專利名稱：用于點(diǎn)陣式打印頭的檢測方法和裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及打印機(jī)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種用于點(diǎn)陣式打印頭的檢測方法和裝置。
背景技術(shù)：
當(dāng)前，點(diǎn)陣式打印機(jī)廣泛應(yīng)用于銀行、超市等領(lǐng)域。點(diǎn)陣式打印機(jī)的工作原理是通 過打印頭內(nèi)驅(qū)動線圈的磁動力驅(qū)動打印針將色帶上的墨汁擊打到介質(zhì)上，形成圖像、文字， 由于利用打印針的物理沖擊力進(jìn)行打印，因此打印信息可以長時間保存。在打印頭工作過程中，隨著工作時間的增加，打印針驅(qū)動線圈溫度會不斷升高。當(dāng) 溫度升高到超過其允許的最高值時，驅(qū)動線圈電阻會突然變小，打印頭驅(qū)動線圈因電流變 大而很快永久性損壞，繼續(xù)使用損壞的驅(qū)動線圈打印很容易因長時間過流而燒毀打印頭驅(qū) 動電路?，F(xiàn)有技術(shù)提供了一種點(diǎn)陣式打印機(jī)打印頭保護(hù)方法，通過檢測打印頭的溫度變 化，當(dāng)打印頭的溫度比較高時降低打印速度，打印頭溫度降低后再以正常打印速度打印。在實(shí)現(xiàn)本發(fā)明過程中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)中由于點(diǎn)陣式打印頭的損壞是一個漸 變的過程，連續(xù)的出針打印使得使用最頻繁的打印針的驅(qū)動線圈溫度最先上升，然后是其 他打印針的驅(qū)動線圈溫度上升，而現(xiàn)有的檢測方法是測試打印頭的整體溫度，而不能檢測 打印頭內(nèi)某一個或某幾個驅(qū)動線圈的溫度變化，導(dǎo)致檢測打印頭溫度的方法由于不能實(shí)時 準(zhǔn)確地檢測打印頭的狀態(tài)而造成打印頭的損壞。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明旨在提供一種用于點(diǎn)陣式打印頭的檢測方法和裝置，能夠解決現(xiàn)有技術(shù)中 檢測打印頭溫度的方法由于不能實(shí)時準(zhǔn)確地檢測打印頭的狀態(tài)而造成打印頭損壞的問題。在本發(fā)明的實(shí)施例中，提供了一種用于點(diǎn)陣式打印頭的檢測方法，包括以下步驟 測試點(diǎn)陣式打印頭的驅(qū)動線圈的電阻；根據(jù)電阻確定點(diǎn)陣式打印頭的狀態(tài)。在本發(fā)明的實(shí)施例中，還提供了一種用于點(diǎn)陣式打印頭的檢測裝置，包括測試模 塊，用于測試點(diǎn)陣式打印頭的驅(qū)動線圈的電阻；狀態(tài)分析模塊，用于根據(jù)測試模塊測試的電 阻確定點(diǎn)陣式打印頭的狀態(tài)。在本實(shí)施例中，通過測試點(diǎn)陣式打印頭的驅(qū)動線圈的電阻，實(shí)時檢測點(diǎn)陣式打印 頭的驅(qū)動線圈的使用狀況，進(jìn)而根據(jù)驅(qū)動線圈的狀態(tài)確定點(diǎn)陣式打印頭的狀態(tài)，達(dá)到了實(shí) 時準(zhǔn)確地檢測點(diǎn)陣式打印頭狀態(tài)的目的，克服了現(xiàn)有技術(shù)中檢測打印頭溫度的方法由于不 能實(shí)時準(zhǔn)確地檢測打印頭的狀態(tài)而造成打印頭損壞的問題。


