電加熱織物和檢測感測線完整性的電路完整性檢測系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】一種用于檢測加熱墊中感測線的完整性的電路完整性檢測系統(tǒng)，其中通過首先使用來自微控制器的低電壓電測試信號(hào)驅(qū)動(dòng)感測線的一端，然后檢查所述測試信號(hào)是否存在于該感測線的另一端，確定感測線的完整性，為了區(qū)分測試信號(hào)與感測線上存在的標(biāo)準(zhǔn)AC線電壓，電測試信號(hào)優(yōu)選地具有與標(biāo)準(zhǔn)50-60Hz的AC線電壓不同的頻率。在一個(gè)實(shí)施方案中，測試信號(hào)的頻率是近似30kHz。
【專利說明】電加熱織物和檢測感測線完整性的電路完整性檢測系統(tǒng)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及電加熱織物熱點(diǎn)檢測器，更具體而言，涉及一種檢測用來檢測電加熱織物中熱點(diǎn)的線中的斷裂的系統(tǒng)和設(shè)備，所述電加熱織物例如為加熱墊、電加熱毯、電加熱床罩(throw)或電加熱床墊。
【背景技術(shù)】
[0002]通常，電加熱織物是具有電加熱元件的結(jié)構(gòu)。電加熱元件例如可通過電由電阻加熱，且可被提供為貫穿整個(gè)墊的一個(gè)或多個(gè)金屬線。所述金屬線的形狀和大小可改變，且在一些情況下，所述線實(shí)際上可以是小的金屬絲。電加熱元件通常包括由具有正溫度系數(shù)(PTC)特性的金屬線構(gòu)成的中心加熱元件。在中心PTC線周圍是一層負(fù)溫度系數(shù)(NTC)材料。電加熱墊的插頭通常被插入電源插座，以便為加熱元件供電，導(dǎo)致產(chǎn)生熱量。以這種方式，電加熱織物可用于溫暖身體的期望區(qū)域。目前，加熱墊通常包括一個(gè)控制從加熱墊輸出的熱量的控制器和/或微處理器。
[0003]一些電加熱織物還包括被設(shè)計(jì)來檢測熱點(diǎn)的電路。當(dāng)電加熱織物的任何部分的溫度超出被設(shè)計(jì)來防止對(duì)毫無警惕的使用者造成熱損傷的極限時(shí)，出現(xiàn)熱點(diǎn)。感測線具有低電阻，且其通常纏繞在NTC層周圍，且其被用于為漏電流提供路徑并監(jiān)測加熱造成的NTC層中漏電流的增加。然而，感測線的斷裂可導(dǎo)致控制器無法檢測熱點(diǎn)。
[0004]一種已知的幫助檢測感測線斷裂的方法是在功率初始被施加至產(chǎn)品時(shí)檢查感測線的電壓。當(dāng)功率開始被施加時(shí)，相對(duì)而言，線是冷的。隨著加熱墊變熱，NTC電阻會(huì)減小。電阻的這種變化可被用于確定感測線是否在線的以下端部——在該端部，感測線附接至控制器連接器一處或在極接近線的該端部處斷裂。盡管這在該單元初始上電時(shí)可以驗(yàn)證感測線的完整性，但是一旦加熱墊達(dá)到運(yùn)行溫度，就不能作為持續(xù)的“斷裂的感測線”檢測器。它也不能檢測感測線的、不在NTC/PTC線的以下端部附近的斷裂一在該端部，NTC/PTC線連接至控制器連接器。
[0005]另一種感測線方法包括將感測線的兩端連接在一起。在這種情況下，對(duì)沿著NTC/PTC線任意地方的單處斷裂進(jìn)行補(bǔ)償，且不影響熱點(diǎn)的持續(xù)檢測。然而，不可能知道感測線中已經(jīng)出現(xiàn)了斷裂。此外，如果出現(xiàn)第二處線斷裂，則非常可能喪失對(duì)熱點(diǎn)的檢測。具體而H，在兩處線斷裂之間熱點(diǎn)檢測喪失。
