專利名稱：將不可見標(biāo)記應(yīng)用于介質(zhì)上的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明包含將鑒別標(biāo)記放在介質(zhì)上以便檢測所述介質(zhì)的拷貝和 偽造的領(lǐng)域，后者是文檔或包裹，可能由紙或紙板制成，但不限于這 些材料。標(biāo)記也通過存儲真實文檔的校驗和，阻止未授權(quán)修改文檔的 嘗試，也可以通過插入標(biāo)識碼，跟蹤和追蹤產(chǎn)品。
背景技術(shù)：
在發(fā)明領(lǐng)域中，能發(fā)現(xiàn)兩種標(biāo)記，即 -可見標(biāo)記該標(biāo)記用于由消費者本人或授權(quán)的經(jīng)銷商，通過可視地校驗該標(biāo) 記的存在，鑒別具有該標(biāo)記的介質(zhì)。能在紙幣上發(fā)現(xiàn)這種技術(shù)，包括 水印、3D全息圖、小孔、金屬線和具有特殊光學(xué)屬性的墨水。-不可見標(biāo)i己不可見意味著肉眼不可辨別，這些標(biāo)記隱藏在產(chǎn)品的表面上，以 致仿造者不了解該標(biāo)記的存在。本發(fā)明僅集中在不可見標(biāo)記上.在文獻(xiàn)WO02/25599中描述了用于施加這種標(biāo)記的已知技術(shù)，其 中，使用墨水來創(chuàng)建對應(yīng)于該標(biāo)記的對稱或不對稱調(diào)制。形成標(biāo)記基于使用分布在將標(biāo)記的表面上的非常小的結(jié)構(gòu)，例如 以點的形式(例如10至80iwn) 由用來將結(jié)構(gòu)添加到該介質(zhì)上，例 如通過結(jié)合半色調(diào)打印的方法而定，必須特別考慮有關(guān)創(chuàng)建具有超出 100pm的大小的聚集點。在一些情況下，這些聚集可能是所需特性(例 如，具有非常低的反差墨水，如清漆)或不期望的特性(例如具有較高反差墨水)。當(dāng)與標(biāo)記同時打印圖像時，能使用對稱方法。通過由初始設(shè)計增
加或減去點，調(diào)制顏色以便形成標(biāo)記。不同的實施例可以修改用來打 印標(biāo)記的色素或墨水的光語反射率組成。非對稱方法具有更少限制以及例如，能用在打印圖像時、打印圖 像前或甚至在稍后階段通過附加打印。該方法例如通過打印有色點， 基本上存在增加局部對比度，以便在空白區(qū)、具有均勻顏色的區(qū)域或 包含裝飾圖像的區(qū)域上形成標(biāo)記。即使這些方法滿足許多應(yīng)用，在非常大的生產(chǎn)量的情況下，能注 意到由于用于非常大的生產(chǎn)量的調(diào)度打印方法具有限制，諸如最大打 印速度的事實，實現(xiàn)發(fā)明非常困難。發(fā)明內(nèi)容應(yīng)用不可見標(biāo)記的本發(fā)明通過特別適用于大生產(chǎn)量的方法，解決 該問題。本發(fā)明涉及一種用于通過基于干燥后能凝固的液體物質(zhì)的沉積 的任何工業(yè)印刷技術(shù)，基于在材料的表面上增加偽隨機缺陷，以肉眼不可見的方式施加標(biāo)記，鑒別和跟蹤工業(yè)印刷材料的方法，所述物質(zhì)修改所述材料的至少一個光學(xué)特性，所述缺陷具有從10至500微米 的單個大小以及基于表示由密鑰初始化的偽隨機數(shù)字二維圖形的標(biāo) 記的有效點的單個位置，通過測量將所述圖形與印刷材料的數(shù)字二維 數(shù)字圖像互相關(guān)獲得的二維數(shù)字信夸的信噪比，在稍后時間檢測所述 標(biāo)記。該物質(zhì)修改反射光的特性.其能釆用墨水、清漆、膠水或塑料涂 層的形式。如果該物質(zhì)是透明的，將不影響介質(zhì)上的底層困像.在本發(fā)明的一個實施例中，所計算的標(biāo)記具有非常特定的自相關(guān) 屬性，便于在仿射變換后恢復(fù).當(dāng)使用清漆時，在將圖像施加在介質(zhì)上后，在后一期間操作施加 它。清漆能采用提供強發(fā)光透明涂層的樹脂溶液的形式。當(dāng)施加該涂層時，修改該應(yīng)用過程以便在透明層上產(chǎn)生不規(guī)則性 (似乎為"缺陷，，)。這些不規(guī)則性是與標(biāo)記(特別是與有效點)的調(diào)
