專利名稱：一種檢測液晶基板的設(shè)備及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種檢測液晶基板的設(shè)備及方法。
背景技術(shù)：
液晶顯示面板主要包括對盒成型的彩膜基板和TFT (Thin Film Transistor薄膜場效應(yīng)晶體管)陣列基板，以及位于所述彩膜基板和所述TFT陣列基板之間的液晶層，在液晶顯示面板的生產(chǎn)過程中，為了及早發(fā)現(xiàn)液晶顯示面板中的質(zhì)量問題，會(huì)對液晶顯示面板是制造過程中的Q-panel(l/4面板)基板進(jìn)行檢測。對于Q_panel基板主要利用的是光學(xué)檢測法進(jìn)行檢測，即在對于Q-Panel基板上下分別添加偏光片，并在該基板的像素電極上加載電壓，使得Q-panel基板中的TFT基板與彩膜基板之間產(chǎn)生電場,從而液晶分子在電場的作用下發(fā)生偏轉(zhuǎn)，當(dāng)有背光源從射入時(shí)，檢測人員就能夠看到光線通過Q-Panel基板，進(jìn)而對基板進(jìn)行檢測。但是，由于設(shè)計(jì)上的缺陷，目前FF S (Fringe Field Switching,邊緣電場驅(qū)動(dòng))型的Q-panel (1/4面板)基板沒有預(yù)留電極邊，所以不能像留有電極邊的TN(TwistedNematic扭曲向列)型Q-panel基板那樣,在Cellエ序段利用電極邊進(jìn)行加載電信號(hào)的檢測，只能在2nd Cutting (2次切割)之后進(jìn)行ET (Electrical Test,電學(xué)測試)檢測,這樣的局限性大大地増加了 FFS型Q-panel基板的生產(chǎn)的風(fēng)險(xiǎn)，有可能造成重大的損失。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的實(shí)施例提供一種檢測液晶基板的設(shè)備及方法，能夠?qū)FS型液晶基板進(jìn)行加載電イ目號(hào)的檢測，提聞了良品率。為達(dá)到上述目的，本發(fā)明的實(shí)施例采用如下技術(shù)方案一種檢測液晶基板的設(shè)備，包括透明載臺(tái)，用于承載待測液晶基板；第一偏光片,位于所述透明載臺(tái)上方；第二偏光片，位于所述透明載臺(tái)下方；背光源，位于所述第二偏光片下方，所述背光源發(fā)出的光線穿過所述第二偏光片、所述透明載臺(tái)到達(dá)所述第一偏光片；其特征在于，所述設(shè)備還包括第一透明電極層，位于所述透明載臺(tái)上方；第二透明電極層，位于所述透明載臺(tái)下方；信號(hào)加載單元，與所述第一透明電極層、第二透明電極層電連接，用于向所述第一透明電極層、第二透明電極層加載電信號(hào)，以使所述第一透明電極層和所述第二透明電極 層之間具有使所述透明載臺(tái)上的待測液晶基板的液晶分子偏轉(zhuǎn)的電場。一種檢測液晶基板的方法，在透明載臺(tái)上方，設(shè)有第一偏光片，在所述透明載臺(tái)下方設(shè)有第二偏光片，在所述第二偏光片下方設(shè)有背光源，在所述透明載臺(tái)上方設(shè)有第一透明電極層，在所述透明載臺(tái)下方設(shè)有第二透明電極層，并且，設(shè)置信號(hào)加載單元與所述第一透明電極層、第二透明電極層連接；該檢測方法包括在所述透明載物臺(tái)上承載待測液晶基板；通過所述信號(hào)加載單元向所述第一透明電極層、第二透明電極層加載電信號(hào)，以使得所述第一透明電極層和所述第二透明電極層之間形成使液晶分子發(fā)生偏轉(zhuǎn)的電場；將所述背光源的光線透過第二偏光片、所述透明載臺(tái)，到達(dá)所述第一偏光片；通過到達(dá)所述第一偏光片的光線對所述液晶基板進(jìn)行檢測。本發(fā)明實(shí)施例提供的檢測液晶基板的設(shè)備及方法，在該設(shè)備上引入平面電場，對 FFS型液晶基板進(jìn)行檢測時(shí)，在液晶上下加載電信號(hào)形成平面電場，使液晶中的液晶分子偏轉(zhuǎn)，以使得背光源發(fā)出的光可以通過液晶，從而實(shí)現(xiàn)了對液晶基板的檢測，提高了良品率。


為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖I為本發(fā)明實(shí)施例提供的檢測設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本發(fā)明另ー實(shí)施例提供的檢測設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的檢測設(shè)備的方法流程圖。
