專利名稱：智能輻射探測器模塊的制作方法
智能輻射探測器模塊
本發(fā)明發(fā)現(xiàn)了計算機斷層攝影(CT)掃描儀中使用的輻射探測器的特 殊應(yīng)用。其還發(fā)現(xiàn)了其它輻射敏感探測器的應(yīng)用，并且尤其在需要對探測 器性能的變化進行校正的情況下。
已經(jīng)證明CT掃描儀在提供指示對象內(nèi)部結(jié)構(gòu)的信息的過程中是非常 有用的。在醫(yī)學(xué)成像中，例如，廣泛地使用CT掃描儀來提供關(guān)于人類患者 的生理機能的圖像和其它信息。由于增加層或通道的數(shù)量能夠具有大量優(yōu) 點，諸如改進了掃描心臟和解剖結(jié)構(gòu)的其它運動部分的能力、縮短了掃描 時間、提高了掃描儀處理量以及改進了軸向分辨率和覆蓋范圍(coverage) 等，因而進些年已經(jīng)看到了多層螺旋CT的快速采用。
然而，該趨勢的一個結(jié)果是CT探測器模塊逐漸變得復(fù)雜和昂貴。的確， 探測器通常如果不是CT掃描儀中最昂貴的部件，也是最昂貴的部件之一。
作為一個范例，現(xiàn)有技術(shù)的CT掃描儀被設(shè)計成在一個旋轉(zhuǎn)中提供多達 128層。在這種系統(tǒng)中，典型的探測器模塊可以包含2048 (16X128)個各 個探測器像素。探測器將通常包含大量模塊，從而典型探測器可以包含高 達80000個各個探測器像素。依次，每個探測器像素通常包括閃爍體、光 電二極管、機械支架、光電接口和相關(guān)的電信號調(diào)理電路。這些項中的每 個都可以總體上影響探測器像素和探測器模塊的性能特征。
隨著探測器像素數(shù)量的增加，逐漸變得可能的是，探測器性能的變化 將變得顯著。例如，各個探測器像素可以具有不同的性能特征，或者甚至 可以完全不起作用。而且，甚至對于標(biāo)稱相同的探測器設(shè)計，探測器性能 特征也可以在賣家之間或者在批次之間存在變化。
需要減少這些變化的影響。例如，如果可以識別并校正這些性能變化， 而不是丟棄或重新加工探測器模塊，則生產(chǎn)量可以提高，且成本降低。一 方面，可以通過允許相對較寬的性能限制來提高探測器產(chǎn)量。另一方面， 對于給定組的探測器驗收標(biāo)準(zhǔn)， 一般識別和校正這些性能變化將提供改進
的探測器性能。探測器模塊的維修也可以通過減少必須替換探測器模塊的 情況而得以簡化。當(dāng)必須替換探測器模塊時，需要減少附加探測器或掃描 儀校準(zhǔn)的需求。
作為圖像重建過程的一部分，可以通過重建計算機進行一些校正。然 而，如將意識到的，另一種趨勢要求不斷縮短重建時間，以及需要對不斷 增加的數(shù)據(jù)量和圖像層進行重建。不幸的是，在重建期間，識別和施加必 需的校正的任務(wù)趨向于增加整個系統(tǒng)的復(fù)雜性，并且對重建器性能也具有 不利的影響。
本發(fā)明的各個方面解決了這些以及其它問題。
根據(jù)本發(fā)明的第一方面，計算機斷層攝影裝置包括x射線源、多個X
輻射敏感探測器模塊，和重建器，所述重建器生成指示由探測器模塊探測
到的X輻射的體積空間數(shù)據(jù)。探測器模塊包括x輻射敏感探測器陣列，其 響應(yīng)于由此探測到的x輻射而生成電信號；存儲器，其包含指示探測器模 塊的測得的性能特征的第一參數(shù)，以及與存儲器通信的電路，其根據(jù)第一 參數(shù)校正電信號，以使得生成經(jīng)校正的探測器信號。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，x射線探測器模塊適于在成像裝置中使用，其 利用設(shè)置的多個探測器模塊形成平鋪的二維探測器像素陣列。