本申請(qǐng)要求于2016年3月15日在韓國(guó)知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的第10-2016-0030903號(hào)韓國(guó)專利申請(qǐng)的優(yōu)先權(quán)和權(quán)益，該申請(qǐng)的全部?jī)?nèi)容通過(guò)引用包含于此。

本公開涉及顯示裝置。

背景技術(shù)：

便攜式電子裝置(諸如移動(dòng)電話、導(dǎo)航裝置、數(shù)碼相機(jī)、電子書、便攜式游戲機(jī)或者各種類型的終端)使用液晶顯示器(lcd)或有機(jī)發(fā)光二極管(oled)顯示器。在便攜式電子裝置中使用的顯示裝置已被開發(fā)為具有柔性的形態(tài)以改善顯示裝置的便攜性。

柔性顯示裝置可以通過(guò)制造平板類型的顯示裝置(平板顯示裝置)然后使之彎曲來(lái)實(shí)現(xiàn)。在這種情況下，在彎曲平板顯示器的同時(shí)，基底可能因此而破裂。當(dāng)在基底上出現(xiàn)小尺寸的裂紋(小尺寸裂紋)時(shí)，其可能不會(huì)被盡早檢測(cè)出來(lái)，可能不會(huì)極大地影響顯示裝置的操作。小尺寸的裂紋會(huì)隨著時(shí)間的推移而增大，因此潮氣會(huì)通過(guò)發(fā)生裂紋的部分滲入顯示裝置內(nèi)部。當(dāng)潮氣滲入顯示裝置內(nèi)部時(shí)，其可靠性會(huì)降低從而影響顯示裝置的操作。

該背景技術(shù)部分中公開的以上信息僅用于增強(qiáng)對(duì)所描述的技術(shù)的背景的理解，因此以上信息可能包含不形成本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在本國(guó)已知的現(xiàn)有技術(shù)的信息。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

所描述的技術(shù)致力于提供一種能夠感測(cè)在顯示裝置中是否發(fā)生了裂紋的顯示裝置。

示例性實(shí)施例提供了一種顯示裝置，所述顯示裝置包括：基底，包括顯示區(qū)域和非顯示區(qū)域；膜上芯片(cof)封裝件，與基底的非顯示區(qū)域疊置；印刷電路板(pcb)，與cof封裝件疊置；多個(gè)像素，設(shè)置在基底的顯示區(qū)域上；多條數(shù)據(jù)線，連接到多個(gè)像素；第一裂紋感測(cè)線，設(shè)置在基底的非顯示區(qū)域上；第二裂紋感測(cè)線，在基底的非顯示區(qū)域上與第一裂紋感測(cè)線平行地延伸，并且連接到多條數(shù)據(jù)線的第一數(shù)據(jù)線；第一虛設(shè)布線，設(shè)置在cof封裝件上并且與第一裂紋感測(cè)線和第二裂紋感測(cè)線疊置；第一各向異性導(dǎo)電膜，設(shè)置在基底與cof封裝件之間；第一測(cè)試圖案和第二測(cè)試圖案，設(shè)置在pcb上；第三測(cè)試圖案，設(shè)置在cof封裝件上并且與第一測(cè)試圖案和第二測(cè)試圖案疊置；第二各向異性導(dǎo)電膜，設(shè)置在cof封裝件與pcb之間。

在平面圖中，第一測(cè)試圖案、第二測(cè)試圖案和第三測(cè)試圖案可以設(shè)置在cof封裝件與pcb的疊置部分的中心處。

第一測(cè)試圖案和第三測(cè)試圖案可以被構(gòu)造為通過(guò)第二各向異性導(dǎo)電膜連接，第二測(cè)試圖案和第三測(cè)試圖案可以被構(gòu)造為通過(guò)第二各向異性導(dǎo)電膜連接。

第一裂紋感測(cè)線和第一虛設(shè)布線可以被構(gòu)造為通過(guò)第一各向異性導(dǎo)電膜連接，第二裂紋感測(cè)線和第一虛設(shè)布線可以被構(gòu)造為通過(guò)第一各向異性導(dǎo)電膜連接。

顯示裝置還可以包括：第一測(cè)試柵極線和第一測(cè)試信號(hào)線，設(shè)置在基底的非顯示區(qū)域中；第一開關(guān)元件，連接到第一測(cè)試柵極線、第一測(cè)試信號(hào)線和多條數(shù)據(jù)線。

顯示裝置還可以包括：第二測(cè)試柵極線和第二測(cè)試信號(hào)線，設(shè)置在基底的非顯示區(qū)域中；第二開關(guān)元件，連接到第二測(cè)試柵極線、第二測(cè)試信號(hào)線和多條數(shù)據(jù)線。

第一裂紋感測(cè)線的第一端部可以連接到第二測(cè)試信號(hào)線；第一裂紋感測(cè)線的第二端部可以與第一虛設(shè)布線疊置。

第二裂紋感測(cè)線的第一端部可以通過(guò)第二開關(guān)元件連接到第一數(shù)據(jù)線；第二裂紋感測(cè)線的第二端部可以與第一虛設(shè)布線疊置。

當(dāng)向第一測(cè)試柵極線施加?xùn)艠O導(dǎo)通電壓時(shí)，多條數(shù)據(jù)線可以從第一測(cè)試信號(hào)線接收第一電壓，當(dāng)向第二測(cè)試柵極線施加?xùn)艠O導(dǎo)通電壓時(shí)，多條數(shù)據(jù)線可以從第二測(cè)試信號(hào)線接收第二電壓。

在第一時(shí)間期間向第一測(cè)試柵極線施加?xùn)艠O導(dǎo)通電壓之后，可以在第二時(shí)間期間向第二測(cè)試柵極線施加?xùn)艠O導(dǎo)通電壓。

