等后加工時不容易發(fā)生不良，容易用于要求 精密性的用途。
[0115] (聚丙烯薄膜的制造方法）
[0116] 作為本發(fā)明的拉伸聚丙烯層疊薄膜，可以是長度方向（MD方向）的單軸拉伸薄膜 或者橫向（TD方向）的單軸拉伸薄膜，優(yōu)選為雙軸拉伸薄膜。在雙軸拉伸的情況下，可以是 依次雙軸拉伸，也可以是同時雙軸拉伸。
[0117] 通過制成拉伸薄膜，即使在對于現(xiàn)有的拉伸聚丙烯層疊薄膜而言無法想象的 150°C下也可以得到熱收縮率低的薄膜。
[0118] 以下，對作為最優(yōu)選的例子的縱向拉伸-橫向拉伸的依次雙軸拉伸的薄膜的制造 方法進行說明。
[0119] 首先，利用一個擠出機將基材層（A)熔融擠出，利用另一個擠出機將熱封層（B)熔 融擠出，在T模具內(nèi)，以成為聚丙烯系樹脂層（A)和熱封層（B)的方式進行層疊，用冷卻輥 進行冷卻固化而得到未拉伸片材。作為熔融擠出條件，使樹脂溫度為200°C~280°C，利用T 模具擠出為片狀，用l〇°C~100°C溫度的冷卻輥進行冷卻固化。接著，用120°C~165°C的 拉伸輥將薄膜沿長度（MD)方向拉伸至3~7倍，繼續(xù)沿寬度（TD)方向在155°C~175°C、 優(yōu)選158°C~170°C的溫度下進行6~12倍拉伸。
[0120] 進而，在165°C~175°C、優(yōu)選166°C~173°C的氣氛溫度下一邊容許1~15%的松 弛一邊實施熱處理。
[0121] 根據(jù)需要，可以在至少對單面實施電暈放電處理后，用卷繞機進行卷繞，由此得到 卷樣品。
[0122] MD的拉伸倍率的下限優(yōu)選為3倍、更優(yōu)選為3. 5倍。低于上述時，有時導(dǎo)致膜厚不 均。
[0123] MD的拉伸倍率的上限優(yōu)選為8倍、更優(yōu)選為7倍。超過上述時，有時難以繼續(xù)進行 TD拉伸。
[0124] MD的拉伸溫度的下限優(yōu)選為120°C、更優(yōu)選為125°C、進一步優(yōu)選為130°C。低于 上述時，有時機械負荷變大、厚度不均變大、薄膜的表面產(chǎn)生粗糙。
[0125] MD的拉伸溫度的上限優(yōu)選為160°C、更優(yōu)選為155°C、進一步優(yōu)選為150°C。溫度 較高時，對于熱收縮率的降低是優(yōu)選的，但有時會附著于輥而變得無法進行拉伸。
[0126] TD的拉伸倍率的下限優(yōu)選為4倍、更優(yōu)選為5倍、進一步優(yōu)選為6倍。低于上述 時，有時導(dǎo)致厚度不均。
[0127] TD拉伸倍率的上限優(yōu)選為20倍、更優(yōu)選為17倍、進一步優(yōu)選為15倍。超過上述 時，有時熱收縮率變高、拉伸時發(fā)生斷裂。
[0128] 對于TD拉伸時的預(yù)熱溫度，為了迅速將薄膜溫度提高至拉伸溫度附近，優(yōu)選設(shè)定 得比拉伸溫度高10°c~15°C。
[0129] TD的拉伸在比現(xiàn)有的熱封性聚丙烯層疊拉伸薄膜更高溫度下進行。
[0130] TD的拉伸溫度的下限優(yōu)選為157°C、更優(yōu)選為158°C。低于上述時，有時無法充分 軟化而發(fā)生斷裂、熱收縮率變高。
[0131] TD拉伸溫度的上限優(yōu)選為170°C、更優(yōu)選為168°C。為了降低熱收縮率，優(yōu)選溫度 較高，但超過上述時，有時低分子量成分發(fā)生熔解、重結(jié)晶而表面粗糙、薄膜白化。
[0132] 拉伸后的薄膜可進行熱固定。熱固定能夠在比現(xiàn)有的聚丙烯薄膜更高溫度下進 行。熱固定溫度的下限優(yōu)選為165°C、更優(yōu)選為166°C。低于上述時，有時熱收縮率變高。另 外，有時為了降低熱收縮率而需要長時間，生產(chǎn)率差。
[0133] 熱固定溫度的上限優(yōu)選為175°C、更優(yōu)選為173°C。超過上述時，有時低分子量成 分發(fā)生熔解、重結(jié)晶而表面粗糙、薄膜白化。
[0134] 優(yōu)選熱固定時進行松弛（緩和）。松弛的下限優(yōu)選為2%、更優(yōu)選為3%。低于上 述時，有時熱收縮率變高。
[0135] 松弛的上限優(yōu)選為10%、更優(yōu)選為8%。超過上述時，有時厚度不均變大。
[0136] 進而，為了降低熱收縮率，也可以將按照上述工序制造的薄膜暫時卷繞為卷狀后， 離線進行退火。
[0137] 離線退火溫度的下限優(yōu)選為160°C、更優(yōu)選為162°C、進一步優(yōu)選為163°C。低于上 述時，有時無法獲得退火的效果。
[0138] 離線退火溫度的上限優(yōu)選為175°C、更優(yōu)選為174°C、進一步優(yōu)選為173°C。超過上 述時，有時透明性降低、厚度不均變大。
