專利名稱：液晶顯示裝置陣列基板、其修補(bǔ)方法及液晶顯示裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種液晶顯示裝置陣列基板及其修補(bǔ)方法，特別涉及一種 具有修補(bǔ)線路結(jié)構(gòu)的液晶顯示裝置陣列基板及其修補(bǔ)方法，還涉及具有該 陣列基板的液晶顯示裝置。
背景技術(shù)：
液晶顯示裝置具有輕、薄、低耗電等優(yōu)點(diǎn)，因此被廣泛應(yīng)用于筆記本 計(jì)算機(jī)、移動(dòng)電話及個(gè)人數(shù)字助理等現(xiàn)代化信息設(shè)備。圖1所示為現(xiàn)有的液晶顯示裝置中陣列基板的示意圖，液晶顯示裝置的陣列基板110包括信號(hào)引入?yún)^(qū)域111和顯示區(qū)域112。數(shù)據(jù)線焊盤121 和掃描線焊盤131形成于信號(hào)引入?yún)^(qū)域111中，多條數(shù)據(jù)線122和掃描線 132分別連接到數(shù)據(jù)線焊盤121和掃描線焊盤131，多條數(shù)據(jù)線與多條掃 描線的交叉區(qū)域限定了多個(gè)像素P。外部數(shù)據(jù)信號(hào)和掃描信號(hào)經(jīng)數(shù)據(jù)線焊 盤121、掃描線焊盤131端輸入，然后經(jīng)由數(shù)據(jù)線122、掃描線132傳輸 到顯示區(qū)域112的各個(gè)像素P中。在現(xiàn)有的液晶顯示裝置陣列基板的制程中，數(shù)據(jù)線可能出現(xiàn)斷開等缺 陷。如圖1所示，數(shù)據(jù)線122在顯示區(qū)域112的Dl位置斷開。在此情況 下，數(shù)據(jù)信號(hào)無法傳送到斷開處Dl下方的數(shù)據(jù)線部分，由此形成了線缺 陷。為了修補(bǔ)線缺陷，美國專利No.6,111,558公開了一種修補(bǔ)結(jié)構(gòu)。在該 結(jié)構(gòu)中，如本申請(qǐng)的附圖2所示，數(shù)據(jù)線122包括三個(gè)部分，即位于顯示 區(qū)域外與數(shù)據(jù)線焊盤121相連的前端數(shù)據(jù)線部分122a、位于顯示區(qū)域中的 顯示區(qū)域數(shù)據(jù)線部分122b和位于顯示區(qū)域外遠(yuǎn)離數(shù)據(jù)線焊盤121那端的 末端數(shù)據(jù)線部分122c。同時(shí)，在陣列基板110的顯示區(qū)域112外圍設(shè)有修 補(bǔ)線223，修補(bǔ)線223在顯示區(qū)域外圍的幾乎整個(gè)上方、右側(cè)和下方方向上延伸。在圖2所示的陣列基板俯視圖中，該修補(bǔ)線223與前端數(shù)據(jù)線部 分122a及末端數(shù)據(jù)線部分122c垂直交叉排列。但在與陣列基板表面垂直 的方向上，修補(bǔ)線223與數(shù)據(jù)線122分別位于不同的層中且二者之間隔有 絕緣層，因此在正常情況下兩者互不導(dǎo)通。當(dāng)出現(xiàn)如圖2所示的斷開處D2時(shí)，用激光熔融的方式使前端數(shù)據(jù)線 部分122a與修補(bǔ)線223在它們的交叉位置A0處導(dǎo)通，并使末端數(shù)據(jù)線部 分122c與修補(bǔ)線223在它們的交叉位置B0處導(dǎo)通。由此，該數(shù)據(jù)線上的 數(shù)據(jù)信號(hào)就可以從數(shù)據(jù)線焊盤121通過前端數(shù)據(jù)線部分122a經(jīng)AO點(diǎn)傳送 到修補(bǔ)線223，再經(jīng)B0點(diǎn)傳送到斷開處D2下方部分的數(shù)據(jù)線上，從而使 線缺陷得到修補(bǔ)。另外，圖3示出了一種現(xiàn)有的對(duì)陣列基板進(jìn)行檢測所用的線路示意 圖。如圖3所示，檢測線路15設(shè)置于顯示區(qū)域112的外圍，其包括測試數(shù) 據(jù)線151和測試掃描線152。測試數(shù)據(jù)線151用于傳輸測試數(shù)據(jù)信號(hào)，并 包括DB、 DG和DR三條測試數(shù)據(jù)線。測試掃描線152用于傳輸測試掃描 信號(hào)，并包括GO和GE兩條測試掃描線。檢測線路15通過薄膜晶體管 (TFT) 14將測試信號(hào)傳輸?shù)酱郎y數(shù)據(jù)線122上。每個(gè)薄膜晶體管14的源 極與測試數(shù)據(jù)線151之一電連接，漏極與相應(yīng)的待測數(shù)據(jù)線122電連接， 而柵極與測試掃描線152之一電連接。在圖3所示具體情況中，從左側(cè)算 起的奇數(shù)列和偶數(shù)列薄膜晶體管14的柵極分別連接到測試掃描線152中 的GO和GE線；同時(shí)，從左側(cè)起第3n-2、 3n-l和3n (n=l，2,3......)列薄膜晶體管14的源極對(duì)應(yīng)地分別連接到測試數(shù)據(jù)線151中的DB、 DG和DR 線。但是，在例如圖2和圖3所示的現(xiàn)有技術(shù)中，修補(bǔ)線路223與檢測線 路15分別獨(dú)立地布置于顯示區(qū)域112的外圍，因此液晶顯示面板中需要 有較大面積的區(qū)域用于此類布線而不能用于顯示，不利于液晶顯示面板的 有效利用。發(fā)明內(nèi)容考慮到上述問題，本發(fā)明在第一方面提供了一種液晶顯示裝置的陣列基板。該液晶顯示裝置陣列基板包括數(shù)據(jù)線；掃描線，設(shè)置成與數(shù)據(jù)線 交叉；檢測線組件，設(shè)置在陣列基板中的顯示區(qū)域外圍，檢測線組件中至 少一部分用于對(duì)陣列基板進(jìn)行檢測；以及修補(bǔ)線組件，設(shè)置在顯示區(qū)域外圍，用于對(duì)數(shù)據(jù)線中有缺陷數(shù)據(jù)線的缺陷進(jìn)行修補(bǔ)。其中，檢測線組件設(shè)置成在未進(jìn)行修補(bǔ)的時(shí)候，檢測線組件與修補(bǔ)線組件電隔離；在進(jìn)行修 補(bǔ)的時(shí)候，檢測線組件與修補(bǔ)線組件以及有缺陷數(shù)據(jù)線電連接。本發(fā)明在第二個(gè)方面提供了一種對(duì)液晶顯示裝置陣列基板中的缺陷進(jìn) 行修補(bǔ)的方法，其中，陣列基板包括數(shù)據(jù)線；掃描線，設(shè)置成與數(shù)據(jù)線 交叉；檢測線組件，設(shè)置在陣列基板中的顯示區(qū)域外圍，檢測線組件中至 少一部分用于對(duì)陣列基板進(jìn)行檢測；以及修補(bǔ)線組件，設(shè)置在顯示區(qū)域外 圍，用于對(duì)數(shù)據(jù)線中有缺陷數(shù)據(jù)線的缺陷進(jìn)行修補(bǔ)；并且，檢測線組件與 修補(bǔ)線組件處于電隔離關(guān)系。該方法包括使檢測線組件與修補(bǔ)線組件以及 有缺陷數(shù)據(jù)線電連接的步驟。