第一電壓和第二電壓可以是不同的。

第一電壓可以是用于顯示最高灰階的電壓，第二電壓可以是用于顯示最低灰階的電壓。

第一裂紋感測(cè)線和第二裂紋感測(cè)線可以設(shè)置在基底的上邊緣、左邊緣和下邊緣處。

顯示裝置還可以包括：第三裂紋感測(cè)線，設(shè)置在基底的非顯示區(qū)域上；第四裂紋感測(cè)線，在基底的非顯示區(qū)域上與第三裂紋感測(cè)線平行延伸并且連接到多條數(shù)據(jù)線的第二數(shù)據(jù)線；第二虛設(shè)布線，設(shè)置在cof封裝件上并且與第三裂紋感測(cè)線和第四裂紋感測(cè)線疊置。

第三裂紋感測(cè)線和第四裂紋感測(cè)線可以設(shè)置在基底的上邊緣、右邊緣和下邊緣處。

第三裂紋感測(cè)線和第二虛設(shè)布線可以被第一各向異性導(dǎo)電膜連接，第四裂紋感測(cè)線和第二虛設(shè)布線可以被第一各向異性導(dǎo)電膜連接。

顯示裝置還可以包括：第一測(cè)試柵極線和第一測(cè)試信號(hào)線，設(shè)置在基底的非顯示區(qū)域中；第一開關(guān)元件，連接到第一測(cè)試柵極線、第一測(cè)試信號(hào)線和多條數(shù)據(jù)線。

顯示裝置還可以包括：第二測(cè)試柵極線和第二測(cè)試信號(hào)線，設(shè)置在基底的非顯示區(qū)域中；第二開關(guān)元件，連接到第二測(cè)試柵極線、第二測(cè)試信號(hào)線和多條數(shù)據(jù)線。

第三裂紋感測(cè)線的第一端部可以連接到第二測(cè)試信號(hào)線；第三裂紋感測(cè)線的第二端部可以與第二虛設(shè)布線疊置，

第四裂紋感測(cè)線的第一端部可以通過(guò)第二開關(guān)元件連接到第二數(shù)據(jù)線；第四裂紋感測(cè)線的第二端部可以與第二虛設(shè)布線疊置。

根據(jù)實(shí)施例，通過(guò)感測(cè)在顯示裝置中是否發(fā)生裂紋，能夠防止顯示裝置因?yàn)榱鸭y而產(chǎn)生的缺陷。

附圖說(shuō)明

圖1示出根據(jù)示例性實(shí)施例的顯示裝置的俯視圖。

圖2示出根據(jù)示例性實(shí)施例的顯示裝置的基底和膜上芯片(cof)封裝件的俯視圖。

圖3示出圖2的部分p1的放大俯視圖。

圖4示出沿圖3的線iv-iv截取的剖視圖。

圖5示出施加到根據(jù)示例性實(shí)施例的顯示裝置的信號(hào)的波形圖。

圖6示出根據(jù)示例性實(shí)施例的顯示裝置的cof封裝件和印刷電路板(pcb)的俯視圖。

圖7示出圖6的部分p2的放大俯視圖。

圖8示出沿圖7的線viii-viii截取的剖視圖。

圖9示出根據(jù)參考示例的顯示裝置的俯視圖。

具體實(shí)施方式

在下文中，將參照附圖更詳細(xì)地描述示例實(shí)施例。然而，本公開可以以各種不同的形式實(shí)施，并且不應(yīng)該被解釋為僅限于在此示出的實(shí)施例。相反地，提供這些實(shí)施例作為示例，使得本公開將是徹底的和完整的，并將向本領(lǐng)域技術(shù)人員充分地傳達(dá)本公開的方面和特征。因此，可以不描述對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員完全理解本公開的方面和特征不必要的工藝、元件和技術(shù)。除非另外指出，否則同樣的附圖標(biāo)記在附圖和書面描述中始終表示同樣的元件，因此，可以不重復(fù)對(duì)其的描述。

此外，在附圖中，為了便于描述，每個(gè)元件的尺寸和厚度是任意示出的，本公開不必受限于在附圖中示出的元件的尺寸和厚度。在附圖中，為清晰起見，夸大了層、膜、面板、區(qū)域等的厚度。在附圖中，為了便與描述，夸大了一些層或區(qū)域的厚度。

將理解的是，當(dāng)諸如層、膜、區(qū)域或基板的元件被稱為“在”另一元件“上”時(shí)，該元件可以直接在另一元件之上或者也可存在中間元件。相比之下，當(dāng)元件被稱作“直接在”另一元件“上”時(shí)，不存在中間元件。此外，在說(shuō)明書中，詞語(yǔ)“在……上”或“在……上面”指放置在物體部分上或在物體部分下，但不必指基于重力方向放置在物體部分的上側(cè)上。

此外，除非明確地相反地描述，否則詞語(yǔ)“包括”及其變型形式將被理解為意味著包含所述元件，但不排除任何其它元件。

另外，在整個(gè)說(shuō)明書中，短語(yǔ)“在平面上”指從頂部觀察目標(biāo)部分，短語(yǔ)“在橫截面上”指從側(cè)面觀察通過(guò)豎直切割目標(biāo)部分而形成的橫截面。

