專利名稱：顯示設(shè)備的數(shù)據(jù)驅(qū)動器、用于數(shù)據(jù)驅(qū)動器的測試方法及探針卡的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種顯示設(shè)備的數(shù)據(jù)驅(qū)動器、用于這種數(shù)據(jù)驅(qū)動器的測試 方法及探針卡，更具體地說，涉及適于測試數(shù)據(jù)驅(qū)動器的修復(fù)放大器的技 術(shù)。
背景技術(shù)：
近年來，平板顯示器得到了廣泛地使用。目前存在諸如TFT ("薄膜 晶體管"的縮寫)型液晶顯示設(shè)備、簡單矩陣驅(qū)動型液晶顯示設(shè)備、電致 發(fā)光(縮寫為"EL")顯示設(shè)備以及等離子顯示設(shè)備等多種平板顯示器。 在顯示設(shè)備的顯示器(即屏幕上)，顯示顯示數(shù)據(jù)。以下，將TFT型液晶 顯示器作為示例加以闡釋。
圖1示出了 TFT型液晶顯示設(shè)備1的配置。
TFT型液晶顯示設(shè)備1配備有玻璃基板3、顯示部分(即液晶顯示面 板)10、第1至第mm條柵極線Gl至Gm以及第1至第nn條數(shù)據(jù)線Dl 至Dn。液晶顯示面板10含有按矩陣方式排列在玻璃基板3上的多個像素 11。例如，有(mxn)個像素11排列在玻璃基板3上(此處，m和n分別 是2以上的整數(shù)，分別表示矩陣的行數(shù)和列數(shù))。mxn個像素11中的每個 像素都包含一個薄膜晶體管(縮寫為"TFT") 12和一個像素電容器15。 像素電容器15包含像素電極以及與該像素電極相對布置的對電極。TFT 12配備有漏極電極13、連接至像素電極的源極電極14以及柵極電極16。 m條柵極線Gl至Gm分別連接至第m行中像素11中TFT 12的柵極電極 16。 n條數(shù)據(jù)線Dl至Dn分別連接至第n列中第n個像素11中TFT 12的 漏極電極13。
TFT型液晶顯示設(shè)備1還配備有柵極驅(qū)動器20以及數(shù)據(jù)驅(qū)動器30。 柵極驅(qū)動器20安裝于芯片(未示出)上，且連接至m條柵極線Gl至Gm 中每條柵極線的一端。同時，數(shù)據(jù)驅(qū)動器30也安裝于芯片上，且連接至n
條數(shù)據(jù)線Dl至Dn中每條數(shù)據(jù)線的一端。
TFT型液晶顯示設(shè)備1還配備有定時控制器2。定時控制器2向柵極 驅(qū)動器20提供柵極時鐘信號GCLK，用于比如在一水平周期內(nèi)選擇柵極 線Gl。柵極驅(qū)動器20對柵極時鐘信號GCLK予以響應(yīng)，向柵極線Gl輸 出選擇信號。此時，選擇信號按從一端到另一端的順序發(fā)送至柵極線G1， 然后，響應(yīng)于提供給柵極電極16的選擇信號，將與柵極線G1相對應(yīng)的(lxn 個)像素11的TFT12導(dǎo)通。
此外，定時控制器12向數(shù)據(jù)驅(qū)動器30提供時鐘信號CLK以及單行 顯示數(shù)據(jù)DATA。該單行顯示數(shù)據(jù)DATA包含分別與數(shù)據(jù)線Dl至Dn相 對應(yīng)的n塊顯示數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)驅(qū)動器30響應(yīng)于時鐘信號CLK，分別向n條 數(shù)據(jù)線D1至Dn輸出n塊(piece)顯示數(shù)據(jù)。此時，將與柵極線Gl和n 條數(shù)據(jù)線D1至Dn相對應(yīng)的(lxn個)像素11的TFT12導(dǎo)通。結(jié)果，分 別將n塊顯示數(shù)據(jù)寫入(lxn個)像素11的像素電容器15，存儲直至下 次寫入操作。如此以來，便將n塊顯示數(shù)據(jù)作為單行顯示數(shù)據(jù)DATA顯示 出來。
圖2示出了數(shù)據(jù)驅(qū)動器30的配置。數(shù)據(jù)驅(qū)動器30沿柱狀(columnar) 方向按從第一到第x的順序級聯(lián)。此處，x是2以上的整數(shù)。
數(shù)據(jù)驅(qū)動器30配備有移位寄存器31、數(shù)據(jù)寄存器32、鎖存電路33、 電平移動器34、 DAC ("數(shù)模轉(zhuǎn)換器"的縮寫)35、放大電路36以及灰 度電壓發(fā)生電路37。
灰度電壓發(fā)生電路37包括串聯(lián)連接的多個灰度校正電阻元件(未示出)。
灰度電壓發(fā)生電路37通過多個灰度校正電阻元件將由電源電路提供 的參考電壓分成多個灰度電壓。例如，如果在TFT型液晶顯示設(shè)備1中以 64級灰度顯示圖像，灰度電壓發(fā)生電路37就用63個灰度校正電阻元件 R0至R62將參考電壓V0至V7分成具有64級灰度的正灰度電壓，作為 多個灰度電壓。對于負灰度電壓亦是如此。
移位寄存器31包含n個移位寄存器(未示出)。數(shù)據(jù)寄存器32包含n 個數(shù)據(jù)寄存器(未示出)。鎖存電路33包含n個鎖存電路(未示出)。電 平移動器34包含n個電平移動器(未示出)。
