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承載裝置及光耦合透鏡檢測系統(tǒng)的制作方法

文檔序號:2696896閱讀:226來源:國知局
承載裝置及光耦合透鏡檢測系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種承載裝置,其用于承載包括殼體及位于殼體內(nèi)透鏡本體的光耦合透鏡。殼體包括開設(shè)收容槽的底部、從底部上延伸且相背的第一側(cè)壁及第二側(cè)壁。承載裝置包括開設(shè)凹槽并包括位于凹槽內(nèi)的突起的承載臺、位于承載臺上的第一抵持件、第二抵持件及施壓組件。凹槽包括底壁、垂直底壁且平行相對的第一內(nèi)壁及第二內(nèi)壁。突起位于底壁上。殼體收容于凹槽內(nèi),第一側(cè)壁對應(yīng)第一內(nèi)壁,第二側(cè)壁對應(yīng)第二內(nèi)壁,突起與收容槽卡合使殼體垂直承載臺。第一抵持件靠近第一內(nèi)壁與第一側(cè)壁抵持。第二抵持件靠近第二內(nèi)壁。施壓組件與第一抵持件位于第二抵持件的相背兩側(cè)。施壓組件對壓迫第二抵持件使其與第二側(cè)壁抵持。本發(fā)明還涉及一種光耦合透鏡檢測系統(tǒng)。
【專利說明】承載裝置及光耦合透鏡檢測系統(tǒng)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種承載裝置及一種具有該承載裝置的光耦合透鏡檢測系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]光耦合透鏡通常由射出成型的方式制得,其一般包括透明殼體及與該殼體相連并一體成型的透鏡本體。光耦合透鏡射出成型后會對其質(zhì)量進行檢測,應(yīng)用影像擷取裝置對光耦合透鏡進行拍照則是檢測光耦合透鏡質(zhì)量的關(guān)鍵一步。而在檢測過程中保持光耦合透鏡垂直地放置于水平承載臺上是一個關(guān)鍵的操作。然而,為了使射出成型后的光耦合透鏡容易脫模,射出成型模具通常加入了拔模角的設(shè)計,相應(yīng)地,射出成型后殼體在與承載臺接觸的部位會成型有拔模角,即殼體與承載臺接觸的部位不平整,如此便會導(dǎo)致光耦合透鏡無法垂直地放置于承載臺上,進而影響最終的檢測結(jié)果。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]有鑒于此,有必要提供一種承載裝置及一種具有該承載裝置的光耦合透鏡檢測系統(tǒng),其能使光耦合透鏡能夠垂直地放置在該承載裝置上,從而保證最終檢測結(jié)果的準確性。
[0004]一種承載裝置,其用于承載光耦合透鏡。該光耦合透鏡包括殼體及位于該殼體內(nèi)的透鏡本體。該殼體包括開設(shè)有收容槽的底部、從該底部上延伸的第一側(cè)壁及與該第一側(cè)壁相背的第二側(cè)壁。該承載裝置包括承載臺、第一抵持件、第二抵持件以及施壓組件。該承載臺開設(shè)有凹槽并包括位于該凹槽內(nèi)的突起。該凹槽包括底壁、垂直該底壁延伸的第一內(nèi)壁及與該第一內(nèi)壁平行相對的第二內(nèi)壁。該突起位于該底壁上。該殼體收容于該凹槽內(nèi),且該第一側(cè)壁對應(yīng)該第一內(nèi)壁,該第二側(cè)壁對應(yīng)該第二內(nèi)壁,該突起與該收容槽卡合以使該殼體相對該承載臺垂直。該第一抵持件固設(shè)于該承載臺上且靠近該第一內(nèi)壁并與該第一側(cè)壁抵持。該第二抵持件活動設(shè)置于該承載臺上并靠近該第二內(nèi)壁。該施壓組件位于該承載臺上且與該第一抵持件分別位于該第二抵持件的相背兩側(cè)。該施壓組件用于對該第二抵持件施加推力以使該第二抵持件與該第二側(cè)壁抵持。
[0005]一種光耦合透鏡檢測系統(tǒng),其包括影像擷取裝置、分析裝置以及如上所述的承載裝置。該透鏡本體包括與該承載臺平行的光學(xué)面、設(shè)置在該光學(xué)面上的多個光學(xué)透鏡以及從該光學(xué)面上垂直延伸的兩根定位柱。該多個光學(xué)透鏡位于該兩根定位柱之間。該影像擷取裝置設(shè)置在該光耦合透鏡的上方并對準該光學(xué)面。該影像擷取裝置的光軸與該光學(xué)面垂直。該影像擷取裝置用于拍攝包括該光學(xué)面、該兩根定位柱及該多個光學(xué)透鏡的影像。該分析裝置用于分析該影像中的多個光學(xué)透鏡相對該兩根定位柱的位置。
[0006]相較于現(xiàn)有技術(shù),該承載裝置及該光耦合透鏡檢測系統(tǒng)利用該突起與該收容槽卡合,該第一抵持面抵持該第一側(cè)壁,及該第二抵持面抵持該第二側(cè)壁,以將該光耦合透鏡垂直地放置在該承載臺上,從而保證最終檢測結(jié)果的準確性。
【專利附圖】

【附圖說明】[0007]圖1是本發(fā)明第一實施方式提供的承載裝置的立體示意圖。
[0008]圖2是圖1中的承載裝置的分解示意圖。
[0009]圖3是圖1中的承載裝置的另一視角的分解示意圖。
[0010]圖4是圖1中的承載裝置的另一視角的立體示意圖。
[0011]圖5是圖1中的承載裝置承載光耦合透鏡的立體示意圖。