[0006]因此，期望的是提供一種持續(xù)檢查感測線完整性的檢測系統(tǒng)。如果在使用過程中任何時(shí)間由于任何原因感測線斷裂，該系統(tǒng)將關(guān)閉，阻止該產(chǎn)品的使用。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0007]本實(shí)用新型包括一種監(jiān)測電加熱織物感測線的狀況以確定感測線中是否出現(xiàn)斷裂的系統(tǒng)和設(shè)備。在一個(gè)實(shí)施方案中，可在不斷開電加熱織物內(nèi)的加熱電路的情況下確定感測線的狀況。加熱電路可運(yùn)行在通常標(biāo)準(zhǔn)的50-60HZ的AC線電壓下，使得所述感測線可正常運(yùn)行在相應(yīng)的頻率。除了該信號(hào)之外，感測線的完整性可通過如下方式確定:首先使用來自微控制器的低電壓電測試信號(hào)驅(qū)動(dòng)感測線的一端，然后檢查所述測試信號(hào)是否存在于該感測線的另一端。為了區(qū)分測試信號(hào)與感測線上存在的標(biāo)準(zhǔn)AC線電壓，電測試信號(hào)優(yōu)選地具有與標(biāo)準(zhǔn)50-60HZ的AC線電壓不同的頻率。在一個(gè)實(shí)施方案中，測試信號(hào)的頻率是近似30kHz。測試信號(hào)也可采用其他頻率和電壓。
[0008]在一個(gè)實(shí)施方案中，感測線被定位以檢測和/或測量電加熱織物的加熱。優(yōu)選地，感測線繞負(fù)溫度系數(shù)(NTC)材料纏繞，且感測線的每個(gè)端都連接至微控制器。在感測線的一端，微控制器中的脈沖寬度調(diào)制器產(chǎn)生一個(gè)低電壓電測試信號(hào)。從而測試信號(hào)可與50-60Hz的AC線電壓區(qū)分開，在該AC線電壓下，感測線上的溫度監(jiān)測發(fā)生，測試信號(hào)優(yōu)選地在一個(gè)非常不同的頻率，更優(yōu)選地在約30kHz。該測試信號(hào)通過低通濾波器以減少不期望的較高頻率的信號(hào)成分，并變成信號(hào)“DRIVE”。然后，該DRIVE信號(hào)通過高通濾波器以使DRIVE測試信號(hào)生成電路與AC線電壓隔離。
[0009]然后測試信號(hào)通過纏繞的感測線。在感測線回連至微控制器之前，優(yōu)選地使感測線與信號(hào)分離。出于標(biāo)準(zhǔn)傳感的目的，一個(gè)分支(prong)繼續(xù)至微控制器的模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器，而另一分支優(yōu)選地通過高通濾波器以濾除較低頻率的AC線電壓，產(chǎn)生“RETURN”信號(hào)。然后，該RETURN信號(hào)可進(jìn)入微控制器。如果感測線未斷裂，通常RETURN信號(hào)的幅值會(huì)發(fā)生變化，但RETURN信號(hào)會(huì)處于與DRIVE信號(hào)相同的頻率。
[0010]在微控制器內(nèi)，RETURN信號(hào)被傳送至比較器，每次RETURN測試信號(hào)轉(zhuǎn)變(transition)，該比較器將輸出一個(gè)轉(zhuǎn)變。計(jì)數(shù)器在一時(shí)間段內(nèi)對(duì)轉(zhuǎn)變的數(shù)目進(jìn)行計(jì)數(shù)。如果微控制器檢測到至少一預(yù)定閾值數(shù)目的比較器的轉(zhuǎn)變，則確定感測線完整。然而，在計(jì)數(shù)小于轉(zhuǎn)變的閾值數(shù)目時(shí)，確定感測線斷裂。出于安全目的，微控制器優(yōu)選地接著禁用加熱墊的加熱元件。
[0011]應(yīng)理解，其他頻率可用于DRIVE測試信號(hào)。然而，DRIVE測試信號(hào)頻率的變化可能使得需要不同的濾波器，例如特定的帶通濾波器，以確保DRIVE測試信號(hào)的頻率被適當(dāng)?shù)厥┘又粮袦y線和從感測線提取。此外，濾波器、比較器、計(jì)數(shù)器、調(diào)制器及Α/D轉(zhuǎn)換器中的一些或全部可呈現(xiàn)在微控制器上或者可與微控制器分開。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0012]圖1是現(xiàn)有技術(shù)加熱墊的方框圖。