現(xiàn)將參照?qǐng)D1描述根據(jù)示例性實(shí)施例的顯示裝置。

圖1示出根據(jù)示例性實(shí)施例的顯示裝置的俯視圖。

如圖1所示，根據(jù)示例性實(shí)施例的顯示裝置包括基底110。

基底110可以由諸如玻璃、聚合物的絕緣材料和/或不銹鋼制成。基底110可以是柔性的、可伸縮、可折疊、可彎曲和/或可卷曲的。由于基底110是柔性的、可伸縮、可折疊、可彎曲和/或可卷曲的，所以整個(gè)顯示裝置可以是柔性的、可伸縮、可折疊、可彎曲和/或可卷曲的。例如，基底110可以包括由諸如聚酰亞胺等樹脂制成的柔性膜。

基底110包括顯示區(qū)域(da)和非顯示區(qū)域(nda)，所述顯示區(qū)域(da)用于顯示圖像，在所述非顯示區(qū)域(nda)中設(shè)置(布置)用于傳輸驅(qū)動(dòng)顯示區(qū)域(da)的信號(hào)的驅(qū)動(dòng)器。非顯示區(qū)域(nda)設(shè)置在顯示區(qū)域(da)的邊緣處。在圖1中，示出了非顯示區(qū)域(nda)圍繞顯示區(qū)域(da)，但本公開不限于此。非顯示區(qū)域(nda)可以分別設(shè)置在顯示區(qū)域(da)的相對(duì)邊緣處，非顯示區(qū)域(nda)可以分別設(shè)置在顯示區(qū)域(da)的左邊緣和下邊緣處。

多個(gè)像素設(shè)置(布置)在基底110的顯示區(qū)域(da)上。一個(gè)像素是用于顯示圖像的最小單元。

膜上芯片(“cof”)封裝件400附著到基底110的一個(gè)邊緣。在圖1中，示出了cof封裝件400附著到基底110的下邊緣，但是本公開不限于此，cof封裝件400可以附著到基底110的另一邊緣。cof封裝件400與基底110的非顯示區(qū)域(nda)疊置。

數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)器(dd)設(shè)置在cof封裝件400中。數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)器(dd)可以將數(shù)據(jù)信號(hào)發(fā)送到基底110的顯示區(qū)域(da)以驅(qū)動(dòng)多個(gè)像素。

cof封裝件400的一個(gè)邊緣附著到基底110，其另一邊緣附著到pcb500。在圖1中，示出了cof封裝件400附著到pcb500的上邊緣，但是本公開不限于此，cof封裝件400可以附著到pcb500的另一邊緣。cof封裝件400與pcb500疊置。

pcb500生成用于驅(qū)動(dòng)多個(gè)像素的各種信號(hào)以將它們發(fā)送到基底110的顯示區(qū)域(da)。例如，時(shí)序控制器可以設(shè)置在pcb500上，時(shí)序控制器生成用于驅(qū)動(dòng)多個(gè)像素的驅(qū)動(dòng)信號(hào)。

在下文中，將參照?qǐng)D2至圖5描述根據(jù)示例性實(shí)施例的顯示裝置的基底和cof封裝件以及它們之間的連接關(guān)系。

圖2示出根據(jù)示例性實(shí)施例的顯示裝置的基底和cof封裝件的俯視圖，圖3示出圖2的部分p1的放大俯視圖。圖4示出沿圖3的線iv-iv截取的剖視圖，圖5示出施加到根據(jù)示例性實(shí)施例的顯示裝置的信號(hào)的波形圖。

根據(jù)示例性實(shí)施例的顯示裝置包括設(shè)置在基底110上的多個(gè)像素(r、g和b)以及連接到多個(gè)像素(r、g和b)的柵極線(g1、g2、……、gn-1和gn)和數(shù)據(jù)線(d1、d2、d3、d4、d5、d6、……、dm-5、dm-4、dm-3、dm-2、dm-1和dm)。

多個(gè)像素(r、g和b)設(shè)置在基底110的顯示區(qū)域(da)中，并且設(shè)置為具有沿行方向和列方向的矩陣形式。

柵極線(g1、g2、……、gn-1和gn)沿行方向延伸，同時(shí)彼此分隔開設(shè)定或預(yù)定距離。在行方向上彼此鄰近的多個(gè)像素(r、g和b)連接到同一條柵極線(g1、g2、……、gn-1和gn)。

連接到柵極線(g1、g2、……、gn-1和gn)的柵極驅(qū)動(dòng)器(gd)設(shè)置在基底110的非顯示區(qū)域(nda)上。柵極驅(qū)動(dòng)器(gd)將包括柵極導(dǎo)通電壓和柵極截止電壓的柵極信號(hào)發(fā)送到對(duì)應(yīng)的柵極線(g1、g2、……、gn-1和gn)。

數(shù)據(jù)線(d1、d2、d3、d4、d5、d6、……、dm-5、dm-4、dm-3、dm-2、dm-1和dm)沿列方向延伸，同時(shí)彼此分隔開設(shè)定或預(yù)定距離。在一個(gè)實(shí)施例中，數(shù)據(jù)線(d1、d2、d3、d4、d5、d6、……、dm-5、dm-4、dm-3、dm-2、dm-1和dm)連接到數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)器(dd)。數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)器(dd)將數(shù)據(jù)信號(hào)發(fā)送到對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線(d1、d2、d3、d4、d5、d6、……、dm-5、dm-4、dm-3、dm-2、dm-1和dm)。在列方向上彼此鄰近的多個(gè)像素(r、g和b)連接到同一條數(shù)據(jù)線(d1、d2、d3、d4、d5、d6、……、dm-5、dm-4、dm-3、dm-2、dm-1和dm)。數(shù)據(jù)線(d1、d2、d3、d4、d5、d6、……、dm-5、dm-4、dm-3、dm-2、dm-1和dm)可以將數(shù)據(jù)信號(hào)發(fā)送到對(duì)應(yīng)的像素以顯示設(shè)定或預(yù)定的亮度。

