技術(shù)領(lǐng)域

本文涉及顯示裝置。

背景技術(shù)：

隨著信息技術(shù)的發(fā)展，作為用戶與信息之間的連接媒介的顯示器的市場日益增長。與該趨勢一致，正越來越多地使用諸如有機發(fā)光顯示器(OLED)、量子點顯示器(QDD)、液晶顯示器(LCD)以及等離子體顯示面板(PDP)的顯示裝置。

對于液晶顯示器、電泳顯示器、或有機發(fā)光顯示器，制造顯示面板，并且執(zhí)行對顯示面板的測試處理。在測試處理中，可以使用自動探針測試對整個顯示面板執(zhí)行電測試(例如，配線短路和照明測試)。

以如下方式進(jìn)行自動探針測試：使測針與形成在顯示面板的下基板上的自動探針測試焊盤(下文中，“AP焊盤”)接觸，并且接著施加電測試信號。測試信號通過連接至AP焊盤的測試配線(下文中，“AP配線”)被施加至顯示面板。

AP焊盤通常形成在下基板的切口部的外邊緣上，切口部要在將顯示面板切割成單元的處理中被切掉。順便提及，根據(jù)相關(guān)技術(shù)的將顯示面板切割成單元的處理可以由于切割處理產(chǎn)生的雜質(zhì)而造成AP配線之間的短路，并且這引出對于該問題的解決方案的需求。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明提供了一種顯示裝置，其包括像素、焊盤區(qū)、AP配線、以及開關(guān)晶體管。像素位于下基板的顯示區(qū)中。焊盤區(qū)位于下基板的非顯示區(qū)中。AP配線位于非顯示區(qū)中并且連接至顯示區(qū)。開關(guān)晶體管位于非顯示區(qū)中、AP配線的一側(cè)與另一側(cè)之間。

在另一方面中，本發(fā)明提供了一種顯示裝置，其包括圓形顯示面板和驅(qū)動該圓形顯示面板的驅(qū)動部。圓形顯示面板包括：位于下基板的顯示區(qū)中的像素；位于下基板的非顯示區(qū)中的焊盤區(qū)；位于非顯示區(qū)中并且連接至顯示區(qū)的AP配線；以及位于非顯示區(qū)中、AP配線的一側(cè)與另一側(cè)之間的開關(guān)晶體管。

附圖說明

附圖被包括以提供對本發(fā)明的進(jìn)一步理解，附圖并入本文中并且構(gòu)成本文的一部分，附圖示出本發(fā)明的實施例并且與說明書一起用于解釋本發(fā)明的原理。

圖1是示意性示出顯示裝置的框圖；

圖2是示出圓形智能手表的顯示面板的俯視圖；

圖3是示出圓形智能手表的顯示面板的切割處理的視圖；

圖4和圖5是示出根據(jù)測試示例將顯示面板切割成單元的過程的視圖；

圖6和圖7是示出根據(jù)本發(fā)明的示例性實施方案的將顯示面板切割成單元的過程的視圖；

圖8和圖9是示出根據(jù)本發(fā)明的另一示例性實施方案的AP焊盤的位置的變化的圖；

圖10是示出根據(jù)本發(fā)明的另一示例性實施方案的不同類型的開關(guān)晶體管的視圖；

圖11是示出根據(jù)本發(fā)明的另一示例性實施方案的對應(yīng)于不同類型開關(guān)晶體管的不同測試信號的視圖；以及

圖12是示出對應(yīng)于不同類型開關(guān)晶體管的不同信號線耦接結(jié)構(gòu)的圖。

具體實施方式

現(xiàn)在將詳細(xì)參照本發(fā)明的實施方案，其示例在附圖中示出。

下文中，將參照附圖詳細(xì)描述本發(fā)明的具體示例性實施方案。

對于液晶顯示器、電泳顯示器、或有機發(fā)光顯示器，制造顯示面板，并且執(zhí)行對于顯示面板的測試過程。在測試過程中，可以使用自動探針測試對整個顯示面板執(zhí)行電測試(例如，配線短路和照明測試)。