此處所說明的附圖用來提供對本發(fā)明的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本申請的一部分，本發(fā) 明的示意性實(shí)施例及其說明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中
圖1示出了根據(jù)本發(fā)明一個實(shí)施例的用于點(diǎn)陣式打印頭的檢測方法流程圖；圖2示出了根據(jù)本發(fā)明一個實(shí)施例的驅(qū)動線圈電壓測試流程圖；圖3示出了根據(jù)本發(fā)明一個實(shí)施例的點(diǎn)陣式打印頭狀態(tài)分析流程圖；圖4示出了根據(jù)本發(fā)明一個實(shí)施例的根據(jù)點(diǎn)陣式打印頭異常狀態(tài)對打印方式進(jìn) 行調(diào)整的流程圖；圖5示出了根據(jù)本發(fā)明一個實(shí)施例的用于點(diǎn)陣式打印頭的檢測裝置模塊圖；圖6示出了根據(jù)本發(fā)明一個實(shí)施例的測試模塊的電路示意圖；圖7示出了根據(jù)圖6實(shí)施例的所有打印針關(guān)閉時的打印頭檢測電路示意圖；圖8示出了根據(jù)圖6實(shí)施例的只對一路打印針進(jìn)行測試時的打印頭檢測電路示意 圖；圖9示出了將圖6實(shí)施例中的驅(qū)動線圈等效為電感的標(biāo)識示意圖。
具體實(shí)施例方式下面將參考附圖并結(jié)合實(shí)施例，來詳細(xì)說明本發(fā)明。圖1示出了根據(jù)本發(fā)明一個實(shí)施例的用于點(diǎn)陣式打印頭的檢測方法流程圖，包括 以下步驟S102，測試點(diǎn)陣式打印頭的驅(qū)動線圈的電阻；S104，根據(jù)電阻確定點(diǎn)陣式打印頭的狀態(tài)。在本實(shí)施例中，通過測試點(diǎn)陣式打印頭的驅(qū)動線圈的電阻，實(shí)時檢測點(diǎn)陣式打印 頭的驅(qū)動線圈的使用狀況，進(jìn)而根據(jù)驅(qū)動線圈的狀態(tài)確定點(diǎn)陣式打印頭的狀態(tài)，達(dá)到了實(shí) 時準(zhǔn)確地檢測點(diǎn)陣式打印頭狀態(tài)的目的，克服了現(xiàn)有技術(shù)中檢測打印頭溫度的方法由于不 能實(shí)時準(zhǔn)確地檢測打印頭的狀態(tài)而造成打印頭損壞的問題。優(yōu)選地，在上述檢測方法中，測試點(diǎn)陣式打印頭的驅(qū)動線圈的電阻具體包括關(guān)閉 點(diǎn)陣式打印頭的工作電源，采用測試電路逐一對所述驅(qū)動線圈供電，將測試電路的測試電 壓記錄為第一測試電壓；將第一測試電壓轉(zhuǎn)換為驅(qū)動線圈的導(dǎo)通電阻Ron。在本實(shí)施例中，通過關(guān)閉點(diǎn)陣式打印頭的工作電源，防止打印頭在檢測過程中將 打印針伸出；同時，在逐一對驅(qū)動線圈供電進(jìn)行測試時，由于測試電源的電壓較低，驅(qū)動線 圈通過的電流很小，點(diǎn)陣式打印頭不會出針打印。優(yōu)選地，在上述檢測方法中，根據(jù)電阻確定點(diǎn)陣式打印頭的狀態(tài)具體包括如果 Ron < R1，記錄驅(qū)動線圈為故障狀態(tài)；如果Ron > Rh，記錄驅(qū)動線圈為異常狀態(tài)；其中，R1為 驅(qū)動線圈故障時的電阻值，Rh為驅(qū)動線圈產(chǎn)生異常時的電阻值。例如，在本發(fā)明的一個實(shí)施例中，將第一測試電壓轉(zhuǎn)換為驅(qū)動線圈的導(dǎo)通電阻 Ron, Ron = Rref XVm1Zi(Vcc-Vm1)，其中，Vm1為第一測試電壓，Vcc為測試電路的工作電壓， Rref為參考電阻的阻值；對開路電阻與導(dǎo)通電阻進(jìn)行分析，確定點(diǎn)陣式打印頭的狀態(tài)。