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兆聲波清洗頭及具有該清洗頭的兆聲波清洗系統(tǒng)的制作方法

文檔序號(hào):1417941閱讀:320來(lái)源:國(guó)知局
專(zhuān)利名稱(chēng):兆聲波清洗頭及具有該清洗頭的兆聲波清洗系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體清洗工藝領(lǐng)域,特別地涉及一種兆聲波清洗頭及具有該清洗頭的兆聲波清洗系統(tǒng)。
背景技術(shù)
隨著亞微米及深亞微米超大規(guī)模集成電路(ULSI)遵循著“摩爾定律”迅速發(fā)展, 設(shè)計(jì)線寬急劇減小,半導(dǎo)體芯片的體積也越來(lái)越小,如何控制硅片表面材料的機(jī)械損傷,以及在保護(hù)硅片表面平整度的前提下最大限度的減少硅片缺陷密度、控制其不良率,這已經(jīng)成了當(dāng)今半導(dǎo)體清洗技術(shù)的一大挑戰(zhàn)。65納米節(jié)點(diǎn)以下控制電極與電容結(jié)構(gòu)越來(lái)越脆弱。 當(dāng)集成電路線寬越變?cè)叫?,可影響硅片不良率的粒子也越?lái)越小,而顆粒越小越難清洗。在芯片上如何避免微結(jié)構(gòu)損傷也是一個(gè)很具挑戰(zhàn)的難題,現(xiàn)今的清洗技術(shù)有很多種,兆聲波清洗以它特殊的能量作用方式一直被關(guān)注。兆聲波清洗的機(jī)理是由高能頻振效應(yīng)并結(jié)合化學(xué)清洗劑的化學(xué)反應(yīng)對(duì)硅片進(jìn)行清洗的。在清洗時(shí),由換能器發(fā)出波長(zhǎng)為ι μ m頻率為0. 8 兆赫的高能聲波,溶液分子在這種聲波的推動(dòng)下作加速運(yùn)動(dòng),最大瞬時(shí)速度可達(dá)到30cm/s。 因此,形成不了超聲波清洗那樣的氣泡,而只能以高速的流體波連續(xù)沖擊晶片表面,使硅片表面附著的污染物的細(xì)小微粒被強(qiáng)制除去并進(jìn)入到清洗液中。兆聲波清洗拋光片可去掉晶片表面上小于0. 2μπι的粒子,這種方法能同時(shí)起到機(jī)械擦片和化學(xué)清洗兩種方法的作用。 但對(duì)于兆聲波能量的方向和均勻度的控制還存在一定的缺陷,在清洗過(guò)程中,產(chǎn)生的垂直于硅柵的能量使其受到剪切力易產(chǎn)生彎曲變形甚至根部斷裂,對(duì)半導(dǎo)體造成損傷。

發(fā)明內(nèi)容
(一)要解決的技術(shù)問(wèn)題本發(fā)明的目的在于提供一種能夠在清洗過(guò)程中減少對(duì)半導(dǎo)體造成損傷的兆聲波清洗頭及具有該清洗頭的兆聲波清洗系統(tǒng)。( 二 )技術(shù)方案為了解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明提供一種兆聲波清洗頭,包括換能器;諧振器,用于傳播來(lái)自換能器的能量;該諧振器具有上表面和下表面,上表面耦合至換能器,諧振器內(nèi)部具有不通透上表面、下表面的真空的孔陣列。優(yōu)選地,所述孔陣列中的孔的幾何形狀包括但不限于圓柱式、蜂窩式。優(yōu)選地,圓柱式孔的長(zhǎng)度與等效直徑比為5 1到10 1。優(yōu)選地,所述換能器包括上殼體,具有電纜接頭,通過(guò)電纜接頭能夠與功率放大器連接;耦合層,包括壓電晶體和耦合片,壓電晶體與耦合片的上表面緊密連接,耦合層通過(guò)耦合片與上殼體耦合。