DAC 35包含n個DAC (見圖3)。 n個DAC分別包含P型轉(zhuǎn)換器 PchDAC，用于將正灰度電壓作為輸出灰度電壓予以輸出；以及N型轉(zhuǎn)換 器NchDAC，用于將負灰度電壓作為另一輸出灰度電壓予以輸出。例如， 假設(shè)n個DAC中的奇數(shù)DAC為PchDAC，偶數(shù)DAC為NchDAC。DAC 35 還包含N個用于反向驅(qū)動的切換元件，即通過交替地向像素11施加正灰 度電壓和負灰度電壓的方式切換輸出(見圖3)。放大電路36包含n個放 大器36-l至36-n (見圖2和3)。
下面，將對TFT型液晶顯示設(shè)備1的操作予以說明。
例如，定時控制器2向x個數(shù)據(jù)驅(qū)動器30提供時鐘信號CLK以及單 行顯示數(shù)據(jù)DATA,并且還向第一數(shù)據(jù)驅(qū)動器30提供移位脈沖信號STH。 x個數(shù)據(jù)驅(qū)動器30中各數(shù)據(jù)驅(qū)動器分別對時鐘信號CLK和移位脈沖信號 STH予以響應(yīng)，向n條數(shù)據(jù)線Dl至Dn輸出包含于單行顯示數(shù)據(jù)DATA 中的n塊顯示數(shù)據(jù)。
在第i (此處，i=l、 2、……和x-l)個數(shù)據(jù)驅(qū)動器30中，移位寄存 器31中的n個移位寄存器同步于時鐘信號CLK依次對移位脈沖信號STH 進行移位，然后，將其輸出至數(shù)據(jù)寄存器32中的n個數(shù)據(jù)寄存器。移位 寄存器31中的第n個移位寄存器將移位脈沖信號STH輸出至數(shù)據(jù)寄存器 32中的第n個數(shù)據(jù)寄存器，并且還將其輸出至第(i+l )(此處i = 1 、2、…… 和x-l)個數(shù)據(jù)驅(qū)動器30 (即，級聯(lián)輸出)。在第x個數(shù)據(jù)驅(qū)動器30中， 移位寄存器31中的n個移位寄存器同步于時鐘信號CLK依次對移位脈沖 信號STH進行移位，然后，將其輸出至數(shù)據(jù)寄存器32中的n個數(shù)據(jù)寄存 器。
在x個數(shù)據(jù)驅(qū)動器30中的每個數(shù)據(jù)驅(qū)動器內(nèi)，數(shù)據(jù)寄存器32中的n 個數(shù)據(jù)寄存器分別同步于移位寄存器31中的n個移位寄存器所輸出的移 位脈沖信號STH獲取由定時控制器2所提供的n塊顯示數(shù)據(jù)，然后將其 輸出至鎖存電路33。鎖存電路33中的n個鎖存電路分別在相同的定時鎖 存由數(shù)據(jù)寄存器32的n個數(shù)據(jù)寄存器提供的n塊顯示數(shù)據(jù)，并將其輸出 至電平移動器34。電平移動器34中的n個電平移動器分別對n塊顯示數(shù) 據(jù)進行電平移動，然后將其輸出至DAC35。在DAC35中，n個DAC分 別對由電平移動器34中的n個電平移動器提供的n塊顯示數(shù)據(jù)進行數(shù)/模轉(zhuǎn)換，然后，n個切換元件對輸出進行切換。
如圖3所示，例如，奇數(shù)(第一、第三、……以及第(n-l)) PchDAC 分別根據(jù)奇數(shù)(第一、第三、……以及第(n-l))電平移動器輸出的顯示 數(shù)據(jù)塊，從具有64級灰度的正灰度電壓中選擇輸出灰度電壓，然后經(jīng)由 奇數(shù)(第一、第三、……以及第(n-l))切換元件，將其輸出至放大電路 36中的奇數(shù)放大器36-l、 36-3、……以及36-(n-l)。在這種情況下，偶數(shù) (第二、第四、……以及第n) NchDAC分別根據(jù)偶數(shù)(第二、第四、…… 以及第n)電平移動器輸出的顯示數(shù)據(jù)塊，從具有64級灰度的負灰度電壓 中選擇輸出灰度電壓，然后經(jīng)由偶數(shù)(第二、第四、……以及第n)切換 元件，將其輸出至放大電路36中的偶數(shù)放大器36-2、 36-4、……以及36-n。
相反，在反向驅(qū)動的情況下，如圖3所示，奇數(shù)(第一、第三、…… 以及第(n-l)) PchDAC分別根據(jù)奇數(shù)(第一、第三、……以及第(n-l)) 電平移動器輸出的顯示數(shù)據(jù)塊，從具有64級灰度的正灰度電壓中選擇輸 出灰度電壓，然后經(jīng)由奇數(shù)(第一、第三、……以及第(n-l))切換元件， 將其輸出至放大電路36中的偶數(shù)放大器36-2、 36-4、……以及36-n。在 這種情況下，偶數(shù)(第二、第四、……以及第n) NchDAC分別根據(jù)偶數(shù) (第二、第四、……以及第n)電平移動器輸出的顯示數(shù)據(jù)塊，從具有64 級灰度的負灰度電壓中選擇輸出灰度電壓，然后經(jīng)由偶數(shù)(第二、第 四、……以及第n)切換元件，將其輸出至放大電路36中的奇數(shù)放大器 36-1、 36-3、......以及36-(n-l)。
因此，DAC 35向放大電路36輸出經(jīng)數(shù)/模轉(zhuǎn)換輸出灰度電壓和輸出 切換的n個輸出灰度電壓。放大電路36中的n個放大器36-1至36-n分別 輸入n個輸出灰度電壓，然后將其輸出至n條數(shù)據(jù)線Dl至Dn。