在一個(gè)實(shí)施例中，像素(r、g和b)中的每個(gè)通過(guò)薄膜晶體管連接到對(duì)應(yīng)的柵極線(g1、g2、……、gn-1和gn)和對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線(d1、d2、d3、d4、d5、d6、……、dm-5、dm-4、dm-3、dm-2、dm-1和dm)。當(dāng)將柵極導(dǎo)通電壓施加到柵極線(g1、g2、……、gn-1和gn)時(shí)，薄膜晶體管被導(dǎo)通，因此數(shù)據(jù)信號(hào)通過(guò)數(shù)據(jù)線(d1、d2、d3、d4、d5、d6、……、dm-5、dm-4、dm-3、dm-2、dm-1和dm)被施加到每個(gè)像素。

第一測(cè)試柵極線tg1、第二測(cè)試柵極線tg2、第一測(cè)試信號(hào)線td1、多條第二測(cè)試信號(hào)線(td2a、td2b和td2c)設(shè)置(布置)在基底110的非顯示區(qū)域(nda)中。

第一測(cè)試柵極線tg1和第一測(cè)試信號(hào)線td1可以設(shè)置為沿行方向彼此平行。在圖2中，示出了第一測(cè)試柵極線tg1和第一測(cè)試信號(hào)線td1設(shè)置在基底110的下邊緣處，但是本公開不限于此，第一測(cè)試柵極線tg1和第一測(cè)試信號(hào)線td1可以設(shè)置在各種合適的位置處。

第二測(cè)試柵極線tg2和第二測(cè)試信號(hào)線(td2a、td2b和td2c)可以設(shè)置為沿行方向彼此平行。在圖2中，示出了第二測(cè)試柵極線tg2和第二測(cè)試信號(hào)線(td2a、td2b和td2c)設(shè)置在基底110的上邊緣處，但是本公開不限于此，第二測(cè)試柵極線tg2和第二測(cè)試信號(hào)線(td2a、td2b和td2c)可以設(shè)置在各種合適的位置處。

此外，連接到第一測(cè)試柵極線tg1、第一測(cè)試信號(hào)線td1和數(shù)據(jù)線(d1、d2、d3、d4、d5、d6、……、dm-5、dm-4、dm-3、dm-2、dm-1和dm)的第一開關(guān)元件q1設(shè)置在基底110的非顯示區(qū)域(nda)中。第一開關(guān)元件q1可以包括多個(gè)開關(guān)元件。第一開關(guān)元件q1中的每個(gè)開關(guān)元件可以連接到多條數(shù)據(jù)線(d1、d2、d3、d4、d5、d6、……、dm-5、dm-4、dm-3、dm-2、dm-1和dm)中的六條。

連接到第二測(cè)試柵極線tg2、第二測(cè)試信號(hào)線(td2a、td2b和td2c)和數(shù)據(jù)線(d1、d2、d3、d4、d5、d6、……、dm-5、dm-4、dm-3、dm-2、dm-1和dm)的第二開關(guān)元件q2設(shè)置在基底110的非顯示區(qū)域(nda)中。三條第二測(cè)試信號(hào)線(td2a、td2b和td2c)和第二開關(guān)元件q2可以設(shè)置在基底110上。第二開關(guān)元件q2可以包括多個(gè)開關(guān)元件。第二開關(guān)元件q2中的開關(guān)元件的數(shù)量可以與數(shù)據(jù)線(d1、d2、d3、d4、d5、d6、……、dm-5、dm-4、dm-3、dm-2、dm-1和dm)的數(shù)量對(duì)應(yīng)。第二開關(guān)元件q2中的每個(gè)開關(guān)元件連接到多條數(shù)據(jù)線(d1、d2、d3、d4、d5、d6、……、dm-5、dm-4、dm-3、dm-2、dm-1和dm)中的一條。第二開關(guān)元件q2中的鄰近的開關(guān)元件可以連接到不同的第二測(cè)試信號(hào)線(td2a、td2b和td2c)。

第一裂紋感測(cè)線cd1、第二裂紋感測(cè)線cd2、第三裂紋感測(cè)線cd3和第四裂紋感測(cè)線cd4設(shè)置(布置)在基底110的非顯示區(qū)域(nda)中。第一裂紋感測(cè)線cd1、第二裂紋感測(cè)線cd2、第三裂紋感測(cè)線cd3和第四裂紋感測(cè)線cd4可以與在基底110的顯示區(qū)域(da)上設(shè)置的金屬層設(shè)置在同一層上。例如，第一裂紋感測(cè)線cd1、第二裂紋感測(cè)線cd2、第三裂紋感測(cè)線cd3和第四裂紋感測(cè)線cd4可以與柵極線(g1、g2、……、gn-1和gn)或數(shù)據(jù)線(d1、d2、d3、d4、d5、d6、……、dm-5、dm-4、dm-3、dm-2、dm-1和dm)設(shè)置在同一層上。

第一裂紋感測(cè)線cd1和第二裂紋感測(cè)線cd2可以設(shè)置為部分地圍繞多個(gè)像素(r、g和b)的上側(cè)和下側(cè)以及完全地圍繞多個(gè)像素(r、g和b)的左側(cè)。即，第一裂紋感測(cè)線cd1和第二裂紋感測(cè)線cd2可以設(shè)置在基底110的上邊緣、左邊緣和下邊緣處。第一裂紋感測(cè)線cd1和第二裂紋感測(cè)線cd2可以彼此平行地延伸。