自動探針測試以如下方式執(zhí)行：使測針與連接至顯示面板的自動探針測試焊盤(下文中，“AP焊盤”)接觸，并且接著施加電測試信號。

顯示裝置被實施為電視機、機頂盒、導(dǎo)航系統(tǒng)、視頻播放器、藍(lán)光播放器、個人計算機(PC)、家庭影院、可穿戴裝置、或智能電話(移動電話)。顯示裝置的顯示面板可以是但不限于液晶面板、有機發(fā)光顯示面板、電泳顯示面板。

下文中，將采用基于有機發(fā)光顯示面板的可穿戴裝置例如智能手表作為示例來具體描述本發(fā)明，但本發(fā)明不限于該示例。

圖1是示意性示出顯示裝置的框圖。圖2是示出圓形智能手表的顯示面板的俯視圖。圖3是示出圓形智能手表的顯示面板的切割過程的圖。

如圖1中所示，顯示裝置100包括數(shù)據(jù)驅(qū)動器130、柵極驅(qū)動器150、觸摸驅(qū)動器190、定時控制器170、主機系統(tǒng)1000、以及顯示面板110。

數(shù)據(jù)驅(qū)動器130將來自定時控制器170的輸入圖像的數(shù)字視頻數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成模擬正/負(fù)伽馬補償電壓以供應(yīng)數(shù)據(jù)信號。數(shù)據(jù)驅(qū)動器130將數(shù)據(jù)信號供應(yīng)至與多個像素連接的數(shù)據(jù)線。

數(shù)據(jù)驅(qū)動器130包括源極驅(qū)動器IC DIC。源極驅(qū)動器IC DIC可以安裝在柔性電路板如COF(膜上芯片)、TCP(帶載封裝件)等上。源極驅(qū)動器IC DIC通過數(shù)據(jù)線輸出數(shù)據(jù)信號。另外，數(shù)據(jù)驅(qū)動器130包括功率IC PIC。功率IC PIC輸出驅(qū)動顯示面板110所需的電壓，包括公共電壓、柵極高電壓、柵極低電壓、以及伽馬參考電壓。

柵極驅(qū)動器150以及像素陣列一起嵌入在顯示面板110中。嵌入在顯示面板110中的柵極驅(qū)動器150通過板載柵極(gate in panel)技術(shù)同時利用薄膜晶體管工藝來形成。柵極驅(qū)動器150圍繞顯示區(qū)AA形成在非顯示區(qū)BZ中。

柵極驅(qū)動器150包括移位寄存器。移位寄存器包括多個級聯(lián)的級。級響應(yīng)于起始信號等通過柵極線輸出柵極信號(或者掃描信號)。為此，起始信號、移位時鐘、操作電壓等被供應(yīng)至移位寄存器。

雖然圖1通過示例的方式示出了嵌入在顯示面板110中的柵極驅(qū)動器150，但是本發(fā)明不限于此，而是如同數(shù)據(jù)驅(qū)動器130一樣，柵極驅(qū)動器150也可以以IC的形式安裝在柔性電路板上。

定時控制器170接收從主機系統(tǒng)1000輸入的定時信號，例如垂直同步信號Vsync、水平同步信號Hsync、數(shù)據(jù)使能信號DE、以及主時鐘MCLK，并且控制數(shù)據(jù)驅(qū)動器130和柵極驅(qū)動器150的操作定時。

觸摸驅(qū)動器190通過自電容或互電容觸摸傳感器檢測關(guān)于手指觸摸的位置信息。觸摸驅(qū)動器190將所檢測到的關(guān)于手指觸摸的位置信息傳輸至主機系統(tǒng)1000。

主機系統(tǒng)1000包括具有內(nèi)置定標(biāo)器的SoC(片上系統(tǒng))，并且將輸入圖像的數(shù)字視頻數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成適合在顯示面板110上顯示的格式。主機系統(tǒng)1000各種定時信號Vsync、Hsync、DE、MCLK與輸入圖像的數(shù)字視頻數(shù)據(jù)一起傳輸給定時控制器170。另外，主機系統(tǒng)1000執(zhí)行與從觸摸驅(qū)動器190輸入的觸摸位置信息相關(guān)聯(lián)的應(yīng)用。