本發(fā)明在第三個(gè)方面提供了一種液晶顯示裝置，該裝置包括陣列基板 和印刷電路板，該陣列基板包括數(shù)據(jù)線；掃描線，設(shè)置成與數(shù)據(jù)線交 叉；檢測線組件，設(shè)置在陣列基板中的顯示區(qū)域外圍，檢測線組件中至少 一部分用于對(duì)陣列基板進(jìn)行檢測；以及修補(bǔ)線組件，設(shè)置在顯示區(qū)域外 圍，用于對(duì)數(shù)據(jù)線中有缺陷數(shù)據(jù)線的缺陷進(jìn)行修補(bǔ)。其中，檢測線組件設(shè) 置成在未進(jìn)行修補(bǔ)的時(shí)候，檢測線組件與修補(bǔ)線組件電隔離；在進(jìn)行修 補(bǔ)的時(shí)候，檢測線組件與修補(bǔ)線組件以及有缺陷數(shù)據(jù)線電連接。根據(jù)本發(fā)明，可以將檢測線組件用作修補(bǔ)線路的一部分來實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)線 的修補(bǔ)，因此可以顯著減小非顯示區(qū)域的面積。同時(shí)，在本發(fā)明中，檢測 線組件與修補(bǔ)線組件在非修補(bǔ)狀態(tài)時(shí)不處于電連接狀態(tài)，因此在未用于修 補(bǔ)時(shí)并不影響檢測線組件的正常功能。根據(jù)本發(fā)明的一種實(shí)施例，還可以在測試數(shù)據(jù)線上并聯(lián)測試數(shù)據(jù)輔助 線。這樣可以使測試數(shù)據(jù)線的電阻顯著減小，從而降低信號(hào)延遲的影響； 用測試數(shù)據(jù)輔助線來進(jìn)行數(shù)據(jù)線的修補(bǔ)還可以避免寄生電容的產(chǎn)生，并可 以對(duì)測試數(shù)據(jù)線本身的斷路短路缺陷進(jìn)行修補(bǔ)。


圖1為現(xiàn)有技術(shù)的液晶顯示裝置陣列基板示意圖。 圖2為現(xiàn)有技術(shù)的修補(bǔ)線路結(jié)構(gòu)示意圖。 圖3為現(xiàn)有技術(shù)的陣列基板檢測用的線路。圖4A為本發(fā)明第一實(shí)施例的液晶顯示裝置陣列基板修補(bǔ)線路結(jié)構(gòu)示意圖。圖4B為圖4A中XI區(qū)域薄膜晶體管更詳細(xì)的結(jié)構(gòu)圖。 圖4C為圖4A中X2區(qū)域的更詳細(xì)的結(jié)構(gòu)圖。圖5A為本發(fā)明第二實(shí)施例的液晶顯示裝置陣列基板修補(bǔ)線路結(jié)構(gòu)示 意圖。圖5B為圖5A中Yl區(qū)域薄膜晶體管更詳細(xì)的結(jié)構(gòu)圖。 圖5C為圖5A中Y2區(qū)域更詳細(xì)的結(jié)構(gòu)圖。 圖5D為圖5A中Y3區(qū)域更詳細(xì)的結(jié)構(gòu)圖。
具體實(shí)施方式
以下將參照附圖詳細(xì)說明本發(fā)明的示例性實(shí)施方式。 圖4A為根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的液晶顯示裝置陣列基板的修補(bǔ)線路 結(jié)構(gòu)的俯視示意圖。液晶顯示裝置的陣列基板410包括顯示區(qū)域412和位 于顯示區(qū)域412外圍的信號(hào)引入?yún)^(qū)域411，多個(gè)數(shù)據(jù)線焊盤421形成于信 號(hào)引入?yún)^(qū)域411中并分別與各條數(shù)據(jù)線422電連接。每條數(shù)據(jù)線422包括 三個(gè)部分，即位于顯示區(qū)域412外并與相應(yīng)的數(shù)據(jù)線焊盤421電連接的前 端數(shù)據(jù)線部分422a、位于顯示區(qū)域412中的顯示區(qū)域數(shù)據(jù)線部分422b和 位于顯示區(qū)域412外遠(yuǎn)離數(shù)據(jù)線焊盤421那端的末端數(shù)據(jù)線部分422c。從 數(shù)據(jù)線焊盤421輸入的數(shù)據(jù)信號(hào)按照前端數(shù)據(jù)線部分422a、顯示區(qū)域數(shù)據(jù) 線部分422b和末端數(shù)據(jù)線部分422c這樣的順序在整條數(shù)據(jù)線422上傳 輸。為清楚起見，圖4A中未示出與數(shù)據(jù)線422交叉設(shè)置的各條掃描線以 及掃描線焊盤。在根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例中，修補(bǔ)線423位于顯示區(qū)域412外圍， 在圖4A所示情況下位于顯示區(qū)域412的上方和右側(cè)，但幾乎不延伸到顯示區(qū)域412的下方。如圖4A的俯視示意圖所示，沿垂直于陣列基板410 表面的方向看去，修補(bǔ)線423與前端數(shù)據(jù)線部分422a在位置Al處交叉。 另外，在垂直于陣列基板410表面的方向上，修補(bǔ)線423與前端數(shù)據(jù)線部 分422a位于不同層中且二者之間隔有絕緣層，因此在未利用修補(bǔ)線423進(jìn) 行修補(bǔ)的情況下兩者是互不導(dǎo)通的。雖然在圖4A所示的俯視示意中修補(bǔ) 線423與前端數(shù)據(jù)線部分422a以垂直方式交叉排列，但本發(fā)明并不限于這 種垂直排列方式，只要在俯視圖中二者之間存在交叉位置即可。如圖4A所示，檢測線路45也設(shè)置于顯示區(qū)域412的外圍，在本實(shí)施 例中位于顯示區(qū)域412的下方。檢測線路45包括測試數(shù)據(jù)線451和測試掃 描線452。測試數(shù)據(jù)線451用于傳輸測試數(shù)據(jù)信號(hào)，在本實(shí)施例中包括 DB、 DG和DR三條測試數(shù)據(jù)線，分別用于傳輸針對(duì)藍(lán)色(B)、綠色(G)和紅色(R)的測試數(shù)據(jù)信號(hào)；測試掃描線452用于傳輸測試掃描信 號(hào)，在本實(shí)施例中包括GO和GE兩條測試掃描線，分別用于傳輸針對(duì)奇 數(shù)列和偶數(shù)列的測試掃描信號(hào)。檢測線路45通過薄膜晶體管44將測試信 號(hào)傳輸?shù)礁鳁l數(shù)據(jù)線422上。在圖4A所示的第一實(shí)施例中，檢測線路45與薄膜晶體管44的連接 方式是從左側(cè)算起的奇數(shù)列和偶數(shù)列薄膜晶體管44的柵極分別連接到 測試掃描線452中的GO和GE線；同時(shí)，從左側(cè)起第3n-2、 3n-l和3n(n=l，2,3......)列薄膜晶體管的源極分別相應(yīng)地連接到測試數(shù)據(jù)線451中的DB、 DG和DR線。需說明的是，圖4A中的連接方式只是一種可用的 示例，亦可采用其他連接方式，例如可以只設(shè)置一條測試掃描線，或者設(shè) 置更多的測試數(shù)據(jù)線等等。優(yōu)選地，檢測線路45和修補(bǔ)線423都可以部 分或者全部設(shè)置在框膠密封區(qū)域中，由此可以減小液晶顯示面板中不用于 顯示的區(qū)域面積。