專利名稱：驅(qū)動(dòng)電路、顯示裝置以及電視系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種能夠?qū)A轉(zhuǎn)換器輸出電路的缺陷進(jìn)行自行;險(xiǎn)測(cè)和 自行修復(fù)的用于驅(qū)動(dòng)顯示面板的驅(qū)動(dòng)電路。
背景技術(shù)：
近年來，隨著液晶面板的大型化和高清晰化，液晶驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集 成電路上的液晶驅(qū)動(dòng)用輸出端子的端子數(shù)在不斷增加，輸出端子輸出的 多值電壓也越來越趨于多灰階化。例如，現(xiàn)在為主流的液晶驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo) 體集成電路具有可輸出256灰階電壓的500個(gè)輸出端子。并且，具有1000 個(gè)以上輸出端子的液晶驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路也正在開發(fā)階段。此外， 隨著液晶面板的多色化，可輸出1024灰階電壓的液晶驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集 成電路也處于開發(fā)階段。
以下，參照?qǐng)D27對(duì)現(xiàn)有的液晶驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路的結(jié)構(gòu)進(jìn)行 說明。圖27是表示現(xiàn)有的液晶驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路的結(jié)構(gòu)框圖。
該圖所示液晶驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路101能夠從n個(gè)液晶驅(qū)動(dòng)用信 號(hào)輸出端子分別輸出m灰階的輸出電壓。首先，就液晶驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集 成電路101的結(jié)構(gòu)進(jìn)行說明。在液晶驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路101的外部， 設(shè)有時(shí)鐘輸入端子102、具有多個(gè)信號(hào)輸入端子的灰階數(shù)據(jù)輸入端子 103、 LOAD信號(hào)(加載信號(hào))輸入端子104、作為基準(zhǔn)電源端子的VO 端子105、 VI端子106、 V2端子107、 V3端子108、 V4端子109。此 外，液晶驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路101還包括n個(gè)液晶驅(qū)動(dòng)用信號(hào)輸出端 子111-1 ~ lll-n (以下，稱液晶驅(qū)動(dòng)用信號(hào)輸出端子為信號(hào)輸出端子。 并且，對(duì)液晶驅(qū)動(dòng)用信號(hào)輸出端子111-1 ~ lll-n進(jìn)行統(tǒng)稱時(shí)，稱之為信 號(hào)輸出端子111)。此外，液晶驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路101包括基準(zhǔn) 電路補(bǔ)正電路121、指示用移位寄存電路(pointer shift register circuit) 123、鎖存電路124、保持電路(hold circuit) 125， D/A轉(zhuǎn)換器(Digital Analog Converter:以下稱之為DAC)電路126以及輸出緩沖器127。其 中，指示用移位寄存電路123由n級(jí)的移位寄存電路123-1 ~ 123-n構(gòu)成， 鎖存電路124由n個(gè)鎖存電路124-1 ~ 124-n構(gòu)成，保持電路125由n個(gè)保持電路125-1 ~ 125-n構(gòu)成，DAC電路126由n個(gè)DAC電路126-1 ~
126- n構(gòu)成。此外，輸出緩沖器127由n個(gè)輸出緩沖器127-1 ~ 127-n構(gòu) 成，并且每個(gè)輸出緩沖器由運(yùn)算放大器形成。
其次，對(duì)液晶驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路101的動(dòng)作進(jìn)行說明。指示用 移位寄存電路123根據(jù)從時(shí)鐘輸入端子102輸入的時(shí)鐘輸入信號(hào)，對(duì)第 1個(gè)鎖存電路124-1至第n個(gè)鎖存電路124-n依次進(jìn)行選擇。通過指示用
103專ir出的灰階輸出數(shù)據(jù)的:電路。在此，灰階輸出數(shù)據(jù)是與每個(gè)鎖存電
路124相對(duì)應(yīng)的，換言之，是與每個(gè)信號(hào)輸出端子111相對(duì)應(yīng)的、并與 上述時(shí)鐘輸入信號(hào)同步的數(shù)據(jù)。從而，各個(gè)鎖存電路124-1 ~ 124-n能夠 存儲(chǔ)與每個(gè)信號(hào)輸出端子111相對(duì)應(yīng)的、分別為不同值的灰階輸出數(shù)據(jù)。 根據(jù)數(shù)據(jù)LOAD信號(hào)，已存儲(chǔ)在鎖存電路124-1 ~ 124-n的灰階輸出數(shù)據(jù) 被分別轉(zhuǎn)送到與這些鎖存電路分別相對(duì)應(yīng)的n個(gè)保持電路125-1-125-n。然后，保持電路125-1 ~ 125-n將鎖存電路124-1 ~ 124-n所輸入 的灰階輸出數(shù)據(jù)作為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)輸出到DAC電路126-1 ~ 126-n。
DAC電路126-1 ~ 126-n根據(jù)從保持電路125輸出的灰階輸出數(shù)據(jù)， 從m種類的灰階電壓中選擇1個(gè)電壓值，并輸出至輸出緩沖器127-1 ~
127- n。 DAC電路126能夠根據(jù)由基準(zhǔn)電源端子V0端子105 ~ V4端子 109所輸入的電壓，輸出m種類的灰階電壓。此外，輸出緩沖器127對(duì) DAC電路126輸出的灰階電壓進(jìn)行緩沖，然后作為液晶面板驅(qū)動(dòng)用信號(hào) 輸出到信號(hào)輸出端子111-1 ~ lll-n。
如上所述，在現(xiàn)有的液晶驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路101中，需要與液 晶驅(qū)動(dòng)用信號(hào)輸出端子111相同數(shù)量的移位寄存電路123、鎖存電路 124、保持電路125、 DAC電路126以及輸出緩沖器127。如果液晶驅(qū)動(dòng) 用信號(hào)輸出端子111的端子數(shù)為1000，那么上述電路124~ 127也分別 需要1000個(gè)。
如上所述，液晶面板等的顯示裝置近年來越來越趨于大型化和高清 晰化，超高清規(guī)格的高清晰電視(HDTV: High Definition Television) 具有1920條數(shù)據(jù)線。由于顯示驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路必須對(duì)數(shù)據(jù)線逐 一提供R、 G、 B灰階電壓信號(hào)，因此，顯示驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路需 要具備1920條x3 (R、 G、 B)-5760個(gè)輸出數(shù)，即，需要5760個(gè)液晶 驅(qū)動(dòng)用信號(hào)輸出端子。在此，如果按照1個(gè)顯示驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路導(dǎo)體集成電路。
一般情況下，在顯示驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路形成時(shí)，首先在晶圓階 段進(jìn)行檢測(cè)，封裝之后進(jìn)行出庫檢驗(yàn)，組裝到液晶面板上之后還要進(jìn)行 顯示檢測(cè)。此外，通過老化(burn-in)或應(yīng)力4企測(cè)(stress test)的篩選 檢測(cè)(screening test),能夠篩除有可能初期出現(xiàn)不良缺陷的半導(dǎo)體集 成電路。從而，能夠避免搭載了存在有不良顯示缺陷的顯示驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo) 體集成電路的顯示裝置流入市場(chǎng)。然而，在極少數(shù)的情況下，出庫檢測(cè) 和篩選檢測(cè)時(shí)被判斷為正常的集成電路由于極擺i小的缺陷和異物混入 附著等原因，在使用顯示裝置的過程中出現(xiàn)顯示不良缺陷。例如，即使 在顯示驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路的1條數(shù)據(jù)線上發(fā)生出貨后顯示不良缺陷 的概率僅為O.Olppm ( 1億分之1 )，但是在具有5760條數(shù)據(jù)線的超高 清規(guī)格的HDTV而言，發(fā)生顯示不良缺陷的概率是57.5ppm ( 100萬分 之57.6)。即，在大約17361臺(tái)中就可能有1臺(tái)存在顯示不良缺陷的問 題，而且越大型化和高清晰化，發(fā)生顯示不良的概率就越高。
如果發(fā)生了上述顯示不良缺陷，就必須迅速回收顯示裝置并且對(duì)顯 示驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路進(jìn)行修理。但是，回收修理不僅耗費(fèi)巨額的成 本，還有損于商品形象。
在此，有人提出了以下的方法，即基于現(xiàn)有技術(shù)，在顯示驅(qū)動(dòng)用半 導(dǎo)體集成電路上設(shè)置用于在電路存在有缺陷時(shí)作為備用的預(yù)備電路，通 過使用該預(yù)備電路替代存在有缺陷的電路以避免顯示驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集 成電^各存在有不良的方法。
具體而言，專利文獻(xiàn)l揭示的方法是在顯示驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電
路的移位寄存器的各級(jí)上形成預(yù)備的并聯(lián)電路，并進(jìn)行移位寄存器的自 行檢查，根據(jù)檢查結(jié)果，從并列電路中選擇無缺陷的那一個(gè)，從而避免 發(fā)生以移位寄存器的缺陷為因的顯示不良。此外，專利文獻(xiàn)2揭示的方 法是在DAC電路的輸入和輸出端設(shè)置選擇器，根據(jù)記載了缺陷DAC 電路的位置的RAM信息，對(duì)選擇器進(jìn)行切換，選擇無缺陷的DAC電路。 專利文獻(xiàn)1:日本國(guó)專利申請(qǐng)公開特開平6-208346號(hào)(
公開日1994 年7月26日)
專利文獻(xiàn)2:日本國(guó)專利申請(qǐng)公開特開平8-278771號(hào)(
公開日1996 年10月22日)

發(fā)明內(nèi)容
在專利文獻(xiàn)1中雖然揭示了 一種在設(shè)置有與移位寄存器并聯(lián)連接的 預(yù)備電路的情況下檢測(cè)移位寄存器的缺陷的方法以及將存在有缺陷的 移位寄存器切換為預(yù)備的移位寄存器的自行修復(fù)方法，但是，并沒有揭
示涉及對(duì)其他DAC電路等輸出電路的缺陷進(jìn)行檢測(cè)的方法、自行修復(fù) 方法。
另外，在專利文獻(xiàn)2中完全沒有對(duì)存在有缺陷的DAC電路進(jìn)行檢 測(cè)的方法。
本發(fā)明的目的在于提供一種用于驅(qū)動(dòng)顯示面板的驅(qū)動(dòng)電路，該驅(qū)動(dòng) 電路具有易于對(duì)輸出電路或輸出電路周邊的輸出電路塊的缺陷進(jìn)行檢
測(cè)的具體構(gòu)件，且在驅(qū)動(dòng)電路被安裝到顯示裝置之后也能夠?qū)Υ嬖谟腥?陷的輸出電路或輸出電路塊進(jìn)行自行修復(fù)。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供的驅(qū)動(dòng)電路用于驅(qū)動(dòng)顯示面板，且 具有與上述顯示面板連接的輸出端子、輸出電路塊以及預(yù)備輸出電路 塊，該輸出電路塊包含有能夠與上述輸出端子連接的輸出電路，該預(yù)備
特征在于，還包括r比較部，用于對(duì)來自上述輸出電路的:出信號(hào)和來
自上述預(yù)備輸出電路的輸出信號(hào)進(jìn)行比較；判斷部，基于上述比較部的 比較結(jié)果，判斷上述輸出電路是否存在有不良缺陷；連接切換部，在上 述判斷部的判斷結(jié)果表示為存在有不良缺陷的情況下，取代上述輸出電 路，使上述預(yù)備輸出電路與上述輸出端子進(jìn)行連接。
首先，本發(fā)明的驅(qū)動(dòng)電路是用于驅(qū)動(dòng)顯示面板的電路。因此，該驅(qū) 動(dòng)電路的基本動(dòng)作是對(duì)顯示面板所連接的輸出端子輸出用于驅(qū)動(dòng)顯示 面板的灰階電壓。
根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，比較部對(duì)上述輸出電路塊中含有的已與輸出端子連 接的輸出電路所輸出的輸出信號(hào)和上述預(yù)備輸出電路塊中含有的未與 輸出端子連接的預(yù)備輸出電路所輸出的輸出信號(hào)進(jìn)行比較。比較部對(duì)2 個(gè)輸出信號(hào)進(jìn)行比較，換而言之，對(duì)2個(gè)灰階電壓進(jìn)行比較。由此，對(duì) 于存在有缺陷的輸出電路的情況和不存在缺陷的情況，輸出不同值的信 號(hào)。
具體而言，例如對(duì)輸出電路輸入灰階m的輸入信號(hào)，對(duì)預(yù)備輸出電 路輸入灰階m+l的輸入信號(hào)。灰階m的灰階電壓是比灰階m+l的灰階電壓低的電壓。如果輸出電路為正常狀態(tài)，比較部輸出其表示自預(yù)備輸 出電路輸入了的灰階電壓較高的信號(hào)。另一方面，如果輸出電路存在有
缺陷，即使輸入灰階m的信號(hào)，輸出電路只能輸出高灰階電壓，在這種 情況下，比較部將輸出其表示自輸出電路輸入了的灰階電壓較高的信
由此，本發(fā)明的驅(qū)動(dòng)電路通過比較部對(duì)于輸出電路及預(yù)備輸出電路 分別所輸出的灰階電壓進(jìn)行比較，對(duì)應(yīng)于輸出電路存在有缺陷的情況和 沒有缺陷的情況，分別輸出不同值的信號(hào)。
其次，判斷部通過比較部所輸出的信號(hào)來判斷輸出電路是否存在有 不良缺陷。具體而言，如上所述，在對(duì)輸出電路輸入灰階m的輸入信號(hào)， 對(duì)預(yù)備輸出電路輸入了灰階m+l的輸入信號(hào)時(shí)，比較部將表示來自輸出 電路的灰階電壓較高的信號(hào)輸入至判斷部時(shí)，判斷部判斷出輸出電路存 在有不良缺陷。另一方面，如果比較部將表示來自預(yù)備輸出電路的灰階 電壓較高的信號(hào)輸入至判斷部時(shí)，判斷部判斷出輸出電路為正常狀態(tài)。
并且，本發(fā)明的驅(qū)動(dòng)電路具有連接切換部，該連接切換部在判斷部 的判斷結(jié)果表示為存在有不良缺陷時(shí)，代替輸出電路，使預(yù)備輸出電路 與輸出端子進(jìn)行連接。由此，驅(qū)動(dòng)電路能夠在判斷部判斷出輸出電路存 在有缺陷的情況下，通過連接切換部，使存在有缺陷的輸出電路和輸出 端子之間的連接斷開，而使預(yù)備輸出電路和輸出端子進(jìn)行連接。
如上所述，本發(fā)明的驅(qū)動(dòng)電路具有易于檢測(cè)出輸出電路缺陷的具體 構(gòu)件，從而能夠在輸出電路存在有缺陷時(shí)實(shí)現(xiàn)自行修復(fù)這樣的效果。
另外，本發(fā)明的驅(qū)動(dòng)電路優(yōu)選的是，上述比較部為運(yùn)算放大器。
通常，用于驅(qū)動(dòng)顯示面板的輸出電路所輸出的輸出信號(hào)在#:緩沖后
輸出至輸出端子。在此，運(yùn)算放大器將自身的輸出對(duì)自身的負(fù)極性輸入 端子進(jìn)行負(fù)反饋而成為電壓跟隨器電路，實(shí)現(xiàn)作為緩沖器電路的功能。
由此，如上所述，通過以運(yùn)算放大器作為比較部，運(yùn)算放大器具有 對(duì)來自輸出電路的輸出信號(hào)進(jìn)行緩沖作用。因而，本發(fā)明的驅(qū)動(dòng)電路無 需另外具備用于對(duì)來自輸出電路的輸出信號(hào)進(jìn)行緩沖的緩沖器電路，所 以能夠降低成本。
本發(fā)明的驅(qū)動(dòng)電路優(yōu)選的是，上述輸出電路塊以及上述預(yù)備輸出電 路塊還包含有使用了運(yùn)算放大器的輸出緩沖器，并使用上述運(yùn)算放大器 作為上述比較部，在上述判斷結(jié)果表示為存在有不良缺陷的情況下，取代上述輸出電路塊，使上述預(yù)備輸出電路塊與上述輸出端子進(jìn)行連接。 通過使用實(shí)際利用的電路，能夠取得在上述輸出電路及輸出緩沖器
存在有缺陷時(shí)實(shí)現(xiàn)自行修復(fù)這樣的效果。
本發(fā)明的驅(qū)動(dòng)電路優(yōu)選的是，上述輸出電路塊以及上迷預(yù)備輸出電
路塊還包含有使用了運(yùn)算放大器的輸出緩沖器和用于對(duì)輸入至輸出電
路的信號(hào)進(jìn)行保存的電路，并使用上述運(yùn)算放大器作為上迷比較部，在
上述判斷結(jié)果表示為存在有不良缺陷的情況下，取代上述輸出電路塊，
使上述預(yù)備輸出電路塊與上述輸出端子進(jìn)行連接。
通過使用實(shí)際利用的電路，能夠取得在上述輸出電路及輸出緩沖器
存在有缺陷時(shí)實(shí)現(xiàn)自行修復(fù)這樣的效果。
預(yù)備輸出電路的輸入信號(hào)進(jìn)行控制的控制部i其中:該控制部對(duì)上述輸 出電路以及上述預(yù)備輸出電路輸入大小不同的輸入信號(hào)，且輸出與大小 不同的上迷輸入信號(hào)分別對(duì)應(yīng)的、來自上述比較部的比較結(jié)果的期待
值；上述判斷部在上述比較結(jié)果和上述期待值為不同的情況下，判斷出
上述輸出電路存在有不良缺陷。
通過具有上述結(jié)構(gòu)，如果輸出電路存在有缺陷時(shí)，來自比較部的比 較結(jié)果即使存在多個(gè)模式，能夠與各模式對(duì)應(yīng)，由判斷電路正確檢測(cè)出 輸出電路的不良缺陷。
具體而言，如上所述，當(dāng)存在有輸出電路只能輸出高電壓這樣的缺
陷時(shí)，對(duì)輸出電路輸入灰階m的輸入信號(hào)，對(duì)預(yù)備輸出電路輸入灰階 m+l的輸入信號(hào)，由此，比較部將輸出表示自輸出電路輸入了的灰階電 壓較高的信號(hào)。另一方面，當(dāng)存在有輸出電路只能輸出低電壓這樣的缺 陷時(shí)，對(duì)輸出電路輸入灰階m+l的輸入信號(hào)，對(duì)預(yù)備輸出電路輸入灰階 m的輸入信號(hào)，在這種情況下，比較部輸出表示自預(yù)備輸出電路輸入了 的灰階電壓較高的信號(hào)。
即使輸出電路存在有缺陷這樣狀況相同，根據(jù)輸出電路的缺陷種類 以及其動(dòng)作確認(rèn)方法，來自比較部的比較結(jié)果也將成為不同模式。在此，
控制部對(duì)判斷部分別輸出與向輸出電路以及預(yù)備輸出電路輸入的輸入 信號(hào)對(duì)應(yīng)的、來自比較部的比較結(jié)果的期待值。上述判斷部在比較結(jié)果 和期待值為不同的情況下，判斷出上述輸出電路存在有不良缺陷。
如上所述，控制部對(duì)判斷部輸出與每一輸入信號(hào)對(duì)應(yīng)的期待值，判斷部使用期望值來對(duì)輸出電路是否存在有不良缺陷進(jìn)行判斷，由此，表 示輸出電路存在有缺陷的比較結(jié)果即使存在多個(gè)模式，也能與各模式對(duì) 應(yīng)判斷出輸出電路是否存在有不良缺陷。
本發(fā)明的顯示面板驅(qū)動(dòng)用的集成電路優(yōu)選的是，還具有用于存儲(chǔ)標(biāo)
記的標(biāo)記存4渚部，該標(biāo)記表示上述判斷部的判斷結(jié)果；上述連接切換部 在上述標(biāo)記的值表示上述輸出電路存在有不良缺陷的情況下，取代上述 輸出電路，使上述預(yù)備輸出電路與上述輸出端子進(jìn)行連接。
如上所述，通過具有用于存儲(chǔ)表示判斷結(jié)果的標(biāo)記的標(biāo)記存儲(chǔ)部， 能夠通過電控制進(jìn)行已判斷存在有不良缺陷的輸出電路和預(yù)備輸出電 路之間的切換，而且在判斷動(dòng)作結(jié)束后也能維持切換后的狀態(tài)。