優(yōu)選地,所述上殼體還具有一進(jìn)氣孔和一排氣孔,并且內(nèi)部具有一帶有多個(gè)均布凹槽的環(huán)狀凸臺(tái)將上殼體內(nèi)部分為內(nèi)外兩環(huán);由進(jìn)氣孔通入的冷卻氣,通過(guò)上殼體的內(nèi)環(huán)和凹槽能夠使耦合層被均勻冷卻后由排氣孔排除,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)耦合層的均勻冷卻。優(yōu)選地,所述耦合層還包括密封圈,設(shè)于耦合片上,用于將耦合片與上殼體耦合的耦合處密封。優(yōu)選地,所述耦合片由單一介質(zhì)或多介質(zhì)制成,厚度為1/4波長(zhǎng)的整數(shù)倍。優(yōu)選地,該兆聲波清洗頭及所述耦合層的形狀為但不限于圓柱形、長(zhǎng)方形或橢圓形。優(yōu)選地,所述諧振器內(nèi)的孔陣列的面積略大于壓電晶體的有效面積。優(yōu)選地,所述諧振器作為下殼體,與耦合片的下表面耦合,并通過(guò)連接釘與上殼體連接。本發(fā)明還提供一種具有上述兆聲波清洗頭的兆聲波清洗系統(tǒng),該系統(tǒng)還包括安裝支架,所述兆聲波清洗頭固定地或可移動(dòng)地安裝于安裝支架上。(三)有益效果本發(fā)明兆聲波清洗頭采用內(nèi)部具有圓柱形或其它幾何形狀的不通透的真空的孔陣列的諧振器,通過(guò)兆聲波在其內(nèi)部的多次反射起到補(bǔ)償消耗的作用,消除振動(dòng)波的不均勻性,實(shí)現(xiàn)兆聲波能量的均勻分布。當(dāng)半導(dǎo)體上噴有超純水或者化學(xué)液時(shí),通過(guò)兆聲波產(chǎn)生的均勻的流體波將半導(dǎo)體上的雜質(zhì)沖掉,并經(jīng)由液體的流動(dòng)被帶走,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)半導(dǎo)體的清洗,并且對(duì)半導(dǎo)體的破壞較小。


圖1為本發(fā)明兆聲波清洗頭一實(shí)施例的剖面結(jié)構(gòu)圖;圖2為本發(fā)明兆聲波清洗頭一實(shí)施例的組裝圖;圖3為本發(fā)明兆聲波清洗頭一實(shí)施例中上殼的結(jié)構(gòu)圖;圖4為本發(fā)明兆聲波清洗頭一實(shí)施例中耦合層的組裝圖;圖5為本發(fā)明兆聲波清洗頭一實(shí)施例中下殼體內(nèi)部結(jié)構(gòu)剖視圖;圖6為本發(fā)明的應(yīng)用示意圖。圖中標(biāo)號(hào)1-上殼體;11-凹槽;2-密封圈;3-電纜接頭;4-壓電晶體;5_耦合片; 6-下殼體;61-不通透的柱狀孔陣列;7-連接釘;8-進(jìn)氣接頭;81-進(jìn)氣孔;9-排氣接頭; 91-排氣孔;10-兆聲波清洗頭;20-硅片。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖和實(shí)施例,對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施方式
作進(jìn)一步詳細(xì)描述。以下實(shí)施例用于說(shuō)明本發(fā)明,但不是限制本發(fā)明的范圍。本發(fā)明所述的兆聲波清洗頭,包括換能器和諧振器,諧振器用于傳播來(lái)自換能器的能量;該諧振器具有上表面和下表面,上表面耦合至換能器,諧振器內(nèi)部具有不通透上表面、下表面的真空的孔陣列。