制結(jié)果，它們對應(yīng)于表面反射率的小的局部變化。當(dāng)使用墨水時，該缺陷通常將引入為均勻涂層區(qū)中的局部和稍微 缺少或過剩墨水。因此，這些缺陷將分別對應(yīng)于亮度的局部增加或局 部減小。在下文中，將使用術(shù)語"物質(zhì)"來統(tǒng)稱墨水或清漆。該方法的主要優(yōu)點是偽造者具有大的難度來通過標(biāo)準(zhǔn)方法，諸如 高分辨率掃描儀和打印機仿造或復(fù)制調(diào)制涂層，因為掃描儀或打印機將不允許解決和復(fù)制反射率、亮度或顏色的這種稍微變化。本發(fā)明的目的是調(diào)制介質(zhì)的外部表面來嵌入標(biāo)記，而不可視地修 改介質(zhì)的顏色，以及以該調(diào)制出現(xiàn)為自然想到的變形或缺陷的方式。 即使優(yōu)選實施例由在其應(yīng)用期間調(diào)制涂層組成，其他實施例能用于應(yīng) 用標(biāo)記，例如通過壓力，通過激光或雕刻。


由于附圖，將更好理解本發(fā)明，其作為非限制例子，其中 圖l表示物質(zhì)的正負(fù)調(diào)制，圖2a和2b表示在有效點的位置，具有完全移出區(qū)的改進(jìn)物質(zhì)層， 圖3表示在有效點的位置，具有降低厚度的物質(zhì)層， 圖4表示如下所述的凹版印刷方法， 圖5a和5b表示調(diào)制物質(zhì)厚度的另一例子， 圖6表示避免標(biāo)記和未標(biāo)記區(qū)間的反射率的任何差異的方法， 困7至10表示光與調(diào)制涂層相互作用的各種方法， 圖ll表示在檢測過程期間的互相關(guān)因素的變化， 圖12表示具有自相關(guān)標(biāo)記的互相關(guān)的結(jié)果， 圖13表示能如何平鋪圖形來覆蓋更大區(qū)域， 圖14表示通過本身自相關(guān)(B)或非自相關(guān)(A)的平鋪圖形獲 得的互相關(guān)峰值。
具體實施例方式
在本發(fā)明中，具有三種主要的涂層調(diào)制方法。第一種在圖1 (左側(cè))和圖3中示例說明。在一些位置(黑點)處降低施加在介質(zhì)SP 上的物質(zhì)CT的量。第二種方法由圖2a和2b示例說明，其中，降低物質(zhì)的量以便至 少在有效點的中心，沒有物質(zhì)存在于介質(zhì)上。第三種方法在圖1 (右側(cè))中示例說明。物質(zhì)調(diào)制為正，即，在 將生成有效點處，將施加更多物質(zhì)。這些模式的變型也是本發(fā)明的一部分，例如僅當(dāng)定義一個以上相 鄰有效點時，獲得圖2a中所示的例子。圖2b用虛線示出有效點，以 及用實線示出無效點。在該例子中，有必要具有至少兩個相鄰有效點 來產(chǎn)生物質(zhì)涂層的厚度的負(fù)調(diào)制，即，在介質(zhì)上產(chǎn)生物質(zhì)的缺少。存在用于產(chǎn)生涂層的幾種方法，以及本發(fā)明不限于下面的例子。才艮據(jù)第一實施例，通過高分辨率，例如2500dpi或更高，定義初 始標(biāo)記，由此導(dǎo)致10^m的點大小。通過使用將生成用于偽隨機生成 器的指定密度和指定速度的隨機擴(kuò)展點集的偽隨機生成器，創(chuàng)建該標(biāo) 記。