顯示面板110包括：顯示區(qū)AA，其中布置有多個像素、連接至多個觸摸傳感器和像素的數(shù)據(jù)線、連接至像素的柵極線、用于向柵極驅(qū)動器供應(yīng)柵極驅(qū)動電力的電源線、以及連接至觸摸傳感器的傳感器線；以及位于顯示區(qū)AA外部的非顯示區(qū)(或邊框區(qū))。

如圖2中所示，顯示面板100形成為例如圓形形狀。除了圓形形狀，顯示面板110還可以形成為各種形狀例如正方形、矩形、多邊形、橢圓形等。

顯示面板110包括位于非顯示區(qū)BZ中、垂直隔開的兩個或更多個焊盤部111a和111b。焊盤部111a和111b被布置在限定于顯示面板110的下基板上的非顯示區(qū)BZ的最外面的邊緣上。

焊盤部111a和111b包括發(fā)送數(shù)據(jù)信號的多個數(shù)據(jù)焊盤、發(fā)送柵極驅(qū)動電力的多個柵極驅(qū)動電源焊盤、向像素發(fā)送電力的多個像素電源焊盤、以及發(fā)送傳感器信號的多個傳感器焊盤。

焊盤部111a和111b包括：第一焊盤部111a，其將包括數(shù)據(jù)線、柵極線、傳感器線、和電源線PSL的第一組線電連接至第一驅(qū)動電路部；以及第二焊盤部111b，其將包括數(shù)據(jù)線、柵極線、傳感器線、和電源線PSL的第二組線電連接至第二驅(qū)動電路部。

雖然第一驅(qū)動電路部和第二驅(qū)動電路部基本上執(zhí)行相同的功能和操作，但是其可以取決于顯示面板110的結(jié)構(gòu)而集成為單個驅(qū)動電路或者物理上或位置上被劃分(隔開)。為了解釋的方便，下面將描述安裝在柔性電路板180上的數(shù)據(jù)驅(qū)動器130。柔性電路板180通過各向異性導(dǎo)電膜ACF等電連接至第一焊盤部111a和第二焊盤部111b。

第一焊盤部111a布置在顯示面板110的下基板的上邊緣上。第二焊盤部111b布置在顯示面板110的下基板的、面對第一焊盤部111a的下邊緣上。在非顯示區(qū)BZ的位于第一焊盤部111a與第二焊盤部111b之間的一側(cè)上布置有觸摸焊盤120。以此方式，觸摸焊盤120可以不與第一焊盤部111a和第二焊盤部111b交疊。

如圖3的(a)中所示，被劃分成單元的上述顯示面板110形成在母基板110M上。母基板110M可以包括在其處形成裝置的下基板，用于封裝形成在下基板上的裝置的上基板。

如圖3的(b)中所示，形成在母基板110M上的顯示面板110只有在經(jīng)歷將其切割成單元的處理之后才變成單一完整的顯示面板110。切割過程可以通過使用激光LSR的激光切邊(laser trimming)來進(jìn)行。

然而，將顯示面板切割成單元的處理由于切割處理所產(chǎn)生的雜質(zhì)(可以被稱為灰塵、顆粒、副產(chǎn)品等，并且取決于位于或圍繞切口部的結(jié)構(gòu)或者取決于環(huán)境而變化)可以造成在AP配線之間的短路。

現(xiàn)在，將描述可以處理測試示例中的問題并且解決或消除該問題的示例性實施方案。

雖然將基于以下假設(shè)來進(jìn)行下面的描述：通過使用激光的激光切邊進(jìn)行將顯示面板切割成單元的處理，但是本發(fā)明不限于此。另外，為了幫助理解本發(fā)明，將基于以下假設(shè)來進(jìn)行下面的描述：在其上安裝有數(shù)據(jù)驅(qū)動器130的柔性電路板180被附接時執(zhí)行切割處理，不過相反，柔性電路板180可以在切割處理之后被附接。

