專利名稱：布線檢查裝置和布線檢查系統(tǒng)的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種印刷布線板的布線檢查裝置及其布線檢查系統(tǒng)。
背景技術：
在LSI (大規(guī)模集成)和上面安裝有IC (集成電路)的印刷布線板中，有必要提高電磁噪聲特性。也就是說，有必要抑制不必要的電磁噪聲出射到外部，并防止由于從外部混合的電磁噪聲引起的破壞和故障。如果在制造印刷布線板之后進行提高電磁噪聲特性的設計改變和增加測量部件，會引起開發(fā)周期延長和生產(chǎn)成本增加。為此，期望在印刷布線板的設計周期中檢查電磁噪聲特性，以及如有需要則采取措施提高電磁噪聲特性。公知，如果與布線相對的平面導電體缺失并且布線與平面導電體的缺失部分交叉，則印刷布線板的電磁噪聲特性會變壞。存在許多缺失導體的部分，諸如用于分開通孔、電源或地的許多間隙，和用于穿過用作印刷電路板的電源或地的平面導電體中的布線的缺口。此后，缺失導體的部分，諸如用于分開通孔、電源或地的許多間隙，和用于穿過布線的缺口，將被稱為縫隙。在常規(guī)的印刷布線板中，形成在平面導電體中的縫隙具有如圖1所示的各種形狀。圖1中的切口部分示出了縫隙。當布線與這樣的縫隙相對時，會出現(xiàn)布線與縫隙交叉的部分。并且如果信號電流的返回路徑變遠，則會出射強的電磁噪聲。從外部混合的電磁噪聲容易從平面導電體中的縫隙周圍疊加在布線上并且會引起電子設備的破壞和故障。

例如，在專利文獻I中公開了檢查這樣的布線的技術。專利文獻I中公開的檢查裝置對于對其進行了布局設計的基板提取與容易受到噪聲影響的指定區(qū)域交叉的布線。并且對于該布線檢查干擾噪聲。該裝置包括區(qū)域指定裝置、布線提取裝置和干擾檢查裝置。區(qū)域指定裝置是用于對于對其進行了布局設計的基板指定任意區(qū)域的裝置。布線提取裝置是用于提取與由區(qū)域指定裝置指定的區(qū)域和其它部分交叉的布線的裝置。干擾檢查裝置是用于對由布線提取裝置提取的布線進行噪聲干擾檢查的裝置。根據(jù)該裝置，由于區(qū)域是取決于基板的平面形狀而指定的，所以據(jù)說即使用戶不分別進行區(qū)域指定，也可以自動進行區(qū)域指定。然而，在專利文獻I描述的裝置中，用戶可以進行用于提取布線的區(qū)域指定。因此，沒有使對檢查的全自動化，并且存在在檢查階段用戶必須干涉的問題。盡管描述了能夠通過該裝置自動進行區(qū)域指定，但自動區(qū)域指定具有如專利文獻I的說明書段落
中描述的大的限制。也就是說，存在如下限制，多層PWB的幾乎所有層都必須是類似的平面形狀，或者布線僅存在于以指定形狀設計的平面層中才是有效的。例如，在專利文獻2中公開了關于全自動化檢查的技術。在專利文獻2中描述的印刷布線板的返回路徑截止檢查系統(tǒng)中，檢測印刷布線板上的布線是否僅形成在單個平面層上。在該系統(tǒng)中，布線和平面層是從CAD (計算機輔助設計)數(shù)據(jù)自動選擇的，并且一個位于另一個上方的布線和平面層堆積成圖像。并且檢測布線是否僅形成在單個平面層上。在專利文獻2中描述的系統(tǒng)中，存在在檢查階段用戶必須干涉的一些問題，以及存在諸如自動區(qū)域指定中的限制的一些問題。然而，該系統(tǒng)檢測的僅僅是布線是否僅形成在單個平面層上的信息。因此，考慮到布線和平面層的結構差異，不能檢測受到在多個平面層上的布線形成的影響程度。例如，在專利文獻3中公開了關于上述問題的解決方案的技術。在專利文獻3中，公開了用于判斷布線是否在類似的平面層之間交叉或者是否在不同的平面層之間交叉的平面交叉布線檢查系統(tǒng)。在該系統(tǒng)中，從CAD數(shù)據(jù)提取檢查目標的布線和多個平面層，檢測它們的投影重疊，并且還判斷每個平面層的屬性。并且，把在類似的平面層之間交叉的布線和在不同的平面層之間交叉的布線分類，并且將加權添加到每個布線。結果，受到布線穿過平面層之間的影響程度取決于平面層的種類被分成多個等級。因此，能夠有效地檢查布線圖案?，F(xiàn)有技術文獻專利文獻專利文獻1:日本專利申請?zhí)亻_N0.2006-172370專利文獻2:日本專利申請?zhí)亻_N0.2000-331048專利文獻3:日本專利申請公開N0.2009-21140