隨機種子稱為標(biāo)記的"密鑰"。以該分辨率定義有效點，而不特別 關(guān)心點的聚集。施加涂層的通用系統(tǒng)通?；诘头直媛使鈻?例如每 cm的80線)，因為不需要精確著色圖像。該分辨率足夠高來將涂層 施加到被選區(qū)上，以及在其他區(qū)上抑制它。以該低分辨率細(xì)化采樣初始標(biāo)記，以及最終標(biāo)記，也稱為印刷標(biāo) 記，通常由有效點聚集組成(這種聚集能具有大至500pm的大小)。為增加檢測速率和可靠性，能生成初始標(biāo)記，以便它擁有固有的 自相關(guān)屬性.例如，通過以根據(jù)第一光柵的第一隨機(或偽隨機)圖 形開始，即在初始分辨率柵格的偶數(shù)線和行上，能生成自相關(guān)標(biāo)記， 然后，復(fù)制該笫一隨機標(biāo)記，并將其施加在具有偏移量的相同圖像上。 該偏移量最好是線或行的奇數(shù)增量，以便避免第二偏移圖形的點不期 望地疊覆初始隨機圖形的一些點。重復(fù)該過程幾次.例如，最終圖像 能包括在X和Y以及XY中移動初始隨機圖形四次。下表表示包含第 一圖形四次的自相關(guān)標(biāo)記的例子。請注意以45。角轉(zhuǎn)變第四圖像。其 他值是可用的，諸如X而不是Y中的不同偏移量(例如在X中為33 以及在Y中為11)。也可以將放大因數(shù)應(yīng)用于偏移標(biāo)記，例如，圖 像2為第一圖像的200%放大，然后根據(jù)預(yù)定偏移量偏移。在該例子 中，圖像一為第一圖像。圖像X偏移Y偏移1002350303543535所要求的方法具有四個主要優(yōu)點(l)它是不可見的，(2)不 受底層印刷圖像影響，(3)在未印刷區(qū)和印刷區(qū)上工作，(4)不要 求高分辨率印刷過程。在先前的方法中，不可見性要求使用高分辨率 印刷工藝或通過將稍微失真增加到那一圖像上而將水印施加到預(yù)先 存在的現(xiàn)有圖像上。凹版印刷凹版印刷方法是在印刷介質(zhì)的表面下形成圖像的過程。印刷圖像由在金屬圖像滾筒中雕刻的凹單元組成。單元定義圖像以及顏色密度是在單元中沉積的墨水量的函數(shù)，該量由單元的大小而定。能用兩種方法，即，控制相同平面的單元的深度或改變相同深度 的單元的表面，調(diào)制該大小。在圖4中，印刷圖像由在金屬圖像滾筒CYL中雕刻的凹單元組 成。該圖像滾筒CYL在包含低粘度液體墨的墨水槽ID中延伸.金屬 刮墨刀BL相對于旋轉(zhuǎn)滾筒CYL固定，因此，從滾筒的非圖像面刮 去過剩墨。通過兩個滾輪，即加壓輥IMR和備用滾輪BUR，將紙P 施加在圖像滾筒CYL上?？梢圆话凑請Dl所示的初始光柵。在圖5a和5b中，示例說明另 一調(diào)制方法。通過計算機控制其X， Y位移和沖擊力的金剛石頭，雕
刻圖像滾筒CYL。其他制造方法可以制作該滾筒，諸如使用化學(xué)蝕刻。 灰點是從其初始位置移出的點。因此，不僅可以移出將施加有效點的 物質(zhì)，而且通過增加接近低壓的過剩，增強效果。不僅由于低壓，而 且物質(zhì)過剩在掃描儀輸入上產(chǎn)生改變信號，這便于檢測。圖6表示標(biāo)記的放大，其中，白點表示缺少物質(zhì)。應(yīng)注意到在標(biāo) 記的邊界附近，白點的密度降低。在一個實施例中，在標(biāo)記區(qū)中定義兩個區(qū)域，第 一個是標(biāo)記本身， 以及第二個是過渡區(qū)。例如，標(biāo)記具有10%的密度以及過渡區(qū)具有從 10%密度開始下降到接近0%的漸進(jìn)陰影，在這種情況下，肉眼將不 會注意到放置標(biāo)記和無標(biāo)記存在間的明顯差異。完全隱藏標(biāo)記，特別是避免亮度或反射率的差異的檢測的另 一方 法是在介質(zhì)的剩余部分(不具有標(biāo)記)上施加具有相同密度的偽標(biāo)記。 