本發(fā)明的驅(qū)動(dòng)電路優(yōu)選的是，在對(duì)上述顯示面板所顯示的圖像不產(chǎn) 生影響的期間，上述比較部對(duì)來自上述輸出電路的輸出信號(hào)和來自上述 預(yù)備輸出電路的輸出信號(hào)進(jìn)行比較；上述判斷部基于上述比較部的比較 結(jié)果，判斷上述輸出電路是否存在有不良缺陷；在通過上述判斷部判斷 為存在有不良缺陷的情況下，上述連接切換部將判斷為存在有不良缺陷
出端子的連接；在上迷連接切換部使上述輸出端子與上述預(yù)備輸出電路 的輸出之間實(shí)現(xiàn)連接后，上述預(yù)備輸出電路對(duì)上述輸出端子輸出輸出信
弓一
通過上述結(jié)構(gòu)，并不會(huì)對(duì)上述顯示面板顯示的圖像不產(chǎn)生影響，能 夠?qū)⒋嬖谟腥毕莸妮敵鲭娐非袚Q為預(yù)備的輸出電路，從而對(duì)輸出電路的 缺陷實(shí)現(xiàn)對(duì)應(yīng)處理。
本發(fā)明的驅(qū)動(dòng)電路優(yōu)選的是，還包括檢測(cè)部，對(duì)提供給上述驅(qū)動(dòng) 電路的電源電流的值進(jìn)行檢測(cè)；正常電流值保存部，預(yù)先保存有上述驅(qū) 動(dòng)電^各在正常動(dòng)作時(shí)的上述電源電流的值；電流值比4交部，對(duì)來自上述 檢測(cè)部的電源電流的值和來自正常電流值保存部的電源電流的值進(jìn)行 比較；驅(qū)動(dòng)電路判斷部，基于上述電流值比較部的比較結(jié)果，判斷上述 輸出電路是否存在有不良缺陷，其中，在上述驅(qū)動(dòng)電路判斷部的判斷結(jié) 果表示存在有不良缺陷的情況下，上述比較部對(duì)來自上述輸出電路的輸 出信號(hào)和來自上述預(yù)備輸出電路的輸出信號(hào)進(jìn)行比較；上述判斷部基于
上述比較部的比較結(jié)果，判斷上述輸出電路是否存在有不良缺陷；在通 過上述判斷部判斷為存在有不良缺陷的情況下，上述連接切換部將判斷為存在有不良缺陷的輸出電路與上述輸出端子的連接切換為上述預(yù)備 輸出電路與上述輸出端子的連接。
首先，如果驅(qū)動(dòng)電路中某處發(fā)生動(dòng)作不良時(shí)，驅(qū)動(dòng)電路所消耗的電 源電流值變大。具體而言，如果驅(qū)動(dòng)電路所具有的輸出電路存在有缺陷 時(shí)，驅(qū)動(dòng)電路所消耗的電源電流值變大。
在此，通過具有上述結(jié)構(gòu)，電流值比較部對(duì)4企測(cè)部所;險(xiǎn)測(cè)出的電源 電流值和保存部所保存的驅(qū)動(dòng)電路在正常動(dòng)作時(shí)的電源電流值進(jìn)行比 較，集成電路判斷部基于電流值比較部的比較結(jié)果，能夠判斷集成電路 是否存在有不良缺陷。其結(jié)果，集成電路能夠?qū)ψ陨韮?nèi)部是否發(fā)生動(dòng)作 不良進(jìn)行判斷。
通過比較部以及判斷部來檢測(cè)輸出電路的不良缺陷，但是，通過比 較部以及判斷部所進(jìn)行的處理要比通過檢測(cè)部以及電流值比較部基于 電源電流值檢測(cè)出驅(qū)動(dòng)電路的動(dòng)作不良的時(shí)間而言需要更多的時(shí)間。
因此，驅(qū)動(dòng)電路的檢出部以及電流值比較部基于電源電流值來判斷 驅(qū)動(dòng)電路自身是否發(fā)生動(dòng)作不良缺陷，且在判斷出發(fā)生了動(dòng)作不良缺陷 時(shí)，比較部、判斷部、連接切換部能夠檢測(cè)出發(fā)生缺陷的輸出電路，并 將已發(fā)生缺陷的輸出電路切換為預(yù)備的輸出電路，由此，無需白耗時(shí)間 進(jìn)行比較部的處理。其結(jié)果，驅(qū)動(dòng)電路能夠高效率地檢測(cè)出自身的動(dòng)作 不良缺陷并進(jìn)行自行修復(fù)。
本發(fā)明的驅(qū)動(dòng)電路優(yōu)選的是，在上迷顯示面板接通電源后，上述比 較部對(duì)來自上述輸出電路的輸出信號(hào)和來自上述預(yù)備輸出電路的輸出
信號(hào)進(jìn)行比較；上述判斷部基于上述比較部的比較結(jié)果，判斷上述輸出 電路是否存在有不良缺陷；在通過上述判斷部判斷為存在有不良缺陷的 情況下，上述連接切換部將判斷為存在有不良缺陷的輸出電路與上述輸
通過上述結(jié)構(gòu)，即使在集成電路動(dòng)作中發(fā)生了輸出電路存在有不良 缺陷時(shí)，通過再接通電源，能夠?qū)⒋嬖谟腥毕莸妮敵鲭娐非袚Q為預(yù)備的 輸出電路，從而對(duì)輸出電路的缺陷實(shí)現(xiàn)對(duì)應(yīng)處理。
本發(fā)明的驅(qū)動(dòng)電路優(yōu)選的是，在上迷顯示面板的垂直回掃期間，上 述比較部對(duì)來自上述輸出電路的輸出信號(hào)和來自上述預(yù)備輸出電路的 輸出信號(hào)進(jìn)行比較；上述判斷部基于上述比較部的比較結(jié)果，判斷上述 輸出電路是否存在有不良缺陷；在通過上述判斷部判斷為存在有不良缺陷的情況下，上述連接切換部將判斷為存在有不良缺陷的輸出電路與上
^ '通過上述結(jié)構(gòu)，即使是在顯示面板正顯;圖像時(shí)，也不會(huì)對(duì)顯示面 板所顯示的圖像產(chǎn)生影響，將存在有缺陷的輸出電路切換為預(yù)備的輸出 電路，從而能夠?qū)敵鲭娐返娜毕輰?shí)現(xiàn)對(duì)應(yīng)處理。
本發(fā)明的驅(qū)動(dòng)電路優(yōu)選的是，還包括用于斷開上述輸出端子至上述 顯示面板的信號(hào)傳輸路徑的斷開部，在上述斷開部斷開上述輸出端子至 上述顯示面板的信號(hào)傳輸路徑后，上述比較部對(duì)來自上述輸出電路的輸
出信號(hào)和來自上述預(yù)備輸出電路的輸出信號(hào)進(jìn)行比較；上述判斷部基于 上述比較部的比較結(jié)果，判斷上述輸出電路是否存在有不良缺陷；在通 過上述判斷部判斷為存在有不良缺陷的情況下，上述連接切換部將判斷 為存在有不良缺陷的輸出電路與上述輸出端子的連接切換為上述預(yù)備 輸出電路與上述輸出端子的連接。
根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，對(duì)顯示面板所顯示的圖像不會(huì)產(chǎn)生影響，將存在有 缺陷的輸出電路切換為預(yù)備的輸出電路，從而能夠?qū)敵鲭娐返娜毕輰?shí) 現(xiàn)對(duì)應(yīng)處理。
另外，本發(fā)明的驅(qū)動(dòng)電路也可以是如下的結(jié)構(gòu)。
即，本發(fā)明的驅(qū)動(dòng)電路是用于驅(qū)動(dòng)顯示面板的驅(qū)動(dòng)電路，并具有自 行修復(fù)部，該自行修復(fù)部用于對(duì)存在有不良缺陷的上述驅(qū)動(dòng)電路自身進(jìn) 行自行修復(fù)。
本發(fā)明的驅(qū)動(dòng)電路優(yōu)選的是，具有用于輸出輸出信號(hào)的輸出電路， 該輸出信號(hào)是用于驅(qū)動(dòng)上述顯示面板的信號(hào)；上述自行修復(fù)部具有用于 對(duì)上述輸出電路是否存在有不良缺陷進(jìn)行判斷的判斷部；在上述判斷部 的判斷結(jié)果表示為存在有不良缺陷的情況下，對(duì)上述驅(qū)動(dòng)電路自身進(jìn)行 自行修復(fù)，使得對(duì)上述顯示面板輸出正常的輸出信號(hào)。
本發(fā)明的驅(qū)動(dòng)電i 各優(yōu)選的是，具有能夠?qū)ι鲜鲲@示面板輸出上述輸 出信號(hào)的預(yù)備輸出電路；上述自行修復(fù)部具有切換部，在上述判斷部的 判斷結(jié)果表示為存在有不良缺陷的情況下，作為對(duì)上述顯示面板的輸出 信號(hào)，該切換部將由存在有不良缺陷的輸出電路所輸出的輸出信號(hào)切換 為由上述預(yù)備輸出電路所輸出的輸出信號(hào)。
本發(fā)明的驅(qū)動(dòng)電路優(yōu)選的是，上述判斷部具有用于對(duì)上述輸出電路 所輸出的輸出信號(hào)和上述預(yù)備輸出電路所輸出的輸出信號(hào)進(jìn)行比較的良缺陷。
本發(fā)明的顯示裝置優(yōu)選具有上述任意一種驅(qū)動(dòng)電路。
本發(fā)明的顯示裝置具有顯示面板和驅(qū)動(dòng)電路，該驅(qū)動(dòng)電路包括用于 輸出輸出信號(hào)的輸出電路，該輸出信號(hào)是用于驅(qū)動(dòng)上述顯示面板的信
號(hào)，該顯示裝置的特征在于上述驅(qū)動(dòng)電路還包括用于對(duì)上述輸出電路 是否存在有不良缺陷進(jìn)行判斷的判斷部以及能夠?qū)ι鲜鲲@示面板輸出 上述輸出信號(hào)的預(yù)備輸出電路；上述顯示面板具有切換部，在上述判斷 部的判斷結(jié)果表示為存在有不良缺陷的情況下，作為對(duì)上述顯示面板進(jìn) 行驅(qū)動(dòng)的輸出信號(hào)，該切換部將存在有不良缺陷的輸出電路所輸出的輸 出信號(hào)切換為上述預(yù)備輸出電路所輸出的輸出信號(hào)。
本發(fā)明的顯示裝置可構(gòu)成為，包括顯示面板；輸出電路，輸出用于 驅(qū)動(dòng)上述顯示面板的輸出信號(hào)；預(yù)備輸出電路，能夠?qū)ι鲜鲲@示面板輸 出上述輸出信號(hào)；判斷部，判斷上述輸出電路是否存在有不良缺陷；以 及切換部，在上述判斷部的判斷結(jié)果表示為存在有不良缺陷的情況下， 作為對(duì)上述顯示面板進(jìn)行驅(qū)動(dòng)的輸出信號(hào)，將存在有不良缺陷的輸出電 路所輸出的輸出信號(hào)切換為上述預(yù)備輸出電路所輸出的輸出信號(hào)。 本發(fā)明的電視系統(tǒng)可構(gòu)成為，具有上述任意一種顯示裝置。 本發(fā)明的其他目的、特征和優(yōu)點(diǎn)在以下的描述中會(huì)變得十分明了。 此外，以下參照附圖來明確本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)。


圖l是表示本發(fā)明的一實(shí)施方式的顯示驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路的結(jié) 構(gòu)的說明圖。
圖2是表示本發(fā)明的一實(shí)施方式的顯示裝置的結(jié)構(gòu)框圖。 圖3是表示本發(fā)明的一實(shí)施方式的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試1的流程圖。 圖4是表示本發(fā)明的一實(shí)施方式的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試2的流程圖。 圖5是表示本發(fā)明的一實(shí)施方式的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試3的流程圖。 圖6是表示本發(fā)明的一實(shí)施方式的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試4的流程圖。 圖7是表示本發(fā)明的一實(shí)施方式的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試5的流程圖。 圖8是表示在本發(fā)明的一實(shí)施方式，使用預(yù)備輸出電路替代存在有 不良缺陷的輸出電路的流程圖。圖9是表示本發(fā)明的一實(shí)施方式的從接通顯示裝置的電源開始，經(jīng)
過動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試之后，進(jìn)入通常動(dòng)作的流程圖。
圖10是表示用于對(duì)本發(fā)明的一實(shí)施方式的運(yùn)算放大器1進(jìn)行動(dòng)作
確認(rèn)的電路結(jié)構(gòu)的說明圖。
圖11是表示本發(fā)明的其他實(shí)施方式的顯示驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路
的結(jié)構(gòu)的說明圖。
圖12是表示本發(fā)明的其他實(shí)施方式的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試1的流程圖。 圖13是表示本發(fā)明的其他實(shí)施方式的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試2的流程圖。 圖14是表示本發(fā)明的其他實(shí)施方式的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試3的流程圖。 圖15是表示本發(fā)明的其他實(shí)施方式的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試4的流程圖。 圖16是表示本發(fā)明的其他實(shí)施方式的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試5的流程圖。 圖17是表示在本發(fā)明的其他實(shí)施方式，使用預(yù)備輸出電路替代存
在有不良缺陷的輸出電路的流程圖。
圖18是表示本發(fā)明的其他實(shí)施方式的顯示裝置的概略結(jié)構(gòu)的框圖。
圖19是表示本發(fā)明的其他實(shí)施方式的顯示裝置的結(jié)構(gòu)框圖。
圖20是表示本發(fā)明的其他實(shí)施方式的從接通顯示裝置的電源開始，
經(jīng)過動(dòng)作確認(rèn)之后，進(jìn)入通常動(dòng)作的流程圖。
圖21是表示本發(fā)明的其他實(shí)施方式的顯示裝置的結(jié)構(gòu)框圖。 圖22是表示本發(fā)明的一實(shí)施方式的電視系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。 圖23的(a) ~ (f)是表示本發(fā)明的一實(shí)施方式的輸入到顯示裝置
的掃描信號(hào)、視頻信號(hào)、像素電極的電壓值的時(shí)序圖。
圖24是表示本發(fā)明的一實(shí)施方式的動(dòng)作判斷電路的結(jié)構(gòu)框圖。
圖25是表示在本發(fā)明的一實(shí)施方式中的在正常動(dòng)作狀態(tài)下對(duì)集成
電路的電源電流值進(jìn)行檢測(cè)和保存處理的流程圖。
圖26是表示在本發(fā)明的一實(shí)施方式中的根據(jù)提供給集成電路的電
源電流值，對(duì)集成電路的動(dòng)作不良缺陷進(jìn)行檢測(cè)處理的流程圖。
圖27是表示現(xiàn)有技術(shù)的顯示驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路的結(jié)構(gòu)的說明圖。
〈附圖標(biāo)記il明〉
1-1 -運(yùn)算放大器(比較部)、1-2 -運(yùn)算放大器(比較部)、l-n -運(yùn)算放大器(比較部)、2c -開關(guān)(連接切換部)、2d -開關(guān)(連 接切換部)、3-1 -判斷電路(判斷部)、3-2 -判斷電路(判斷部)、3-n -判斷電路(判斷部)、4-1 -判斷標(biāo)記(標(biāo)記存儲(chǔ)部)、4-2 -判斷標(biāo)記(標(biāo)記存儲(chǔ)部)、4-n -判斷標(biāo)記(標(biāo)記存儲(chǔ)部)、8-1 - DAC 電路(輸出電路)、8-2 - DAC電路(輸出電路)、8-n - DAC電路(輸 出電路)、10 -液晶驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路(驅(qū)動(dòng)電路)、10'-液晶 驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路(驅(qū)動(dòng)電路)、20 -液晶驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電 路(驅(qū)動(dòng)電路)、21 -運(yùn)算放大器(比較部)、21A -運(yùn)算放大器(比 較部)、21B -運(yùn)算放大器(比較部)、28 - DAC電路(預(yù)備輸出電 路)、28A -DAC電路(預(yù)備輸出電路)、28B -DAC電路(預(yù)備輸 出電路)、50 -比較判斷部(自行修復(fù)部、判斷部)、60 -切換電路 (自行修復(fù)部、切換部)、61 -切換電路(自行修復(fù)部)、80 -顯示 面板、80'-顯示面板、90 -顯示裝置、90'-顯示裝置、90"-顯示 裝置、202 -電阻(檢測(cè)部)、204 - A/D轉(zhuǎn)換器(檢測(cè)部)、206 -EEPROM (正常電流值保存部)、208 -比較電路(電流值比較部、驅(qū) 動(dòng)電路判斷部)、300 -電視系統(tǒng)。
具體實(shí)施例方式
以下，參照附圖對(duì)本發(fā)明的實(shí)施方式進(jìn)行說明。 (實(shí)施方式1 )
以下，參照?qǐng)D1-圖10,對(duì)本發(fā)明的實(shí)施方式1進(jìn)行說明。 (顯示裝置90的結(jié)構(gòu))
首先，參照?qǐng)D2對(duì)本發(fā)明的顯示裝置90的概略結(jié)構(gòu)進(jìn)行說明。圖2 是表示顯示裝置90的概略結(jié)構(gòu)的框圖。
如圖2所示，顯示裝置卯包括顯示面板80和顯示驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集 成電路(以下稱之為集成電路)10,集成電路10根據(jù)從外部輸入的灰 階數(shù)據(jù)來驅(qū)動(dòng)顯示面板80。集成電路(驅(qū)動(dòng)電路)10包括切換電路(自 行修復(fù)部、切換部)60、切換電路(自行修復(fù)部、切換部)61、輸出電 路塊(輸出電路)30、預(yù)備輸出電路塊(預(yù)備輸出電路)40以及比較判 斷電路(比較部、判斷部、自行修復(fù)部)50。此外，顯示面板80具有 像素70,集成電路10的灰階電壓施加于像素70。 (顯示裝置90的基本動(dòng)作)
以下對(duì)顯示裝置90的基本動(dòng)作進(jìn)行說明。首先，顯示裝置90包括 2種基本動(dòng)作。具體而言， 一種動(dòng)作是通常動(dòng)作，顯示裝置90的集成電路IO將從外部輸入的灰階數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成灰階電壓(輸出信號(hào))，顯示面板
80根據(jù)該灰階電壓來顯示圖像。另一種動(dòng)作是自行檢測(cè)修復(fù)動(dòng)作，集成 電路10對(duì)輸出電路塊30是否存在有缺陷進(jìn)行檢測(cè)，如果輸出電路30 存在有不良缺陷，集成電路IO將自行進(jìn)行修復(fù)。
以下，對(duì)集成電路10的自行檢測(cè)修復(fù)動(dòng)作的概略進(jìn)行說明。首先， 進(jìn)行自行檢測(cè)修復(fù)動(dòng)作時(shí)，通過切換電路61向輸出電路塊30和預(yù)備輸 出電路塊40輸入來自外部的動(dòng)作確認(rèn)用灰階數(shù)據(jù)。
輸出電路塊30和預(yù)備輸出電路塊40分別將輸入的灰階數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成 灰階電壓并輸出到比較判斷電路50。比較判斷電路50對(duì)來自輸出電路 塊的灰階電壓和來自預(yù)備輸出電路塊的灰階電壓進(jìn)行比較，并根據(jù)比較 結(jié)果，判斷輸出電路塊是否存在有缺陷。
然后，比較判斷電路50向切換電路61和切換電路60分別輸出表 示輸出電路塊是否存在有不良缺陷的判斷結(jié)果。切換電路61根據(jù)比較 判斷電路50的判斷結(jié)果，對(duì)由外部輸入的灰階數(shù)據(jù)的輸出對(duì)象進(jìn)行切 換。相對(duì)于此，切換電路60從輸出電路塊30和預(yù)備輸出電路塊40分 別被輸入灰階電壓，然后根據(jù)比較判斷電路的判斷結(jié)果，從輸入的灰階 電壓中選擇要輸出給顯示面板80的灰階電壓。
更具體地說，如果切換電路61坤皮輸入表示輸出電路塊30存在有不 良缺陷的判斷結(jié)果時(shí)，就向預(yù)備輸出電路塊40輸出與輸出給被判斷為 不良的輸出電路塊30的灰階數(shù)據(jù)相同的灰階數(shù)據(jù)。相對(duì)于此，如果切 換電路60接收到表示輸出電路塊30存在有不良缺陷的判斷結(jié)果時(shí)，取 代于被判斷為不良的輸出電路塊30所輸出的灰階電壓，向顯示面板80 輸出由預(yù)備輸出電路塊40輸出的灰階電壓。由此，即使在輸出電路塊 30存在有不良缺陷的情況下，集成電路IO也能夠通過使用預(yù)備輸出電 路塊，向顯示面板80輸出正常的灰階電壓。
如上所述，由于本發(fā)明的集成電路10具備比較判斷電路50、切換 電路60和切換電路61,因此，能夠?qū)ψ陨淼牟涣既毕葸M(jìn)行檢測(cè)并且自 行對(duì)自身的不良缺陷進(jìn)行修復(fù)。換言之，集成電路10具有能夠檢測(cè)其 自身的不良缺陷并且自行對(duì)自身的不良缺陷進(jìn)行修復(fù)的自行修復(fù)電路