優(yōu)選地，上述測試方法中，在測試第一測試電壓之前，還包括以下步驟斷開點(diǎn)陣 式打印頭的所有驅(qū)動線圈；將驅(qū)動線圈開路時測試電路的測試電壓記錄為第二測試電壓； 將第二測試電壓轉(zhuǎn)換為驅(qū)動線圈的開路電阻Roff。例如，在本發(fā)明的一個實(shí)施例中，將第二測試電壓轉(zhuǎn)換為驅(qū)動線圈的開路電阻 Roff, Roff = Rref XVm2/(Vcc-Vm2)，其中，Vm2為第二測試電壓，Vcc為測試電路的工作電壓，Rref參考電阻的阻值。優(yōu)選地，在上述測試方法中，根據(jù)電阻確定點(diǎn)陣式打印頭的狀態(tài)包括如果Roff < Rm，記錄驅(qū)動電路為短路狀態(tài)，停止對點(diǎn)陣式打印頭的測試；其中，Rm為所有驅(qū)動線圈斷 開時點(diǎn)陣式打印頭的開路電阻理論值。圖2示出了根據(jù)本發(fā)明一個實(shí)施例的驅(qū)動線圈電阻測試流程圖，包括以下步驟S202，關(guān)閉打印頭工作電源，防止打印頭在檢測過程中出針；S204，不選擇任何的打印針驅(qū)動線圈，即斷開打印頭的所有驅(qū)動線圈；S206，測量驅(qū)動線圈開路時的開路電阻Roff ；S208，對一路驅(qū)動線圈供電，即通過打印針控制信號選擇該打印針的驅(qū)動線圈使 其接通測試電源，由于測試電源的電壓很低，線圈通過的電流很小，因此不會出針打??；S210，測量驅(qū)動線圈的導(dǎo)通電阻Ron ；S212，斷開該路驅(qū)動線圈，防止對其他驅(qū)動線圈進(jìn)行測試時產(chǎn)生影響；S214，判斷所有驅(qū)動線圈是否測試完，如果沒有測試完，則轉(zhuǎn)到步驟S208繼續(xù)下 一路驅(qū)動線圈的測試；如果所有驅(qū)動線圈都測試完，則進(jìn)入測試阻值的分析處理過程。圖3示出了根據(jù)本發(fā)明一個實(shí)施例的點(diǎn)陣式打印頭狀態(tài)分析流程圖，包括以下步 驟 S302，對驅(qū)動電路的開路電阻Roff進(jìn)行處理，如果Roff < Rm,則轉(zhuǎn)到步驟S308記 錄驅(qū)動電路短路，測試阻值的處理過程結(jié)束；否則，轉(zhuǎn)到步驟S304繼續(xù)下一步判斷處理；S304,對導(dǎo)通電阻Ron進(jìn)行處理，如果Ron < R1，則轉(zhuǎn)入步驟S310記錄該路驅(qū)動線 圈已發(fā)生故障；否則進(jìn)行步驟S306的判斷處理；S306，如果導(dǎo)通電阻Ron > Rh，則轉(zhuǎn)入步驟S312記錄該驅(qū)動線圈發(fā)生異常；否則， 記錄該驅(qū)動線圈正常；S314，判斷所有的驅(qū)動線圈的導(dǎo)通電阻Ron是否都處理完。如果未處理完，則轉(zhuǎn)到 步驟S304繼續(xù)進(jìn)行下一路驅(qū)動線圈的導(dǎo)通電阻的處理；否則，驅(qū)動線圈測試阻值的處理過
程結(jié)束。如果所有驅(qū)動線圈的導(dǎo)通電阻Ron均在正常范圍內(nèi)，即Rl彡Ron彡Rh，則表示打 印頭所有驅(qū)動線圈都正常，可以正常打??；只要有一路驅(qū)動線圈的線圈電阻處于故障范圍， 即Ron < R1，則表示打印頭線圈已出現(xiàn)故障，如線圈絕緣材料融化等引起線圈電阻明顯變 小等，繼續(xù)打印存在燒毀驅(qū)動電路的風(fēng)險；只要有一路驅(qū)動線圈的線圈電阻處于異常范圍， 即Ron > Rh，則表示該路驅(qū)動線圈發(fā)生異常，如打印頭明顯過熱等，需要采取適當(dāng)措施來保 護(hù)驅(qū)動線圈，防止驅(qū)動線圈異常狀態(tài)的延續(xù)，從而突變?yōu)椴豢苫謴?fù)的故障狀態(tài)而導(dǎo)致不能 使用。