通過相同平均密度生成具有不同于主標(biāo)記的統(tǒng)計屬性的隨機標(biāo)記或 圖形并將其施加在介質(zhì)上。該偽標(biāo)記也可以為檢測提供有用信息，如 空間同步、互補編碼性能、附加魯棒特性等等。另一解決方案是簡單 地在介質(zhì)上平鋪標(biāo)記，由此也避免標(biāo)記和未標(biāo)記區(qū)間的任何視覺差異。平版印刷、苯胺印刷和其他印刷方法與凹版印刷方法類似，在本發(fā)明的框架中，其他印刷過程也是可 行的.在膠印方法中，不直接將墨水從印刷板(或滾筒)施加到村底 上，如在平版印刷、苯胺印刷和凸版印刷中.將墨水施加到印刷板， 形成"困像，，(諸如將印刷的文字或藝術(shù)作品)，然后平移或偏移成橡 膠"敷層".敷層上的圖像然后被平移到村底(通常紙或紙板)以便產(chǎn) 生印刷產(chǎn)品.印刷板，通?；阡X的板，包含在鋁上施加或覆蓋的光敏涂層。 通過紫外線光以及在掩膜的幫助下，允許紫外線撞擊僅在將形成圖像 的位置上的光敏聚合物。根據(jù)本發(fā)明，改變掩膜以便實現(xiàn)將隱藏的標(biāo) 記，同時施加物質(zhì)。將改變以產(chǎn)生物質(zhì)印刷板的過程以便產(chǎn)生標(biāo)記。
檢測檢測基于使用具有恢復(fù)標(biāo)記的適當(dāng)軟件程序的標(biāo)準(zhǔn)的掃描儀或 任何其他成像設(shè)備(數(shù)碼相機、顯微鏡、光電二極管等等)。調(diào)制物 質(zhì)厚度導(dǎo)致接收信號的非常低的動態(tài)。低動態(tài)通常由于物質(zhì)的透明屬 性以及反射率的差異，導(dǎo)致小的信號噪聲比，使得恢復(fù)標(biāo)記非常有打 挑戰(zhàn)性。由物體反射的光量，以及如何反射它高度地由物質(zhì)的平滑度或紋 理而定。在現(xiàn)實世界中，大部分物體具有顯示出漫反射以及在所有方 向中反射入射光的螺旋表面。已知清漆增加反射入射光的鏡面分量。 清漆的缺少(或降低厚度)增加漫反射。同時，在所有方向中散射從 未涂漆表面反射的漫射光。光傳感器檢測反射光的變化以及允許檢測 標(biāo)記。在越不透明的物質(zhì)，諸如墨水的情況下，主要現(xiàn)象是漫反射以 及物質(zhì)的局部量將影響顏色(例如通過越高墨水量，亮度將降低)。圖7-10示例說明光作用的不同類型。圖7表示粗糙表面上的漫 反射。在幾乎每一方向中平均地反射所發(fā)出的光。圖8表示例如鏡子 上的鏡面反射。在僅一個方向中反射發(fā)出光。圖9表示半透明介質(zhì)上 的光行為。光傳播散射到半透明層，導(dǎo)致從該層出射的光的散射圖。圖10表示透明層，諸如清漆中的光行為.到達(dá)介質(zhì)上的光的撞 擊點由清漆厚度而定。因此，反射光受清漆厚度影響，當(dāng)分析反射光的圖形時，難以檢索初始定義的標(biāo)記，即，有效和 無效點.對此的一個重要原因是通過遠(yuǎn)低于初始分辨率的分辨率，雕 刻該圖形.例如，可以定義標(biāo)記具有1200dpi， 1024x1024像素位圖 (每一像素表示 20pm )，但通過801pc (對應(yīng)于按125fim間隔的線) 的粗糙屏面分辨率光柵化，由此導(dǎo)致約200dpi的最大有效分辨率(不 考慮可能進(jìn)一步減小該值的屏蔽角。由于標(biāo)記表面的磨損或刮擦，檢 測難度也可能增加，該檢測方法基于參考標(biāo)記和當(dāng)前分析的圖像的二維互相關(guān)。參考 標(biāo)記疊加在所分析的圖像上以及執(zhí)行匹配分析。該分析不是合格/失敗