圖4和圖5是示出根據(jù)測試示例的用于將顯示面板切割成單元的處理的視圖。圖6和圖7是示出根據(jù)本發(fā)明的示例性實施方案的將顯示面板切割成單元的視圖。

測試示例：在切割處理之前

如圖4中所示，被劃分成單元的顯示面板110形成在母基板110M上。顯示面板110包括具有紅色子像素、綠色子像素、以及藍(lán)色子像素RGB的顯示區(qū)AA；以及具有焊盤部111a的焊盤區(qū)PA，在其上安裝有數(shù)據(jù)驅(qū)動器130的柔性電路板180被附接至焊盤區(qū)PA。焊盤區(qū)PA位于非顯示區(qū)BZ中。

AP焊盤APPAD位于母基板110M的一側(cè)上。AP焊盤APPAD包括第一AP焊盤PAD1至第三AP焊盤PAD3。第一AP焊盤PAD1至第三AP焊盤PAD3通過第一AP配線APL1至第三AP配線APL3電連接至顯示面板110。第一AP配線APL1至第三AP配線APL3布置在母基板110M的一側(cè)上，使得其穿過顯示面板110的下基板的焊盤區(qū)PA并且進(jìn)入顯示區(qū)AA中。

在以上述配置形成單元之后，執(zhí)行對于顯示面板110的測試過程。在測試過程中，可以使用自動探針測試來對整個顯示面板110執(zhí)行電測試(例如，配線短路和照明測試)。

以如下方式執(zhí)行自動探針測試：使測針與連接至顯示面板110的第一AP焊盤PAD1至第三AP焊盤PAD3接觸，并且接著施加電測試信號。

測試示例：在切割處理之后

如圖5中所示，在將顯示面板110切割成單元的處理之后，顯示面板110與母基板分開。在將顯示面板110切割成單元的處理之后，觀察到顯示面板110由于由切割過程產(chǎn)生的雜質(zhì)(可以被稱為灰塵、顆粒、副產(chǎn)品等，并且取決于位于切口部或圍繞切口部的結(jié)構(gòu)或者取決于環(huán)境而變化)而在AP配線APL1至APL3之間具有短路。最常出現(xiàn)由于切割過程所產(chǎn)生的灰塵而導(dǎo)致AP配線APL1至APL3之間的短路。

因此，可以推斷，測試示例無法解決在切割處理之后出現(xiàn)的短路問題。如上所述，測試示例需要附加的處理例如對于短路區(qū)域的復(fù)原的手動操作，這導(dǎo)致低的可加工性和低的生產(chǎn)量。

實施方案：在切割處理之前

如圖6中所示，在本實施方案中，在AP配線APL1至APL3之間的路徑上布置用于防止短路的開關(guān)晶體管ATR1至ATR3，以解決AP配線APL1至APL3之間的短路問題。開關(guān)晶體管ATR1至ATR3布置在顯示面板110的下基板上。

開關(guān)晶體管ATR1至ATR3的第一電極(例如，源電極)分別連接至在與顯示面板110的顯示區(qū)AA連接的一側(cè)上的第一AP配線APL1至第三AP配線APL3，并且其第二電極(例如，漏電極)分別連接至在與第一AP焊盤PAD1至第三AP焊盤PAD3連接的另一側(cè)上的第一AP配線APL1至第三AP配線APL3。

開關(guān)晶體管ATR1至ATR3的柵電極結(jié)合在一起并且連接至第四AP焊盤PAD4。開關(guān)晶體管ATR1至ATR3的柵電極可以通過例如第四AP配線APL4結(jié)合(連接)在一起，并且接著連接至第四AP焊盤PAD4，但是本發(fā)明不限于此。

在以上述配置形成單元之后，執(zhí)行對于顯示面板110的測試處理。在測試處理中，可以使用自動探針測試來對整個顯示面板110執(zhí)行電測試(例如配線短路和照明測試)。