探測器模塊 包括多個x射線敏感探測器像素，其響應(yīng)于探測到的x射線而生成信號。 布置該像素以安裝在平鋪的二維陣列中。探測器模塊還包括存儲器，其包 含指示探測器像素的性能的數(shù)據(jù)；與存儲器和探測器像素通信的電路；以 及用于選擇性地將探測器模塊電連接至成像裝置的電連接器。信號校正電 路根據(jù)所述數(shù)據(jù)校正探測器像素信號，以生成經(jīng)校正的信號。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，成像裝置包括電離輻射源、用于探測由輻射 源發(fā)射的輻射的輻射探測器，以及重建器，其生成指示輔射探測器所探測 到的輻射的體積數(shù)據(jù)。輻射探測器包括多個探測器模塊，其中每個都包括 用于生成指示探測到的輻射的電信號的工具，用于存儲指示探測器模塊的 性能的數(shù)據(jù)的工具，用于使用該數(shù)據(jù)來校正電信號的工具，以及用于選擇 性地將探測器模塊連接至探測器的工具。
本領(lǐng)域技術(shù)人員在閱讀并理解所附的附圖和說明書之后，將會理解本
發(fā)明的還有一些方面。
本發(fā)明通過附圖中的例子示出，但是不限于此，其中相似的參考標(biāo)號 表示相似的元件，并且其中

圖1示出了CT掃描儀；
圖2示出了用于CT掃描儀的探測器模塊的原理框圖； 圖3示出了使探測器模塊特征化的過程； 圖4示出了典型探測器校正過程。
參考圖l， CT掃描儀10包括旋轉(zhuǎn)掃描架部分18，其圍繞檢查區(qū)域14 旋轉(zhuǎn)。掃描架18支撐諸如x射線管的輻射源12。掃描架18還支撐x射線 敏感探測器20，其對著檢查區(qū)域14相對側(cè)上的弧形。由x射線源12產(chǎn)生 的x射線橫穿檢査區(qū)域14，并且由探測器20探測到。對象支架16將諸如 人類患者的對象支撐在檢查區(qū)域14中。支架16優(yōu)選可與掃描架18的旋轉(zhuǎn) 協(xié)同移動，以提供螺旋掃描。
探測器20包括探測器模塊22的弓形陣列，其布置成形成探測器像素 的二維陣列。探測器模塊優(yōu)選設(shè)置成平鋪陣列，其中一個陣列中的像素鄰 接相鄰陣列中的像素。在一種實現(xiàn)方式中，探測器20包括一百二十八(128) 個以上的層。合適的探測器實現(xiàn)方式還在題為"Solid State X-Radiation Detector Module and Mosaics Thereof, and an Imaging Method and Apparatus Employing the Same"的共同受讓的美國專利No.6510195中描述，所述文獻 在此全文引入作為參考，但是其它探測器實現(xiàn)方式也是可行的。還應(yīng)當(dāng)注 意到，這些陣列可以是不規(guī)則的。例如， 一個以上的行或列中的像素可以 從另一個偏移。
還可以實現(xiàn)所謂的第四代掃描儀結(jié)構(gòu)以及平板探測器，在所述第四代 掃描儀結(jié)構(gòu)中，探測器20跨越360度的弧，并且在x射線源12旋轉(zhuǎn)時保 持固定。同樣可以實現(xiàn)具有更多或更少數(shù)量的層的探測器。
正如下面將進一步討論的，與每個探測器模塊22相關(guān)的讀出電子器件 接收源自各個探測器像素的信號，并且提供信號調(diào)理、模數(shù)轉(zhuǎn)換、多路復(fù) 用和類似功能。 一些探測器特異性性能信息還存儲在與探測器模塊22相關(guān)
的存儲器中，并且優(yōu)選用于提供經(jīng)校正的探測器輸出信號。