第一裂紋感測(cè)線cd1的第一端部可以連接到第二測(cè)試信號(hào)線(td2a、td2b和td2c)中的一條。第一裂紋感測(cè)線cd1的第二端部與cof封裝件400疊置。第二裂紋感測(cè)線cd2的第一端部通過(guò)第二開關(guān)元件q2連接到數(shù)據(jù)線(d1、d2、d3、d4、d5、d6、……、dm-5、dm-4、dm-3、dm-2、dm-1和dm)中的一條。例如，第二裂紋感測(cè)線cd2的第一端部可以連接到設(shè)置在基底110的左邊緣的第二列處的數(shù)據(jù)線d2(在下文中，稱為‘第一數(shù)據(jù)線’)。第二裂紋感測(cè)線cd2的第二端部與cof封裝件400疊置。

第三裂紋感測(cè)線cd3和第四裂紋感測(cè)線cd4可以設(shè)置為部分地圍繞多個(gè)像素(r、g和b)的上側(cè)和下側(cè)以及完全地圍繞多個(gè)像素(r、g和b)的右側(cè)。即，第三裂紋感測(cè)線cd3和第四裂紋感測(cè)線cd4可以設(shè)置在基底110的上邊緣、右邊緣和下邊緣處。第三裂紋感測(cè)線cd3和第四裂紋感測(cè)線cd4可以彼此平行地延伸。

第三裂紋感測(cè)線cd3的第一端部可以連接到第二測(cè)試信號(hào)線(td2a、td2b和td2c)中的一條。第三裂紋感測(cè)線cd3的第二端部與cof封裝件400疊置。第四裂紋感測(cè)線cd4的第一端部通過(guò)第二開關(guān)元件q2連接到數(shù)據(jù)線(d1、d2、d3、d4、d5、d6、……、dm-5、dm-4、dm-3、dm-2、dm-1和dm)中的一條。例如，第四裂紋感測(cè)線cd4的第一端部可以連接到在基底110的右邊緣的第二列處設(shè)置的數(shù)據(jù)線dm-1(在下文中，稱為‘第二數(shù)據(jù)線’)。第四裂紋感測(cè)線cd4的第二端部與cof封裝件400疊置。

第一虛設(shè)布線410和第二虛設(shè)布線420設(shè)置在cof封裝件400上。第一虛設(shè)布線410和第二虛設(shè)布線420設(shè)置在cof封裝件400面對(duì)基底110的表面上。

第一虛設(shè)布線410與第一裂紋感測(cè)線cd1和第二裂紋感測(cè)線cd2疊置，第一虛設(shè)布線410面對(duì)第一裂紋感測(cè)線cd1和第二裂紋感測(cè)線cd2。

第二虛設(shè)布線420與第三裂紋感測(cè)線cd3和第四裂紋感測(cè)線cd4疊置，第二虛設(shè)布線420面對(duì)第三裂紋感測(cè)線cd3和第四裂紋感測(cè)線cd4。

第一各向異性導(dǎo)電膜600在基底110與cof封裝件400彼此疊置的部分處設(shè)置在基底110與cof封裝件400之間。第一各向異性導(dǎo)電膜600可以使基底110和cof封裝件400電學(xué)地且物理地連接。各向異性導(dǎo)電膜(acf)是用于結(jié)合電路的粘附膜，其僅允許電力沿一個(gè)方向通過(guò)并在其它方向上起到絕緣體的作用。即，各向異性導(dǎo)電膜在厚度方向上導(dǎo)電但在寬度方向上不導(dǎo)電。第一各向異性導(dǎo)電膜600包括熱固性粘合劑和布置在其中的多個(gè)第一導(dǎo)電顆粒610。當(dāng)在高溫狀態(tài)下向第一各向異性導(dǎo)電膜600施加壓力時(shí)，第一導(dǎo)電顆粒610與基底110和cof封裝件400接觸從而基底110和cof封裝件400可被電連接。此外，當(dāng)粘合劑固化時(shí)，基底110和cof封裝件400被物理連接。

如上所述，設(shè)置在基底110上的第一裂紋感測(cè)線cd1的第二端部和第二裂紋感測(cè)線cd2的第二端部與cof封裝件400疊置。具體地，第一裂紋感測(cè)線cd1的第二端部和第二裂紋感測(cè)線cd2的第二端部與設(shè)置在cof封裝件400上的第一虛設(shè)布線410疊置。因此，第一裂紋感測(cè)線cd1和第一虛設(shè)布線410通過(guò)第一各向異性導(dǎo)電膜600連接，第二裂紋感測(cè)線cd2與第一虛設(shè)布線410通過(guò)第一各向異性導(dǎo)電膜600連接。因此，第一裂紋感測(cè)線cd1和第二裂紋感測(cè)線cd2通過(guò)第一虛設(shè)布線410彼此連接。

在基底110上設(shè)置的第三裂紋感測(cè)線cd3的第二端部和第四裂紋感測(cè)線cd4的第二端部與cof封裝件400疊置。具體地，第三裂紋感測(cè)線cd3的第二端部和第四裂紋感測(cè)線cd4的第二端部與設(shè)置在cof封裝件400上的第二虛設(shè)布線420疊置。因此，第三裂紋感測(cè)線cd3和第二虛設(shè)布線420通過(guò)第一各向異性導(dǎo)電膜600連接，第四裂紋感測(cè)線cd4與第二虛設(shè)布線420通過(guò)第一各向異性導(dǎo)電膜600連接。因此，第三裂紋感測(cè)線cd3和第四裂紋感測(cè)線cd4通過(guò)第二虛設(shè)布線420彼此連接。