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的問題為了提高印刷 布線板的電磁噪聲特性，優(yōu)先從使電磁噪聲特性惡化的高風險的布線進行測量設計是有效且高效的。這里，專利文獻3中描述的布線檢查系統(tǒng)根本沒有基于縫隙形狀的差異來考慮使電磁噪聲特性惡化的風險的差異。另一方面，本申請的發(fā)明人發(fā)現(xiàn)，由于縫隙形狀的差異會出現(xiàn)電磁噪聲特性的差異。將利用圖2至5描述縫隙形狀和電磁噪聲特性之間的關系的評估結果。在圖2A和2B中示出了用于評估的印刷布線板I的示意圖。在圖2A中示出了印刷布線板I的頂視圖，在圖2B中示出了它的截面圖。印刷布線板I由作為基板材料的玻璃環(huán)氧樹脂板組成并且具有4層結構，該基板材料為電介質基板。該玻璃環(huán)氧樹脂板的標準符號為FR-4。布線2和焊盤3形成在頂層，平面導電體6-8形成在另外的三層中。用于電壓測量的同軸連接器4連接至布線3的一端，而用于終端的50 Ω的電阻器5連接至另一端。焊盤3以2平方毫米形成在印刷布線板I的拐角上，并通過通孔9電連接至平面導電體6-8。平面導電體6-8通過以5mm的間隔布置在印刷布線板I中的通孔9彼此電連接。尺寸為dlXd2的縫隙10分別形成在平面導電體6-8中位于布線2正下方的位置。并且布線2與縫隙10的中心交叉。在這樣的印刷布線板I中，測量了從頂層上的焊盤3施加電磁噪聲時的感應電壓。還對印刷布線板I的平面導電體6-8中形成的縫隙10制作成圖3A和圖3B所示形狀的縫隙的情形進行了類似的測量。圖3A中所示的縫隙是寬度變化的變形縫隙。并且圖3B中所示的縫隙是平面導電體6-8缺失邊緣的基板端部縫隙。在該測量時，示出了當感應電壓變高時，測量會受到來自外部的電磁噪聲的影響，也就是，電磁噪聲特性惡化的風險
會變高。圖4中示出了感應電壓的測量結果。在圖4中，實線表示作為標準平面導電體6-8不具有縫隙時的電壓波形，虛線表示縫隙尺寸(dlXd2)設定為2mmX5mm時的電壓波形。從圖4發(fā)現(xiàn)，通過施加電磁噪聲，在與縫隙交叉的布線中感應電壓變大，并且由此使得電子設備的電磁噪聲特性惡化。在布線與具有其它形狀的縫隙交叉的情況下進行了類似測量，并且提取了表示評估感應電壓時的電壓的最大幅值的峰-峰值(Vpp)。在圖5中示出了縫隙的形狀和感應電壓的峰-峰值。為了研究由縫隙形狀的差異引起的感應電壓的差異，還在同一圖中示出了縫隙的面積。從圖5發(fā)現(xiàn)，感應電壓還隨著縫隙的面積變大而變高。發(fā)現(xiàn)，在每個都具有IOmm2相同面積的縫隙的2mmX5mm的矩形縫隙、變形縫隙和基板端部縫隙當中，感應電壓是不同的。獲得了以下結果:尤其是在基板端部縫隙中產(chǎn)生了大的感應電壓。如上所述，為了提高印刷布線板的電磁噪聲特性，優(yōu)選地從具有電磁噪聲特性惡化的高風險的布線進行測量設計是有效且高效的。因此，在用于檢查布線的系統(tǒng)中，期望在考慮布線交叉的縫隙的形狀來檢測電磁噪聲特性惡化的風險的程度。另一方面，如上所述，在專利文獻3描述的檢查系統(tǒng)中，根本沒有考慮縫隙形狀的差異。因此，不能有效地提高電磁噪聲特性。這里，如從圖5中的測量結果所發(fā)現(xiàn)的，僅通過縫隙的面積不能正確地檢測電磁噪聲特性惡化的風險程度。利用對于處理起來特別簡單的矩形縫隙，還考慮根據(jù)縫隙的長度和寬度以及其是否位于存在縫隙的平面導電體的內(nèi)側或基板端部信息來為風險的等級分類的方法。然而，存在圖1中所示的各種形狀的縫隙和在通常的印刷布線板中具有更復雜形狀的許多縫隙。因此，即使使用了該方法，也不能夠以與印刷布線板的實際條件匹配的等級來分類。本發(fā)明的目的是提供一種布線檢查裝置、布線檢查系統(tǒng)、布線檢查方法、布線檢查程序和記錄介質，其能夠考慮縫隙形狀的差異以發(fā)現(xiàn)電磁噪聲特性惡化的風險。解決問題的手段本示例性實施例中的布線檢查裝置提供有:布線信息獲取單元，用于獲取布線的布線信息；第一平面導電體檢測單元，用于檢測與布線相鄰的第一平面導電體；交叉布線確定單元，用于檢測布線和第一平面導電體的重疊投影，并且確定布線是否是與第一平面導電體的形成區(qū)和第一平面導電體的非形成區(qū)之間的分界線交叉的交叉布線；以及閉合曲線長度檢測單元，如果確定布線是交叉布線，則閉合曲線長度檢測單元用于檢測分界線的閉合曲線長度。