這里，框膠密封區(qū)域是陣列基板中用于與彩色濾光片基 板粘合從而形成液晶顯示裝置的區(qū)域。圖4B示出了圖4A中XI區(qū)域的薄膜晶體管44更詳細(xì)的結(jié)構(gòu)圖。如 圖4B所示，薄膜晶體管44具有源極442、漏極441以及柵極443，其中 源極442連接到測試數(shù)據(jù)線分支444，漏極441連接到相應(yīng)數(shù)據(jù)線422的 末端數(shù)據(jù)線部分422c，柵極443連接到測試掃描線452 (對(duì)于圖4A所示的情況，是連接到測試掃描線452中的GO線)。上述測試數(shù)據(jù)線分支 444連接到測試數(shù)據(jù)線451 (對(duì)于圖4A所示的具體情況，是連接到測試數(shù) 據(jù)線451中的DR線)。圖4C示出了圖4A的X2區(qū)域中，測試數(shù)據(jù)線451與修補(bǔ)線423之間 關(guān)系的更詳細(xì)的結(jié)構(gòu)圖。沿垂直于陣列基板表面的方向看去，如圖4C所 示，測試數(shù)據(jù)線451 (對(duì)于圖4A所示的情況，是測試數(shù)據(jù)線451中的DR 線)與修補(bǔ)線423 二者的末端至少部分重疊，即二者之間有重疊區(qū)域；但 測試數(shù)據(jù)線451與修補(bǔ)線423在該方向上位于不同層且二者之間隔有絕緣 層，因此在未進(jìn)行修補(bǔ)時(shí)，測試數(shù)據(jù)線451與修補(bǔ)線423 二者的末端處于 電絕緣狀態(tài)。下面將參照?qǐng)D4A—4C，對(duì)根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例對(duì)有缺陷的數(shù)據(jù)線 進(jìn)行修補(bǔ)的方法進(jìn)行說明。在根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的液晶顯示裝置陣列 基板410中，例如當(dāng)數(shù)據(jù)線422在圖4A中的D4處產(chǎn)生斷開缺陷時(shí)，可以 通過下述方式進(jìn)行修補(bǔ)。(1) 使修補(bǔ)線423與有缺陷數(shù)據(jù)線422的前端數(shù)據(jù)線部分422a導(dǎo) 通。例如，可以通過激光熔融的方式使修補(bǔ)線423與該數(shù)據(jù)線422的前端 數(shù)據(jù)線部分422a在二者的交叉位置Al處導(dǎo)通。(2) 使測試數(shù)據(jù)線451與修補(bǔ)線423的末端導(dǎo)通。如圖4C所示，可 以通過例如激光熔融的方式，使圖4A中X2區(qū)域的測試數(shù)據(jù)線451 (在圖 4A所示情況下為DR線)與修補(bǔ)線423 二者的末端在重疊位置A4處導(dǎo) 通。(3) 對(duì)薄膜晶體管44進(jìn)行處理，使其源極442與漏極441直接連通 并切斷柵極443與測試掃描線452之間的連接。例如，對(duì)于圖4A中X1區(qū) 域的薄膜晶體管44，如圖4B所示，用例如激光熔融的方式分別使源極 442與柵極443、漏極441與柵極443在它們各自的重疊位置A2、 A3處導(dǎo) 通，并例如用激光在C2位置處將柵極443與測試掃描線452的電連接切 斷，使得柵極443成為孤島結(jié)構(gòu)而不與測試掃描線452電連接。這樣，從 測試數(shù)據(jù)線分支444傳遞到柵極443的數(shù)據(jù)信號(hào)(經(jīng)修補(bǔ)數(shù)據(jù)信號(hào))不會(huì) 傳送到測試掃描線452上而影響顯示裝置正常工作。經(jīng)過上述修補(bǔ)，有缺陷數(shù)據(jù)線422上的數(shù)據(jù)信號(hào)就可以經(jīng)由圖4A中 虛線43所示的路徑傳輸?shù)皆摂?shù)據(jù)線422中斷開處D4下方的部分。具體的 傳送路徑為從前端數(shù)據(jù)線部分422a經(jīng)交叉點(diǎn)Al傳送至修補(bǔ)線423，接 著經(jīng)交叉點(diǎn)A4傳送至測試數(shù)據(jù)線451 (在圖4A所示情況下為DR線)并 經(jīng)過與測試數(shù)據(jù)線451相連的測試數(shù)據(jù)線分支444傳送到薄膜晶體管44的 源極442，然后經(jīng)重疊位置A2傳送至柵極443，再經(jīng)重疊位置A3傳送至 漏極441并傳送至與漏極441相連的末端數(shù)據(jù)線部分442c，從而最終傳送 到顯示區(qū)域數(shù)據(jù)線部分442b中斷開處D4下方的部分。以修補(bǔ)線423與前端數(shù)據(jù)線部分422a的交叉點(diǎn)Al為界，修補(bǔ)線423 可以分為兩個(gè)部分，即，在進(jìn)行了修補(bǔ)的情況下，數(shù)據(jù)信號(hào)向有缺陷數(shù)據(jù) 線422傳送時(shí)所經(jīng)過的部分(稱為第一部分，例如圖4A中位于交叉點(diǎn)Al 右側(cè)的部分)和數(shù)據(jù)信號(hào)向有缺陷數(shù)據(jù)線422傳送時(shí)不經(jīng)過的部分(稱為 第二部分，例如圖4A中位于交叉點(diǎn)Al左側(cè)的部分)。優(yōu)選地，可以在所 述第二部分中任一位置處將修補(bǔ)線423斷開，更優(yōu)選地使該斷開位置比較 靠近交叉點(diǎn)Al。例如在圖4A所示的情況下，可以例如用激光將修補(bǔ)線 423在C1位置切斷。通過這種方式，可以減少修補(bǔ)線423與沒有發(fā)生斷開 缺陷的那些前端數(shù)據(jù)線部分422a之間的寄生電容，改善信號(hào)質(zhì)量。在根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例中，檢測線路45作為檢測線組件，設(shè)置 在陣列基板410的顯示區(qū)域412外圍，并用于對(duì)陣列基板410進(jìn)行檢測。 修補(bǔ)線423作為修補(bǔ)線組件，設(shè)置在顯示區(qū)域412外圍，用于對(duì)數(shù)據(jù)線 422中有缺陷數(shù)據(jù)線的缺陷進(jìn)行修補(bǔ)。在根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例中，由于在顯示區(qū)域412下方不設(shè)置單獨(dú) 的修補(bǔ)線路，而利用了檢測線路45作為修補(bǔ)后信號(hào)傳送路徑的一部分， 來對(duì)有缺陷數(shù)據(jù)線422實(shí)現(xiàn)修補(bǔ)，因此可以顯著地減小陣列基板410中非 顯示區(qū)域的面積，提高面板的利用率。另外，在根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例 中，在未用修補(bǔ)線423進(jìn)行修補(bǔ)時(shí)，檢測線路45與修補(bǔ)線423不處于電連 接狀態(tài)，因此不會(huì)影響檢測線路45的正常功能。