[0013]圖2是現(xiàn)有技術(shù)感測線配置的示意性方框圖。
[0014]圖3A是另一現(xiàn)有技術(shù)感測線配置的方框圖，其中感測線是完整的。
[0015]圖3B是圖3A的感測線配置的方框圖，其中感測線具有一處斷裂。
[0016]圖3C是圖3A的感測線配置的方框圖，其中感測線具有兩處斷裂。
[0017]圖4是根據(jù)本實(shí)用新型教導(dǎo)的微控制器和感測線配置的方框圖。
[0018]圖5是根據(jù)圖4的方框圖的示例性示意電路圖。
[0019]圖6是根據(jù)本實(shí)用新型教導(dǎo)的用于確定感測線完整性的方法的流程圖。
[0020]圖7示出根據(jù)本實(shí)用新型教導(dǎo)的感測線完整性檢測系統(tǒng)的替代實(shí)施方案。
[0021]圖8示出根據(jù)本實(shí)用新型教導(dǎo)的感測線完整性檢測系統(tǒng)的替代實(shí)施方案。
[0022]應(yīng)理解，這些附圖不一定按比例繪制，并且在此公開的實(shí)施方案有時(shí)通過局部圖示出。在某些情況下，對(duì)于理解本實(shí)用新型不必要的細(xì)節(jié)或者使得其他細(xì)節(jié)難于理解的細(xì)節(jié)可能被省略。還應(yīng)理解，本實(shí)用新型不一定限于在此示出的特定實(shí)施方案。所有各附圖中使用的相同的數(shù)字標(biāo)示相同或相似的部分或結(jié)構(gòu)。
【具體實(shí)施方式】
[0023]現(xiàn)在參考附圖，且更具體而言，參考圖1，示出了現(xiàn)有技術(shù)電加熱織物例如加熱墊I的方框圖。加熱墊I包括一個(gè)加熱墊控制器2,該控制器可包括一個(gè)微處理器或微控制器，用于控制加熱墊I的運(yùn)行。微控制器2與加熱元件4電連通，并向加熱元件4提供功率以加熱加熱墊I。或者，微控制器2可位于加熱墊的外部。微控制器2還與感測元件6電連通。感測元件6是被設(shè)計(jì)來檢測加熱墊I中的熱點(diǎn)的安全構(gòu)件。一旦檢測到一個(gè)熱點(diǎn)，微控制器2通常停用加熱元件4或減少提供至加熱元件4的功率，直到不再存在熱點(diǎn)。電源8通常電連接至微控制器2，以向微控制器2提供電功率。電源8通常被納入微控制器2中，但可以是連接至標(biāo)準(zhǔn)壁裝插座的插頭、或電池、或其他電功率源。
[0024]圖2是現(xiàn)有技術(shù)感測線配置的示意性方框圖。微控制器2被連接至一個(gè)加熱元件4，該加熱元件由一個(gè)電阻器組成，當(dāng)電流通過該電阻器時(shí)電阻器產(chǎn)生熱。通常，加熱元件4的電阻器由具有正溫度系數(shù)(PTC)特性的材料構(gòu)成。具有負(fù)溫度系數(shù)(NTC)特性的材料(圖2中未示出)繞加熱元件4纏繞，且電阻相對(duì)較低的感測元件6 (在圖2中以感測線的形式示出)繞NTC材料纏繞。感測元件6通常一端連接至微控制器2，另一端懸空。
[0025]運(yùn)行時(shí)，微控制器2向加熱元件4提供功率，這導(dǎo)致加熱元件4發(fā)熱。由于加熱元件4的PTC特性，加熱元件4的電阻隨著其溫度增加而增加。在一個(gè)現(xiàn)有技術(shù)實(shí)施方案中，微控制器2可試圖基于加熱元件4的電阻確定加熱元件4的溫度。然而，從PTC加熱元件只能提取平均加熱墊溫度信息。NTC材料的電阻隨著溫度的增加而減小。感測元件6可檢測電阻的這種變化，提供局部溫度信息，由此微控制器2可檢測沿著加熱元件4任意處的熱點(diǎn)。通常，當(dāng)熱點(diǎn)超過預(yù)定閾值溫度時(shí)，作為安全機(jī)制，微控制器2停用加熱元件4或減少功率。然而，感測元件6中的斷裂可導(dǎo)致微控制器2不能檢測這種熱點(diǎn)。
[0026]圖3A是另一現(xiàn)有技術(shù)感測線配置的示意性方框圖。在該現(xiàn)有技術(shù)實(shí)施方案中，感測元件6的兩端連接在一起。盡管感測元件6可繼續(xù)檢測基本上沿著感測元件6任何地方的熱點(diǎn)，甚至在感測元件6中出現(xiàn)單處斷裂時(shí)(如圖3B中示出的)，但是在這種配置中該斷裂本身是不可檢測的。此外，在圖3C中，感測元件6中有兩處分開的斷裂。感測元件6不再能夠檢測感測元件6中在這兩處斷裂之間的熱點(diǎn)。
