專利名稱：記錄裝置的校準(zhǔn)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于在記錄介質(zhì)上形成圖像的記錄裝置。更具體地，本發(fā)明涉及這樣的記錄裝置的校準(zhǔn)。
背景技術(shù)：
各種記錄裝置被用于在記錄介質(zhì)上形成圖像。例如，計(jì)算機(jī)直接制版系統(tǒng)(也被稱為CTP系統(tǒng))被用于在印刷板上形成圖像。多個(gè)成像的印刷版隨后被提供給印刷廠，來(lái)自所述印刷版的圖像在印刷廠里被轉(zhuǎn)移到紙或其他適合的表面上。重要的是多個(gè)圖像被相對(duì)于彼此準(zhǔn)確對(duì)齊以確保圖像之間的準(zhǔn)確配準(zhǔn)。重要的是每個(gè)圖像都是幾何上正確的并且沒(méi)有畸變以確保完成的印刷文章的所希望的質(zhì)量特征。圖像的幾何特征可包含但不限于 圖像部分的所希望的尺寸或一個(gè)圖像部分與另一個(gè)圖像部分的所希望的對(duì)齊。在記錄介質(zhì)上所形成的圖像的幾何準(zhǔn)確性取決于許多因素。例如，可通過(guò)將介質(zhì)裝載在支架上并且朝介質(zhì)引導(dǎo)成像光束以在其上形成圖像而在記錄介質(zhì)上形成圖像?？赏ㄟ^(guò)在多次掃描期間用成像光束掃描記錄介質(zhì)來(lái)形成圖像。成像光束相對(duì)于記錄介質(zhì)的定位準(zhǔn)確性影響所形成的圖像的幾何正確性。成像光束在每次掃描期間的所要求的定位的偏差可導(dǎo)致成像誤差。為了減少成像誤差，記錄系統(tǒng)通常被校準(zhǔn)。通常在記錄介質(zhì)上形成校準(zhǔn)圖像并且對(duì)校準(zhǔn)圖像進(jìn)行分析來(lái)確定偏差。與校準(zhǔn)圖像的所希望的幾何特征相關(guān)聯(lián)的偏差通常通過(guò)在記錄系統(tǒng)中執(zhí)行各種調(diào)節(jié)而被糾正。所述調(diào)節(jié)在本質(zhì)上可以是電子的或是機(jī)械的。校準(zhǔn)圖像的分析通常在專門(mén)的和專用的設(shè)備上執(zhí)行，所述設(shè)備可包括各種圖像捕獲傳感器。例如，CCD傳感器可被用于捕獲校準(zhǔn)圖像的各種圖像，而控制器可被用于分析所捕獲的圖像并且從其中確定校準(zhǔn)信息。專門(mén)的和專用的校準(zhǔn)系統(tǒng)是昂貴的并且其本身要求定期的校準(zhǔn)以保證它們的可靠性。這樣的系統(tǒng)通常在制造記錄系統(tǒng)的工廠中被采用?；诠S的校準(zhǔn)系統(tǒng)的使用使在現(xiàn)場(chǎng)對(duì)記錄系統(tǒng)的校準(zhǔn)變得復(fù)雜。例如，將需要在現(xiàn)場(chǎng)制作測(cè)試圖像并且進(jìn)而將所述測(cè)試圖像運(yùn)送到另一個(gè)地點(diǎn)進(jìn)行分析。這增加了校準(zhǔn)所要求的時(shí)間并且增大了成像誤差出現(xiàn)的可能性。因此，對(duì)允許記錄裝置的校準(zhǔn)以由記錄裝置糾正在記錄介質(zhì)上所形成的圖像的幾何畸變的有效并且實(shí)用的方法和系統(tǒng)有需要。

發(fā)明內(nèi)容
簡(jiǎn)要地說(shuō)，根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，用于改變記錄裝置的校準(zhǔn)以調(diào)節(jié)幾何畸變的方法包括提供用于承載記錄介質(zhì)的介質(zhì)支架；操作包括多個(gè)單獨(dú)可尋址的記錄通道的記錄頭以在所述記錄介質(zhì)以第一取向被定位在所述介質(zhì)支架上的同時(shí)在所述記錄介質(zhì)上形成第一圖像特征；操作記錄頭以在所述記錄介質(zhì)以第二取向被定位在所述介質(zhì)支架上的同時(shí)在所述記錄介質(zhì)上形成第二圖像特征，所述第二取向不同于所述第一取向；檢測(cè)所述第一圖像特征與所述第二圖像特征之間的所預(yù)期的間隔的變化；以及依照被檢測(cè)到的變化進(jìn)行成像糾正。根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)方面，記錄裝置包括包括圓柱形表面的介質(zhì)支架，其適于承載記錄介質(zhì)；記錄頭，其包括多個(gè)單獨(dú)可尋址的記錄通道；滑架，其適于沿相對(duì)于所述介質(zhì)支架的旋轉(zhuǎn)軸的路徑移動(dòng)所述記錄頭；傳感器；以及控制器，所述控制器被配置用于操作所述記錄頭以在所述記錄介質(zhì)以第一取向被定位在所述圓柱形表面上的同時(shí)在所述記錄介質(zhì)上形成第一圖像特征；操作所述記錄頭以在所述記錄介質(zhì)以不同于所述第一取向的第二取向被定位在所述圓柱形表面上的同時(shí)在所述記錄介質(zhì)上形成第二圖像特征；操作所述傳感器以檢測(cè)所述第一圖像特征與所述第二圖像特征之間的所預(yù)期的間隔的變化；以及依照被檢測(cè)到的變化進(jìn)行成像糾正。


本發(fā)明的實(shí)施例和應(yīng)用由所附的非限制性附圖示意。附圖是為了示意本發(fā)明的概念的目的并且可以不是按比例的。圖1是在本發(fā)明的示例實(shí)施例中所采用的記錄裝置的局部示意性視圖；圖2示出了表示用于校準(zhǔn)如本發(fā)明的示例實(shí)施例所采用的記錄裝置的方法的流程圖；圖3是要在記錄介質(zhì)上形成的目標(biāo)圖像的示意性平面視圖；圖4是響應(yīng)圖3的目標(biāo)圖像的所希望的成像而在記錄介質(zhì)上形成的校準(zhǔn)圖像的示意性平面視圖；圖5A示出了圖1所示的記錄頭的橫擺(yawing)移動(dòng)所引起的副掃描畸變的示例；圖5B示出了圖1中所示的記錄裝置的導(dǎo)向系統(tǒng)中的非準(zhǔn)直(non-straightness) 所引起的主掃描畸變的示例；圖5C示出了圖1所示的記錄頭的縱搖移動(dòng)所引起的主掃描畸變的示例；圖6示出了表示按照本發(fā)明的示例實(shí)施例的用于調(diào)節(jié)圖1的記錄裝置的校準(zhǔn)的方法的流程圖；圖7A示出了包括第一圖像特征在以第一取向定位在圖1的記錄裝置的介質(zhì)支架上的記錄介質(zhì)上的形成的本發(fā)明的示例實(shí)施例；圖7B示出了包括第二圖像特征在以與第一取向不同的取向定位在圖1的記錄裝置的介質(zhì)支架上的圖7A的記錄介質(zhì)上的形成的本發(fā)明的示例實(shí)施例；圖7C示出了其中在記錄介質(zhì)以與第一取向不同的第二取向被定位在圖1的記錄裝置的介質(zhì)支架上時(shí)檢測(cè)到圖7A的第一圖像特征中的畸變的本發(fā)明的示例實(shí)施例；圖7D示出了包括圖像特征的圖案在以第一取向定位在圖1的記錄裝置的介質(zhì)支架上的記錄介質(zhì)上的形成的本發(fā)明的示例實(shí)施例；圖7E示出了其中在記錄介質(zhì)以與第一取向不同的第二取向被定位在圖1的記錄裝置的介質(zhì)支架上時(shí)檢測(cè)到圖7D的圖像特征的圖案中的畸變的本發(fā)明的示例實(shí)施例。圖7F示出了如在展開(kāi)的或平面的取向上所示的、圖7B的記錄介質(zhì)上的第一圖像特征和第二圖像特征。圖8示意性地示出了從用傳感器對(duì)第一圖像特征的各個(gè)部分的檢測(cè)得到的、對(duì)圖7A的圖像特征中的畸變的錯(cuò)誤確定，所述傳感器沿大體上平行于第一圖像特征的畸變形式的路徑被移動(dòng)。
具體實(shí)施例方式貫穿以下說(shuō)明，特定細(xì)節(jié)被呈現(xiàn)以向本領(lǐng)域的技術(shù)人員提供更徹底的理解。然而， 眾所周知的元件可能未被示出或未被詳細(xì)描述以避免不必要地混淆本公開(kāi)內(nèi)容。因此，應(yīng)從示意性的而不是限制性的意義上來(lái)看待說(shuō)明和附圖。圖1示意性地示出了按照本發(fā)明的示例實(shí)施例的用于在記錄介質(zhì)17上形成圖像 19 (即示意性地由虛線表示)的記錄裝置10。記錄介質(zhì)17可包括各種包括適用于在其上形成圖像19的表面的介質(zhì)。記錄裝置10包括介質(zhì)支架12，所述介質(zhì)支架在這個(gè)示例實(shí)施例中按照外滾筒式構(gòu)造被配置。本發(fā)明的其他實(shí)施例可包括根據(jù)例如內(nèi)滾筒式構(gòu)造或平臺(tái)式構(gòu)造所配置的其他形式的介質(zhì)支架。在這個(gè)示例實(shí)施例中，記錄介質(zhì)17在介質(zhì)支架12的圓柱形表面13上被支撐。由夾具28A和28B將記錄介質(zhì)17的一個(gè)或多個(gè)邊緣部分固定在圓柱形表面13上。本發(fā)明的其他示例實(shí)施例可通過(guò)其他方法將記錄介質(zhì)17固定在介質(zhì)支架12上。例如，可通過(guò)包括在表面之間提供低壓源在內(nèi)的各種方法將記錄介質(zhì)17的表面固定在圓柱形表面13上。介質(zhì)支架12可移動(dòng)地與支架20耦合。在這個(gè)示例實(shí)施例中， 介質(zhì)支架12旋轉(zhuǎn)地與支架20耦合。在這個(gè)示例實(shí)施例中，介質(zhì)支架12包括多個(gè)配準(zhǔn)特征 25，所述配準(zhǔn)特征包括配準(zhǔn)特征25A和配準(zhǔn)特征25B。記錄裝置10包括相對(duì)于介質(zhì)支架12可移動(dòng)的記錄頭16。在本發(fā)明的這個(gè)示例實(shí)施例中，介質(zhì)支架12適于通過(guò)繞其旋轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)來(lái)移動(dòng)。在這個(gè)示例實(shí)施例中，記錄頭16 被裝載在可移動(dòng)的滑架18上?；?8被操作用于使記錄頭16沿與介質(zhì)支架12的旋轉(zhuǎn)軸對(duì)齊的路徑被移動(dòng)。運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)22被采用以提供記錄頭16與介質(zhì)支架12之間的相對(duì)移動(dòng)。 運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)22 (其可包括一個(gè)或多個(gè)運(yùn)動(dòng)系統(tǒng))可包括對(duì)于所要求的移動(dòng)所需要的任何適合的驅(qū)動(dòng)。