接下來(lái)，將描述當(dāng)將圖5的信號(hào)施加到根據(jù)示例性實(shí)施例的顯示裝置時(shí)所述顯示裝置的操作。

參照?qǐng)D5，當(dāng)在第一時(shí)間h1期間，向第一測(cè)試柵極線tg1施加?xùn)艠O導(dǎo)通信號(hào)時(shí)，第一開關(guān)元件q1被導(dǎo)通。通過(guò)第一開關(guān)元件q1向與第一開關(guān)元件q1連接的多條數(shù)據(jù)線(d1、d2、d3、d4、d5、d6、……、dm-5、dm-4、dm-3、dm-2、dm-1和dm)傳輸被施加到第一測(cè)試信號(hào)線td1的第一電壓v1。第一電壓v1可以是允許多個(gè)像素(r、g和b)顯示最高灰階的電壓。當(dāng)向多條數(shù)據(jù)線(d1、d2、d3、d4、d5、d6、……、dm-5、dm-4、dm-3、dm-2、dm-1和dm)施加第一電壓v1時(shí)，多個(gè)像素(r、g和b)的電壓vp1可以變成第一電壓v1以顯示白色。

在向第一測(cè)試柵極線tg1施加?xùn)艠O截止信號(hào)之后，當(dāng)在第二時(shí)間h2期間向第二測(cè)試柵極線tg2施加?xùn)艠O導(dǎo)通信號(hào)時(shí)，第二開關(guān)元件q2被導(dǎo)通。向多條數(shù)據(jù)線(d1、d2、d3、d4、d5、d6、……、dm-5、dm-4、dm-3、dm-2、dm-1和dm)傳輸被施加到第二測(cè)試信號(hào)線(td2a、td2b和td2c)的第二電壓v2。第二電壓v2可以是允許多個(gè)像素(r、g和b)顯示最低灰階的電壓。當(dāng)向多條數(shù)據(jù)線(d1、d2、d3、d4、d5、d6、……、dm-5、dm-4、dm-3、dm-2、dm-1和dm)施加第二電壓v2時(shí)，多個(gè)像素(r、g和b)的電壓vp1可以變成第二電壓v2以顯示黑色。

當(dāng)裂紋已經(jīng)在基底110的非顯示區(qū)域(nda)中產(chǎn)生時(shí)，第一裂紋感測(cè)線cd1、第二裂紋感測(cè)線cd2、第三裂紋感測(cè)線cd3和第四裂紋感測(cè)線cd4中的至少一條會(huì)被損壞。

第一裂紋感測(cè)線cd1通過(guò)第一虛設(shè)布線410和第二裂紋感測(cè)線cd2連接到第一數(shù)據(jù)線d2。第二裂紋感測(cè)線cd2連接到第一數(shù)據(jù)線d2。如果裂紋在基底110的非顯示區(qū)域(nda)中發(fā)生，那么第一裂紋感測(cè)線cd1或者第二裂紋感測(cè)線cd2會(huì)被損壞，第一數(shù)據(jù)線d2的電阻會(huì)增加。如果基底110和cof封裝件400被不適當(dāng)壓縮，那么第一裂紋感測(cè)線cd1與第一虛設(shè)布線410之間的連接狀態(tài)或者第二裂紋感測(cè)線cd2與第一虛設(shè)布線410之間的連接狀態(tài)會(huì)被損壞，第一數(shù)據(jù)線d2的電阻會(huì)增加。因此，連接到第一數(shù)據(jù)線d2的像素(g)的電壓vp2達(dá)不到第二電壓v2，像素(g)的電壓vp2和第二電壓v2之間存在電壓差(δv)。因?yàn)殡妷翰?δv)，所以連接到第一數(shù)據(jù)線d2的像素(g)不顯示最低灰階，而顯示比最低灰階高的灰階。因此，當(dāng)裂紋在基底110的非顯示區(qū)域(nda)中發(fā)生或者基底110和cof封裝件400被不適當(dāng)壓縮時(shí)，沿第一數(shù)據(jù)線d2會(huì)看到亮線。即，通過(guò)確定是否沿第一數(shù)據(jù)線d2看到亮線，可以感測(cè)裂紋在基底110的非顯示區(qū)域(nda)中發(fā)生或者基底110和cof封裝件400被不適當(dāng)壓縮。

第三裂紋感測(cè)線cd3通過(guò)第二虛設(shè)布線420和第四裂紋感測(cè)線cd4連接到第二數(shù)據(jù)線dm-1。第四裂紋感測(cè)線cd4連接到第二數(shù)據(jù)線dm-1。當(dāng)裂紋在基底110的非顯示區(qū)域(nda)中發(fā)生時(shí)，第三裂紋感測(cè)線cd3或者第四裂紋感測(cè)線cd4會(huì)被損壞，第二數(shù)據(jù)線dm-1的電阻會(huì)增加。當(dāng)基底110和cof封裝件400被不適當(dāng)壓縮時(shí)，第三裂紋感測(cè)線cd3與第二虛設(shè)布線420之間的連接狀態(tài)或者第四裂紋感測(cè)線cd4與第二虛設(shè)布線420之間的連接狀態(tài)會(huì)被損壞，第二數(shù)據(jù)線dm-1的電阻會(huì)增加。因此，連接到第二數(shù)據(jù)線dm-1的像素(g)的電壓vp2達(dá)不到第二電壓v2，像素(g)的電壓vp2和第二電壓v2之間存在電壓差(δv)。因?yàn)殡妷翰?δv)，所以連接到第二數(shù)據(jù)線dm-1的像素(g)不顯示最低灰階，而顯示比最低灰階高的灰階。因此，當(dāng)裂紋在基底110的非顯示區(qū)域(nda)中發(fā)生或者基底110和cof封裝件400被不適當(dāng)壓縮時(shí)，沿第二數(shù)據(jù)線dm-1會(huì)看到亮線。即，通過(guò)確定是否沿第二數(shù)據(jù)線dm-1看到亮線，可以感測(cè)裂紋在基底110的非顯示區(qū)域(nda)中發(fā)生或者基底110和cof封裝件400被不適當(dāng)壓縮。