[0027]圖4示出了根據(jù)本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施方案的感測線完整性檢測系統(tǒng)的方框圖。如上文所述,感測元件6通過NTC材料7檢測加熱元件4所導(dǎo)致的熱點(diǎn)。在一個(gè)實(shí)施方案中，感測元件6中的這種監(jiān)測出現(xiàn)在存在約50-60HZ的AC線電壓時(shí)。應(yīng)注意，代替50_60Hz的范圍，或者除了 50-的60Hz范圍之外，也可出現(xiàn)不同的頻率。微控制器2可包括一個(gè)測試信號(hào)發(fā)生器，該測試信號(hào)發(fā)生器在圖4中被以脈沖寬度調(diào)制器10的形式示出。替代地，這種測試信號(hào)發(fā)生器可與微控制器2分開。脈沖寬度調(diào)制器10優(yōu)選地產(chǎn)生一個(gè)頻率不同于AC線電壓的頻率的信號(hào)。在一個(gè)實(shí)施方案中，當(dāng)如上所述AC線電壓頻率為約50-60HZ時(shí)，脈沖寬度調(diào)制器可產(chǎn)生一個(gè)頻率為約30kHz的測試信號(hào)。
[0028]然后，該測試信號(hào)優(yōu)選地通過低通濾波器12，以減少不期望的較高頻率的信號(hào)成分，且該信號(hào)變成DRIVE信號(hào)14。DRIVE信號(hào)14優(yōu)選地接著通過高通濾波器16，然后遇到感測元件6。高通濾波器16優(yōu)選地使脈沖寬度調(diào)制器10和低通濾波器12與AC線電壓隔離。DRIVE信號(hào)14接著傳至感測元件6的一端。低通濾波器12和高通濾波器16中的任一個(gè)或者二者可以是微控制器2的部件，或可與微控制器2分開。
[0029]通過感測元件6的任何信號(hào)優(yōu)選地通過高通濾波器18，以濾除AC線電壓。如上文，高通濾波器18可以是微控制器2的一個(gè)部件，或可與微控制器2分開。通過高通濾波器18的任何信號(hào)標(biāo)記為RETURN信號(hào)20。該RETURN信號(hào)20接著傳至信號(hào)檢測器部件，如圖4示出的，該信號(hào)檢測器部件包括比較器22。比較器22優(yōu)選地比較RETURN信號(hào)20和閾值電壓，該閾值電壓可為約IV。當(dāng)感測元件6完整時(shí)，RETURN信號(hào)20的幅值會(huì)改變，但是該RETURN信號(hào)會(huì)處于與例如具有約2v或更大的幅值的DRIVE信號(hào)14相同的頻率，且通常具有與其相同的波形。因此，比較器22在RETURN信號(hào)20每次轉(zhuǎn)變時(shí)輸出轉(zhuǎn)變。計(jì)數(shù)器24對(duì)比較器22的轉(zhuǎn)變的數(shù)目進(jìn)行計(jì)數(shù)。為了標(biāo)準(zhǔn)的熱點(diǎn)檢測，感測元件6的第一端、第二端或兩端可直接通到模數(shù)轉(zhuǎn)換器(A/D) 26。應(yīng)注意，如上文，高通濾波器18、比較器22、計(jì)數(shù)器24和/或A/D26中的任一或全部可以是微控制器2的部件，或可與微控制器2分開。
[0030]可包括固件或可執(zhí)行軟件的微控制器2通過尋找合適頻率的比較器輸出轉(zhuǎn)變來確定電測試信號(hào)即RETURN信號(hào)20是否返回(指示感測線的完整性是否良好)。這通過在一固定時(shí)間段內(nèi)對(duì)比較器輸出轉(zhuǎn)變的數(shù)目進(jìn)行計(jì)數(shù)來實(shí)現(xiàn)。通過使用最小值作為閾值來尋找預(yù)期數(shù)目的轉(zhuǎn)變，消除源自可能出現(xiàn)在比較器輸入處的寄生源的錯(cuò)誤計(jì)數(shù)，所述寄生源例如為電氣噪聲和AC線電壓轉(zhuǎn)變。