由于對上述顯示面板(以液晶顯示面板為例)有很高的精度要求，因 而，將信號線如柵極線Gl至Gm和數(shù)據(jù)線Dl至Dn的寬度減小。結(jié)果， 加工過程中的雜質(zhì)或光刻過程中的缺陷極易引起信號線斷裂。如果信號線 在驅(qū)動器輸出用于驅(qū)動信號線的驅(qū)動信號時是斷開的，就無法驅(qū)動排布于 斷開部分前的像素。例如，假設(shè)以上述數(shù)據(jù)驅(qū)動器30表示驅(qū)動器，以上 述數(shù)據(jù)線D1至Dn表示信號線，以上述n個輸出灰度電壓(即n塊顯示 數(shù)據(jù))表示驅(qū)動信號，如果數(shù)據(jù)線Dj (此處，j是一個滿足表達式1《j《n的整數(shù))斷開，則無法驅(qū)動排布于斷開部分前的像素11。在這種情況 下，顯示設(shè)備將成為殘次品。只有當在最終階段，制作顯示面板，并連接 并組裝驅(qū)動器、基板等部件時，才能發(fā)現(xiàn)這個缺陷，因而當發(fā)現(xiàn)缺陷時已 付出了巨大的代價。
為了解決這個問題，在日本特許公開專利申請JP-A-Heisei, 8-171081 中所公開的技術(shù)中，事先在驅(qū)動器中布置一個修復(fù)電路(也稱救援電路)， 從而使得當發(fā)現(xiàn)斷裂時，可以經(jīng)由修復(fù)電路驅(qū)動排布于斷裂部分前的像 素。以下，就以上述TFT型液晶顯示設(shè)備為例，簡明扼要地對該技術(shù)加以 闡釋。
如圖4所示，TFT型液晶顯示設(shè)備中的數(shù)據(jù)驅(qū)動器30還配備有修復(fù) 放大器40。為便于說明，將修復(fù)放大器40與數(shù)據(jù)驅(qū)動器30分開說明。修 復(fù)放大器40安裝在芯片上，且包含比如兩個修復(fù)放大器40-1和40-2。TFT 型液晶顯示設(shè)備1還配備有安裝在玻璃基板3上的輔助互連接。
如果在數(shù)據(jù)線Dj上發(fā)現(xiàn)斷裂43，就在以Dj'(稱為連接數(shù)據(jù)線)表示 的、仍連接至放大器36-j的數(shù)據(jù)線Dj的一部分和輔助互連接41的交叉位 置將其連在一起。此外，在修復(fù)放大器的40-l的輸入端和輔助互連接41 的交叉位置45將輔助互連接41連接至修復(fù)放大器的40-1的輸入端。此外， 在修復(fù)放大器的40-l的輸出端和輔助互連接41的交叉位置46將修復(fù)放大 器的40-1的輸出端連接至輔助互連接42。此外，在以Dj"(稱為斷開數(shù) 據(jù)線)表示的、未連接至放大器36-j的數(shù)據(jù)線Dj的一部分和輔助互連接 42的交叉位置47，將輔助互連接42連接至數(shù)據(jù)線Dj的該部分。這樣一 來，就用由放大器36-j、連接數(shù)據(jù)線Dj，、交叉點44、輔助互連接41、交 叉點45、修復(fù)放大器40-l、交叉點46、輔助互連接42、交叉點47以及未 連接數(shù)據(jù)線Dj"構(gòu)成的通道構(gòu)建了修復(fù)電路。利用修復(fù)電路，可以驅(qū)動排 布于斷裂部分43前的像素11。此處，修復(fù)放大器40-l用于補償由修復(fù)電 路所造成的驅(qū)動性能的下降。
在對含有修復(fù)電路的顯示驅(qū)動器ic進行電氣特性檢査的過程中，除 了其他電氣特性檢查，還要對修復(fù)放大器40-1和40-2進行電氣特性檢查。
如圖5所示，TFT型液晶顯示設(shè)備1中的數(shù)據(jù)驅(qū)動器30還配備有用 于進行電氣特性檢査的焊盤。焊盤安裝在芯片上。
焊盤包括輸出焊盤56-1至56-n、修復(fù)輸入焊盤51-1和51-2以及修 復(fù)輸出焊盤52-1和52-2。輸出焊盤56-1至56-n分別連接至放大電路36 中的n個放大器36-1至36-n的輸出端。修復(fù)輸入焊盤51-1和51-2分別連 接至修復(fù)放大器40-1和40-2的輸入端。修復(fù)輸出焊盤52-1和52-2分別連 接至修復(fù)放大器40-1和40-2的輸出端。
在進行電氣特性檢査時，測量設(shè)備53連至芯片。測量設(shè)備53包含 探針卡54和測試儀55?？梢詫⒋笈可a(chǎn)的LSI測試儀用作測試儀55。
例如，在進行電氣特性檢査時，測量設(shè)備53測試放大電路36中n個 放大器36-1至36-n中各放大器的輸出延遲。在這種情況下，探針卡54輸 入通過DAC35、通過輸出切換、經(jīng)由n個放大器36-1至36-n提供給輸出 焊盤56-1至56-n的驅(qū)動信號(即輸出灰度電壓)，然后將此驅(qū)動信號輸出 至測試儀55。測試儀55根據(jù)驅(qū)動信號測試n個放大器36-1至36-n中各 放大器的輸出延遲，然后，根據(jù)表示輸出延遲的輸出延遲時間對質(zhì)量做出 判斷。判斷質(zhì)量的根據(jù)是，輸出延遲時間是否超過了預(yù)先確定的上限。例 如，如果輸出延遲時間低于上限，就顯示該產(chǎn)品是合格品；反之，如果輸 出延遲時間高于上限，就顯示該產(chǎn)品是殘次品。
此外，作為電氣特性檢査的內(nèi)容之一，測量設(shè)備53測試修復(fù)放大器 40-1和40-2中各放大器的輸出延遲。在這種情況下，測試儀55將信號提 供給修復(fù)輸入焊盤51-1和51-2。探針卡54接收經(jīng)修復(fù)放大器40-1和40-2 提供給修復(fù)輸出焊盤52-1和52-2的信號，然后，將這兩個信號輸出至測 試儀55。測試儀55分別根據(jù)上述信號測試修復(fù)放大器40-1和40-2的輸 出延遲，然后根據(jù)表示輸出延遲的輸出延遲時間對質(zhì)量做出判斷。

