專利名稱：光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)及具有該光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)的電子裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)及具有該光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)的電子裝置。
背景技術(shù)：
光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)可用于光顯示屏或?qū)ζ嚨谋O(jiān)控方面用于對被監(jiān)測體的監(jiān)控，所述 光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)包括放置在監(jiān)測區(qū)域中的光學(xué)反射組件，與光學(xué)反射組件相對設(shè)置的發(fā)光體 以及鄰近發(fā)光體一側(cè)的監(jiān)控裝置。所述光學(xué)反射組件為一平面鏡。發(fā)光體發(fā)出光線被照到 監(jiān)控區(qū)域，通過光學(xué)反射組件的反射面發(fā)射到監(jiān)控裝置上由監(jiān)控裝置的接收器接收光信號 并由CPU進(jìn)行圖像成型處理。然而，上述光學(xué)反射組件為平面鏡，外部的干擾光線照射在光學(xué)反射組件上時(shí)，光 學(xué)反射組件的反射面就會將外界的干擾光線反射到監(jiān)控裝置上，此時(shí)監(jiān)控裝置的接收器會 接收所述一維光學(xué)反射組件所反射的干擾光線，從而會影響監(jiān)控裝置對監(jiān)控區(qū)域的圖形成 像的輸出情況。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明主要解決的技術(shù)問題是提供一種光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)及具有該光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)的 電子裝置，能減少外界干擾光線對監(jiān)控裝置接收光信號的影響。為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的一個(gè)技術(shù)方案是提供一種光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)，包 括放置于監(jiān)測區(qū)域中的一維光學(xué)反射組件、與一維光學(xué)反射組件相對設(shè)置的發(fā)光體以及鄰 近發(fā)光體一側(cè)的監(jiān)控裝置，所述一維光學(xué)反射組件的表面具有多條縱向設(shè)置的反射棱，所 述一維光學(xué)反射組件將發(fā)光體發(fā)出的光反射到監(jiān)控裝置上，監(jiān)控裝置接收所述一維光學(xué)反 射組件反射的光線并將光信號轉(zhuǎn)成電信號。其中，所述一維光學(xué)反射組件為橫截面呈“U”形的反射體連接形成。其中，所述一維光學(xué)反射組件為橫截面呈“V”形的反射體連接形成。為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的一個(gè)技術(shù)方案是提供一種具有光學(xué)監(jiān)測系 統(tǒng)的電子裝置，包括一顯示屏、一位于顯示屏顯示表面一側(cè)的光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)，所述光學(xué)監(jiān)測 系統(tǒng)包括位于所述顯示屏的顯示窗口邊緣的一維光學(xué)反射組件、位于所述顯示屏內(nèi)側(cè)與一 維光學(xué)反射組件相對設(shè)置的發(fā)光體以及鄰近發(fā)光體一側(cè)的監(jiān)控裝置，所述一維光學(xué)反射組 件的表面具有垂直于發(fā)光體所發(fā)出的光線的多條反射棱，所述一維光學(xué)反射組件將發(fā)光體 發(fā)出的光反射到監(jiān)控裝置上，監(jiān)控裝置接收所述一維光學(xué)反射組件反射的光線以及顯示顯 示屏表面上目標(biāo)物所反射的光線，定位所述目標(biāo)物。其中，所述一維光學(xué)反射組件為橫截面呈“U”形的反射體連接形成。其中，所述一維光學(xué)反射組件為橫截面呈“V”形的反射體連接形成。本發(fā)明的有益效果是區(qū)別于現(xiàn)有技術(shù)的光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)的一維光學(xué)反射組件為平 面鏡，反射面較大，外界的干擾光線容易對監(jiān)控裝置的接收光線進(jìn)行干擾的情況。本發(fā)明光 學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)的一維光學(xué)反射組件上具有縱向設(shè)置的反射棱，該反射棱能將外界的干擾光線
3以一定角度反射出，從而干擾光線不會反射到監(jiān)控裝置上，如此運(yùn)用此一維反射系統(tǒng)可以 減少外界的干擾光線對監(jiān)控裝置接收光線的影響，并且使用本發(fā)明一維光學(xué)組件能將點(diǎn)光 源轉(zhuǎn)成線光源，利于監(jiān)控裝置接收光信號，提高圖像輸出效果。