如圖1-2所示,本發(fā)明所述的兆聲波清洗頭一實(shí)施例包括上殼體1、耦合層以及下殼體6 ;在本實(shí)施例中,換能器包括上殼體1和耦合層,諧振器即為下殼體6 ;如圖1-3所示,上殼體1 (材料為PVDF或其它抗腐蝕性高并且強(qiáng)度較好的非金屬材料)具有電纜接頭3,通過(guò)電纜接頭3能夠與功率放大器連接,并且一側(cè)上下分別具有進(jìn)氣孔81、排氣孔91以及內(nèi)部的一個(gè)帶有均布凹槽11的凸臺(tái),進(jìn)氣孔81、排氣孔91分別通過(guò)進(jìn)氣接頭8和排氣接頭9與外部連通;如圖2和圖4所示,耦合層包括壓電晶體4(常用材料為經(jīng)過(guò)極化處理的鋯鈦酸鉛)、耦合片5和密封圈2 ;壓電晶體4通過(guò)導(dǎo)電膠與耦合片5緊密粘結(jié)在一起,其中耦合片5由單一介質(zhì)或多介質(zhì)制成,其厚度為1/4波長(zhǎng)的整數(shù)倍,并且其上表面可以通過(guò)螺釘壓線連接電纜;密封圈2設(shè)于耦合片5上,用于將耦合片5與上殼體1耦合的耦合處密封;下殼體6 (材料為石英或紅寶石等兆聲波傳播性能較好可機(jī)加性較高的材質(zhì))的上表面與耦合片5耦合,并通過(guò)連接釘7與上殼體連接;如圖1和5所示,在下殼體6的內(nèi)部采用激光熔爆技術(shù)加工不通透的圓柱式真空的孔陣列61 (也可以是蜂窩式或其它幾何形狀), 孔陣列61的面積略大于壓電晶體4的有效面積,圓柱孔的長(zhǎng)度與等效直徑比為5 1到 10 1,使傳入的兆聲波通過(guò)多次反射其不均勻性被充分消除,同時(shí),下殼體也不宜過(guò)厚, 過(guò)厚會(huì)使兆聲波的有效能量在到達(dá)清洗表面之前衰減過(guò)多,清洗效果降低。該兆聲波清洗頭及耦合層的形狀可以為圓柱形、長(zhǎng)方形或橢圓形等其他幾何形狀。通過(guò)電纜接頭3與功率放大器連接對(duì)壓電晶體4施加一頻率為IMHz的交變電壓, 壓電晶體4在交變電壓的作用下產(chǎn)生振動(dòng)形成兆聲波,兆聲波通過(guò)耦合片5和下殼體6傳播。當(dāng)硅片上噴有超純水或者化學(xué)液時(shí),通過(guò)兆聲波產(chǎn)生的均勻的流體波將硅片上的雜質(zhì)沖掉,并經(jīng)由液體的流動(dòng)被帶走,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)硅片的清洗,并且對(duì)硅柵破壞較小。在工作過(guò)程中,由進(jìn)氣孔81通入的冷卻氣,通過(guò)上殼體的內(nèi)環(huán)和凹槽11能夠使耦合層被均勻冷卻后由排氣孔91排除,增加耦合層的使用周期,并且通過(guò)連接釘?shù)倪B接,環(huán)狀凸臺(tái)能夠壓緊耦合層,使其與下殼體6的連接緊密。本發(fā)明所述的兆聲波清洗系統(tǒng),該系統(tǒng)還包括安裝支架。上殼體1頂部有三個(gè)螺紋孔可以與系統(tǒng)的安裝支架(未示出)相連,清洗頭10通過(guò)其上的螺紋孔與相應(yīng)的安裝支架螺裝固定,與硅片20表面保持一定的距離(一般為3mm),如圖6所示。清洗頭與硅片之間不僅能夠進(jìn)行圓周的相對(duì)運(yùn)動(dòng)而且能夠?qū)崿F(xiàn)徑向的相對(duì)運(yùn)動(dòng),可以通過(guò)支架沿硅片徑向運(yùn)動(dòng)從而帶動(dòng)兆聲波清洗頭運(yùn)動(dòng),也可以是支架固定,清洗頭與支架上的滑塊固定連接,通過(guò)滑塊運(yùn)動(dòng)帶動(dòng)清洗頭運(yùn)動(dòng)等多種方式實(shí)現(xiàn)相對(duì)運(yùn)動(dòng)。以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式,應(yīng)當(dāng)指出,對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō),在不脫離本發(fā)明技術(shù)原理的前提下,還可以做出若干改進(jìn)和替換,這些改進(jìn)和替換也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種兆聲波清洗頭,其特征在于,包括換能器;諧振器,用于傳播來(lái)自換能器的能量;該諧振器具有上表面和下表面,上表面耦合至換能器,諧振器內(nèi)部具有不通透上表面、下表面的真空的孔陣列。
