本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種提高OLED顯示亮度均勻性的方法及裝置。

背景技術(shù)：

OLED(Organic Light Emitting Diode，有機(jī)發(fā)光二極管)顯示器與傳統(tǒng)的LCD顯示器不同，無需背光燈，采用非常薄的有機(jī)材料涂層和玻璃基板，當(dāng)有電流通過時，這些有機(jī)材料就會發(fā)光。而且OLED顯示屏可以做得更輕更薄，可視角度更大，并且能夠顯著節(jié)省電能，因此有取代傳統(tǒng)CRT以及LCD的趨勢。OLED根據(jù)驅(qū)動方式分為主動矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器(AMOLED)和被動矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器(PMOLED)。

在平板顯示技術(shù)中，主動矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器(AMOLED)以其輕薄、主動發(fā)光、快響應(yīng)速度、廣視角、色彩豐富及高亮度、低功耗、耐高低溫等眾多優(yōu)點(diǎn)而被業(yè)界公認(rèn)為是繼LCD之后的第三代顯示技術(shù)，目前已越來越多地應(yīng)用在手機(jī)、數(shù)碼相機(jī)等便攜式產(chǎn)品中，中等尺寸的AMOLED電視屏也即將開始規(guī)模生產(chǎn)。然而，現(xiàn)今OLED顯示器所面臨的一個重要問題是亮度不均勻。由于OLED顯示器中，每個OLED器件的亮度會因?yàn)楣に嚮蛘呤褂蒙系膿p耗有所差異，因此很容易出現(xiàn)像素點(diǎn)的顯示亮度不均勻現(xiàn)象。OLED器件的亮度損耗速度與以下幾項(xiàng)因素特別有關(guān)，包括OLED器件的特性、工藝環(huán)境、OLED器件的驅(qū)動方式等。此外，亮度不均勻性在全彩OLED顯示器上尤為嚴(yán)重。一個全彩OLED顯示器具有紅、綠、藍(lán)三種顏色的OLED器件。這三種器件的亮度損耗速度是不一樣的，在長時間使用后，三種顏色的OLED器件的亮度差異會更為明顯，以至出現(xiàn)OLED屏幕顯示亮度不均勻，顯示圖像偏色，顯示區(qū)域出現(xiàn)明顯的殘影，嚴(yán)重影響了消費(fèi)者的觀感效果。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明提供一種提高OLED顯示亮度均勻性的方法及裝置，能夠使得顯示亮度均勻，提高顯示質(zhì)量。

所述技術(shù)方案如下：

本發(fā)明提供了一種提高OLED顯示亮度均勻性的方法，其包括：獲取OLED顯示屏上顯示的測試圖像中每個像素的亮度，以得到圖像的像素亮度矩陣；對得到的圖像的像素亮度矩陣進(jìn)行歸一化處理，以得到亮度矩陣中每個像素亮度的歸一化數(shù)值，并生成圖像的歸一化亮度矩陣；對圖像的歸一化亮度矩陣采用反向點(diǎn)屏方法進(jìn)行殘影校正，以使圖像的亮度均勻化。

進(jìn)一步地，對得到的圖像的亮度矩陣進(jìn)行歸一化處理，以得到亮度矩陣中每個像素亮度的歸一化數(shù)值包括：

通過如下公式得到一個像素亮度的歸一化數(shù)值：T＝L1/L*100％，其中，T為像素亮度的歸一化數(shù)值，L1為相應(yīng)像素的亮度，L為參考亮度，所述參考亮度為測試圖像中像素的亮度的最大值。

進(jìn)一步地，對圖像的歸一化亮度矩陣采用反向點(diǎn)屏方法進(jìn)行殘影校正，以使圖像的亮度均勻化，包括：

得到圖像的歸一化亮度矩陣中每個像素的亮度校正值，根據(jù)亮度校正值得到每個像素的最終驅(qū)動值，根據(jù)每個像素的最終驅(qū)動值驅(qū)動對應(yīng)的像素，以使每個像素的亮度相等。

進(jìn)一步地，通過如下公式得到一個像素的亮度校正值：LL＝L*(1-T)，其中，LL為一個像素的亮度校正值，L為參考亮度，T為相應(yīng)像素亮度的歸一化數(shù)值，所述參考亮度為測試圖像中像素的亮度的最大值。

