任意一個第一樣本金手指與其相應的第二樣本金手指之間斷開時，調節(jié)測試電路板和/或所述樣本面板的位置，直至每個第一樣本金手指與其相應的第二樣本金手指均電連接，此時，樣本面板的位置即為待測試顯示面板的位置。2.根據(jù)權利要求1所述的位置校準方法，其特征在于，步驟SI包括在所述第一金手指設置區(qū)的兩側各形成一個第一樣本金手指，并使得兩個第一樣本金手指電連接； 步驟S4包括: S4a、當兩個第二樣本金手指電連接時，檢測兩個第二樣本金手指和兩個第一樣本金手指是否形成導電通路； S4b、當兩個第二樣本金手指和兩個第一樣本金手指沒有形成導電通路時，調節(jié)測試電路板和/或所述樣本面板的位置，直至兩個第二樣本金手指和兩個第一樣本金手指形成導電通路。3.根據(jù)權利要求2所述的位置校準方法，其特征在于，步驟S4a包括: 檢測兩個第二樣本金手指之間的電阻，當測得的電阻為無限大時，判定兩個第二樣本金手指和兩個第一樣本金手指沒有形成導電通路；否則，判定兩個第二樣本金手指和兩個第一樣本金手指形成導電通路。4.根據(jù)權利要求3所述的位置校準方法，其特征在于，每個第一樣本金手指與其相鄰的第一金手指之間的距離等于相鄰兩個第一金手指之間的距離。5.根據(jù)權利要求1至4中任意一項所述的位置校準方法，其特征在于，每個第二樣本金手指的兩側分別設置有至少一個旁置金手指，步驟S4包括: 當任意一個第一樣本金手指與其相應的第二樣本金手指之間斷開時，檢測該第一樣本金手指與哪個旁置金手指電連接； 當該第一樣本金手指與其相應的第二樣本金手指的第一側的旁置金手指電連接時，將測試電路板朝向樣本面板的第二側與樣本面板發(fā)生相對移動；當該第一樣本金手指與其相應的第二樣本金手指的第二側的旁置金手指電連接時，將測試電路板朝向樣本面板的第一側與樣本面板發(fā)生相對移動。6.根據(jù)權利要求5所述的位置校準方法，其特征在于，步驟S2包括: S2a、提供與所述待檢測顯示面板相對應的襯底基板； S2b、在所述襯底基板上形成與每個第一樣本金手指相對應的第二樣本金手指； S2c、在每個第二樣本金手指的兩側分別形成至少一個旁置金手指。7.根據(jù)權利要求6所述的位置校準方法，其特征在于，每個第二樣本金手指與其相鄰的旁置金手指之間的距離等于所述待測試顯示面板中相鄰兩個第二金手指之間的距離。8.根據(jù)權利要求6所述的位置校準方法，其特征在于，步驟S2還包括:形成與每個第二樣本金手指電連接的樣本測試部以及與每個旁置金手指電連接的旁置測試部。9.一種測試電路板，用于對待測試顯示面板進行測試，所述測試電路板包括第一金手指設置區(qū)，該第一金手指設置區(qū)內設置有多個第一金手指，其特征在于，所述測試電路板還包括位于所述第一金手指設置區(qū)外側的至少一個第一樣本金手指。10.根據(jù)權利要求9所述的測試電路板，其特征在于，所述測試電路板包括電連接的兩個第一樣本金手指，該兩個第一樣本金手指分別設置在所述第一金手指設置區(qū)的兩側。11.根據(jù)權利要求10所述的測試電路板，其特征在于，每個第一樣本金手指與其相鄰的第一金手指之間的距離等于相鄰兩個第一金手指之間的距離。12.—種樣本面板，用于在測試電路板對待測試顯示面板進行測試之前確定待測試顯示面板的位置，其特征在于，所述測試電路板為權利要求9至11中任意一項所述的測試電路板，所述待測試顯示面板包括與多個第一金手指一一對應的多個第二金手指，所述樣本面板包括第二金手指設置區(qū)，所述樣本面板還包括與所述測試電路板上的每個第一樣本金手指對應的第二樣本金手指，并使得當每個第一樣本金手指與相應的第二樣本金手指對齊時，多個所述第一金手指與所述第二金手指設置區(qū)內對應于多個第二金手指的位置一一對齊。13.根據(jù)權利要求12所述的樣本面板，其特征在于，每個第二樣本金手指的兩側分別設置有至少一個旁置金手指。14.根據(jù)權利要求13所述的樣本面板，其特征在于，每個第二樣本金手指與其相鄰的旁置金手指之間的距離等于所述待測試顯示面板中相鄰兩個第二金手指之間的距離。