優(yōu)選由旋轉(zhuǎn)掃描架18承載的數(shù)據(jù)獲取系統(tǒng)24接收來自多個探測器模 塊22的輸出信號，并且提供附加的多路復(fù)用、數(shù)據(jù)通信和類似功能。重建 器26重建由探測器20獲得的數(shù)據(jù)，以形成指示所檢查對象的體積圖像數(shù) 據(jù)。
通用計算機作為操作者控制臺44。該控制臺44包括諸如監(jiān)視器或顯示 器的人類可讀輸出設(shè)備以及諸如鍵盤和鼠標(biāo)的輸入設(shè)備?？刂婆_中駐留的 軟件通過建立所需掃描協(xié)議、啟動和終止掃描、査看并且否則操作體積圖 像數(shù)據(jù)、并且否則與掃描儀交互作用，而允許操作者控制掃描儀的操作。
控制器28根據(jù)需要調(diào)整各種掃描參數(shù)以執(zhí)行所需掃描協(xié)議，所述參數(shù) 包括x射線源12的參數(shù)、患者床16的移動，以及數(shù)據(jù)獲取系統(tǒng)26的操作。
圖2是探測器模塊22的原理框圖。探測器模塊22包括一個以上探測 器陣列200、讀出電子器件60和一個以上連接器212。探測器陣列200、讀 出電子器件60和連接器安裝在用于在探測器20中的組裝的合適的印刷電 路板上或其它襯底上，或者由其承載。探測器模塊22還可以包括多個襯底。
探測器陣列200包括探測器像素的nXm陣列，其中，每個探測器像素 都包括與光電二極管光通信的閃爍體。背接觸(back contact)或背照射光 電二極管有助于制造相對較大的陣列，但是也可以使用正照射的或其它光 電二極管結(jié)構(gòu)。也可以預(yù)期其它探測器陣列200的實現(xiàn)方式，諸如多能量、 固態(tài)或直接轉(zhuǎn)換探測器。在一個實施例中，每個探測器陣列200都包括探 測器像素的16X16陣列，而探測器模塊22包括八個(8)探測器陣列200， 其布置成形成16X128陣列。
讀出電子器件60，其接收和處理由各個探測器像素所生成的信號，并 且能夠?qū)崿F(xiàn)為基于微處理器的專用集成電路(ASIC)，其包括可連接的存儲 器202、信號處理電子器件208和通信接口 210。
信號處理電子器件208包括多路復(fù)用、放大和濾波、模數(shù)轉(zhuǎn)換、信號 校正以及用于處理由各個探測器像素生成的信號的類似電路。
存儲器202包括探測器性能參數(shù)204和探測器校正算法206。典型探測 器性能參數(shù)204包括探測器余輝、串?dāng)_、線性、像素工作/不工作狀態(tài)、增 益、偏移量和硅空穴俘獲數(shù)據(jù)中的一個或多個，但也可以存儲與附加的或 不同的性能特征相關(guān)的信息。根據(jù)特定性能特征和特定探測器的特征，對 于每個探測器像素獨立存儲相關(guān)參數(shù)。也可以存儲這些參數(shù)中的一個或多
個用于與探測器陣列200或探測器模塊22總體上結(jié)合，尤其是在預(yù)期性能 特征對于探測器陣列200或探測器模塊22中各個探測器像素總體上相對一 致的情況下。
校正算法206存儲為計算機可讀指令，當(dāng)由微處理器執(zhí)行時其使用相 關(guān)的探測器性能參數(shù)204來執(zhí)行所需校正。在這點上，應(yīng)當(dāng)注意到，并非 必需將參數(shù)204和算法206存儲在相同的物理存儲器中。典型探測器校正 算法包括對于探測器余輝、串?dāng)_、線性、不工作探測器元件、增益、偏移 量和硅空穴俘獲校正的校正，但是可以施加附加的或不同的校正。也可以 在探測器水平處施加溫度校正。 一些或所有校正優(yōu)選在掃描儀IO操作期間 實時地施加，從而將經(jīng)校正的探測器信號提供給重建器26。