進(jìn)一步地，通過如下公式得到一個像素的亮度校正值：若T大于50％，則LL＝L*(1-T)/m，若T小于50％，則LL＝L*(1-T)*m，其中，LL為一個像素的亮度校正值，L為參考亮度，T為相應(yīng)像素亮度的歸一化數(shù)值，m為增益系數(shù)，所述參考亮度為測試圖像中像素的亮度的最大值。

進(jìn)一步地，所述方法還包括：

在殘影校正一段時間后，點(diǎn)亮測試圖像并重新獲取OLED顯示屏上顯示的測試圖像中每個像素的亮度，并判斷每個像素的亮度是否相等，若不相等，則繼續(xù)進(jìn)行殘影校正直至每個像素的亮度相等。

本發(fā)明提供了一種提高OLED顯示亮度均勻性的裝置，其包括：

獲取模塊，用于獲取OLED顯示屏上顯示的測試圖像中每個像素的亮度，以得到圖像的像素亮度矩陣；

歸一化模塊，用于對得到的圖像的像素亮度矩陣進(jìn)行歸一化處理，以得到亮度矩陣中每個像素亮度的歸一化數(shù)值，并生成圖像的歸一化亮度矩陣；

校正模塊，用于對圖像的歸一化亮度矩陣采用反向點(diǎn)屏方法進(jìn)行殘影校正，以使圖像的亮度均勻化。

進(jìn)一步地，所述歸一化模塊，還用于通過如下公式得到一個像素亮度的歸一化數(shù)值：T＝L1/L*100％，其中，T為像素亮度的歸一化數(shù)值，L1為相應(yīng)像素的亮度，L為參考亮度，所述參考亮度為測試圖像中像素的亮度的最大值。

進(jìn)一步地，所述校正模塊，還用于得到圖像的歸一化亮度矩陣中每個像素的亮度校正值，根據(jù)亮度校正值得到每個像素的最終驅(qū)動值，根據(jù)每個像素的最終驅(qū)動值驅(qū)動對應(yīng)的像素，以使每個像素的亮度相等。

進(jìn)一步地，所述校正模塊，還用于通過如下公式得到一個像素的亮度校正值：LL＝L*(1-T)，其中，LL為一個像素的亮度校正值，L為參考亮度，T為相應(yīng)像素亮度的歸一化數(shù)值，所述參考亮度為測試圖像中像素的亮度的最大值。

進(jìn)一步地，所述校正模塊，還用于通過如下公式得到一個像素的亮度校正值：若T大于50％，則LL＝L*(1-T)/m，若T小于50％，則LL＝L*(1-T)*m，其中，LL為一個像素的亮度校正值，L為參考亮度，T為相應(yīng)像素亮度的歸一化數(shù)值，m為增益系數(shù)，所述參考亮度為測試圖像中像素的亮度的最大值。

進(jìn)一步地，所述裝置還包括：判斷模塊，用于在殘影校正一段時間后，點(diǎn)亮測試圖像并重新獲取OLED顯示屏上顯示的測試圖像中每個像素的亮度，并判斷每個像素的亮度是否相等，若不相等，則繼續(xù)進(jìn)行殘影校正直至每個像素的亮度相等。

本發(fā)明實(shí)施例提供的技術(shù)方案帶來的有益效果是：

通過獲取OLED顯示屏上顯示的測試圖像中每個像素的亮度，以得到圖像的像素亮度矩陣；對得到的圖像的像素亮度矩陣進(jìn)行歸一化處理，以得到亮度矩陣中每個像素亮度的歸一化數(shù)值，并生成圖像的歸一化亮度矩陣；對圖像的歸一化亮度矩陣采用反向點(diǎn)屏方法進(jìn)行殘影校正，以使圖像的亮度均勻化。從而能夠提高顯示亮度均勻性，達(dá)到屏幕各區(qū)域亮度均衡的效果，能夠更真實(shí)的還原、顯示圖像，并且可以大幅度提高OLED顯示器的出廠良品率和實(shí)際使用壽命，保證OLED顯示器在生命周期內(nèi)的亮度一致性，并且容易在現(xiàn)有制程和工序上實(shí)現(xiàn)，無需增加其他工藝設(shè)備和硬件，極大地降低了成本。

