位置校準(zhǔn)方法、測(cè)試電路板、樣本面板和位置校準(zhǔn)裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種位置校準(zhǔn)方法、一種測(cè)試電路板、一種樣本面板和一種位置校準(zhǔn)裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]在制作完顯示面板之后，需要對(duì)顯示面板進(jìn)行測(cè)試，即將測(cè)試電路板(即顯示裝置中與顯示面板相匹配的柔性電路板FPC)與待測(cè)試顯示面板導(dǎo)通，通過顯示面板的顯示情況判斷顯示面板是否為良品。通常在檢測(cè)時(shí)，將待測(cè)試顯示面板固定在測(cè)試機(jī)的固定臺(tái)上，將測(cè)試電路板固定在測(cè)試機(jī)的壓頭上，將壓頭下壓，同時(shí)操作者肉眼校準(zhǔn)測(cè)試電路板的位置，使得測(cè)試電路板上10的多個(gè)第一金手指11與待測(cè)試顯示面板20上的多個(gè)第二金手指21—一對(duì)應(yīng)接觸(如圖1所示)，從而使得測(cè)試電路板10與顯示面板20導(dǎo)通。但是，操作者肉眼校準(zhǔn)的方法效率較慢，且精度不夠，容易導(dǎo)致測(cè)試電路板與顯示面板之間發(fā)生短路。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的在于提供一種位置校準(zhǔn)方法、一種測(cè)試電路板、一種樣本面板和一種位置校準(zhǔn)裝置，從而在對(duì)待測(cè)試顯示面板進(jìn)行測(cè)試前，快速準(zhǔn)確地校準(zhǔn)測(cè)試電路板和待測(cè)試顯示面板的位置。
[0004]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種位置校準(zhǔn)方法，用于在對(duì)待測(cè)試顯示面板進(jìn)行測(cè)試之前校準(zhǔn)測(cè)試電路板和/或待測(cè)試顯示面板的位置，所述測(cè)試電路板包括第一金手指設(shè)置區(qū)，該第一金手指設(shè)置區(qū)內(nèi)設(shè)置有多個(gè)第一金手指，所述待測(cè)試顯示面板包括與多個(gè)第一金手指一一對(duì)應(yīng)的多個(gè)第二金手指，所述校準(zhǔn)方法包括:
[0005]S1、提供測(cè)試電路板，并在所述測(cè)試電路板的第一金手指設(shè)置區(qū)外側(cè)形成至少一個(gè)第一樣本金手指；
[0006]S2、制作樣本面板，所述樣本面板包括第二金手指設(shè)置區(qū)，所述樣本面板還包括與每個(gè)第一樣本金手指對(duì)應(yīng)的第二樣本金手指，并使得當(dāng)每個(gè)第一樣本金手指與相應(yīng)的第二樣本金手指對(duì)齊時(shí)，多個(gè)所述第一金手指與所述第二金手指設(shè)置區(qū)內(nèi)對(duì)應(yīng)于多個(gè)第二金手指的位置對(duì)齊；
[0007]S3、將所述測(cè)試電路板與所述樣本面板相接觸；
[0008]S4、檢測(cè)每個(gè)第一樣本金手指與其相應(yīng)的第二樣本金手指之間是否電連接，當(dāng)檢測(cè)到任意一個(gè)第一樣本金手指與其相應(yīng)的第二樣本金手指之間斷開時(shí)，調(diào)節(jié)測(cè)試電路板和/或所述樣本面板的位置，直至每個(gè)第一樣本金手指與其相應(yīng)的第二樣本金手指均電連接，此時(shí)，樣本面板的位置即為待測(cè)試顯示面板的位置。
