液晶顯示模組的測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開一種液晶顯示模組的測試系統(tǒng)，包括：用于測量液晶顯示模組的顯示參數(shù)的光電測試儀、增量型編碼模塊，包括增量型編碼器，所述增量型編碼器從給定的基礎測試數(shù)據(jù)開始，以設定的增量產(chǎn)生新的測試數(shù)據(jù)；測試模塊，包括主控芯片、與主控芯片連接的存儲單元和與主控芯片連接的液晶驅動單元；所述主控芯片與所述增量型編碼模塊連接，獲取所述增量型編碼模塊輸出的測試數(shù)據(jù)并控制液晶驅動單元以該測試數(shù)據(jù)驅動液晶顯示模組；所述存儲單元用于根據(jù)主控芯片的保存命令存儲測試數(shù)據(jù)；所述增量型編碼模塊還包括保存觸發(fā)器，所述保存觸發(fā)器與主控芯片連接，用于觸發(fā)所述主控芯片生成所述保存命令。上述測試系統(tǒng)測試效率較高。
【專利說明】液晶顯示模組的測試系統(tǒng)

【技術領域】
[0001]本實用新型涉及液晶顯示【技術領域】，特別是涉及一種液晶顯示模組的測試系統(tǒng)。

【背景技術】
[0002]在液晶顯示模組(liquid crystal module, LCM)中，液晶顯示模組需要通過驅動芯片的驅動來顯示圖像。對于一款液晶顯示模組，某種顏色需要多大的驅動電壓以達到最好的顯示效果，通常都是經(jīng)過不斷測試后選擇并固化在驅動芯片中的。但由于液晶顯示模組個體之間的差異，因此為達到最佳顯示效果的驅動電壓之間就存在差異，使用同一驅動參數(shù)并不能使所有的液晶顯示模組都達到最好的顯示效果。為此，為了消除這種差異，高端的液晶顯示模組中允許客戶自行定義液晶顯示模組的驅動電壓參數(shù)，并通過一次性可編程(One Time Programmable, OTP)工序固化在驅動芯片中，提升產(chǎn)品效果。
[0003]傳統(tǒng)的OTP固化(燒錄)的基本思路是，構建以ARM或者FPGA為核心的LCM測試架，由該LCM測試架生成測試數(shù)據(jù)，并寫入LCM的寄存器，驅動液晶顯示模組進行顯示。然后通過光電測試儀器測量液晶顯示模組的相關顯示數(shù)據(jù)，再將該顯示數(shù)據(jù)傳送到計算機處理，以判斷該顯示數(shù)據(jù)是否符合達到最佳顯示效果的要求。上述過程中需要LCM測試架不斷生成測試數(shù)據(jù)，甚至可能需要遍歷所有的設置值以找到最佳參數(shù)，測試效率較低。
實用新型內(nèi)容
[0004]基于此，有必要提供一種液晶顯示模組的測試系統(tǒng)，其能提供快捷的測試。
[0005]一種液晶顯示模組的測試系統(tǒng)，包括用于測量液晶顯示模組的顯示參數(shù)的光電測試儀，還包括:
[0006]增量型編碼模塊，包括增量型編碼器，所述增量型編碼器從給定的基礎測試數(shù)據(jù)開始，以設定的增量產(chǎn)生新的測試數(shù)據(jù)；
[0007]測試模塊，包括主控芯片、與主控芯片連接的存儲單元和與主控芯片連接的液晶驅動單元；
[0008]所述主控芯片與所述增量型編碼模塊連接，獲取所述增量型編碼模塊輸出的測試數(shù)據(jù)并控制液晶驅動單元以該測試數(shù)據(jù)驅動液晶顯示模組；
[0009]所述存儲單元用于根據(jù)主控芯片的保存命令存儲測試數(shù)據(jù)；
[0010]所述增量型編碼模塊還包括保存觸發(fā)器，所述保存觸發(fā)器與主控芯片連接，用于觸發(fā)所述主控芯片生成所述保存命令。
[0011]在其中一個實施例中，所述增量型編碼器為采用轉軸控制的編碼器件。