優(yōu)選地，在上述檢測方法中，還包括以下步驟當(dāng)驅(qū)動線圈為故障狀態(tài)時，斷開相 應(yīng)的驅(qū)動線圈，并采用其它的驅(qū)動線圈進(jìn)行補(bǔ)償打??；當(dāng)驅(qū)動線圈為異常狀態(tài)時，降低點(diǎn)陣 式打印頭的打印速度；當(dāng)驅(qū)動電路為短路狀態(tài)時，禁止點(diǎn)陣式打印頭繼續(xù)打印。在本實(shí)施例中，通過實(shí)時檢測打印頭驅(qū)動線圈的工作狀況，在出現(xiàn)異常時立即報 警，并進(jìn)而采取相應(yīng)的措施，防止異常的進(jìn)一步加深，讓打印頭從異常狀況下恢復(fù)正常，根 據(jù)已調(diào)整的打印方式對打印數(shù)據(jù)進(jìn)行打印。例如，當(dāng)出現(xiàn)打印頭故障時，可以關(guān)閉故障部分 的驅(qū)動電路，防止燒毀打印頭線圈、燒毀驅(qū)動電路等。
如果所有驅(qū)動線圈的導(dǎo)通電阻Ron均在正常范圍內(nèi)，即Rl ( Ron ( Rh，測試結(jié)果 為點(diǎn)陣式打印頭處于正常狀態(tài)，則不進(jìn)行任何處理。圖4示出了根據(jù)本發(fā)明一個實(shí)施例的根據(jù)點(diǎn)陣式打印頭異常狀態(tài)對打印方式進(jìn) 行調(diào)整的流程圖，包括以下步驟S401，測試結(jié)果是否為驅(qū)動電路短路。如果驅(qū)動電路短路則由步驟S404報警驅(qū)動 電路短路，并關(guān)閉打印頭電源；再由步驟S405把打印方式調(diào)整為禁止打印；如果驅(qū)動電路 未短路，則進(jìn)行下一步判斷；S402，判斷是否有驅(qū)動線圈損壞。如果有驅(qū)動線圈損壞，則由步驟S406報警驅(qū)動 線圈損壞，關(guān)閉該打印針驅(qū)動線圈；再由步驟S407把打印方式調(diào)整為補(bǔ)償打印，由其他正 常打印針對損壞的打印針進(jìn)行補(bǔ)償，延長打印頭的使用壽命；如果沒有驅(qū)動線圈損壞，則繼 續(xù)進(jìn)行下一步處理；S403，判斷是否有驅(qū)動線圈異常，如果有驅(qū)動線圈發(fā)生異常，則由步驟S408報警 驅(qū)動線圈異常，再由步驟S409把打印方式調(diào)整為降速打印，對打印頭進(jìn)行保護(hù)使用，使打 印頭盡快恢復(fù)到正常狀態(tài)，防止打印針驅(qū)動線圈的進(jìn)一步惡化。降速打印的方法有很多，可 以采用逐漸降速的方式或打印頭單向打印方式等；如果沒有驅(qū)動線圈發(fā)生異常，則由步驟 S410不進(jìn)行打印頭報警，打印頭及其驅(qū)動電路正常。再由步驟S411把打印方式調(diào)整為正常 打印，表示打印頭良好，可以繼續(xù)正常使用。對打印方式進(jìn)行調(diào)整的目的是，在打印頭驅(qū)動電路出現(xiàn)短路等嚴(yán)重故障時，禁止 打印，防止燒毀打印頭；在驅(qū)動線圈發(fā)生故障時，屏蔽發(fā)生故障的打印針，可以采用補(bǔ)償措 施補(bǔ)償發(fā)生故障的打印針，繼續(xù)進(jìn)行打印；當(dāng)驅(qū)動線圈出現(xiàn)異常時，采取適當(dāng)措施，如減速 打印、單向打印、或間歇打印等，讓驅(qū)動線圈迅速恢復(fù)到正常狀態(tài)，防止異常狀態(tài)的惡化；當(dāng) 打印頭一切正常時，不需要采取任何措施，打印頭正常使用。