測試，而是當(dāng)疊加兩個圖像并處于最佳對應(yīng)時，通過最大值的對應(yīng)測試。如果在整個介質(zhì)上已平鋪圖形(圖13)，因此，使用包泉的任 何裁剪區(qū)，能計算互相關(guān)。如果該區(qū)域大于參考圖形，幾個峰值將在 對應(yīng)于每一瓦片的互相關(guān)圖像(圖14A)上可見。此外，如養(yǎng)自相關(guān) 圖形(例如4次)，那么將存在用于每一瓦片的多個峰值(用于4次 XY自相關(guān)的9個峰值)(圖14B)。該分析還要求參考并且測試圖具有相同的比例以及相同的旋轉(zhuǎn)角。印刷圖形的比例將非常不同于參考圖形。例如，圖形可能稍微大 于原始，或可以垂直于印刷滾筒軸拉伸。通過不同方法，導(dǎo)出縮放比 使用印刷方法的理論特性，使用已知其大小的可見設(shè)計元件或斷流 器，使用基于二分法的探索法，或使用圖形的一些自相關(guān)屬性(或為 此目的增加的其他互補圖形)。通常，該比例因子在連續(xù)打印輸出期 間基本上不變化，以及能視作用于指定印刷系列的常數(shù)。旋轉(zhuǎn)角通過成像過程得到事實上，掃描期間一毫米未對準(zhǔn)可能 意味著旋轉(zhuǎn)幾厘米大小的圖形一度或幾度。通過幾種方法確定該角 度使用紙的微觀結(jié)構(gòu)屬性(紙顆粒通常在打印方向中不同)，由紙 上的刮墨刀留下的微痕、 一些已知的設(shè)計元件或斷流器、圖形的自相 關(guān)(或為該目的增加的其他互補圖形)或基于二分的探索過程。圖11 示例說明根據(jù)參考圖形的旋轉(zhuǎn)函數(shù)，互相關(guān)因素的變化。在該例子中， 能看出能獲得用于約-2度的旋轉(zhuǎn)的最大值，這意味著在掃描過程期 間，使印刷樣本旋轉(zhuǎn)該角度。另一方法由使用對數(shù)變換組成.如果P (x，y)是圖形，以及S(x，y)是分析圖像，在P(Ln(x)，L"y))和S (Ln (x) ，Ln (y)) 間執(zhí)行互相關(guān)，其中，Ln是neperian算法函數(shù)。Ln()函數(shù)的屬性是 所獲得的互相關(guān)圖像的最大值的位置對應(yīng)于比例因子。假定該比例因 子在x和y方向中相同，也可以將使用半徑-角度(r，t)坐標(biāo)，代替矩 形(x，y)坐標(biāo)的極坐標(biāo)變換與對數(shù)變換結(jié)合。然后，將該信號寫成P(Ln (r) ,t)。由此變換的P和S圖像的互相關(guān)的最大值的位置給
出該比例因子以及兩個圖像間的旋轉(zhuǎn)角。自相關(guān)(見上文)印刷標(biāo)記的事實在檢測過程中非常有用。由于 由物質(zhì)調(diào)制產(chǎn)生的高噪聲，以及所述物質(zhì)的粘度，初始標(biāo)記的直接恢 復(fù)是不可行的。這是為什么在檢測過程期間，應(yīng)用互相關(guān)過程的原因。 由于自相關(guān)印刷標(biāo)記的事實，互相關(guān)過程將產(chǎn)生幾個強度最大值，這 些最大值的數(shù)量由標(biāo)記的自相關(guān)屬性而定。在我們的例子中，使四個圖像疊加，能量峰值的數(shù)量為9以及一個高于一個。這在圖12中示 例，說明，其中，用黑點標(biāo)記能量峰值。中心點對應(yīng)于掃描圖像中的自 相關(guān)標(biāo)記的精確疊加。當(dāng)生成自相關(guān)標(biāo)記時，每一能量峰值間的距離不是隨機的，而是 與偏移量直接有關(guān)。相對于參考偏移量校驗偏移量，以及如果該距離 相同，掃描標(biāo)記是真實的。在互相關(guān)過程期間，能由不同步驟產(chǎn)生用作參考的標(biāo)記 第一隨機標(biāo)記掃描標(biāo)記與第一隨機標(biāo)記(非自相關(guān))的互相關(guān) 產(chǎn)生等于自相關(guān)的數(shù)量的多個能量峰值。