還應(yīng)當(dāng)明白，第一實(shí)施 例中的檢測線路45與修補(bǔ)線423只是示意性表示而非限制性的表示。下面將參考圖5A—圖5D，對(duì)本發(fā)明的第二實(shí)施例進(jìn)行說明。在第二實(shí)施例中，與第一實(shí)施例相同或相似的部分用相同或相似的標(biāo)號(hào)來表示， 并不再進(jìn)行詳細(xì)說明。根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)中，如果檢測線路45本身在制程中發(fā) 生短路或者斷路缺陷，就難以進(jìn)行修補(bǔ)，因此也就不能完成測試和數(shù)據(jù)線修補(bǔ)這些功能。同時(shí)，在用上述檢測線路45進(jìn)行測試時(shí)，由于檢測線路 45本身具有較大電阻，所以本身的信號(hào)延遲(RC delay)也可能較嚴(yán)重。圖5A為根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的液晶顯示裝置陣列基板的修補(bǔ)線路 結(jié)構(gòu)的俯視示意圖。與圖4A所示情況類似，液晶顯示裝置的陣列基板 410包括顯示區(qū)域412和位于顯示區(qū)域412外圍的信號(hào)引入?yún)^(qū)域411，多個(gè) 數(shù)據(jù)線焊盤421形成于信號(hào)引入?yún)^(qū)域411中并分別與各條數(shù)據(jù)線422電連 接。每條數(shù)據(jù)線422包括三個(gè)部分，即位于顯示區(qū)域412外并與相應(yīng)的數(shù) 據(jù)線焊盤421電連接的前端數(shù)據(jù)線部分422a、位于顯示區(qū)域412中的顯示 區(qū)域數(shù)據(jù)線部分422b和位于顯示區(qū)域412外遠(yuǎn)離數(shù)據(jù)線焊盤421那端的末 端數(shù)據(jù)線部分422c。從數(shù)據(jù)線焊盤421輸入的數(shù)據(jù)信號(hào)按照前端數(shù)據(jù)線部 分422a、顯示區(qū)域數(shù)據(jù)線部分422b和末端數(shù)據(jù)線部分422c這樣的順序在 整條數(shù)據(jù)線422上傳輸。為清楚起見，圖5A中未示出與數(shù)據(jù)線422交叉 設(shè)置的各條掃描線以及掃描線焊盤。根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例，修補(bǔ)線路包括數(shù)據(jù)連接線520、連接部件 547 (見圖5D)、修補(bǔ)連接線521、位于印刷電路板(PCB) 510上的公共 修補(bǔ)線522、以及位于顯示區(qū)域412外圍的數(shù)據(jù)修補(bǔ)線523。其中，數(shù)據(jù) 修補(bǔ)線523在顯示區(qū)域412的右側(cè)延伸，而幾乎不延伸到顯示區(qū)域412的 下方。為方便表述，此處將不對(duì)位于印刷電路板510上的公共修補(bǔ)線522 與陣列基板410上的數(shù)據(jù)修補(bǔ)線523之間的連接方式進(jìn)行詳細(xì)說明，但是 本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)該知道，可以使用芯片封裝薄膜(COF)、載帶封裝 薄膜(TCP)等方式進(jìn)行連接。沿垂直于陣列基板410表面的方向看去， 數(shù)據(jù)連接線520與前端數(shù)據(jù)線部分422a以交叉方式排列，但二者在垂直于 陣列基板410表面的方向上位于不同層中，且二者之間隔有絕緣層，因此 在未利用修補(bǔ)線路進(jìn)行修補(bǔ)的情況下兩者是互不導(dǎo)通的。雖然在圖5A所 示的俯視示意中數(shù)據(jù)連接線520與前端數(shù)據(jù)線部分422a以垂直方式交叉排列，但本發(fā)明并不限于這種垂直排列方式，只要在俯視圖中二者之間存在 交叉位置即可。如圖5A所示，檢測線路55設(shè)置于顯示區(qū)域412的外圍，并包括測試 數(shù)據(jù)線551、測試掃描線552和測試數(shù)據(jù)輔助線553。測試數(shù)據(jù)線551用 于傳輸測試數(shù)據(jù)信號(hào)，在本實(shí)施例中包括DBQ、 DG。和DR。三條測試數(shù)據(jù) 線。測試掃描線552用于傳輸掃描測試信號(hào)，在本實(shí)施例中包括GO。和 GEo兩條測試掃描線。在本實(shí)施例中，測試數(shù)據(jù)輔助線553包括DB^ DG,和DR,三條線。由圖5A可見，測試數(shù)據(jù)線DBo的左右兩端與測試數(shù) 據(jù)輔助線DBi的左右兩端是分別相連的，而測試數(shù)據(jù)線DG。與測試數(shù)據(jù)輔 助線DG"測試數(shù)據(jù)線DRo與測試數(shù)據(jù)輔助線DRi之間也分別具有類似的 關(guān)系。即，這些測試數(shù)據(jù)輔助線DB,、 DGi和DR^分別與相應(yīng)的測試數(shù)據(jù) 線DBQ、 DGo和DR。處于并聯(lián)關(guān)系。檢測線路55通過薄膜晶體管44將數(shù) 據(jù)測試信號(hào)傳輸?shù)綌?shù)據(jù)線422上。如圖5A所示，為了更有效地進(jìn)行數(shù)據(jù)測試，檢測線路55與薄膜晶體 管44的連接方式是從左側(cè)算起奇數(shù)列和偶數(shù)列薄膜晶體管的柵極分別 連接測試掃描線552中的GOo和GE。線，同時(shí)，從左側(cè)起的第3n-2、 3n-l 和3n (n=l,2,3......)列薄膜晶體管的源極分別相應(yīng)連接測試數(shù)據(jù)線551中的DBo、 DGo和DR。線。需說明的是，圖5A中只是一種示意表示，亦可 采用其他連接方式，如只設(shè)置一條測試掃描線，或者設(shè)置更多測試數(shù)據(jù)線 等等。優(yōu)選地，檢測線路55和數(shù)據(jù)修補(bǔ)線523都可以全部或者部分地設(shè) 置在框膠密封區(qū)域中，從而可以減小液晶顯示面板中不用于顯示的區(qū)域面 積。圖5B示出了圖5A中Yl區(qū)域的更詳細(xì)的結(jié)構(gòu)圖，該區(qū)域主要包括薄 膜晶體管44和導(dǎo)體制成的連接部件545。如圖5B所示，薄膜晶體管"具 有源極442、漏極441以及柵極443，其中源極442連接測試數(shù)據(jù)線分支 444，漏極441連接相應(yīng)數(shù)據(jù)線422中的末端數(shù)據(jù)線部分422c，柵極443 連接測試掃描線552 (在圖5A所示的具體情況下，連接到測試掃描線552 中的GOo線)。