具體實(shí)施例方式下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。本發(fā)明提供的檢測液晶基板的設(shè)備，如圖I所示，包括透明載臺(tái)101,用于承載待測液晶基板100。第一偏光片102,位于該透明載臺(tái)101上方。第二偏光片103，位于該透明載臺(tái)101下方。背光源104,位于第二偏光片103下方,該背光源104發(fā)出的光線穿過第二偏光片103、透明載臺(tái)101到達(dá)第一偏光片102。該設(shè)備還包括第一透明電極層105，位于透明載臺(tái)101上方。第二透明電極層106，位于透明載臺(tái)101下方。信號(hào)加載單兀109,與第一透明電極層105、第二透明電極層106電連接,用于向第一透明電極層105、第二透明電極層106加載電信號(hào)，以使該第一透明電極層105和第二透明電極層106之間具有使透明載臺(tái)101上的待測液晶基板100的液晶分子偏轉(zhuǎn)的電場。在本發(fā)明實(shí)施例中，所述第一偏光片和所述第二偏光片分設(shè)于所述待測液晶基板的上下兩側(cè)。示例性的，在檢測FFS型液晶基板吋，液晶基板未施加電場的液晶分子是平行基板配向(homogeneous),第一偏光片與第二偏光片的吸收軸是90度交叉配置。第二偏光片的吸收軸與液晶分子的配像相同，入射光經(jīng)由平行配列的液晶層，直線前進(jìn)不改變行進(jìn)方向，射出光無法通過第一偏光片，所以呈現(xiàn)不透光的黒色狀態(tài)，施加電場后，液晶分子會(huì)扭轉(zhuǎn)，在液晶層產(chǎn)生雙折射現(xiàn)象，改變?nèi)肷涔庑羞M(jìn)的方向，通過第一偏光片，呈現(xiàn)透光狀態(tài)。在圖I所示的本實(shí)施例中，示例性的，該第一透明電極層105可以為涂覆在第一偏光片102上的ー層透明導(dǎo)電膜，如IT0(Indium Tin Oxides，納米銦錫金屬氧化物)薄膜，同時(shí)該第一偏光片102上設(shè)有信號(hào)接點(diǎn)1021。第二透明電極層106可以為涂覆在第二偏光片103上的ー層透明導(dǎo)電膜,如ITO薄膜，同時(shí)第二偏光片103上設(shè)有信號(hào)接點(diǎn)1031。由于ITO薄膜具有透明導(dǎo)電性，所以，將ITO薄膜涂覆在偏光片上后，不會(huì)影響偏光片的工作。檢測時(shí)，將沒有電極邊的待測的FFS型液晶基板100置于透明載臺(tái)101上；開啟背光源104 ；向第一偏光片102上的信號(hào)接點(diǎn)1021和第二偏光片103的信號(hào)接點(diǎn)1031加載電信號(hào)，使得第一偏光片102上的第一透明電極層105和第二偏光片103上的第二透明電極
層106之間產(chǎn)生平面電場,使位于其中的液晶基板100的液晶發(fā)生偏轉(zhuǎn)。這樣，背光源104發(fā)出的光可以通過液晶基板100，進(jìn)而可以通過目視檢測來發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品可能存在的不良，加強(qiáng)了對FFS型產(chǎn)品的質(zhì)量管理。優(yōu)選的，在本發(fā)明另一實(shí)施例中，如圖2所示，該第一透明電極層可以為涂覆有透明導(dǎo)電膜，如ITO薄膜的的第一透明玻璃基板107，該第一透明玻107可以位于透明載臺(tái)101與第一偏光片102之間，且該第一透明玻璃基板107的面積大于或等于待測液晶基板100的面積，第一透明玻璃基板107上設(shè)有信號(hào)接點(diǎn)1071。第二透明電極層可以為涂覆有透明導(dǎo)電膜，如ITO薄膜的第二透明玻璃基板108，該第二透明玻108可以位于透明載臺(tái)101與第二偏光片103之間，且該第二透明玻璃基板108的面積大于或等于待測液晶基板100的面積，第二透明玻璃基板108上設(shè)有信號(hào)接點(diǎn)1081。