在本發(fā)明的這個(gè)示例實(shí)施例中，運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)22被用于沿與主掃描軸沈?qū)R的路徑移動(dòng)介質(zhì)支架12，并且被用于沿與副掃描軸M對(duì)齊的路徑移動(dòng)記錄頭16。導(dǎo)向系統(tǒng)32被用于引導(dǎo)在傳輸構(gòu)件33的影響下被移動(dòng)的滑架18。在本發(fā)明的這個(gè)示例實(shí)施例中，傳輸構(gòu)件33包括精密螺旋結(jié)構(gòu)。在其他示例實(shí)施例中，直線電動(dòng)機(jī)被采用以移動(dòng)記錄頭16。在一些示例實(shí)施例中，多個(gè)記錄頭16被移動(dòng)使得記錄頭16中的每一個(gè)獨(dú)立于彼此被移動(dòng)。在一些示例實(shí)施例中，多個(gè)記錄頭16串聯(lián)地被移動(dòng)。本領(lǐng)域的技術(shù)人員將認(rèn)識(shí)到記錄頭16與介質(zhì)支架12之間的各種形式的相對(duì)移動(dòng)可依照本發(fā)明被使用。例如，在一些情況下當(dāng)介質(zhì)支架12被移動(dòng)時(shí)記錄頭16可以是靜止的。在其他情況下，介質(zhì)支架12是靜止的而記錄頭16被移動(dòng)。在還有其他情況下，記錄頭 16和介質(zhì)支架12兩者都被移動(dòng)。記錄頭16和介質(zhì)支架12中的一個(gè)或兩者可沿對(duì)應(yīng)的路徑往復(fù)運(yùn)動(dòng)。獨(dú)立的運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)還可被用于操作記錄裝置10內(nèi)的不同系統(tǒng)。在這個(gè)示例實(shí)施例中，記錄頭16包括諸如激光的輻射源(未被示出)。在各種示例實(shí)施例中，記錄頭16包括一個(gè)或多個(gè)單獨(dú)可尋址的記錄通道23，記錄通道23中的每一個(gè)都可被控制用于在記錄介質(zhì)17上形成各個(gè)圖像部分?？捎冒ㄒ痪S或二維陣列構(gòu)造在內(nèi)的不同構(gòu)造來(lái)布置多個(gè)記錄通道23。在這個(gè)示例實(shí)施例中，當(dāng)在記錄介質(zhì)17上掃描以形成圖像19時(shí)，記錄頭16可被控制用于發(fā)射各種成像光束21。根據(jù)指定要被寫(xiě)入的圖像的圖像數(shù)據(jù)37，成像光束可以是按圖像調(diào)制的。在這個(gè)示例實(shí)施例中，記錄通道23中的一個(gè)或多個(gè)被適當(dāng)?shù)仳?qū)動(dòng)以無(wú)論在任何希望形成圖像19的成像部分的地方都產(chǎn)生具有活動(dòng)強(qiáng)度水平的成像光束21。不對(duì)應(yīng)于成像部分的記錄通道23被驅(qū)動(dòng)以便不對(duì)對(duì)應(yīng)的區(qū)域成像。 記錄通道23中的每一個(gè)都可被控制用于依照?qǐng)D像數(shù)據(jù)37所提供的信息在記錄介質(zhì)17上形成通常被稱為圖像像素或圖像點(diǎn)的圖像的單位元素。各個(gè)圖像像素可與其他圖像像素結(jié)合以形成圖像19的各個(gè)特征。在一些示例實(shí)施例中，可按各種圖案來(lái)布置圖像像素，包括半色調(diào)圖案、隨機(jī)圖案和混合圖案(即包括半色調(diào)圖案和隨機(jī)圖案的圖案)。在一些示例實(shí)施例中，可按各種非遮蔽圖案(non-screened pattern)來(lái)布置圖像像素(例如網(wǎng)格圖案或各種基準(zhǔn)點(diǎn)的圖案)?？赏ㄟ^(guò)不同方法在記錄介質(zhì)17上形成圖像19。例如，記錄介質(zhì)17可包括可更改的表面，其中當(dāng)被成像光束21照射時(shí)可更改的表面的特性或特征被改變。成像光束21可被用于燒蝕記錄介質(zhì)17的表面以形成圖像19。成像光束21可被用于促進(jìn)圖像形成材料向記錄介質(zhì)17的表面的轉(zhuǎn)移以形成圖像19 (例如熱轉(zhuǎn)移過(guò)程)。成像光束21可經(jīng)歷從輻射源到記錄介質(zhì)17的直接路徑，或可通過(guò)一個(gè)或多個(gè)光學(xué)元件使其朝記錄介質(zhì)偏轉(zhuǎn)。在本發(fā)明的一些示例實(shí)施例中，用其他圖像形成技術(shù)來(lái)形成圖像19。例如，在一些噴墨過(guò)程中，記錄通道23可適于朝記錄介質(zhì)17發(fā)射圖像形成材料以在其上形成圖像19。多組記錄通道23可形成圖像帶(image swath)，其具有與在給定的掃描期間所成像的第一個(gè)像素和所成像的最后一個(gè)像素之間的距離有關(guān)的寬度。記錄介質(zhì)17通常太大以致于不能在單個(gè)圖像帶內(nèi)被成像。通常形成多個(gè)成像帶以在記錄介質(zhì)17上完成圖像。記錄裝置10包括傳感器52和照明器55。傳感器52適于檢測(cè)各種實(shí)體的存在， 所述實(shí)體包括但不限于圖像19的各個(gè)部分。照明器55適于照亮各個(gè)實(shí)體并且可在這些實(shí)體的檢測(cè)期間可選地被采用?？砂ㄒ粋€(gè)或多個(gè)控制器的控制器30被用于控制記錄裝置10的一個(gè)或多個(gè)系統(tǒng)，所述一個(gè)或多個(gè)系統(tǒng)包括但不限于被介質(zhì)支架12和滑架18所使用的各個(gè)運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)22。 控制器30還可控制介質(zhì)裝卸機(jī)構(gòu)，該介質(zhì)裝卸機(jī)構(gòu)可分別發(fā)起記錄介質(zhì)17向介質(zhì)支架12 的加載或記錄介質(zhì)17從介質(zhì)支架12的卸載?？刂破?0還可向記錄頭16提供圖像數(shù)據(jù) 37，并且依照這個(gè)數(shù)據(jù)控制記錄頭16發(fā)射成像光束21?？刂破?0還可控制傳感器52和照明器陽(yáng)?？墒褂酶鞣N控制信號(hào)或?qū)嵤└鞣N方法來(lái)控制各個(gè)系統(tǒng)。控制器30是可編程的并且可被配置用于執(zhí)行適合的軟件以及可包括一個(gè)或多個(gè)數(shù)據(jù)處理器，連同適合的硬件， 所述硬件以非限制性示例的方式包括可存取存儲(chǔ)器、邏輯電路、驅(qū)動(dòng)器、放大器、A/D和D/ A轉(zhuǎn)換器、輸入/輸出端口等等。控制器30可包括但不限于微處理器、片上計(jì)算機(jī)、計(jì)算機(jī)的CPU或任何其他適合的微處理器?？刂破?0可由若干不同的或邏輯單元組成，其中每一個(gè)都專用于執(zhí)行特定的任務(wù)。圖2示出了表示如本發(fā)明的示例實(shí)施例所采用的那樣校準(zhǔn)記錄裝置的方法100的流程圖。參照?qǐng)D1所示的記錄裝置10來(lái)描述圖2所示的各個(gè)步驟。這只是為了示意的目的并且其他適合的記錄裝置可被用在本發(fā)明中。記錄裝置10可被用于在各種記錄介質(zhì)17 上形成各種所希望的圖像。在這個(gè)示例實(shí)施例中，所希望的是記錄裝置10被操作用于形成如圖3所示意性地表示的那樣的目標(biāo)圖像40。在這個(gè)示例實(shí)施例中，目標(biāo)圖像40包括由目標(biāo)單元格41構(gòu)成的精確的網(wǎng)格圖案，所述單元格由所希望的尺寸的圖像邊界定義。在這個(gè)
8示例實(shí)施例中，單元格41是正方形的。目標(biāo)圖像40被表示為與記錄介質(zhì)17的各個(gè)邊緣理想對(duì)齊，為了清楚起見(jiàn)以展開(kāi)的或“平面的”取向示出記錄介質(zhì)17。特別地，所希望的是形成相對(duì)于記錄介質(zhì)17A的第一邊緣35和第二邊緣36所定位的目標(biāo)圖像40。在這個(gè)示例實(shí)施例中，第一邊緣35要與副掃描軸M對(duì)齊，而第二邊緣36要與主掃描軸沈?qū)R。在本發(fā)明的其他示例實(shí)施例中，所希望的可以是將目標(biāo)圖像40的各個(gè)部分與記錄介質(zhì)17A的各個(gè)其他配準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)齊。在這個(gè)示例實(shí)施例中，相對(duì)于主掃描軸沈和副掃描軸M來(lái)描述目標(biāo)圖像40的幾何特征。目標(biāo)圖像40由各種圖像數(shù)據(jù)表示，所述圖像數(shù)據(jù)被提供給控制器30以在記錄介質(zhì)17A上形成圖像。在本發(fā)明的這個(gè)示例實(shí)施例中，控制器30控制運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)22以在成像期間產(chǎn)生記錄頭16與記錄介質(zhì)17A之間的相對(duì)移動(dòng)。在本發(fā)明的這個(gè)示例實(shí)施例中，通過(guò)介質(zhì)支架12的旋轉(zhuǎn)以協(xié)同的方式平移記錄頭16來(lái)形成各個(gè)圖像帶。在一些示例實(shí)施例中， 圖像帶是用圓形掃描技術(shù)所形成的環(huán)形的或圓形的圖像帶。在這個(gè)示例實(shí)施例中，圖像帶是用螺旋掃描技術(shù)形成的螺線形或螺旋形的圖像帶。在步驟110中，記錄裝置10被操作用于響應(yīng)表示目標(biāo)圖像40的圖像數(shù)據(jù)而形成校準(zhǔn)圖像。圖4示意性地示出了由記錄頭16響應(yīng)目標(biāo)圖像40的所希望的成像而在記錄介質(zhì)17A上形成的示例校準(zhǔn)圖像19A。為了清楚起見(jiàn)，以“平面的”取向描繪記錄介質(zhì)17A和圓柱形表面13。校準(zhǔn)圖像19A包括對(duì)應(yīng)于目標(biāo)單元格41的多個(gè)成像單元格42。如圖4所示，校準(zhǔn)圖像19A有畸變并且并不正好對(duì)應(yīng)于目標(biāo)圖像40。各種成像畸變出現(xiàn)在校準(zhǔn)圖像 19A的不同區(qū)域。各個(gè)成像單元格42并不正好對(duì)應(yīng)于目標(biāo)圖像40中對(duì)應(yīng)的目標(biāo)單元格41。 例如，包括成像單元格42A在內(nèi)的一列成像單元格42相對(duì)于包括成像單元格42B在內(nèi)的一列成像單元格42沿主掃描軸沈的方向偏移。