上述測試數(shù)據(jù)線分支444連接到測試數(shù)據(jù)線551 (在圖5A 所示的具體情況下，連接到測試數(shù)據(jù)線551中的DRo線)。同時(shí)，沿著垂直于陣列基板表面的方向看去，測試數(shù)據(jù)輔助線分支544與連接部件545 在位置A6處有重疊區(qū)域，但兩者在垂直于陣列基板表面的方向上位于不 同層中并且二者之間隔著絕緣層；末端數(shù)據(jù)線部分422c與連接部件545在 位置A7處也有重疊區(qū)域，且二者在垂直于陣列基板表面的方向上位于不 同層，二者之間隔著絕緣層。上述測試數(shù)據(jù)輔助線分支544連接到測試數(shù) 據(jù)輔助線553 (在圖5A所示的情況下，連接到測試數(shù)據(jù)輔助線553中的 DR,線)。在未利用修補(bǔ)線路進(jìn)行修補(bǔ)的情況下，測試數(shù)據(jù)輔助線分支 544、連接部件545以及末端數(shù)據(jù)線部分422c這三者中任何兩者之間彼此 都不導(dǎo)通。圖5C示出了圖5A中Y2區(qū)域的更詳細(xì)結(jié)構(gòu)圖。沿垂直于陣列基板 410表面的方向看去，如圖5C所示，測試數(shù)據(jù)輔助線553 (對(duì)于圖5A所 示情況，為測試數(shù)據(jù)輔助線553中的DR1線)與導(dǎo)體制成的連接部件546 在位置A8處有重疊區(qū)域，并在垂直于陣列基板表面的方向上位于不同層 且二者之間隔著絕緣層。另外，沿垂直于陣列基板410表面的方向看去， 數(shù)據(jù)修補(bǔ)線523末端也與連接部件546在位置A9處有重疊區(qū)域，并在該 方向上位于不同層且二者之間隔著絕緣層。因此在未利用修補(bǔ)線路進(jìn)行修 補(bǔ)的情況下，測試數(shù)據(jù)輔助線553、連接部件546以及數(shù)據(jù)修補(bǔ)線523這 三者中任何兩者之間彼此都不導(dǎo)通。圖5D示出了圖5A中Y3區(qū)域的結(jié)構(gòu)放大圖。沿垂直于陣列基板410 表面的方向看去，如圖5D所示，數(shù)據(jù)連接線520與導(dǎo)體制成的連接部件 547在位置All處有重疊區(qū)域，并在垂直于陣列基板表面的方向上位于不 同層且二者之間隔著絕緣層。另外，沿垂直于陣列基板410表面的方向看 去，修補(bǔ)連接線521亦與連接部件54也在位置A10處有重疊區(qū)域，并在 該方向上位于不同層且二者之間隔著絕緣層。因此在未利用修補(bǔ)線路進(jìn)行 修補(bǔ)的情況下，數(shù)據(jù)連接線520、連接部件547以及修補(bǔ)連接線521這三 者中任何兩者之間彼此都不導(dǎo)通。下面將參照?qǐng)D5A—5D，對(duì)根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例對(duì)數(shù)據(jù)線進(jìn)行修補(bǔ) 的方法進(jìn)行說明。在根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的液晶顯示裝置陣列基板410 中，例如當(dāng)數(shù)據(jù)線422在圖5A中的D5處發(fā)生斷開缺陷時(shí)，可以通過下述方式進(jìn)行修補(bǔ)。(1) 使數(shù)據(jù)連接線520與有缺陷數(shù)據(jù)線422的前端數(shù)據(jù)線部分422a 導(dǎo)通。例如，可以通過激光熔融的方式使數(shù)據(jù)連接線520與該數(shù)據(jù)線422 的前端數(shù)據(jù)線部分422a在二者的交叉位置A5處導(dǎo)通。(2) 使數(shù)據(jù)連接線520與修補(bǔ)連接線521導(dǎo)通。例如，如圖5D所 示，可以利用激光熔融的方式，使數(shù)據(jù)連接線520與連接部件547在位置 All處的重疊區(qū)域?qū)ǎ⑹剐扪a(bǔ)連接線521與連接部件547在位置A10 處的重疊區(qū)域?qū)?，從而?shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)連接線520與修補(bǔ)連接線521之間的導(dǎo) 通。(3) 使測試數(shù)據(jù)線551與數(shù)據(jù)修補(bǔ)線523導(dǎo)通。如圖5C所示，例 如，可以通過例如激光熔融的方式，使圖5A中Y2區(qū)域的測試數(shù)據(jù)輔助線 553 (在圖5A所示情況下為DR,線)與連接部件546在位置A8處的重疊 區(qū)域?qū)ǎ⑹箶?shù)據(jù)修補(bǔ)線523與連接部件546在位置A9處的重疊區(qū)域 導(dǎo)通。(4) 對(duì)圖5A中的Yl區(qū)域進(jìn)行處理，使有缺陷數(shù)據(jù)線422所對(duì)應(yīng)的 測試數(shù)據(jù)輔助線分支544與該數(shù)據(jù)線422的末端數(shù)據(jù)線部分422c導(dǎo)通，并 使修補(bǔ)所用測試數(shù)據(jù)輔助線553 (在圖5A所示情況下為D&線)和與其 相對(duì)應(yīng)的測試數(shù)據(jù)線551 (在圖5A所示情況下為DRo線)之間的連接切 斷。如圖5A所示，當(dāng)用測試數(shù)據(jù)輔助線553中的DE4線作為修補(bǔ)線路 時(shí)，用例如激光熔融的方式分別使測試數(shù)據(jù)輔助線分支544與連接部件 545在位置A6處的重疊區(qū)域?qū)?，并使末端?shù)據(jù)線部分422c與連接部件 545在位置A7處的重疊區(qū)域?qū)?見圖5B);并利用例如激光在C4、 C5 位置切斷DRi線與DRQ線的連接。經(jīng)過上述修補(bǔ)，有缺陷數(shù)據(jù)線422上的數(shù)據(jù)信號(hào)就可以經(jīng)由虛線53 所示的路徑傳輸?shù)皆摂?shù)據(jù)線422中位于斷開處D5下方的部分。具體的傳 送路徑為從前端數(shù)據(jù)線部分422a經(jīng)交叉點(diǎn)A5傳送至數(shù)據(jù)連接線520， 接著經(jīng)過交叉點(diǎn)All傳送至連接部件547，再經(jīng)交叉點(diǎn)A12傳送至修補(bǔ)連 接線521，然后經(jīng)過PCB上的公共修補(bǔ)線522傳送至數(shù)據(jù)修補(bǔ)線523，并 經(jīng)過交叉點(diǎn)A9傳送至連接部件546，然后經(jīng)交叉點(diǎn)A8傳送至測試數(shù)據(jù)輔助線553中的D&線并傳送至測試數(shù)據(jù)輔助線分支544，然后經(jīng)交叉點(diǎn)A6 傳送至連接部件545，經(jīng)交叉點(diǎn)A7傳送至末端數(shù)據(jù)線部分422c并到達(dá)顯 示區(qū)域數(shù)據(jù)線部分442b中處于斷開處D4下方的部分。