發(fā)明內(nèi)容
然而，在對修復(fù)放大器40-1和40-2進行電氣特性檢查時，存在這樣 一個問題，即由于測試儀規(guī)格的限制，在判斷修復(fù)放大器40-1、 40-2的 輸出延遲質(zhì)量時，不能用與判定放大電路36中n個放大器36-1至36-n的 輸出延遲相類似的方式對質(zhì)量進行判定。
換句話說，在測試n個放大器36-1至36-n的輸出延遲時，放大器36-1 至36-n輸入來自DAC 35的模擬電壓(輸出灰度電壓)。因此，利用在檢
査DAC 35中的輸出端切換輸入時的特性，對放大器36-1至36-n各放大 器的輸出延遲的質(zhì)量進行判定。然而，由于測試儀55能力或者成本有限， 很難用大批量生產(chǎn)的LSI測試儀55的輸入端再現(xiàn)DAC 35中的輸出端切 換。
此外，在某些情況下，從大批量生產(chǎn)的LSI測試儀55的成本的角度 來看，測試設(shè)備的最大輸入模擬電壓存在一個極限。如果該最大值小于來 自DAC 34的模擬電壓的最大值，就無法在修復(fù)放大器40-1和40-2的延 遲被認為達到最大的最大輸入幅度下對延遲時間的質(zhì)量做出判斷。
也就是說，存在無法用批量生產(chǎn)的產(chǎn)品準確判斷修復(fù)放大器40-1和 40-2質(zhì)量的問題。
在本發(fā)明的第一方案中，顯示設(shè)備的數(shù)據(jù)驅(qū)動器包括DAC (數(shù)模轉(zhuǎn) 換器)，配置為包含用于輸出驅(qū)動顯示單元信號線的驅(qū)動信號的輸出端； 放大器，配置用于對由DAC輸出的驅(qū)動信號進行放大，并包含用于向信 號線輸出驅(qū)動信號的輸出端；修復(fù)放大器，配置為包含輸入端和輸出端， 其中，當信號線發(fā)生斷裂時，信號線被斷點分成連接至放大器的連接數(shù)據(jù)
線，以及未連接至放大器的斷開數(shù)據(jù)線，且修復(fù)放大器的輸入端連接至連 接數(shù)據(jù)線，修復(fù)放大器的輸出端連接至斷開數(shù)據(jù)線；以及開關(guān)，配置用于 在執(zhí)行測試模式對修復(fù)放大器迸行測試時，向修復(fù)放大器的輸入端提供驅(qū) 動信號。
在本發(fā)明的另一方案中，在用于測試顯示設(shè)備的數(shù)據(jù)驅(qū)動器的測試方 法中，顯示設(shè)備包括DAC (數(shù)模轉(zhuǎn)換器)，配置為包含用于輸出驅(qū)動顯 示單元信號線的驅(qū)動信號的輸出端；放大器，配置用于對由DAC輸出的 驅(qū)動信號進行放大，并包含用于向信號線輸出驅(qū)動信號的輸出端；以及修 復(fù)放大器，配置為包含輸入端和輸出端，其中，當信號線發(fā)生斷裂時，信 號線被斷點分成連接至放大器的連接數(shù)據(jù)線，以及未連接至放大器的斷開 數(shù)據(jù)線，且修復(fù)放大器的輸入端連接至連接數(shù)據(jù)線，修復(fù)放大器的輸出端 連接至斷開數(shù)據(jù)線。測試方法包括..在執(zhí)行測試模式前，根據(jù)修復(fù)放大器 輸入端處的輸入，將用于測試修復(fù)放大器的測量設(shè)備連接至數(shù)據(jù)驅(qū)動器； 以及在執(zhí)行測試模式時，將驅(qū)動信號提供給輔助放大器上修復(fù)放大器的輸 入端。
在本發(fā)明的又一方案中，在設(shè)計用于對顯示設(shè)備的數(shù)據(jù)驅(qū)動器進行測 試的探針卡中，數(shù)據(jù)驅(qū)動器包括DAC (數(shù)模轉(zhuǎn)換器)，配置為包含用于 輸出驅(qū)動顯示單元信號線的驅(qū)動信號的輸出端；放大器，配置用于對由 DAC輸出的驅(qū)動信號進行放大，并包含用于向信號線輸出驅(qū)動信號的輸
出端；以及修復(fù)放大器，配置為包含輸入端和輸出端，其中，當信號線發(fā) 生斷裂時，信號線被斷點分成連接至放大器的連接數(shù)據(jù)線，以及未連接至 放大器的斷開數(shù)據(jù)線，且修復(fù)放大器的輸入端連接至連接數(shù)據(jù)線，修復(fù)放 大器的輸出端連接至斷開數(shù)據(jù)線。探針卡包括正常布線、測試布線以及
開關(guān)。在正常的測試模式下，開關(guān)將數(shù)據(jù)驅(qū)動器以及用于執(zhí)行測試的測試 儀相連，并將放大器的輸出端與測試儀相連，以便將放大器輸出信號提供 給測試儀。在測試的測試模式下，開關(guān)將放大器的輸出端與測試儀斷開， 將放大器的輸出端與修復(fù)放大器的輸入端相連，以便基于驅(qū)動信號將修復(fù) 放大器的輸出端處的信號提供給測試儀。
根據(jù)依照本發(fā)明的顯示設(shè)備的數(shù)據(jù)驅(qū)動器，當執(zhí)行測試模式時，開關(guān)