本示例性實施例中的布線檢查系統(tǒng)提供有:布線信息獲取裝置，用于獲取布線的布線信息；第一平面導電體檢測裝置，用于檢測與布線相鄰的第一平面導電體；交叉布線確定裝置，用于檢測布線和第一平面導電體的重疊投影，并且確定布線是否是與第一平面導電體的形成區(qū)和第一平面導電體的非形成區(qū)之間的分界線交叉的交叉布線；以及閉合曲線長度檢測裝置，如果確定布線是交叉布線，則閉合曲線長度檢測裝置用于檢測分界線的閉合曲線長度。 本示例性實施例中的布線檢查方法，包括以下步驟:布線信息獲取步驟，用于獲取布線的布線信息；第一平面導電體檢測步驟，用于檢測與布線相鄰的第一平面導電體；交叉布線確定步驟，用于檢測布線和第一平面導電體的重疊投影，并且確定布線是否是與第一平面導電體的形成區(qū)和第一平面導電體的非形成區(qū)之間的分界線交叉的交叉布線；以及閉合曲線長度檢測步驟，如果確定布線是交叉布線，則閉合曲線長度檢測步驟用于檢測分界線的閉合曲線長度。本示例性實施例中的布線檢查程序使計算機執(zhí)行本發(fā)明的布線檢查方法。本示例性實施例中的記錄介質是計算機可讀的信息存儲介質，并且記錄本發(fā)明的布線檢查程序。發(fā)明的效果根據(jù)本發(fā)明，變得能夠考慮縫隙形狀的差異，以發(fā)現(xiàn)電磁噪聲特性惡化的風險。


圖1示出了其中形成了具有多個形狀的縫隙的平面導電體的示例。圖2示出了用于評估的印刷布線板的示意圖。圖3示出了用于評估的印刷布線板的縫隙形狀的其它示例。圖4示出了感應電壓的測量結果。圖5示出了縫隙的尺寸和形狀，以及感應電壓的峰-峰值。圖6示出了本發(fā)明的第一示例性實施例中的布線檢查系統(tǒng)的結構的示例。圖7示出了通過 本發(fā) 明的第一示例性實施例中的布線檢查系統(tǒng)的布線檢查方法的示例。圖8示出了關于通過本發(fā)明的第一示例性實施例中的布線檢查系統(tǒng)的布線檢查的目標印刷布線板。圖9示出了本發(fā)明的第二示例性實施例中的布線檢查系統(tǒng)的配置的示例。圖10示出了通過本發(fā)明的第二示例性實施例的布線檢查系統(tǒng)的布線檢查方法的示例。圖11示出了關于通過本發(fā)明的第二示例性實施例中的布線檢查系統(tǒng)的布線檢查的目標印刷布線板的配置。圖12示出了在通過本發(fā)明的第二示例性實施例中的布線檢查系統(tǒng)的布線檢查中獲得的結果。圖13不出了通過從印刷布線板外部混合的電磁噪聲對布線的感應電壓。圖14示出了流過縫隙的外圍的噪聲電流和由噪聲電流引起的磁場。圖15示出了印刷布線板的縫隙外圍的截面圖。圖16示出了縫隙的形狀和縫隙圖案，以及感應電壓的峰-峰值。圖17示出了用于評估的印刷布線板的結構的示意圖。圖18示出了印刷布線板的三個圖案的縫隙外圍的截面圖。圖19示出了縫隙的形狀和縫隙圖案，以及感應電壓的峰-峰值。圖20示出了本發(fā)明的第三示例性實施例的布線檢查系統(tǒng)的配置的示例。圖21示出了通過本發(fā)明的第三示例性實施例中的布線檢查系統(tǒng)的布線檢查方法的示例。
圖22示出了增加加權系數(shù)的方法。圖23示出了關于通過本發(fā)明的第三示例性實施例中的布線檢查系統(tǒng)的布線檢查的目標印刷布線板的結構。圖24示出了在通過本發(fā)明的第三示例性實施例中的布線檢查系統(tǒng)的布線檢查中獲得的結果。圖25示出了本發(fā)明的第三示例性實施例的布線檢查系統(tǒng)的配置的另一示例。圖26示出了關于通過本發(fā)明的第三示例性實施例中的布線檢查系統(tǒng)的布線檢查的目標印刷布線板的結構。
具體實施例方式將參考附圖描 述本發(fā)明的示例性實施例。然而，實施例并不限制本發(fā)明的技術范圍。[第一示例性實施例]利用圖6，將描述本發(fā)明的第一示例性實施例的布線檢查系統(tǒng)。本示例性實施例中的布線檢查系統(tǒng)100包括布線信息獲取裝置101、第一平面導電體檢測裝置102、交叉布線確定裝置103和閉合曲線長度檢測裝置104。布線信息獲取裝置101獲取布線的布線信息。第一平面導電體檢測裝置102檢測與布線相鄰的第一平面導電體。交叉布線確定裝置103檢測布線和由第一平面導電體檢測裝置102檢測的第一平面導電體的重疊投影。并且確定布線與第一平面導電體的形成區(qū)和第一平面導電體的非形成區(qū)之間的分界線是否交叉。在下文中，這種與第一平面導電體的形成區(qū)和第一平面導電體的非形成區(qū)之間的分界線交叉的布線稱為交叉布線。這里，如果確定布線是交叉布線，則閉合曲線長度檢測裝置104檢測分界線的閉合曲線長度。