圖4還示出了包括成像單元格42C在內(nèi)的各個(gè)成像單元格42如與對(duì)應(yīng)的目標(biāo)單元格41所比較的那樣沿副掃描軸M的方向在尺寸上被拉長(zhǎng)。應(yīng)理解的是圖像畸變不限于成像單元格42A和42C，并且校準(zhǔn)圖像19A中的其他成像單元格42也可以相似的或不同的方式有畸變。位置或尺寸的畸變可由于若干原因而發(fā)生。例如，總體縮放(scaling)問(wèn)題可由溫度變化引起。記錄介質(zhì)17、介質(zhì)支架12以及諸如傳輸構(gòu)件33的各個(gè)傳輸部件中的一個(gè)或多個(gè)可包括具有不同熱膨脹系數(shù)的不同材料成分。不同的膨脹率可導(dǎo)致縮放問(wèn)題?；?18沿形式上不完美的導(dǎo)向系統(tǒng)32移動(dòng)。導(dǎo)向系統(tǒng)32可包括各種適合的導(dǎo)向軌道和受引導(dǎo)的構(gòu)件，其可包括滑動(dòng)的或旋轉(zhuǎn)的移動(dòng)軸承元件。即使在使用高精度部件時(shí)瑕疵也可能存在。諸如受引導(dǎo)的構(gòu)件與導(dǎo)向軌道之間的游隙、導(dǎo)向軌道的準(zhǔn)直度以及支架20的下垂等機(jī)械因素可導(dǎo)致成像瑕疵?；?8沿與副掃描軸M對(duì)齊的路徑移動(dòng)，這些瑕疵可使記錄頭16經(jīng)受各種額外的移動(dòng)，所述額外的移動(dòng)可不利地影響成像光束21到記錄介質(zhì)17上的投影?？蓞⒄?qǐng)D5A、 5B和5C使成像瑕疵形象化。圖5A示出了成像光束21到記錄介質(zhì)17A上的投影中的副掃描畸變的可能原因。 在這種情況下，當(dāng)滑架18沿與副掃描軸M對(duì)齊的路徑移動(dòng)時(shí)，滑架18經(jīng)受沿橫擺方向27 的小的橫擺旋轉(zhuǎn)(為了清楚起見(jiàn)被放大)。這引起了成像光束21到記錄介質(zhì)17A上的投影的變化，該變化可引起所形成的圖像沿副掃描方向的畸變。滑架18的橫擺移動(dòng)可由于包括導(dǎo)向系統(tǒng)32中的游隙在內(nèi)的許多原因引起。進(jìn)一步地，其他部件中的瑕疵可導(dǎo)致副掃描偏差。例如，傳輸構(gòu)件33可包括精密導(dǎo)螺桿，其可在沿其長(zhǎng)度的各個(gè)點(diǎn)上具有輕微的縱搖不規(guī)則性。縱搖不規(guī)則性可在所形成的圖像中引起副掃描畸變。圖5B和圖5C示出了成像光束21到記錄介質(zhì)17A上的投影中的主掃描畸變的可能原因。主掃描畸變可由不同的原因引起。例如，當(dāng)滑架18沿導(dǎo)向系統(tǒng)32移動(dòng)時(shí)，它可經(jīng)受沿如圖5B所示的與主掃描軸沈?qū)R的方向的各種位移。為了清楚起見(jiàn)，已在圖5B中將這些位移放大。這些位移可由各種因素引起，所述因素可包括導(dǎo)向軌道的準(zhǔn)直度的偏差。導(dǎo)向軌道的準(zhǔn)直度的偏差可由包括軌道的重力下垂和支架20的重力下垂在內(nèi)的各種原因引起。重力下垂可不利地影響成像光束21的主掃描定位準(zhǔn)確性。主掃描畸變可由于當(dāng)記錄頭16沿與副掃描軸M對(duì)齊的路徑被移動(dòng)時(shí)滑架18經(jīng)受沿縱搖方向四的小的縱搖移動(dòng)而被引起(即在圖5C中為了清楚起見(jiàn)被放大)。縱搖位移可由包括導(dǎo)向系統(tǒng)32中的游隙在內(nèi)的許多原因引起。本領(lǐng)域的技術(shù)人員將意識(shí)到所描述的圖像畸變?cè)诒举|(zhì)上是示例性的并且其他類(lèi)型的畸變也可能發(fā)生。參照回圖2，記錄裝置10在步驟120中被調(diào)節(jié)以糾正校準(zhǔn)圖像19A的畸變?？赏ㄟ^(guò)各種方法來(lái)糾正畸變。在本發(fā)明的一些示例實(shí)施例中，諸如成像單元格42A和42B之間的偏移的主掃描畸變可通過(guò)調(diào)節(jié)記錄通道23的各個(gè)部分的激活時(shí)機(jī)而被糾正。雖然為形成或不形成圖像像素對(duì)給定記錄通道23的激活依賴于圖像數(shù)據(jù)，但是給定的記錄通道23或給定的一組記錄通道23的激活的時(shí)機(jī)可被調(diào)節(jié)。各個(gè)記錄通道23的激活時(shí)機(jī)的調(diào)節(jié)可被用于延遲或提前那些記錄通道的激活以形成或不形成一個(gè)或多個(gè)圖像像素。各個(gè)記錄通道 23可被控制以沿主掃描方向相對(duì)于圖像帶的額外部分偏置圖像帶的第一部分。各個(gè)記錄通道23可被控制以沿主掃描方向從額外的圖像帶的一部分偏置給定的圖像帶的一部分。圖像帶的一部分可包括整個(gè)圖像帶。當(dāng)記錄頭16沿與副掃描軸M對(duì)齊的路徑被移動(dòng)時(shí)，記錄頭16內(nèi)的各個(gè)記錄通道23的激活時(shí)機(jī)可在各個(gè)點(diǎn)被調(diào)節(jié)。當(dāng)記錄頭16被定位在對(duì)應(yīng)于校準(zhǔn)圖像19A的區(qū)域中的各種畸變的各個(gè)副掃描位置時(shí)，可對(duì)各個(gè)記錄通道23進(jìn)行激活時(shí)機(jī)調(diào)節(jié)。在本發(fā)明的這個(gè)示例實(shí)施例中，獨(dú)立于圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行激活時(shí)機(jī)改變。在其他示例實(shí)施例中，圖像數(shù)據(jù)被操縱來(lái)達(dá)到相似的效果?？刂破?0可被配置用于向記錄頭16提供信號(hào)以調(diào)節(jié)一些或所有記錄通道23的激活時(shí)機(jī)來(lái)補(bǔ)償對(duì)應(yīng)于記錄頭16的特定副掃描定位的所預(yù)期的圖像畸變。運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)22可包括適合的傳感器或編碼器(未示出)，所述傳感器或編碼器可生成表示記錄頭16和/或介質(zhì)支架12的位置的各種信號(hào)。在本發(fā)明的一些示例實(shí)施例中，這些信號(hào)可被控制器30用于在沿記錄頭16的行進(jìn)路徑的各個(gè)位置上調(diào)節(jié)各個(gè)記錄通道23的激活時(shí)機(jī)。在一些示例實(shí)施例中，控制器30使用開(kāi)環(huán)控制技術(shù)來(lái)追蹤記錄頭16的位置。諸如被拉長(zhǎng)的成像單元格42的副掃描畸變可通過(guò)各種方法被糾正。在本發(fā)明的一些示例實(shí)施例中，滑架18的移動(dòng)被調(diào)節(jié)。在本發(fā)明的一些示例實(shí)施例中，傳輸構(gòu)件33的移動(dòng)被調(diào)節(jié)。調(diào)節(jié)滑架18或傳輸構(gòu)件33的移動(dòng)可包括調(diào)節(jié)滑架18或傳輸構(gòu)件33的速度。例如，在基于滾筒的記錄系統(tǒng)(例如記錄裝置10)中，由于滑架18在介質(zhì)支架12被旋轉(zhuǎn)的同時(shí)被平移，螺線形或螺旋形的圖像帶被形成。通過(guò)調(diào)節(jié)傳輸構(gòu)件33或滑架18的速度，螺旋形的帶的縱搖可被調(diào)節(jié)以將圖像縮放到所希望的尺寸。在本發(fā)明的一些示例實(shí)施例中，勻速調(diào)節(jié)可被用于調(diào)節(jié)所形成的圖像的總體尺寸。在本發(fā)明的一些示例實(shí)施例中，非勻速調(diào)節(jié)可被用于調(diào)節(jié)所形成的圖像的一部分的尺寸。例如，在沿滑架18的移動(dòng)路徑的各個(gè)點(diǎn)上調(diào)節(jié)傳輸構(gòu)件33的速度可被用于糾正對(duì)應(yīng)于那些點(diǎn)的圖像畸變。在沿滑架18的移動(dòng)路徑的各個(gè)點(diǎn)上調(diào)節(jié)傳輸構(gòu)件33的速度可被用于糾正傳輸構(gòu)件33的縱搖差異。在沿滑架18的移動(dòng)路徑的各個(gè)點(diǎn)上調(diào)節(jié)傳輸構(gòu)件33的速度可被用于糾正與記錄頭16的特定定位相關(guān)聯(lián)的橫擺位移。控制器30可被編程用于向運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)22提供信號(hào)以調(diào)節(jié)滑架18或傳輸構(gòu)件33的移動(dòng)。在本發(fā)明的一些示例實(shí)施例中，傳感器或編碼器信號(hào)可被用于輔助控制器30在沿記錄頭16的行進(jìn)路徑的各個(gè)位置上調(diào)節(jié)滑架18或傳輸構(gòu)件33的移動(dòng)。包括激活時(shí)機(jī)調(diào)節(jié)和/或移動(dòng)調(diào)節(jié)在內(nèi)的成像糾正通常在給定的時(shí)間點(diǎn)在工廠中在專用設(shè)備上被確定。記錄裝置10的重新校準(zhǔn)可由于各種原因而在將來(lái)的某個(gè)時(shí)間被需要。例如，環(huán)境溫度改變可與初始校準(zhǔn)被執(zhí)行的條件不同。運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)22和導(dǎo)向系統(tǒng)32 中的各個(gè)部件可隨著使用而磨損并且降低這些系統(tǒng)的精度和準(zhǔn)確性。如支架20的結(jié)構(gòu)元件可由于各種加載條件而隨時(shí)間蠕變。結(jié)構(gòu)元件的蠕變可以是一個(gè)因素，特別是在較大的記錄系統(tǒng)中。這些及其他因素可起作用而更改記錄頭16所發(fā)射的成像光束21與記錄介質(zhì) 17之間的理想對(duì)齊，從而降低了記錄頭16所形成的圖像的可靠性。圖6示出了表示按照本發(fā)明的示例實(shí)施例的用于調(diào)節(jié)記錄裝置的校準(zhǔn)的方法200 的流程圖。參照?qǐng)D1所示的記錄裝置10來(lái)描述圖6所示的各個(gè)步驟。這只是為了示意的目的并且其他適合的記錄裝置可被用在本發(fā)明中。依照步驟210，以第一取向?qū)⒂涗浗橘|(zhì) 17B定位在介質(zhì)支架12上。圖7A示出了記錄介質(zhì)17B按照本發(fā)明的示例實(shí)施例以第一取向50A在記錄裝置10的介質(zhì)支架12上的定位。在本發(fā)明的這個(gè)示例實(shí)施例中，記錄介質(zhì)17B被適當(dāng)?shù)囟ㄎ辉诮橘|(zhì)支架12上以允許記錄頭16在記錄介質(zhì)17B的表面上形成圖像。