(自行修復(fù)部)。
(集成電路10的結(jié)構(gòu))
以下，參照?qǐng)D1對(duì)本發(fā)明的集成電路10的結(jié)構(gòu)進(jìn)行說明。圖1是表示集成電路(驅(qū)動(dòng)電路)10的結(jié)構(gòu)的i兌明圖。
如圖l所示，集成電路10包括n個(gè)取樣電路6-l ~6-n (以下對(duì)此 進(jìn)行統(tǒng)稱時(shí)，稱之為取樣電路6),用于從灰階數(shù)據(jù)輸入端子(未圖示) 通過數(shù)據(jù)總線來輸入與n個(gè)液晶驅(qū)動(dòng)用信號(hào)輸出端子0UT1 ~ OUTn(以 下，稱之為輸出端子0UT1 ~OUTn)分別相對(duì)應(yīng)的灰階數(shù)據(jù)；n個(gè)保持 電路7-1 7-n (以下對(duì)此進(jìn)行統(tǒng)稱時(shí)，稱之為保持電路7); n個(gè)DAC 電路8-1 ~ 8-n (以下對(duì)此進(jìn)行統(tǒng)稱時(shí)，稱之為DAC電路8 ),用于將灰 階數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成灰階電壓信號(hào)；n個(gè)運(yùn)算放大器1-1 ~ l-n (以下對(duì)此進(jìn)行 統(tǒng)稱時(shí)，稱之為運(yùn)算放大器l)，對(duì)于來自DAC電路8的灰階電壓信號(hào) 起到緩沖器作用；n個(gè)判斷電路3-1 ~3-n (以下對(duì)此進(jìn)行統(tǒng)稱時(shí)，稱之 為判斷電路3)、 n個(gè)判斷標(biāo)記4-l ~4-n (以下對(duì)此進(jìn)行統(tǒng)稱時(shí)，稱之為 判斷標(biāo)記4)、 n個(gè)上拉/下拉(Pull up/Pull down)電^各5-1 ~ 5-n (以下 對(duì)此進(jìn)行統(tǒng)稱時(shí)，稱之為上拉/下拉電路5)。
此外，如圖1所示，集成電路IO還包括根據(jù)test信號(hào)進(jìn)行導(dǎo)通/截 止切換的多個(gè)開關(guān)2a、根據(jù)testB信號(hào)進(jìn)行導(dǎo)通/截止切換的多個(gè)開關(guān)2b、 根據(jù)判斷標(biāo)記4的輸出信號(hào)Flagl ~ Flagn進(jìn)行切換的多個(gè)開關(guān)(連接切 換部)2c和開關(guān)2d。其中，開關(guān)2a、 2b、 2d在輸入"H"信號(hào)時(shí)切換 成導(dǎo)通，在輸入"L"信號(hào)時(shí)切換成截止。而另一方面，開關(guān)2c在輸入 "H，，信號(hào)時(shí)切換成截止，在輸入"H"信號(hào)時(shí)切換成導(dǎo)通。
此外，集成電路10還分別具有一個(gè)預(yù)備的取樣電路26、預(yù)備的保 持電路27、預(yù)備的DAC電路(預(yù)備輸出電路)28、預(yù)備的運(yùn)算放大器 21。
在圖1，取樣電路6、保持電路7和DAC電路8相當(dāng)于圖2所示的 輸出電路塊30,取樣電路26、保持電路27和DAC電路28相當(dāng)于圖2 所示的預(yù)備電路塊40,運(yùn)算放大器l、判斷電路3和判斷標(biāo)記4相當(dāng)于 圖2所示的比較判斷電路50,與輸出端子0UT1 OUTn連接的開關(guān)2d 和開關(guān)2c相當(dāng)于圖2所示的切換電路60,與取樣電路6連接的開關(guān)2d 相當(dāng)于圖2所示的切換電路61。圖1所示的集成電路10通過輸出端子 0UT1 ~OUTn與圖2所示的顯示面板80連接，圖1中省略了顯示面板 80。
(集成電路10的通常動(dòng)作)
以下，參照?qǐng)Dl對(duì)集成電路10的通常動(dòng)作，即，向顯示面板80 (參照?qǐng)D2)輸出灰階電壓的動(dòng)作進(jìn)行說明。
首先，通常動(dòng)作下，test信號(hào)為"L", testB信號(hào)為"H"。 test信號(hào) 為"L"時(shí)，開關(guān)2a截止，開關(guān)2b導(dǎo)通。由此，各個(gè)取樣電路6分別 被輸入與各個(gè)取樣電路6相應(yīng)的、來自未圖示的指示用移位寄存器的信 號(hào)STR1 ~ STRn信號(hào)(以下對(duì)此進(jìn)行統(tǒng)稱時(shí)，稱之為STR信號(hào))。取樣 電路6根據(jù)輸入的STR信號(hào)，從灰階數(shù)據(jù)輸入端子通過數(shù)據(jù)總線取得與 自身相應(yīng)的灰階數(shù)據(jù)。保持電路7根據(jù)數(shù)據(jù)LOAD信號(hào)，從取樣電路6 輸入取樣電路6所取得的灰階數(shù)據(jù)。然后，DAC電路(輸出電路)8從 保持電路7輸入灰階數(shù)據(jù)。DAC電路8將輸入的灰階數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成灰階電 壓信號(hào)，并且輸出到運(yùn)算放大器(比較部)1的正極性輸入端子。在此， 由于開關(guān)2b導(dǎo)通，運(yùn)算放大器1的信號(hào)成為自身的負(fù)極性輸入端子的 負(fù)反饋。由此，運(yùn)算放大器l起到電壓輸出跟隨器的作用。從而，運(yùn)算 放大器l對(duì)于來自DAC電路8的灰階電壓起到緩沖器電路的作用，將 輸入到自身正極性輸入端子的灰階電壓信號(hào)輸出到相應(yīng)的輸出端子 OUTl OUTn。在此，開關(guān)2c為導(dǎo)通、開關(guān)2d為截止。關(guān)于開關(guān)2c 和開關(guān)2d的動(dòng)作，以下將有說明。如果將上述每個(gè)輸出端子上串聯(lián)的、 包括取樣電路6、保持電路7、 DAC電路8和運(yùn)算放大器1的電路塊作 為輸出電路塊，該輸出電路塊的目的在于，將從灰階數(shù)據(jù)輸入端子輸入 的灰階數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成用于驅(qū)動(dòng)顯示面板80的灰階電壓，并通過輸出端子 將上述轉(zhuǎn)換后的灰階電壓輸出給顯示面板80。 (切換成動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試)
然后，將動(dòng)作切換成用于確認(rèn)DAC電路8的動(dòng)作的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試 時(shí)，test信號(hào)為"H，，， testB信號(hào)為"L"。首先，通過使得開關(guān)2a成為 導(dǎo)通，向預(yù)備取樣電路26輸入作為動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試用STR信號(hào)的TSTR1 信號(hào)，向取樣電路6輸入作為動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試用信號(hào)STR的TSTR2信號(hào)。 此外，向運(yùn)算放大器1的負(fù)極性輸入端子輸入預(yù)備DAC電路28的灰階 電壓。另外，由于開關(guān)2b為截止，因此切斷了運(yùn)算放大器1的輸出向 自身負(fù)極性端子的負(fù)反饋。其結(jié)果，運(yùn)算放大器1成為一個(gè)對(duì)與自身的 正極性輸入端子串聯(lián)連接的DAC電路8的輸出電壓和預(yù)備DAC電路28 的輸出電壓進(jìn)行比較的比較器。
在此，由對(duì)動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試的切換以及動(dòng)作確i人測(cè)試的動(dòng)作進(jìn)行控制 的控制電路(未圖示)輸出test信號(hào)以及testB信號(hào)。此外，該控制電路(控制部)同時(shí)也是對(duì)動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試時(shí)通過數(shù)據(jù)總線所輸入的灰階數(shù)
據(jù)以及數(shù)據(jù)LOAD信號(hào)進(jìn)行控制的電路。此外，該控制電路可以是與對(duì) 通常動(dòng)作中的灰階數(shù)據(jù)、數(shù)據(jù)LOAD信號(hào)、移位時(shí)鐘用輸入信號(hào)進(jìn)行控 制的控制電路相同的電路，也可以是不同的電路。 (實(shí)施方式1的動(dòng)作確i人測(cè)試1 )
以下，參照?qǐng)D3對(duì)動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試1進(jìn)行說明。圖3是表示實(shí)施方式 1的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試1的流程圖。
在圖3所示的步驟S21 (以下簡(jiǎn)稱為S21), test信號(hào)為"H", testB 信號(hào)為"L"。如上所述，由于S21,運(yùn)算放大器1將起到比較器的作用。
然后，在S22,對(duì)控制電路(未圖示)具有的計(jì)數(shù)器m進(jìn)行初期化， 使得成為0。然后，控制電路使TSTR1信號(hào)成為有效，通過數(shù)據(jù)傳總線 將與計(jì)數(shù)器m的值相應(yīng)的灰階m的灰階數(shù)值存儲(chǔ)到預(yù)備取樣電路26, 在此是將灰階0的灰階數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到預(yù)備取樣電路26。此外，控制電路還 使TSTR2信號(hào)成為有效，并通過數(shù)據(jù)總線將計(jì)數(shù)器m的值加1得到的 m+l的灰階數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到取樣電路6，在此是將灰階1的灰階數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到 取樣電路6。然后，預(yù)備保持電路27根據(jù)數(shù)據(jù)LOAD信號(hào)，從取樣電 路26取得灰階0的灰階數(shù)據(jù)。DAC電路28從保持電路27輸入灰階數(shù) 據(jù)，并且向運(yùn)算放大器1的負(fù)極性輸入端子輸出灰階0的灰階電壓
(523) 。另一方面，保持電路7根據(jù)數(shù)據(jù)LOAD信號(hào)，從取樣電路6取 得灰階1的灰階數(shù)據(jù)。DAC電路8從保持電路7輸入灰階數(shù)據(jù)。各個(gè) DAC電路8分別向與自身串聯(lián)的各個(gè)運(yùn)算放大器1的正極性輸入端子輸 出灰階1的灰階電壓(S23)。本發(fā)明的集成電路IO是輸出n灰階的灰 階電壓的電路，灰階0的灰階電壓為最低電壓值，灰階n的灰階電壓為 最高電壓值。
其次，運(yùn)算放大器1對(duì)從DAC電路8輸入到正極性輸入端子的灰 階電壓和從DAC電路28輸入到負(fù)極性輸入端子的灰階電壓進(jìn)行比較
(524) 。具體而言，運(yùn)算放大器1向其自身的正極性輸入端子輸入灰階 1的灰階電壓，向其自身的負(fù)極性輸入端子輸入灰階O的灰階電壓。此 時(shí)，如果DAC電路8正常，由于灰階1的灰階電壓高于灰階0的灰階 電壓，運(yùn)算放大器1就輸出"H"電平的信號(hào)。在此，如果運(yùn)算放大器 l輸出的是"L"電平的信號(hào)，則表示DAC電路8存在不良缺陷。
然后，判斷電路(判斷部)3被輸入運(yùn)算放大器1的輸出信號(hào)，并且對(duì)輸入信號(hào)的電平和判斷電路3自身所保存的期待值進(jìn)行比較。在此， 判斷電路3所保存的期待值來自控制電路。在該動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試l,判斷 電路3所存儲(chǔ)的期待值為"H，，電平。
在此，如果通過運(yùn)算放大器1輸入到判斷電路3的信號(hào)與判斷電路 3自身所保存的期待值同樣為"H"電平，判斷電路3則判斷DAC電路 8正常。與此相對(duì)，如果通過運(yùn)算放大器l輸入的信號(hào)為"L，，電平，判 斷電路3就判斷DAC電路8存在有不良缺陷，并且向判斷標(biāo)記4輸出 "H"標(biāo)記。判斷標(biāo)記4通過判斷電路3被輸入"H"標(biāo)記的情況下，將 輸入的"H，，標(biāo)記保存在自身的內(nèi)部存儲(chǔ)器(S25)。
此外，判斷電路3還可構(gòu)成為當(dāng)被輸入運(yùn)算放大器1的輸出信號(hào) 時(shí)，輸入的信號(hào)為"H"電平的情況下，向判斷標(biāo)記4輸出"L'，標(biāo)記； 輸入的信號(hào)為"L，，電平的情況下，向判斷標(biāo)記4輸出"H"標(biāo)記。在此 情況下，只要通過判斷電路3輸入了一次"H"標(biāo)記，即使此后再有"L，， 標(biāo)記通過判斷電路3輸入，判斷標(biāo)記4也繼續(xù)保持"H"標(biāo)記。
此外，判斷電路3還可以構(gòu)成為當(dāng)判斷出存在不良缺陷時(shí)，判斷 標(biāo)記4為"H，，時(shí)，停止進(jìn)行此后的判斷動(dòng)作。
然后，判斷計(jì)數(shù)器m的值是否是n-l (S26)。計(jì)數(shù)器m的值為n-l 以下時(shí)，使得計(jì)數(shù)器m的值每次增加1,反復(fù)進(jìn)行S23 ~ S25的步驟， 直至m的值成為n-l。該n是集成電路10能夠輸出的灰階數(shù)。 (實(shí)施方式1的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試2 )
以下，參照?qǐng)D4il明動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試2。圖4是表示實(shí)施方式1的動(dòng) 作確iU則試2的流程圖。
首先，在動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試l,由于輸入到運(yùn)算放大器1的正極性輸入 端子的灰階電壓高于輸入到運(yùn)算放大器1的負(fù)極性輸入端子的灰階電 壓，因此，存在DAC電路28只能輸出低電壓或者DAC電路8只能輸 出高電壓等不良缺陷時(shí)，判斷電路3也輸出表示正常的"L，，標(biāo)記。
因此，在動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試2，通過向運(yùn)算放大器1的正極性端子輸入 比負(fù)極性端子的低的灰階電壓，來進(jìn)行動(dòng)作確認(rèn)。
首先，進(jìn)行動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試l之后，對(duì)計(jì)數(shù)器m的值進(jìn)行初期化，使 得成為0(S31)。然后，控制電路使TSTR1信號(hào)成為有效，并通過數(shù)據(jù) 總線將計(jì)數(shù)器m的值加1得出的m+l的灰階數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到預(yù)備取樣電路 26,在此是將灰階1的灰階數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到預(yù)備取樣電路26。然后，控制電路使TSTR2信號(hào)成為有效，并通過數(shù)據(jù)總線將與計(jì)數(shù)器m的值相應(yīng)的 灰階m的灰階數(shù)值存儲(chǔ)到取樣電路6，在此是將灰階0的灰階數(shù)據(jù)存儲(chǔ) 到取樣電路6。
在此，與動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試1的S23相同，DAC電路28通過保持電路 27被輸入取樣電路26所存儲(chǔ)的灰階數(shù)據(jù)。并且，DAC電路28向運(yùn)算 放大器1的負(fù)極性輸入端子輸出與輸入的灰階數(shù)據(jù)相應(yīng)的、灰階m+l 的灰階電壓。另一方面，DAC電路8通過保持電路7被輸入取樣電路6 所存儲(chǔ)的灰階數(shù)據(jù)。然后，各個(gè)DAC電路8向與自身串聯(lián)的各個(gè)運(yùn)算 放大器1的正極性輸入端子輸出與輸入的灰階數(shù)據(jù)相應(yīng)的灰階m的灰階 電壓，在此輸出灰階0的灰階電壓(S32)。
然后，運(yùn)算放大器1對(duì)從DAC電路8輸入到正極性輸入端子的灰 階0的灰階電壓和從DAC電路28輸入到負(fù)極性輸入端子的灰階1的灰 階電壓進(jìn)行比較(S33)。此時(shí)，如果DAC電路8正常，那么灰階l的 灰階電壓就比灰階O的灰階電壓高，運(yùn)算放大器1輸出"L"標(biāo)記的信 號(hào)。在此，如果運(yùn)算放大器l輸出的是"H，，電平的信號(hào)，表示DAC電 路8存在有不良缺陷。
然后，判斷電路3被輸入來自運(yùn)算放大器1的輸出信號(hào)后，對(duì)輸入 的信號(hào)電平和判斷電路3自身所保存的期待值進(jìn)行比較。在該動(dòng)作確認(rèn) 測(cè)試2,判斷電路3所存儲(chǔ)的期待值為"L，，電平。在此，如果從運(yùn)算放 大器1輸入的信號(hào)與判斷電路3自身所存儲(chǔ)的期待值同樣是"L"電平， 判斷電路3就判斷DAC電路8正常。與此相對(duì)，如果通過運(yùn)算放大器1 輸入的信號(hào)為"H"，判斷電路3就判斷為DAC電路8存在有不良缺陷， 并且向判斷標(biāo)記4輸出"H"標(biāo)記。判斷標(biāo)記4通過判斷電路3輸入"H" 標(biāo)記的情況下，將輸入的"H"標(biāo)記保存在自身的內(nèi)部存儲(chǔ)器(S34)。 然后，反復(fù)進(jìn)行上迷S33 ~ S34的步驟，直至m的值成為n-l( S35、 S36 )。 (實(shí)施方式1的動(dòng)作確iU則試3 )
以下，參照?qǐng)D5說明動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試3。圖5是表示實(shí)施方式1的動(dòng) 作確iU則試3的流程圖。
在DAC電路8,如果存在有輸出斷開的缺陷，即使確認(rèn)測(cè)試已結(jié)束， 運(yùn)算放大器1仍保持在進(jìn)行該確認(rèn)測(cè)試時(shí)輸入的灰階電壓，有時(shí)出現(xiàn)通 過動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試i和動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試2也無法檢測(cè)出不良缺陷的問題。對(duì) 此，在動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試3，在運(yùn)算放大器1的正極性輸入端子上連接有下拉電路。由此，在DAC電路8存在有輸出斷開時(shí)，向運(yùn)算放大器1的 正極性輸入端子輸入低電壓。其結(jié)果，在DAC電路8存在有輸出斷開 時(shí)，換言之，DAC電路8無輸出時(shí)，能夠防止運(yùn)算放大器1繼續(xù)保持已 實(shí)施完了的確認(rèn)測(cè)試的灰階電壓。
動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試3的具體順序如圖5所示，首先對(duì)計(jì)數(shù)器m進(jìn)^f亍初期 化，使得成為0(S41)。然后，通過上拉/下拉電路5，對(duì)運(yùn)算放大器1 的正極性輸入端子進(jìn)行下拉(S42)。此后的步驟S43 S47與上述動(dòng)作 確iU則試1的S23 ~ S27相同，在此省略i^明。
如上所述，通過對(duì)運(yùn)算放大器1的正極性輸入端子進(jìn)行下拉，再進(jìn) 行動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試1的順序，能夠在DAC電路8存在有輸出斷開的情況 下，使得運(yùn)算放大器1輸出"L"電平的信號(hào)。其結(jié)果，判斷電路3根 據(jù)輸入的"L，，電平的信號(hào)，作出DAC電路8存在有不良缺陷的判斷， 并且判斷標(biāo)記4存儲(chǔ)"H"標(biāo)記。
(實(shí)施方式1的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試4)
以下，參照?qǐng)D6說明動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試4。圖6是表示實(shí)施方式1的動(dòng) 作確認(rèn)測(cè)試4的流程圖。