以如下方式執(zhí)行自動探針測試：使測針與連接至顯示面板110的第一AP焊盤PAD1至第四AP焊盤PAD4接觸，并且接著施加電測試信號。

應(yīng)注意，與測試示例不同，在本實施方案中，在向第四AP焊盤PAD4施加信號并且使開關(guān)晶體管ATR1至ATR3導(dǎo)通之后才施加測試信號。這是因為只有在開關(guān)晶體管ATR1至ATR3導(dǎo)通之后，施加至第一AP焊盤PAD1至第三AP焊盤PAD3的測試信號才被發(fā)送至顯示面板110的下基板的顯示區(qū)AA。

實施方案：在切割處理之后

如圖7中所示，在將顯示面板110切割成單元的處理之后，顯示面板110與母基板分開。在將顯示面板110切割成單元的處理之后，觀察到，在本實施方案中，由于由切割處理所產(chǎn)生的雜質(zhì)而導(dǎo)致的AP配線APL1至APL3之間的短路不影響顯示面板110。這是因為只有當(dāng)執(zhí)行自動探針測試時開關(guān)晶體管ATR1至ATR3才導(dǎo)通。

利用以上根據(jù)本實施方案的配置，只有當(dāng)執(zhí)行自動探針測試時，才建立用于通過AP配線APL1至APL3饋送的測試信號的路徑，以將其發(fā)送到顯示面板110的顯示區(qū)AA中。接著，在完成自動探針測試(包括切割后處理)之后切斷用于測試信號傳輸?shù)穆窂健?/p>

為此，開關(guān)晶體管ATR1至ATR3的柵電極和第四AP焊盤PAD4位于焊盤區(qū)PA中，并且連接至焊盤部111a的向高壓電力線或低壓電力線抽取電力的一些焊盤。開關(guān)晶體管ATR1至ATR3通過經(jīng)由高壓電力線或低壓電力線發(fā)送的電力保持關(guān)斷。

因此，開關(guān)晶體管ATR1至ATR3在完成自動探針測試(包括切割后過程)之后關(guān)斷，并且因此測試信號不發(fā)送到顯示面板110的顯示區(qū)AA中。

因此，根據(jù)本實施方案的配置可防止在顯示面板110上的操作錯誤或電問題，即使由于切割處理之后的雜質(zhì)造成在AP配線APL1至APL3之間的短路亦如此。另外，根據(jù)本實施方案的配置可以省略額外的過程例如用于短路區(qū)域的復(fù)原的手動操作，這可以有助于提高可加工性和生產(chǎn)量。

下文中，將描述根據(jù)其他示例性實施方案的AP焊盤的位置的變化、開關(guān)晶體管的位置的變化、以及不同類型的開關(guān)晶體管。

圖8和圖9是示出根據(jù)本發(fā)明的另一示例性實施方案的AP焊盤的位置的變化的視圖。圖10是示出根據(jù)本發(fā)明的另一示例性實施方案的不同類型開關(guān)晶體管的視圖。圖11是示出根據(jù)本發(fā)明的另一示例性實施方案的對應(yīng)于不同類型開關(guān)晶體管的不同測試信號的視圖。圖12是示出對應(yīng)于不同類型開關(guān)晶體管的不同信號線耦接結(jié)構(gòu)的視圖。

[根據(jù)另一實施方案的AP焊盤的位置的變化]

如圖8的(a)中所示，第一AP焊盤PAD1至第四AP焊盤PAD4可以形成在相鄰于焊盤區(qū)PA的母基板110M上。在第一AP焊盤PAD1至第四AP焊盤PAD4形成在母基板110M上之后，接著通過切割處理將其全部去除。因此，在完成的顯示面板110上不存在第一AP焊盤PAD1至第四AP焊盤PAD4。

如圖8的(b)中所示，第一AP焊盤PAD1至第三AP焊盤PAD3可以形成在相鄰于焊盤區(qū)PA的母基板110M上，并且第四AP焊盤PAD4可以形成在相鄰于焊盤部111a的外側(cè)的焊盤區(qū)PA中。

在第一AP焊盤PAD1至第三AP焊盤PAD3形成在母基板110M上并且第四AP焊盤形成在焊盤區(qū)PA中之后，接著去除第一AP焊盤PAD1至第三AP焊盤PAD3，但是第四AP焊盤PAD4留下。因此，在完成的顯示面板110上不存在第一AP焊盤PAD1至第三AP焊盤PAD3。