圖1是本發(fā)明光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本發(fā)明光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)的一維光學(xué)反射組件的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3是本發(fā)明光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)的一維光學(xué)反射組件另一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖4是圖3所示一維光學(xué)反射組件的橫截面示意圖。
具體實(shí)施例方式為詳細(xì)說明本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容、構(gòu)造特征、所實(shí)現(xiàn)目的及效果，以下結(jié)合實(shí)施方式 并配合附圖詳予說明。請參閱圖1及圖2，本發(fā)明光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)包括一維光學(xué)反射組件10、與一維光學(xué)反 射組件10相對設(shè)置的發(fā)光體20以及臨近發(fā)光體20設(shè)置的監(jiān)控裝置12。所述監(jiān)控裝置12具有接收所述一維光學(xué)反射組件10所反射到監(jiān)控裝置12中的 接收器，所述接收器接收到一維光學(xué)反射組件10反射的光線并將接收的光信號進(jìn)行處理。所述一維光學(xué)反射組件10的反射面11是由多個(gè)橫截面呈“V”形的反射體111連 接形成，所述反射體111具有第一反射面112、第二反射面113以及由第一反射面112和第 二反射面113相交形成的縱向設(shè)置的反射棱114。所述一維光學(xué)反射組件10放置在被監(jiān)控區(qū)域，所述發(fā)光體20位于維光學(xué)反射組 件10的對面。所述發(fā)光體20發(fā)射光線垂直照射在監(jiān)控區(qū)域的一維光學(xué)反射組件10的反 射體111的反射棱114上時(shí)，反射棱114將光線進(jìn)行原路反射回，而當(dāng)發(fā)光體20的光線以 一定的角度照在第一反射面112或第二反射面113上時(shí)，其反射光線會經(jīng)相鄰的反射體111 的反射面反射到監(jiān)控裝置12上并被監(jiān)控裝置12接收，監(jiān)控裝置12根據(jù)接受的光線情況來 監(jiān)控被監(jiān)控區(qū)域的情況。而外界的上、下方的干擾光線以一定角度設(shè)在反射棱114上都會被反射棱114以 一定的發(fā)射角反射出，從而干擾光線不會被反射到監(jiān)控裝置12接收，并且監(jiān)控裝置12受反 射棱114左、右方向的干擾光線的影響也較小，如此運(yùn)用此一維光學(xué)反射系統(tǒng)可以減少外 界的干擾光線對監(jiān)控裝置12接收光線的影響。請參閱圖3以及圖4，本發(fā)明所述一維光學(xué)反射組件10的反射面還可以是橫截面 呈“U”形的反射體111連接形成，所述發(fā)光體20發(fā)射光線垂直照射在監(jiān)控區(qū)域的“U”形的 反射體111的反射棱114上，反射棱114將光線進(jìn)行原路反射回，并被監(jiān)控裝置12接收，監(jiān) 控裝置12根據(jù)接受的光線情況來監(jiān)控被監(jiān)控區(qū)域的情況。本發(fā)明所述光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)可用于具有顯示屏的電子裝置上，所述一維光學(xué)反射組 件10位于所述顯示屏的顯示窗口邊緣，所述顯示屏內(nèi)側(cè)與一維光學(xué)反射組件10還相對設(shè) 置的所述發(fā)光體20，所述發(fā)光體20鄰近的一側(cè)設(shè)置有所述監(jiān)控裝置12，所述一維光學(xué)反射 組件10的表面具有垂直發(fā)光體所發(fā)出的光線的所述反射棱114，所述一維光學(xué)反射組件10 將發(fā)光體20發(fā)出的光反射到監(jiān)控裝置12上，監(jiān)控裝置12接收所述一維光學(xué)反射組件反射的光線以及顯示顯示屏的表面上目標(biāo)物反射的光線，定位所述目標(biāo)物。顯示屏上、下方的干 擾光線以一定角度照射在反射體的反射棱上都會沿一定的角度反射出而不會反射到監(jiān)控 裝置12上，從而使用本發(fā)明一維光學(xué)反射組件可以用于減少顯示屏上、下方干擾光線對監(jiān) 控裝置12接收發(fā)光體20光線的影響，而且監(jiān)控裝置12的反射棱114受左、右方向的干擾 光線的影響也較小，并且使用本發(fā)明一維光學(xué)反射組件10能將點(diǎn)光源轉(zhuǎn)成線光源。區(qū)別于現(xiàn)有技術(shù)的光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)的一維光學(xué)反射組件為平面鏡，外界上、下方向 的干擾光線容易對監(jiān)控裝置12的接收光線進(jìn)行干擾的情況。