2.如權(quán)利要求1所述的兆聲波清洗頭,其特征在于,所述孔陣列中的孔的幾何形狀包括但不限于圓柱式、蜂窩式。
3.如權(quán)利要求2所述的兆聲波清洗頭,其特征在于,圓柱式孔的長(zhǎng)度與等效直徑比為 5 1 至Ij 10 1。
4.如權(quán)利要求1所述的兆聲波清洗頭,其特征在于,所述換能器包括上殼體,具有電纜接頭,通過(guò)電纜接頭能夠與功率放大器連接;耦合層,包括壓電晶體和耦合片,壓電晶體與耦合片的上表面緊密連接,耦合層通過(guò)耦合片與上殼體耦合。
5.如權(quán)利要求4所述的兆聲波清洗頭,其特征在于,所述上殼體還具有一進(jìn)氣孔和一排氣孔,并且內(nèi)部具有一帶有多個(gè)均布凹槽的環(huán)狀凸臺(tái)將上殼體內(nèi)部分為內(nèi)外兩環(huán);由進(jìn)氣孔通入的冷卻氣,通過(guò)上殼體的內(nèi)環(huán)和凹槽能夠使耦合層被均勻冷卻后由排氣孔排除, 從而實(shí)現(xiàn)對(duì)耦合層的均勻冷卻。
6.如權(quán)利要求4所述的兆聲波清洗頭,其特征在于,所述耦合層還包括密封圈,設(shè)于耦合片上,用于將耦合片與上殼體耦合的耦合處密封。
7.如權(quán)利要求4所述的兆聲波清洗頭,其特征在于,所述耦合片由單一介質(zhì)或多介質(zhì)制成,厚度為1/4波長(zhǎng)的整數(shù)倍。
8.如權(quán)利要求4所述的兆聲波清洗頭,其特征在于,該兆聲波清洗頭及所述耦合層的形狀為但不限于圓柱形、長(zhǎng)方形或橢圓形。
9.如權(quán)利要求4所述的兆聲波清洗頭,其特征在于,所述諧振器內(nèi)的孔陣列的面積略大于壓電晶體的有效面積。
10.如權(quán)利要求4所述的兆聲波清洗頭,其特征在于,所述諧振器作為下殼體,與耦合片的下表面耦合,并通過(guò)連接釘與上殼體連接。
11.一種具有如權(quán)利要求1-10中任意一項(xiàng)所述的兆聲波清洗頭的兆聲波清洗系統(tǒng),其特征在于,還包括安裝支架,所述兆聲波清洗頭固定地或可移動(dòng)地安裝于安裝支架上。
全文摘要
本發(fā)明為一種兆聲波清洗頭及包括該清洗頭的兆聲波清洗系統(tǒng),該清洗頭包括換能器;諧振器,用于傳播來(lái)自換能器的能量;該諧振器具有上表面和下表面,上表面耦合至換能器,諧振器內(nèi)部具有不通透上表面、下表面的真空的孔陣列。本發(fā)明兆聲波清洗頭采用內(nèi)部具有圓柱形或其它幾何形狀的不通透的真空的孔陣列的諧振器,通過(guò)兆聲波在其內(nèi)部的多次反射起到補(bǔ)償消耗的作用,消除振動(dòng)波的不均勻性,實(shí)現(xiàn)兆聲波能量的均勻分布。當(dāng)半導(dǎo)體上噴有超純水或者化學(xué)液時(shí),通過(guò)兆聲波產(chǎn)生的均勻的流體波將半導(dǎo)體上的雜質(zhì)沖掉,并經(jīng)由液體的流動(dòng)被帶走,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)半導(dǎo)體的清洗,并且對(duì)半導(dǎo)體的破壞較小。
文檔編號(hào)B08B3/12GK102327883SQ20111030471
公開(kāi)日2012年1月25日 申請(qǐng)日期2011年10月10日 優(yōu)先權(quán)日2011年10月10日
發(fā)明者初國(guó)超, 吳儀 申請(qǐng)人:北京七星華創(chuàng)電子股份有限公司
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