與上ー實(shí)施例類似，檢測時(shí)，將沒有電極邊的待測的FFS型液晶基板100置于透明載臺(tái)101上；開啟背光源104 ;向第一透明玻璃基板107上的信號(hào)接點(diǎn)1071和第二透明玻璃基板108的信號(hào)接點(diǎn)1081加載電信號(hào)，使得第一透明玻璃基板107和第二透明玻璃基板108之間產(chǎn)生平面電場,使位于其中的液晶基板100的液晶發(fā)生偏轉(zhuǎn)。這樣，背光源104發(fā)出的光可以通過液晶基板100，進(jìn)而可以通過目視檢測來發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品可能存在的不良，加強(qiáng)了對FFS型產(chǎn)品的質(zhì)量管理。需要說明的是，利用涂覆ITO薄膜的透明玻璃基板作為電極層，不會(huì)影響偏光片制作，不會(huì)使偏光片的制作過程變得復(fù)雜，同時(shí)也不會(huì)影響偏光片的光學(xué)效應(yīng)，且作為電極層的透明玻璃基板制作極為簡單，在檢測過程中，只需將直接將設(shè)置有加載信號(hào)的ITO薄膜的透明玻璃基板添加到原有的檢測設(shè)備中，使得檢測成本降低。在本發(fā)明實(shí)施例中，薄膜的透明玻璃基板也可以是其他自身可以導(dǎo)電的透明基板，且要求越薄越好。本發(fā)明實(shí)施例提供的一種檢測液晶基板的方法，在透明載臺(tái)上方，設(shè)有第一偏光片，在所述透明載臺(tái)下方設(shè)有第二偏光片，在所述第二偏光片下方設(shè)有背光源，在所述透明載臺(tái)上方設(shè)有第一透明電極層，在所述透明載臺(tái)下方設(shè)有第二透明電極層，并且，設(shè)置信號(hào)加載單元與所述第一透明電極層、第二透明電極層連接；如圖3所示，該檢測方法步驟包括S301、在所述透明載物臺(tái)上承載待測液晶基板。S302、通過所述信號(hào)加載單元向所述第一透明電極層、第二透明電極層加載電信號(hào)，以使得所述第一透明電極層和所述第二透明電極層之間形成使液晶分子發(fā)生偏轉(zhuǎn)的電場。具體的，可以通過所述信號(hào)加載單元向所述第一透明電極層、第二透明電極層加載電壓，使得第一透明電極層和第二透明電極層之間形成3V 8V左右的電壓差，則所述第一透明電極層和所述第二透明電極層之間形成使液晶分子發(fā)生偏轉(zhuǎn)的電場，進(jìn)而使得液晶在該電場的作用下發(fā)生偏轉(zhuǎn)整齊排列，從而可以使光線通過。S303、將所述背光源的光線透過第二偏光片、所述透明載臺(tái)，到達(dá)所述第一偏光片。第一偏光片濾出的偏振光 與第二偏光片濾出的偏振光的振動(dòng)方向平行，當(dāng)液晶分子在電場的作用下發(fā)生偏轉(zhuǎn)整齊排列時(shí)，光線能夠通過第二偏光片后，再所述透明載臺(tái)，到達(dá)所述第一偏光片。S304、通過到達(dá)所述第一偏光片的光線對所述液晶基板進(jìn)行檢測。當(dāng)背光源的光線到達(dá)所述第一偏光片時(shí)，液晶偏轉(zhuǎn)的不同，到達(dá)第一偏光片光也就不同，如果液晶基板的像素存在不良，影響像素開ロ率，背光源發(fā)出的光線在通過該不良像素時(shí)，透過的光線會(huì)比正常的光線要多或少，出現(xiàn)顯示光強(qiáng)的差異，因此，可以根據(jù)所接收到光的亮暗不同來判斷是否不良。本發(fā)明實(shí)施例提供的檢測液晶基板的方法，在該設(shè)備上引入平面電場，對FFS型液晶基板進(jìn)行檢測時(shí)，在液晶基板上下加載電信號(hào)形成平面電場，使液晶基板中的液晶分子偏轉(zhuǎn)，以使得背光源發(fā)出的光可以通過液晶，從而實(shí)現(xiàn)了對液晶基板的檢測，提高了良品率。以上所述，僅為本發(fā)明的具體實(shí)施方式
，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)以所述權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種檢測液晶基板的設(shè)備，包括 透明載臺(tái)，用于承載待測液晶基板； 第一偏光片，位于所述透明載臺(tái)上方； 第二偏光片，位于所述透明載臺(tái)下方； 背光源，位于所述第二偏光片下方，所述背光源發(fā)出的光線穿過所述第二偏光片、所述透明載臺(tái)到達(dá)所述第一偏光片；其特征在于，所述設(shè)備還包括， 第一透明電極層，位于所述透明載臺(tái)上方； 第二透明電極層，位于所述透明載臺(tái)下方； 信號(hào)加載單元，與所述第一透明電極層、第二透明電極層電連接，用于向所述第一透明電極層、第二透明電極層加載電信號(hào)，以使所述第一透明電極層和所述第二透明電極層之間具有使所述透明載臺(tái)上的待測液晶基板的液晶分子偏轉(zhuǎn)的電場。