[0009]優(yōu)選地，步驟SI包括在所述第一金手指設(shè)置區(qū)的兩側(cè)各形成一個(gè)第一樣本金手指，并使得兩個(gè)第一樣本金手指電連接；
[0010]步驟S4包括:
[0011]S4a、當(dāng)兩個(gè)第二樣本金手指電連接時(shí)，檢測(cè)兩個(gè)第二樣本金手指和兩個(gè)第一樣本金手指是否形成導(dǎo)電通路；
[0012]S4b、當(dāng)兩個(gè)第二樣本金手指和兩個(gè)第一樣本金手指沒有形成導(dǎo)電通路時(shí)，調(diào)節(jié)測(cè)試電路板和/或所述樣本面板的位置，直至兩個(gè)第二樣本金手指和兩個(gè)第一樣本金手指形成導(dǎo)電通路。
[0013]優(yōu)選地，步驟S4a包括:
[0014]檢測(cè)兩個(gè)第二樣本金手指之間的電阻，當(dāng)測(cè)得的電阻為無(wú)限大時(shí)，判定兩個(gè)第二樣本金手指和兩個(gè)第一樣本金手指沒有形成導(dǎo)電通路；否則，判定兩個(gè)第二樣本金手指和兩個(gè)第一樣本金手指形成導(dǎo)電通路。
[0015]優(yōu)選地，每個(gè)第一樣本金手指與其相鄰的第一金手指之間的距離等于相鄰兩個(gè)第一金手指之間的距離。
[0016]優(yōu)選地，每個(gè)第二樣本金手指的兩側(cè)分別設(shè)置有至少一個(gè)旁置金手指，步驟S4包括:
[0017]當(dāng)任意一個(gè)第一樣本金手指與其相應(yīng)的第二樣本金手指之間斷開時(shí)，檢測(cè)該第一樣本金手指與哪個(gè)旁置金手指電連接；
[0018]當(dāng)該第一樣本金手指與其相應(yīng)的第二樣本金手指的第一側(cè)的旁置金手指電連接時(shí)，將測(cè)試電路板朝向樣本面板的第二側(cè)與樣本面板發(fā)生相對(duì)移動(dòng)；當(dāng)該第一樣本金手指與其相應(yīng)的第二樣本金手指的第二側(cè)的旁置金手指電連接時(shí)，將測(cè)試電路板朝向樣本面板的第一側(cè)與樣本面板發(fā)生相對(duì)移動(dòng)。
[0019]優(yōu)選地，步驟S2包括:
[0020]S2a、提供與所述待檢測(cè)顯示面板相對(duì)應(yīng)的襯底基板；
[0021]S2b、在所述襯底基板上形成與每個(gè)第一樣本金手指相對(duì)應(yīng)的第二樣本金手指；
[0022]S2c、在每個(gè)第二樣本金手指的兩側(cè)分別形成至少一個(gè)旁置金手指。
[0023]優(yōu)選地，每個(gè)第二樣本金手指與其相鄰的旁置金手指之間的距離等于所述待測(cè)試顯示面板中相鄰兩個(gè)第二金手指之間的距離。
[0024]優(yōu)選地，步驟S2還包括:形成與每個(gè)第二樣本金手指電連接的樣本測(cè)試部以及與每個(gè)旁置金手指電連接的旁置測(cè)試部。
[0025]相應(yīng)地，本發(fā)明還提供一種測(cè)試電路板，用于對(duì)待測(cè)試顯示面板進(jìn)行測(cè)試，所述測(cè)試電路板包括第一金手指設(shè)置區(qū)，該第一金手指設(shè)置區(qū)內(nèi)設(shè)置有多個(gè)第一金手指，所述測(cè)試電路板還包括位于所述第一金手指設(shè)置區(qū)外側(cè)的至少一個(gè)第一樣本金手指。
[0026]優(yōu)選地，所述測(cè)試電路板包括電連接的兩個(gè)第一樣本金手指，該兩個(gè)第一樣本金手指分別設(shè)置在所述第一金手指設(shè)置區(qū)的兩側(cè)。