接下來，將利用圖7描述通過本示例性實施例中的布線檢查系統(tǒng)100的印刷布線板布線檢查方法。作為要通過布線檢查系統(tǒng)100對其進行布線檢查的印刷布線板，將使用圖8中示出的印刷布線板110。首先，布線信息獲取裝置101獲取關于布線111的布線信息(步驟I)。這里的布線111是要通過布線檢查系統(tǒng)100檢查的目標布線。接下來，第一平面導電體檢查裝置102檢測與布線111相鄰的第一平面導電體(步驟2)。在本示例性實施例中，檢測第一平面導電體112，其是直接位于布線111下方并與之相鄰的平面導電體。接下來，交叉布線確定裝置103檢測布線111和第一平面導電體112的重疊投影(步驟3)。而且，交叉布線確定裝置103確定布線111是否是與第一平面導電體112的形成區(qū)和第一平面導電體112的非形成區(qū)之間的分界線113交叉的交叉布線(步驟4)。如果確定布線111是交叉布線，則閉合曲線長度檢測裝置104檢測分界線113的閉合曲線長度(步驟5)。這里，布線111被確定是交叉布線的情況意指在步驟4中選擇“是”的情況。在本示例性實施例中分界線113的閉合曲線長度變成在第一平面導電體中形成的縫隙的邊界長度。另一方面，如果布線111被確定不是交叉布線，則處理返回到步驟1，并獲取關于其它布線的布線信息。這里，布線111被確定不是交叉布線的情況意指確定在步驟4中選擇“否”的情況。如果沒有其它布線，則布線檢查系統(tǒng)100的布線檢查結束。如上所述，在本示例性實施例的布線檢查系統(tǒng)100中，能夠檢測與平面導電體的形成區(qū)和非形成區(qū)之間的分界線交叉的布線，以及分界線的閉合曲線長度。結果，可以考慮縫隙的形狀差異，以發(fā)現(xiàn)電磁噪聲特性惡化的風險。因此，變得能夠更有效地提高印刷布線板的電磁噪聲特性。本示例性實施例中的布線檢查系統(tǒng)100可包括單個裝置，或者可以包括多個裝置。[第二示例性實施例]利用圖9將描述本發(fā)明的第二示例性實施例中的布線檢查系統(tǒng)。本示例性實施例中的布線檢查系統(tǒng)200包括記錄裝置210、布線檢查裝置220和輸出裝置230。布線檢查裝置220處于能夠分別通過有線或無線與記錄裝置210和輸出裝置230通信的狀態(tài)。記錄裝置230包括設計信息記錄單元211。設計信息記錄單元211記錄關于印刷布線板的設計信息，例如CAD數(shù)據(jù)。例如，有關印刷布線板的布線的位置信息被包含在設計信息中。布線檢查裝置220包括布線信息獲取單元221、第一平面導電體檢測單元222、交叉布線確定單元223和 閉合曲線長度檢測單元224。布線信息獲取單元221參考記錄在設計信息記錄單元211中的設計信息，并獲取關于作為檢查目標的布線的布線信息。第一平面導電體檢測單元222檢測與布線相鄰的第一平面導電體。交叉布線確定單元223檢測布線和通過第一平面導電體檢測單元222檢測的第一平面導電體的重疊投影。并且確定布線是否是與第一平面導電體的形成區(qū)和非形成區(qū)之間的分界線交叉的交叉布線。這里，如果確定檢查目標的布線是交叉布線，則閉合曲線長度檢測單元224檢測分界線的閉合曲線長度。輸出裝置230輸出關于通過閉合曲線長度檢測單元224檢測的閉合曲線長度的信
肩、O接下來，利用圖10中示出的流程圖，將描述通過本示例性實施例中的布線檢查系統(tǒng)200的印刷布線板的布線檢查方法。作為要通過布線檢查系統(tǒng)200對其進行布線檢查的印刷布線板，將利用圖11中示出的印刷布線板240。圖11是示意圖，其僅從印刷布線板240的結構中提取了一層平面導電體和形成在其上方的布線。圖1lA示出了頂視圖，并且圖1lB示出了透視圖。兩個平面導電體246和247和五個布線241至245被包括在圖11中所示的結構中，并且在由點A至J表示的十個位置中，任何布線都與平面導電體的形成區(qū)和非形成區(qū)之間的分界線交叉。假設關于要對其進行布線檢查的印刷布線板的設計信息被預先記錄在設計信息記錄單元211中。首先，布線信息獲取單元221讀取記錄在設計信息記錄單元211中的關于印刷布線板240的設計信息，并從那里獲取關于作為檢查目標的布線的布線信息(步驟6)。例如，布線信息包括關于布線的位置坐標和布線層的信息。這里，布線的位置坐標是XY坐標等。在本示例性實施例的情況下，在形成在印刷布線板240中的布線241至245中，首先獲取關于布線241的布線信息。