0046] 其中,ne為液晶材料的非尋常折射率,no為液晶材料的尋常折射率。
[0047] 如圖5a所示,起偏器2的偏振軸E1與檢偏器3的偏振軸E2垂直,因此,通過檢偏 器3后的干涉光強(qiáng)滿足:
[0048] T = I/Io = sin2 (2 β ) *sin2 ( π * Δ n*d/ λ ) /2
[0049] 其中,β為起偏器2偏振軸El與Υ軸的夾角,Λη = neff ( θ ) - ηο, I為通過檢 偏器3后的平行光的光強(qiáng),Ιο為起偏器2接收的平行光的光強(qiáng),d為液晶透鏡的盒間隙,λ 為起偏器2接收的光的波長。
[0050] 例如,當(dāng)β =45度時(shí),也就是說,當(dāng)干涉條紋的亮暗差別最明顯時(shí),通過檢偏器3 后的干涉光強(qiáng)滿足:
[0051] T = I/Io = sin2 ( π * Δ n*d/λ )/2
[0052] 其中,An = neff(0) - ηο, I為起偏器2接收的光強(qiáng),Ιο為通過檢偏器3后的光 強(qiáng),d為液晶透鏡的盒間隙,λ為起偏器2接收的平行光的波長。
[0053] 故,通過上述公式可以根據(jù)不同位置液晶透鏡1的理想有效非尋常折射率 neff ( Θ )獲得如圖6所示的參考分布曲線。
[0054] 圖5b為本發(fā)明另一實(shí)施方式的液晶透鏡1在起偏器2與檢偏器3的偏振軸平行 時(shí)的工作原理示意圖。如圖5b所示,起偏器2的偏振軸E1與檢偏器3的偏振軸E2平行, 因此,通過檢偏器3后的干涉光強(qiáng)滿足:
[0055] T = I/Io = 1 - [sin2 (2 β ) *sin2 ( π * Δ n*d/ λ ) /2]
[0056] 其中,β為起偏器2的偏振軸El與Υ軸的夾角,Λη = neff ( θ ) - ηο, I為通過 檢偏器3后的平行光的光強(qiáng),Io為起偏器2接收的平行光的光強(qiáng),d為液晶透鏡的盒間隙, 入為起偏器2接收的光的波長。
[0057] 例如,當(dāng)β =45度時(shí),也就是說,當(dāng)干涉條紋的亮暗差別最明顯時(shí),通過檢偏器3 后的干涉光強(qiáng)滿足:
[0058] Τ = 1/10 = 1 - [sin2 ( π * Δ n*d/ λ ) /2]
[0059] 其中,Λη = neff ( θ ) - ηο, I為通過檢偏器3后平行光的光強(qiáng),Ιο為起偏器2接 收的平行光的光強(qiáng),d為液晶透鏡的盒間隙,λ為起偏器2接收的平行光的波長。
[0060] 故,通過上述公式同樣可以根據(jù)不同位置液晶透鏡1的理想有效非尋常折射率 neff ( Θ )獲得如圖6所示的參考分布曲線。
[0061] 圖6為本發(fā)明實(shí)施方式中液晶透鏡的理想狀態(tài)下干涉光強(qiáng)的參考分布曲線模擬 示意圖。根據(jù)液晶分子的理想有效非尋常折射率neff(0)與液晶分子的相對位置及干涉 光強(qiáng)的關(guān)系可以得到如圖6所示的參考分布曲線,此處的液晶分子的相對位置是指液晶分 子在X方向上相對于液晶透鏡1的中心點(diǎn)0的相對距離。
[0062] 圖7為本發(fā)明一實(shí)施方式的液晶透鏡干涉光強(qiáng)分布曲線模擬結(jié)果示意圖。本發(fā)明 通過半導(dǎo)體裝置如光電成像器件(CXD)等獲得如圖7所示的由平行光依次經(jīng)過起偏器、液 晶透鏡及檢偏器后產(chǎn)生的各個(gè)液晶分子相對位置處的干涉光的干涉光強(qiáng)分布曲線模擬結(jié) 果示意圖,在此,液晶透鏡的各個(gè)液晶分子相對位置處的干涉光的干涉光強(qiáng)可以通過調(diào)節(jié) 此相對位置處的電極電壓進(jìn)行調(diào)節(jié),本發(fā)明通過比對圖7所示的干涉光強(qiáng)分布曲線與圖6 所示的理想狀態(tài)下的參考分布曲線的誤差調(diào)整液晶透鏡對應(yīng)位置的電極的電壓,以調(diào)整液 晶透鏡的折射率分布。