在我們前面的例子中，自相 關(guān)第一隨機標(biāo)記四次。結(jié)果，互相關(guān)將產(chǎn)生四個能量峰值，每一峰值 間的距離與生成自相關(guān)標(biāo)記時的偏移量成正比.將注意到所有能量峰 值通常相等。自相關(guān)標(biāo)記掃描標(biāo)記與初始自相關(guān)標(biāo)記的互相關(guān)產(chǎn)生大于自相 關(guān)的數(shù)量的多個能量峰值，例如對自相關(guān)四次的標(biāo)記，為9個峰值。 特征在于峰值中的 一個具有更大能量 掃描標(biāo)記掃描標(biāo)記與本身的互相關(guān)也產(chǎn)生能量峰值，用與自相 關(guān)標(biāo)記相同的方式。為證明該標(biāo)記是真實的，可以使用九個能量峰值 的圖形以及將其與參考進(jìn)行比較.在標(biāo)記的自相關(guān)屬性中定義的X， Y偏移量也能編碼有關(guān)標(biāo)記的所有者的信息.自相關(guān)的另 一優(yōu)點是允許檢測介質(zhì)的可能改變，諸如仿射變換， 或印刷過程。由于介質(zhì)的溫度變化或印刷滾筒的變化，能稍微改變該 比例，即，拉伸標(biāo)記，在第一步驟中，掃描標(biāo)記與自身互相關(guān)。四個峰值的距離和位置
允許確定標(biāo)記的旋轉(zhuǎn)和實際比例，即，仿射變換。在另一檢測步驟中 引入這些值，即，修改參考標(biāo)記，在該例子中，為自相關(guān)標(biāo)記。另夕卜， 調(diào)整掃描標(biāo)記以^t與自相關(guān)標(biāo)記對齊。這些修改具有它們補償介質(zhì)的 物理改變的結(jié)果。該方法的一個優(yōu)點是掃描分辨率能與用于創(chuàng)建標(biāo)記的分辨率不 同。由于僅檢測標(biāo)記的一般圖形，這能通過具有低于初始標(biāo)記的粗略分辨率，諸如3: 4倍的掃描過程來完成。如上所述，這假定初始標(biāo) 記來經(jīng)受相同的重新采樣過程，以便與通過掃描執(zhí)行的過程匹配。在前步驟中，分析在清漆或墨水下的圖像以便提取圖像以及僅保 持標(biāo)記。這能通過在被選區(qū)上建立平均顏色強度來完成，該區(qū)域至少 大于初步分析表面。在已計算用于那一區(qū)域的平均顏色強度后，對每 一初步分析面減去該值以便僅獲得物質(zhì)調(diào)制。其他方法也是可以的， 例如基于統(tǒng)計預(yù)測方法，諸如Wiener過濾或任何其他類型的噪聲過濾萬法0在第一實施例中，將參考標(biāo)記與讀取圖像連續(xù)相關(guān)，直到找到匹 配為止。在笫二實施列中，檢測設(shè)備包括可能標(biāo)記庫，以及在相關(guān)過程前， 檢測物質(zhì)下的圖像，例如制造商的徹標(biāo)。使用該標(biāo)記來選擇這些存儲 的參考標(biāo)記中的一個。從那一檢測，在相關(guān)過程中加栽適當(dāng)?shù)膮⒖紭?biāo) 記以及匹配機制能開始.在笫三實施例中，檢測設(shè)備包括可能標(biāo)記庫 以及每一標(biāo)記連續(xù)地與讀取圖像相關(guān)，直到找到匹配為止.例如可以 使用偽隨機生成器的不同種子生成庫的每一標(biāo)記.代替庫，當(dāng)然也可 以即時生成偽隨機標(biāo)記。
權(quán)利要求
1.用于通過基于干燥后能凝固的液體物質(zhì)的沉積的任何工業(yè)印刷技術(shù)，基于在材料的表面上增加偽隨機缺陷，以肉眼不可見的方式施加標(biāo)記，鑒別和跟蹤工業(yè)印刷材料的方法，所述物質(zhì)修改所述材料的至少一個光學(xué)特性，所述缺陷具有從10至500微米的單個大小以及基于表示由密鑰初始化的偽隨機數(shù)字二維圖形的標(biāo)記的有效點的單個位置，通過測量將所述圖形與印刷材料的數(shù)字二維數(shù)字圖像互相關(guān)獲得的二維數(shù)字信號的信噪比，在稍后時間檢測所述標(biāo)記。