圖5示出了根據(jù)本發(fā)明一個實(shí)施例的用于點(diǎn)陣式打印頭的檢測裝置模塊圖，包 括測試模塊10，用于測試點(diǎn)陣式打印頭的驅(qū)動線圈的電阻；狀態(tài)分析模塊20，用于根據(jù)測試模塊10測試的電阻確定點(diǎn)陣式打印頭的狀態(tài)。在本實(shí)施例中，通過測試點(diǎn)陣式打印頭的驅(qū)動線圈的電阻，實(shí)時檢測點(diǎn)陣式打印 頭的驅(qū)動線圈的使用狀況，進(jìn)而根據(jù)驅(qū)動線圈的狀態(tài)確定點(diǎn)陣式打印頭的狀態(tài)，達(dá)到了實(shí) 時準(zhǔn)確地檢測點(diǎn)陣式打印頭狀態(tài)的目的，克服了現(xiàn)有技術(shù)中檢測打印頭溫度的方法由于不 能實(shí)時準(zhǔn)確地檢測打印頭的狀態(tài)而造成打印頭損壞的問題。優(yōu)選地，在上述檢測裝置中，測試模塊具體包括第一測試單元，用于在對驅(qū)動線 圈供電的情況下，逐一測試并記錄驅(qū)動線圈的第一測試電壓；第一計算單元，用于將第一測 試電壓轉(zhuǎn)換為驅(qū)動線圈的導(dǎo)通電阻Ron ；優(yōu)選地，在上述檢測裝置中，測試模塊還包括第二測試單元，用于在關(guān)閉點(diǎn)陣式 打印頭的工作電源以及斷開點(diǎn)陣式打印頭的所有驅(qū)動線圈的情況下，測試并記錄驅(qū)動線圈 開路時的第二測試電壓；第二計算單元，用于將第二測試電壓轉(zhuǎn)換為驅(qū)動線圈的開路電阻 Roff0優(yōu)選地，在上述檢測裝置中，還包括報警單元，用于當(dāng)點(diǎn)陣式打印頭狀態(tài)異常時， 發(fā)出預(yù)先設(shè)定的警報；異常處理單元，用于當(dāng)點(diǎn)陣式打印頭狀態(tài)異常時，執(zhí)行預(yù)先設(shè)定的動
7作。例如，通過實(shí)時檢測打印頭驅(qū)動線圈的工作狀況，在出現(xiàn)異常時立即報警，并進(jìn)而 采取相應(yīng)的措施，防止異常的進(jìn)一步加深，讓打印頭從異常狀況下恢復(fù)正常，根據(jù)已調(diào)整的 打印方式對打印數(shù)據(jù)進(jìn)行打印。例如，當(dāng)出現(xiàn)打印頭故障時，可以關(guān)閉故障部分的驅(qū)動電 路，防止燒毀打印頭線圈、燒毀驅(qū)動電路等。如果所有驅(qū)動線圈的導(dǎo)通電阻Ron均在正常范圍內(nèi)，即Rl ( Ron ( Rh，測試結(jié)果 為點(diǎn)陣式打印頭的狀態(tài)正常，則不進(jìn)行任何處理。圖6示出了根據(jù)本發(fā)明一個實(shí)施例的測試模塊的電路示意圖，如圖6所示，打印頭 測試模塊包括4部分，分別為打印頭的供電控制部分1、打印頭等效電路3，打印頭驅(qū)動電路 4及檢測電路部分2，還包括2個供電電源，分別是給打印頭提供電源的高壓電源5和給檢 測電路提供電源的低壓電源6，為描述方便，將低壓電源6的電壓值記作Vcc。其中，打印頭 的供電控制部分1包括控制信號OPEN的上拉電阻R1、作為開關(guān)使用的MOS晶體管Q1，打印 頭的工作電源由高壓電源5通過MOS晶體管Ql提供給打印針驅(qū)動線圈；打印頭等效電路 3包括所有打印針的驅(qū)動線圈，如圖中的驅(qū)動線圈31、32、3n，打印頭的驅(qū)動線圈等效為圖9 所示的電感標(biāo)識，具有一定的電阻值，通常在幾歐到幾十歐之間，線圈通電則打印針從打印 頭中彈出，在介質(zhì)上打印出信息，線圈斷電則打印針回收到打印頭內(nèi)，準(zhǔn)備下一次打??