60-1、 60-2將驅(qū)動信號(輸出灰度電壓)提供給修復(fù)放大器40-1、 40-2的 輸入端。因而，輸入至修復(fù)放大器40-1和40-2的輸入端的模擬電壓(輸 出灰度電壓)的幅度值等于測試正常放大器36， 36-1至36-n的輸出延遲 時的模擬電壓的幅度值。因此，可以對修復(fù)放大器40-1和40-2的輸出端 執(zhí)行與對放大器36， 36-1至36-n的輸出延遲測試等效的測試。因而，可 以利用大批量生產(chǎn)的LSI測試儀55，根據(jù)修復(fù)放大器40-1和40-2的輸出 延遲，精確地對質(zhì)量做出判定。


通過以下結(jié)合附圖的某些優(yōu)選實施例的說明，本發(fā)明的上述和其他目 的、優(yōu)勢以及特征將更加明顯。附圖中
圖1示出了相關(guān)技術(shù)中TFT型液晶顯示設(shè)備的配置；
圖2示出了相關(guān)技術(shù)中TFT型液晶顯示設(shè)備中的數(shù)據(jù)驅(qū)動器30的配
置；
圖3示出了相關(guān)技術(shù)中數(shù)據(jù)驅(qū)動器30中DAC 35和放大電路36的配
置；
圖4示出了相關(guān)技術(shù)中TFT型液晶顯示設(shè)備的配置中數(shù)據(jù)驅(qū)動器30 內(nèi)部的修復(fù)電路；
圖5示出了相關(guān)技術(shù)中的數(shù)據(jù)驅(qū)動器30以及連接至數(shù)據(jù)驅(qū)動器30且 包含探針卡54和測試儀55的測量設(shè)備53;
圖6示出了依照第一實施例的數(shù)據(jù)驅(qū)動器30以及連接至數(shù)據(jù)驅(qū)動器 30且包含探針卡54和測試儀55的測量設(shè)備53;
圖7示出了依照第二實施例的數(shù)據(jù)驅(qū)動器30以及連接至數(shù)據(jù)驅(qū)動器 30且包含探針卡54和測試儀55的測量設(shè)備53;以及
圖8示出了依照第三實施例的數(shù)據(jù)驅(qū)動器30以及連接至數(shù)據(jù)驅(qū)動器 30且包含探針卡54和測試儀55的測量設(shè)備53。
具體實施例方式
以下，將參考附圖，對依照本發(fā)明實施例的用于顯示設(shè)備的數(shù)據(jù)驅(qū)動 器、數(shù)據(jù)驅(qū)動器的測試方法以及探針卡予以說明。此處，在下文對與前面 所述類似的配置以及操作(背景技術(shù)和發(fā)明內(nèi)容中的描述)只作簡略解釋。 (第一實施例) [配置]
圖6示出了依照本發(fā)明的第一實施例的TFT型液晶顯示設(shè)備的數(shù)據(jù)驅(qū) 動器30、連接至數(shù)據(jù)驅(qū)動器30并包含探針卡54和測試儀55的測量設(shè)備 53的配置。數(shù)據(jù)驅(qū)動器30配備有開關(guān)60-1和60-2以及測試焊盤61。開 關(guān)60-1和60-2以及測試焊盤61安裝在芯片上。當執(zhí)行稍后將予以說明的 電氣特性檢查時，包含探針卡54和測試儀55的測試設(shè)備53與芯片連接。
測試焊盤61通過布線連接至開關(guān)60-1和60-2。修復(fù)放大器40-1和 40-2分別布置于數(shù)據(jù)驅(qū)動器30內(nèi)部的放大電路36中的放大器36-1和36-n 附近。開關(guān)60-1和60-2分別插入數(shù)據(jù)驅(qū)動器30內(nèi)部的DAC 35以及放大 器36-1和放大器36-2之間。開關(guān)60-1和60-2中每一個都包含連接至 DAC 35的輸出端的端子"a"、連接至放大器36-1和36-n各放大器的輸入 端的端子"b"以及連接至修復(fù)放大器40-1和40-2各修復(fù)放大器的輸入端 的端子"c"。 [操作]
向測試焊盤61施加測試模式信號TEST。例如，當測試模式信號TEST 的信號電平處于未激活狀態(tài)時，，執(zhí)行正常模式(第一測試模式)。相反， 當測試模式信號TEST的信號電平處于激活狀態(tài)時，執(zhí)行測試模式(第二 測試模式)，用于對修復(fù)放大器40-1和40-2進行測試。
在正常模式下，在開關(guān)60-1和60-2中各開關(guān)處，端子a和b彼此連 接。換句話說，DAC 35的輸出端以及放大器36-1和36-n中各放大器的輸 入端經(jīng)由開關(guān)60-1和60-2中各個開關(guān)彼此相連。
例如，在正常模式下，測量設(shè)備53在進行電氣特性檢查時，測試放 大器36-1至36-n中各個放大器的輸出延遲。在這種情況下，探針卡54輸 入驅(qū)動信號(輸出灰度電壓)，該驅(qū)動信號由DAC 35按照輸出切換，經(jīng) 放大器36-1至36-n提供給輸出焊盤56-1至56-n，然后輸出至測試儀55。 測試儀55根據(jù)該驅(qū)動信號測試放大器36-1至36-n的輸出延遲，然后，根 據(jù)表示輸出延遲的輸出延遲時間對質(zhì)量做出判斷。
在測試模式下，在開關(guān)60-1和60-2中各開關(guān)處，端子a和c彼此相 連。換句話說，DAC 35的輸出端連接至修復(fù)放大器40-1和40-2中各修復(fù) 放大器的輸入端，而并非經(jīng)由開關(guān)36-1和36-n中各開關(guān)連接至放大器36-1 和36-n的輸入端。