與第一實(shí)施例類似，以數(shù)據(jù)連接線520與前端數(shù)據(jù)線部分422a的交叉 點(diǎn)A5為界，前端數(shù)據(jù)線520可以分為兩個(gè)部分，即，在進(jìn)行了修補(bǔ)的情 況下，數(shù)據(jù)信號(hào)向有缺陷數(shù)據(jù)線422傳送時(shí)所經(jīng)過的部分(稱為第一部 分，例如圖5A中位于交叉點(diǎn)A5右側(cè)的部分)和數(shù)據(jù)信號(hào)向有缺陷數(shù)據(jù)線 422傳送時(shí)不經(jīng)過的部分(稱為第二部分，例如圖5A中位于交叉點(diǎn)A5左 側(cè)的部分)。優(yōu)選地，可以在所述第二部分的某一位置(優(yōu)選為較靠近交 叉點(diǎn)A5的位置)處將數(shù)據(jù)連接線520斷開。例如在圖5A所示的情況下， 可以例如用激光將數(shù)據(jù)連接線520在C3位置處切斷。與第一實(shí)施例類 似，這樣可以進(jìn)一步減小修補(bǔ)線路與沒有發(fā)生斷開缺陷的那些前端數(shù)據(jù)線 部分之間的寄生電容。在根據(jù)本發(fā)明的第二實(shí)施例中，檢測線路55作為檢測線組件，設(shè)置 在陣列基板410的顯示區(qū)域412外圍，并用于對(duì)陣列基板410進(jìn)行檢測。 而修補(bǔ)線路(如上所述包括數(shù)據(jù)連接線520、連接部件547、修補(bǔ)連接線 521、公共修補(bǔ)線522、以及數(shù)據(jù)修補(bǔ)線523等)作為修補(bǔ)線組件，設(shè)置在 顯示區(qū)域412外圍，用于對(duì)數(shù)據(jù)線422中有缺陷數(shù)據(jù)線的缺陷進(jìn)行修補(bǔ)。在根據(jù)本發(fā)明的第二實(shí)施例中，由于在顯示區(qū)域412下方不設(shè)置單獨(dú) 的修補(bǔ)線路，而利用檢測線路55作為修補(bǔ)后信號(hào)傳送路徑的一部分，來 實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)線的修補(bǔ)，因此可以顯著地減小非顯示區(qū)域的面積。同時(shí)，在第 二實(shí)施例中，由于將測試數(shù)據(jù)輔助線553與測試數(shù)據(jù)線551并聯(lián)，使得測 試數(shù)據(jù)線的電阻顯著減小，從而可以降低信號(hào)延遲的影響。此外，數(shù)據(jù)信 號(hào)傳遞時(shí)經(jīng)過的部分修補(bǔ)線路(例如上述公共修補(bǔ)線522)被設(shè)在陣列基 板外部的PCB板上，因而可以采用電阻率很低的材料(例如銅等等)，從 而可以進(jìn)一步減小數(shù)據(jù)信號(hào)傳遞路徑整體的電阻，并進(jìn)一步減小信號(hào)延 遲。此外，根據(jù)本發(fā)明的第二實(shí)施例，在對(duì)有缺陷數(shù)據(jù)線422進(jìn)行了修補(bǔ) 的情況下，數(shù)據(jù)信號(hào)經(jīng)過測試數(shù)據(jù)輔助線553傳送時(shí)不會(huì)傳送到未用于修補(bǔ)的其他薄膜晶體管44的源極，所以也不會(huì)在這些源極及與之對(duì)應(yīng)的TFT柵極之間形成寄生電容，不會(huì)因此對(duì)數(shù)據(jù)信號(hào)的傳輸造成不利影響。另外，根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的修補(bǔ)線路結(jié)構(gòu)還可以用來對(duì)測試數(shù)據(jù)線本 身的斷路、短路缺陷進(jìn)行修補(bǔ)。在根據(jù)本發(fā)明的第二實(shí)施例中，檢測線路55與數(shù)據(jù)修補(bǔ)線523在未 進(jìn)行修補(bǔ)時(shí)不處于電連接狀態(tài)，因此在未用于修補(bǔ)時(shí)并不影響檢測線路55 的正常功能。同時(shí)，在根據(jù)本發(fā)明的第二實(shí)施例中，檢測線路與修補(bǔ)線路 的結(jié)構(gòu)及其連接方式只是示意性表示而非限制性的表示。本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解，對(duì)于上述各種實(shí)施方式，可以有多種改變 形式。例如，對(duì)于第二實(shí)施例，公共修補(bǔ)線522可以不設(shè)在單獨(dú)的PCB板上 而是直接設(shè)在陣列基板上；測試數(shù)據(jù)輔助線553、數(shù)據(jù)修補(bǔ)線523等也可 以設(shè)在PCB板上而不直接設(shè)在陣列基板上，等等。又例如，對(duì)于第二實(shí)施例，可以不設(shè)置連接部件546而將測試數(shù)據(jù)輔 助線553與數(shù)據(jù)修補(bǔ)線523直接連接，并在進(jìn)行修補(bǔ)的時(shí)候相應(yīng)地略去第 二實(shí)施例中的步驟(3)。在此情況下，數(shù)據(jù)修補(bǔ)線523實(shí)際上成為測試 數(shù)據(jù)輔助線553的一部分。在這種改變形式中，本發(fā)明的檢測線組件除了 包括測試數(shù)據(jù)線551、測試掃描線552和測試數(shù)據(jù)輔助線553 (這些部分 用于對(duì)陣列基板進(jìn)行檢測)之外，還包括對(duì)于第二實(shí)施例而言屬于修補(bǔ)線 組件的修補(bǔ)連接線521、公共修補(bǔ)線522、數(shù)據(jù)修補(bǔ)線523。而修補(bǔ)線組件 包括數(shù)據(jù)連接線520。在這種改變形式中，通過連接部件547來改變檢測 線組件與修補(bǔ)線組件的電隔離和電連接。雖然上述說明針對(duì)的是對(duì)數(shù)據(jù)線上的缺陷進(jìn)行修補(bǔ)，但本發(fā)明也適用 于對(duì)掃描線上的缺陷進(jìn)行修補(bǔ)。并且，本申請(qǐng)中所述"上方"、"下 方"、"左側(cè)"和"右側(cè)"是對(duì)于所描述的具體實(shí)施例而言的，本領(lǐng)域技 術(shù)人員容易理解，這種位置關(guān)系可以根據(jù)實(shí)際情況而改變。另外，本發(fā)明 對(duì)線缺陷進(jìn)行修補(bǔ)的方法中，各個(gè)步驟的順序不受特殊限制，可以根據(jù)工 藝方面或經(jīng)濟(jì)方面的考慮等等來對(duì)設(shè)置修補(bǔ)方法中各個(gè)步驟的順序，可以 同時(shí)完成修補(bǔ)方法中的多個(gè)步驟或?qū)⑵渲械囊粋€(gè)步驟分散在不同時(shí)間完成的幾個(gè)工序中。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍由權(quán)利要求而非上述各種具體實(shí) 施形式來限定。
權(quán)利要求