[0031]應(yīng)注意，替代地，比較器22可以是Α/D轉(zhuǎn)換器，使得RETURN信號(hào)20可被轉(zhuǎn)換成數(shù)字值(digital number),該數(shù)字值的值代表信號(hào)20的振幅。值超過預(yù)定閾值的數(shù)字值的存在表明信號(hào)20具有有效振幅。在一時(shí)間段內(nèi)信號(hào)20的預(yù)定數(shù)目的有效振幅脈沖表明感測線是完整的。脈沖的預(yù)定數(shù)目優(yōu)選地等于出現(xiàn)在DRIVE信號(hào)14上的脈沖數(shù)目。
[0032]圖5示出了用于感測線完整性檢測系統(tǒng)的一種可能配置的示意性電路圖。微控制器2可以是任何合適的芯片，但是為了本公開內(nèi)容的目的，將討論為PIC16F1827-1/S0芯片的形式的微控制器2。微控制器2的引腳3優(yōu)選地輸出30，OOOHz的低電壓信號(hào)。該30kHz的信號(hào)接著通過由IkQ的電阻器12A和2.2nF的電容器12B構(gòu)成的低通濾波器12，以及由2.2nF的阻塞電容器16B和2.4k Ω的電阻器16A構(gòu)成的高通濾波器16。DRIVE信號(hào)接著通過感測元件6，此后DRIVE信號(hào)通過另一個(gè)高通濾波器18與較低頻率的線電壓信號(hào)隔離，該高通濾波器18由兩個(gè)InF的電容器18A和18C以及兩個(gè)IOOkQ的電阻器18B和18D構(gòu)成。濾波后的RETURN信號(hào)接著被輸入至微控制器2的引腳I。如將認(rèn)識(shí)到的，替代地，可使用其他硬件配置、電阻、電容等。
[0033]圖6示出了用于確定感測元件的完整性的方法30。在步驟32，完整性測試開始。在步驟34，接通DRIVE信號(hào)，使得脈沖波調(diào)制器10產(chǎn)生一個(gè)頻率與感測元件6中的AC線電壓的頻率不同的信號(hào)。在步驟36，計(jì)數(shù)器24中的計(jì)數(shù)清零，且在步驟38啟用比較器22中斷。
[0034]在步驟40，微控制器2確定是否已經(jīng)出現(xiàn)一個(gè)新的報(bào)時(shí)信號(hào)(timetick)。當(dāng)沒出現(xiàn)新的報(bào)時(shí)信號(hào)時(shí)，過程返回至步驟40。當(dāng)出現(xiàn)新的報(bào)時(shí)信號(hào)時(shí)，過程移至步驟42，在步驟42，微控制器2確定測試是否在其結(jié)束時(shí)間。當(dāng)測試未在其結(jié)束時(shí)間時(shí)，微控制器2確定比較器22是否已經(jīng)轉(zhuǎn)變。如上文討論的，比較器22將RETURN信號(hào)與閾值電壓進(jìn)行比較，該閾值電壓在一個(gè)實(shí)施方案中是約I伏，比較器隨著RETURN信號(hào)的每次轉(zhuǎn)變以合適頻率輸出轉(zhuǎn)變。在步驟44當(dāng)比較器22已經(jīng)轉(zhuǎn)變時(shí)，計(jì)數(shù)器24在步驟46將其計(jì)數(shù)增加一。接著該方法返回至步驟40，以等待一個(gè)新的報(bào)時(shí)信號(hào)。
[0035]在步驟42，如果測試在其結(jié)束時(shí)間，則該方法繼續(xù)至步驟48，在步驟48，比較器22中斷被禁用，在步驟50連同DRIVE信號(hào)一起被禁用。在步驟52，微控制器2確定計(jì)數(shù)器24的計(jì)數(shù)是否大于或等于最小閾值計(jì)數(shù)。最小閾值計(jì)數(shù)被設(shè)計(jì)來補(bǔ)償可能出現(xiàn)的任何寄生源，例如電氣噪聲和/或AC線電壓轉(zhuǎn)變。如果計(jì)數(shù)器24的計(jì)數(shù)大于或等于最小閾值計(jì)數(shù)，則微控制器在步驟54確定測試已經(jīng)通過，且感測元件6是完整的。然而，當(dāng)在步驟52計(jì)數(shù)器24的計(jì)數(shù)比最小閾值計(jì)數(shù)小時(shí)，微控制器2在步驟56確定測試失敗。在測試失敗的情況下，微控制器2優(yōu)選地停用加熱元件4以保護(hù)使用者。