[0139] 離線退火時間的下限優(yōu)選為0. 1分鐘、更優(yōu)選為0. 5分鐘、進一步優(yōu)選為1分鐘。 低于上述時，有時無法獲得退火的效果。
[0140] 離線退火時間的上限優(yōu)選為30分鐘、更優(yōu)選為25分鐘、進一步優(yōu)選為20分鐘。超 過上述時，有時生產(chǎn)率下降。
[0141] 薄膜的厚度根據(jù)各用途來設(shè)定，但薄膜厚度的下限優(yōu)選為2μπκ更優(yōu)選為3μπκ 進一步優(yōu)選為4μm。薄膜厚度的上限優(yōu)選為300μm、更優(yōu)選為250μm、進一步優(yōu)選為 200μm、特別優(yōu)選為100μm、最優(yōu)選為50μm。
[0142] 如此得到的聚丙烯薄膜通常制膜為寬2000~12000mm、長度1000~50000m左右 的卷，并卷繞為卷狀。進而，根據(jù)各用途進行裁切，形成寬300~2000mm、長度500~5000m 左右的裁切卷供使用。
[0143] 本發(fā)明的拉伸聚丙烯層疊薄膜具有如上所述的目前沒有的優(yōu)異特性。
[0144] 在作為包裝薄膜使用的情況下，由于高剛性而能夠薄片化，能夠降低成本、輕量 化。
[0145] 另外，由于耐熱性高，涂布、印刷的干燥時能夠進行高溫干燥，能夠提高生產(chǎn)效率、 可以使用目前難以使用的涂布劑、油墨、層壓粘接劑等。由于不需要使用有機溶劑等的層壓 工序，因此從經(jīng)濟方面、對地球環(huán)境產(chǎn)生影響方面出發(fā)都是優(yōu)選的。
[0146] 實施例
[0147] 以下，基于實施例對本發(fā)明詳細地進行說明，但本發(fā)明并不受下述實施例的限定。 實施例中的物性的測定方法如下所述。
[0148] 1)熔體流動速率（MFR、g/ΙΟ分鐘）
[0149] 依照JISK7210,在溫度230°C下進行測定。
[0150] 2)分子量和分子量分布
[0151] 分子量和分子量分布使用凝膠滲透色譜法（GPC)并根據(jù)單分散聚苯乙烯基準來 求出。
[0152] GPC測定中使用的柱（column)、溶劑如下所述。
[0153] 溶劑：1，2, 4-三氯苯
[0154] 柱：TSKgelGMHhr_H(20)HTX3
[0155] 流量：1. 0ml/ 分鐘
[0156] 檢測器：RI
[0157] 測定溫度：140°C
[0158] 數(shù)均分子量（Mn)、質(zhì)均分子量（MW)、Z+1均分子量（Mz+1)分別利用借助分子量校正 曲線得到的GPC曲線的各溶出位置的分子量（MJ的分子數(shù)（隊）以下式來定義。
[0159] 數(shù)均分子量：Μη=Σ·MJ/Σ^
[0160]質(zhì)均分子量:MW=Σ(Ni·M^) /Σ(隊·MJ[0161 ]Z+l均分子量：Mz+1 =Σ(Ni·Mj) /Σ(隊·Mj)
[0162] 分子量分布：Mw/Mn、Mz+l/Mn
[0163] 另外，將GPC曲線的峰位置的分子量設(shè)為Mp。
[0164] 基線不明確時，在直至最接近標準物質(zhì)的溶出峰的高分子量側(cè)的溶出峰的高分子 量側(cè)的平原的最低位置的范圍內(nèi)設(shè)定基線。
[0165] 對于峰分離，基于得到的GPC曲線，對分子量不同的2個以上成分進行峰分離。各 成分的分子量分布假設(shè)為高斯函數(shù)，以與通常的聚丙稀的分子量分布同樣的方式設(shè)SMW/Mn =4。由得到的各成分的曲線計算各平均分子量。
[0166] 3)立構(gòu)規(guī)整性
[0167] 全同立構(gòu)五單元組分率（[_m] % )和全同立構(gòu)平均鏈長的測定使用13C_NMR來進 行。全同立構(gòu)五單元組分率按照Zambelli等、Macromolecules、第6卷、925頁（1973)記載 的方法來計算，全同立構(gòu)平均鏈長按照J.C.Randall的"PolymerSequenceDistribution" 第2章（1977年）（AcademicPress,NewYork)記載的方法來計算。
[0168] 13C-NMR測定使用BRUKERC0.，LTD制造的AVANCE500,使試樣 200mg在 135°C下溶 解于鄰二氯苯與氘代苯的8:2的混合液中，在110°C下進行。
[0169] 4)冷二甲苯可溶部分（CXS、質(zhì)量％ )
[0170] 將聚丙烯試樣lg溶解于沸騰的二甲苯200ml中并自然冷卻后，使其在20°C的恒溫 水槽中重結(jié)晶1小時，將溶解于過濾液的質(zhì)量相對原始試樣量的比例設(shè)為CXS(質(zhì)量％ )。
[0171] 5)熱收縮率（％ )
[0172] 按照JISZ1712進行測定。
[0173](將