在這個(gè)示例實(shí)施例中，通過(guò)將記錄介質(zhì) 17B的第一邊緣35A與位于介質(zhì)支架12上的多個(gè)配準(zhǔn)特征25對(duì)齊而將記錄介質(zhì)17B定位在第一取向50A上。在一些示例實(shí)施例中，配準(zhǔn)特征25中的每一個(gè)可包括適于與第一邊緣 35A接觸以將記錄介質(zhì)17B與適合于采取圖像形成動(dòng)作的第一取向50A對(duì)齊的表面。在這個(gè)示例實(shí)施例中，通過(guò)建立第一邊緣35A與配準(zhǔn)特征25A和25B之間的接觸來(lái)定義第一取向50A。特別地，在第一邊緣35A上的配準(zhǔn)點(diǎn)64和66處建立接觸。在一些示例實(shí)施例中， 配準(zhǔn)特征25中的每一個(gè)可包括適于將正在定位的記錄介質(zhì)17B引導(dǎo)到適合于成像的第一取向50A上的指示器。在一些示例實(shí)施例中，記錄介質(zhì)17B被定位在介質(zhì)支架12上隨機(jī)的第一取向50A上，并且記錄頭16的各個(gè)圖像形成參數(shù)被調(diào)節(jié)以適應(yīng)該隨機(jī)的取向。非限制性地舉例來(lái)說(shuō)，對(duì)圖像形成參數(shù)的調(diào)節(jié)可包括激活時(shí)機(jī)或?qū)τ涗涱^16相對(duì)于副掃描軸M 的傾斜度的調(diào)節(jié)。在一些示例實(shí)施例中，各種傳感器被采用以檢測(cè)記錄介質(zhì)17B的各個(gè)邊緣上的各個(gè)點(diǎn)來(lái)確定其取向。在這個(gè)示例實(shí)施例中，記錄介質(zhì)17B以第一取向50A被定位使得第一邊緣35A沿大體上平行于副掃描軸M的方向延伸。在其他示例實(shí)施例中，記錄介質(zhì)17B以第一取向 50A被定位使得第一邊緣35A沿相對(duì)于副掃描軸M偏斜的方向延伸。在步驟220中，當(dāng)記錄介質(zhì)17B以第一取向50A被定位時(shí)，記錄裝置10被操作用于在記錄介質(zhì)17B上形成至少一個(gè)圖像特征。在這個(gè)示例實(shí)施例中，所述至少一個(gè)圖像特征包括第一圖像特征60，該第一圖像特征包括適合于確定可能要求記錄裝置10的校準(zhǔn)改變的圖像畸變的存在的形式。在這個(gè)示例實(shí)施例中，第一圖像特征60包括適合于確定主掃描圖像畸變的存在的形式，所述主掃描圖像畸變可能在記錄裝置10先前的校準(zhǔn)之后出現(xiàn)。在這個(gè)示例實(shí)施例中，所希望的是記錄裝置10被操作用于形成沿大體上平行于副掃描軸M 的方向延伸的延長(zhǎng)的第一圖像特征60。在這個(gè)示例實(shí)施例中，如在先前的校準(zhǔn)(例如校準(zhǔn)方法100)中所建立的各種激活時(shí)機(jī)和移動(dòng)糾正在第一圖像特征60的形成期間被進(jìn)行以糾正先前所識(shí)別的圖像畸變。可用各種方式操作記錄裝置10以形成第一圖像特征60。例如，第一圖像特征60的各個(gè)部分可在多個(gè)螺旋形掃描期間被形成，所述螺旋形掃描通過(guò)介質(zhì)支架12和記錄頭16 兩者的協(xié)同移動(dòng)被產(chǎn)生?？商鎿Q地，第一圖像特征60的各個(gè)部分可在多個(gè)環(huán)形或圓形掃描期間被形成，其中每個(gè)掃描在記錄頭16在固定的副掃描位置上保持靜止并且介質(zhì)支架12 在主掃描方向上旋轉(zhuǎn)時(shí)被產(chǎn)生。其他圖像形成技術(shù)可包括副掃描掃描技術(shù)，其中當(dāng)記錄頭 16在形成第一圖像特征60的一部分的同時(shí)沿副掃描軸M被平移時(shí)介質(zhì)支架12被維持在所希望的主掃描位置上。如圖7A所示，在本發(fā)明的這個(gè)示例實(shí)施例中第一圖像特征60依照?qǐng)D像數(shù)據(jù)37A被形成。如圖7A所示，圖像畸變存在于所形成的第一圖像特征60中。特別地，第一圖像特征60被示出為包括彎曲的形式(即為了清楚起見(jiàn)被放大)而不是其所預(yù)期的直線延長(zhǎng)形式，由此指示需要新的成像糾正。應(yīng)理解的是所示意的彎曲畸變僅以示例的方式被提供而其他畸變形狀也是可能的。在這個(gè)示例實(shí)施例中，第一圖像特征60的畸變?cè)诓襟E250中被傳感器52檢測(cè)。在本發(fā)明的一些實(shí)施例中，一個(gè)或多個(gè)傳感器52位于支架20上，處在適合于檢測(cè)各種圖像特征或其部分的各個(gè)副掃描位置。在本發(fā)明的這個(gè)示例實(shí)施例中，傳感器52以與記錄頭16的預(yù)先確定的對(duì)齊被裝載在滑架18上。當(dāng)運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)22控制滑架18和介質(zhì)支架12在適合于第一圖像特征60的各個(gè)部分的檢測(cè)的位置上的定位時(shí)，傳感器52可操作用于檢測(cè)這些部分。例如，參考圖7A，第一圖像特征60的各個(gè)部分可被傳感器52檢測(cè)，該傳感器被定位在滑架18所行進(jìn)的路徑上的適當(dāng)?shù)臋z測(cè)位置上。運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)22所提供的各種編碼器/傳感器信號(hào)可被用于確定滑架18相對(duì)于第一圖像60的部分的位置。在本發(fā)明的各種實(shí)施例中，描述第一圖像特征60的各個(gè)部分中的每一個(gè)的位置或取向的信息由控制器 30根據(jù)來(lái)自運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)22和傳感器52的各種信號(hào)來(lái)確定。雖然滑架18可被操作用于將傳感器52定位在各個(gè)副掃描位置，但是這個(gè)操作不一定有助于檢測(cè)第一圖像特征60的畸變。在類(lèi)似于先前結(jié)合圖5A、5B和5C所描述的那些的方式中，當(dāng)記錄頭16在第一圖像特征60的形成期間被定位在沿有偏差的副掃描移動(dòng)路徑的各個(gè)位置上時(shí)，第一圖像特征60的畸變可由記錄頭16的定位和/或取向的改變引起。 記錄頭16的定位的這種改變可由包括支架20的蠕變?cè)趦?nèi)的不同因素引起。然而，應(yīng)注意的是因?yàn)閭鞲衅?2也位于滑架52上，它也將沿與有偏差的副掃描移動(dòng)路徑大體上相同的傳感器移動(dòng)路徑54(未圖7A中示出)行進(jìn)，記錄頭16在畸變的第一圖像特征60的形成期間沿所述有偏差的副掃描移動(dòng)路徑行進(jìn)。沿傳感器移動(dòng)路徑M的這種傳感器移動(dòng)的后果示意性地在圖8中被描繪。圖8 示出了大致平行于在記錄介質(zhì)17B以第一取向50A被定位時(shí)所形成的畸變的第一圖像特征 60的形狀的傳感器移動(dòng)路徑M。如前所述，當(dāng)傳感器52被移動(dòng)到沿傳感器移動(dòng)路徑M的各個(gè)位置時(shí)，第一圖像特征60的各個(gè)部分可被傳感器52檢測(cè)。包括畸變的第一圖像特征 60的每個(gè)被檢測(cè)到的部分的主掃描位置信息在內(nèi)的各種信息可被提供給控制器30以識(shí)別
12所述部分中的每一個(gè)的位置。然而，由于在每個(gè)檢測(cè)位置上傳感器52在位置上偏移與畸變的第一圖像特征60的被檢測(cè)到的部分的主掃描位置變化有關(guān)的量，所以被提供給控制器30的主掃描位置信息使得控制器30將不正確地認(rèn)為畸變的第一圖像特征60包括如圖 8所示意性地示出的大體上無(wú)畸變的形式60A。這樣的結(jié)果將錯(cuò)誤地暗示不需要記錄裝置 10的重新校準(zhǔn)。由于各個(gè)傳感器52在支架20上的定位也可結(jié)合導(dǎo)致第一圖像特征60的畸變的記錄裝置10的改變而變化，所以如果一系列傳感器52被附加至支架20上的各個(gè)副掃描位置，那么相似的結(jié)果可能出現(xiàn)。在本發(fā)明的這個(gè)示例實(shí)施例中，記錄介質(zhì)17B被重新定位在介質(zhì)支架12上以減少前述檢測(cè)問(wèn)題的發(fā)生。在步驟240中，記錄介質(zhì)17B以不同于第一取向50A的第二取向50B 被定位在介質(zhì)支架12上。在這個(gè)示例實(shí)施例中，在第一圖像特征60已被形成在記錄介質(zhì) 17B上之后，記錄介質(zhì)17B以第二取向50B被定位在介質(zhì)支架12上。如圖7C所示，在檢測(cè)第一圖像特征60的各種畸變之前，記錄介質(zhì)17B被重新定位在介質(zhì)支架12上使得第二邊緣36A被定位在配準(zhǔn)特征25附近(vicinity)。在這個(gè)示例實(shí)施例中，第二邊緣36A是記錄介質(zhì)17B的與第一邊緣35A橫向?qū)R的邊緣。在這點(diǎn)上，記錄介質(zhì)17B在介質(zhì)支架12上的第二取向50B表示記錄介質(zhì)17B相對(duì)于第一取向50A的旋轉(zhuǎn)。在本發(fā)明的這個(gè)示例實(shí)施例中，繞沿大體上垂直于圓柱形表面13的方向與圓柱形表面13相交的軸進(jìn)行這種代表性旋轉(zhuǎn)。在這個(gè)示例實(shí)施例中，這種代表性旋轉(zhuǎn)大致為90度而在其他實(shí)施例中，這種代表性旋轉(zhuǎn)可落在大致85度到95度的范圍內(nèi)。諸如第一邊緣35A與第二邊緣36A之間的非垂直等因素可引起該代表性旋轉(zhuǎn)的變化。在本發(fā)明的一些示例實(shí)施例中，當(dāng)維持與介質(zhì)支架12的接觸時(shí)記錄介質(zhì)17B被重新定位。在其他示例實(shí)施例中，記錄介質(zhì)17在以第二取向50B被定位在介質(zhì)支架12上之前被從介質(zhì)支架12上移除。在一些示例實(shí)施例中，記錄介質(zhì)17B可在以第二取向50B被定位在介質(zhì)支架12上之前經(jīng)受一個(gè)或多個(gè)其他步驟。這些其他步驟可使記錄介質(zhì)17B經(jīng)受包括例如記錄介質(zhì)17B的表面的機(jī)械的、熱的或化學(xué)的修正在內(nèi)的各種過(guò)程。這些過(guò)程中的一些可被用于增強(qiáng)記錄介質(zhì)17B的成像區(qū)域與記錄介質(zhì)17B的未被成像的區(qū)域之間的對(duì)比度(contrast)。