；打 印頭驅(qū)動電路4，控制打印頭線圈是否供電，由多個MOS晶體管組成，每個MOS晶體管驅(qū)動一 個線圈，如MOS晶體管41驅(qū)動打印針線圈31，每個打印針的驅(qū)動線圈與該線圈的驅(qū)動MOS 晶體管串行聯(lián)接為一組，各組之間并行聯(lián)接，每個驅(qū)動MOS晶體管的導(dǎo)通、關(guān)斷由打印針控 制信號Sl、S2、Sn控制，打印針控制信號為高電平則驅(qū)動MOS晶體管導(dǎo)通、打印針線圈通電， 印針控制信號為低電平則驅(qū)動MOS晶體管關(guān)斷、打印針線圈斷電；檢測電路部分2包括參考 電阻Rref和二極管Dl，二極管Dl設(shè)置在參考電阻Rref和打印頭等效電路之間，二極管Dl 把低壓工作的檢測電路部分與高壓工作的線圈驅(qū)動電路部分進(jìn)行隔離，保護(hù)檢測電路。由于打印針線圈異常時其阻值會發(fā)生明顯的變化，從而引起其電壓發(fā)生明顯變 化，因此，通過測試打印針線圈對低壓電源6的分壓值，把分壓值轉(zhuǎn)換為打印針線圈的測試 阻值R，把R與打印針線圈正常情況下的理論阻值進(jìn)行比較，就可以判斷打印針線圈是否正 常，該測試電壓Vm由信號CHECK輸出。需要說明的是，由于在線圈的導(dǎo)通、斷開過程中會產(chǎn) 生較高的反向電壓，因此二極管Dl必須保證足夠大的反向耐壓值，同時由于二極管Dl在導(dǎo) 通時有一定的壓降，對測試結(jié)果的準(zhǔn)確性會產(chǎn)生一定影響，因此要選擇反向耐壓高、導(dǎo)通電 壓盡量小的二極管。高壓電源5的電壓值明顯高于低壓電源6，其電壓值由打印頭的設(shè)計參 數(shù)確定，通常為24V ；而低壓電源6的電壓值由測試電路確定，一般為3. 3V或2. 5V等甚至 更低。打印頭進(jìn)行打印時，首先由供電控制部分1向打印頭線圈3提供高壓電源5，然后 由打印頭驅(qū)動電路4根據(jù)打印針控制信號給要打印的打印針線圈通電；不進(jìn)行打印時，斷 開所有打印針線圈的驅(qū)動MOS晶體管，使打印針線圈斷電；在打印頭空閑時，還要由供電控 制部分1斷開高壓電源5，保護(hù)打印針驅(qū)動電路，防止因打印針控制信號的誤操作引起打印 頭的誤出針；只有在斷開高壓電源5的情況下才對打印頭進(jìn)行測試，防止在測試過程中打 印頭出針打印。打印頭的具體工作過程如下，當(dāng)打印頭進(jìn)行打印時，由控制信號OPEN控制MOS晶體管Ql導(dǎo)通，使高壓電源5通過導(dǎo)通的Ql給打印頭線圈供電；然后，根據(jù)要打印的點(diǎn)(dot 或pixel)由打印針控制信號Si、S2、Sn使相應(yīng)的驅(qū)動MOS晶體管41、42、4n導(dǎo)通，在相應(yīng) 的打印針驅(qū)動線圈31、32、3n接通高壓電源5時，打印針出針打印。當(dāng)收回打印針時，通過 針控制信號關(guān)斷相應(yīng)的驅(qū)動MOS晶體管使線圈斷電。當(dāng)打印頭空閑時，控制信號OPEN控制 MOS晶體管Ql關(guān)閉，斷開工作高壓電源5，保證打印頭的所有線圈都不通電。測試部分的工作電源由低壓電源6提供，測試電壓Vm由信號CHECK輸出。進(jìn)行 電壓檢測時，先由控制信號OPEN控制MOS晶體管Ql關(guān)閉，斷開高壓電源5，防止對線圈進(jìn) 行選通測試時造成打印針出針現(xiàn)象；然后根據(jù)測試需要，通過針控制信號Si、S2、Sn逐一 選擇要測試的打印針線圈，使該打印針驅(qū)動電路MOS晶體管導(dǎo)通，隨后測試線圈電阻與參 考電阻Rref對低壓電源6的分壓值即測試電壓Vm，由信號CHECK輸出，最后利用公式R = Rref X Vm/(Vcc-Vm)把測試電壓Vm轉(zhuǎn)換為測試電阻R以進(jìn)行分析處理。