[0012]在其中一個實施例中，所述增量型編碼模塊還包括與所述增量型編碼器連接的鑒相器和頻率計數(shù)器。
[0013]在其中一個實施例中，所述主控芯片還用于在保存觸發(fā)器觸發(fā)保存命令時，將測試數(shù)據(jù)燒錄到液晶顯示模組中。
[0014]在其中一個實施例中，所述主控芯片還用于根據(jù)存儲單元中保存的歷史測試數(shù)據(jù)計算平均值得到所述增量型編碼器的基礎測試數(shù)據(jù)。
[0015]在其中一個實施例中，所述主控芯片為ARM芯片。
[0016]在其中一個實施例中，所述存儲單元為閃存模塊。
[0017]在其中一個實施例中，所述液晶驅動單元包括背光驅動電路、液晶顯示信號轉接電路以及液晶顯示模組的供電電路。
[0018]在其中一個實施例中，所述保存觸發(fā)器為按鍵電路。
[0019]在其中一個實施例中，所述按鍵電路輸出高電位觸發(fā)主控芯片的保存命令。
[0020]上述測試系統(tǒng)，通過增量型編碼模塊自動提供測試數(shù)據(jù)，并通過保存觸發(fā)器快速保存符合條件的測試數(shù)據(jù)，測試效率較高。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0021]圖1為本實用新型一實施例的液晶顯示模組的測試系統(tǒng)；
[0022]圖2為圖1中的測試模塊的結構示意圖；
[0023]圖3為圖1中的增量型編碼模塊的結構示意圖；
[0024]圖4為本實用新型一實施例的液晶顯示模組的測試流程圖。

【具體實施方式】
[0025]如圖1所示，為本實用新型一實施例的液晶顯示模組的測試系統(tǒng)。該測試系統(tǒng)10通過多組測試數(shù)據(jù)對液晶顯示模組20進行測試，以獲取能夠使液晶顯示模組20取得最佳顯示效果的測試數(shù)據(jù)。以下所說的測試數(shù)據(jù)均指驅動液晶顯示模組的驅動電壓數(shù)據(jù)。
[0026]該測試系統(tǒng)10包括測試模塊110、增量型編碼模塊120和光電測試儀130。其中測試模塊110根據(jù)增量型編碼模塊120提供的測試數(shù)據(jù)驅動液晶顯示模組20進行顯示，光電測試儀130則采集液晶顯示模組20的顯示圖像并生成相應的顯示參數(shù)。測試人員90通過查看光電測試儀130輸出的顯示參數(shù)即可判斷當前的測試參數(shù)是否符合要求。
[0027]上述測試系統(tǒng)10可通過增量型編碼模塊120自動產(chǎn)生測試數(shù)據(jù)，并通過保存觸發(fā)器快速保存符合條件的測試數(shù)據(jù)，測試效率較高。測試系統(tǒng)10結構簡單、操作簡單，無需連接計算機，方便移動重組。因此OTP快速高效，能適應大批量快速生產(chǎn)需求。
[0028]請參考圖2，測試模塊110包括主控芯片111、存儲單元113和液晶驅動單元115。存儲單元113和液晶驅動單元115均與主控芯片111電連接。主控芯片111與增量型編碼模塊120連接，獲取增量型編碼模塊120輸出的測試數(shù)據(jù)并控制液晶驅動單元115以該測試數(shù)據(jù)驅動液晶顯示模組。存儲單元113則用于根據(jù)主控芯片的保存命令存儲符合要求的測試參數(shù)，方便在以后的測試中作為參考。
[0029]主控芯片111可采用ARM芯片。存儲單元113則采用閃存模塊。液晶驅動單元115包括背光驅動電路、液晶顯示信號轉接電路以及液晶顯示模組的供電電路。其中背光驅動電路用于驅動液晶顯示模組的背光單元，使其提供背光。液晶顯示信號轉接電路用于將主控芯片111提供的測試數(shù)據(jù)轉換為液晶顯示模組的驅動信號。供電電路則為液晶顯示模組供電。