上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段，而可依照說明書的內(nèi)容予以實(shí)施，并且為了讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更明顯易懂，以下特舉較佳實(shí)施例，并配合附圖，詳細(xì)說明如下。

附圖說明

圖1是本發(fā)明第一實(shí)施例提供的提高OLED顯示亮度均勻性的方法的步驟流程圖；

圖2是灰階圖像的示意圖；

圖3是歸一化處理后的亮度矩陣的示意圖；

圖4是亮度校正圖像的示意圖；

圖5是校正后的圖像的示意圖；

圖6是本發(fā)明第二實(shí)施例提供的提高OLED顯示亮度均勻性的裝置的結(jié)構(gòu)框圖。

具體實(shí)施方式

為更進(jìn)一步闡述本發(fā)明為達(dá)成預(yù)定發(fā)明目的所采取的技術(shù)手段及功效，以下結(jié)合附圖及較佳實(shí)施例，對依據(jù)本發(fā)明提出的提高OLED顯示亮度均勻性的方法及裝置其具體實(shí)施方式、結(jié)構(gòu)、特征及功效，詳細(xì)說明如后。

有關(guān)本發(fā)明的前述及其他技術(shù)內(nèi)容、特點(diǎn)及功效，在以下配合參考圖式的較佳實(shí)施例詳細(xì)說明中將可清楚的呈現(xiàn)。通過具體實(shí)施方式的說明，當(dāng)可對本發(fā)明為達(dá)成預(yù)定目的所采取的技術(shù)手段及功效得以更加深入且具體的了解，然而所附圖式僅是提供參考與說明之用，并非用來對本發(fā)明加以限制。

第一實(shí)施例

圖1是本發(fā)明第一實(shí)施例提供的提高OLED顯示亮度均勻性的方法的步驟流程圖。本發(fā)明實(shí)施例的提高OLED顯示亮度均勻性的方法使得顯示亮度均勻，提高顯示質(zhì)量，請參考圖1，本實(shí)施例的提高OLED顯示亮度均勻性的方法，可以包括以下步驟101-107。

步驟101，獲取OLED顯示屏上顯示的測試圖像中每個像素的亮度，以得到圖像的像素亮度矩陣。

本步驟中，可以使用光電探測器測量顯示屏上顯示的測試圖像中每個像素的亮度，然后通過讀取光電探測器所獲取的每個像素的亮度就可以得到圖像的像素亮度矩陣。測試圖像為預(yù)設(shè)的灰階圖像，例如如圖2所示的方格圖像201。在進(jìn)行OLED顯示屏的LTPS基板制程時，可以制作光電探測器(photo detectors，也即TFT管)，用以監(jiān)控圖像中每一個像素發(fā)光的亮度。

步驟103，對得到的圖像的像素亮度矩陣進(jìn)行歸一化處理，以得到亮度矩陣中每個像素亮度的歸一化數(shù)值，并生成圖像的歸一化亮度矩陣。

其中，可以通過如下公式得到任一個像素亮度的歸一化數(shù)值：T＝L1/L*100％，其中，T為像素亮度的歸一化數(shù)值，L1為相應(yīng)像素的亮度，L為參考亮度，參考亮度為測試圖像中像素的亮度的最大值。圖2所示的圖像的像素亮度經(jīng)歸一化處理后生成圖像的歸一化亮度矩陣如圖3所示。

步驟105，對圖像的歸一化亮度矩陣采用反向點(diǎn)屏方法進(jìn)行殘影校正，以使圖像的亮度均勻化。

其中，采用反向點(diǎn)屏方法進(jìn)行殘影校正也可以稱為反向點(diǎn)屏燒機(jī)，即對圖像的歸一化亮度矩陣進(jìn)行補(bǔ)正，具體地，可以包括以下步驟：

得到圖像的歸一化亮度矩陣中每個像素的亮度校正值，根據(jù)亮度校正值得到每個像素的最終驅(qū)動值，根據(jù)每個像素的最終驅(qū)動值驅(qū)動對應(yīng)的像素，以使每個像素的亮度相等。上述方法也就是對亮度高的像素進(jìn)行降低亮度處理，對亮度低的像素進(jìn)行提高亮度處理的過程，從而通過上述反向點(diǎn)屏燒機(jī)方法，可以達(dá)到屏幕各區(qū)域亮度均衡的效果。