[0063] 圖8為本發(fā)明一實(shí)施方式的液晶透鏡優(yōu)化系統(tǒng)的模塊示意圖。一種液晶透鏡優(yōu)化 系統(tǒng)10,液晶透鏡優(yōu)化系統(tǒng)10包括起偏器2、檢偏器3、光發(fā)生器4及處理器5。光發(fā)生器 4,用于產(chǎn)生平行光。起偏器2接收光發(fā)生器4產(chǎn)生的平行光,并根據(jù)平行光產(chǎn)生偏振光。工 作時(shí),將所需要優(yōu)化的液晶透鏡設(shè)置于起偏器2與檢偏器3之間,檢偏器3與起偏器2分別 位于所要優(yōu)化的液晶透鏡的兩側(cè)。檢偏器3用于產(chǎn)生干涉光。處理器5用于根據(jù)干涉光獲 得干涉光強(qiáng)分布曲線,并根據(jù)干涉光強(qiáng)分布曲線與參考分布曲線的誤差調(diào)整所要優(yōu)化的液 晶透鏡對應(yīng)位置的電極的電壓,從而調(diào)整該所要優(yōu)化的液晶透鏡的光強(qiáng)分布。
[0064] 其中,起偏器2與檢偏器3的偏振軸平行或垂直。平行光為單色光且分布均勻。
[0065] 在本發(fā)明一實(shí)施方式中,液晶透鏡優(yōu)化系統(tǒng)10還包括存儲單元。存儲單元用于存 儲液晶透鏡1的盒間隙、平行光的波長、液晶分子的理想有效非尋常折射率、液晶分子的尋 常折射率。
[0066] 在本發(fā)明一實(shí)施方式中,處理器5包括半導(dǎo)體裝置、計(jì)算單元、控制單元。半導(dǎo)體 裝置用于接收干涉光,并將干涉光轉(zhuǎn)換為干涉電信號。計(jì)算單元用于計(jì)算干涉光強(qiáng)分布曲 線與參考分布曲線的誤差??刂茊卧糜诟鶕?jù)干涉光強(qiáng)分布曲線與參考分布曲線的誤差調(diào) 整所要優(yōu)化的液晶透鏡對應(yīng)位置的電極的電壓,從而調(diào)整液晶透鏡1的折射率分布。
[0067] 在本發(fā)明一實(shí)施方式中,半導(dǎo)體裝置包括光電成像器件(CXD)。
[0068] 在本發(fā)明一實(shí)施方式中,液晶透鏡優(yōu)化系統(tǒng)10還包括顯示裝置。顯示裝置與處理 器5電連接,用于顯示干涉條紋、干涉光強(qiáng)分布曲線及參考分布曲線。
[0069] 本發(fā)明的液晶透鏡優(yōu)化方法及液晶透鏡優(yōu)化系統(tǒng)10根據(jù)干涉光強(qiáng)分布曲線與參 考分布曲線的誤差調(diào)整所要優(yōu)化的液晶透鏡對應(yīng)位置的電極的電壓,從而調(diào)整所要優(yōu)化的 液晶透鏡的折射率分布,操作簡單、可靠且準(zhǔn)確度高。
[0070] 本發(fā)明中應(yīng)用了具體個(gè)例對本發(fā)明的透鏡優(yōu)化系統(tǒng)及方法的實(shí)施方式進(jìn)行了闡 述,以上實(shí)施方式的說明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想;同時(shí),對于本領(lǐng) 域的一般技術(shù)人員,依據(jù)本發(fā)明的思想,在【具體實(shí)施方式】及應(yīng)用范圍上均會有改變之處,綜 上,本說明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對本發(fā)明的限制。
【權(quán)利要求】