在此，動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試4與動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試3同樣，是為了對(duì)應(yīng)DAC 電路8存在有斷開缺陷時(shí)的測(cè)試方法。如圖6所示，首先對(duì)計(jì)數(shù)器m進(jìn) 行初期化，使得成為0(S51)。然后，通過上拉/下拉電路5，對(duì)運(yùn)算放 大器1的正極性輸入端子進(jìn)行上拉(S52)。接下來的步驟S53-S57與 上述動(dòng)作確iU則試2的S32 S36相同，因此省略iJt明。
如上所述，通過對(duì)運(yùn)算放大器1的正極性輸入端子進(jìn)行上拉，再進(jìn) 行動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試2的測(cè)試順序，能夠在DAC電路8存在有斷開缺陷的 情況下，使得運(yùn)算放大器1輸出"H，，電平的信號(hào)。其結(jié)果，判斷電路 3根據(jù)輸入的"H"電平的信號(hào)，作出DAC電路8存在有不良缺陷的判 斷，并且判斷標(biāo)記4存j諸"H"標(biāo)記。 (實(shí)施方式1的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試5 )
以下，參照?qǐng)D7說明動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試5。圖7是表示實(shí)施方式1的動(dòng) 作確iL測(cè)試5的流程圖。
在DAC電路8，有時(shí)存在有相鄰的2個(gè)灰階發(fā)生短路的缺陷。當(dāng)發(fā) 生此類相鄰的2個(gè)灰階短路的缺陷時(shí)，DAC電路8將輸出這2個(gè)短路的 灰階的中間電壓。發(fā)生此類不良缺陷的情況下，DAC電路8所輸出的灰階電壓相對(duì)于正常情況，其電壓的偏離程度達(dá)不到l灰階(grayscale: 灰度)以上。因此，通過動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試1 4,檢測(cè)不出此類不良缺陷。 動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試5的目的在于檢測(cè)DAC電路8的此類相鄰的2個(gè)灰階發(fā) 生短路的不良缺陷。
如圖7中所示，首先對(duì)計(jì)數(shù)器m的值進(jìn)行初期化，使得成為0( S61 )。 然后，使TSTR1信號(hào)和TSTR2信號(hào)成為有效，通過數(shù)據(jù)總線將灰階m 的灰階數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到取樣電路26和取樣電路6,在此是將灰階0的灰階數(shù) 據(jù)存儲(chǔ)到取樣電路26和取樣電路6。接下來，DAC電路28和DAC電 路8分別通過保持電路27和保持電路7,從取樣電路26和取樣電路6 取得灰階O的灰階數(shù)據(jù)。然后，DAC電路28和DAC電路8分別向運(yùn)算 放大器1的正極性輸入端子和負(fù)極性輸入端子輸出灰階0的灰階電壓 (S62 )。
然后，通過未圖示的開關(guān)，使運(yùn)算放大器1的正極性輸入端子和負(fù) 極性輸入端子發(fā)生短路。在動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試1和動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試2，如果判 斷為DAC電路8無不良缺陷，分別輸入正極性輸入端子和負(fù)極性輸入 端子的灰階電壓之差達(dá)不到1灰階以上。從而，正極性輸入端子和負(fù)極 性輸入端子之間的短路不會(huì)引發(fā)大電流流入的問題。
在此，由于運(yùn)算放大器1的正極性輸入端子和負(fù)極性輸入端子發(fā)生 短路，運(yùn)算放大器1的2個(gè)輸入端子輸入同樣的灰階電壓。但是，由于 運(yùn)算放大器1原來所具有輸入輸出的偏移電壓，因此，即使其2個(gè)輸入 端子輸入相同的灰階電壓，運(yùn)算放大器l也會(huì)輸出"H"或者"L"。在 運(yùn)算放大器1的正極性輸入端子和負(fù)極性輸入端子發(fā)生短路的情況下， 運(yùn)算放大器1的輸出電平作為期待值被保存在判斷電路3 (S63)。
然后，將未圖示的開關(guān)切換成截止，解除運(yùn)算放大器1的正極性輸 入端子和負(fù)極性輸入端子之間的短路。此時(shí)，運(yùn)算放大器1的正極性輸 入端子^:輸入來自DAC電路8的灰階0的灰階電壓，而負(fù)極性輸入端 子被輸入來自DAC電路28的灰階0的灰階電壓。在此，只要輸入DAC 電路8和輸入DAC電路28不存在不良缺陷，運(yùn)算放大器1的輸出與判 斷電路3所存儲(chǔ)的期待值成為相同的輸出。由此，判斷電路3對(duì)運(yùn)算放 大器1的輸出和其自身所保存的期待值進(jìn)行比較(S64)。如果發(fā)現(xiàn)運(yùn)算 放大器1的輸出和期待值相異，判斷電路3就向判斷標(biāo)記4輸出"H" 標(biāo)記(S65 )。然后，通過未圖示的開關(guān)來切換運(yùn)算放大器1的輸入，使得運(yùn)算放
大器1的正極性輸入端子輸入來自DAC電路28的灰階電壓，并且使得 負(fù)極性輸入端子輸入來自DAC電路8的灰階電壓(S66)。然后進(jìn)行與 S64相同的處理(S67)。在S67，如果運(yùn)算放大器1的輸出和判斷電路3 所保存的期待值相異，判斷電路3向判斷標(biāo)記4輸出"H，，標(biāo)記(S68)。 如上所述，通過切換正極性輸入端子和負(fù)極性輸入端子，無論判斷電路 3所存儲(chǔ)的期待值是"H"電平還是"L，，電平，都能夠檢測(cè)出DAC電 路8的不良缺陷。
反復(fù)進(jìn)行上述S62 ~ S68的步驟，并且使計(jì)數(shù)器m的值每次都增加 1，直至計(jì)數(shù)器m的值成為n (S69、 S70 )。 (自行修復(fù))
以下，參照?qǐng)D8,對(duì)在判斷標(biāo)記4所存儲(chǔ)的是"H"標(biāo)記的情況下， 換言之，在上述動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試1-5,通過判斷電路3判斷出DAC電路 8-l~8-n中有某一個(gè)存在不良缺陷的情況下的進(jìn)行修復(fù)進(jìn)行說明。圖8 是表示通過對(duì)判斷為存在有不良缺陷的DAC電路8和預(yù)備DAC電路28 進(jìn)行切換，進(jìn)行自行修復(fù)的流程圖。
在DAC電路8被判斷為存在有不良缺陷的情況下，判斷電路3向 判斷標(biāo)記4輸出"H"標(biāo)記。然后，判斷標(biāo)記4被輸入來自判斷電路3 輸出的"H，，標(biāo)記，并且在其內(nèi)部保存該"H，，標(biāo)記。在此，控制電路 關(guān)于判斷標(biāo)記4是否存儲(chǔ)了 "H"標(biāo)記進(jìn)行檢測(cè)(S71)。如果控制電路 檢測(cè)出判斷標(biāo)記4并沒有存儲(chǔ)"H"標(biāo)記，接下來進(jìn)入S75的處理。但 如果控制電路檢測(cè)出判斷標(biāo)記4存儲(chǔ)了 "H"標(biāo)記，接下來對(duì)判斷標(biāo)記 4-l 4-n分別存儲(chǔ)的"H"標(biāo)記的個(gè)數(shù)進(jìn)行確認(rèn)。在此，判斷標(biāo)記4存 儲(chǔ)了多個(gè)"H"標(biāo)記的情況下，進(jìn)行S73的處理。而標(biāo)記4只存儲(chǔ)了一 個(gè)"H"標(biāo)記的情況下，進(jìn)行S74的處理(S72)。
在S74,將與保存了 "H"標(biāo)記的判斷標(biāo)記4相對(duì)應(yīng)的DAC電路8 切換成預(yù)備DAC電路28(S74)。首先，對(duì)存在有不良缺陷的DAC電 路8和預(yù)備DAC電路28的切換順序進(jìn)行說明，在此，假設(shè)與液晶驅(qū)動(dòng) 用信號(hào)輸出端子0UT1相應(yīng)的判斷標(biāo)記4-l存儲(chǔ)的是"H"標(biāo)記。
判斷標(biāo)記4-1向開關(guān)2c和開關(guān)2d輸出成為"H"電平的輸出信號(hào) Fagl。由于輸出信號(hào)Flagl的輸入，被輸入了 "H"電平的信號(hào)的開關(guān) 2c成為截止，而開關(guān)2d成為導(dǎo)通。由此由此，運(yùn)算放大器1-1的輸出和液晶驅(qū)動(dòng)用信號(hào)輸出端子OUTl之間的連接被開關(guān)2c切斷。輸入取 樣電路6-l的STR1信號(hào)通過開關(guān)2d被輸出到取樣電路26。由此，在取 樣電路26也對(duì)與液晶驅(qū)動(dòng)用信號(hào)輸出端子OUT1相應(yīng)的灰階數(shù)據(jù)進(jìn)行 存儲(chǔ)。此外，開關(guān)2d對(duì)運(yùn)算放大器21的輸出和液晶驅(qū)動(dòng)用信號(hào)輸出端 子OUT 1進(jìn)行連接。如上所述，通過判斷標(biāo)記4-1所輸出的輸出信號(hào)Flag 1 來切換開關(guān)2c和2d，從而能夠?qū)⒋嬖谟胁涣既毕莸腄AC電路8-1切換 成預(yù)備DAC電^各28。
其次，對(duì)S73的處理進(jìn)行說明。判斷標(biāo)記4存儲(chǔ)了多個(gè)"H"標(biāo)記 的情況下，可考慮預(yù)備DAC電路28出現(xiàn)不良缺陷的概率較大。因此， 在S73,控制電路使得判斷標(biāo)記4所存儲(chǔ)的標(biāo)記全都成為"L，，標(biāo)記，并 進(jìn)入S75的處理。如果S71的判斷結(jié)果是"否"，在進(jìn)行S73的處理或 者S74的處理之后，控制電路將test信號(hào)切換成"L",將testB信號(hào)切 換成"H"，并且進(jìn)入通常動(dòng)作(S75)。
如上所述，通過動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試1 ~5和自行-f奮復(fù)處理，集成電路IO 能夠?qū)⒋嬖谟胁涣既毕莸腄AC電路切換成預(yù)備DAC電路28。此外，在 第1實(shí)施方式，還具有與預(yù)備DAC電路28相應(yīng)的預(yù)備的取樣電路26 和保持電路27。從而，不只是DAC電路，在取樣電路6和保持電路7 存在有不良缺陷的情況下，也能夠切換成預(yù)備的取樣電路26和保持電 路27。
以下，參照?qǐng)D9，對(duì)接通集成電路IO所搭載的顯示裝置的電源之后 進(jìn)行動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試，最后進(jìn)入通常動(dòng)作的順序進(jìn)行說明。圖9是表示從 接通顯示裝置的電源開始經(jīng)過動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試，至進(jìn)入通常動(dòng)作的處理順 序的流程圖。
如圖9所示，首先接通顯示裝置的電源，通過對(duì)集成電路10進(jìn)行 初期化，使得判斷標(biāo)記4全都成為"L" (S81)。然后，通過控制電路將 test信號(hào)切換成"H"、 testB信號(hào)切換成"L",從而使得集成電路10切 換成動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試狀態(tài)(S82)。然后，控制電路和集成電路10進(jìn)行上 述動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試(S83)。接下來，控制電路對(duì)于動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試1-5是 否結(jié)束進(jìn)行確認(rèn)，并且將存在有不良缺陷的電路切換成預(yù)備電路，進(jìn)入 通常動(dòng)作(S84)。
(運(yùn)算放大器1的動(dòng)作確認(rèn))
上述動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試以運(yùn)算放大器1處于正常狀態(tài)作為前提。但是，運(yùn)算放大器1也可能存在有不良缺陷。因此，在本實(shí)施方式中，優(yōu)選在 進(jìn)行上述動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試之前，對(duì)運(yùn)算放大器1的動(dòng)作進(jìn)行確認(rèn)。以下，
參照?qǐng)D10,對(duì)運(yùn)算放大器1的動(dòng)作確認(rèn)進(jìn)行說明。圖IO是表示用于進(jìn)
行運(yùn)算放大器1的動(dòng)作確認(rèn)的周邊電路結(jié)構(gòu)的說明圖。
如圖10所示，運(yùn)算放大器1的正極性輸入端子與開關(guān)S5相連接， 開關(guān)S5用于對(duì)DAC電路8的輸出和預(yù)定電壓進(jìn)行切換。并且，開關(guān)S5 的B側(cè)(輸入預(yù)定電壓的一側(cè))與開關(guān)S3連接，開關(guān)S3對(duì)2個(gè)預(yù)定電 壓Vrefl和Vref2進(jìn)行切換。運(yùn)算放大器1的負(fù)極性輸入端子與開關(guān)S6 相連接，開關(guān)S6對(duì)運(yùn)算放大器1輸出的用于進(jìn)行負(fù)反饋的輸出和預(yù)定 電壓進(jìn)行切換。并且，開關(guān)S6的B側(cè)(輸入預(yù)定電壓的一側(cè))與開關(guān) S4連接，開關(guān)S4用于對(duì)2個(gè)預(yù)定電壓Vrefl和Vref2進(jìn)行切換。
以下，就運(yùn)算放大器1的通常動(dòng)作進(jìn)行說明。運(yùn)算放大器1進(jìn)行通 常動(dòng)作時(shí)，通過將開關(guān)S5切換到A側(cè)(DAC電路8的輸出側(cè))，開關(guān) S6也切換到A側(cè)，使運(yùn)算放大器1作為電壓輸出跟隨器的電路進(jìn)行動(dòng) 作。
以下，就進(jìn)行運(yùn)算放大器1的動(dòng)作確認(rèn)的順序進(jìn)行說明。首先，將 開關(guān)Sl和S2切換到B側(cè)。由此，切斷運(yùn)算放大器1的負(fù)反饋，使運(yùn)算 放大器l作為比較器進(jìn)行動(dòng)作。然后，將開關(guān)S3和S4切換到A側(cè)。由 此，運(yùn)算放大器1的正極性輸入端子輸入Vrefl，負(fù)極性輸入端子輸入 Vref2。在此，Vrefl和Vref2是預(yù)先生成的電壓，Vrefl的電壓值大于 Vref2的電壓值。并且，Vrefl和Vref2之間的電壓值的差大于運(yùn)算放大 器1的偏移值。此時(shí)，由于輸入到正極性輸入端子的Vrefl的電壓大于 輸入到負(fù)極性輸入端子的Vref2的電壓，因此，運(yùn)算放大器l輸出"H，， 電平的信號(hào)。判斷電路3對(duì)運(yùn)算放大器1的輸出進(jìn)行檢測(cè)，并且對(duì)檢測(cè) 值和判斷電路3自身所存儲(chǔ)的期待值"H，，進(jìn)行比較。在此，如果運(yùn)算 放大器1的輸出為"L，，電平，判斷電路3就判斷出運(yùn)算放大器1存在 有不良缺陷。判斷電路3所保存的期待值是由控制電路所賦予的。
此外，不能排除因運(yùn)算放大器1的比較動(dòng)作發(fā)生不良缺陷進(jìn)而導(dǎo)致 運(yùn)算放大器1只輸出"H"電平的信號(hào)的可能性。對(duì)此，將開關(guān)S3和 S4切換到B側(cè)，向運(yùn)算放大器1的正極性輸入端子輸入Vref2,向負(fù)極 性輸入端子輸入Vrefl。此時(shí)，由于輸入到負(fù)極性輸入端子的Vrefl的電 壓高于輸入到正極性輸入端子的Vref2的電壓，因此，運(yùn)算放大器1的輸出為"L"電平。判斷電路3對(duì)運(yùn)算放大器1的輸出進(jìn)行檢測(cè)，并且 對(duì)檢測(cè)值和判斷電路3自身所保存的期待值"L，，進(jìn)行比較。運(yùn)算放大 器l的輸出為"H"電平時(shí)，判斷電路3能夠判斷出運(yùn)算放大器1已存 在有不良缺陷。在此，通過控制電路對(duì)開關(guān)S3 S6進(jìn)行切換。 (實(shí)施方式2)
以下，參照?qǐng)D11 ~圖17來說明本發(fā)明的實(shí)施方式2。在此，只對(duì) 實(shí)施方式2中不同于實(shí)施方式1的部分進(jìn)行說明，省略重復(fù)內(nèi)容。
首先簡(jiǎn)述實(shí)施方式1和實(shí)施方式2的不同之處。在實(shí)施方式l,由 運(yùn)算放大器1對(duì)DAC電路8的輸出和DAC電路28的輸出進(jìn)行比較。 而在實(shí)施方式2，以相鄰的2個(gè)DAC電路8為一組，由運(yùn)算放大器l對(duì) 該相鄰的2個(gè)DAC電路8的輸出進(jìn)行比較。 (顯示驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路20的結(jié)構(gòu))
以下，參照?qǐng)D11,對(duì)本發(fā)明的顯示驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路(以下簡(jiǎn) 稱集成電路)20的結(jié)構(gòu)進(jìn)行說明。圖11是表示集成電路(顯示裝置驅(qū) 動(dòng)用集成電路)20的結(jié)構(gòu)的說明圖。
運(yùn)算放大器1與DAC電路8串聯(lián)連接，DAC電路8的輸出被輸入 到運(yùn)算放大器1的正極性輸入端子。來自與運(yùn)算放大器1相鄰的運(yùn)算放 大器串聯(lián)連接的DAC電路8的輸出，被輸入到運(yùn)算放大器1的負(fù)正極 性輸入端子。具體而言，如圖ll所示，將來自DAC電路8-l的輸出輸 入到運(yùn)算放大器1-1的正極性輸入端子，并通過開關(guān)2a將來自DAC電 路8-2的輸出輸入到運(yùn)算放大器1-1的負(fù)極性輸入端子。同樣，將來自 DAC電路8-2的輸出輸入到運(yùn)算放大器1-2的正極性輸入端子，并通過 開關(guān)2a將來自DAC電路8-1的輸出輸入到運(yùn)算放大器1-2的負(fù)極性輸 入端子。此外，集成電路20還具有預(yù)備取樣電路26A和預(yù)備取樣電路 26B、預(yù)備保持電路27A和預(yù)備保持電路27B、預(yù)備DAC電路28A和 預(yù)備DAC電路28B、運(yùn)算放大器21A和運(yùn)算放大器21B、上拉/下拉電 路25A和上拉/下拉電路25B。另外，將來自DAC電路28A的輸出輸入 到運(yùn)算放大器21A的正極性輸入端子，通過開關(guān)2a將來自DAC電路 28B的輸出輸入到運(yùn)算放大器21A的負(fù)極性輸入端子。此外，也是將來 自DAC電路28B的輸出輸入到運(yùn)算放大器21B的正^l性llr入端子，通 過開關(guān)2a將來自DAC電路28A的輸出輸入到運(yùn)算放大器21B的負(fù)極性 專餘入端子。(集成電路20的通常動(dòng)作) 在集成電路20的通常動(dòng)作下，與實(shí)施方式l同樣，test信號(hào)為"L" 電平、testB信號(hào)為"H"電平。由此，DAC電路8將通過保持電路7 輸入的灰階數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成灰階電壓信號(hào)，并且作為灰階電壓輸出到運(yùn)算放 大器1的正極性輸入端子。在此，由于開關(guān)2b為導(dǎo)通，運(yùn)算放大器1 的輸出成為對(duì)其自身的負(fù)極性輸入端子的負(fù)反饋。由此，運(yùn)算放大器1 起到電壓輸出跟隨器的作用。從而，運(yùn)算放大器1對(duì)于DAC電路8的 灰階電壓起到緩沖器作用，并且向相應(yīng)的輸出端子OUTl OUTn進(jìn)行 輸出。
(動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試的切換)