優(yōu)選地，可以通過如下公式得到一個像素的亮度校正值：LL＝L*(1-T)，其中，LL為一個像素的亮度校正值(即一個像素的最終亮度)，L為參考亮度，T為相應(yīng)像素亮度的歸一化數(shù)值，參考亮度為測試圖像中像素的亮度的最大值。例如：若像素的歸一化數(shù)值為98％，參考亮度為300，則亮度校正值為300×(1-98％)＝300*2％＝6nit。若像素的歸一化數(shù)值為65％，則亮度校正值為300×(1-65％)＝300*35％＝105nit，以對圖1的圖像進(jìn)行亮度校正為例，校正時應(yīng)采用圖4所示的圖像401的亮度對圖1進(jìn)行亮度校正，即采用圖4的亮度對圖1進(jìn)行點(diǎn)屏燒機(jī)。

優(yōu)選地，還可以采用如下公式得到一個像素的亮度校正值：若T大于預(yù)設(shè)值(例如50％)，則LL＝L*(1-T)/m，若T小于預(yù)設(shè)值(例如50％)，則LL＝L*(1-T)*m，其中，LL為一個像素的亮度校正值，L為參考亮度，T為相應(yīng)像素亮度的歸一化數(shù)值，參考亮度為測試圖像中像素的亮度的最大值，m為增益系數(shù)，可以為大于1的任意數(shù)值，例如2、2.5、3、4、5等整數(shù)或小數(shù)。例如以預(yù)設(shè)值50％為例，若增益系數(shù)m為2，T小于預(yù)設(shè)值50％，則亮度校正值增大一倍，若T大于預(yù)設(shè)值50％，則亮度校正值減小一倍，例如，若像素的歸一化數(shù)值為98％，增益系數(shù)m為2，則亮度校正值為300×(1-98％)/2＝300*1％＝3nit。若像素的歸一化數(shù)值為40％，則亮度校正值為300×(1-40％)*2＝300*160％＝480nit。上述方法可以提高殘影校正速度，在其他參數(shù)(例如LL、T、L)不變的情況下，校正速度的倍數(shù)與增益系數(shù)有關(guān)，若增益系數(shù)為2，則校正速度加倍，若增益系數(shù)為3，則校正速度提高兩倍，依次類推，采用上述方法能提高殘影校正速度主要是因?yàn)榱炼刃Ｕ翟礁邥r，對OLED器件的損耗越大，因此校正時間就會縮短。

優(yōu)選地，步驟105之后還可以包括步驟107。

步驟107，在殘影校正一段時間后(例如1小時)，點(diǎn)亮測試圖像(可以為灰階圖像，例如白畫面圖像)并重新獲取OLED顯示屏上顯示的測試圖像中每個像素的亮度，并判斷每個像素的亮度是否相等，若不相等，則繼續(xù)進(jìn)行殘影校正直至每個像素的亮度相等，即繼續(xù)進(jìn)行步驟103-105，若相等，則結(jié)束。(如圖5所示為校正后的圖像501中像素亮度均相等的示意圖)。

綜上所述，本發(fā)明實(shí)施例提供的提高OLED顯示亮度均勻性的方法，通過獲取OLED顯示屏上顯示的測試圖像中每個像素的亮度，以得到圖像的像素亮度矩陣；對得到的圖像的像素亮度矩陣進(jìn)行歸一化處理，以得到亮度矩陣中每個像素亮度的歸一化數(shù)值，并生成圖像的歸一化亮度矩陣；對圖像的歸一化亮度矩陣采用反向點(diǎn)屏方法進(jìn)行殘影校正，以使圖像的亮度均勻化。從而能夠提高顯示亮度均勻性，達(dá)到屏幕各區(qū)域亮度均衡的效果，能夠更真實(shí)的還原、顯示圖像，并且可以大幅度提高OLED顯示器的出廠良品率和實(shí)際使用壽命，保證OLED顯示器在生命周期內(nèi)的亮度一致性，并且容易在現(xiàn)有制程和工序上實(shí)現(xiàn)，無需增加其他工藝設(shè)備和硬件，極大地降低了成本。