15.根據(jù)權利要求13所述的樣本面板，其特征在于，所述樣本面板還包括與每個第二樣本金手指電連接的樣本測試部以及與每個旁置金手指電連接的旁置測試部。16.一種位置校準裝置，用于在對待測試顯示面板進行測試之前校準測試電路板和/或待測試顯示面板的位置，其特征在于，所述位置校準裝置包括權利要求9至11中任意一項所述的測試電路板和權利要求12至15中任意一項所述的樣本面板，所述待測試顯示面板包括與測試電路板上的多個第一金手指一一對應的多個第二金手指，所述位置校準裝置還包括: 檢測模塊，用于在測試電路板和所述樣本面板接觸時，檢測每個第一樣本金手指與其相應的第二樣本金手指之間是否電連接，當每個第一樣本金手指與其相應的第二樣本金手指均電連接時，樣本面板的位置即為待測試顯示面板的位置。17.根據(jù)權利要求16所述的位置校準裝置，其特征在于，所述測試電路板包括電連接的兩個第一樣本金手指，該兩個第一樣本金手指分別設置在所述第一金手指設置區(qū)的兩側，所述檢測模塊包括兩個連接端，該兩個連接端能夠分別與兩個第二樣本金手指相連，以使得所述檢測模塊檢測兩個第二樣本金手指和兩個第一樣本金手指是否形成導電通路。18.根據(jù)權利要求17所述的位置校準裝置，其特征在于，所述檢測模塊包括萬用表，用于檢測兩個第二樣本金手指之間的電阻，所述萬用表的兩個表筆形成為所述檢測模塊的兩個連接端。19.根據(jù)權利要求16至18中任意一項所述的位置校準裝置，其特征在于，每個第二樣本金手指的兩側分別設置有至少一個旁置金手指，當任意一個第一樣本金手指與相應的第二樣本金手指斷開時，所述檢測模塊能夠檢測與該第一樣本金手指電連接的旁置金手指的位置。20.根據(jù)權利要求19所述的位置校準裝置，其特征在于，所述樣本面板還包括與每個第二樣本金手指電連接的樣本測試部，以及與每個旁置金手指電連接的旁置測試部。21.根據(jù)權利要求16至18中任意一項所述的位置校準裝置，其特征在于，所述位置校準裝置還包括固定臺、壓頭、第一固定件和第二固定件，所述第一固定件用于將所述測試電路板固定在所述壓頭上，所述第二固定件用于將所述樣本面板或所述待測試顯示面板固定在所述固定臺上，所述壓頭能夠朝向靠近或遠離所述固定臺的方向移動。22.根據(jù)權利要求16至18中任意一項所述的位置校準裝置，其特征在于，所述第一固定件包括多個第一固定柱，所述第一固定柱包括直立部和設置在直立部頂端的壓持部，所述壓頭上設置有固定孔，所述測試電路板上設置有通孔，所述直立部的底端能夠穿過所述通孔并固定在所述固定孔中，所述通孔的直徑大于所述固定孔的直徑并小于所述壓持部的直徑。23.根據(jù)權利要求22所述的位置校準裝置，其特征在于，所述第二固定件包括設置在所述固定臺上的多個第二固定柱，所述樣本面板和所述待測試顯示面板均能夠固定在所述多個第二固定柱所限定的區(qū)域內。
【專利摘要】本發(fā)明提供一種位置校準方法、測試電路板、樣本面板和位置校準裝置。所述位置校準方法用于在對待測試顯示面板進行測試之前校準測試電路板和/或待測試顯示面板的位置，所述校準方法包括：S1、提供測試電路板，并形成至少一個第一樣本金手指；S2、制作樣本面板，所述樣本面板包括第二金手指設置區(qū)，還包括與每個第一樣本金手指對應的第二樣本金手指；S3、將所述測試電路板與所述樣本面板相接觸；S4、檢測每個第一樣本金手指與其相應的第二樣本金手指之間是否電連接，當檢測到任意一個第一樣本金手指與其相應的第二樣本金手指之間斷開時，調節(jié)測試電路板和/或所述樣本面板的位置。本發(fā)明能夠快速準確地校準測試電路板和待測試顯示面板的位置。
【IPC分類】G09G3/00
【公開號】CN105161037
【申請?zhí)枴緾N201510515942
【發(fā)明人】胡磊, 趙輝, 譚文靜
【申請人】京東方科技集團股份有限公司
【公開日】2015年12月16日
【申請日】2015年8月20日