1.一種液晶顯示裝置陣列基板，包括數(shù)據(jù)線；掃描線，設(shè)置成與所述數(shù)據(jù)線交叉；檢測線組件，設(shè)置在所述陣列基板中的顯示區(qū)域外圍，所述檢測線組件中至少一部分用于對(duì)所述陣列基板進(jìn)行檢測；以及修補(bǔ)線組件，設(shè)置在所述顯示區(qū)域外圍，用于對(duì)所述數(shù)據(jù)線中有缺陷數(shù)據(jù)線的缺陷進(jìn)行修補(bǔ)，所述檢測線組件設(shè)置成在未進(jìn)行所述修補(bǔ)的時(shí)候，所述檢測線組件與所述修補(bǔ)線組件電隔離；在進(jìn)行所述修補(bǔ)的時(shí)候，所述檢測線組件與所述修補(bǔ)線組件以及所述有缺陷數(shù)據(jù)線電連接。
2. 如權(quán)利要求1所述的液晶顯示裝置陣列基板，其特征在于所述檢 測線組件包括用于傳輸測試數(shù)據(jù)信號(hào)的測試數(shù)據(jù)線和用于傳輸測試掃描信 號(hào)的測試掃描線；在進(jìn)行所述修補(bǔ)時(shí)，所述測試數(shù)據(jù)線與所述修補(bǔ)線組件 以及所述有缺陷數(shù)據(jù)線電連接。
3. 如權(quán)利要求1所述的液晶顯示裝置陣列基板，其特征在于 所述檢測線組件包括用于傳輸測試數(shù)據(jù)信號(hào)的測試數(shù)據(jù)線、用于傳輸測試掃描信號(hào)的測試掃描線、以及與所述測試數(shù)據(jù)線并聯(lián)的測試數(shù)據(jù)輔 助線，在進(jìn)行所述修補(bǔ)的時(shí)候，所述測試數(shù)據(jù)輔助線與所述測試數(shù)據(jù)線電隔 離，并與所述修補(bǔ)線組件以及所述有缺陷數(shù)據(jù)線電連接。
4. 如權(quán)利要求1所述的液晶顯示裝置陣列基板，其特征在于 所述修補(bǔ)線組件至少部分地位于所述陣列基板外部的印刷電路板上。
5. 如權(quán)利要求1所述的液晶顯示裝置陣列基板，其特征在于 所屬檢測線組件至少部分地設(shè)置在所述陣列基板的框膠密封區(qū)域。
6. 如權(quán)利要求1所述的液晶顯示裝置陣列基板，其特征在于 所屬修補(bǔ)線組件至少部分地設(shè)置在所述陣列基板的框膠密封區(qū)域。
7. 如權(quán)利要求1所述的液晶顯示裝置陣列基板，其特征在于沿垂直于所述陣列基板表面的方向看去，所述檢測線組件與所述修補(bǔ) 線組件二者至少部分重疊，且所述檢測線組件與所述修補(bǔ)線組件之間隔有 絕緣層。
8. 如權(quán)利要求1所述的液晶顯示裝置陣列基板，其特征在于-所述陣列基板還包括導(dǎo)體制成的連接部件，沿垂直于所述陣列基板表面的方向看去，所述檢測線組件和所述修補(bǔ)線組件二者都與所述連接部件 至少部分重疊，且所述檢測線組件與所述連接部件之間、所述修補(bǔ)線組件 與所述連接部件之間都隔有絕緣層。
9. 如權(quán)利要求2所述的液晶顯示裝置陣列基板，其特征在于 所述陣列基板還包括與所述數(shù)據(jù)線對(duì)應(yīng)的薄膜晶體管，所述薄膜晶體管的源極電連接到所述測試數(shù)據(jù)線，所述薄膜晶體管的漏極電連接到所述數(shù)據(jù)線，所述薄膜晶體管的柵極電連接到所述測試掃描線；并且在進(jìn)行所述修補(bǔ)時(shí)，對(duì)于與所述有缺陷數(shù)據(jù)線對(duì)應(yīng)的薄膜晶體管，使 其源極與漏極電連接，并使其柵極與所述測試掃描線的電連接斷開，從而 使所述測試數(shù)據(jù)線與所述有缺陷數(shù)據(jù)線電連接。
10. 如權(quán)利要求1所述的液晶顯示裝置陣列基板，其特征在于 所述數(shù)據(jù)線包括前端數(shù)據(jù)線部分、顯示區(qū)域數(shù)據(jù)線部分和末端數(shù)據(jù)線部分；所述修補(bǔ)線組件包括這樣的部分所述部分能夠在所述修補(bǔ)線組件未 被用來進(jìn)行修補(bǔ)的時(shí)候與所述前端數(shù)據(jù)線部分電隔離，并在所述修補(bǔ)線組 件被用來進(jìn)行修補(bǔ)的時(shí)候與所述前端數(shù)據(jù)線部分電連接。
11. 如權(quán)利要求IO所述的液晶顯示裝置陣列基板，其特征在于 在進(jìn)行所述修補(bǔ)的時(shí)候，所述檢測線組件與所述有缺陷數(shù)據(jù)線的末端數(shù)據(jù)線部分電連接。
12. —種對(duì)液晶顯示裝置陣列基板中的缺陷進(jìn)行修補(bǔ)的方法，其中所述陣列基板包括.-數(shù)據(jù)線；掃描線，設(shè)置成與所述數(shù)據(jù)線交叉；檢測線組件，設(shè)置在所述陣列基板中的顯示區(qū)域外圍，所述檢測線組件中至少一部分用于對(duì)所述陣列基板進(jìn)行檢測；以及修補(bǔ)線組件，設(shè)置在所述顯示區(qū)域外圍，用于對(duì)所述數(shù)據(jù)線中有缺陷數(shù)據(jù)線的缺陷進(jìn)行修補(bǔ)；其中，所述檢測線組件與所述修補(bǔ)線組件處于電隔離關(guān)系， 所述方法包括使所述檢測線組件與所述修補(bǔ)線組件以及所述有缺陷數(shù)據(jù)線電連接的步驟。
13. 如權(quán)利要求12所述的方法，其中，所述檢測線組件包括用于傳輸 測試數(shù)據(jù)信號(hào)的測試數(shù)據(jù)線和用于傳輸測試掃描信號(hào)的測試掃描線，并 且，使所述檢測線組件與所述修補(bǔ)線組件電連接的步驟包括使所述測試數(shù) 據(jù)線與所述修補(bǔ)線組件以及所述有缺陷數(shù)據(jù)線電連接的步驟。
14. 如權(quán)利要求12所述的方法，其中，所述檢測線組件還包括與所述 測試數(shù)據(jù)線并聯(lián)的測試數(shù)據(jù)輔助線，并且，使所述檢測線組件與所述修補(bǔ)線組件以及所述有缺陷數(shù)據(jù)線電連接的步驟包括使所述測試數(shù)據(jù)輔助線與所述測試數(shù)據(jù)線電隔離并與所述修補(bǔ)線組件以及所述有缺陷數(shù)據(jù)線電連 接的步驟。
15. 如權(quán)利要求12所述的方法，其中，沿垂直于所述陣列基板表面的 方向看去，所述檢測線組件與所述修補(bǔ)線組件二者至少部分重疊，且所述 檢測線組件與所述修補(bǔ)線組件之間隔有絕緣層；并且使所述檢測線組件與所述修補(bǔ)線組件電連接的步驟包括下列步驟用激光熔融方式使所述檢測線組件與所述修補(bǔ)線組件導(dǎo)通。
16. 如權(quán)利要求12所述的方法，其中，所述陣列基板還包括導(dǎo)體制成 的連接部件，沿垂直于所述陣列基板表面的方向看去，所述檢測線組件和 所述修補(bǔ)線組件二者都與所述連接部件至少部分重疊，且所述檢測線組件 與所述連接部件之間、所述修補(bǔ)線組件與所述連接部件之間都隔有絕緣 層；并且使所述檢測線組件與所述修補(bǔ)線組件電連接的步驟包括下列步驟用激光熔融方式使所述檢測線組件和所述修補(bǔ)線組件分別與所述連接部件導(dǎo) 通。