[0027]優(yōu)選地，每個(gè)第一樣本金手指與其相鄰的第一金手指之間的距離等于相鄰兩個(gè)第一金手指之間的距離。
[0028]相應(yīng)地，本發(fā)明還提供一種樣本面板，用于在測(cè)試電路板對(duì)待測(cè)試顯示面板進(jìn)行測(cè)試之前確定待測(cè)試顯示面板的位置，其中，所述測(cè)試電路板為本發(fā)明提供的上述測(cè)試電路板，所述待測(cè)試顯示面板包括與多個(gè)第一金手指一一對(duì)應(yīng)的多個(gè)第二金手指，所述樣本面板包括第二金手指設(shè)置區(qū)，所述樣本面板還包括與所述測(cè)試電路板上的每個(gè)第一樣本金手指對(duì)應(yīng)的第二樣本金手指，并使得當(dāng)每個(gè)第一樣本金手指與相應(yīng)的第二樣本金手指對(duì)齊時(shí)，多個(gè)所述第一金手指與所述第二金手指設(shè)置區(qū)內(nèi)對(duì)應(yīng)于多個(gè)第二金手指的位置一一對(duì)齊。
[0029]優(yōu)選地，每個(gè)第二樣本金手指的兩側(cè)分別設(shè)置有至少一個(gè)旁置金手指。
[0030]優(yōu)選地，每個(gè)第二樣本金手指與其相鄰的旁置金手指之間的距離等于所述待測(cè)試顯示面板中相鄰兩個(gè)第二金手指之間的距離。
[0031]優(yōu)選地，所述樣本面板還包括與每個(gè)第二樣本金手指電連接的樣本測(cè)試部以及與每個(gè)旁置金手指電連接的旁置測(cè)試部。
[0032]相應(yīng)地，本發(fā)明還提供一種位置校準(zhǔn)裝置，用于在對(duì)待測(cè)試顯示面板進(jìn)行測(cè)試之前校準(zhǔn)測(cè)試電路板和/或待測(cè)試顯示面板的位置，所述位置校準(zhǔn)裝置包括本發(fā)明提供的上述測(cè)試電路板和上述樣本面板，所述待測(cè)試顯示面板包括與測(cè)試電路板上的多個(gè)第一金手指一一對(duì)應(yīng)的多個(gè)第二金手指，所述位置校準(zhǔn)裝置還包括:
[0033]檢測(cè)模塊，用于在測(cè)試電路板和所述樣本面板接觸時(shí)，檢測(cè)每個(gè)第一樣本金手指與其相應(yīng)的第二樣本金手指之間是否電連接，當(dāng)每個(gè)第一樣本金手指與其相應(yīng)的第二樣本金手指均電連接時(shí)，樣本面板的位置即為待測(cè)試顯示面板的位置。
[0034]優(yōu)選地，所述測(cè)試電路板包括電連接的兩個(gè)第一樣本金手指，該兩個(gè)第一樣本金手指分別設(shè)置在所述第一金手指設(shè)置區(qū)的兩側(cè)，所述檢測(cè)模塊包括兩個(gè)連接端，該兩個(gè)連接端能夠分別與兩個(gè)第二樣本金手指相連，以使得所述檢測(cè)模塊檢測(cè)兩個(gè)第二樣本金手指和兩個(gè)第一樣本金手指是否形成導(dǎo)電通路。
[0035]優(yōu)選地，所述檢測(cè)模塊包括萬(wàn)用表，用于檢測(cè)兩個(gè)第二樣本金手指之間的電阻，所述萬(wàn)用表的兩個(gè)表筆形成為所述檢測(cè)模塊的兩個(gè)連接端。
[0036]優(yōu)選地，每個(gè)第二樣本金手指的兩側(cè)分別設(shè)置有至少一個(gè)旁置金手指，當(dāng)任意一個(gè)第一樣本金手指與相應(yīng)的第二樣本金手指斷開時(shí)，所述檢測(cè)模塊能夠檢測(cè)與該第一樣本金手指電連接的旁置金手指的位置。
[0037]優(yōu)選地，所述樣本面板還包括與每個(gè)第二樣本金手指電連接的樣本測(cè)試部，以及與每個(gè)旁置金手指電連接的旁置測(cè)試部。<