本發(fā)明光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)通過將 一維光學(xué)反射組件設(shè)置為由多個(gè)橫截面成“V”或“U”形的反射體111連接形成，反射體111 上縱向設(shè)置的反射棱114能將外界的干擾光線以一定角度反射出，從而干擾光線不會反射 到監(jiān)控裝置12上，如此運(yùn)用此一維反射系統(tǒng)可以減少外界的干擾光線對監(jiān)控裝置12接收 光線的影響，并且使用本發(fā)明一維光學(xué)反射組件10能將點(diǎn)光源轉(zhuǎn)成線光源，利于監(jiān)控裝置 12接收光信號，提高圖像輸出效果。綜上所述，本發(fā)明光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡單，具有橫截面呈“V”或“U”的反射體111， 可以減少外界的干擾光線對監(jiān)控裝置接收反射光線的影響，從而可以提高監(jiān)控裝置圖形成 像輸出效果。以上所述僅為本發(fā)明的實(shí)施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā) 明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技 術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
一種光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)，其特征在于，包括放置于監(jiān)測區(qū)域中的一維光學(xué)反射組件、與一維光學(xué)反射組件相對設(shè)置的發(fā)光體以及鄰近發(fā)光體一側(cè)的監(jiān)控裝置，所述一維光學(xué)反射組件的表面具有多條縱向設(shè)置的反射棱，所述一維光學(xué)反射組件將發(fā)光體發(fā)出的光反射到監(jiān)控裝置上，監(jiān)控裝置接收所述一維光學(xué)反射組件反射的光線并將光信號轉(zhuǎn)成電信號。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)，其特征在于所述一維光學(xué)反射組件為橫截 面呈“U”形的反射體連接形成。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)，其特征在于所述一維光學(xué)反射組件為橫截 面呈“V”形的反射體連接形成。
4.一種具有光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)的電子裝置，包括一顯示屏，其特征在于，進(jìn)一步包括一位于 顯示屏顯示表面一側(cè)的光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)，所述光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)包括位于所述顯示屏的顯示窗口 邊緣的一維光學(xué)反射組件、位于所述顯示屏內(nèi)側(cè)與一維光學(xué)反射組件相對設(shè)置的發(fā)光體以 及鄰近發(fā)光體一側(cè)的監(jiān)控裝置，所述一維光學(xué)反射組件的表面具有垂直于發(fā)光體所發(fā)出的 光線的多條反射棱，所述一維光學(xué)反射組件將發(fā)光體發(fā)出的光反射到監(jiān)控裝置上，監(jiān)控裝 置接收所述一維光學(xué)反射組件反射的光線以及顯示顯示屏表面上目標(biāo)物所反射的光線，定 位所述目標(biāo)物。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的具有光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)的電子裝置，其特征在于所述一維光學(xué) 反射組件為橫截面呈“U”形的反射體連接形成。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的具有光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)的電子裝置，其特征在于所述一維光學(xué) 反射組件為橫截面呈“V”形的反射體連接形成。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)及具有該光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)的電子裝置，所述光學(xué)監(jiān)測系統(tǒng)包括放置于監(jiān)測區(qū)域中的一維光學(xué)反射組件、發(fā)光體以及鄰近發(fā)光體一側(cè)的監(jiān)控裝置。一維光學(xué)反射組件的表面具有多條縱向設(shè)置的反射棱，一維光學(xué)反射組件將發(fā)光體發(fā)出的光反射到監(jiān)控裝置上，監(jiān)控裝置接收所述一維光學(xué)反射組件反射的光線并將光信號轉(zhuǎn)成電信號。本發(fā)明的一維光學(xué)反射組件上具有縱向設(shè)置的反射棱，該反射棱能將外界的干擾光線以一定角度反射出，從而干擾光線不會反射到監(jiān)控裝置上，可以減少外界的干擾光線對監(jiān)控裝置接收光線的影響，并且使用本發(fā)明一維光學(xué)組件能將點(diǎn)光源轉(zhuǎn)成線光源，利于監(jiān)控裝置接收光信號，提高圖像輸出效果。
文檔編號G02B5/124GK101893759SQ201010226660
公開日2010年11月24日 申請日期2010年7月14日 優(yōu)先權(quán)日2010年7月14日
發(fā)明者鄧?yán)? 陳淵康 申請人:世大光電(深圳)有限公司;陳淵康