[0030]請參考圖3，增量型編碼模塊120包括增量型編碼器121、鑒相器123、頻率計數(shù)器125和保存觸發(fā)器127。增量型編碼器121用于從給定的基礎測試數(shù)據(jù)開始，以設定的增量產(chǎn)生新的測試數(shù)據(jù)。例如該基礎測試數(shù)據(jù)是前面多次測量并確定的最佳測試數(shù)據(jù)的平均值。當然該基礎測試數(shù)據(jù)也可以任意數(shù)據(jù)，例如O。通過增量型編碼器121可以自動產(chǎn)生多組測試數(shù)據(jù)。增量型編碼器121可采用轉軸控制的編碼器件。轉軸旋轉時，有相應的脈沖輸出，其旋轉方向的判別和脈沖數(shù)量的增減借助后部的鑒相器123和頻率計數(shù)器125來實現(xiàn)。
[0031]保存觸發(fā)器127是可以由測試人員90操作，并觸發(fā)與之連接的主控芯片111生成所述保存命令，以保存經(jīng)測試人員90判斷并認可的測試數(shù)據(jù)。保存觸發(fā)器127可以為按鍵電路，直接觸發(fā)高低電平控制主控芯片111保存測試數(shù)據(jù)。
[0032]進一步地，主控芯片111還用于在保存觸發(fā)器127觸發(fā)保存命令時，將測試數(shù)據(jù)燒錄到液晶顯示模組20中。當前的測試數(shù)據(jù)如果已經(jīng)使得液晶顯示模組能夠獲得較佳的顯示效果，則可將其燒錄到液晶顯示模組提供的OTP寄存器中，從而優(yōu)化該液晶顯示模組的顯示效果。
[0033]使用上述的測試系統(tǒng)，可以反復多次對多個液晶顯示模組進行測試獲得各個液晶顯示模組的最佳測試數(shù)據(jù)，經(jīng)過多次保存后就獲得了大量的關于某種液晶顯示模組的測試數(shù)據(jù)，而即使某種類型的液晶顯示模組的個體之間有差異，但這種差異并不會特別大，所需的驅動數(shù)據(jù)也應該是比較接近的。因此，可以基于已經(jīng)測得的歷史測試數(shù)據(jù)獲得下一次的測試數(shù)據(jù)。
[0034]基于此，主控芯片111還可根據(jù)存儲單元113中保存的歷史測試數(shù)據(jù)計算平均值得到所述增量型編碼器的基礎測試數(shù)據(jù)。從該基礎測試數(shù)據(jù)開始以增量的方式微調該基礎測試數(shù)據(jù)，獲得多個當前測試的測試數(shù)據(jù)。
[0035]基于上述實施例，完整的測試過程可參考圖4。
[0036]完整的測試過程包括如下步驟:
[0037]步驟SlOl:獲取歷史測試數(shù)據(jù)。
[0038]步驟S102:利用歷史測試數(shù)據(jù)獲得當前的基礎測試數(shù)據(jù)。計算歷史測試數(shù)據(jù)的平均值得到當前的基礎測試數(shù)據(jù)。
[0039]步驟S103:利用測試數(shù)據(jù)測試液晶顯示模組。
[0040]步驟S104:判斷當前所用的測試數(shù)據(jù)是否滿足顯示效果的要求。測試人員利用光電測試儀對按照測試數(shù)據(jù)顯示圖像的液晶顯示模組進行測試，獲取光電測試儀給出的顯示參數(shù)，判斷是否符合要求。若符合要求，則執(zhí)行步驟S106，否則執(zhí)行步驟S105。
[0041]步驟S105:通過增量型編碼器調節(jié)測試數(shù)據(jù)。調節(jié)測試數(shù)據(jù)后再執(zhí)行步驟S103。
[0042]步驟S106:將測試數(shù)據(jù)寫入液晶顯示模組中。對于符合顯示要求的測試參數(shù)，將其寫入液晶顯示模組，作為對有個體差異的液晶顯示模組的校正和優(yōu)化。