例如，在測試模式下，測量設(shè)備53測試修復(fù)放大器40-1和40-2中修 復(fù)放大器的輸出延遲。在這種情況下，探針卡54輸入驅(qū)動信號(輸出灰 度電壓)，該驅(qū)動信號由DAC 35按照輸出切換，經(jīng)修復(fù)放大器40-1和40-2 提供給修復(fù)輸出焊盤52-1和52-2，然后輸出至測試儀55。測試儀55根據(jù) 該信號測試修復(fù)放大器40-1和40-2的輸出延遲，然后，根據(jù)表示輸出延 遲的輸出延遲時間對質(zhì)量做出判斷。 [效果]
如上所述，依照本發(fā)明的第一實施例，當在TFT型液晶顯示設(shè)備1 的數(shù)據(jù)驅(qū)動器30中執(zhí)行測試模式(第二測試模式)時，幵關(guān)60-1和60-2 將驅(qū)動信號(輸出灰度電壓)施加于修復(fù)放大器40-1和40-2的輸入端。 因而，輸入至修復(fù)放大器40-l和40-2的輸入端的模擬電壓(輸出灰度電 壓)的幅度值等于測試正常放大電路36中n個放大器36-1至36-n中各放 大器的輸出延遲時的模擬電壓的幅度值。因此，可以對修復(fù)放大器40-1
和40-2的輸出端執(zhí)行與對n個放大器36-1至36-n中各放大器執(zhí)行的輸出 延遲測試等效的測試。因而，可以利用大批量生產(chǎn)的LSI測試儀55，根據(jù) 修復(fù)放大器40-1和40-2的輸出延遲，精確地對質(zhì)量做出判定。
(第二實施例) [配置]
圖7示出了依照本發(fā)明第二實施例的TFT型液晶顯示設(shè)備1的數(shù)據(jù)驅(qū) 動器30、連接至數(shù)據(jù)驅(qū)動器30并包含探針卡54和測試儀55的測量設(shè)備 53的配置。數(shù)據(jù)驅(qū)動器30配備有開關(guān)60-1和60-2、測試焊盤61以及輔 助DAC 70-1和70-2。開關(guān)60-1和60-2、測試焯盤61以及輔助DAC 70-1 和70-2安裝在芯片上。當執(zhí)行電氣特性檢查時，包含探針卡54和測試儀 55的測試設(shè)備53與芯片連接。
測試焊盤61通過布線連接至開關(guān)60-1和60-2以及輔助DAC 70-1和 70-2。修復(fù)放大器40-1和40-2分別布置于數(shù)據(jù)驅(qū)動器30內(nèi)部的放大電路 36中的放大器36-1和36-n附近。開關(guān)60-1和60-2分別插入輔助DAC 70-1 和70-2以及修復(fù)放大器40-1和40-2之間。開關(guān)60-1和60-2中每一個都 包含連接至修復(fù)放大器40-l和40-2中各放大器的輸入端的端子"a"以 及連接至輔助DAC 70-1和70-2各輔助DAC的輸出端的端子"b"。
輔助DAC 70-1和70-2中各輔助DAC是DAC 35的單輸出電路。當 執(zhí)行測試模式(第二測試模式)對修復(fù)放大器40-l和40-2進行測試時， 輔助DAC 70-1和70-2輸出與DAC35的輸出相同的驅(qū)動信號(輸出灰度 電壓)。 隅作]
向測試焊盤61施加測試模式信號TEST。例如，當測試模式信號TEST 的信號電平處于未激活狀態(tài)時，執(zhí)行正常模式(第一測試模式)。相反， 當測試模式信號TEST的信號電平處于激活狀態(tài)時，執(zhí)行測試模式(第二 測試模式)。
在正常模式下，在開關(guān)60-1和60-2中各開關(guān)處，端子a和b彼此斷 開。換句話說，經(jīng)由開關(guān)60-1和60-2中各個開關(guān)，分別將輔助DAC70-1 和70-2的輸出端與修復(fù)放大器40-1和40-2的輸入端彼此斷開。
例如，在正常模式下，測量設(shè)備53在進行電氣特性檢査時，對放大 電路36中的n個放大器36-1至36-n中各放大器的輸出延遲進行測試。在 這種情況下，探針卡54輸入驅(qū)動信號(輸出灰度電壓)，該驅(qū)動信號由 DAC 35按照輸出切換，經(jīng)n個放大器36-1至36-n提供給輸出焊盤56-1 至56-n，然后輸出至測試儀55。測試儀55根據(jù)該驅(qū)動信號測試放大器36-1 至36-n的輸出延遲，然后，根據(jù)表示輸出延遲的輸出延遲時間對質(zhì)量做出 判斷。
在測試模式下，在開關(guān)60-1和60-2中各開關(guān)處，端子a和b彼此相 連。換句話說，經(jīng)由開關(guān)60-1和60-2中各開關(guān)，將輔助DAC 70-1和70-2 的輸出端與修復(fù)放大器40-1和40-2的輸入端彼此相連。
例如，在測試模式下，測量設(shè)備53測試修復(fù)放大器40-1和40-2中各 修復(fù)放大器的輸出延遲。在這種情況下，探針卡54輸入驅(qū)動信號(輸出 灰度電壓)，該驅(qū)動信號由輔助DAC 70-1和70-2中各輔助DAC按照輸出 切換，經(jīng)修復(fù)放大器40-1和40-2提供給修復(fù)輸出焊盤52-1和52-2，然后 輸出至測試儀55。測試儀55根據(jù)該信號測試修復(fù)放大器40-1和40-2的 輸出延遲，然后，根據(jù)表示輸出延遲的輸出延遲時間對質(zhì)量做出判斷。 [效果]