由于MOS管導(dǎo)通時的電阻非常小、斷開時的電阻非常大，因此可以把其等效為一 個開關(guān)，導(dǎo)通時相當(dāng)于開關(guān)關(guān)閉、關(guān)斷時相當(dāng)于開關(guān)斷開。當(dāng)所有線圈都不選通時，其等效 的檢測電路如圖3-1所示，此時所有的MOS晶體管都等效為一個斷開的開關(guān)，進(jìn)行測試測試 時，如果測試結(jié)果為線圈導(dǎo)通，則表示打印頭線圈的驅(qū)動電路損毀，即MOS晶體管(41、42、 4η)中有短路的，也許已被瞬間高電壓擊穿。當(dāng)對單路線圈進(jìn)行測試時，其等效的檢測電路 如圖3-2所示，此時只有線圈31導(dǎo)通，線圈電阻發(fā)生變化時，其測試電壓CHECK也會發(fā)生變 化。參考電阻Rref的阻值，其優(yōu)選的取值大約等于正常線圈電阻值，阻值太大，因線圈阻值 變化而引起測試電壓變化的變化幅度變?。蛔柚堤?，因線圈電阻值變化而引起測試電壓 變化的變化幅度過大；電阻Rref的阻值取值過大、過小都不利于在線圈電阻的變化范圍內(nèi) 準(zhǔn)確的跟蹤其變化。顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)該明白，上述的本發(fā)明的各模塊或各步驟可以用通用 的計算裝置來實(shí)現(xiàn)，它們可以集中在單個的計算裝置上，或者分布在多個計算裝置所組成 的網(wǎng)絡(luò)上，可選地，它們可以用計算裝置可執(zhí)行的程序代碼來實(shí)現(xiàn)，從而，可以將它們存儲 在存儲裝置中由計算裝置來執(zhí)行，或者將它們分別制作成各個集成電路模塊，或者將它們 中的多個模塊或步驟制作成單個集成電路模塊來實(shí)現(xiàn)。這樣，本發(fā)明不限制于任何特定的 硬件和軟件結(jié)合。以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對于本領(lǐng)域的技 術(shù)人員來說，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修 改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
一種用于點(diǎn)陣式打印頭的檢測方法，其特征在于，包括以下步驟測試所述點(diǎn)陣式打印頭的驅(qū)動線圈的電阻；根據(jù)所述電阻確定所述點(diǎn)陣式打印頭的狀態(tài)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測方法，其特征在于，測試點(diǎn)陣式打印頭的驅(qū)動線圈的電 阻具體包括關(guān)閉點(diǎn)陣式打印頭的工作電源，采用測試電路逐一對所述驅(qū)動線圈供電，將所述測試 電路的測試電壓記錄為第一測試電壓；將所述第一測試電壓轉(zhuǎn)換為所述驅(qū)動線圈的導(dǎo)通電阻Ron。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測方法，其特征在于，根據(jù)所述電阻確定所述點(diǎn)陣式打印 頭的狀態(tài)具體包括如果Ron < R1，記錄所述驅(qū)動線圈為故障狀態(tài)； 如果Ron > Rh，記錄所述驅(qū)動線圈為異常狀態(tài)；其中，R1為所述驅(qū)動線圈故障時的電阻值，Rh為所述驅(qū)動線圈產(chǎn)生異常時的電阻值。