在本發(fā)明的這個(gè)示例實(shí)施例中，記錄介質(zhì)17B被定位在介質(zhì)支架12上以允許傳感器52成功地檢測(cè)到第一圖像特征60的畸變。通過(guò)以第二取向50B將記錄介質(zhì)17B定位在介質(zhì)支架12上，前述錯(cuò)誤結(jié)果的出現(xiàn)可被減少。在本發(fā)明的這個(gè)示例實(shí)施例中，第二取向 50B對(duì)應(yīng)于第一圖像特征60在介質(zhì)支架12上的、傳感器52定位的不希望的偏差在第一圖像特征60的檢測(cè)期間可被減少的位置上的定位。如在圖7C中所表示的那樣，傳感器52被定位在第一副掃描位置56上并且介質(zhì)支架12沿主掃描軸沈的方向被移動(dòng)以相繼將第一圖像特征60的各個(gè)部分定位在適合于由傳感器52檢測(cè)的位置上。在本發(fā)明的這個(gè)示例實(shí)施例中，傳感器52在所述檢測(cè)期間被維持在第一副掃描位置56上。在這個(gè)示例實(shí)施例中，介質(zhì)支架12沿主掃描軸沈的移動(dòng)與導(dǎo)致第一圖像特征60的畸變的、滑架18沿副掃描軸M的移動(dòng)相比不那么易受偏差影響。在這個(gè)特定的實(shí)施例中，介質(zhì)支架12是經(jīng)由旋轉(zhuǎn)軸承(未示出)旋轉(zhuǎn)地與支架20耦合的圓柱形構(gòu)件。適合的旋轉(zhuǎn)軸承可包括例如各種精密深溝球軸承、各種精密角接觸軸承以及各種精密自位軸承。這些旋轉(zhuǎn)軸承通常慮及可能由于引起第一圖像特征60的畸變的記錄裝置10的各種改變而出現(xiàn)的微小量的轉(zhuǎn)軸未對(duì)齊。在這點(diǎn)上，介質(zhì)支架12沿主掃描軸沈的移動(dòng)與記錄頭16沿副掃描軸M的移動(dòng)相比不那么易受偏差影響。因此，在本發(fā)明的這個(gè)示例實(shí)施例中，以第二取向50B對(duì)記錄介質(zhì)17B的定位允許傳感器52檢測(cè)第一圖像特征60 的各個(gè)部分中的每一個(gè)以及第一圖像特征60的總體畸變本身。在本發(fā)明的一些示例實(shí)施例中，傳感器52通過(guò)檢測(cè)第一圖像特征60的每個(gè)被檢測(cè)到的部分的所預(yù)期的位置的變化來(lái)檢測(cè)第一圖像特征60的畸變。在記錄介質(zhì)17B根據(jù)第二取向50B被定位之后，當(dāng)介質(zhì)支架12旋轉(zhuǎn)地被移動(dòng)以將圖像特征部分中的每一個(gè)定位在適合于由傳感器52檢測(cè)的位置上時(shí)，第一圖像特征60的每個(gè)部分的所預(yù)期的副掃描位置的變化將被檢測(cè)。在根據(jù)第二取向50B被定位時(shí)第一圖像特征60的各個(gè)部分的被檢測(cè)到的副掃描位置變化與在根據(jù)第一取向50A被定位時(shí)第一圖像特征60的各個(gè)部分的主掃描畸變有關(guān)。在本發(fā)明的一些示例實(shí)施例中，當(dāng)每個(gè)部分在傳感器52的可檢測(cè)范圍內(nèi)被移動(dòng)時(shí)，傳感器52通過(guò)檢測(cè)第一圖像特征60的各個(gè)部分之間的副掃描位移來(lái)檢測(cè)第一圖像特征60的畸變。在這個(gè)示例實(shí)施例中，在根據(jù)第二取向50B被定位時(shí)第一圖像特征60的各個(gè)部分的被檢測(cè)到的副掃描位移與在根據(jù)第一取向50A被定位時(shí)第一圖像特征60的各個(gè)部分的主掃描位移有關(guān)。在一些示例實(shí)施例中，這些副掃描位移參照第一副掃描位置56。 第一圖像特征60的每個(gè)被檢測(cè)到的部分之間相對(duì)于彼此或相對(duì)于第一副掃描位置56的變化的位移的存在可被用于識(shí)別畸變。然而，應(yīng)注意的是當(dāng)記錄介質(zhì)17B的第二取向50B使得第一圖像特征60沿相對(duì)于主掃描軸沈偏斜的方向延伸時(shí)可能會(huì)遇到一些誤差。在各種示例實(shí)施例中，檢測(cè)沿通過(guò)介質(zhì)支架12沿主掃描軸沈的方向的移動(dòng)所建立的檢測(cè)路徑發(fā)生。如果第二取向50B使得第一圖像特征60相對(duì)于這個(gè)檢測(cè)路徑偏斜，那么第一圖像特征 60的被檢測(cè)到的部分之間任何變化的位移可包括來(lái)自這個(gè)偏斜的影響。在一些示例實(shí)施例中，被檢測(cè)到的副掃描位移參照可檢測(cè)的基準(zhǔn)，諸如在根據(jù)第二取向50B被定位時(shí)參照第一邊緣35A。由于在步驟220中第一邊緣35A在第一圖像特征 60的形成期間與第一和第二配準(zhǔn)特征25A和25B對(duì)齊，存在第一圖像特征60與第一邊緣 35A之間對(duì)應(yīng)的對(duì)齊，并且對(duì)這兩者之間變化的間隔的檢測(cè)可被用于識(shí)別第一圖像特征60 的畸變的存在。然而，當(dāng)?shù)谝贿吘?5A本身在形式上不準(zhǔn)直的時(shí)候，仍然可能遇到一些誤差。很多記錄介質(zhì)17可包括波狀的邊緣，特別是當(dāng)介質(zhì)在尺寸上很大或是由非形穩(wěn)材料制成的時(shí)候。在本發(fā)明的這個(gè)示例實(shí)施例中，被檢測(cè)到的副掃描位移參照在步驟230中依照?qǐng)D像數(shù)據(jù)37B所形成的第二圖像特征62。如圖7B所示，由記錄頭16在以不同于在第一圖像特征60的形成期間所使用的第一取向50A的取向50C被定位在介質(zhì)支架12上的記錄介質(zhì) 17B上形成圖像特征62。在這個(gè)示例實(shí)施例中，第二圖像特征62是鄰近于第一圖像特征60 被定位的延長(zhǎng)的圖像特征。在這個(gè)示例實(shí)施例中，第二圖像特征62包括與第一圖像特征60 大體上相同的長(zhǎng)度并且被形成使得它沿與第一圖像特征60沿其延伸的方向大體上相同的方向延伸。為了清楚起見(jiàn)，在圖7F中以展開(kāi)的或平面的取向示出包括第一圖像特征60和第二圖像特征62在內(nèi)的記錄介質(zhì)17B。在本發(fā)明的這個(gè)示例實(shí)施例中，以與在第一圖像特征60的形成期間所采用的第一邊緣35A上的兩個(gè)配準(zhǔn)點(diǎn)64和66的對(duì)齊關(guān)系形成第二圖像特征62。第一圖像特征60先前在記錄介質(zhì)17B以通過(guò)在配準(zhǔn)點(diǎn)64和66與對(duì)應(yīng)的配準(zhǔn)特征25A和25B之間建立接觸所定義的第一取向50A被定位時(shí)被形成。因此，第一取向50A使得第一圖像特征60以與兩個(gè)接觸點(diǎn)對(duì)齊的取向被形成。應(yīng)注意的是在這個(gè)示例實(shí)施例中，當(dāng)記錄介質(zhì)17B以第一取向50A被定位時(shí)，兩個(gè)接觸點(diǎn)之間的基準(zhǔn)線(未示出)大體上平行于副掃描軸M。在其他示例實(shí)施例中，配準(zhǔn)特征25A和25B可以其中接觸點(diǎn)之間的基準(zhǔn)線將相對(duì)于副掃描軸M偏斜的方式位于介質(zhì)支架12上。在本發(fā)明的這個(gè)示例實(shí)施例中，所希望的是第二圖像特征62也以與先前在第一圖像特征60的形成期間所采用的兩個(gè)配準(zhǔn)點(diǎn)64和66的相同對(duì)齊被形成。在這個(gè)示例實(shí)施例中，同樣希望的是第二圖像特征62以降低畸變?cè)诘诙D像特征62中形成的可能性的方式被形成。在這個(gè)示例實(shí)施例中，主掃描旋轉(zhuǎn)移動(dòng)與副掃描平移移動(dòng)相比不那么傾向于有偏差。在這個(gè)示例實(shí)施例中，第二圖像特征62優(yōu)選地通過(guò)記錄頭沿副掃描軸24很少的移動(dòng)或不移動(dòng)而被形成。如前所述，在圖像特征62的形成期間所采用的取向50C不同于在第一圖像特征60 的形成期間所采用的第一取向50A。在一些示例實(shí)施例中，取向50C與在步驟250中的畸變檢測(cè)期間所采用的第二取向50B相同，而在其他示例實(shí)施例中，取向50C不同于第二取向 50B。在這個(gè)示例實(shí)施例中，取向50C使得第一邊緣35A圍繞介質(zhì)支架12沿圓周延伸。在一些示例實(shí)施例中，取向50C可以使得第一邊緣35A沿相對(duì)于主掃描軸26偏斜微小的角旋轉(zhuǎn)的方向延伸，所述角旋轉(zhuǎn)通常在+/-15度的范圍內(nèi)。在任何一種情況下，當(dāng)?shù)谝贿吘?5A 這樣被定向時(shí)，其可被視為圍繞介質(zhì)支架12大體上沿圓周延伸。一旦記錄介質(zhì)17B以取向50C被定位，第一和第二配準(zhǔn)點(diǎn)64和66中的每一個(gè)的位置在以與這些點(diǎn)的所希望的對(duì)齊形成第二圖像特征62之前被確定。各種技術(shù)可被采用以確定這個(gè)取向上的配準(zhǔn)點(diǎn)64和66。例如，美國(guó)專利No. 6，968，782 (Cummings)和美國(guó)專利No. 7，456，379 (Neufeld等人)公開(kāi)了可被采用以沿介質(zhì)的邊緣找到圍繞滾筒型介質(zhì)支架大體上沿圓周延伸的各個(gè)點(diǎn)的各種檢測(cè)技術(shù)，這兩個(gè)專利均在此通過(guò)引用被并入本文。 在這點(diǎn)上，各種傳感器可被用于檢測(cè)配準(zhǔn)點(diǎn)64和66的位置，特別是當(dāng)取向50C相對(duì)于主掃描軸沈偏斜時(shí)。在這個(gè)示例實(shí)施例中，傳感器52被采用以檢測(cè)配準(zhǔn)點(diǎn)64和66的位置。在這個(gè)示例實(shí)施例中，一旦配準(zhǔn)點(diǎn)64和66中的每一個(gè)的主掃描和副掃描位置被確定，記錄裝置10就被操作用于以與配準(zhǔn)點(diǎn)64和66的所確定的位置的所希望的對(duì)齊形成第二圖像特征62。第二圖像特征62可以各種方式被形成。在一些示例實(shí)施例中，第二圖像特征62在操作記錄裝置10在記錄介質(zhì)17B上圓形地進(jìn)行掃描時(shí)被形成。在本發(fā)明的其他示例實(shí)施例中，第二圖像特征62在操作記錄裝置10在記錄介質(zhì)17B上螺旋形地進(jìn)行掃描時(shí)被形成。