同樣與每個探測器模塊22相關(guān)的是序列號或類似標(biāo)識符。諸如日期編 號、廠商或賣家信息等的附加信息也可以與探測器模塊22相關(guān)。信息可以 存儲在存儲器202中。 一些或所有信息也可以在與探測器模塊22或其獨立 部件相關(guān)的條形碼或其它計算機可讀標(biāo)志符、人類可讀標(biāo)志符、瀏覽器 (traveler)等上提供。當(dāng)探測器模塊22的一些或所有部件在組裝入探測器 模塊22之前被特征化時，這種布置尤其有利。在這種情況下，與特定部件 相關(guān)的性能特征可以存儲在數(shù)據(jù)庫中，并在隨后的制造步驟中，性能參數(shù) 204可以被裝載入合適的探測器模塊22的存儲器202中。
通信接口 210提供了數(shù)據(jù)獲取電路24、存儲器202和信號處理電子器 件208之間的通信。 一個以上的電連接器212允許在制造過程期間將探測 器模塊22電連接至探測器20。如果需要，連接器212優(yōu)選還有助于探測器 模塊22的現(xiàn)場替換。
還應(yīng)當(dāng)注意到，讀出電子器件60并非必須包括微處理器。在這種實現(xiàn) 方式中，各種校正可以通過使用一個以上數(shù)字信號處理器(DSP)、現(xiàn)場可 編程門陣列(FPGA)或其它合適的數(shù)字或模擬電子電路來實現(xiàn)。讀出電子 器件60也可以通過使用多個ASIC、集成電路、離散部件或其組合來實現(xiàn)。
此外，可以組合一個以上探測器模塊22以形成更大的探測器模塊。在 這種實現(xiàn)方式中，在探測器模塊22和更大的模塊之間可以分配一些或所有
讀出電子器件60。
圖3中示出了生產(chǎn)期間用于使探測器模塊22特征化的典型過程。在 302，將唯一的的標(biāo)識符指定給探測器模塊。當(dāng)探測器部件被獨立地特征化 時，也將唯一的標(biāo)識符指定給獨立的部件。
在步驟304，使探測器性能特征化。如上所述，可以在不同的組裝水平 執(zhí)行特征化。例如，可能需要在部件水平使某些參數(shù)特征化，在模塊水平 使另一些參數(shù)特征化，或者在探測器20或掃描儀10水平使再一些參數(shù)特 征化。
一個典型的特征化是用于探測器像素之間串?dāng)_的測試，其更易于在探 測器模塊水平執(zhí)行。另一個典型的特征化是用于不工作像素的測試，其中 識別不工作像素。這種測試同樣更易于在探測器模塊水平執(zhí)行。具有互相 靠近的數(shù)個不工作像素或者對其來說不可獲得足夠的相鄰像素數(shù)據(jù)的不工 作邊緣像素的探測器模塊22被拒絕。否則，識別不工作像素的位置。
另一方面，通常在實際掃描開始時評估探測器偏移量。諸如用于探測 器增益、余輝、線性等的其它性能測試是本領(lǐng)域技術(shù)人員所公知的，并且 同樣易于在所需水平實現(xiàn)。
在步驟306，將測試結(jié)果存儲在例如測試數(shù)據(jù)庫、伴隨有特定部件的瀏 覽器或者類似物中。在這點上，應(yīng)當(dāng)注意到，用于測試獨立部件或模塊的 時間序列并非關(guān)鍵。當(dāng)然，應(yīng)當(dāng)在己經(jīng)組裝了各個部件以形成所需組裝水 平之后，執(zhí)行在給定組裝水平處執(zhí)行的測試。
