專利名稱：Tft-lcd液晶玻璃原材料粒度測(cè)試粉塵收集裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種TFT-IXD液晶玻璃原材料粒度測(cè)試粉塵收集裝置。
背景技術(shù)：
TFT-LCD玻璃基板所需原材料繁多，大多都是粉末狀和粒狀，據(jù)TFT-LCD玻璃基板工藝制程的要求，必須根據(jù)原材料技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)來采購(gòu)原材料和入廠驗(yàn)收，對(duì)粒度要求也高，目前，測(cè)粉料粒度時(shí)采用易于獲得的機(jī)械設(shè)備一振動(dòng)篩分機(jī)及實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)篩，該方法的特點(diǎn)是簡(jiǎn)單快速，設(shè)備成本購(gòu)置、維護(hù)成本低，檢測(cè)成本低，但是測(cè)完用電子天平測(cè)定每一篩上物，在稱樣時(shí)，特別是粉料，會(huì)造成嚴(yán)重的粉塵污染，影響員工的身體健康
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的是針對(duì)上述情況，提供一種TFT-LCD液晶玻璃原材料粒度測(cè)試粉塵收集裝置。本實(shí)用新型的目的通過下述技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)一種TFT-LCD液晶玻璃原材料粒度測(cè)試粉塵收集裝置，包括支撐架、放置在所述支撐架底部的承樣托盤、套在所述支撐架外部并密封整個(gè)支撐架的透明的防塵罩，所述防塵罩上設(shè)有拉鏈和兩個(gè)操作孔。作為優(yōu)選方式，所述防塵罩為圓柱體形狀。作為優(yōu)選方式，所述防塵罩為透明布料做成的防塵罩。作為優(yōu)選方式，所述防塵罩的直徑比所述承樣托盤的直徑大1-2厘米。作為優(yōu)選方式，所述操作孔的直徑為8-10厘米。作為優(yōu)選方式，所述操作孔與承樣托盤之間的垂直高度差為8-10厘米。作為優(yōu)選方式，所述防塵罩的直徑比標(biāo)準(zhǔn)篩的直徑大5-10厘米。本實(shí)用新型的工作過程在稱每一篩上物前，先轉(zhuǎn)移粉料，其具體過程為拉開拉鏈，把裝有粉料的標(biāo)準(zhǔn)篩移入防塵罩中，拉下拉鏈后，兩手從操作孔伸入防塵罩中，拍打篩子使粉料全部落入承樣托盤中，待粉塵沉寂后，將粉料連同承樣托盤于電子天平上稱量。本實(shí)用新型的有益效果本裝置防止了粉料的外泄，使稱量更加準(zhǔn)確，保證了粒度分析的準(zhǔn)確性，避免造成環(huán)境污染，避免了對(duì)操作人員健康的危害，成本低，使用方便。

圖I為本實(shí)用新型的示意圖。其中，I為防塵罩,2為承樣托盤,3為拉鏈,4為操作孔,5為支撐架。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合具體實(shí)施例和附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的說明。一種TFT-IXD液晶玻璃原材料粒度測(cè)試粉塵收集裝置，包括支撐架5、放置在所述支撐架5底部的承樣托盤2、套在所述支撐架外部并密封整個(gè)支撐架的透明的防塵罩1，所述防塵罩I上設(shè)有拉鏈3和兩個(gè)操作孔4，防塵罩I為圓柱體形狀，防塵罩I為透明布料做成的防塵罩，防塵罩I的直徑比標(biāo)準(zhǔn)篩的直徑大5-10厘米，防塵罩I的直徑比所述承樣托盤2的直徑大1-2厘米，操作孔4的直徑為8-10厘米，操作孔4與承樣托盤2之間的垂直高度差為8-10厘米。本實(shí)用新型的工作過程在稱每一篩上物前，先轉(zhuǎn)移粉料，其具體過程為拉開拉鏈3，把裝有粉料的標(biāo)準(zhǔn)篩移入防塵罩中，拉下拉鏈后，兩手從操作孔伸入防塵罩中，拍打篩子使粉料全部落入承樣托盤2中，待粉塵沉寂后，將粉料連同承樣托盤于電子天平上稱量。以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本實(shí)用新型，凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)?！?br> 權(quán)利要求1.一種TFT-LCD液晶玻璃原材料粒度測(cè)試粉塵收集裝置，其特征在于包括支撐架(5)、放置在所述支撐架(5)底部的承樣托盤(2)、套在所述支撐架外部并密封整個(gè)支撐架的透明的防塵罩(1)，所述防塵罩(I)上設(shè)有拉鏈(3)和兩個(gè)操作孔(4)。
2.如權(quán)利要求I所述的TFT-LCD液晶玻璃原材料粒度測(cè)試粉塵收集裝置，其特征在于所述防塵罩(I)為圓柱體形狀。
3.如權(quán)利要求2所述的TFT-LCD液晶玻璃原材料粒度測(cè)試粉塵收集裝置，其特征在于所述防塵罩(I)為透明布料做成的防塵罩。
4.如權(quán)利要求3所述的TFT-LCD液晶玻璃原材料粒度測(cè)試粉塵收集裝置，其特征在于所述防塵罩(I)的直徑比所述承樣托盤(2)的直徑大1-2厘米。
5.如權(quán)利要求4所述的TFT-LCD液晶玻璃原材料粒度測(cè)試粉塵收集裝置，其特征在于所述操作孔(4)的直徑為8-10厘米。
6.如權(quán)利要求5所述的TFT-LCD液晶玻璃原材料粒度測(cè)試粉塵收集裝置，其特征在于所述操作孔(4)與承樣托盤(2)之間的垂直高度差為8-10厘米。
7.如權(quán)利要求6所述的TFT-LCD液晶玻璃原材料粒度測(cè)試粉塵收集裝置，其特征在于所述防塵罩(I)的直徑比標(biāo)準(zhǔn)篩的直徑大5-10厘米。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種TFT-LCD液晶玻璃原材料粒度測(cè)試粉塵收集裝置，包括支撐架、放置在所述支撐架底部的承樣托盤、套在所述支撐架外部并密封整個(gè)支撐架的透明的防塵罩，所述防塵罩上設(shè)有拉鏈和兩個(gè)操作孔，本裝置防止了粉料的外泄，使稱量更加準(zhǔn)確，保證了粒度分析的準(zhǔn)確性，避免造成環(huán)境污染，避免了對(duì)操作人員健康的危害，成本低，使用方便。
文檔編號(hào)B08B15/02GK202490812SQ20122006186
公開日2012年10月17日 申請(qǐng)日期2012年2月24日 優(yōu)先權(quán)日2012年2月24日
發(fā)明者馮慶, 李兆廷, 謝清華 申請(qǐng)人:東旭集團(tuán)有限公司, 成都中光電科技有限公司