在下文中，將參照?qǐng)D6至圖8描述根據(jù)示例性實(shí)施例的顯示裝置的cof封裝件和pcb以及它們之間的連接部分。

圖6示出根據(jù)示例性實(shí)施例的顯示裝置的cof封裝件和印刷電路板(pcb)的俯視圖，圖7示出圖6的部分p2的放大俯視圖，圖8示出沿圖7的線viii-viii截取的剖視圖。

第一測(cè)試圖案510和第二測(cè)試圖案520設(shè)置在pcb500上。第一測(cè)試圖案510和第二測(cè)試圖案520設(shè)置在pcb500的面對(duì)cof封裝件400的表面上。

第一測(cè)試圖案510和第二測(cè)試圖案520可以延伸為彼此平行。第一測(cè)試圖案510中的至少一部分和第二測(cè)試圖案520中的至少一部分與cof封裝件400疊置。

第三測(cè)試圖案530設(shè)置在cof封裝件400上。第三測(cè)試圖案530設(shè)置在cof封裝件400的面對(duì)pcb500的表面上。

第三測(cè)試圖案530與第一測(cè)試圖案510和第二測(cè)試圖案520疊置。第三測(cè)試圖案530面對(duì)第一測(cè)試圖案510和第二測(cè)試圖案520。

在平面圖中，第一測(cè)試圖案510、第二測(cè)試圖案520和第三測(cè)試圖案530基本上設(shè)置在cof封裝件400與pcb500的疊置部分的中心處。

第二各向異性導(dǎo)電膜650在cof封裝件400與pcb500疊置的部分處設(shè)置在cof封裝件400與pcb500之間。第二各向異性導(dǎo)電膜650可以使cof封裝件400和pcb500電學(xué)地且物理地連接。第二各向異性導(dǎo)電膜650包括熱固性粘合劑和布置在其中的多個(gè)第二導(dǎo)電顆粒660。

如上所述，設(shè)置在pcb500上的第一測(cè)試圖案510和第二測(cè)試圖案520與設(shè)置在cof封裝件400上的第三測(cè)試圖案530疊置。因此，第一測(cè)試圖案510和第三測(cè)試圖案530通過(guò)第二各向異性導(dǎo)電膜650連接，第二測(cè)試圖案520和第三測(cè)試圖案530通過(guò)第二各向異性導(dǎo)電膜650連接。因此，第一測(cè)試圖案510和第二測(cè)試圖案520可以通過(guò)第三測(cè)試圖案530彼此連接。

第一測(cè)試圖案510的第一端部和第二測(cè)試圖案520的第一端部可以與第三測(cè)試圖案530疊置。第一測(cè)試圖案510的第二端部和第二測(cè)試圖案520的第二端部不與cof封裝件400疊置，且它們暴露于外部。因此，第一測(cè)試圖案510的第二端部和第二測(cè)試圖案520的第二端部可以接觸萬(wàn)用表，通過(guò)萬(wàn)用表可以測(cè)量第一測(cè)試圖案510、第二測(cè)試圖案520和第三測(cè)試圖案530的電阻。

當(dāng)cof封裝件400和pcb500被不適當(dāng)壓縮時(shí)，第一測(cè)試圖案510與第三測(cè)試圖案530之間的連接狀態(tài)或者第二測(cè)試圖案520與第三測(cè)試圖案530之間的連接狀態(tài)會(huì)被損壞，第一測(cè)試圖案510、第二測(cè)試圖案520和第三測(cè)試圖案530的電阻會(huì)增加。因此，通過(guò)測(cè)量第一測(cè)試圖案510、第二測(cè)試圖案520和第三測(cè)試圖案530的電阻并且將測(cè)得的電阻與參考電阻進(jìn)行比較，可以感測(cè)cof封裝件400和pcb500的壓縮缺陷。

在下文中，將參照?qǐng)D9比較和描述根據(jù)參考示例的顯示裝置和根據(jù)示例性實(shí)施例的顯示裝置。

圖9示出根據(jù)參考示例的顯示裝置的俯視圖。

在根據(jù)參考示例的顯示裝置中，第一裂紋感測(cè)線cd1'、第二裂紋感測(cè)線cd2'、第三裂紋感測(cè)線cd3'和第四裂紋感測(cè)線cd4'不與cof封裝件400'疊置。第一裂紋感測(cè)線cd1'和第二裂紋感測(cè)線cd2'直接連接，第三裂紋感測(cè)線cd3'和第四裂紋感測(cè)線cd4'直接連接。

在平面圖中，第一測(cè)試圖案510'、第二測(cè)試圖案520'和第三測(cè)試圖案530'設(shè)置在cof封裝件400'與pcb500'的疊置部分的相對(duì)邊緣處。即，分別設(shè)置兩個(gè)第一測(cè)試圖案510'、兩個(gè)第二測(cè)試圖案520'和兩個(gè)第三測(cè)試圖案530'。第一測(cè)試圖案510'、第二測(cè)試圖案520'和第三測(cè)試圖案530'形成為延伸到基底110'與cof封裝件400'的疊置部分。

在圖9的參考示例中，通過(guò)利用第一裂紋感測(cè)線cd1'、第二裂紋感測(cè)線cd2'、第三裂紋感測(cè)線cd3'和第四裂紋感測(cè)線cd4'，可以感測(cè)到基底110'的裂紋，但是不會(huì)感測(cè)到基底110'與cof封裝件400'的壓縮缺陷。可以通過(guò)利用第一測(cè)試圖案510'、第二測(cè)試圖案520'和第三測(cè)試圖案530'來(lái)感測(cè)基底110'和cof封裝件400'的壓縮缺陷。為了感測(cè)壓縮缺陷，使萬(wàn)用表接觸第一測(cè)試圖案510'和第二測(cè)試圖案520'以測(cè)量其電阻。因此，在裝配了用于保護(hù)顯示裝置的框架之后，會(huì)無(wú)法識(shí)別壓縮缺陷。