[根據(jù)另一實施方案的開關(guān)晶體管的位置的變化]

如圖9的(a)中所示，第一開關(guān)晶體管ATR1至第三開關(guān)晶體管ATR3垂直布置在下基板的焊盤區(qū)PA中。第一開關(guān)晶體管ATR1至第三開關(guān)晶體管ATR3可以沿著下基板PA的焊盤區(qū)PA的最外面的邊界垂直布置。

如果顯示面板110的下基板的焊盤區(qū)PA中的剩余空間窄，則第一開關(guān)晶體管ATR1至第三開關(guān)晶體管ATR3可以以如上方式布置。

如圖9的(b)中所示，第一開關(guān)晶體管ATR1至第三開關(guān)晶體管ATR3傾斜地(對角地)布置在下基板的焊盤區(qū)PA中。第一開關(guān)晶體管ATR1至第三開關(guān)晶體管ATR3可以以階梯方式沿著下基板的焊盤區(qū)PA的最外面的邊界布置。

通過以階梯方式(或以幾乎圓形形狀的方式)沿著最外面的邊界在顯示面板110的下基板上形成焊盤區(qū)PA，第一開關(guān)晶體管ATR1至第三開關(guān)晶體管ATR3可以如上所述布置。

如圖9的(c)中所示，第一開關(guān)晶體管ATR1至第三開關(guān)晶體管ATR3水平布置在下基板的焊盤區(qū)PA中。第一開關(guān)晶體管ATR1至第三開關(guān)晶體管ATR3可以水平地布置焊盤區(qū)PA中、相鄰于柔性電路板180。

通過以此方式布置第一開關(guān)晶體管ATR1至第三開關(guān)晶體管ATR3，可以容易地使測針與其接觸。此外，當(dāng)顯示面板110集成到模塊中之后需要附加測試時，第一開關(guān)晶體管ATR1至第三開關(guān)晶體管ATR3可以如上所述布置。

如圖9的(d)中所示，第一開關(guān)晶體管ATR1至第三開關(guān)晶體管ATR3水平布置在下基板的焊盤區(qū)PA中。第一開關(guān)晶體管ATR1至第三開關(guān)晶體管ATR3可以水平布置在焊盤區(qū)PA中、相鄰于顯示區(qū)AA。

通過以此方式布置第一開關(guān)晶體管ATR1至第三開關(guān)晶體管ATR3，可以容易地使測針與其接觸。此外，當(dāng)在顯示面板110集成到模塊中之后需要附加測試時，第一開關(guān)晶體管ATR1至第三開關(guān)晶體管ATR3可以如上所述布置。

[根據(jù)另一實施方案的不同類型的開關(guān)晶體管]

如圖10的(a)、圖11的(a)、以及圖12的(a)中所示，第一開關(guān)晶體管ATR1至第三開關(guān)晶體管ATR3可以由N型晶體管組成。如果第一開關(guān)晶體管ATR1至第三開關(guān)晶體管ATR3由N型晶體管組成，則邏輯高電壓H被供應(yīng)至第四AP焊盤PAD4。

變成第四測試信號的邏輯高電壓H在測試過程開始時從測試裝置供應(yīng)。另外，待饋送至第一AP焊盤PAD1至第三AP焊盤PAD3的第一測試信號至第三測試信號從測試裝置供應(yīng)。

由于第一開關(guān)晶體管ATR1至第三開關(guān)晶體管ATR3由N型晶體管組成，所以其全部當(dāng)被供應(yīng)邏輯高電壓H時同時導(dǎo)通，并且當(dāng)被供應(yīng)邏輯低電壓L時同時關(guān)斷。

如上所述，第一開關(guān)晶體管ATR1至第三開關(guān)晶體管ATR3可以僅在測試過程期間保持導(dǎo)通，并且當(dāng)完成測試過程時保持關(guān)斷(或浮置)。