接下來，第一平面導電體檢測單元222再次讀取關于印刷布線板240的設計信息，并檢測在基板多層方向上與布線241相鄰的平面導電體(步驟7)。在本示例性實施例的情況下，檢測與布線241相鄰的平面導電體246。接下來，交叉布線確定單元223檢測布線241和平面導電體246的重疊投影(步驟8)。重疊投影的檢測也是通過讀取關于印刷布線板240的設計信息進行的。并且交叉布線確定單元223確定布線241是否是與平面導電體246的形成區(qū)和非形成區(qū)之間的分界線交叉的交叉布線(步驟9)。這里，如圖11所示，布線241僅布置在平面導電體246的形成區(qū)上。因此，確定布線241不是交叉布線。這里，確定不是交叉布線的情況意指確定在步驟9中選擇“否”的情況。如果變?yōu)闄z查目標的布線241被確定不是交叉布線，則處理再次返回到步驟6，并且布線信息獲取單元221獲取關于其它布線的布線信息。這里，將獲取關于布線242的布線信息。并且通過步驟7，檢測平面導電體245，作為與布線242相鄰的平面導電體。并且通過步驟8，檢測布線242和平面導電體246的重疊投影，并通過步驟9確定布線242是否是交叉布線。這里，布線242在A點與平面導電體246的形成區(qū)和非形成區(qū)之間的分界線的縫隙248的外圍交叉。因此，交叉布線確定單元223確定布線242是交叉布線。這里，確定布線242是交叉布線的情況意指確定在步驟9中選擇“是”。在這種情況下，閉合曲線長度檢測單元224檢測包含點A的分界線的閉合曲線長度(步驟10)。在本示例性實施例中，分界線的閉合曲線長度代表縫隙248的邊界長度。因此，在步驟10中，檢測到縫隙248的邊界長度(4mmX8mm)是24mm的值。分界線的閉合曲線長度的檢測是通過讀取記錄在設計信息記錄單元211中的設計信息來進行的。并且通過閉合曲線長度檢測單元224檢測的關于閉合曲線長度的信息被傳送到輸出裝置230。輸出裝置230輸出接收的關于閉合曲線長度的信息(步驟11)。這里，輸出裝置230可以在顯示屏上顯 示接收的關于閉合曲線長度的信息，或者可以打印它。如果除了布線242之外，還存在用于布線檢查的目標布線，也就是，在確定在步驟12中選擇“是”的情況下，布線信息獲取單元221再次讀取設計信息，并獲取關于其它布線的布線信息(步驟6)。這里，將獲取關于布線243的布線信息。并且通過步驟7，檢測平面導電體246和247，作為與布線242相鄰的平面導電體。并且通過步驟8，檢測布線243與平面導電體246和247的每一個的重疊投影。通過步驟9確定布線243是否是交叉布線。這里，在點B、C、D和E處，布線243與平面導電體246和平面導電體247的形成區(qū)和非形成區(qū)之間的各個分界線交叉。因此，交叉布線確定單元223確定布線243是交叉布線。這里，交叉布線確定單元223確定布線243是交叉布線的情況意指確定在步驟9中選擇“是”的情況。并且閉合曲線長度檢測單元224檢測包含點B、C、D和E的分界線的閉合曲線長度(步驟10)。這里，包含點B和C的分界線的閉合曲線長度代表縫隙248的邊界長度，并且其值如上所述變?yōu)榈扔?4mm。另一方面，D點處的分界線的閉合曲線長度代表平面導電體246的外圍長度，并且它的值變?yōu)榈扔?36mm。E點處的分界線的閉合曲線長度代表平面導電體247的外圍長度，并且它的值等于46mm。并且將關于閉合曲線長度的信息傳送到輸出裝置230 (步驟11)。然后對于每個布線重復步驟6-11，直到作為檢查目標的布線清空。在點F、G、H和I處，布線244與平面導電體246的形成區(qū)和非形成區(qū)之間的各個分界線交叉。因此，在步驟10中，檢測包含點F和G的分界線的閉合曲線長度和包含點H和G的分界線的閉合曲線長度?？p隙249是基板端部縫隙，其中對于平面導電體246的基板端部缺失平面導電體。因此，包含點F和G的分界線的閉合曲線長度代表包含縫隙249的外圍長度的平面導電體246的外圍長度，并且其值變?yōu)榈扔?36mm。包含點H和I的分界線的閉合曲線長度代表縫隙250的邊界長度，并且其值變?yōu)榈扔?0mm?？p隙250是變形縫隙，具有通過組合兩個長方形而形成的形狀。而且，在J點處，布線245與平面導電體246的形成區(qū)和非形成區(qū)之間的分界線交叉。因此，在步驟10中，檢測包含J點的分界線的閉合曲線長度。這里，包含點J的分界線的閉合曲線長度代表平面導電體246的外圍長度，并且其值變?yōu)榈扔?36mm。