在一些示例實(shí)施例中，表示第二圖像特征62的圖像數(shù)據(jù)37B被調(diào)節(jié)以計(jì)入主掃描軸26與由兩個(gè)配準(zhǔn)點(diǎn)64和66所定義的基準(zhǔn)線(同樣未示出)之間的偏斜。在一些示例實(shí)施例中，第二圖像特征62在以由主掃描軸沈與由兩個(gè)配準(zhǔn)點(diǎn)64和66所定義的基準(zhǔn)線(同樣未示出)之間的偏斜所決定的協(xié)同的方式移動(dòng)記錄頭16和介質(zhì)支架12中的每一個(gè)時(shí)被形成。對(duì)于微小量的偏斜，這種協(xié)同的移動(dòng)可包括記錄頭16沿副掃描軸M的微小量的移動(dòng)。這種微小的副掃描移動(dòng)通常小于將被采用以形成螺旋形的圖像帶的副掃描移動(dòng)。一旦第二圖像特征62以與由兩個(gè)配準(zhǔn)點(diǎn)64和66所定義的基準(zhǔn)線的所希望的對(duì)齊在記錄介質(zhì)17B上被形成，傳感器52就在步驟250中通過(guò)隨著第一圖像特征60和第二圖像特征62的各個(gè)對(duì)應(yīng)的部分中的每一個(gè)在傳感器52的可檢測(cè)范圍內(nèi)被移動(dòng)而檢測(cè)這些對(duì)應(yīng)的部分之間所預(yù)期的副掃描間隔的變化來(lái)檢測(cè)第一圖像特征60的畸變。由于第二圖像特征62已通過(guò)與第一圖像特征60通過(guò)其被形成的配準(zhǔn)點(diǎn)64和66的大體上相同的對(duì)齊被形成，所以對(duì)應(yīng)的部分的被檢測(cè)到的副掃描間隔之間的任何變化與在第一圖像特征60 的形成期間被傳到其上的主掃描畸變有關(guān)。包括關(guān)于被檢測(cè)到的副掃描間隔的信息在內(nèi)的信號(hào)被提供給控制器30。在步驟260期間，控制器30被配置用于根據(jù)傳感器52所提供的檢測(cè)信息來(lái)確定畸變信息。具體地，控制器30被配置用于將被檢測(cè)到的副掃描間隔信息變換回在步驟220 的圖像形成動(dòng)作中所采用的主掃描基準(zhǔn)幀(reference frame)。變換可在各種因素的基礎(chǔ)上進(jìn)行，包括在第一圖像特征60的形成期間記錄介質(zhì)17B在介質(zhì)支架12上的先前位置以及各個(gè)被檢測(cè)到的間隔的量和方向。在這個(gè)示例實(shí)施例中，控制器30被配置用于將關(guān)于根據(jù)第二取向50B所定位的第一圖像特征60的各個(gè)被檢測(cè)到的畸變區(qū)域的位置的主掃描位置信息變換回在步驟220的圖像形成動(dòng)作中所采用的副掃描基準(zhǔn)幀。運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)22所提供的各種編碼器信息可被控制器30在確定各種位置信息時(shí)采用。記錄裝置10在步驟270中被重新校準(zhǔn)。對(duì)各個(gè)先前所形成的成像糾正的新的成像糾正或調(diào)節(jié)依照所確定的關(guān)于第一圖像特征60的畸變的信息來(lái)進(jìn)行。在這點(diǎn)上，控制器 30確定所確定的信息中的任何畸變的幅度和方向，并且將它們與關(guān)于畸變的位置的副掃描位置信息關(guān)聯(lián)。如果畸變具有足夠的幅度以要求對(duì)記錄裝置10的重新校準(zhǔn)，那么控制器30 依照表示這些畸變的所確定的值來(lái)調(diào)節(jié)先前所確定的成像糾正。由于第一圖像特征60被形成以識(shí)別主掃描成像畸變，控制器30被配置用于更改介質(zhì)支架12的對(duì)應(yīng)于所述畸變的區(qū)域的激活時(shí)機(jī)改變。在這點(diǎn)上，當(dāng)記錄頭16被定位以在對(duì)應(yīng)于第一圖像特征60的畸變的區(qū)域中對(duì)后續(xù)圖像的部分成像時(shí)，各個(gè)記錄通道23的激活時(shí)機(jī)被調(diào)節(jié)。有利地，記錄裝置10的重新校準(zhǔn)可在即將被使用時(shí)被執(zhí)行。重新校準(zhǔn)可被執(zhí)行而無(wú)需額外的專用校準(zhǔn)設(shè)備。在本發(fā)明的一些示例實(shí)施例中，控制器30保存表示對(duì)成像糾正所進(jìn)行的各種調(diào)節(jié)的數(shù)據(jù)以建立日志。這樣的日志可被用于識(shí)別可提高系統(tǒng)的圖像質(zhì)量的條件。應(yīng)理解的是，方法200所示的各個(gè)步驟在本質(zhì)上是示例性的，并且這些步驟的其他順序、或額外步驟的添加、或?qū)@些步驟的修正可被本發(fā)明的各種示例實(shí)施例采用。例如，第二圖像特征62可在第一圖像特征60的形成之前被形成。應(yīng)理解的是，在本發(fā)明的一些實(shí)施例中，多個(gè)圖像特征可被形成以檢測(cè)主掃描畸變而不是單個(gè)圖像特征(例如第一圖像特征60)。例如，第一圖像特征60可被圖像特征的圖案取代并且可通過(guò)在記錄介質(zhì)17B 以第二取向62被定位時(shí)檢測(cè)所述特征中的一個(gè)或多個(gè)的所預(yù)期的位置的變化來(lái)檢測(cè)畸變。在一些示例實(shí)施例中，第一圖像特征60可被圖像特征的圖案取代并且可通過(guò)在記錄介質(zhì)17B以第二取向62被定位時(shí)檢測(cè)所述特征中的一個(gè)或多個(gè)與第二圖像特征62之間的所預(yù)期的間隔的變化來(lái)檢測(cè)畸變。在一些示例實(shí)施例中，第一圖像特征60和第二圖像特征62 兩者可分別被圖像特征的分組取代并且可通過(guò)在記錄介質(zhì)17B以第二取向50B被定位時(shí)檢測(cè)每個(gè)分組中的各個(gè)對(duì)應(yīng)的特征之間的所預(yù)期的間隔的變化來(lái)檢測(cè)畸變。介質(zhì)支架12可包括沿主掃描軸沈和副掃描軸M中的各個(gè)軸的尺寸屬性，所述尺
16寸屬性對(duì)可依照本發(fā)明的各種實(shí)施例被裝卸的適合的記錄介質(zhì)17B的尺寸施加限制。例如，圍繞介質(zhì)支架12的有限圓周距離可對(duì)能夠在第一取向50A與第二取向50B之間被重新定位的記錄介質(zhì)17B的尺寸施加限制。因此，在一些示例實(shí)施例中，相似于方法200的方法在介質(zhì)支架12的各個(gè)副掃描位置上被實(shí)踐以確定與那些副掃描位置中的每一個(gè)相關(guān)聯(lián)的各個(gè)區(qū)域的成像糾正。在一些示例實(shí)施例中，在第一取向50A與第二取向50B之間對(duì)記錄介質(zhì)17B的重新定位可對(duì)應(yīng)于不同于圖7A和7C所示的代表性旋轉(zhuǎn)。例如，可從第一取向50A向其中邊緣35B (即記錄介質(zhì)17B的與第一邊緣35A相對(duì)的邊緣)與配準(zhǔn)特征25對(duì)齊的另一取向重新定位記錄介質(zhì)17B。在這個(gè)示例實(shí)施例中，代表性旋轉(zhuǎn)將通常對(duì)應(yīng)于在大致175度到185 度的范圍內(nèi)的旋轉(zhuǎn)角。如果記錄介質(zhì)17B足夠透明，它可被額外地被反轉(zhuǎn)以便使其成像的表面與圓柱形表面13接觸。在移動(dòng)介質(zhì)支架12以將重新定位的第一圖像特征60帶入傳感器52的檢測(cè)范圍內(nèi)之后，可在將傳感器52定位在沿副掃描軸的各個(gè)位置上時(shí)檢測(cè)第一圖像特征60的畸變。在這些示例實(shí)施例中，由于傳感器52沿大體上反映(mirror)第一圖像特征60的畸變的傳感器移動(dòng)路徑M被移動(dòng)，被檢測(cè)到的畸變將對(duì)應(yīng)于第一圖像特征60 的實(shí)際畸變的大致兩倍。在一些示例實(shí)施例中，額外的圖像特征在記錄介質(zhì)17B以不同于第一取向50A并且被選擇以使所述額外的圖像特征的畸變的形成最少的取向(例如取向50C)被定位時(shí)被形成。當(dāng)記錄介質(zhì)17B被定位在使得第一圖像特征60和額外的圖像特征兩者都沿大體上平行于副掃描軸M的方向延伸的取向時(shí)，主掃描畸變可直接被傳感器52檢測(cè)。可通過(guò)在傳感器52沿其副掃描路徑被移動(dòng)時(shí)檢測(cè)第一圖像特征60和額外的圖像特征的各個(gè)對(duì)應(yīng)的部分之間的所預(yù)期的間隔的變化來(lái)實(shí)現(xiàn)這些實(shí)施例中的畸變檢測(cè)。應(yīng)理解的是，第一圖像特征60和額外的圖像特征沿大體上平行于副掃描軸M的方向的延伸可包括當(dāng)記錄介質(zhì)17B 被定位在檢測(cè)取向上時(shí)相對(duì)于副掃描軸M的微小量的偏斜。在一些示例實(shí)施例中，副掃描畸變被檢測(cè)。例如，如圖7D所示，圖像特征63的圖案可在記錄介質(zhì)17C上被形成，記錄介質(zhì)17C以第一取向50D被定位在介質(zhì)支架12上。在這個(gè)示例實(shí)施例中，通過(guò)與被采用以建立先前所描述的第一取向50A的那些方法相似的方法建立第一取向50D。圖像特征63的圖案可包括各種一維或二維圖案。圖像特征63的圖案可包括各種布置方向，圖像特征63沿所述方向被布置。所述各種布置方向可相對(duì)于主掃描軸26和副掃描軸M來(lái)定向。應(yīng)理解的是如果記錄介質(zhì)17C以不同于第一取向50D的取向在介質(zhì)支架上被重新定位，那么各個(gè)布置方向的取向?qū)⒏淖儭Ｔ谶@個(gè)示例實(shí)施例中，圖像特征63的圖案包括將以總體平行于副掃描軸M的方向的布置方向被形成的一行圖像特征 63。在各種示例實(shí)施例中，所希望的是該行圖像特征63以各對(duì)圖像特征63之間的目標(biāo)副掃描間隔被形成。在這個(gè)非限制性的示例實(shí)施例中，所希望的是鄰近的圖像特征63以大體上相等的目標(biāo)副掃描間隔被形成。圖7D示出了各種副掃描畸變導(dǎo)致所形成的圖像特征63 中的各個(gè)圖像特征之間的所希望的目標(biāo)副掃描間隔的變化。依照?qǐng)D像數(shù)據(jù)37C形成圖像特征63的圖案。一旦圖像特征63的圖案被形成，記錄介質(zhì)17C就以如圖7E所示的第二取向50E 被重新定位。第二取向50E不同于第一取向50D并且被選擇用于對(duì)各個(gè)圖像特征63之間的實(shí)際間隔與它們對(duì)應(yīng)的目標(biāo)間隔之間的任何改變的檢測(cè)。