[0036]可選擇性地使用脈沖寬度調(diào)制器10以間歇地產(chǎn)生DRIVE信號(hào)14，或者脈沖寬度調(diào)制器10可持續(xù)運(yùn)行。類似地，微處理器2可以預(yù)選時(shí)間間隔選擇性地檢查RETURN信號(hào)20，或者可不斷地監(jiān)測RETURN信號(hào)20以持續(xù)監(jiān)測感測線6的完整性。
[0037]圖7示出了感測線完整性檢測系統(tǒng)100的一個(gè)替代實(shí)施方案，如同在上文討論的實(shí)施方案中，檢測系統(tǒng)100包括一個(gè)微控制器102、一個(gè)加熱元件104、一個(gè)NTC層107、一個(gè)感測元件106，及一個(gè)Α/D轉(zhuǎn)換器126。
[0038]在該實(shí)施方案中，為了檢測感測線106的完整性，按固定時(shí)間間隔，當(dāng)測試信號(hào)被施加至感測線106時(shí)，至加熱元件104的功率被移除和/或被斷開。切斷至加熱元件104的功率可持續(xù)為例如16.66毫秒的一個(gè)電力線周期(power line cycle)的一段持續(xù)時(shí)間,或任意其他固定時(shí)間段。在三端雙向可控硅開關(guān)元件Dl被迫不啟動(dòng)期間，微處理器輸出Ul提供一系列方波。采用適當(dāng)?shù)臑V波以分離AC線頻率和Ul提供的信號(hào)以及分離被用于檢測熱點(diǎn)的Α/D輸入和感測線完整性信號(hào)。
[0039]在另一個(gè)實(shí)施方案中，如圖8不出的,通過在一選定時(shí)間段內(nèi)以某一時(shí)間間隔將NTC層107從AC電源斷開，可確定感測線106的完整性。一旦合上感測線完整性電路，提供一個(gè)測試信號(hào)通過感測線。
[0040]在加熱階段，三端雙向可控硅開關(guān)元件Dl和D2 “接通”且引腳B處于高阻態(tài)。通過A/D126測量NTC107泄漏以檢測熱點(diǎn)。在測試階段，“斷開”三端雙向可控硅開關(guān)元件Dl和D2，引腳B輸出一個(gè)信號(hào)，例如方波，該信號(hào)通過感測線106傳至A/D126。通過檢查A/D126接收的信號(hào)的振幅，以及對(duì)已經(jīng)接收的方波脈沖的數(shù)目進(jìn)行計(jì)數(shù)與多少被發(fā)送進(jìn)行比較，確定感測線的完整性。
[0041]一旦感測線106完整性的驗(yàn)證完成(即，A/D126檢測到適當(dāng)振幅的信號(hào)和/或方波脈沖數(shù)目)，就恢復(fù)至加熱元件104的功率，三端雙向可控硅開關(guān)元件Dl和D2 “接通”，引腳B處于高阻態(tài)。根據(jù)需要可重復(fù)這樣的過程，且微控制器102可再次啟動(dòng)驗(yàn)證測試循環(huán)。
[0042]因此，已示出和描述了數(shù)個(gè)新穎的加熱墊安全系統(tǒng)和方法的實(shí)施方案。如根據(jù)上文描述明顯的，本實(shí)用新型的某些方面不受在此示出的實(shí)施例的特定細(xì)節(jié)限制，且因此預(yù)期，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員將想到其他改型和應(yīng)用，或其等同物。前述說明書中使用的術(shù)語“具有”和“包括”及類似術(shù)語被在“可選的”或“可包括”的意義上使用，而不是在“必需的”意義上使用。然而，在考慮說明書和附圖之后，本實(shí)用新型的許多變化、改型、變體及其他用途和應(yīng)用對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員將是顯而易見的。不背離本實(shí)用新型的精神和范圍的所有這些變化、改型、變體及其他用途和應(yīng)用被認(rèn)為被本實(shí)用新型覆蓋，本實(shí)用新型僅由隨附的權(quán)利要求限定。