在根據(jù)示例性實(shí)施例的顯示裝置中，通過(guò)利用第一裂紋感測(cè)線cd1、第二裂紋感測(cè)線cd2、第三裂紋感測(cè)線cd3和第四裂紋感測(cè)線cd4，除了可以感測(cè)到基底110的裂紋之外還可以感測(cè)到基底110和cof封裝件400的壓縮缺陷。在裝配了框架之后，通過(guò)向每條信號(hào)線施加設(shè)定或預(yù)定的信號(hào)，仍可以感測(cè)基底110的裂紋以及基底110和cof封裝件400的壓縮缺陷。

在圖9的參考示例中，因?yàn)榈谝粶y(cè)試圖案510'、第二測(cè)試圖案520'和第三測(cè)試圖案530'被設(shè)置在cof封裝件400'與pcb500'的疊置部分的相對(duì)的邊緣處，所以當(dāng)壓縮缺陷發(fā)生在cof封裝件400'與pcb500'的疊置部分的中心處時(shí)，壓縮缺陷不會(huì)被感測(cè)到。在現(xiàn)實(shí)中，壓縮缺陷經(jīng)常發(fā)生在cof封裝件400'和pcb500'的疊置部分的中心處。

在示例性實(shí)施例中，通過(guò)在cof封裝件400和pcb500的疊置部分的中心處設(shè)置第一測(cè)試圖案510、第二測(cè)試圖案520和第三測(cè)試圖案530，可以清楚地感測(cè)到發(fā)生在cof封裝件400和pcb500的疊置部分的中心處的壓縮缺陷。此外，通過(guò)減少第一測(cè)試圖案510、第二測(cè)試圖案520和第三測(cè)試圖案530的數(shù)量能夠減少成本。

這里描述的根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的電子或電氣裝置和/或任何其它相關(guān)的裝置或組件可以利用任何合適的硬件、固件(例如，專用集成電路)、軟件或者軟件、固件和硬件的組合來(lái)實(shí)施。例如，這些裝置的各種組件可以形成在一個(gè)集成電路(ic)芯片上或者形成在單獨(dú)的ic芯片上。此外，這些裝置的各種組件可以在柔性印刷電路膜、帶載封裝件(tcp)、印刷電路板(pcb)上實(shí)施，或形成在一個(gè)基板上。此外，這些裝置的各種組件可以是在一個(gè)或更多個(gè)計(jì)算裝置中在一個(gè)或更多個(gè)處理器上運(yùn)行的執(zhí)行計(jì)算機(jī)程序指令并且與其它系統(tǒng)組件交互的用于執(zhí)行在此描述的各種功能的進(jìn)程或線程。計(jì)算機(jī)程序指令被存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中，所述存儲(chǔ)器可以在使用標(biāo)準(zhǔn)存儲(chǔ)器裝置(諸如以隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(ram)為例)的計(jì)算裝置中實(shí)施。計(jì)算機(jī)程序指令也可以被存儲(chǔ)在諸如以cd-rom或閃存驅(qū)動(dòng)器等為例的其它非暫時(shí)計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)中。另外，本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該意識(shí)到的是，在不脫離本發(fā)明的示例性實(shí)施例的精神和范圍的情況下，各種計(jì)算裝置的功能可以被組合或集成到單個(gè)計(jì)算裝置中，或者特定的計(jì)算裝置的功能可以分布在一個(gè)或更多個(gè)其它計(jì)算裝置中。

將理解的是，當(dāng)元件或?qū)颖环Q為“在”另一元件或?qū)印吧稀?、“連接到”、“結(jié)合到”或者“鄰近于”另一元件或?qū)訒r(shí)，該元件或?qū)涌赡苤苯釉谒隽硪辉驅(qū)由?、直接連接到、結(jié)合到或者鄰近于另一元件或?qū)?，或者可能存在一個(gè)或更多個(gè)中間元件或?qū)印Ｏ喾?，?dāng)元件或?qū)颖环Q作“直接在”另一元件或?qū)印吧稀薄ⅰ爸苯舆B接到”、“直接結(jié)合到”或“緊鄰于”另一元件或?qū)訒r(shí)，不存在中間元件或中間層。

雖然已經(jīng)結(jié)合當(dāng)前被認(rèn)為是實(shí)踐性的示例性實(shí)施例描述了本公開，但是應(yīng)當(dāng)理解，本公開不限制于公開的實(shí)施例，而是相反，本發(fā)明意圖覆蓋包括在所附權(quán)利要求的精神和范圍內(nèi)的各種修改和等同布置。

附圖標(biāo)記的說(shuō)明

110：基底；400：cof封裝件

410：第一虛設(shè)布線420：第二虛設(shè)布線

500：印刷電路板(pcb)510：第一測(cè)試圖案

520：第二測(cè)試圖案530：第三測(cè)試圖案

600：第一各向異性導(dǎo)電膜650：第二各向異性導(dǎo)電膜

cd1：第一裂紋感測(cè)線cd2：第二裂紋感測(cè)線

cd3：第三裂紋感測(cè)線cd4：第四裂紋感測(cè)線

td1：第一測(cè)試信號(hào)線td2a、td2b和td2c：第二測(cè)試信號(hào)線

tg1：第一測(cè)試柵極線tg2：第二測(cè)試柵極線