由此，當完成了所有布線241-245的布線檢查時，也就是，當在步驟12中確定選擇“否”時，已經(jīng)完成了通過布線檢查系統(tǒng)200的布線檢查。在圖12中示出了在本示例性實施例中通過布線檢查系統(tǒng)200獲得的檢測結果。圖12通過將布線數(shù)目和包含每個布線交叉的點A至J的分界線的閉合曲線長度相關聯(lián)示出了結果。并且，圖12中示出的閉合曲線長度可以用作判斷電磁噪聲特性惡化風險的指數(shù)。也就是，隨著閉合曲線長度越長，電磁噪聲特性惡化的風險變得越高。在本示例性實施例中，在兩個平面導電體246和247之間的D點和基板端部縫隙249中的F、G和J點的部分中，電磁噪聲特性的惡化風險變得最高。當不同平面導電體之間的布線交叉時，像D點和E點中那樣，通常認為如專利文獻3所公開的，電磁噪聲特性的惡化風險變得更高。當布線與基板端部縫隙交叉時，像F點和G點中那樣，從圖5中所示的測量結果明顯看出，電磁噪聲特性的惡化風險變得更高。而且，雖然包含點A、B和C的縫隙248的面積和包含點H和I的變形縫隙250的面積同為32_2，但是它們的邊界長度是彼此不同的。由此，從圖5中所示的測量結果明顯看出，如果邊界長度不同，即使面積相同，電磁噪聲特性的惡化風險也不同。 由此，從圖5所示的測量結果發(fā)現(xiàn)，圖12中所示的閉合曲線長度變?yōu)殡姶旁肼曁匦詯夯L險的等級分類指數(shù)。而且，這能夠從通過來自印刷布線板外部混合的電磁噪聲對布線的感應電壓的角度來描述。圖13是具有縫隙和與之鄰近的布線的平面導電體的頂視圖，并且示意性示出了當從圖的左下方的平面導電體的邊沿施加電磁噪聲時，在平面導電體中流動的噪聲電流。噪聲電流在平面導電體上流動，并且由此產(chǎn)生的電磁場與布線結合以產(chǎn)生感應電壓。該噪聲電流沿著平面導電體流動。然而，由于在縫隙的部分沒有導體，所以噪聲電流會流過縫隙的外圍。在這種縫隙的附近，尤其是通過噪聲電流會產(chǎn)生強電磁場。并且該電磁場與相鄰于該縫隙的布線結合并且會在布線中引起更高的感應電壓。由此，通過沿著縫隙的外圍流動的噪聲電流，產(chǎn)生了強電磁場。因此，認為電流路徑的長度，也就是，縫隙的邊界長度變成表示電磁噪聲特性惡化的風險的指數(shù)。盡管形成在平面導電體內(nèi)部的縫隙已描述于圖13中，但在形成于平面導電體端部的基板端部縫隙中和多個平面導電體之間的開口中同樣也產(chǎn)生了電磁場。并且認為電磁場的強度取決于電流路徑的長度，也就是，平面導電體的形成區(qū)和非形成區(qū)之間的分界線的閉合曲線長度。從上文發(fā)現(xiàn)，圖12中所示的閉合曲線長度能夠用作電磁噪聲特性惡化的風險的等級分類的指數(shù)。
如上所述,通過本示例性實施例的布線檢查系統(tǒng)200,能夠適當?shù)靥崛‘旊姶旁肼曁匦詯夯娘L險尤其是較高時在不同的平面導電體主體和基板端部縫隙之間布線交叉的部分，并且將該風險數(shù)字化。而且，還能夠將由于縫隙形狀的差異引起的電磁噪聲特性惡化的風險的差異數(shù)字化并掌握該差異。因此，能夠優(yōu)選地從電磁噪聲特性惡化的風險較高的部分進行測量設計，并且能夠有效且高效地防止電磁噪聲特性的惡化。結果，能夠提高電子設備的可靠性。在圖12中，盡管示出了閉合曲線長度的長度，但不限于此。例如，可以取決于風險等級來分組，使得當閉合曲線長度小于IOmm時風險為“低”，當閉合曲線長度從10至IOOmm時風險為“中”，并且當閉合曲線長度等于IOOmm或更高時風險為“高”。并且輸出裝置230可以輸出分組的結果。從而，能夠進行在電磁噪聲特性惡化的風險為高的那部分的分組，并且應該優(yōu)先采取措施，以及能夠更有效地使用閉合曲線長度的檢測結果。在本示例性實施例中，例如，點D、F、G和J被分成“高”風險，而其它的被分成“中”風險。還能夠對于每個布線計算閉合曲線長度的和，以及對于每個布線進行風險的排名。在本示例性實施例中，如果為每個布線計算閉合曲線長度，由于布線241不是交叉布線，所以總數(shù)變?yōu)榱?。對于布線242總數(shù)為24臟，對于布線243總數(shù)為230mm，對于布線244總數(shù)為332mm，以及對于布線245總數(shù)為136mm。結果，發(fā)現(xiàn)布線244是電磁噪聲特性惡化的風險最高的布線。在本示例性實施例中，盡管與布線檢查裝置220獨立地提供了記錄裝置210和輸出裝置230，但不限于此。也就是，代替記錄裝置210和輸出裝置230，可以在布線檢查裝置220的內(nèi)部提供記錄單元和輸出單元。