切換成集成電路20的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試時(shí)，將test信號(hào)切換成"H"電 平、testB信號(hào)切換成"L"電平。首先，通過使開關(guān)2a成為導(dǎo)通，向取 樣電路26A以及第奇數(shù)個(gè)的取樣電路6 (取樣電路6-l、 6-3 — 6- (n-l)) 輸入TSTR1信號(hào)，并且向取樣電路26B以及第偶數(shù)個(gè)的取樣電路6(取 樣電路6-2、 6-3…6-n)輸入TSTR2信號(hào)。另外，由于開關(guān)2a為導(dǎo)通， 因此，第奇數(shù)個(gè)的運(yùn)算放大器1的負(fù)極性輸入端子被輸入來自相鄰的第 偶數(shù)個(gè)的DAC電路8的輸出，而第偶數(shù)個(gè)的運(yùn)算放大器1的負(fù)極性輸 入端子被輸入來自相鄰的第奇數(shù)個(gè)的DAC電路8的輸出。在此，由于 testB信號(hào)為"L"電平，因此開關(guān)2b成為截止。由此，運(yùn)算放大器1 向其自身的負(fù)極性輸入端子的負(fù)反饋被切斷。其結(jié)果，運(yùn)算放大器l成 為比較器，對(duì)與自身串聯(lián)連接的DAC電路8的輸出和與自身相鄰的DAC 電路8的輸出進(jìn)行比較。
(實(shí)施方式2的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試1 )
以下，參照?qǐng)D12對(duì)實(shí)施方式2的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試1進(jìn)行說明。圖12 是表示實(shí)施方式2的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試1的流程圖。
首先，控制電路使test信號(hào)成為"H"電平、使testB信號(hào)成為"L" 電平(SIOI)。由此，運(yùn)算放大器1作為比較器進(jìn)行動(dòng)作(S102)。然后， 控制電路將第奇數(shù)個(gè)的判斷電路3 (判斷電路3-l、 3-3…3- (n-l ))的期 待值設(shè)定在"L"電平。并且，控制電路將第偶數(shù)個(gè)的判斷電路3 (判斷 電路3-2、 3-4…3匿n)的期待值設(shè)定在"H"電平。
然后，控制電路對(duì)自身所具備的計(jì)數(shù)器m進(jìn)行初期化，使得成為0 (S103)。并且，控制電路使TSTR1信號(hào)成為有效，取樣電路26A以及第奇數(shù)個(gè)的取樣電路6通過數(shù)據(jù)總線被輸入灰階m的灰階數(shù)據(jù)。此外， 控制電路使TSTR2信號(hào)成為有效，取樣電路26B以及第偶數(shù)個(gè)的取樣 電路6通過數(shù)據(jù)總線被輸入灰階m+l的灰階數(shù)據(jù)(S104 )。
在此，考慮到計(jì)數(shù)器m的值為0的情況，第奇數(shù)個(gè)的運(yùn)算放大器l 通過與自身串聯(lián)連接的第奇數(shù)個(gè)的DAC電路8向自身的正極性輸入端 子輸入灰階O的灰階電壓。另外，第奇數(shù)個(gè)的運(yùn)算放大器l通過與自身 相鄰的第偶數(shù)個(gè)的DAC電路8向自身的負(fù)極性輸入端子輸入灰階1的 灰階電壓。在此，連接在運(yùn)算放大器1的2個(gè)輸入端子的DAC電路8 都正常時(shí)，第奇數(shù)個(gè)的運(yùn)算放大器1的輸出將成為"L"。相對(duì)于此，第 偶數(shù)個(gè)的運(yùn)算放大器1通過與自身串聯(lián)連接的第偶數(shù)個(gè)的DAC電路8 向自身的正極性輸入端子輸入灰階1的灰階電壓，而第偶數(shù)個(gè)的運(yùn)算放 大器1通過與自身相鄰的第奇數(shù)個(gè)的DAC電路8向自身的負(fù)極性輸入 端子輸入灰階0的灰階電壓。在此，連接在運(yùn)算放大器1的2個(gè)輸入端 子的DAC電路8都正常時(shí)，第偶數(shù)個(gè)的運(yùn)算放大器1的輸出將成為"H"。
然后，判斷電路3判斷運(yùn)算放大器1的輸出信號(hào)的電平是否與自身 所存儲(chǔ)的期待值相一致(S105)。在此，如果運(yùn)算放大器1的輸出與期 待值相異，判斷電路3就會(huì)向判斷標(biāo)記4輸出"H"標(biāo)記(S106)。反復(fù) 進(jìn)行上述S104-S106的處理，使計(jì)數(shù)器m的值每次都增加1,直至計(jì) 數(shù)器m的值成為n-l (S107、 S108) (實(shí)施方式2的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試2 )
以下，參照?qǐng)D13說明實(shí)施方式2的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試2。圖13是表示 實(shí)施方式2的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試2的流程圖。
較之于實(shí)施方式2的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試1,在實(shí)施方式2的動(dòng)作確認(rèn)測(cè) 試2中，將第奇數(shù)個(gè)和第偶數(shù)個(gè)的灰階電壓關(guān)系設(shè)為相反的關(guān)系，其他 內(nèi)容相同。
首先，控制電路將第奇數(shù)個(gè)的判斷電路3的期待值設(shè)定成"H",并 且將第偶數(shù)個(gè)的判斷電路3的期待值設(shè)定成"L"。此外，控制電路對(duì)自 身具備的計(jì)數(shù)器m進(jìn)行初期化，使得成為O(Slll)。
然后，控制電路使TSTR1信號(hào)成為有效，取樣電路26A以及第奇 數(shù)個(gè)的取樣電路6通過數(shù)據(jù)總線被輸入灰階m+l的灰階數(shù)據(jù)。并且，控 制電路使TSTR2信號(hào)成為有效，取樣電路26B以及第偶數(shù)個(gè)的取樣電 路6通過數(shù)據(jù)總線輸入灰階m的灰階數(shù)值(S112)。在此，考慮計(jì)數(shù)器m的值為0的情況，第奇數(shù)個(gè)的運(yùn)算放大器1通 過與自身串聯(lián)連接的第奇數(shù)個(gè)的DAC電路8向自身的正極性輸入端子 輸入灰階1的灰階電壓，而第奇數(shù)個(gè)的運(yùn)算放大器1通過與自身相鄰的 第偶數(shù)個(gè)的DAC電路8向自身的負(fù)極性輸入端子輸入灰階0的灰階電 壓。在此，連接在運(yùn)算放大器1的2個(gè)輸入端子的DAC電路8都正常 時(shí)，第奇數(shù)個(gè)的運(yùn)算放大器1的輸出將成為"H"。相對(duì)于此，第偶數(shù)個(gè) 的運(yùn)算放大器1通過與自身串聯(lián)連接的第偶數(shù)個(gè)的DAC電路8向自身 的正極性輸入端子輸入灰階0的灰階電壓，而第偶數(shù)個(gè)的運(yùn)算放大器1 通過與自身相鄰的第奇數(shù)個(gè)的DAC電路8向自身的負(fù)極性輸入端子輸 入灰階1的灰階電壓。在此，連接在運(yùn)算放大器1的2個(gè)輸入端子的 DAC電路8都正常時(shí)，笫偶數(shù)個(gè)的運(yùn)算放大器1的輸出將成為"L"。
然后，判斷電路3對(duì)運(yùn)算放大器1的輸出的電平和自身所存儲(chǔ)的期 待值進(jìn)行比較(S113)。在此，如果運(yùn)算放大器1的輸出與期待值相異， 判斷電路3就向判斷標(biāo)記4輸出"H"標(biāo)記。反復(fù)進(jìn)行上述S112-S114 的處理，使計(jì)數(shù)器m的值每次都增加1，直至計(jì)數(shù)器m的值成為n-l (S115、 S116)。
(實(shí)施方式2的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試3 )
以下，參照?qǐng)D14說明實(shí)施方式2的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試3。圖14是表示 實(shí)施方式2的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試3的流程圖。
正如實(shí)施方式1的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試3的說明，DAC電路8存在斷開缺 陷時(shí)，確認(rèn)測(cè)試已結(jié)束，運(yùn)算放大器1仍然保持在進(jìn)行該確認(rèn)測(cè)試時(shí)輸 入的灰階電壓，即使通過實(shí)施方式2的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試1和動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試 2也可能檢測(cè)不出不良缺陷。
首先，與動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試1-2同樣，控制電路對(duì)自身所具備的計(jì)數(shù) 器m進(jìn)行初期化，使得成為0(S121)。并且，在集成電路20, DAC電 路8的正極性輸入端子與上拉/下拉電路5連接。在此，對(duì)上拉/下拉電 路5進(jìn)行控制，使得對(duì)第奇數(shù)個(gè)的運(yùn)算放大器1的正極性輸入端子進(jìn)行 上拉(S122)。其結(jié)果，第奇數(shù)個(gè)的DAC電路8存在有斷開缺陷時(shí)，將 向第奇數(shù)個(gè)的運(yùn)算放大器1的正極性輸入端子輸入高電壓。相對(duì)于此， 對(duì)上拉/下拉電路5進(jìn)行控制，使得對(duì)第偶數(shù)個(gè)的運(yùn)算放大器1的正極性 輸入端子進(jìn)行下拉(S122)。其結(jié)果，第偶數(shù)個(gè)的DAC電路8存在有斷 開缺陷時(shí)，將向第偶數(shù)個(gè)的運(yùn)算放大器1的正極性輸入端子輸入低電壓。接下來的S123 S127處理與實(shí)施方式2的動(dòng)作確iU則試1相同， 在此省略說明。
(實(shí)施方式2的動(dòng)作確^人測(cè)試4)
以下，參照?qǐng)D15說明實(shí)施方式2的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試4。圖15是表示 實(shí)施方式2的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試4的流程圖。
在此，本實(shí)施方式2的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試4的目的在于4企測(cè)出與動(dòng)作確 認(rèn)測(cè)試3相同的不良缺陷。首先，與上述動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試同樣，控制電路 對(duì)自身所具備的計(jì)數(shù)器m進(jìn)行初期化，使得成為0(S131)。然后，控 制電路對(duì)上拉/下拉電路5進(jìn)行控制，使得對(duì)笫奇數(shù)個(gè)的運(yùn)算放大器1的 正極性輸入端子進(jìn)行下拉(S122 )。其結(jié)果，第奇數(shù)個(gè)的DAC電路8存 在有斷開缺陷時(shí)，將向第奇數(shù)個(gè)的運(yùn)算放大器1的正極性輸入端子輸入 低電壓。相對(duì)于此，控制電路對(duì)上拉/下拉電路5進(jìn)行控制，使得對(duì)第偶 數(shù)個(gè)的運(yùn)算放大器1的正極性輸入端子進(jìn)行上拉(S122)。其結(jié)果，第 偶數(shù)個(gè)的DAC電路8存在有斷開缺陷時(shí)，將向第偶數(shù)個(gè)的運(yùn)算放大器1 的正極性輸入端子輸入高電壓。
接下來的S133-S137處理與實(shí)施方式2的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試2相同， 在此省略說明。
(實(shí)施方式2的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試5 )
以下，參照?qǐng)D16說明實(shí)施方式2的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試5。圖16是表示 實(shí)施方式2的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試5的流程圖。
正如實(shí)施方式1的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試5的說明，在DAC電路8有時(shí)會(huì) 出現(xiàn)相鄰的2個(gè)灰階短路的問題。實(shí)施方式2的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試5的目的 就在于^r測(cè)出此類不良缺陷。
如圖16所示，首先，控制電路對(duì)自身所具備的計(jì)數(shù)器m進(jìn)行初期 化，使得成為0(S141)。然后，使TSTR1和TSTR2成為有效，并通過 數(shù)據(jù)總線將灰階m的灰階數(shù)據(jù)輸入到取樣電路26A、取樣電路26B和取 樣電路6。然后，通過使數(shù)據(jù)LOAD信號(hào)成為有效，使得第奇數(shù)個(gè)的DAC 電路8和第偶數(shù)個(gè)的DAC電路8輸出同樣是灰階m的灰階電壓(S142 )。 然后，通過未圖示的開關(guān)，控制電路使運(yùn)算放大器1的正極性輸入端子 和負(fù)極性輸入端子發(fā)生短路。通過運(yùn)算放大器1的正極性輸入端子和負(fù) 極性輸入端子之間的短路，運(yùn)算放大器1的正極性輸入端子和負(fù)極性輸 入端子將輸入相同的灰階電壓。然后，作為期待值，判斷電路3存儲(chǔ)該算放大器的輸出電平(S143)。
然后，將未圖示的開關(guān)切換成截止，解除運(yùn)算放大器1的正極性輸 入端子和負(fù)極性輸入端子之間的短路。此時(shí)，在第奇數(shù)個(gè)的運(yùn)算放大器 1，正極性輸入端子通過與自身串聯(lián)連接的第奇數(shù)個(gè)的DAC電路8輸入 灰階m的灰階電壓，而負(fù)極性輸入端子通過與自身相鄰的第偶數(shù)個(gè)的 DAC電路8輸入灰階m的灰階電壓。此外，在第偶數(shù)個(gè)的運(yùn)算放大器1， 正極性輸入端子通過與自身串聯(lián)連接的笫偶數(shù)個(gè)的DAC電路8輸入灰 階m的灰階電壓，而負(fù)極性輸入端子通過與自身相鄰的第奇數(shù)個(gè)的DAC 電路8輸入灰階m的灰階電壓。在此，判斷電路3對(duì)自身所存儲(chǔ)的期待 值和運(yùn)算放大器1的輸出進(jìn)行比較(S144)。如果發(fā)現(xiàn)運(yùn)算放大器1的 輸出和期待值相異，判斷電路3就向判斷標(biāo)記4輸出"H"標(biāo)記。并且， 判斷標(biāo)記4在其內(nèi)部保存由判斷電路3輸出的"H"標(biāo)記。
然后，控制電路通過未圖示的開關(guān)，對(duì)DAC電路8輸出給運(yùn)算放 大器1的正極性輸入端子和負(fù)極性輸入端子的信號(hào)進(jìn)行切換(S146)。 接下來的處理與S147相同(S147)。此外，與S145同樣，運(yùn)算放大器1 的輸出和判斷電路3所存儲(chǔ)的期待值相異時(shí)，判斷電路3向判斷標(biāo)記4 輸出"H，，標(biāo)記(S148)。
反復(fù)進(jìn)行上述S142 ~ S148的步驟，使得計(jì)數(shù)器m的值每次都增加 1，直至計(jì)數(shù)器m的值成為n (S149、 S150)。 (實(shí)施方式2的自行修復(fù))
以下，參照?qǐng)D17，對(duì)在判斷標(biāo)記4所存儲(chǔ)的是"H"標(biāo)記的情況下， 即，在上述動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試1 ~5中判斷電路3判斷出某DAC電路8存在 不良缺陷的情況下的修復(fù)進(jìn)行說明。圖17是表示將被判斷為不良缺陷
進(jìn)行自行修復(fù);流程圖。 5 、
首先，控制電路對(duì)判斷標(biāo)記4是否保存了 "H"標(biāo)記進(jìn)行檢測(cè)(S151 )。 如果控制電路檢測(cè)出判斷標(biāo)記4并沒有保存"H"標(biāo)記，就進(jìn)入S153的 處理。相對(duì)于此，控制電路在檢測(cè)出判斷標(biāo)記4保存了 "H，，標(biāo)記的情 況下，將與保存了 "H"標(biāo)記的判斷標(biāo)記4相對(duì)應(yīng)的DAC電路切換成預(yù) 備DAC電路28A或者預(yù)備DAC電路28B。由于在實(shí)施方式2是以2個(gè) DAC電路8為一組進(jìn)行動(dòng)作確認(rèn)，因此，即使發(fā)現(xiàn)判斷標(biāo)記4存儲(chǔ)了 "H"標(biāo)記，也判別不出1組中究竟是哪個(gè)電路發(fā)生了不良缺陷。從而，在實(shí)
施方式2，與保存了 "H"標(biāo)記的判斷標(biāo)記4相對(duì)應(yīng)的1組DAC電路8, 即，第奇數(shù)個(gè)以及第偶數(shù)個(gè)的2個(gè)DAC電路8將被分別切換成預(yù)備DAC 電路28A以及預(yù)備DAC電路28B (S152)。以下，以DAC電路8-1存 在有不良缺陷為例，具體進(jìn)行說明。
在此，DAC電路8-1存在有不良缺陷的情況下，通過動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試 1 -5,判斷電路3-l和判斷電路3-2分別向判斷標(biāo)記4-l和判斷標(biāo)記4-2 輸出同樣的"H"標(biāo)記。然后，判斷標(biāo)記4-l和判斷標(biāo)記4-2分別向開關(guān) 2c和開關(guān)2d輸出上述從判斷電路3-l和判斷電路3-2輸入的"H"標(biāo)記， 使得開關(guān)2c成為截止、開關(guān)2d成為導(dǎo)通。其結(jié)果，取樣電路26A輸入 STR1信號(hào)，取樣電路26B輸入STR2信號(hào)。由此，取樣電路26A通過 數(shù)據(jù)總線取得與液晶驅(qū)動(dòng)用信號(hào)輸出端子OUT1相對(duì)應(yīng)的灰階數(shù)據(jù)，取 樣電路26B通過數(shù)據(jù)總線取得與液晶驅(qū)動(dòng)用信號(hào)輸出端子OUT2相對(duì)應(yīng) 的灰階數(shù)據(jù)。由于開關(guān)2c為截止?fàn)顟B(tài)，因此運(yùn)算放大器1-1的輸出和液 晶驅(qū)動(dòng)用信號(hào)輸出端子OUT1之間的連接被切斷，運(yùn)算放大器1-2的輸 出和液晶驅(qū)動(dòng)用信號(hào)輸出端子OU丁2之間的連接也被切斷。此外，由于 開關(guān)2d為導(dǎo)通狀態(tài)，因此運(yùn)算放大器21A的輸出和液晶驅(qū)動(dòng)用信號(hào)輸 出端子OUT1之間形成連接，運(yùn)算放大器21B的輸出和液晶驅(qū)動(dòng)用信號(hào) 輸出端子OUT2之間形成連接。
如上所述，將存在有不良缺陷的DAC電路8和與其成對(duì)配置的DAC 電路8所形成的1組DAC電路8,切換為預(yù)備DAC電路28A和預(yù)備 DAC電路28B,由此，能夠?qū)⒋嬖谟胁涣既毕莸腄AC電路8切換成預(yù) 備DAC電路26A或者預(yù)備DAC電路26B。
然后，控制電路將test信號(hào)設(shè)定成"L"、將testB信號(hào)設(shè)定成"H" 后，進(jìn)入通常動(dòng)作(S153)。 (實(shí)施方式3)
在以上說明的實(shí)施方式1和實(shí)施方式2中，切換電路60(參照?qǐng)D2) 被包含在集成電路10或集成電路20中，切換電路60對(duì)輸出電路塊30 (參照?qǐng)D2)的灰階電壓和預(yù)備輸出電路塊40 (參照?qǐng)D2)的灰階電壓 進(jìn)行切換。但是，本發(fā)明并不限定于此，也可以將切換電路60設(shè)置在 顯示面一反側(cè)。
以下，作為本發(fā)明的實(shí)施方式3介紹一種在顯示面板側(cè)設(shè)置了切換200880017915.6 明本實(shí)施方式 中的不同于實(shí)施方式1的部分，省略重復(fù)部分的說明。 (顯示裝置90'的概略結(jié)構(gòu))
首先，參照?qǐng)D18,說明本實(shí)施方式的顯示裝置90'的概略結(jié)構(gòu)。圖 18是表示顯示裝置90'的概略結(jié)構(gòu)的框圖。
如圖18所示，顯示裝置90'具有顯示面板80'和集成電路(驅(qū)動(dòng)電路) 10',集成電路10'根據(jù)從外部輸入的灰階數(shù)據(jù)來驅(qū)動(dòng)顯示面板80'。在此， 集成電路10'不同于集成電路10之處在于不具備切換電路60,其他結(jié)構(gòu) 相同。此外，顯示面板80'不同于顯示面板80之處在于具備切換電路60, 其他結(jié)構(gòu)相同。
(顯示裝置90'的結(jié)構(gòu))
以下，參照?qǐng)D19,說明本實(shí)施方式的顯示裝置90'的詳細(xì)結(jié)構(gòu)。圖 19是表示集成電路10'的結(jié)構(gòu)的框圖。