如上所述，依照本發(fā)明的第二實施例，在TFT型液晶顯示設(shè)備1的數(shù) 據(jù)驅(qū)動器30中，如同第一實施例中那樣，當執(zhí)行測試模式(第二測試模 式)時，開關(guān)60-1和60-2將驅(qū)動信號(輸出灰度電壓)提供給修復(fù)放大 器40-1和40-2的輸入端。因而，輸入至修復(fù)放大器40-1和40-2的輸入端 的模擬電壓(輸出灰度電壓)的幅度值等于測試正常放大電路36中n個 放大器36-1至36-n中各放大器的輸出延遲時的模擬電壓的幅度值。因此， 可以對修復(fù)放大器40-l和40-2的輸出端執(zhí)行與對n個放大器36-l至!36-n 中各放大器執(zhí)行的輸出延遲測試等效的測試。因而，可以利用大批量生產(chǎn) 的LSI測試儀55，根據(jù)修復(fù)放大器40-1和40-2的輸出延遲，精確地對質(zhì) 量做出判定。
(第三實施例) [配置]
圖8示出了依照本發(fā)明第三實施例的TFT型液晶顯示設(shè)備1中數(shù)據(jù)驅(qū) 動器30、連接至數(shù)據(jù)驅(qū)動器30并包含探針卡54和測試儀55的測量設(shè)備
53的配置。當執(zhí)行電氣特性檢査時，包含探針卡54和測試儀55的測試設(shè) 備W與芯片連接。探針卡54包括開關(guān)60-1和60-2以及測試布線80-1 和80-2。
修復(fù)放大器40-1和40-2分別布置于數(shù)據(jù)驅(qū)動器30內(nèi)部的放大電路 36中的放大器36-1和36-n附近。開關(guān)60-1和60-2分別插入探針卡54上 的輸出焊盤56-1和56-2以及測試儀55之間。開關(guān)60-1和60-2中每一個 都包含連接至輸出焊盤56-1和56-n中各輸出焊盤的輸出端的端子"a"、 連接至測試儀55的端子"b"以及連接至測試布線80-1和80-2中各測試 布線的端子"c"。 [操作]
向開關(guān)60-1和60-2施加來自測試儀55的測試模式信號TEST。例如， 當測試模式信號TEST的信號電平處于未激活狀態(tài)時，執(zhí)行正常模式(第 一測試模式)。相反，當測試模式信號TEST的信號電平處于激活狀態(tài)時， 執(zhí)行測試模式(第二測試模式)。
在正常模式下，在開關(guān)60-1和60-2中各幵關(guān)處，端子a和b彼此連 接。換句話說，經(jīng)由開關(guān)60-1和60-2中各個開關(guān)，在探針卡54上將輸出 焊盤56-1和56-n與測試儀55彼此相連。
例如，在正常模式下，測量設(shè)備53在進行電氣特性檢查時，測試放 大電路36的n個放大器36-1至36-n中各放大器的輸出延遲。在這種情況 下，探針卡54輸入驅(qū)動信號(輸出灰度電壓)，該驅(qū)動信號由DAC35按 照輸出切換，經(jīng)n個放大器36-1至36-n提供給輸出焊盤56-1至S6-n，然 后輸出至測試儀55。測試儀55根據(jù)該驅(qū)動信號測試放大器3^1至36-n 的輸出延遲，然后，根據(jù)表示輸出延遲的輸出延遲時間對質(zhì)量做出判斷。
在測試模式下，在開關(guān)60-1和60-2中各開關(guān)處，端子a和c彼此相 連。換句話說，經(jīng)由測試布線80-1和80-2將輸出焊盤56-1和56-2分別連 接至修復(fù)輸入焊盤51-1和51-2，而并未連接至測試儀55。
例如，在測試模式下，測量設(shè)備53測試修復(fù)放大器40-1和40-2中各 修復(fù)放大器的輸出延遲。在這種情況下，探針卡54輸入驅(qū)動信號(輸出 灰度電壓)，該驅(qū)動信號由DAC 35按照輸出切換，經(jīng)修復(fù)放大器40-l和 40-2提供給修復(fù)輸出焊盤52-1和52-2，然后輸出至測試儀55。測試儀55
根據(jù)該信號測試修復(fù)放大器40-1和40-2的輸出延遲，然后，根據(jù)表示輸
出延遲的輸出延遲時間對質(zhì)量做出判斷。
如上所述，依照本發(fā)明的第三實施例，如同在第一和第二實施例中那 樣，當在探針卡54中執(zhí)行測試模式(第二測試模式)時，開關(guān)60-1和60-2 將驅(qū)動信號(輸出灰度電壓)提供給修復(fù)放大器40-l和40-2的輸入端。 因而，輸入至修復(fù)放大器40-l和40-2的輸入端的模擬電壓(輸出灰度電 壓)的幅度值等于測試正常放大器36中n個放大器36-1至36-n中各放大 器的輸出延遲時的模擬電壓的幅度值。因此，可以對修復(fù)放大器40-1和 40-2的輸出端執(zhí)行與對n個放大器36-1至36-n中各放大器執(zhí)行的輸出延 遲測試等效的測試。因而，可以利用大批量生產(chǎn)的LSI測試儀55，根據(jù)修 復(fù)放大器40-1和40-2的輸出延遲，精確地對質(zhì)量做出判定。
此外，在本發(fā)明的第三實施例中，在數(shù)據(jù)驅(qū)動器30中既不需要布置 開關(guān)也不需要測試端子。因而，與第一和第二實施例相比，可以減少數(shù)據(jù) 驅(qū)動器30中芯片的芯片布局面積。
盡管以上結(jié)合本發(fā)明的若干實施例對其進行了說明，然而對于所屬領(lǐng) 域技術(shù)人員而言，顯而易見，上面提供的典型實施例只是為了對本發(fā)明予 以示例說明，而不應(yīng)依賴其從限制意義上解釋所附權(quán)利要求。
權(quán)利要求