在步驟308，將探測器性能參數(shù)204裝載入給定探測器模塊的存儲器 202中。在在部件水平使一個以上部件特征化的情況下，從數(shù)據(jù)庫中獲得特 定部件的特征。在一種實現(xiàn)方式中，性能參數(shù)204經(jīng)由通信接口 210被傳 送到探測器模塊22。應(yīng)當(dāng)注意到，可以在組裝過程中的方便水平上執(zhí)行相 關(guān)參數(shù)的傳送，例如在將探測器模塊22安裝在探測器20或掃描儀10中之 前或之后。而且，在將存儲器202安裝在特定探測器模塊22中之前，可以 將一些或所有參數(shù)204存儲在存儲器202中。同樣需要根據(jù)特定探測器模 塊22的特征，將不同的校正算法206裝載入存儲器202中。
在步驟310，根據(jù)需要執(zhí)行對最終探測器20和掃描儀10的特征化和測試。
如上所述，如果在呈現(xiàn)給重建器26之前在探測器信號上實時或接近實 時地執(zhí)行一些或所有校正，那么可以降低對重建器26的要求。圖4中示出 了典型的校正過程。雖然圖4描述了針對單個探測器像素的處理，但是當(dāng) 然將理解的是，可以類似地校正其它探測器像素。
在402，給定探測器像素生成了指示掃描期間探測到的輻射的信號。在 步驟404，將該信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字形式。
在步驟406，執(zhí)行探測器偏移量校正。如上所述，通常在不存在來自輻 射源的x射線的每個掃描開始時測量探測器偏移量，并將偏移量信息存儲 在存儲器202中。
在步驟408，使用來自存儲器202的數(shù)據(jù)執(zhí)行增益校正。相似地，在步 驟410執(zhí)行串?dāng)_校正。在一種實現(xiàn)方式中，由具有相對高串?dāng)_的探測器像 素或模塊生成的信號得到校正，以減少串?dāng)_效應(yīng)。在另一種實現(xiàn)方式中， 將串?dāng)_添加至顯示出相對低串?dāng)_的探測器像素或模塊中。在步驟412，施加 不工作像素校正。對于被識別為有缺陷的像素，實時或接近實時地對來自 一個以上相鄰探測器像素的時間相應(yīng)信號進行內(nèi)插，以產(chǎn)生近似于不工作 像素的信號的信號。使用該信號替換來自其它不工作像素的信號。當(dāng)然， 也可以施加附加的、不同的校正和上述校正的子集。
無論如何，在掃描期間實時或接近實時地施加校正，從而將經(jīng)校正的 信號提供給重建器26。
可以在上游設(shè)備處執(zhí)行其它校正。例如，在414由重建器26施加全局
或系統(tǒng)增益校正，其通?；趻呙鑳x空氣校準(zhǔn)。
在探測器模塊水平執(zhí)行所有必須校正也不是必需的。因而，作為掃描
儀校準(zhǔn)過程的一部分，可以經(jīng)由通信接口 210將一些或所有探測器性能參 數(shù)202上載至掃描儀10，所述參數(shù)例如與探測器線性和余輝相關(guān)的那些， 而由重建器26或其他上游設(shè)備執(zhí)行校正?；蛘?，可以上載模塊標(biāo)識符，并 且可以從數(shù)據(jù)庫獲得相應(yīng)參數(shù)。
特定探測器像素或探測器模塊22的性能特征也可以在掃描儀壽命期間 發(fā)生變化。僅作為一個范例，先前起作用的探測器像素可以變得不工作。 一旦識別出不工作像素，典型地在掃描儀維修期間，該像素的位置經(jīng)由通 信接口 210被傳送給相關(guān)存儲器202。也可以通過詢問探測器模塊22來識
別其他不工作像素的位置。另一方面，可以配置信號處理電子器件208以 在校準(zhǔn)期間或在掃描儀操作期間自動探測不工作像素。如果不工作像素的 數(shù)量或位置符合所需的驗收標(biāo)準(zhǔn)，如上所述，在掃描儀操作期間合成特定 像素的輸出。如果驗收標(biāo)準(zhǔn)不滿足，優(yōu)選地修復(fù)或置換探測器模塊22?？?以施加相似的程序，以考慮其它探測器參數(shù)的變化。