如圖19所示，集成電路10'包括用于通過數(shù)據(jù)總線從灰階數(shù)據(jù)輸 入端子(未圖示)輸入與n個(gè)輸出端子OUTl-OUTn分別相應(yīng)的灰階 數(shù)據(jù)的n個(gè)取樣電路6、 n個(gè)保持電路7、用于將灰階數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成灰階電 壓信號(hào)的DAC電路8、對(duì)來自DAC電路8的灰階電壓信號(hào)起到緩沖器 電路作用的運(yùn)算放大器1、 n個(gè)判斷電路3以及n個(gè)上拉/下拉電路5。
此外，如圖19所示，集成電路10'還包括根據(jù)test信號(hào)進(jìn)行導(dǎo)通/ 截止切換的多個(gè)開關(guān)2a、根據(jù)testB信號(hào)進(jìn)行導(dǎo)通/截止切換的多個(gè)開關(guān) 2b、根據(jù)LF信號(hào)進(jìn)行導(dǎo)通/截止切換的多個(gè)開關(guān)2f。其中，開關(guān)2a、 2b 以及2f在輸入"H，，信號(hào)時(shí)切換成導(dǎo)通，輸入"L"信號(hào)時(shí)切換成截止。 并且，集成電路10'還分別具有一個(gè)預(yù)備取樣電路26、預(yù)備保持電路27、 預(yù)備DAC電路28、預(yù)備運(yùn)算放大器21、預(yù)備輸出端子OUT0等。
另一方面，如圖19所示，顯示面板80'具有與集成電路10'所具備的 輸出端子0UT1 ~ OUTn分別連接的連接端子(未圖示)、判斷標(biāo)記9-1 ~ 9-n (以下進(jìn)行統(tǒng)稱時(shí)，稱之為判斷標(biāo)記9)、根據(jù)來自控制電路(未圖 示)的LF信號(hào)進(jìn)行導(dǎo)通/截止切換的開關(guān)2f、根據(jù)LF信號(hào)的反轉(zhuǎn)信號(hào) LFB信號(hào)進(jìn)行導(dǎo)通/截止切換的開關(guān)2e、根據(jù)判斷標(biāo)記9的輸出信號(hào) Flagl ~ Flagn進(jìn)行導(dǎo)通/截止切換的開關(guān)2c和2d。其中，開關(guān)2d、 2e、 2f在輸入"H"信號(hào)時(shí)切換成導(dǎo)通，輸入"L"信號(hào)時(shí)切換成截止。而開 關(guān)2c在輸入"L"信號(hào)時(shí)切換成導(dǎo)通，輸入"H"信號(hào)時(shí)切換成截止。此外，本實(shí)施方式的顯示面板80'是液晶顯示面板，如圖19所示， 在集成電路10'的各個(gè)輸出端子OUT,通過開關(guān)2e以及開關(guān)2c連接數(shù) 據(jù)信號(hào)線SL-l SL-n(以下進(jìn)行統(tǒng)稱時(shí)，稱之為數(shù)據(jù)信號(hào)線SL)。另外， 每個(gè)數(shù)據(jù)信號(hào)線SL上都連接有與掃描信號(hào)線GL的數(shù)量相同個(gè)數(shù)的像 素P。在圖19,與數(shù)據(jù)信號(hào)線SL-l連接的像素P稱之為像素P-l,與數(shù) 據(jù)信號(hào)線SL-n連接的像素P稱之為像素P-n。 (實(shí)施方式3中的自行修復(fù))
以下，關(guān)于本實(shí)施方式的顯示裝置90',對(duì)在動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試的結(jié)果 表明判斷標(biāo)記4保存了 "H"標(biāo)記的情況下的修復(fù)處理進(jìn)行說明。本實(shí) 施方式的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試方法與實(shí)施方式1的動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試1~5相同， 因此省略i兌明。
首先，動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試1 ~5結(jié)束的時(shí)刻，test信號(hào)為"H"， testB信 號(hào)為"L"。因此，運(yùn)算放大器1和輸出端子OUT之間的連接被開關(guān)2b 切斷。在此，進(jìn)行動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試1 ~5之后，控制電路輸出"H"的LF 信號(hào)的同時(shí)也輸出"L"的LFB信號(hào)。由于輸出該"H"的LF信號(hào)，開 關(guān)2f成為導(dǎo)通，各判斷標(biāo)記4通過各輸出端子OUT與各判斷標(biāo)記9連 接。并且，各判斷標(biāo)記4通過各輸出端子OUT將自身所保存的"H"標(biāo) 記或者"L"標(biāo)記作為Flagl Flagn,輸出到各判斷標(biāo)記9。各判斷標(biāo)記 9將各判斷標(biāo)記4輸出的Flagl ~ Flagn保存到其內(nèi)部存儲(chǔ)器，并且輸出 給與自身連接的開關(guān)2c以及開關(guān)2d。此外，在LF信號(hào)為"H"的期間 內(nèi)，由于LFB信號(hào)變?yōu)?L，，，所以各開關(guān)2e截止。由此，能夠防止判 斷標(biāo)記4輸出的Flagl Flagn被輸出到數(shù)據(jù)信號(hào)線SL-1 ~ SL-n，其結(jié)果， 判斷標(biāo)記4輸出的Flagl ~ Flagn不會(huì)對(duì)像素P造成任何影響。
以下，對(duì)顯示裝置90'的自行修復(fù)動(dòng)作的詳細(xì)內(nèi)容進(jìn)行說明，以與 輸出端子OUT1相對(duì)應(yīng)的判斷標(biāo)記4-1存儲(chǔ)了 "H"標(biāo)記的情況為例進(jìn) 行說明。
首先，與輸出端子OUT1相對(duì)應(yīng)的判斷標(biāo)記4-1存儲(chǔ)了 "H"標(biāo)記 的情況下，換言之，DAC電路8-1存在有不良缺陷時(shí)，從判斷標(biāo)記4-l 向判斷標(biāo)記9-l輸出"H"標(biāo)記，并且判斷標(biāo)記9-l在自身所具備的內(nèi)部 存儲(chǔ)器記錄該輸出的"H，，標(biāo)記。在本例，判斷標(biāo)記4-2 4-n記錄有"L，， 標(biāo)記。
然后，判斷標(biāo)記9-l向與自身連接的開關(guān)2c以及開關(guān)2d輸出"H"標(biāo)記的Flagl。由此，與判斷標(biāo)記9-l連接的開關(guān)2c斷開輸出端子OUTl 和數(shù)據(jù)信號(hào)線SL-1之間的連接，并且，與判斷標(biāo)記9-1連接的開關(guān)2d 接通輸出端子OUT0和數(shù)據(jù)信號(hào)線SL-1之間的連接。另外，由于判斷 標(biāo)記9-2 9-n分別向與自身連接的開關(guān)2c以及開關(guān)2d輸出"L，，標(biāo)記 的Flag2 Flagn,因此，與判斷標(biāo)記9-2 ~ 9-n連接的開關(guān)2c成為導(dǎo)通， 與判斷標(biāo)記9-2 ~ 9-n連接的開關(guān)2d截止。其結(jié)果，各信號(hào)線SL-2 ~ SL-n 通過開關(guān)2e分別連接OUT2 ~ OUTn。
各判斷標(biāo)記9根據(jù)判斷標(biāo)記4輸出的Flagl ~ Flagn，對(duì)與自身連接 的開關(guān)2c以及2d進(jìn)行切換之后，控制電路輸出"L"的LF信號(hào)的同時(shí) 也輸出"H"的LFB信號(hào)。由此，各輸出端子OUT2-OUTn和各數(shù)據(jù) 信號(hào)線SL-2 ~ SL-n分別相連接。
然后，控制電路輸出"L"的LF信號(hào)之后，通過輸出"L"的test 信號(hào)和"H"的testB信號(hào)，數(shù)據(jù)信號(hào)線SL-1通過輸出端子OUT0與運(yùn) 算放大器21的輸出相連接。相對(duì)于此，數(shù)據(jù)信號(hào)線SL-2 SL-n分別通 過輸出端子OUT2-OUTn與運(yùn)算放大器l-2 l-n相連接。由于判斷標(biāo) 記4-l所輸出的Flagl使得與取樣電路6-l連接的開關(guān)2d成為導(dǎo)通，因 此，輸入到取樣電路6-1的灰階數(shù)據(jù)(與數(shù)據(jù)信號(hào)線SL-1相對(duì)應(yīng)的灰階 數(shù)據(jù))也被輸入到取樣電路26。其結(jié)果，與數(shù)據(jù)信號(hào)線SL-1相對(duì)應(yīng)的 灰階數(shù)據(jù)從輸出端子OUT0輸入到數(shù)據(jù)信號(hào)線SL-1以取代從輸出信號(hào) OUT1輸入到數(shù)據(jù)信號(hào)線SL-1。關(guān)于分別輸入取樣電路6和預(yù)備取樣電 路26的灰階數(shù)據(jù)的切換，與實(shí)施方式l的動(dòng)作相同，因此省略說明。
如上所述，顯示裝置90'能夠通過進(jìn)行自行修復(fù)動(dòng)作，以預(yù)備DAC 電路28替代被檢測(cè)出存在有不良缺陷的DAC電路8,并且向數(shù)據(jù)信號(hào) 線SL輸出正常的灰階電壓。與實(shí)施方式l同樣，在本實(shí)施方式也具有
不僅是DAC電路8,即使取樣電路6或者保持電路7存在有不良缺陷時(shí)， 也能夠切換成預(yù)備的取樣電路26和保持電路28。
以下，參照?qǐng)D20,對(duì)顯示裝置90'的從接通電源、進(jìn)行動(dòng)作確認(rèn)測(cè) 試，至進(jìn)入通常動(dòng)作的處理順序進(jìn)行說明。圖20是表示顯示裝置90'的 從接通電源，進(jìn)行動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試，至進(jìn)入通常動(dòng)作的處理順序的流程圖。
如圖20所示，首先，顯示裝置90'檢測(cè)出用戶接通電源的操作之后， 對(duì)集成電路10進(jìn)行初期化處理，使得判斷標(biāo)記4所保存的所有標(biāo)記都成為"L"標(biāo)記(S161)。然后，控制電路將test信號(hào)切換成"H，，，將testB 信號(hào)切換成"L"，將集成電路10'切換成動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試的狀態(tài)(S162)。 然后，控制電路以及集成電路10進(jìn)行上述動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試(S163 )。接著， 控制電路對(duì)動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試1 5是否已全部完成動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試(S164)。 在控制電路在S164中檢測(cè)出動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試1-5尚未結(jié)束的情況下，顯 示裝置卯'則根據(jù)來自控制電路的指示，返回S163，對(duì)未完成的動(dòng)作進(jìn) 行確認(rèn)。另一方面，當(dāng)控制電路在S164中4僉測(cè)出動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試1 ~5均 已完成時(shí)，輸出"H"的LF信號(hào)以及"L"的LFB信號(hào)。如果檢測(cè)出有 不良電路(取樣電路6、保持電路7、 DCA電路9、運(yùn)算放大器l)，則 將不良電路切換成預(yù)備電路(取樣電路26、保持電路27、 DCA電路29、 運(yùn)算放大器21),最終進(jìn)入通常動(dòng)作(S165)。
在本實(shí)施方式的顯示裝置90'中，作為用來保存判斷電路3-l的判斷 結(jié)果即標(biāo)記的電路，具備判斷標(biāo)記4和判斷標(biāo)記9。此外，作為顯示裝 置90'的變形例，可采用如下結(jié)構(gòu)，即，不具備判斷標(biāo)記9、開關(guān)2f、開 關(guān)2e,由判斷標(biāo)記4來控制開關(guān)2c和2d的結(jié)構(gòu)。此時(shí)，雖然可省去用 來控制開關(guān)2f和2e的LF信號(hào)和LFB信號(hào)，但是需要具備用來連接判 斷標(biāo)記4和開關(guān)2c、 2d的配線和連接端子。 (實(shí)施方式4)
以上的實(shí)施方式1 ~實(shí)施方式3中說明了通過輸出端子OUT連接集 成電路和顯示面板的結(jié)構(gòu)。此外，省去輸出端子OUT,集成電路和顯示 面板為一體化形成的顯示裝置也屬于本發(fā)明的范圍內(nèi)。
以下，作為實(shí)施方式4，參照?qǐng)D21,對(duì)集成電路和顯示面板形成為 一體化的顯示裝置90"進(jìn)行說明。本實(shí)施方式的顯示裝置90"是實(shí)施 方式1的顯示裝置90的變形例。在本實(shí)施方式，只對(duì)不同于實(shí)施方式1 的部分進(jìn)行說明，省略重復(fù)部分的說明。 (顯示裝置90"的結(jié)構(gòu))
首先，參照?qǐng)D21,對(duì)本實(shí)施方式的顯示裝置90"的結(jié)構(gòu)進(jìn)行說明。 圖21是表示顯示裝置90"的結(jié)構(gòu)框圖。
如圖21所示，顯示裝置90"與實(shí)施方式1所示的集成電路10和顯 示面板80并無區(qū)別，運(yùn)算放大器1和運(yùn)算放大器21的輸出通過開關(guān)2b、 開關(guān)2c以及開關(guān)2d與數(shù)據(jù)信號(hào)線SL直接連接。即，本實(shí)施方式的顯 示裝置90"與實(shí)施方式1的顯示裝置90的相異之處在于是否具有輸出端子OUT,其他的結(jié)構(gòu)完全相同。
在此，說明了作為實(shí)施方式1的變形例的本實(shí)施方式。此外，在實(shí) 施方式2和實(shí)施方式3也可以采用不使用輸出端子OUT的、集成電路 和顯示面板形成為 一體化的結(jié)構(gòu)，具有一體化的結(jié)構(gòu)的顯示裝置也屬于
本發(fā)明的范圍內(nèi)。 (電—見系統(tǒng))
以下，參照?qǐng)D22，對(duì)具備了實(shí)施方式1的顯示裝置90的電視系統(tǒng) 300進(jìn)行說明。圖22是表示電視系統(tǒng)300的結(jié)構(gòu)框圖。在下述說明中， 電視系統(tǒng)300所具備的是實(shí)施方式1的顯示裝置90,但是本發(fā)明的電視 系統(tǒng)并不限定于此，也可以替代顯示裝置90而使用實(shí)施方式2-4的顯 示裝置。
(電視系統(tǒng)300的結(jié)構(gòu))
如圖22所示，電視系統(tǒng)300包括接收廣播波的天線301;將所接 收的廣播波解調(diào)為視頻音頻信號(hào)的調(diào)諧器部302;將解調(diào)后的視頻音頻 信號(hào)分離成視頻信號(hào)和音頻信號(hào)的信號(hào)分離部303;將分離后的視頻信 號(hào)解碼成數(shù)字視頻信號(hào)的視頻信號(hào)處理部304;取得作為灰階數(shù)據(jù)的經(jīng) 解碼后的數(shù)字視頻信號(hào)，并根據(jù)所取得的灰階數(shù)據(jù)通過顯示面板80 (參 照?qǐng)D2)顯示視頻圖像的顯示裝置90;將分離后的音頻信號(hào)解碼成數(shù)字 音頻信號(hào)的音頻信號(hào)處理部305以及音頻信號(hào)輸出部306。該音頻信號(hào) 輸出部306將解碼后的數(shù)字音頻信號(hào)轉(zhuǎn)換成^t擬音頻信號(hào)，并且以轉(zhuǎn)換 后的模擬音頻信號(hào)作為聲音，通過擴(kuò)音器進(jìn)行播放。 (電視系統(tǒng)300的動(dòng)作)
以下，對(duì)電視系統(tǒng)300的動(dòng)作處理進(jìn)行說明。首先，通過天線301 接收廣播機(jī)構(gòu)播放的廣播波，并且向調(diào)諧器部302輸出已接收的廣播波。 調(diào)諧器部302將接收的廣播波解調(diào)成視頻音頻信號(hào)，并輸出到信號(hào)分離 部303。信號(hào)分離部303將接收的視頻音頻信號(hào)分離成視頻信號(hào)和音頻 信號(hào)，并且分別輸出到^L頻信號(hào)處理部304和音頻信號(hào)處理部305。 一見 頻信號(hào)處理部304對(duì)接收的視頻信號(hào)進(jìn)行解碼，使得成為數(shù)字視頻信號(hào)， 并且作為灰階信號(hào)向顯示裝置90輸出經(jīng)解碼后的數(shù)字視頻信號(hào)。顯示 裝置90通過其自身具備的顯示面板80顯示接收到的灰階數(shù)據(jù)。另 一方 面，音頻信號(hào)處理部305對(duì)通過信號(hào)分離部303分離的音頻信號(hào)進(jìn)行解 碼，使得成為數(shù)字音頻信號(hào)，并且向聲頻輸出部306進(jìn)行輸出。音頻信號(hào)輸出部306將上述數(shù)字音頻信號(hào)轉(zhuǎn)換成模擬音頻信號(hào)之后，通過其自 身具備的擴(kuò)音器對(duì)模擬音頻信號(hào)進(jìn)行播放。
作為視頻音頻信號(hào)取得部，本發(fā)明的電視系統(tǒng)300使用了天線301 和調(diào)諧器部302來接收廣播機(jī)構(gòu)播送的廣播波。但是，本發(fā)明并不限定 于此，還可以采用從記錄介質(zhì)讀取出其記錄內(nèi)容數(shù)據(jù)的DVD放映一幾等 內(nèi)容讀取裝置、通過PC (個(gè)人電腦)從互聯(lián)網(wǎng)上取得信息的結(jié)構(gòu)。
在實(shí)施方式1和實(shí)施方式4中說明了在接通液晶驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成 電路10的電源之后，立即進(jìn)行動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試以及自行修復(fù)處理動(dòng)作的 結(jié)構(gòu)。但是本發(fā)明并不限定于此，也可以采用向液晶驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成 電路10輸入控制信號(hào)的結(jié)構(gòu)，由此可在任何定時(shí)進(jìn)行動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試以 及自行修復(fù)。例如，從顯示裝置的控制器向液晶驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路 IO輸入用于表示顯示回掃期間的信號(hào)，在該定時(shí)進(jìn)行動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試和自 行修復(fù)。
此外，還可以在液晶驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路10上形成用于對(duì)液晶 驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路10的異常狀態(tài)進(jìn)行檢測(cè)的電路，在液晶驅(qū)動(dòng)用 半導(dǎo)體集成電路IO發(fā)生異常時(shí)進(jìn)行動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試和自行修復(fù)處理動(dòng)作。 例如，對(duì)液晶驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路10輸出的信號(hào)的電流進(jìn)行檢測(cè)， 檢測(cè)出的電流大于設(shè)定的電流時(shí)，進(jìn)行動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試和自行修復(fù)的處理 動(dòng)作。
此外，也可以定期進(jìn)行動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試和自行修復(fù)的處理動(dòng)作。例如， 在每次不進(jìn)行視頻顯示的垂直回掃期間進(jìn)行，或者在達(dá)到預(yù)先設(shè)定的累 計(jì)顯示時(shí)間時(shí)進(jìn)4亍。