[第三示例性實施例]接下來，將在描述有關本發(fā)明的第三示例性實施例之前，描述平面導電體在多層PWB中的布置和電磁噪聲特性惡化的風險之間的關系。圖14示出了流過形成在平面導電體中的縫隙外圍的噪聲電流，和由于噪聲電流產(chǎn)生的磁場。圖14A示出了在具有縫隙的平面導電體301上方和下方的層中沒有其它平面導電體的情形。在這種情況下，如果在與平面導電體301的縫隙相對的位置布置布線，則由噪聲電流在縫隙的附近產(chǎn)生的電磁場會與布線結合并且引起電壓。圖14B示出了在具有縫隙的平面導電體301的下層中存在沒有縫隙的其它平面導電體302的情形。在這種情況下，由流過平面導電體301中的縫隙外圍的噪聲電流引起的磁場會在平面導電體302的表面上產(chǎn)生渦電流。如圖14D所示，該渦電流會產(chǎn)生與平面導電體301中的噪聲電流所產(chǎn)生的磁場方向相反的磁場。并且通過由該渦電流產(chǎn)生的磁場，會抵消由平面導電體301中的噪聲電流引起的磁場，并且會削弱縫隙周圍的電磁場。結果，即使布線布置在與平面導電體301的縫隙相對的位置，在布線中感應的電壓也會變小。也就是，由于其它平面導電體302存在于平面導電體301的縫隙的正上方或正下方的位置，所以減小了電磁噪聲特性惡化的風險。在圖14B中，隨著平面導電體301和平面導電體302之間的距離變近，由平面導電體301中的噪聲電流產(chǎn)生的磁場與平面導電體302結合得更強。由此在平面導電體302中產(chǎn)生的渦電流也會變得更 大，并且抵消在平面導電體301中由噪聲電流引起的磁場的效果會變得更好。也就是說，電磁噪聲特性惡化的風險會隨著平面導電體之間的距離變近而減小。
接下來，將描述更詳細地評估關于減小電磁噪聲特性惡化風險的效果的結果。除了縫隙的形成位置之外，用于評估的印刷布線板的結構與圖2中所示的印刷布線板的結構相同。在該評估中，評估了三個圖案的印刷布線板，以在平面導電體6至8中形成縫隙的情況下和沒有形成縫隙的情況下進行測量。圖15示出了作為評估目標的三個圖案的印刷布線板的縫隙外圍的截面圖。圖15A中所示的縫隙的形狀被命名為縫隙圖案I。在縫隙圖案I中，僅在平面導電體6中形成縫隙，在平面導電體7和平面導電體8中沒有形成縫隙。圖15B中所示的縫隙的形狀被命名為縫隙圖案2。在縫隙圖案2中，在平面導電體6和平面導電體7中分別形成了相等尺寸的縫隙，并且在平面導電體8中沒有形成縫隙。圖15C中所示的縫隙的形狀被命名為縫隙圖案3。在縫隙圖案3中，在平面導電體6-8中分別形成了相等尺寸的縫隙。在與關于圖2所示的印刷布線板I的測量時間相同的環(huán)境下，當對于這些縫隙圖案1-3從頂層上的焊盤3施加電磁噪聲時，測量對于布線2的感應電壓。并且，作為標準，還評估了其中在任一層都沒有形成縫隙的印刷布線板。圖16示出了縫隙的形狀、縫隙圖案和感應電壓的峰-峰值。從其圖中發(fā)現(xiàn)，感應電壓在其中在所有的平面導電體6-8中形成縫隙的縫隙圖案3中變得最大。另一方面，與縫隙圖案3相比，發(fā)現(xiàn)感應電壓在其中存在沒有縫隙的平面導電體的縫隙圖案I和縫隙圖案2中較小。而且，縫隙圖案I中的感應電壓比縫隙圖案2中的感應電壓更小。這里，在縫隙圖案I中沒有縫隙的平面導電 體6和平面導電體7之間的距離比在縫隙圖案2中沒有縫隙的平面導電體6和平面導電體8之間的距離短。發(fā)現(xiàn)，電磁噪聲特性惡化的風險隨著其中形成了縫隙的平面導電體和在其它層中沒有形成縫隙的平面導電體之間的距離近而減小。接下來，將關于在布線的上層和下層中存在平面導電體的情形，分別描述進行類似評估的結果。圖17示出了用于評估的印刷布線板11的結構的示意圖。印刷布線板11包括層A至D的4層結構。布線12形成在層A和層B中，并且通過通孔9連接。平面導電體13-15分別形成在層A、C和D中，并且這些平面導電體通過以5_的間隔布置的通孔9彼此連接。用于施加電磁噪聲的焊盤3形成在層A中。在平面導電體13-15中與層B中的布線12相對的部分中分別形成縫隙?？p隙的形狀和要形成的位置與在圖2中所示的印刷布線板I中形成的縫隙類似。利用這種印刷布線板測量在層A上從焊盤3施加電磁噪聲時對布線12的感應電壓。這里，評估具有三個圖案的印刷布線板，以對在層A、C和D中的平面導電體中形成縫隙的情形和沒有形成縫隙的情形進行測量。圖18示出了作為評估目標的具有三個圖案的印刷布線板的縫隙外圍的截面圖。