1.一種顯示設(shè)備的數(shù)據(jù)驅(qū)動器，包含DAC，配置成包含用于輸出驅(qū)動顯示單元信號線的驅(qū)動信號的輸出端；放大器，配置成對由DAC輸出的驅(qū)動信號進行放大，并包含用于向信號線輸出驅(qū)動信號的輸出端；修復(fù)放大器，配置成包含輸入端和輸出端，其中，當信號線發(fā)生斷裂時，信號線被斷點分成連接至放大器的連接數(shù)據(jù)線，以及未連接至放大器的斷開數(shù)據(jù)線，且修復(fù)放大器的輸入端連接至連接數(shù)據(jù)線，修復(fù)放大器的輸出端連接至斷開數(shù)據(jù)線；以及開關(guān)，配置成在執(zhí)行測試模式對修復(fù)放大器進行測試時，向修復(fù)放大器的輸入端提供驅(qū)動信號。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示設(shè)備的數(shù)據(jù)驅(qū)動器，其中，在正常模 式下，開關(guān)將DAC的輸出端與用于輸入由DAC輸出的驅(qū)動信號的放大器 輸入端相連，且開關(guān)對用于執(zhí)行測試模式的測試模式信號予以響應(yīng)，將DAC的輸出 端與放大器輸入端斷開，并將DAC的輸出端與修復(fù)放大器的輸入端相連。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示設(shè)備的數(shù)據(jù)驅(qū)動器，還包含輔助DAC,配置成對用于執(zhí)行測試模式的測試模式信號予以響應(yīng)， 輸出與DAC輸出的驅(qū)動信號相同的輸出信號，其中，在正常模式下，開關(guān)對測試模式信號予以響應(yīng)，將輔助DAC 的輸出端與修復(fù)放大器的輸入端斷開，并將輔助DAC的輸出端與修復(fù)放 大器的輸入端相連。
4. 一種用于測試顯示設(shè)備的測試方法，其中顯示設(shè)備包括DAC，配置成包含用于輸出驅(qū)動顯示單元信號線的驅(qū)動信號的輸出上山順；放大器，配置成對由DAC輸出的驅(qū)動信號進行放大，并包含用于向 信號線輸出驅(qū)動信號的輸出端；以及修復(fù)放大器，配置成包含輸入端和輸出端，其中，當信號線發(fā)生斷裂 時，信號線被斷點分成連接至放大器的連接數(shù)據(jù)線，以及未連接至放大器 的斷開數(shù)據(jù)線，且修復(fù)放大器的輸入端連接至連接數(shù)據(jù)線，修復(fù)放大器的 輸出端連接至斷開數(shù)據(jù)線，并且 所述方法包括在執(zhí)行測試模式前，根據(jù)修復(fù)放大器輸入端處的輸入，將用于測試修 復(fù)放大器的測量設(shè)備連接至數(shù)據(jù)驅(qū)動器；以及在執(zhí)行測試模式時，將驅(qū)動信號提供給輔助放大器上修復(fù)放大器的輸 入端。
5. —種設(shè)計用于對顯示設(shè)備的數(shù)據(jù)驅(qū)動器進行測試的探針卡，其中數(shù)據(jù)驅(qū)動器包括DAC，配置成包含用于輸出驅(qū)動顯示單元信號線的驅(qū)動信號的輸出端；放大器，配置成對由DAC輸出的驅(qū)動信號進行放大，并包含用于向 信號線輸出驅(qū)動信號的輸出端；以及修復(fù)放大器，配置成包含輸入端和輸出端，其中，當信號線發(fā)生斷裂 時，信號線被斷點分成連接至放大器的連接數(shù)據(jù)線，以及未連接至放大器的斷幵數(shù)據(jù)線，且修復(fù)放大器的輸入端連接至連接數(shù)據(jù)線，修復(fù)放大器的 輸出端連接至斷開數(shù)據(jù)線，并且探針卡包括正常布線；測試布線；以及開關(guān)，配置成在正常的測試模式下，將數(shù)據(jù)驅(qū)動器以及用于執(zhí)行測試的測試儀相 連，并將放大器的輸出端與測試儀相連，以便將放大器輸出信號提供給測 試儀；并且在測試的測試模式下，將放大器的輸出端與測試儀斷開，將放大器的 輸出端與修復(fù)放大器的輸入端相連，以便基于驅(qū)動信號將修復(fù)放大器的輸 出端處的信號提供給測試儀。
全文摘要
一種顯示設(shè)備的數(shù)據(jù)驅(qū)動器、用于數(shù)據(jù)驅(qū)動器的測試方法及探針卡，其中顯示設(shè)備的數(shù)據(jù)驅(qū)動器包含DAC(數(shù)模轉(zhuǎn)換器)，用于輸出驅(qū)動顯示單元信號線的驅(qū)動信號；放大器，用于對由DAC輸出的驅(qū)動信號進行放大，并向信號線輸出驅(qū)動信號；修復(fù)放大器，包含輸入端和輸出端，其中，信號線被斷點分成連接至放大器的連接數(shù)據(jù)線，以及未連接至放大器的斷開數(shù)據(jù)線，且修復(fù)放大器的輸入端連接至連接數(shù)據(jù)線，修復(fù)放大器的輸出端連接至斷開數(shù)據(jù)線；以及開關(guān)，用于向修復(fù)放大器的輸入端提供驅(qū)動信號，以便測試修復(fù)放大器。能夠在與對放大器相似的條件下執(zhí)行對修復(fù)放大器的輸出延遲測試。
文檔編號G09G3/36GK101345018SQ200810136118
公開日2009年1月14日 申請日期2008年7月9日 優(yōu)先權(quán)日2007年7月9日
發(fā)明者松居忠義 申請人:恩益禧電子股份有限公司