另外，也可以在^見頻顯示期間的一部分進(jìn)行動(dòng)作確iU則試和自行修 復(fù)的處理動(dòng)作。例如，由于在液晶顯示裝置中，像素對(duì)顯示電壓進(jìn)行保 存，完成顯示電壓的充電之后，即使將液晶驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路10 的輸出轉(zhuǎn)換成高阻抗，對(duì)顯示也無影響。在顯示期間的一部分，將液晶 驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路10的輸出轉(zhuǎn)換成高阻抗，進(jìn)行動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試和 自行修復(fù)的處理動(dòng)作。此時(shí)，如果沒有充分的時(shí)間進(jìn)行所有模式的動(dòng)作 確認(rèn)測(cè)試，例如也可以在1顯示行的顯示期間進(jìn)行1種才莫式判斷，在顯 示1個(gè)畫面的顯示期間或者顯示多個(gè)畫面的期間內(nèi)完成處理動(dòng)作。
由于本發(fā)明的集成電路IO(參照?qǐng)D1 )能夠自行檢測(cè)自身的缺陷(動(dòng) 作確認(rèn)測(cè)試)，因此有必要停止用于驅(qū)動(dòng)顯示面板80 (參照?qǐng)D2)的輸出信號(hào)。集成電路10在進(jìn)行自行檢測(cè)的期間內(nèi)，不能驅(qū)動(dòng)顯示面板80。 從而，集成電路10的自行檢測(cè)的定時(shí)必須是在對(duì)于顯示裝置的視頻顯 示無影響的期間內(nèi)。
在本發(fā)明的實(shí)施方式，作為集成電路10進(jìn)行自行檢測(cè)的期間，說 明了在接通顯示裝置的電源時(shí)的啟動(dòng)過程中進(jìn)行集成電路10的自行檢 測(cè)以及自行修復(fù)。理由在于，只要是在顯示裝置的啟動(dòng)過程中，顯示裝 置就不進(jìn)行視頻顯示，因此，即使集成電路10進(jìn)行自行檢測(cè)和自行修 復(fù)，也不會(huì)對(duì)顯示裝置的視頻顯示造成影響。
如上所述，本實(shí)施方式的集成電路10在接通顯示裝置的電源時(shí)的 啟動(dòng)過程中進(jìn)行檢測(cè)自身的缺陷的自行檢測(cè)。但是，本發(fā)明并不限定于 此，也可以在顯示裝置的啟動(dòng)過程以外的期間內(nèi)進(jìn)行自行檢測(cè)和自行修 復(fù)。
以下，對(duì)于在顯示裝置的啟動(dòng)過程以外的期間內(nèi)進(jìn)行自行檢測(cè)和自 行修復(fù)的情況進(jìn)行說明。 (實(shí)施例1 )
(垂直回掃期間的自行檢測(cè)和自行修復(fù))
首先，作為第l個(gè)實(shí)施例，在顯示裝置的垂直回掃期間內(nèi)進(jìn)行集成 電路10的自行檢測(cè)和自行修復(fù)，該自行檢測(cè)和自行修復(fù)不對(duì)顯示裝置
的視頻顯示造成影響。其理由如下。
以下，參照?qǐng)D23 (a) ~ (f),對(duì)于向顯示裝置輸入各種信號(hào)的定 時(shí)進(jìn)行說明。圖23(a) ~ (f)是表示向液晶顯示裝置輸入各種信號(hào)的 定時(shí)的時(shí)序圖。
圖23的(a)表示掃描信號(hào)線SCN1,掃描信號(hào)線SCN1是從用于 驅(qū)動(dòng)顯示裝置的掃描線的掃描側(cè)驅(qū)動(dòng)電路輸出的、賦予顯示裝置的第1 條掃描信號(hào)線的掃描信號(hào)；同圖的(b)表示從掃描側(cè)驅(qū)動(dòng)電路輸出的、 賦予顯示裝置的第2條掃描信號(hào)線的掃描信號(hào)線SCN2;同圖的(c)表 示從集成電路IO (參照?qǐng)D2)傳輸給視頻信號(hào)反轉(zhuǎn)電路的、與顯示裝置 的第j條數(shù)據(jù)信號(hào)線相對(duì)應(yīng)的視頻信號(hào)DSj;同圖的(d)表示從視頻信 號(hào)反轉(zhuǎn)電路傳輸給數(shù)據(jù)側(cè)驅(qū)動(dòng)電路的、與顯示裝置的第j條數(shù)據(jù)信號(hào)線 相對(duì)應(yīng)的視頻信號(hào)DRVj;同圖的(e)表示傳輸給顯示裝置的第j條數(shù) 據(jù)信號(hào)線的視頻信號(hào)DATAj;同圖的(f)表示施加在與顯示裝置的第1 條掃描信號(hào)線、第j條數(shù)據(jù)信號(hào)線同時(shí)連接的像素的驅(qū)動(dòng)電壓VDlj。此外，圖23中所示的時(shí)刻tl ~t5的期間TV是顯示裝置進(jìn)行垂直掃描的期 間，期間TV1是垂直回掃期間，時(shí)刻tl ~t3的期間TH是進(jìn)行水平掃描 的期間，時(shí)刻t2~t3的期間TH1是水平回掃期間。上述視頻信號(hào)反轉(zhuǎn)電 路在每個(gè)水平掃描期間TH以及垂直掃描期間TV對(duì)顯示裝置的各像素 的顯示電極的極性進(jìn)行反轉(zhuǎn)，因此，上述視頻信號(hào)反轉(zhuǎn)電路是對(duì)集成電 路10的視頻信號(hào)DSj的極性進(jìn)行反轉(zhuǎn)的電路。
如圖23的(a)和(b)所示，掃描側(cè)驅(qū)動(dòng)電路對(duì)于顯示裝置的各 掃描信號(hào)線，從第l條掃描信號(hào)線開始，使掃描的定時(shí)依次延遲水平掃 描期間TH,依次輸出掃描信號(hào)SCN1、掃描信號(hào)SCN2...、掃描信號(hào) SCNm。此外，在每個(gè)垂直掃描期間TV，掃描側(cè)驅(qū)動(dòng)電路對(duì)于顯示裝置 的各掃描信號(hào)線，反復(fù)輸出各掃描信號(hào)SCN1 ~掃描信號(hào)SCNm。在此， 顯示裝置包括m個(gè)掃描信號(hào)線。
如圖23 (c)所示，集成電路IO輸出的視頻信號(hào)DSj被輸入到視頻 信號(hào)反轉(zhuǎn)電路。然后，視頻信號(hào)反轉(zhuǎn)電路在每個(gè)水平掃描期間TH,對(duì)
-魄頻信號(hào)DSj的極性進(jìn)行反轉(zhuǎn)，并且在每個(gè)垂直掃描期間TV,也對(duì)極 性進(jìn)行反轉(zhuǎn)，生成圖23 (d)所示的視頻信號(hào)DRVj。此外，視頻信號(hào)反 轉(zhuǎn)電路將生成的視頻信號(hào)DRVj傳輸給數(shù)據(jù)側(cè)驅(qū)動(dòng)電路。
然后，數(shù)據(jù)側(cè)驅(qū)動(dòng)電路在每個(gè)水平掃描期間TH,對(duì)視頻信號(hào)反轉(zhuǎn) 電路的視頻信號(hào)DRVj進(jìn)行取樣，并且使得取樣信號(hào)值延遲1個(gè)水平掃 描期間TH，然后作為圖23的(e )表示的視頻信號(hào)DATAj傳輸給顯示 裝置的第j條數(shù)據(jù)信號(hào)線。
然后，在與第1條掃描信號(hào)線和第j條數(shù)據(jù)信號(hào)線同時(shí)連接的顯示 裝置的像素(以下稱之為像素lj),根據(jù)時(shí)刻tl ~t2的水平掃描期間TH 的掃描信號(hào)SCN1,像素lj內(nèi)的TFT導(dǎo)通。其結(jié)果，通過第j條數(shù)據(jù)信 號(hào)線，時(shí)刻tl t2的^見頻信號(hào)DATAj的^L頻信號(hào)電壓^皮作為驅(qū)動(dòng)電壓 VDlj施加在像素lj內(nèi)的顯示電極。在時(shí)刻t2~t5,對(duì)于施加在Y象素lj 的顯示電極的驅(qū)動(dòng)電壓VDlj,即使像素lj內(nèi)的TFT的導(dǎo)通^皮切斷，也 能夠繼續(xù)保持時(shí)刻tl t2之間的電壓電平。同樣，在與第2條掃描信號(hào) 線和第j條數(shù)據(jù)信號(hào)線同時(shí)連接的顯示圖像的像素(以下稱之為像素 2j ),根據(jù)時(shí)刻t3 ~t4的水平掃描期間TH的掃描信號(hào)SCN2,像素2j內(nèi) 的TFT導(dǎo)通。其結(jié)果，通過第j條數(shù)據(jù)信號(hào)線，在時(shí)刻t3 t4,視頻信 號(hào)DATAj的視頻信號(hào)電壓被作為驅(qū)動(dòng)電壓VD2j施加在像素2j內(nèi)的顯示電極。同樣對(duì)于施加在像素2j的顯示電極的驅(qū)動(dòng)電壓，即使像素2j內(nèi) 的TFT的導(dǎo)通被切斷，也能夠繼續(xù)保持時(shí)刻t3 ~ t4之間的電壓電平。
如上所述，對(duì)于顯示裝置的各像素的驅(qū)動(dòng)電壓，即使各像素內(nèi)的 TFT的導(dǎo)通被切斷時(shí)，也能夠繼續(xù)保持TFT導(dǎo)通時(shí)被施加的驅(qū)動(dòng)電壓的 電壓電平。因此，掃描側(cè)驅(qū)動(dòng)電路并不向掃描信號(hào)線輸出用于導(dǎo)通各像 素的TFT的掃描信號(hào)SCN1 SCNm。換言之，在各像素的TFT的導(dǎo)通 被切斷的垂直回掃期間TV1,顯示裝置并不需要向各像素的顯示電極施 加電壓。即，集成電路10并不需要輸出作為驅(qū)動(dòng)電壓的視頻信號(hào)DSj, 即使切斷集成電路10和顯示裝置之間的電連接，對(duì)于顯示裝置的視頻 顯示也并無影響。
從而，只要是在顯示裝置的垂直回掃期間，集成電路10能夠不影 響顯示裝置的視頻顯示地進(jìn)行自行檢測(cè)以及自行修復(fù)。 (整個(gè)集成電路10的動(dòng)作不良缺陷檢測(cè))
在本實(shí)施方式，集成電路10通過自行檢測(cè)處理對(duì)其自身的輸出電 路塊的不良缺陷進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)對(duì)象是所有的輸出電路塊。即，按照與 各數(shù)據(jù)信號(hào)線相對(duì)應(yīng)的每個(gè)輸出電路塊逐一進(jìn)行檢測(cè)。因此，進(jìn)行自行 -險(xiǎn)測(cè)處理時(shí)需要 一 定的時(shí)間。
由此，如果集成電路10的各輸出電路塊上不存在有動(dòng)作不良缺陷 的可能性時(shí)，集成電路10就沒必要進(jìn)行自行檢測(cè)處理。換言之，只要 在各輸出電路塊有可能發(fā)生動(dòng)作不良缺陷的情況下進(jìn)行集成電路10的 自行4全測(cè)處理即可。
在此，集成電路IO具有動(dòng)作判斷電路，能夠?qū)φ麄€(gè)集成電路10是 否可能存在有動(dòng)作不良缺陷進(jìn)行判斷。通過動(dòng)作判斷電路，只在判斷出 集成電路10的某處有可能存在有動(dòng)作不良缺陷的情況下，才進(jìn)行自行 檢測(cè)處理，從而能夠防止不必要的自行檢測(cè)處理。
以下，參照?qǐng)D24-圖26,對(duì)集成電路10所具有的動(dòng)作判斷電路200 進(jìn)行說明，判斷電路200對(duì)整個(gè)集成電路10是否存在動(dòng)作不良的可能 性進(jìn)行判斷。
首先，如果集成電路IO發(fā)生動(dòng)作不良缺陷時(shí)，提供給集成電路IO 的電源電流將大于正常動(dòng)作的情況，換言之，電源電流將大于在產(chǎn)品出 庫檢查被判斷為良品的初期階段的水平。即，如果提供給集成電路10 的電源電流的值比正常動(dòng)作時(shí)的值大出規(guī)定程度，就意味著集成電路10發(fā)生了動(dòng)作不良缺陷。對(duì)此，動(dòng)作判斷電路200對(duì)提供給集成電路10 的電源電流值進(jìn)行檢測(cè)，根據(jù)檢測(cè)出的電源電流的值，判斷集成電路10 是否存在動(dòng)作不良缺陷。
(動(dòng)作判斷電流200的結(jié)構(gòu))
以下，參照?qǐng)D24，對(duì)動(dòng)作判斷電路200的結(jié)構(gòu)進(jìn)行說明。圖24是 表示動(dòng)作判斷電路200的結(jié)構(gòu)框圖。
如圖24所示，動(dòng)作判斷電路200包括電阻U全測(cè)部)202和開關(guān) 203，電阻202和開關(guān)203被設(shè)在集成電路10和用于給集成電路10提 供電源的VA201之間，并且電阻202和開關(guān)203并聯(lián)連接。此外，動(dòng)作 判斷電路200還包括與電阻202和開關(guān)203的集成電路10側(cè)的一端相 連接的A/D轉(zhuǎn)換器(檢測(cè)部)204、用于對(duì)A/D轉(zhuǎn)換器204輸出的輸出 信號(hào)進(jìn)行輸入的開關(guān)205、與開關(guān)205的一側(cè)的輸出端子相連接的非揮 發(fā)性存儲(chǔ)器EEPROM206 (正常電流值保存部)、與開關(guān)205的另 一側(cè)的 輸出端子相連接的數(shù)據(jù)鎖存電路207、用于對(duì)EEPROM206的輸出值和 數(shù)據(jù)鎖存電路207的輸出值進(jìn)行比較的比較電路(電流值比較部、驅(qū)動(dòng) 電路判斷部)208。此外，比較電路208通過其輸出端子將比較電路208 的比較結(jié)果輸送到集成電路10所具有的控制電路。集成電路還通過控 制電路對(duì)開關(guān)203和開關(guān)205的切換進(jìn)行控制。 (動(dòng)作判斷電路200的和克略動(dòng)作)
動(dòng)作判斷電路200預(yù)先將與集成電路10的正常動(dòng)作時(shí)的電源電流 值相對(duì)應(yīng)的值作為基準(zhǔn)數(shù)據(jù)保存在EEPROM206。在此，動(dòng)作判斷電路 200對(duì)集成電路10是否發(fā)生了動(dòng)作不良缺陷進(jìn)行判斷時(shí)，首先檢測(cè)與提 供給集成電路10的電源電流值相對(duì)應(yīng)的值，再對(duì)檢測(cè)得到的值和預(yù)先 保存在EEPROM206的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)的值進(jìn)行比較，如果檢測(cè)得到的值比基 準(zhǔn)數(shù)據(jù)的值大且超過規(guī)定值，就做出集成電路IO存在有動(dòng)作不良缺陷 的判斷。并且，動(dòng)作判斷電路200向集成電路10所具備的控制電路輸 出用于表示集成電路10有動(dòng)作不良缺陷的信號(hào)，控制電路根據(jù)該信號(hào) 開始自行檢測(cè)處理和自行修復(fù)處理。 (生成和保存基準(zhǔn)數(shù)據(jù)的處理)
如上所迷，動(dòng)作判斷電路200需預(yù)先在EEPROM206中保存基準(zhǔn)數(shù) 據(jù)。以下，參照?qǐng)D25,對(duì)動(dòng)作判斷電路200在EEPROM206保存基準(zhǔn)數(shù) 據(jù)的處理進(jìn)行說明。圖25是表示動(dòng)作判斷電路200在EEPROM206中保存基準(zhǔn)數(shù)據(jù)的動(dòng)作處理的流程圖。
如圖25所示，生成基準(zhǔn)數(shù)據(jù)時(shí)，控制電路斷開開關(guān)203， VA201 的電源電流流入電阻202 (S301 )。在此，電阻202的電阻值是使集成電 路10在正常動(dòng)作時(shí)電阻202引起的電壓降為O.IV的電阻值。在此，優(yōu) 選在考慮集成電路的消肆毛電流的基礎(chǔ)上，來決定電阻202的電阻值。
然后，A/D轉(zhuǎn)換器204將電阻202的在集成電路10側(cè)的一端的電 壓值轉(zhuǎn)換成數(shù)字值(S302 )。 A/D轉(zhuǎn)換器204通過開關(guān)205將轉(zhuǎn)換的數(shù) 字值輸入EEPROM206。 EEPROM206將該從A/D轉(zhuǎn)換器204輸入的數(shù) 字值作為基準(zhǔn)數(shù)據(jù)進(jìn)行保存(S303 )。在S303中開關(guān)205根據(jù)控制電路 的指示進(jìn)行切換，實(shí)現(xiàn)A/D轉(zhuǎn)換器204和EEPROM206之間的連接。
然后，在EEPROM206保存基準(zhǔn)數(shù)據(jù)之后，控制電路使開關(guān)203短 路，集成電路10恢復(fù)至通常動(dòng)作狀態(tài)(S304)。在具備了集成電路10 的顯示裝置產(chǎn)品的出庫階段，換言之，在通過各種各樣的出庫檢查判斷 出集成電路IO處于正常的階段，進(jìn)行S301 ~S304中的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)的生成 和保存處理。
(通過動(dòng)作判斷電路200檢測(cè)動(dòng)作不良缺陷的處理) 以下，參照?qǐng)D26,就通過動(dòng)作判斷電路200來檢測(cè)集成電路10的 動(dòng)作不良缺陷的處理進(jìn)行說明。圖26是表示通過動(dòng)作判斷電路200對(duì) 集成電路10的動(dòng)作不良缺陷進(jìn)行檢測(cè)處理的流程圖。
如圖26所示，首先控制電路進(jìn)行控制，使得開關(guān)203斷開，VA201 的電源電流流入電阻202 ( S305 )。
然后，A/D轉(zhuǎn)換器204將電阻202的在集成電3各10側(cè)的一端的電 壓值轉(zhuǎn)換成數(shù)字值(S306)。 A/D轉(zhuǎn)換器204通過開關(guān)205將轉(zhuǎn)換的數(shù) 字值輸入數(shù)據(jù)鎖存電路207。數(shù)據(jù)鎖存電路207將該從A/D轉(zhuǎn)換器204 輸入的數(shù)字值作為檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行保存(S307 )。在S306中開關(guān)205根據(jù) 控制電路的指示進(jìn)行切換，實(shí)現(xiàn)A/D轉(zhuǎn)換器204和數(shù)據(jù)鎖存電路207之 間的連接。
然后，比較電路208讀取EEPROM206所保存的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)和數(shù)據(jù)鎖 存電路207所保存的檢測(cè)數(shù)據(jù)，并且對(duì)讀取到的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)值和檢測(cè)數(shù)據(jù) 進(jìn)行比較(S308 )。比較電路208還對(duì)基準(zhǔn)數(shù)據(jù)的值和檢測(cè)數(shù)據(jù)的值之 間的差是否為預(yù)定的值以上(例如，3以上的數(shù)字值)進(jìn)行檢測(cè)(S309 )。 當(dāng)基準(zhǔn)數(shù)據(jù)的值和檢測(cè)數(shù)據(jù)的值之差達(dá)到了預(yù)定的值以上(例如，3以上的數(shù)字值)，比較電路208就向集成電路10的控制電路發(fā)出表示集成電路IO存在有動(dòng)作不良缺陷的信號(hào)。
在此，控制電路接收到比較電路208發(fā)出的表示集成電路10存在有動(dòng)作不良缺陷的信號(hào)之后，開始進(jìn)行集成電路10的自行檢測(cè)(S311 )。在集成電路10的自行檢測(cè)中，當(dāng)集成電路10檢測(cè)出自身的輸出電路塊存在有不良缺陷，集成電路10將存在有不良缺陷的輸出電路塊的輸出切換成預(yù)備輸出電路塊的輸出，進(jìn)行自行修復(fù)。通過S311的集成電路IO的自行檢測(cè)，如果未能檢測(cè)出輸出電路塊的不良缺陷，可考慮是因其他原因?qū)е碌碾娫措娏髦底儎?dòng)。在此情況下，如果由于電源電流值有變動(dòng)，動(dòng)作判斷電路200則進(jìn)行S301 ~ S304所示的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)的生成和保存處理，并且將變動(dòng)后的電源電流值作為新的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)保存在EEPROM206 (S312)。進(jìn)行S312之后，控制電路使開關(guān)203短路，動(dòng)作判斷電路200和集成電路10恢復(fù)至通常動(dòng)作狀態(tài)(S310)。
此外，在S309,比較電路208檢測(cè)出基準(zhǔn)數(shù)據(jù)的值和檢測(cè)數(shù)據(jù)的值之差未達(dá)到預(yù)定的值(例如，小于3的數(shù)字值)時(shí)，進(jìn)入S310的處理。(實(shí)施例2)
(集成電路10的定期自行檢測(cè))
集成電路10還可以定期進(jìn)行自行檢測(cè)(動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試)和自行修復(fù)。具體而言，在上述實(shí)施例1的顯示裝置的每個(gè)垂直回掃期間，集成電路10可以進(jìn)行自行檢測(cè)(動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試)和自行修復(fù)的處理。此時(shí)，對(duì)垂直同步信號(hào)進(jìn)行計(jì)數(shù)，顯示的次數(shù)每次達(dá)到規(guī)定數(shù)時(shí)進(jìn)行處理。此時(shí)，可以在非揮發(fā)性存儲(chǔ)器中形成計(jì)數(shù)器，通過計(jì)數(shù)器對(duì)垂直同期信號(hào)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)。此外，集成電路10還可以具備用于測(cè)定時(shí)間的計(jì)時(shí)器，通過該計(jì)時(shí)器來記錄動(dòng)作時(shí)間，每次達(dá)到預(yù)先設(shè)定的累計(jì)動(dòng)作時(shí)間時(shí)，集成電路IO就進(jìn)行自行檢測(cè)和自行修復(fù)。(實(shí)施例3 )