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的檢測液晶基板的設(shè)備，其特征在于，所述第一偏光片和所述第二偏光片分設(shè)于所述待測液晶基板的上下兩側(cè)，第一偏光片與第二偏光片的吸收軸是90度交叉配置。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的檢測液晶基板的設(shè)備，其特征在于，所述第一透明電極層為涂覆在所述第一偏光片上的透明導(dǎo)電膜；所述第一偏光片上設(shè)有信號(hào)接點(diǎn)。
4.根據(jù)權(quán)利要求I或3所述的檢測液晶基板的設(shè)備，其特征在于，所述第二透明電極層為涂覆在所述第二偏光片上的透明導(dǎo)電膜；所述第二偏光片上設(shè)有信號(hào)接點(diǎn)。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的檢測液晶基板的設(shè)備，其特征在于，所述第一透明電極層為涂覆有透明導(dǎo)電膜的第一透明玻璃基板；所述第一透明玻璃基板的面積大于或等于所述待測液晶基板的面積；所述第一透明玻璃基板上設(shè)有信號(hào)接點(diǎn)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的檢測液晶基板的設(shè)備，其特征在于，所述第一透明玻璃基板位于所述透明載臺(tái)與所述第一偏光片之間。
7.根據(jù)權(quán)利要求I或5所述的檢測液晶基板的設(shè)備，其特征在于，所述第二透明電極層為涂覆有透明導(dǎo)電膜的第二透明玻璃基板；所述第二透明玻璃基板的面積大于或等于所述待測液晶基板的面積；所述第二透明玻璃基板上設(shè)有信號(hào)接點(diǎn)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的檢測液晶基板的設(shè)備，其特征在于，所述第二透明玻璃基板位于所述透明載臺(tái)與所述第二偏光片之間。
9.一種檢測液晶基板的方法，其特征在干，在透明載臺(tái)上方，設(shè)有第一偏光片，在所述透明載臺(tái)下方設(shè)有第二偏光片，在所述第二偏光片下方設(shè)有背光源，在所述透明載臺(tái)上方設(shè)有第一透明電極層，在所述透明載臺(tái)下方設(shè)有第二透明電極層，并且，設(shè)置信號(hào)加載單元與所述第一透明電極層、第二透明電極層連接； 該檢測方法包括 在所述透明載物臺(tái)上承載待測液晶基板； 通過所述信號(hào)加載單元向所述第一透明電極層、第二透明電極層加載電信號(hào)，以使得所述第一透明電極層和所述第二透明電極層之間形成使液晶分子發(fā)生偏轉(zhuǎn)的電場； 將所述背光源的光線透過第二偏光片、所述透明載臺(tái)，到達(dá)所述第一偏光片； 通過到達(dá)所述第一偏光片的光線對所述液晶基板進(jìn)行檢測。
全文摘要
本發(fā)明實(shí)施例提供一種檢測液晶基板的設(shè)備及方法，涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域，能夠?qū)FS型液晶基板進(jìn)行加載電信號(hào)的檢測，提高了良品率。本發(fā)明實(shí)施例提供的設(shè)備包括透明載臺(tái)、第一偏光片、第二偏光片和背光源，還包括第一透明電極層，位于所述透明載臺(tái)上方；第二透明電極層，位于所述透明載臺(tái)下方；信號(hào)加載單元，與所述第一透明電極層、第二透明電極層電連接，用于向所述第一透明電極層、第二透明電極層加載電信號(hào)，以使所述第一透明電極層和所述第二透明電極層之間具有使所述透明載臺(tái)上的待測液晶基板的液晶分子偏轉(zhuǎn)的電場。本發(fā)明實(shí)施例用于檢測FFS型液晶基板。
文檔編號(hào)G02F1/133GK102654659SQ201210100178
公開日2012年9月5日 申請日期2012年4月6日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月6日
發(fā)明者楊銀勇, 金楻 申請人:京東方科技集團(tuán)股份有限公司, 成都京東方光電科技有限公司