當(dāng)然，在閱讀并理解前面的說明的基礎(chǔ)上，其他人員可以進行各種修 改和變化。本發(fā)明意欲被解釋為包括所有這些修改和變化，只要它們在所 附的權(quán)利要求書及其等同范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.在計算機斷層攝影裝置中，包括x射線源、多個x輻射敏感探測器模塊和重建器，所述重建器生成指示由所述探測器模塊探測到的x輻射的體積空間數(shù)據(jù)，所述探測器模塊包括x輻射敏感探測器陣列(200)，其響應(yīng)于由其探測到的x輻射而生成電信號；存儲器(202)，其包含指示測得的所述探測器模塊的性能特征的第一參數(shù)(204)；電路(208)，與所述存儲器通信，其根據(jù)所述第一參數(shù)校正所述電信號，以生成經(jīng)校正的探測器信號。
2、 如權(quán)利要求1所述的裝置，其中，所述探測器陣列(200)包括多 個探測器像素，并且其中，所述第一參數(shù)包括指示測得的所述陣列中的各 個像素的性能特征的參數(shù)。
3、 如權(quán)利要求2所述的裝置，其中，所述參數(shù)識別不工作像素。
4、 如權(quán)利要求3所述的裝置，其中，所述電路(208)使用來自所述 不工作像素的鄰域中的像素的時間相應(yīng)信號校正所述不工作像素。
5、 如權(quán)利要求2所述的裝置，其中，所述測得的性能特征是所述陣列 中像素之間的串?dāng)_。
6、 如權(quán)利要求l所述的裝置，其中，在將所述探測器模塊安裝在所述 計算機斷層攝影裝置中之前測量所述性能特征。
7、 如權(quán)利要求6所述的裝置，其中，所述探測器模塊包括一部件，其 中，所述第一參數(shù)指示測得的所述部件的性能特征，并且其中，在將所述 部件安裝在所述探測器模塊中之前測量所述部件的所述性能特征。
8、 如權(quán)利要求1所述的裝置，其中，所述探測器模塊包括通信接口 (210)，其與所述存儲器通信，并且適于從所述探測器模塊外部的源接收指示所述測得的性能特征的數(shù)據(jù)。'
9、 如權(quán)利要求l所述的裝置，其中，在所述存儲器中包括指示測得的 所述探測器模塊的性能特征的第二參數(shù)，并且其中，所述探測器模塊包括 通信接口 (210)，其與所述存儲器通信并且適于將所述第二參數(shù)傳送給所 述探測器模塊外部的設(shè)備，由此外部設(shè)備可以根據(jù)所述第二參數(shù)校正所述 經(jīng)校正的探測器信號。
10、 如權(quán)利要求1所述的裝置，其中，所述探測器模塊包括包含如下 指令的計算機可讀存儲介質(zhì)(202)，當(dāng)由計算機處理器執(zhí)行時所述指令使 得所述計算機處理器實現(xiàn)一種方法，所述方法包括使用所述第一參數(shù)來校 正所述電信號。
11、 如權(quán)利要求10所述的裝置，其中，所述電路包括微處理器。
12、 如權(quán)利要求1所述的裝置，其中，所述探測器陣列包括多個光電 二極管。
13、 如權(quán)利要求12所述的裝置，其中，所述光電二極管是背照射的。
14、 一種x射線探測器模塊，在成像裝置中使用，其利用多個探測器 模塊，所述多個探測器模塊設(shè)置成形成探測器像素的平鋪二維陣列，所述 探測器模塊包括多個x射線敏感探測器像素，其響應(yīng)于探測到的X射線生成信號，并且布置成安裝在所述平鋪二維陣列中；存儲器(202)，其包含指示所述探測器像素的性能的數(shù)據(jù)； 信號校正電路(208)，其與所述存儲器和所述探測器像素通信，其中，所述信號校正電路根據(jù)所述數(shù)據(jù)校正所述探測器像素信號，以生成經(jīng)校正 的信號；電連接器，用于選擇性地將所述探測器模塊電連接至所述成像裝置。