[0043]步驟S107:保存測試數(shù)據(jù)。在一個液晶顯示模組調試測試數(shù)據(jù)并寫入OTP寄存器完成后，可對下一個液晶顯示模組執(zhí)行同樣的操作。已經(jīng)測試完成的測試數(shù)據(jù)可作為歷史測試數(shù)據(jù)進行保存。
[0044]上述液晶顯示模組的測試系統(tǒng)結構簡單、操作簡單，無需連接計算機，方便移動重組。因此OTP快速高效，能適應大批量快速生產(chǎn)需求。
[0045]以上所述實施例僅表達了本實用新型的幾種實施方式，其描述較為具體和詳細，但并不能因此而理解為對本實用新型專利范圍的限制。應當指出的是，對于本領域的普通技術人員來說，在不脫離本實用新型構思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬于本實用新型的保護范圍。因此，本實用新型專利的保護范圍應以所附權利要求為準。
【權利要求】
1.一種液晶顯示模組的測試系統(tǒng)，包括用于測量液晶顯示模組的顯示參數(shù)的光電測試儀，其特征在于，還包括: 增量型編碼模塊，包括增量型編碼器，所述增量型編碼器從給定的基礎測試數(shù)據(jù)開始，以設定的增量產(chǎn)生新的測試數(shù)據(jù)； 測試模塊，包括主控芯片、與主控芯片連接的存儲單元和與主控芯片連接的液晶驅動單元；所述主控芯片為ARM芯片； 所述主控芯片與所述增量型編碼模塊連接，獲取所述增量型編碼模塊輸出的測試數(shù)據(jù)并控制液晶驅動單元以該測試數(shù)據(jù)驅動液晶顯示模組； 所述存儲單元用于根據(jù)主控芯片的保存命令存儲測試數(shù)據(jù)； 所述增量型編碼模塊還包括保存觸發(fā)器，所述保存觸發(fā)器與主控芯片連接，用于觸發(fā)所述主控芯片生成所述保存命令。
2.根據(jù)權利要求1所述的液晶顯示模組的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述增量型編碼器為采用轉軸控制的編碼器件。
3.根據(jù)權利要求2所述的液晶顯示模組的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述增量型編碼模塊還包括與所述增量型編碼器連接的鑒相器和頻率計數(shù)器。
4.根據(jù)權利要求1所述的液晶顯示模組的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述主控芯片還用于在保存觸發(fā)器觸發(fā)保存命令時，將測試數(shù)據(jù)燒錄到液晶顯示模組中。
5.根據(jù)權利要求1所述的液晶顯示模組的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述存儲單元為閃存模塊。
6.根據(jù)權利要求1所述的液晶顯示模組的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述液晶驅動單元包括背光驅動電路、液晶顯示信號轉接電路以及液晶顯示模組的供電電路。
7.根據(jù)權利要求1所述的液晶顯示模組的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述保存觸發(fā)器為按鍵電路。
8.根據(jù)權利要求7所述的液晶顯示模組的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述按鍵電路輸出高電位觸發(fā)主控芯片的保存命令。
【文檔編號】G02F1/13GK203838439SQ201320825737
【公開日】2014年9月17日 申請日期:2013年12月13日 優(yōu)先權日:2013年12月13日
【發(fā)明者】康后生, 吳德偉 申請人:Tcl顯示科技（惠州）有限公司