17. 如權(quán)利要求13所述的方法，其中，所述陣列基板還包括與所述數(shù)據(jù)線對(duì)應(yīng)的薄膜晶體管，所述薄膜晶體管的源極電連接到對(duì)應(yīng)的測試數(shù)據(jù) 線，所述薄膜晶體管的漏極電連接到所述數(shù)據(jù)線，所述薄膜晶體管的柵極 電連接到所述測試掃描線；并且使所述測試數(shù)據(jù)線與所述修補(bǔ)線組件以及所述有缺陷數(shù)據(jù)線電連接的 步驟包括下述步驟對(duì)于與所述有缺陷數(shù)據(jù)線對(duì)應(yīng)的薄膜晶體管，使其源 極與漏極電連接，并使其柵極與所述測試掃描線的電連接斷開。
18. 如權(quán)利要求12所述的方法，其中，所述修補(bǔ)線組件包括第一部分 和第二部分，所述第一部分是在進(jìn)行了所述修補(bǔ)的情況下數(shù)據(jù)信號(hào)向所述 有缺陷數(shù)據(jù)線傳送時(shí)所經(jīng)過的部分，所述第二部分是在進(jìn)行了所述修補(bǔ)的 情況下數(shù)據(jù)信號(hào)向所述有缺陷數(shù)據(jù)線傳送時(shí)不經(jīng)過的部分，所述方法的特征在于還包括下述步驟 在所述第二部分處將所述修補(bǔ)線組件斷開。
19. 一種液晶顯示裝置，包括陣列基板和印刷電路板，其特征在于所 述陣列基板包括數(shù)據(jù)線；掃描線，設(shè)置成與所述數(shù)據(jù)線交叉；檢測線組件，設(shè)置在所述陣列基板中的顯示區(qū)域外圍，所述檢測線組件中至少一部分用于對(duì)所述陣列基板進(jìn)行檢測；以及修補(bǔ)線組件，設(shè)置在所述顯示區(qū)域外圍，用于對(duì)所述數(shù)據(jù)線中有缺陷 數(shù)據(jù)線的缺陷進(jìn)行修補(bǔ)，所述檢測線組件設(shè)置成在未進(jìn)行所述修補(bǔ)的時(shí)候，所述檢測線組件與所述修補(bǔ)線組件電隔離；在進(jìn)行所述修補(bǔ)的時(shí)候，所述檢測線組件與所述修補(bǔ)線組件以及所述有缺陷數(shù)據(jù)線電連接。
20. 如權(quán)利要求19所述的液晶顯示裝置，其特征在于所述檢測線組件包括用于傳輸測試數(shù)據(jù)信號(hào)的測試數(shù)據(jù)線和用于傳輸 測試掃描信號(hào)的測試掃描線，在進(jìn)行所述修補(bǔ)時(shí)，所述測試數(shù)據(jù)線與所述 修補(bǔ)線組件以及所述有缺陷數(shù)據(jù)線電連接。
21. 如權(quán)利要求19所述的液晶顯示裝置，其特征在于 所述檢測線組件包括用于傳輸測試數(shù)據(jù)信號(hào)的測試數(shù)據(jù)線、用于傳輸測試掃描信號(hào)的測試掃描線、以及與所述測試數(shù)據(jù)線并聯(lián)的測試數(shù)據(jù)輔 助線，在進(jìn)行所述修補(bǔ)的時(shí)候，所述測試數(shù)據(jù)輔助線與所述測試數(shù)據(jù)線電隔 離，并與所述修補(bǔ)線組件以及所述有缺陷數(shù)據(jù)線電連接。
22. 如權(quán)利要求19所述的液晶顯示裝置，其特征在于沿垂直于所述陣列基板表面的方向看去，所述檢測線組件與所述修補(bǔ) 線組件二者至少部分重疊，且所述檢測線組件與所述修補(bǔ)線組件之間隔有 絕緣層。
23. 如權(quán)利要求19所述的液晶顯示裝置，其特征在于 所述陣列基板還包括導(dǎo)體制成的連接部件，沿垂直于所述陣列基板表面的方向看去，所述檢測線組件和所述修補(bǔ)線組件二者都與所述連接部件 至少部分重疊，且所述檢測線組件與所述連接部件之間、所述修補(bǔ)線組件 與所述連接部件之間都隔有絕緣層。
24. 如權(quán)利要求20所述的液晶顯示裝置，其特征在于所述陣列基板還包括與所述數(shù)據(jù)線對(duì)應(yīng)的薄膜晶體管，所述薄膜晶體 管的源極電連接到所述測試數(shù)據(jù)線，所述薄膜晶體管的漏極電連接到所述數(shù)據(jù)線，所述薄膜晶體管的柵極電連接到所述測試掃描線；并且在進(jìn)行所述修補(bǔ)時(shí)，對(duì)于與所述有缺陷數(shù)據(jù)線對(duì)應(yīng)的薄膜晶體管，使 其源極與漏極電連接，并使其柵極與所述測試掃描線的電連接斷開，從而 使所述測試數(shù)據(jù)線與所述有缺陷數(shù)據(jù)線電連接。
25. 如權(quán)利要求19所述的液晶顯示裝置，其特征在于所述數(shù)據(jù)線包括前端數(shù)據(jù)線部分、顯示區(qū)域數(shù)據(jù)線部分和末端數(shù)據(jù)線部分；所述修補(bǔ)線組件包括這樣的部分所述部分能夠在所述修補(bǔ)線組件未被用來進(jìn)行修補(bǔ)的時(shí)候與所述前端數(shù)據(jù)線部分電隔離，并在所述修補(bǔ)線組 件被用來進(jìn)行修補(bǔ)的時(shí)候與所述前端數(shù)據(jù)線部分電連接。
26. 如權(quán)利要求25所述的液晶顯示裝置，其特征在于在進(jìn)行所述修補(bǔ)的時(shí)候，所述檢測線組件與所述有缺陷數(shù)據(jù)線的末端數(shù)據(jù)線部分電連接。
27.如權(quán)利要求19所述的液晶顯示裝置，其特征在于所述印刷電路板上設(shè)有公共修補(bǔ)線；并且，在進(jìn)行所述修補(bǔ)的時(shí)候，所述檢測線組件通過所述印刷電路板 上的所述公共修補(bǔ)線與所述修補(bǔ)線組件電連接。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種液晶顯示裝置陣列基板，包括數(shù)據(jù)線；掃描線，設(shè)置成與數(shù)據(jù)線交叉；檢測線組件，設(shè)置在陣列基板中的顯示區(qū)域外圍，檢測線組件中至少一部分用于對(duì)陣列基板進(jìn)行檢測；以及修補(bǔ)線組件，設(shè)置在顯示區(qū)域外圍，用于對(duì)數(shù)據(jù)線中有缺陷數(shù)據(jù)線的缺陷進(jìn)行修補(bǔ)。其中，檢測線組件設(shè)置成在未進(jìn)行修補(bǔ)的時(shí)候，檢測線組件與修補(bǔ)線組件電隔離；在進(jìn)行修補(bǔ)的時(shí)候，檢測線組件與修補(bǔ)線組件以及有缺陷數(shù)據(jù)線電連接。本發(fā)明還公開了該液晶顯示裝置陣列基板的修補(bǔ)方法及使用該陣列基板的液晶顯示裝置。根據(jù)本發(fā)明，可以將檢測線組件用作修補(bǔ)線路的一部分來實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)線的修補(bǔ)，因此可以顯著減小非顯示區(qū)域的面積。
文檔編號(hào)G02F1/13GK101216643SQ200710305650
公開日2008年7月9日 申請(qǐng)日期2007年12月26日 優(yōu)先權(quán)日2007年12月26日
發(fā)明者廖家德, 簡廷憲, 鐘德鎮(zhèn) 申請(qǐng)人:昆山龍騰光電有限公司