2. 如權(quán)利要求l所述的方法，其特征在于，該物質(zhì)是墨水、清 漆、塑料或膠水涂層。
3. 如權(quán)利要求l所述的方法，其特征在于，在每一有效點，降 低物質(zhì)的數(shù)量。
4. 如權(quán)利要求l所述的方法，其特征在于，在每一有效點，增 加物質(zhì)的數(shù)量。
5. 如權(quán)利要求1或3所迷的方法，其特征在于，在定義有效點 的位置，完全移出該物質(zhì)。
6. 如權(quán)利要求1至5中任一項所述的方法，其特征在于，所施 加的標(biāo)記包括自相關(guān)特性，其中，第一標(biāo)記至少復(fù)制和偏移一次，以 便笫 一標(biāo)記和偏移標(biāo)記的疊加形成所施加的標(biāo)記。
7. 如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，復(fù)制第一標(biāo)記四次， 根據(jù)X軸偏移笫一復(fù)制，根據(jù)Y軸偏移笫二復(fù)制，以及根據(jù)X和Y 軸偏移第三復(fù)制.
8. 如權(quán)利要求1至7中任一項所述的方法，其特征在于，標(biāo)記 由有效和無效點組成，其中，有效和無效間的比率能為低至10。/。，以 及表示該圖形。
9. 檢測如權(quán)利要求1至8所述的方法施加的標(biāo)記的方法，包括 下述步驟-獲得包括該標(biāo)記的圖像，-自相關(guān)所獲得的圖像以便確定旋轉(zhuǎn)和比例因子，-在參考標(biāo)記和所獲得的圖像間的自相關(guān)過程中施加旋轉(zhuǎn)和比 例因子，-確定自相關(guān)過程的最大能量峰值，以及將這些能量峰值與參考 進(jìn)行比較。
10. 如權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，將旋轉(zhuǎn)和比例因子 應(yīng)用在參考標(biāo)記上。
11. 如權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，將旋轉(zhuǎn)和比例因子 應(yīng)用在所獲得的圖像上。
12. 如權(quán)利要求9至11中任一項所述的方法，其特征在于，包括通過計算第一表面上的所獲得的信號的平均值以及在單一所獲得 的表面上減去該平均值，移出所獲得的圖像上的底層圖像的另一步 驟，所述第一表面大于單一表面。
13. 如權(quán)利要求l所述的方法，其特征在于，通過連續(xù)地互相關(guān) 幾個不同的偽隨機圖形，識別特定圖形，直到找到匹配圖形為止。
全文摘要
本發(fā)明涉及將不可見標(biāo)記應(yīng)用于介質(zhì)上的方法，其針對提出適合于非常大生產(chǎn)量的、用于嵌入不可見標(biāo)記的解決方案。通過基于圖形，將不可見標(biāo)記施加在介質(zhì)上的方法實現(xiàn)，并包括下述步驟確定施加該標(biāo)記的區(qū)域，在該介質(zhì)上施加透明或半透明物質(zhì)，所述物質(zhì)通過有效點調(diào)制以便通過修改每一有效點處的物質(zhì)的數(shù)量，形成該圖形。
文檔編號B42D15/10GK101120384SQ200680004989
公開日2008年2月6日 申請日期2006年2月15日 優(yōu)先權(quán)日2005年2月15日
發(fā)明者尼古拉斯·魯達(dá)茨, 弗雷德里克·喬丹, 馬丁·庫特 申請人:艾普維真股份有限公司