為了使由N型晶體管組成的第一開關(guān)晶體管ATR1至第三開關(guān)晶體管ATR3保持關(guān)斷，其柵電極可以耦接至存在于顯示面板上的低電平電壓線(例如，GND)。

如圖10的(b)、圖11的(b)、以及圖12的(b)中所示，第一開關(guān)晶體管ATR1至第三開關(guān)晶體管ATR3可以由P型晶體管組成。如果第一開關(guān)晶體管ATR1至第三開關(guān)晶體管ATR3由P型晶體管組成，則邏輯低電壓L被供應(yīng)至第四AP焊盤PAD4。

變成第四測試信號的邏輯低電壓L在測試過程(AP測試)開始時從測試裝置供應(yīng)。另外，待饋送至第一AP焊盤PAD1至第三AP焊盤PAD3的第一測試信號至第三測試信號從測試裝置供應(yīng)。

由于第一開關(guān)晶體管ATR1至第三開關(guān)晶體管ATR3由P型晶體管組成，所以其全部當(dāng)被供應(yīng)邏輯低電壓L時同時導(dǎo)通，并且當(dāng)被供應(yīng)邏輯高電壓H時同時關(guān)斷。

如上所述，第一開關(guān)晶體管ATR1至第三開關(guān)晶體管ATR3可以僅在測試過程期間保持導(dǎo)通，并且當(dāng)完成測試過程時保持關(guān)斷(或浮置)。

為了使由P型晶體管組成的第一開關(guān)晶體管ATR1至第三開關(guān)晶體管ATR3保持關(guān)斷，其柵電極可以耦接至存在于顯示面板上的高電平電壓線(例如，VDD)。

根據(jù)上述實施方案，第四AP焊盤PAD4連接至附接至焊盤區(qū)PA的柔性電路板180上的焊盤。第四AP焊盤PAD4可以特別取決于開關(guān)晶體管ATR1至ATR3的類型(N型或P型)而連接至從低電平電壓線(例如，GND)或高電平電壓線(例如，VDD)抽取電力的焊盤。

通過如上所述耦接第四AP焊盤PAD4，顯示面板110在測試過程之后集成到模塊中，并且如果顯示面板110正常操作，則開關(guān)晶體管ATR1至ATR3保持關(guān)斷。

圖12的STR表示在切割過程之后保留在顯示面板的外邊緣上的AP配線的遠(yuǎn)端。AP配線的遠(yuǎn)端斷裂(開路)，對應(yīng)于由切割過程產(chǎn)生的切口部。

因此，連接至第一開關(guān)晶體管ATR1至第三開關(guān)晶體管ATR3的第二電極的AP配線的遠(yuǎn)端根本沒有任何電耦接，使得其最終電浮置。

同時，顯示面板需要在其被制成最終產(chǎn)品之前經(jīng)歷附加的過程。順便提及，在這些附加過程期間、在顯示面板上安裝塑料結(jié)構(gòu)的過程期間、或者在自然狀態(tài)下，靜電可能進(jìn)入顯示面板。

AP配線的遠(yuǎn)端STR可以用作為通過其靜電等進(jìn)入的路徑。如果靜電、過電流、或者不同電壓通過AP配線進(jìn)入，則存在于顯示面板110的下基板的顯示區(qū)AA中的像素可能受損。

因此，替代使開關(guān)晶體管ATR1至ATR3電浮置，柵電極可以連接至特定電壓并且如上所述保持完全關(guān)斷。

換言之，由于根據(jù)本發(fā)明的開關(guān)晶體管ATR1至ATR3連接至特定電壓并且保持為完全關(guān)斷，所以可以防止或避免外部靜電、過電流或不同電壓的問題。