[0012]圖6是沿著圖5中V1-VI線的放大的截面示意圖。
[0013]圖7是本發(fā)明第二實施方式提供的承載裝置的分解示意圖。
[0014]圖8是本發(fā)明第三實施方式提供的承載裝置的立體示意圖。
[0015]圖9是本發(fā)明第四實施方式提供的光耦合透鏡檢測系統(tǒng)的立體示意圖。
[0016]主要元件符號說明
【權(quán)利要求】
1.一種承載裝置,其用于承載光耦合透鏡,該光耦合透鏡包括殼體及位于該殼體內(nèi)的透鏡本體,該殼體包括開設(shè)有收容槽的底部、從該底部上延伸的第一側(cè)壁及與該第一側(cè)壁相背的第二側(cè)壁,該承載裝置包括: 承載臺,其開設(shè)有凹槽并包括位于該凹槽內(nèi)的突起,該凹槽包括底壁、垂直該底壁延伸的第一內(nèi)壁及與該第一內(nèi)壁平行相對的第二內(nèi)壁,該突起位于該底壁上,該殼體收容于該凹槽內(nèi),且該第一側(cè)壁對應(yīng)該第一內(nèi)壁,該第二側(cè)壁對應(yīng)該第二內(nèi)壁,該突起與該收容槽卡合以使該殼體相對該承載臺垂直; 第一抵持件,其固設(shè)于該承載臺上且靠近該第一內(nèi)壁并與該第一側(cè)壁抵持; 第二抵持件,其活動設(shè)置于該承載臺上并靠近該第二內(nèi)壁;及 施壓組件,其位于該承載臺上且與該第一抵持件分別位于該第二抵持件的相背兩側(cè),該施壓組件用于對該第二抵持件施加推力以使該第二抵持件與該第二側(cè)壁抵持。
2.如權(quán)利要求1所述的承載裝置,其特征在于,該承載臺為平板結(jié)構(gòu)并包括上表面及與該上表面相背的下表面,該凹槽開設(shè)于該上表面上,該第一抵持件、該第二抵持件及該施壓組件均位于該上表面。
3.如權(quán)利要求1所述的承載裝置,其特征在于,該承載臺包括承載本體及承載塊,該承載本體包括上表面及與該上表面相背的下表面,該上表面上開設(shè)有通孔,該承載塊包括承載面,該承載塊固定于該通孔,該承載面與該上表面齊平,該凹槽開設(shè)于該承載面上。
4.如權(quán)利要求3所述的承載裝置,其特征在于,該承載塊由壓克力材料制成。
5.如權(quán)利要求2或3所述的承載裝置,其特征在于,該第一抵持件包括第一底面、垂直于該第一底面的第一抵持面及兩個垂直于該第一`底面的連接面,該第一底面承載于該上表面上,該第一抵持面與該第一側(cè)壁抵持,該兩個連接面分別位于該第一抵持面相對的兩端,該第一抵持面相對該兩個連接面內(nèi)凹。
6.如權(quán)利要求5所述的承載裝置,其特征在于,該第二抵持件包括本體部及抵持部,該本體部包括第二底面、垂直該第二底面的第一面及與該第一面平行相背的第二面,該第一面靠近該第二內(nèi)壁,該抵持部從該第一面上垂直延伸并包括第二抵持面,該第二抵持面與該第二側(cè)壁抵持。
7.如權(quán)利要求6所述的承載裝置,其特征在于,該第一側(cè)壁與該第一內(nèi)壁接觸,該第二側(cè)壁與該第二內(nèi)壁接觸。
8.如權(quán)利要求6所述的承載裝置,其特征在于,該施壓組件包括固定部、兩根導(dǎo)桿以及兩個彈性件,該固定部固定于該上表面上并包括第三底面及垂直該第三底面的固定面,該固定面與該第二面相對,每根導(dǎo)桿的一端固定于該固定面上,另一端抵持于該第一抵持件上,該第二抵持件能夠滑動地穿設(shè)于該兩個導(dǎo)桿上,該兩個彈性件分別套設(shè)于該兩個導(dǎo)桿上,且每個彈性件的一端固定于該固定面上,另一端固定于該第二抵持件上。
9.如權(quán)利要求6所述的承載裝置,其特征在于,該施壓組件包括固定部、兩根伸縮桿以及兩個彈性件,該固定部固定于該上表面上并包括第三底面及垂直該第三底面的固定面,該固定面與該第二面相對,每根伸縮桿的一端固定于該固定面上,另一端固定于該第二面上,該兩個彈性件分別套設(shè)于該兩個伸縮桿上,且每個彈性件的一端固定于該固定面上,另一端固定于該第二面上。
10.一種光耦合透鏡檢測系統(tǒng),其包括影像擷取裝置、分析裝置以及如權(quán)利要求1所述的承載裝置,該透鏡本體包括與該承載臺平行的光學(xué)面、設(shè)置于該光學(xué)面上的多個光學(xué)透鏡以及從該光學(xué)面上垂直延伸的兩根定位柱,該多個光學(xué)透鏡位于該兩根定位柱之間,該影像擷取裝置設(shè)置于該光耦合透鏡的上方并對準該光學(xué)面,該影像擷取裝置的光軸與該光學(xué)面垂直,該影像擷取裝置用于拍攝包括該光學(xué)面、該兩根定位柱及該多個光學(xué)透鏡的影像,該分析裝置用于分 析該影像中的多個光學(xué)透鏡相對該兩根定位柱的位置。
【文檔編號】G02B7/00GK103777300SQ201210415379
【公開日】2014年5月7日 申請日期:2012年10月26日 優(yōu)先權(quán)日:2012年10月26日
【發(fā)明者】郭章緯 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司
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