15、 如權(quán)利要求14所述的探測器模塊，其中，所述數(shù)據(jù)包括指示第一 性能特征的數(shù)據(jù)，其在將所述探測器模塊安裝在所述成像裝置中之前得以 確定。
16、 如權(quán)利要求15所述的探測器模塊，其中，所述數(shù)據(jù)包括指示第二 性能特征的數(shù)據(jù)，其在將所述探測器模塊安裝在所述成像裝置中之后得以 確定。
17、 如權(quán)利要求16所述的探測器模塊，其中，所述第二性能特征是探 測器偏移量。
18、 如權(quán)利要求15所述的探測器模塊，其中，所述數(shù)據(jù)包括指示多個 性能特征的數(shù)據(jù)，其在將所述探測器模塊安裝在所述成像裝置中之前得以 確定，并且其中，所述性能特征包括余輝、串?dāng)_、線性、偏移量和像素工 作狀態(tài)中的至少之一。
19、 如權(quán)利要求14所述的探測器模塊，其中，所述信號校正電路包括 數(shù)字電路。
20、 如權(quán)利要求19所述的探測器模塊，其中，所述數(shù)字電路包括計算 機處理器。
21、 如權(quán)利要求19所述的裝置，其中，所述信號校正電路和所述存儲 器設(shè)置在單一 ASIC中。
22、 如權(quán)利要求14所述的探測器模塊，其中，所述探測器模塊包括通 信接口 (210)，其與所述存儲器通信，并且適于從所述探測器模塊外部的 源接收所述數(shù)據(jù)。
23、 如權(quán)利要求14所述的探測器模塊，其中，所述信號校正電路根據(jù) 所述數(shù)據(jù)的第一部分校正所述探測器像素信號，并且其中，所述探測器模 塊包括通信接口 (210)，其適于將所述數(shù)據(jù)的第二部分傳送給所述探測器 模塊外部的設(shè)備，由此可以由所述探測器模塊外部的設(shè)備施加進一步的校 正。
24、 如權(quán)利要求14所述的探測器模塊，其中，所述探測器像素包括背 接觸光電二極管。
25、 如權(quán)利要求14所述的探測器模塊，其中，所述探測器像素包括光 電二極管。
26、 一種成像裝置，包括 電離輻射源(12);輻射探測器(20)，其探測由所述輻射源發(fā)射的輻射，并且包括多個探 測器模塊，每個所述探測器模塊都包括用于生成指示探測到的輻射的電信號的工具(200);用于存儲指示所述探測器模塊的性能的數(shù)據(jù)的工具(200);用于使用所述數(shù)據(jù)校正所述電信號的工具(208);用于選擇性地將所述探測器模塊連接至所述探測器的工具(212);重建器(26)，其生成指示由所述輻射探測器探測到的所述輻射的體積 數(shù)據(jù)。
全文摘要
一種電離輻射探測器模塊(22)，包括探測器陣列(200)、存儲器(202)、信號處理電子器件(208)、通信接口(210)以及連接器(212)。存儲器包含探測器性能參數(shù)(204)和探測器校正算法(206)。信號處理電子器件(208)根據(jù)探測器校正算法(206)使用探測器性能參數(shù)(204)校正來自探測器陣列(200)的信號。
文檔編號A61B6/03GK101374464SQ200780003190
公開日2009年2月25日 申請日期2007年1月4日 優(yōu)先權(quán)日2006年1月16日
發(fā)明者M·A·查波, R·A·馬特森, R·P·盧塔 申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司