技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開(kāi)了一種顯示用測(cè)試系統(tǒng)及其測(cè)試方法，通過(guò)在待測(cè)試顯示面板第一測(cè)試引腳區(qū)域內(nèi)設(shè)置第一測(cè)試引腳，以及在測(cè)試線路板的第二測(cè)試引腳區(qū)域內(nèi)設(shè)置與第一測(cè)試引腳一一對(duì)應(yīng)的第二測(cè)試引腳，并對(duì)各第一測(cè)試引腳和各第二測(cè)試引腳進(jìn)行相應(yīng)地設(shè)計(jì)，使得該顯示用測(cè)試系統(tǒng)可以通過(guò)簡(jiǎn)單的信號(hào)檢測(cè)，即可確定第一測(cè)試引腳區(qū)域內(nèi)的各第一連接引腳與第二測(cè)試引腳區(qū)域內(nèi)的各第二連接引腳的位置是否連接準(zhǔn)確，可以大大簡(jiǎn)化檢測(cè)兩個(gè)測(cè)試引腳區(qū)域內(nèi)的各連接引腳的位置是否連接準(zhǔn)確的過(guò)程；與現(xiàn)有的顯微鏡觀察法相比，大大提高了檢測(cè)效率，提高了VT測(cè)試的效率，并大大降低了因VT測(cè)試對(duì)顯示面板造成損壞的幾率。

技術(shù)研發(fā)人員：李軍;王桂才;項(xiàng)振;孫慧洋
受保護(hù)的技術(shù)使用者：上海天馬微電子有限公司
技術(shù)研發(fā)日：2017.06.26
技術(shù)公布日：2017.08.29