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位置校準方法、測試電路板、樣本面板和位置校準裝置的制造方法_2

文檔序號:8944112閱讀:來源:國知局
br>[0038]優(yōu)選地,所述位置校準裝置還包括固定臺、壓頭、第一固定件和第二固定件,所述第一固定件用于將所述測試電路板固定在所述壓頭上,所述第二固定件用于將所述樣本面板或所述待測試顯示面板固定在所述固定臺上,所述壓頭能夠朝向靠近或遠離所述固定臺的方向移動。
[0039]優(yōu)選地,所述第一固定件包括多個第一固定柱,所述第一固定柱包括直立部和設置在直立部頂端的壓持部,所述壓頭上設置有固定孔,所述測試電路板上設置有通孔,所述直立部的底端能夠穿過所述通孔并固定在所述固定孔中,所述通孔的直徑大于所述固定孔的直徑并小于所述壓持部的直徑。
[0040]優(yōu)選地,所述第二固定件包括設置在所述固定臺上的多個第二固定柱,所述樣本面板和所述待測試顯示面板均能夠固定在所述多個第二固定柱所限定的區(qū)域內(nèi)。
[0041]在本發(fā)明中,當測試電路板與樣本面板接觸時,只要保證每個第一樣本金手指和相應的第二樣本金手指電連接即可確定待測試顯示面板的位置,當任意一個樣本金手指與相應的第二樣本金手指斷開時,需要調(diào)節(jié)測試電路板和/或樣本面板的位置,直至每個第一樣本金手指均與相應的第二樣本金手指導通,在后序測試時,只要將待測試顯示面板放置在樣本面板的位置,即可保證測試電路板上的金手指與待測試顯示面板上的金手指一一對齊,從而快速準確地校準測試電路板和待測試顯示面板的位置,防止在測試過程中測試電路板和待測試顯示面板上的金手指出現(xiàn)錯位等情況,進而提高檢測的效率和檢測效果。
【附圖說明】
[0042]附圖是用來提供對本發(fā)明的進一步理解,并且構成說明書的一部分,與下面的【具體實施方式】一起用于解釋本發(fā)明,但并不構成對本發(fā)明的限制。在附圖中:
[0043]圖1是現(xiàn)有技術中對待測試顯示面板進行檢測時,測試電路板與待測試顯示面板的標準位置關系示意圖;
[0044]圖2是本發(fā)明的實施例中測試電路板的結構示意圖;
[0045]圖3是本發(fā)明的實施例中樣本面板的結構示意圖;
[0046]圖4是本發(fā)明的實施例中測試電路板和樣本面板接觸時的示意圖;
[0047]圖5是本發(fā)明的實施例中壓頭和固定臺的側視圖;
[0048]圖6是測試電路板設置在壓頭上的仰視圖;
[0049]圖7是樣本面板設置在固定臺上的俯視圖。
[0050]其中,附圖標記為:10、現(xiàn)有技術中的測試電路板;11、第一金手指;20、待測試顯示面板;21、第二金手指;30、本發(fā)明中的測試電路板;A1、第一金手指設置區(qū);31、第一樣本金手指;34、導電圖形;40、樣本面板;A2、第二金手指設置區(qū);41、第二樣本金手指;42、旁置金手指;43、樣本測試部;44、旁置測試部;51、固定臺;52、壓頭;61、第一固定柱;62、第二固定柱。
【具體實施方式】
[0051]以下結合附圖對本發(fā)明的【具體實施方式】進行詳細說明。應當理解的是,此處所描述的【具體實施方式】僅用于說明和解釋本發(fā)明,并不用于限制本發(fā)明。
[0052]作為本發(fā)明的一方面,提供一種位置校準方法,用于在對待測試顯示面板進行測試之前校準測試電路板和/或待測試顯示面板的位置,如圖1所示,測試電路板10包括第一金手指設置區(qū)(圖1中的虛線框Al),該第一金手指設置區(qū)內(nèi)設置有多個第一金手指11,待測試顯示面板20包括與多個第一金手指11 一一對應的多個第二金手指21,所述校準方法包括:
[0053]S1、提供測試電路板,并在所述測試電路板的第一金手指設置區(qū)外側形成至少一個第一樣本金手指,如圖2所示;
[0054]S2、制作樣本面板40,如圖3所示,樣本面板40包括第二金手指設置區(qū)A2,所述樣本面板還包括與每個第一樣本金手指31對應的第二樣本金手指41,并使得當每個第一樣本金手指31與相應的第二樣本金手指41對齊時,多個第一金手指與所述第二金手指設置區(qū)內(nèi)對應于多個第二金手指的位置一一對齊;