此外，也可以在顯示裝置進(jìn)行-魄頻顯示的顯示期間的一部分時(shí)間內(nèi)進(jìn)行集成電路10的自行檢測(cè)(動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試)和自行修復(fù)的處理動(dòng)作。例如，由于顯示裝置的各像素保持顯示電極的電壓，因此顯示電極結(jié)束充電之后，即使將集成電路10的輸出端子0UT1 OUTn設(shè)成高阻抗，顯示裝置的視頻顯示也不會(huì)受影響。
從而，在顯示裝置進(jìn)行-魄頻顯示的顯示期間的一部分時(shí)間內(nèi)，將集成電路10的輸出端子0UT1 OUTn設(shè)成高阻抗，進(jìn)行自行檢測(cè)(動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試)和自行修復(fù)的處理動(dòng)作。作為將輸出端子OUTl OUTn設(shè)成高阻抗的一個(gè)例子，可以舉出在每個(gè)用來連接輸出端子OUT1 ~OUTn和顯示裝置的信號(hào)傳輸路徑上串聯(lián)設(shè)置開關(guān)，通過斷開該開關(guān)，使得輸出端子OUT1 OUTn和顯示裝置成為高阻抗，換言之，切斷電連接。
此外，自行;險(xiǎn)測(cè)(動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試)包括在實(shí)施方式l中說明的幾種模式。在此，如果沒有充分的時(shí)間進(jìn)行所有模式的自行檢測(cè)(動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試)，也可以在1顯示行的顯示期間，進(jìn)行一部分模式的自行檢測(cè)(動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試)(例如l種)。由此，能夠在顯示裝置的相當(dāng)于1幀的顯示期間或者多幀的顯示期間內(nèi)進(jìn)行所有模式的自行檢測(cè)(動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試)。另外，通過采用上述非一次性完成所有模式的自行檢測(cè)的方法，而是分多次進(jìn)行進(jìn)行所有模式的自行檢測(cè)(動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試)的方法，能夠在圖23所示的水平回掃期間進(jìn)行自行檢測(cè)(動(dòng)作確認(rèn)測(cè)試)。
在上述實(shí)施例1 ~3中，以實(shí)施方式1的集成電路10為例進(jìn)4亍了說明。但是，本發(fā)明并不限定于此，也能夠適用于實(shí)施方式2和實(shí)施方式3的集成電路10'、 20以及實(shí)施方式4的顯示裝置90"。
此外，在本實(shí)施方式1-4中，對(duì)于以液晶顯示面4反實(shí)施斗見頻顯示的液晶顯示裝置進(jìn)行了說明。但是，本發(fā)明并不限定于此，也能夠適用于液晶顯示裝置以外的顯示裝置，例如等離子電視等。
本發(fā)明并不限定于上述各種實(shí)施方式，能夠在權(quán)利要求的范圍內(nèi)進(jìn)行變更，通過對(duì)不同的實(shí)施方式所揭示的技術(shù)進(jìn)行適宜組合而獲得的實(shí)施方式也屬于本發(fā)明的范疇內(nèi)。
此外，本發(fā)明的顯示裝置驅(qū)動(dòng)用集成電路還能夠具有以下的結(jié)構(gòu)。(笫1結(jié)構(gòu))
本發(fā)明的用于驅(qū)動(dòng)顯示裝置的集成電路的特征在于在每個(gè)用于驅(qū)動(dòng)顯示裝置的輸出端子具備輸出電路、輸出緩沖器以及上述輸出電路和輸出緩沖器以外的預(yù)備輸出電路、預(yù)備輸出緩沖器。在輸出緩沖器上使用運(yùn)算放大器，使得輸出緩沖器具有自動(dòng)對(duì)輸出電路的動(dòng)作進(jìn)行確認(rèn)的功能。對(duì)輸出電路的動(dòng)作進(jìn)行確認(rèn)時(shí)，使上述運(yùn)算放大器作為比較器進(jìn)行動(dòng)作，通過作為比較器進(jìn)行動(dòng)作的運(yùn)算放大器，對(duì)上述預(yù)備輸出電路輸出的電壓值和從每個(gè)輸出端子的輸出電路輸出的電壓值進(jìn)行比較，從(第2結(jié)構(gòu))
本發(fā)明的基于上述第1結(jié)構(gòu)所示的用于驅(qū)動(dòng)顯示裝置的集成電路，其特征在于通過動(dòng)作確認(rèn)，如果判斷出存在有動(dòng)作不良缺陷的、與輸出端子相連接的輸出電路和輸出緩沖器，就使用上述預(yù)備輸出電路和預(yù)備輸出緩沖器進(jìn)行替代，從而實(shí)現(xiàn)輸出電路和輸出緩沖器的自行修復(fù)。(第3結(jié)構(gòu))
本發(fā)明的用于驅(qū)動(dòng)顯示裝置的集成電路的特征在于在每個(gè)用于驅(qū)動(dòng)顯示裝置的輸出端子具備輸出電路、輸出緩沖器以及上述輸出電路和輸出緩沖器以外的預(yù)備輸出電路和預(yù)備輸出緩沖器；還具備能夠自動(dòng)對(duì)輸出電路的動(dòng)作進(jìn)行確認(rèn)并可存儲(chǔ)用于表示動(dòng)作確認(rèn)結(jié)果的標(biāo)記的寄存器；在輸出緩沖器上使用運(yùn)算放大器，對(duì)輸出電路的動(dòng)作進(jìn)行確認(rèn)時(shí)，使上述運(yùn)算放大器作為比較器進(jìn)行動(dòng)作，并通過作為比較器進(jìn)行動(dòng)作的上述運(yùn)算放大器，對(duì)上述預(yù)備輸出電路輸出的電壓值和從每個(gè)輸出端子的輸出電路輸出的電壓值進(jìn)行比較，從而對(duì)上述預(yù)備輸出電路和每個(gè)輸出端子的輸出電路的動(dòng)作進(jìn)行確認(rèn)，并將用于表示動(dòng)作確認(rèn)結(jié)果的標(biāo)記存儲(chǔ)在上述寄存器，且使用上述預(yù)備輸出電路和預(yù)備輸出緩沖器替代與存儲(chǔ)了表示為已存在有不良缺陷的標(biāo)記的輸出端子相連接的輸出電路和輸出緩沖器，從而實(shí)現(xiàn)輸出電路和輸出緩沖器的自行修復(fù)。(第4結(jié)構(gòu))
本發(fā)明的用于驅(qū)動(dòng)顯示裝置的集成電路的特征在于在每個(gè)用于驅(qū)動(dòng)顯示裝置的輸出端子具備輸出緩沖器以及該輸出緩沖器以外的預(yù)備輸出緩沖器；在輸出緩沖器上使用運(yùn)算放大器，使上述運(yùn)算放大器作為比較器進(jìn)行動(dòng)作，并且向比較器施加預(yù)先準(zhǔn)備的輸入電壓，根據(jù)上述輸入電壓，計(jì)算出上述比較器的理論輸出電壓值，并且以該理論輸出電壓值作為期待值；對(duì)上述期待值和通過施加上述輸入電壓而獲得的上述輸出緩沖器的輸出電壓進(jìn)行比較，當(dāng)與期待值相異時(shí)，將上述輸出緩沖器替換成上述預(yù)備輸出緩沖器。(第5結(jié)構(gòu))
本發(fā)明的基于上述第1結(jié)構(gòu)至第4結(jié)構(gòu)中任意一種的用于驅(qū)動(dòng)顯示裝置的集成電路，其特征在于接通電源時(shí)，對(duì)輸出端子的輸出電路或者輸出緩沖器的動(dòng)作自動(dòng)進(jìn)行確認(rèn)，并且進(jìn)行自行修復(fù)，即，使用預(yù)備電路替換已存在有動(dòng)作不良缺陷的輸出電路或者輸出緩沖器后，進(jìn)行顯示動(dòng)作。
如上所述，本發(fā)明的顯示面板驅(qū)動(dòng)用集成電路包括比較部、判斷部和連接切換部，其中，比較部用于對(duì)輸出電路輸出的輸出信號(hào)和預(yù)備輸
出電路輸出的輸出信號(hào)進(jìn)行比較；判斷部用于根據(jù)比較部的比較結(jié)果，判斷輸出電路是否存在不良缺陷；在判斷部判斷出存在不良缺陷時(shí)，通過連接切換部，以預(yù)備輸出電路與上述輸出端子進(jìn)行連接替代輸出電路與上述輸出端子進(jìn)行連接。從而，即使驅(qū)動(dòng)電路已安裝于顯示面板后也能夠簡(jiǎn)單地檢測(cè)出輸出電路的缺陷，并能夠在輸出電路存在有缺陷時(shí)自行進(jìn)行修復(fù)。
在本發(fā)明的詳細(xì)說明中介紹的具體實(shí)施方式
和實(shí)施例，其目的在于明確本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容，并不表示對(duì)本發(fā)明的解釋只局限與這些具體例的狹義范圍內(nèi)，在根據(jù)本發(fā)明的精神和權(quán)利要求的范圍內(nèi)，可進(jìn)行各種各樣的變更并實(shí)施之。(工業(yè)可利用性)
本發(fā)明提供一種具備能夠?qū)敵鲭娐返娜毕葸M(jìn)行檢測(cè)和自行修復(fù)的具體構(gòu)件并易于處理輸出電路的不良缺陷的顯示裝置驅(qū)動(dòng)用集成電
路，尤其能夠適用于大型液晶顯示裝置和高清晰電視。
權(quán)利要求
1.一種驅(qū)動(dòng)電路，用于驅(qū)動(dòng)顯示面板，其特征在于具有自行修復(fù)部，該自行修復(fù)部用于對(duì)存在有不良缺陷的上述驅(qū)動(dòng)電路自身進(jìn)行自行修復(fù)。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的驅(qū)動(dòng)電路，其特征在于具有用于輸出輸出信號(hào)的輸出電路，該輸出信號(hào)是用于驅(qū)動(dòng)上迷顯示面板的信號(hào)；上述自行修復(fù)部具有用于對(duì)上述輸出電路是否存在有不良缺陷進(jìn)行判斷的判斷部；在上述判斷部的判斷結(jié)果表示為存在有不良缺陷的情況下，對(duì)上述驅(qū)動(dòng)電路自身進(jìn)行自行修復(fù)，使得對(duì)上迷顯示面板輸出正常的輸出信
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的驅(qū)動(dòng)電路，其特征在于具有能夠?qū)ι鲜鲲@示面板輸出上述輸出信號(hào)的預(yù)備輸出電路；上述自行修復(fù)部具有切換部，在上述判斷部的判斷結(jié)果表示為存在有不良缺陷的情況下，作為對(duì)上述顯示面板的輸出信號(hào)，該切換部將由存在有不良缺陷的輸出電路所輸出的輸出信號(hào)切換為由上迷預(yù)備輸出電路所輸出的輸出信號(hào)。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的驅(qū)動(dòng)電路，其特征在于上述判斷部具有用于對(duì)上述輸出電路所輸出的輸出信號(hào)和上述預(yù)備輸出電路所輸出的輸出信號(hào)進(jìn)行比較的比較部，并基于該比較部的比較結(jié)果，判斷上述輸出電路是否存在有不良缺陷。
5. —種顯示裝置，其特征在于具有上述權(quán)利要求1至4中任意一項(xiàng)所述的驅(qū)動(dòng)電路以及上述顯示面板。
6. —種顯示裝置，具有顯示面^反和驅(qū)動(dòng)電^^,該驅(qū)動(dòng)電路包括用于輸出輸出信號(hào)的輸出電路，該輸出信號(hào)是用于驅(qū)動(dòng)上述顯示面板的信號(hào)，該顯示裝置的特征在于行判斷的判斷部以及能夠?qū)ι鲜鲲@示面板輸出上述輸出信號(hào)的預(yù)備輸出電路；上迷顯示面板具有切換部，在上述判斷部的判斷結(jié)果表示為存在有不良缺陷的情況下，作為對(duì)上述顯示面板進(jìn)行驅(qū)動(dòng)的輸出信號(hào)，該切換部將存在有不良缺陷的輸出電路所輸出的輸出信號(hào)切換為上述預(yù)備輸出電路所輸出的輸出信號(hào)。
7. —種顯示裝置，其特征在于包括顯示面板；輸出電路，輸出用于驅(qū)動(dòng)上述顯示面板的輸出信號(hào)；預(yù)備輸出電路，能夠?qū)ι鲜鲲@示面板輸出上述輸出信號(hào)；判斷部，判斷上述輸出電路是否存在有不良缺陷；以及切換部，在上述判斷部的判斷結(jié)果表示為存在有不良缺陷的情況下，作為對(duì)上述顯示面板進(jìn)行驅(qū)動(dòng)的輸出信號(hào)，將存在有不良缺陷的輸出電路所輸出的輸出信號(hào)切換為上述預(yù)備輸出電路所輸出的輸出信號(hào)。
8. —種電視系統(tǒng)，其特征在于，具有權(quán)利要求5至7中任意一項(xiàng)所述的顯示裝置。
9. 一種驅(qū)動(dòng)電路，其用于驅(qū)動(dòng)顯示面板，且具有與上述顯示面板連接的輸出端子、輸出電路塊以及預(yù)備輸出電路塊，該輸出電路塊包含有能夠與上述輸出端子連接的輸出電路，該預(yù)備輸出電路塊包含有與上述輸出端子連接的預(yù)備輸出電路，該驅(qū)動(dòng)電^^的特征在于，還包括比較部，用于對(duì)來自上述輸出電路的輸出信號(hào)和來自上述預(yù)備輸出電路的輸出信號(hào)進(jìn)行比較；判斷部，基于上述比較部的比較結(jié)果，判斷上述輸出電路是否存在有不良缺陷；連接切換部，在上述判斷部的判斷結(jié)果表示為存在有不良缺陷的情況下，取代上述輸出電路，使上述預(yù)備輸出電路與上述輸出端子進(jìn)行連接。
10. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的驅(qū)動(dòng)電路，其特征在于上述比較部為運(yùn)算放大器。
11. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的驅(qū)動(dòng)電路，其特征在于上述輸出電路塊以及上述預(yù)備輸出電路塊還包含有使用了運(yùn)算放大器的輸出緩沖器，并使用上述運(yùn)算放大器作為上述比較部，在上述判斷結(jié)果表示為存在有不良缺陷的情況下，取代上述輸出電路塊，使上述預(yù)備輸出電路塊與上述輸出端子進(jìn)行連接。
12. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的驅(qū)動(dòng)電路，其特征在于上迷輸大器的輸出緩沖器和用于對(duì)輸入至輸出電路的信號(hào)進(jìn)行保存的電路，并使用上迷運(yùn)算放大器作為上迷比較部，在上述判斷結(jié)果表示為存在有不良缺陷的情況下，取代上述輸出電路塊，使上述預(yù)備輸出電路塊與上述輸出端子進(jìn)行連接。
13. 根據(jù)權(quán)利要求9至12中任意一項(xiàng)所述的驅(qū)動(dòng)電路，其特征在于號(hào)進(jìn)行控制的控制部，其中，輸入信號(hào)，且輸出與大小不同的上述輸入信號(hào)分別對(duì)應(yīng)的、來自上述比較部的比較結(jié)果的期待值；上述判斷部在上述比較結(jié)果和上述期待值為不同的情況下，判斷出上述輸出電路存在有不良缺陷。
14. 根據(jù)權(quán)利要求9至13中任意一項(xiàng)所述的驅(qū)動(dòng)電路，其特征在于還具有用于存儲(chǔ)標(biāo)記的標(biāo)記存儲(chǔ)部，該標(biāo)記表示上述判斷部的判斷結(jié)果；陷的情況下，取代上述輸出電路，使上述預(yù)備輸出電路與上述輸出端子進(jìn)行連接。
15.根據(jù)權(quán)利要求9至14中任意一項(xiàng)所述的驅(qū)動(dòng)電路，其特征在于在對(duì)上述顯示面板所顯示的圖像不產(chǎn)生影響的期間，上述比較部對(duì)來自上述輸出電路的輸出信號(hào)和來自上述預(yù)備輸出電路的輸出信號(hào)進(jìn)行比較；上迷判斷部基于上述比較部的比較結(jié)果，判斷上迷輸出電路是否存在有不良缺陷；在通過上迷判斷部判斷為存在有不良缺陷的情況下，上述連接切換部將判斷為存在有不良缺陷的輸出電路與上述輸出端子的連接切換為上述預(yù)備輸出電路與上述輸出端子的連接；拘T tC觀丁巧上述預(yù)備豐刖出電路的輸出之間實(shí)現(xiàn)連接后，上述預(yù)備輸出電路對(duì)上述輸出端子輸出輸出信號(hào)。
16. 根據(jù)權(quán)利要求9至15中任意一項(xiàng)所述的驅(qū)動(dòng)電路，其特征在于，還包括檢測(cè)部，對(duì)提供給上述驅(qū)動(dòng)電路的電源電流的值進(jìn)行檢測(cè)；正常電流值保存部，預(yù)先保存有上述驅(qū)動(dòng)電路在正常動(dòng)作時(shí)的上述電源電流的ii;電流值比較部，對(duì)來自上述才企測(cè)部的電源電流的值和來自正常電流值保存部的電源電流的值進(jìn)行比較；驅(qū)動(dòng)電路判斷部，基于上述電流值比較部的比較結(jié)果，判斷上述輸出電路是否存在有不良缺陷，其中，在上迷驅(qū)動(dòng)電路判斷部的判斷結(jié)果表示存在有不良缺陷的情況下，上述比較部對(duì)來自上述輸出電路的輸出信號(hào)和來自上述預(yù)備輸出電路的輸出信號(hào)進(jìn)行比較；上述判斷部基于上述比較部的比較結(jié)果，判斷上述輸出電路是否存在有不良缺陷；下，將判斷為存在^不良缺陷的輸出^路與上述輸出端子的連接切換^上述預(yù)備輸出電路與上述輸出端子的連接。
17. 根據(jù)權(quán)利要求9至16中任意一項(xiàng)所述的驅(qū)動(dòng)電路，其特征在于在上述顯示面板接通電源后，上述比較部對(duì)來自上述輸出電路的輸出信號(hào)和來自上述預(yù)備輸出電路的輸出信號(hào)進(jìn)行比較；上述判斷部基于上述比較部的比較結(jié)果，判斷上述輸出電路是否存在有不良缺陷；在通過上述判斷部判斷為存在有不良缺陷的情況下，上述連接切換部將判斷為存在有不良缺陷的輸出電路與上述輸出端子的連接切換為上述預(yù)備輸出電路與上述輸出端子的連接。
18. 根據(jù)權(quán)利要求9至16中任意一項(xiàng)所述的驅(qū)動(dòng)電路，其特征在于在上述顯示面^反的垂直回掃期間，上迷比較部對(duì)來自上述輸出電路的輸出信號(hào)和來自上述預(yù)備輸出電路的輸出信號(hào)進(jìn)行比較；上迷判斷部基于上述比較部的比較結(jié)果，判斷上述輸出電路是否存在有不良缺陷；在通過上述判斷部判斷為存在有不良缺陷的情況下，上述連接切換部將判斷為存在有不良缺陷的輸出電路與上述輸出端子的連接切換為上述預(yù)備輸出電路與上述輸出端子的連接。
19.根據(jù)權(quán)利要求9至18中任意一項(xiàng)所述的驅(qū)動(dòng)電路，其特征在于、、 …；、山 ，；、…一、、口 別，、斷開部，后， '"" 、 ； 、 "上迷比較部對(duì)來自上述輸出電路的輸出信號(hào)和來自上述預(yù)備輸出電路的輸出信號(hào)進(jìn)行比較；上迷判斷部基于上述比較部的比較結(jié)果，判斷上述輸出電路是否存在有不良缺陷；在通過上述判斷部判斷為存在有不良缺陷的情況下，上迷連接切換部將判斷為存在有不良缺陷的輸出電路與上述輸出端子的連接切換為上述預(yù)備輸出電路與上述輸出端子的連接。
全文摘要
本發(fā)明的用于驅(qū)動(dòng)顯示面板的液晶驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路(10)包括與顯示面板連接的輸出端子、輸出電路塊以及預(yù)備輸出電路塊，該輸出電路塊包含有能夠與輸出端子連接的DAC電路(8)，該預(yù)備輸出電路塊包含有能夠與輸出端子連接的DAC電路(28)，液晶驅(qū)動(dòng)用半導(dǎo)體集成電路(10)還包括運(yùn)算放大器(1)，用于對(duì)DAC電路(8)所輸出的輸出信號(hào)和DAC電路(28)所輸出的輸出信號(hào)進(jìn)行比較；判斷電路(3)，基于運(yùn)算放大器(1)的比較結(jié)果，對(duì)DAC電路(8)是否存在有不良缺陷進(jìn)行判斷；開關(guān)(2c)以及開關(guān)(2d)，用于在判斷電路(3)的判斷結(jié)果為存在有不良缺陷的情況下，取代DAC電路(8)，使DAC電路(28)與輸出端子連接。由此，由于具有易于對(duì)輸出電路缺陷予以檢測(cè)的具體構(gòu)件，所以能夠提供在輸出電路存在有缺陷時(shí)進(jìn)行自行修復(fù)的顯示裝置驅(qū)動(dòng)用集成電路。
文檔編號(hào)G09G3/20GK101681604SQ20088001791
公開日2010年3月24日 申請(qǐng)日期2008年5月26日 優(yōu)先權(quán)日2007年5月29日
發(fā)明者安西伸介, 村橋俊一, 勝谷昌史, 藤野宏晃 申請(qǐng)人:夏普株式會(huì)社