1. 液晶透鏡優(yōu)化方法,其特征在于,所述液晶透鏡優(yōu)化方法包括: 提供一平行光,使所述平行光依次經(jīng)過起偏器、液晶透鏡及檢偏器,并獲得所述平行光 依次經(jīng)過所述起偏器、所述液晶透鏡及所述檢偏器后產(chǎn)生的干涉光的干涉光強(qiáng)分布曲線; 對比所述干涉光強(qiáng)分布曲線與參考分布曲線;及 根據(jù)所述干涉光強(qiáng)分布曲線與所述參考分布曲線的誤差調(diào)整液晶透鏡對應(yīng)位置的電 極的電壓,以調(diào)整所述液晶透鏡的折射率分布。
2. 如權(quán)利要求1所述的液晶透鏡優(yōu)化方法,其特征在于,所述平行光為單色光且分布 均勻。
3. 如權(quán)利要求2所述的液晶透鏡優(yōu)化方法,其特征在于,所述起偏器與所述檢偏器的 偏振軸平行或垂直。
4. 如權(quán)利要求1所述的液晶透鏡優(yōu)化方法,其特征在于,對比所述干涉光強(qiáng)分布曲線 與參考分布曲線的步驟包括: 根據(jù)不同位置液晶透鏡的理想有效非尋常折射率獲得所述參考分布曲線。
5. 如權(quán)利要求4所述的液晶透鏡優(yōu)化方法,其特征在于,根據(jù)不同位置液晶透鏡的理 想有效非尋常折射率獲得所述參考分布曲線的步驟包括: 獲得液晶分子的理想有效非尋常折射率、尋常折射率、液晶透鏡的盒間隙及所述平行 光的波長;及 根據(jù)所述液晶分子的理想有效非尋常折射率、尋常折射率、所述液晶透鏡的盒間隙及 所述平行光的波長獲得參考分布曲線。
6. -種液晶透鏡優(yōu)化系統(tǒng),用于調(diào)整液晶透鏡的折射率分布,所述液晶透鏡包括電極, 其特征在于,所述液晶透鏡優(yōu)化系統(tǒng)包括: 光發(fā)生器,用于產(chǎn)生平行光; 起偏器,接收所述光發(fā)生器產(chǎn)生的平行光,并根據(jù)所述平行光產(chǎn)生偏振光; 檢偏器,與所述起偏器分別位于所述液晶透鏡的兩側(cè),用于檢測經(jīng)過所述檢偏器的偏 振光,以產(chǎn)生干涉光;及 處理器,用于根據(jù)所述干涉光獲得干涉光強(qiáng)分布曲線,并根據(jù)所述干涉光強(qiáng)分布曲線 與參考分布曲線的誤差調(diào)整液晶透鏡對應(yīng)位置的電極的電壓,從而調(diào)整所述液晶透鏡的折 射率分布。
7. 如權(quán)利要求6所述的液晶透鏡優(yōu)化系統(tǒng),其特征在于,所述起偏器與所述檢偏器的 偏振軸平行或垂直。
8. 如權(quán)利要求6所述的液晶透鏡優(yōu)化系統(tǒng),其特征在于,所述液晶透鏡優(yōu)化系統(tǒng)還包 括: 存儲單元,用于存儲所述液晶透鏡的盒間隙、所述平行光的波長、所述液晶分子的理想 有效非尋常折射率、所述液晶分子的尋常折射率。
9. 如權(quán)利要求6所述的液晶透鏡優(yōu)化系統(tǒng),其特征在于,所述處理器包括: 半導(dǎo)體裝置,用于接收所述干涉光,并將所述干涉光轉(zhuǎn)換為干涉電信號; 計(jì)算單元,用于計(jì)算所述干涉光強(qiáng)分布曲線與參考分布曲線的誤差; 控制單元,用于根據(jù)所述干涉光強(qiáng)分布曲線與參考分布曲線的誤差調(diào)整液晶透鏡對應(yīng) 位置的電極的電壓,從而調(diào)整所述液晶透鏡的折射率分布。
10.如權(quán)利要求6所述的液晶透鏡優(yōu)化系統(tǒng),其特征在于,所述液晶透鏡優(yōu)化系統(tǒng)還包 括: 顯示裝置,與所述處理器電連接,用于顯示所述干涉條紋、所述干涉光強(qiáng)分布曲線及所 述參考分布曲線。
【文檔編號】G02F1/29GK104216195SQ201410446532
【公開日】2014年12月17日 申請日期:2014年9月4日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月4日
【發(fā)明者】唐先柱, 左震 申請人:昆山龍騰光電有限公司
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