[0055]S3、將測試電路板30與樣本面板40相接觸,如圖4所示;
[0056]S4、檢測每個第一樣本金手指31與其相應的第二樣本金手指41之間是否電連接,當檢測到任意一個第一樣本金手指31與其相應的第二樣本金手指41之間斷開(沒有點連接)時,調(diào)節(jié)測試電路板30和/或所述樣本面板的位置,直至每個第一樣本金手指與其相應的第二樣本金手指均電連接,此時,樣本面板40的位置即為待測試顯示面板的位置。
[0057]應當理解的是,所述樣本面板和所述待測試顯示面板是相對應的,S卩,二者的大小、形狀均相同,第二金手指設置區(qū)A2內(nèi)具有多個設置位置(如圖3中所示的虛線塊),多個第二金手指在待測試顯示面板上的位置與所述多個設置位置是一一對應的。但是,樣本面板只用于確定待測試顯示面板的位置,在所述第二金手指設置區(qū)內(nèi),可以不設置第二金手指。只要每個第一樣本金手指31和相應的第二樣本金手指41相接觸時,多個第一金手指11和樣本面板40上對應于第二金手指的位置一一對齊即可。
[0058]由于測試電路板30上設置有第一樣本金手指31,樣本面板40上設置有第二樣本金手指41,并且第一樣本金手指31和相應的第二樣本金手指41相接觸時,所述測試電路板上的第一金手指11和樣本面板上對應于第一金手指的位置一一對齊。因此,在所述位置校正方法中,當測試電路板與樣本面板接觸時,只要保證每個第一樣本金手指和相應的第二樣本金手指電連接即可確定待測試顯示面板的位置。當任意一個樣本金手指與相應的第二樣本金手指斷開時,需要調(diào)節(jié)測試電路板和/或樣本面板的位置,直至每個第一樣本金手指均與相應的第二樣本金手指導通,在后序測試時,只要將待測試顯示面板放置在樣本面板的位置,即可保證測試電路板上的金手指與待測試顯示面板上的金手指一一對齊,從而快速準確地校準測試電路板和待測試顯示面板的位置,防止在測試過程中測試電路板和待測試顯示面板上的金手指出現(xiàn)錯位等情況,進而提高檢測的效率和檢測效果。
[0059]在實際生產(chǎn)中,同一生產(chǎn)批次中的多個顯示面板的規(guī)格相同,可以利用同一個測試電路板對多個待測試顯示面板進行測試,每個待測試顯示面板的位置與所述樣本面板的位置相同。
[0060]作為本發(fā)明的一種【具體實施方式】,如圖2所示,步驟SI包括在第一金手指設置區(qū)Al的兩側各形成一個第一樣本金手指31,并使得兩個第一樣本金手指31電連接,具體地,可以在形成兩個第一樣本金手指31的同時,形成連接兩個第一樣本金手指的導電圖形34。
[0061]步驟S4包括:
[0062]S4a、當兩個第二樣本金手指電連接時,檢測兩個第二樣本金手指和兩個第一樣本金手指是否形成導電通路;
[0063]S4b、當兩個第二樣本金手指和兩個第一樣本金手指沒有形成導電通路時,調(diào)節(jié)測試電路板和/或所述樣本面板的位置,直至兩個第二樣本金手指和兩個第一樣本金手指形成導電通路。
[0064]當測試電路板和樣本面板接觸并且兩個第二樣本金手指和兩個第一樣本金手指形成導電通路時,表明測試電路板上對應于第一金手指的位置與樣本面板上對應于第二金手指的位置也是一一對齊的,不需要設置過多的第一樣本金手指或第二樣本金手指。
[0065]兩個第二樣本金手指和兩個第一樣本金手指形成導電通路是指,兩個第二樣本金手指和兩個第一樣本金手指依次電連接。也就是說,當兩個第二樣本金手指分別接在電源的兩端時,兩個第二樣本金手指之間會有電流通過。
[0066]本發(fā)明對步驟S4a的具體過程不作具體限定,例如,在兩個第二樣本金手指之間加上電源、電阻和電流表(或指示燈),當電流表檢測到有電流通過時(或指示燈發(fā)亮時),表明第一樣本金手指和第二樣本金手指形成導電通路。作為本發(fā)明的一種優(yōu)選實施方式,可以通過檢測電阻的方法來判斷兩個第二樣本金手指和兩個第一樣本金手指之間是
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