【權(quán)利要求】
1.一種電加熱織物，包括: 一個(gè)加熱元件，與NTC材料連通，其中以第一頻率產(chǎn)生第一信號(hào)通過所述加熱元件； 一個(gè)感測線，用于檢測所述加熱元件導(dǎo)致的熱點(diǎn)； 一個(gè)測試信號(hào)發(fā)生器，被電連接至所述感測線用于在所述感測線的第一端產(chǎn)生第二信號(hào)，其中所述測試信號(hào)具有第二頻率；以及 一個(gè)信號(hào)檢測器，用于在所述感測線的第二端上檢測所述第二信號(hào)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電加熱織物，還包括: 一個(gè)具有負(fù)溫度系數(shù)(NTC)的層，位于所述加熱元件和所述感測線之間。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電加熱織物，其中所述NTC層繞所述加熱元件纏繞，且所述感測線繞所述NTC層纏繞。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電加熱織物，其中所述檢測在存在所述第一信號(hào)時(shí)發(fā)生。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電加熱織物，其中所述第一頻率與所述第二頻率不同。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電加熱織物，其中所述第一信號(hào)是具有近似50-60HZ的第一頻率的AC線電壓。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電加熱織物，其中所述第二頻率是近似30kHz的頻率。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電加熱織物，其中所述檢測在斷開所述第一信號(hào)時(shí)發(fā)生。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的電加熱織物，其中所述第一頻率與所述第二頻率不同。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的電加熱織物，其中所述第一頻率與所述第二頻率相同。
11.一種用于檢測電加熱織物中感測線完整性的電路完整性檢測系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括: 一個(gè)感測線，用于檢測由所述電加熱織物的加熱元件導(dǎo)致的熱點(diǎn)，其中以第一頻率產(chǎn)生第一信號(hào)通過所述加熱元件； 一個(gè)測試信號(hào)發(fā)生器，電連接至所述感測線，用于在所述感測線的第一端產(chǎn)生第二頻率的測試信號(hào)； 一個(gè)信號(hào)檢測器，用于在所述感測線的第二端上檢測所述第二頻率。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的電路完整性檢測系統(tǒng)，其中所述檢測在存在所述第一信號(hào)時(shí)發(fā)生。
13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的電路完整性檢測系統(tǒng)，其中所述檢測在斷開所述第一信號(hào)時(shí)發(fā)生。
【文檔編號(hào)】H05B1/00GK203523055SQ201290000244
【公開日】2014年4月2日 申請(qǐng)日期:2012年8月30日 優(yōu)先權(quán)日:2011年10月26日
【發(fā)明者】G·柯恩, L·霍瑞, W·G·麥考伊 申請(qǐng)人:光達(dá)家電用品公司