以下為本發(fā)明的裝置實(shí)施例，在裝置實(shí)施例中未詳盡描述的細(xì)節(jié)，可以參考上述對應(yīng)的方法實(shí)施例。

第二實(shí)施例

圖6是本發(fā)明第二實(shí)施例提供的提高OLED顯示亮度均勻性的裝置的主要架構(gòu)框圖。請參考圖6，提高OLED顯示亮度均勻性的裝置包括：獲取模塊601、歸一化模塊603、以及校正模塊605。

具體地，獲取模塊601，用于獲取OLED顯示屏上顯示的測試圖像中每個像素的亮度，以得到圖像的像素亮度矩陣；

歸一化模塊603，用于對得到的圖像的像素亮度矩陣進(jìn)行歸一化處理，以得到亮度矩陣中每個像素亮度的歸一化數(shù)值，并生成圖像的歸一化亮度矩陣；

校正模塊605，用于對圖像的歸一化亮度矩陣采用反向點(diǎn)屏方法進(jìn)行殘影校正，以使圖像的亮度均勻化。

優(yōu)選地，歸一化模塊603，還用于通過如下公式得到一個像素亮度的歸一化數(shù)值：T＝L1/L*100％，其中，T為像素亮度的歸一化數(shù)值，L1為相應(yīng)像素的亮度，L為參考亮度，參考亮度為測試圖像中像素的亮度的最大值。

優(yōu)選地，校正模塊605，還用于得到圖像的歸一化亮度矩陣中每個像素的亮度校正值，根據(jù)亮度校正值得到每個像素的最終驅(qū)動值，根據(jù)每個像素的最終驅(qū)動值驅(qū)動對應(yīng)的像素，以使每個像素的亮度相等。

優(yōu)選地，校正模塊605，還用于通過如下公式得到一個像素的亮度校正值：LL＝L*(1-T)，其中，LL為一個像素的亮度校正值，L為參考亮度，T為相應(yīng)像素亮度的歸一化數(shù)值，參考亮度為測試圖像中像素的亮度的最大值。

優(yōu)選地，校正模塊605，還用于通過如下公式得到一個像素的亮度校正值：若T大于預(yù)設(shè)值，則LL＝L*(1-T)/m，若T小于預(yù)設(shè)值，則LL＝L*(1-T)*m，其中，LL為一個像素的亮度校正值，L為參考亮度，T為相應(yīng)像素亮度的歸一化數(shù)值，參考亮度為測試圖像中像素的亮度的最大值，m為增益系數(shù)，可以為大于1的任意數(shù)值，例如2、2.5、3、4、5等整數(shù)或小數(shù)。

優(yōu)選地，提高OLED顯示亮度均勻性的裝置，還包括：判斷模塊607，用于在殘影校正一段時間后，點(diǎn)亮測試圖像并重新獲取OLED顯示屏上顯示的測試圖像中每個像素的亮度，并判斷每個像素的亮度是否相等，若不相等，則繼續(xù)進(jìn)行殘影校正直至每個像素的亮度相等。

綜上所述，本發(fā)明實(shí)施例提供的提高OLED顯示亮度均勻性的裝置，通過獲取OLED顯示屏上顯示的測試圖像中每個像素的亮度，以得到圖像的像素亮度矩陣；對得到的圖像的像素亮度矩陣進(jìn)行歸一化處理，以得到亮度矩陣中每個像素亮度的歸一化數(shù)值，并生成圖像的歸一化亮度矩陣；對圖像的歸一化亮度矩陣采用反向點(diǎn)屏方法進(jìn)行殘影校正，以使圖像的亮度均勻化。從而能夠提高顯示亮度均勻性，達(dá)到屏幕各區(qū)域亮度均衡的效果，能夠更真實(shí)的還原、顯示圖像，并且可以大幅度提高OLED顯示器的出廠良品率和實(shí)際使用壽命，保證OLED顯示器在生命周期內(nèi)的亮度一致性，并且容易在現(xiàn)有制程和工序上實(shí)現(xiàn)，無需增加其他工藝設(shè)備和硬件，極大地降低了成本。

以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并非對本發(fā)明作任何形式上的限制，雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例揭露如上，然而并非用以限定本發(fā)明，任何熟悉本專業(yè)的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明技術(shù)方案范圍內(nèi)，當(dāng)可利用上述揭示的技術(shù)內(nèi)容做出些許更動或修飾為等同變化的等效實(shí)施例，但凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案內(nèi)容，依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實(shí)質(zhì)對以上實(shí)施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案的范圍內(nèi)。