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測方法，其特征在于，在測試所述第一測試電壓之前，還包 括以下步驟斷開所述點(diǎn)陣式打印頭的所有驅(qū)動線圈；將所述驅(qū)動線圈開路時測試電路的測試電壓記錄為第二測試電壓； 將所述第二測試電壓轉(zhuǎn)換為所述驅(qū)動線圈的開路電阻Roff。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的檢測方法，其特征在于，根據(jù)所述電阻確定所述點(diǎn)陣式打印 頭的狀態(tài)包括如果Roff < Rm，記錄驅(qū)動電路為短路狀態(tài)，停止對所述點(diǎn)陣式打印頭的測試； 其中，所述Rm為所有所述驅(qū)動線圈斷開時所述點(diǎn)陣式打印頭的開路電阻理論值。
6.根據(jù)權(quán)利要求3或5所述的檢測方法，其特征在于，還包括以下步驟當(dāng)所述驅(qū)動線圈為故障狀態(tài)時，斷開所述驅(qū)動線圈，并采用其它的驅(qū)動線圈進(jìn)行補(bǔ)償 打??；當(dāng)所述驅(qū)動線圈為異常狀態(tài)時，降低所述點(diǎn)陣式打印頭的打印速度； 當(dāng)所述驅(qū)動電路為短路狀態(tài)時，禁止所述點(diǎn)陣式打印頭繼續(xù)打印。
7.一種用于點(diǎn)陣式打印頭的檢測裝置，其特征在于，包括 測試模塊，用于測試所述點(diǎn)陣式打印頭的驅(qū)動線圈的電阻；狀態(tài)分析模塊，用于根據(jù)所述測試模塊測試的所述電阻確定所述點(diǎn)陣式打印頭的狀態(tài)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的檢測裝置，其特征在于，所述測試模塊具體包括第一測試單元，用于在采用測試電路對所述驅(qū)動線圈供電的情況下，逐一測試并記錄 所述驅(qū)動線圈的第一測試電壓。第一計算單元，用于將所述第一測試電壓轉(zhuǎn)換為所述驅(qū)動線圈的導(dǎo)通電阻Ron ；
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的檢測裝置，其特征在于，所述測試模塊還包括第二測試單元，用于在關(guān)閉點(diǎn)陣式打印頭的工作電源以及斷開所述點(diǎn)陣式打印頭的所 有驅(qū)動線圈的情況下，測試并記錄所述驅(qū)動線圈開路時的第二測試電壓；第二計算單元，用于將所述第二測試電壓轉(zhuǎn)換為所述驅(qū)動線圈的開路電阻Roff。
10.根據(jù)權(quán)利要求7-9任一項(xiàng)所述的檢測裝置，其特征在于，還包括 報警單元，用于當(dāng)所述點(diǎn)陣式打印頭狀態(tài)異常時，發(fā)出預(yù)先設(shè)定的警報； 異常處理單元，用于當(dāng)所述點(diǎn)陣式打印頭狀態(tài)異常時，執(zhí)行預(yù)先設(shè)定的動作。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種用于點(diǎn)陣式打印頭的檢測方法和裝置，其中，方法包括以下步驟測試點(diǎn)陣式打印頭的驅(qū)動線圈的電阻；根據(jù)電阻確定點(diǎn)陣式打印頭的狀態(tài)。本發(fā)明克服了現(xiàn)有技術(shù)中檢測打印頭溫度的方法由于不能實(shí)時準(zhǔn)確地檢測打印頭的狀態(tài)而造成打印頭損壞的問題。
文檔編號B41J2/30GK101941332SQ20091015158
公開日2011年1月12日 申請日期2009年7月3日 優(yōu)先權(quán)日2009年7月3日
發(fā)明者于轉(zhuǎn)龍, 區(qū)敏剛, 姚興茂, 王春濤, 王玉國, 車?yán)?申請人:山東新北洋信息技術(shù)股份有限公司