根據(jù)本公開，提出以下技術(shù)：

(1)一種顯示面板，包括：

位于下基板的顯示區(qū)中的像素；

位于所述下基板的非顯示區(qū)中的焊盤區(qū)；

AP配線，位于所述非顯示區(qū)中并且連接至所述顯示區(qū)；以及

開關(guān)晶體管，其位于所述非顯示區(qū)中、所述AP配線的一側(cè)與另一側(cè)之間。

(2)根據(jù)(1)所述的顯示面板，還包括AP焊盤，

其中所述AP焊盤連接至所述開關(guān)晶體管的柵電極。

(3)根據(jù)(2)所述的顯示裝置，其中所述AP焊盤位于所述非顯示區(qū)中。

(4)根據(jù)(1)所述的顯示面板，其中所述開關(guān)晶體管的所述柵電極連接至位于所述焊盤區(qū)中的焊盤部。

(5)根據(jù)(1)所述的顯示面板，其中所述開關(guān)晶體管被布置為相鄰于所述焊盤區(qū)。

(6)根據(jù)(1)所述的顯示面板，其中所述開關(guān)晶體管被垂直地、水平地、或傾斜地布置。

(7)根據(jù)(1)所述的顯示面板，其中所述開關(guān)晶體管的所述柵電極共同地連接至位于所述下基板上的低電平電壓線或高電平電壓線。

(8)根據(jù)(1)所述的顯示面板，其中所述AP配線包括第一AP配線至第三AP配線，所述開關(guān)晶體管包括第一開關(guān)晶體管至第三開關(guān)晶體管，所述第一AP配線至第三AP配線的一側(cè)分別連接至所述第一開關(guān)晶體管至第三開關(guān)晶體管的第一電極，并且所述第一AP配線至所述第三AP配線的另一側(cè)分別連接至所述第一開關(guān)晶體管至第三開關(guān)晶體管的第二電極。

(9)根據(jù)(8)所述的顯示面板，其中所述第一AP配線至第三AP配線的所述另一側(cè)為開路。

(10)根據(jù)(8)所述的顯示面板，其中所述第一開關(guān)晶體管至第三開關(guān)晶體管為N型或P型。

(11)一種顯示裝置，包括：

圓形顯示面板；以及

驅(qū)動所述圓形顯示面板的驅(qū)動部，

其中所述圓形顯示面板包括：

位于下基板的顯示區(qū)中的像素；

位于所述下基板的非顯示區(qū)中的焊盤區(qū)；

AP配線，其位于所述非顯示區(qū)中并且連接至所述顯示區(qū)；以及

開關(guān)晶體管，其位于所述非顯示區(qū)中、所述AP配線的一側(cè)與另一側(cè)之間。

(12)根據(jù)(11)所述的顯示裝置，其中所述開關(guān)晶體管被垂直地、水平地、或者傾斜地布置。

(13)根據(jù)(11)所述的顯示裝置，其中所述開關(guān)晶體管的所述柵電極共同地連接至位于所述下基板上的低電平電壓線或高電平電壓線。

(14)根據(jù)(11)所述的顯示裝置，其中所述AP配線包括第一AP配線至第三AP配線，所述開關(guān)晶體管包括第一開關(guān)晶體管至第三開關(guān)晶體管，所述第一AP配線至第三AP配線的一側(cè)連接至所述第一開關(guān)晶體管至第三開關(guān)晶體管的第一電極，并且所述第一AP配線至第三AP配線的另一側(cè)連接至所述第一開關(guān)晶體管至第三開關(guān)晶體管的第二電極。

(15)根據(jù)(14)所述的顯示裝置，其中所述第一AP配線至第三AP配線的所述另一側(cè)為開路。

本發(fā)明在以下方面是優(yōu)異的：在制造基于小尺寸顯示器例如可穿戴裝置實施或通過激光切割的小尺寸圓形顯示面板時，避免由AP配線之間的短路或靜電造成電路損壞。無須贅述，本發(fā)明可以應(yīng)用于制造中型尺寸或大尺寸顯示器以及小尺寸顯示器。

從上面看到，本發(fā)明可以避免在制造顯示面板時由AP配線之間的短路或者由靜電造成的電路損壞。此外，即使在AP配線之間出現(xiàn)短路，本發(fā)明亦可以防止在顯示面板上出現(xiàn)操作錯誤或電問題。此外，本發(fā)明可以省略附加過程例如用于短路區(qū)的復(fù)原的手動操作，這可以有助于提高可加工性和生產(chǎn)量。