如果在記錄介質(zhì)17C以第一取向50D被定位在介質(zhì)支架12上的同時(shí)，傳感器52 被采用以檢測(cè)圖像特征63的圖案中的第一圖像特征與第二圖像特征之間的所預(yù)期的間隔的變化，那么各種檢測(cè)誤差可能出現(xiàn)。例如，由于在檢測(cè)期間傳感器52也由滑架18移動(dòng)， 所以各種滑架橫擺移動(dòng)(例如如圖5C所示的那樣)也可使傳感器52經(jīng)受相同的瞄準(zhǔn)誤差，所述各種滑架橫擺移動(dòng)是圖像特征63中的兩個(gè)圖像特征之間的所預(yù)期的間隔的變化的原因之一。通過(guò)以第二取向50E將記錄介質(zhì)17C定位在介質(zhì)支架12上，前述錯(cuò)誤結(jié)果的出現(xiàn)可被減少。在這個(gè)示例實(shí)施例中，通過(guò)與被采用以建立先前所描述的第二取向50B的那些方法相似的方法建立第二取向50E。這樣，第二取向50E使得所述行圖像特征63現(xiàn)在沿大體上沿圓周的方向延伸。因此，當(dāng)記錄介質(zhì)17C根據(jù)第二取向50E被定位時(shí)，圖像特征 63的圖案中的圖像特征的布置方向被重新定向。由于介質(zhì)支架12的主掃描旋轉(zhuǎn)移動(dòng)與滑架18的副掃描平移移動(dòng)相比不那么傾向于有偏差，所以當(dāng)介質(zhì)支架12被旋轉(zhuǎn)以將圖像特征63中的每一個(gè)定位至適合于由傳感器52檢測(cè)的位置時(shí)圖像特征63中的兩個(gè)圖像特征之間的所預(yù)期的間隔之間的變化可準(zhǔn)確地被檢測(cè)。應(yīng)理解的是當(dāng)記錄介質(zhì)17C根據(jù)第二取向50E被定位時(shí)，所述行圖像特征63可沿能夠包括相對(duì)于主掃描軸沈的微小量的傾斜的大體上沿圓周的方向被定位。在這個(gè)示例實(shí)施例中，任何被檢測(cè)到的變化表示已在記錄裝置10內(nèi)顯現(xiàn)出來(lái)的副掃描畸變。包括對(duì)滑架18的移動(dòng)參數(shù)(例如速度參數(shù))的調(diào)節(jié)在內(nèi)的成像糾正可被進(jìn)行以補(bǔ)償這些畸變。在一些示例實(shí)施例中，對(duì)滑架18的定位的調(diào)節(jié)在對(duì)應(yīng)于畸變區(qū)域的各個(gè)副掃描位置上被進(jìn)行。在這個(gè)示例實(shí)施例中，對(duì)滑架18的速度調(diào)節(jié)在沿其行進(jìn)路徑的各個(gè)點(diǎn)上被進(jìn)行。在這個(gè)示例實(shí)施例中，這些不同的點(diǎn)對(duì)應(yīng)于記錄頭16在各個(gè)畸變的形成期間的位置。這些點(diǎn)的位置可通過(guò)與本發(fā)明的其他被描述的實(shí)施例所并入的那些技術(shù)相似的技術(shù)來(lái)識(shí)別。因此，滑架18可在沿其行進(jìn)路徑的各個(gè)點(diǎn)上以不同的速度被移動(dòng)。應(yīng)理解的是速度的改變?cè)诒举|(zhì)上通常是很小的，但具有足以克服被檢測(cè)到的畸變的幅度。在一些示例實(shí)施例中，所預(yù)期的間隔的改變可在形成在單個(gè)圖像帶中的多個(gè)圖像特征63的各個(gè)成員之間被檢測(cè)。在一些情況下，副掃描畸變可能跨多個(gè)圖像帶更顯著而不是在給定的圖像帶內(nèi)更顯著。在一些示例實(shí)施例中，至少一個(gè)圖像特征63在每次掃描期間被形成，并且所預(yù)期的間隔的改變可從形成在不同圖像帶中的圖像特征63中被檢測(cè)。在本發(fā)明的一些示例實(shí)施例中，通過(guò)檢測(cè)圖像特征63中的一個(gè)的所預(yù)期的位置的改變來(lái)檢測(cè)副掃描畸變。運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)22所提供的各種編碼器信號(hào)可被采用以輔助對(duì)被檢測(cè)到的圖像特征63的特定位置的識(shí)別。在本發(fā)明的其他示例實(shí)施例中，通過(guò)檢測(cè)圖像特征 63中的一個(gè)的所預(yù)期的尺寸的改變來(lái)檢測(cè)副掃描畸變。例如，圖像特征63中的每一個(gè)可依照所希望的副掃描目標(biāo)尺寸被形成，并且與這個(gè)尺寸的偏差可被用于識(shí)別畸變。與所希望的目標(biāo)尺寸的偏差可由于例如記錄頭16的橫擺移動(dòng)或傳輸構(gòu)件33的移動(dòng)不規(guī)則性而出現(xiàn)。在一些示例實(shí)施例中，一個(gè)或多個(gè)額外的圖像特征可在記錄介質(zhì)17C以不同于第一取向50D的取向被定位時(shí)形成。可通過(guò)在記錄介質(zhì)17C以第二取向50E被定位時(shí)檢測(cè)圖像特征63中的一個(gè)與額外的圖像特征中的一個(gè)之間的所預(yù)期的間隔的變化來(lái)檢測(cè)畸變。 在一些示例實(shí)施例中，當(dāng)記錄介質(zhì)17C以第二取向50E被定位時(shí)，在檢測(cè)圖像特征63與額外形成的圖像特征中的一個(gè)之間的所預(yù)期的主掃描間隔的偏差之后確定圖像特征63的位
18置的副掃描變化。在本發(fā)明的一些示例實(shí)施例中，圖像特征63的圖案被用于確定副掃描畸變和主掃描畸變兩者。圖像特征的圖案可在記錄介質(zhì)17C以第一取向被定位在介質(zhì)支架12上時(shí)被形成，并且可在記錄介質(zhì)17C以不同于第一取向的第二取向被定位在介質(zhì)支架12上時(shí)檢測(cè)相關(guān)聯(lián)的主掃描畸變和副掃描畸變。應(yīng)理解的是不同示例實(shí)施例的各個(gè)方面的適合的組合均在本發(fā)明的范圍內(nèi)。包括依照本發(fā)明的各種實(shí)施例所進(jìn)行的滑架18的移動(dòng)調(diào)節(jié)和/ 或記錄通道23的激活時(shí)機(jī)調(diào)節(jié)在內(nèi)的各種成像糾正可在記錄裝置10所采取的后續(xù)圖像形成動(dòng)作期間被采用。依照本發(fā)明的各種實(shí)施例所進(jìn)行的各種滑架18的移動(dòng)調(diào)節(jié)和/或記錄通道23的激活時(shí)機(jī)調(diào)節(jié)可在滑架18的后續(xù)移動(dòng)期間被采用。依照本發(fā)明的各種實(shí)施例所形成的各種圖像特征可包括適合于檢測(cè)的任何形式、 尺寸、形狀或特征。在沒(méi)有限制的情況下，依照本發(fā)明的各種實(shí)施例所形成的各種圖像特征可包括適合于檢測(cè)的各種目標(biāo)、配準(zhǔn)特征或基準(zhǔn)點(diǎn)(feducials)。在本發(fā)明的各種實(shí)施例中，傳感器52可包括任何適合于檢測(cè)一個(gè)或多個(gè)圖像特征的各種畸變的傳感器。在沒(méi)有限制的情況下，傳感器52可包括光學(xué)的、機(jī)械的和電性的元件。在本發(fā)明的各種示例實(shí)施例中，傳感器52包括諸如CCD傳感器或CMOS傳感器等圖像捕獲設(shè)備。具有適當(dāng)大小的視場(chǎng)的圖像捕獲傳感器可被采用以捕獲圖像特征的各個(gè)部分的圖像。來(lái)自圖像捕獲傳感器的各種信號(hào)可被用于定義圖像特征的被檢測(cè)到的部分的位置。 另外，對(duì)應(yīng)于介質(zhì)支架12和滑架18的位置的信號(hào)(例如編碼器信號(hào))可被用于在圖像特征的給定部分被定位在圖像捕獲傳感器的視場(chǎng)中時(shí)確定所述圖像特征的給定部分的主掃描位置和/或副掃描位置。在一些示例實(shí)施例中，傳感器52可以是不同于記錄裝置10的裝置的一部分。在本發(fā)明的一些示例實(shí)施例中，照明器55被用于在對(duì)圖像特征的檢測(cè)期間照亮一個(gè)或多個(gè)圖像特征的一部分。照明器55可被用于照亮所述一個(gè)或多個(gè)圖像特征的一部分，而同時(shí)用圖像捕獲設(shè)備捕獲該部分的圖像。在本發(fā)明的一些示例實(shí)施例中，照明器55 包括可朝記錄介質(zhì)17發(fā)射輻射以增強(qiáng)所形成的圖像特征與記錄介質(zhì)17的邊界區(qū)域之間的差異的輻射源。被反射的輻射的量和方向的改變可被傳感器52檢測(cè)以檢測(cè)圖像特征的特定部分。在本發(fā)明的一些示例實(shí)施例中，照明器55是發(fā)射器/接收器類(lèi)型的傳感器的發(fā)射器。在本發(fā)明的一些示例實(shí)施例中，照明器55包括LED光源。在本發(fā)明的一些示例實(shí)施例中，照明器陽(yáng)包括頻閃光源。在一些示例實(shí)施例中，照明器55被定位在滑架18上。在一些示例實(shí)施例中，照明器陽(yáng)被定位在支架20上。部件列表
10記錄裝置
12介質(zhì)支架
13圓柱形表
16記錄頭
17記錄介質(zhì)
17A記錄介質(zhì)
17B記錄介質(zhì)
17C記錄介質(zhì)
18滑架
19圖像
19A校準(zhǔn)圖像
20支架
21成像光束
22運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)
23記錄通道
24副掃描軸
25配準(zhǔn)特征
25A配準(zhǔn)特征
25B配準(zhǔn)特征
26主掃描軸
27橫擺方向
28A夾具
28B夾具
29縱搖方向
30控制器
32導(dǎo)向系統(tǒng)
33傳輸構(gòu)件
35第一邊緣
35A第一邊緣
35B邊緣
36第二邊緣
36A第二邊緣
37圖像數(shù)據(jù)
37A圖像數(shù)據(jù)
37B圖像數(shù)據(jù)
37C圖像數(shù)據(jù)
40目標(biāo)圖像
41目標(biāo)單元格
42成像單元格
42A成像單元格
42B成像單元格
42C成像單元格
50A第一取向
50B第二取向
50C取向
50D第一取向
50E第二取向0132]52傳感器
0133]54傳感器移動(dòng)路徑
0134]55照明器
0135]56第一副掃描位置
0136]60第一圖像特征
0137]60A 無(wú)畸變形式
0138]62第二圖像特征
0139]63圖像特征
0140]64 配準(zhǔn)點(diǎn)
0141]66 配準(zhǔn)點(diǎn)
0142]100 方法
0143]110 形成校準(zhǔn)圖像
0144]120 調(diào)節(jié)記錄裝置以糾正校準(zhǔn)圖像的畸變
0145]200 方法
0146]210 以第一取向?qū)⒂涗浗橘|(zhì)定位在介質(zhì)支架上
0147]220 在以第一取向被定位的記錄介質(zhì)上形成圖像特征
0148]230 形成第二圖像特征
0149]240 以不同于第一取向的第二取向定位記錄介質(zhì)
0150]250 檢測(cè)圖像特征的畸變
0151]260 確定畸變信息
0152]270 重新校準(zhǔn)記錄裝置
權(quán)利要求
1.一種用于改變記錄裝置的校準(zhǔn)以調(diào)節(jié)幾何畸變的方法，所述方法包括提供用于承載記錄介質(zhì)的介質(zhì)支架；操作包括多個(gè)單獨(dú)可尋址的記錄通道的記錄頭以在所述記錄介質(zhì)以第一取向被定位在所述介質(zhì)支架上的同時(shí)在所述記錄介質(zhì)上形成第一圖像特征；操作所述記錄頭以在所述記錄介質(zhì)以第二取向被定位在所述介質(zhì)支架上的同時(shí)在所述記錄介質(zhì)上形成第二圖像特征，所述第二取向不同于所述第一取向；檢測(cè)所述第一圖像特征與所述第二圖像特征之間的所預(yù)期的間隔的變化；以及依照被檢測(cè)到的變化進(jìn)行成像糾正。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中進(jìn)行所述成像糾正包括依照被檢測(cè)到的變化調(diào)節(jié)所述記錄通道中的一部分的激活時(shí)機(jī)。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其中進(jìn)行所述成像糾正包括依照被檢測(cè)到的變化調(diào)節(jié)滑架的移動(dòng)，所述滑架適于沿路徑移動(dòng)所述記錄頭。
4.如權(quán)利要求3所述的方法，其中調(diào)節(jié)所述滑架的移動(dòng)包括調(diào)節(jié)所述滑架的速度。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其包括在所述記錄介質(zhì)被定位在所述介質(zhì)支架上的同時(shí)檢測(cè)所述變化。
6.如權(quán)利要求1所述的方法，其包括在所述記錄介質(zhì)以所述第一取向和所述第二取向中的一個(gè)被定位在所述介質(zhì)支架上的同時(shí)檢測(cè)所述變化。
7.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述介質(zhì)支架包括配準(zhǔn)特征，并且所述方法包括在所述記錄介質(zhì)以所述第一取向被定位在所述介質(zhì)支架上的同時(shí)將所述記錄介質(zhì)的第一邊緣定位在所述配準(zhǔn)特征附近，而在所述記錄介質(zhì)以所述第二取向被定位在所述介質(zhì)支架上的同時(shí)將所述記錄介質(zhì)的第二邊緣定位在所述配準(zhǔn)特征附近，其中所述第一邊緣不同于所述第二邊緣。
8.如權(quán)利要求7所述的方法，其中所述第二邊緣與所述第一邊緣橫向?qū)R。
9.如權(quán)利要求1所述的方法，其包括在將所述第一圖像特征形成在所述記錄介質(zhì)上的同時(shí)建立所述記錄頭與所述介質(zhì)支架之間沿第一方向的相對(duì)移動(dòng)，并且在將所述第二圖像特征形成在所述記錄介質(zhì)上的同時(shí)建立所述記錄頭與所述介質(zhì)支架之間沿第二方向的相對(duì)移動(dòng)，其中所述第二方向不同于所述第一方向。
10.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述記錄介質(zhì)在所述介質(zhì)支架上的第二取向表示所述記錄介質(zhì)相對(duì)于所述記錄介質(zhì)在所述介質(zhì)支架上的第一取向的旋轉(zhuǎn)。
11.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述記錄介質(zhì)在所述介質(zhì)支架上的第二取向?qū)?yīng)于所述記錄介質(zhì)在所述介質(zhì)支架上的第一取向的改變，通過(guò)使所述記錄介質(zhì)繞大體上垂直于所述記錄介質(zhì)的由所述介質(zhì)支架所支撐的表面的軸旋轉(zhuǎn)一旋轉(zhuǎn)角而產(chǎn)生所述改變。
12.如權(quán)利要求11所述的方法，其中所述旋轉(zhuǎn)角在85度到95度的范圍內(nèi)。
13.如權(quán)利要求1所述的方法，其包括確定所述記錄介質(zhì)的邊緣上的兩個(gè)以定距離間隔的點(diǎn)的位置，以及將所述第一圖像特征和所述第二圖像特征中的每一個(gè)形成為與所確定的所述以定距離間隔的點(diǎn)的位置對(duì)齊。
14.如權(quán)利要求1所述的方法，其包括在以所述第一取向?qū)λ鲇涗浗橘|(zhì)在所述介質(zhì)支架上的定位與以所述第二取向?qū)λ鲇涗浗橘|(zhì)在所述介質(zhì)支架上的定位之間將所述記錄介質(zhì)與所述介質(zhì)支架完全分開(kāi)。
15.如權(quán)利要求5所述的方法，其包括在檢測(cè)所述變化之前調(diào)節(jié)所述記錄介質(zhì)的成像部分與所述記錄介質(zhì)的未成像部分之間的對(duì)比度。
16.如權(quán)利要求1所述的方法，其包括提供傳感器以用于檢測(cè)所述變化。
17.如權(quán)利要求5所述的方法，其包括提供傳感器以用于檢測(cè)所述變化。
18.如權(quán)利要求17所述的方法，其中所述傳感器包括圖像捕獲設(shè)備。
19.如權(quán)利要求18所述的方法，其包括提供適于沿路徑移動(dòng)所述傳感器的滑架。
20.如權(quán)利要求19所述的方法，其中所述滑架適于沿所述路徑移動(dòng)所述記錄頭。
21.如權(quán)利要求18所述的方法，其包括提供照明器以用于在所述變化被檢測(cè)的同時(shí)照亮所述第一圖像特征和所述第二圖像特征。
22.一種記錄裝置，所述記錄裝置包括包括圓柱形表面的介質(zhì)支架，其適于承載記錄介質(zhì)；記錄頭，其包括多個(gè)單獨(dú)可尋址的記錄通道；滑架，其適于沿相對(duì)于所述介質(zhì)支架的旋轉(zhuǎn)軸的路徑移動(dòng)所述記錄頭；傳感器；以及控制器，所述控制器被配置用于操作所述記錄頭以在所述記錄介質(zhì)以第一取向被定位在所述圓柱形表面上的同時(shí)在所述記錄介質(zhì)上形成第一圖像特征。操作所述記錄頭以在所述記錄介質(zhì)以不同于所述第一取向的第二取向被定位在所述圓柱形表面上的同時(shí)在所述記錄介質(zhì)上形成第二圖像特征；操作所述傳感器以檢測(cè)所述第一圖像特征與所述第二圖像特征之間的所預(yù)期的間隔的變化；以及依照被檢測(cè)到的變化進(jìn)行成像糾正。
23.如權(quán)利要求22所述的記錄裝置，其中所述控制器被配置用于通過(guò)調(diào)節(jié)所述滑架的移動(dòng)和所述記錄通道中的一部分的激活時(shí)機(jī)中的至少一個(gè)來(lái)進(jìn)行所述成像糾正。
24.如權(quán)利要求22所述的記錄裝置，其中所述控制器被配置用于將所述第一圖像特征和所述第二圖像特征中的每一個(gè)形成為與所述記錄介質(zhì)的邊緣上的兩個(gè)點(diǎn)對(duì)齊。
25.如權(quán)利要求22所述的記錄裝置，其中所述第一圖像特征和所述第二圖像特征中的每一個(gè)包括延長(zhǎng)的部分，并且其中所述傳感器被操作用于在所述記錄介質(zhì)被定位在所述圓柱形表面上使得所述延長(zhǎng)的部分中的每一個(gè)大體上沿與所述圓柱形表面相關(guān)聯(lián)的沿圓周的方向延伸時(shí)檢測(cè)所述變化。
26.如權(quán)利要求22所述的記錄裝置，其中所述第一圖像特征和所述第二圖像特征中的每一個(gè)包括延長(zhǎng)的部分，并且其中所述傳感器被操作用于在所述記錄介質(zhì)被定位在所述圓柱形表面上使得所述延長(zhǎng)的部分中的每一個(gè)大體上沿與所述圓柱形表面相關(guān)聯(lián)的軸方向延伸時(shí)檢測(cè)所述變化。
27.如權(quán)利要求22所述的記錄裝置，其中當(dāng)在以所述第一取向被定位在所述圓柱形表面上的所述記錄介質(zhì)上被形成時(shí)所述第一圖像特征包括大體上沿與所述圓柱形表面相關(guān)聯(lián)的軸方向延伸的延長(zhǎng)部分，并且當(dāng)在以所述第二取向被定位在所述圓柱形表面上的所述記錄介質(zhì)上被形成時(shí)所述第二圖像特征包括大體上沿與所述圓柱形表面相關(guān)聯(lián)的沿圓周的方向延伸的延長(zhǎng)部分。
28.如權(quán)利要求22所述的記錄裝置，其中所述介質(zhì)支架包括至少一個(gè)配準(zhǔn)特征，并且所述記錄介質(zhì)包括第一邊緣和與所述第一邊緣橫向?qū)R的第二邊緣，其中在所述記錄介質(zhì)以所述第一取向被定位在所述圓柱形表面上的同時(shí)所述第一邊緣被定位在所述至少一個(gè)配準(zhǔn)特征附近，并且在所述記錄介質(zhì)以所述第二取向被定位在所述圓柱形表面上的同時(shí)所述第二邊緣被定位在所述至少一個(gè)配準(zhǔn)特征附近。
29.如權(quán)利要求22所述的記錄裝置，其中所述滑架適于沿所述路徑移動(dòng)所述傳感器。
30.如權(quán)利要求22所述的記錄裝置，其中所述傳感器包括圖像捕獲設(shè)備。
31.如權(quán)利要求30所述的記錄裝置，其包括適于在所述變化被檢測(cè)的同時(shí)照亮所述記錄介質(zhì)的照明器。
全文摘要
本發(fā)明涉及用于改變記錄裝置(10)的校準(zhǔn)以調(diào)節(jié)幾何畸變的方法，所述方法包括提供用于承載記錄介質(zhì)(17)的介質(zhì)支架(12)；操作包括多個(gè)單獨(dú)可尋址的記錄通道(23)的記錄頭(16)以在所述記錄介質(zhì)以第一取向(50A)被定位在所述介質(zhì)支架上的同時(shí)在所述記錄介質(zhì)上形成第一圖像特征(60)；操作記錄頭以在所述記錄介質(zhì)以第二取向(50B)被定位在所述介質(zhì)支架上的同時(shí)在所述記錄介質(zhì)上形成第二圖像特征(62)，所述第二取向不同于所述第一取向；檢測(cè)所述第一圖像特征與所述第二圖像特征之間的所預(yù)期的間隔的變化；以及依照被檢測(cè)到的變化進(jìn)行成像糾正。
文檔編號(hào)B41J2/00GK102439962SQ201080020933
公開(kāi)日2012年5月2日 申請(qǐng)日期2010年4月22日 優(yōu)先權(quán)日2009年5月7日
發(fā)明者A·瓦爾內(nèi)斯 申請(qǐng)人:伊斯曼柯達(dá)公司