圖18A中所示的縫隙的形狀被命名為縫隙圖案4。在縫隙圖案4中，僅在平面導電體13中形成縫隙，在平面導電體14和15中沒有形成縫隙。圖18B中所示的縫隙的形狀被命名為縫隙圖案5。在縫隙圖案5中，在平面導電體13和14中形成了縫隙，在平面導電體15中沒有形成縫隙。圖18C中所示的縫隙的形狀被命名為縫隙圖案6。在縫隙圖案6中，在所有平面導電體13-15中形成了縫隙。并且，作為標準，還關于其中在任一層都沒有形成縫隙的印刷布線板進行了評估。圖19示出了縫隙的形狀、縫隙圖案和感應電壓的峰-峰值。結果，發(fā)現(xiàn)縫隙圖案6中的感應電壓最大。并且發(fā)現(xiàn)，縫隙圖案5中的感應電壓比縫隙圖案4中的感應電壓更大。在通常的多層PWB中，在基板層疊方向上存在多個平面導電體。因此，存在包括類似于上述測量結果減小縫隙影響的平面導電體的許多配置。為此，在布線檢查系統(tǒng)中，基于縫隙和平面導電體之間的位置關系，通過適當?shù)匦Ｕ姶旁肼曁匦詯夯娘L險的等級，更高精度級的分離變得成為可能。因此，在本示例性實施例中，描述布線檢查系統(tǒng)，考慮了不僅形成縫隙的平面導電體而且還有其它平面導電體的位置關系。將利用圖20描述本發(fā)明的第三示例性實施例中的布線檢查系統(tǒng)。本示例性實施例中的布線檢查系統(tǒng)300包括記錄裝置310、布線檢查裝置320、輸出裝置330和輸入裝置340。記錄裝置310包括設定信息記錄單元311和加權信息記錄單元312。設定信息記錄單元311記錄關于印刷布線板的設計信息，例如，CAD數(shù)據(jù)。例如，在設計信息中包括關于印刷布線板中的布線的位置信息。加權信息記錄單元312記錄加權設定信息。加權設定信息意指對于由閉合曲線長度檢測單元324檢測的閉合曲線長度的加權的設定信息。加權設定信息經(jīng)由臨時記錄單元325被發(fā)送到輸入裝置340以及從輸入裝置340接收。布線檢查裝置320包括布線信息獲取單元321、第一平面導電體檢測單元322、交叉布線確定單元323、閉合曲線長度檢測單元324、臨時記錄單元325、第二平面導電體檢測單元326和加權添加單元327。布線信息獲取單元321參考設計信息記錄單元311中記錄的設計信息并且獲取關于要成為檢查目標的布線的布線信息。第一平面導電體檢測單元322檢測與布線相鄰的第一平面導電體。交叉布線確定單元323檢測布線和由第一平面導電體檢測單元322檢測的第一平面導電體的重疊投影。并且確定布線是否是與第一平面導電體的形成區(qū)和第一平面導電體的非形成區(qū)之間的分界線交叉的交叉布線。這里，如果確定作為檢查目標的布線是交叉布線，則閉合曲線長度檢測單元324檢測分界線的閉合曲線長度。臨時記錄單元325臨時記錄從輸入裝置340接收的加權設定信息。臨時記錄單元325進行加權信息到記錄裝置310中的加權信息記錄單元312的發(fā)送和從記錄裝置310中的加權信息記錄單元312接收加權信息，例如，存儲和釋放。第 二平面導電體檢測單元326檢測第二平面檢測導體，第二平面檢測導體形成在交叉布線與第一平面導電體的形成區(qū)和非形成區(qū)之間的分界線交叉的部分的正上方或正下方的位置。加權添加單元327，基于通過第二平面導電體檢測單元326的檢測結果和臨時記錄單元325中記錄的加權設定信息，將加權系數(shù)添加到由閉合曲線長度檢測單元324檢測的閉合曲線長度。輸出裝置330輸出關于由閉合曲線長度檢測單元324檢測的閉合曲線長度的信息或者向其加上加權系數(shù)的信息。輸入裝置340輸入加權設定信息。接下來，將利用圖21描述通過本示例性實施例中的布線檢查系統(tǒng)300的布線檢查的方法。省略了有關步驟6-20的描述，因為該描述與第二示例性實施例中的描述相同。在本示例性實施例中，在步驟10之后，第二平面導電體檢測單元326檢測第二平面導電體(步驟13 )，第二平面導電體形成在交叉布線與第一平面導電體中的形成區(qū)和非形成區(qū)之間的分界線交叉的部分的正上方或正下方的位置。這里，如果檢測第二平面導電體，則加權添加單元327基于通過步驟13的檢測結果和臨時記錄單元325中記錄的加權設定信息將加權系數(shù)添加到步驟10中檢測的閉合曲線長度(步驟14)。檢測該第二平面導電體的情形指的是在步驟13中確定選擇“是”的情形。從輸入裝置340輸入的加權設定信息被記錄在臨時記錄單元325中。如果從加權信息記錄單元312提取的加權設定信息已經(jīng)被記錄在臨時記錄單元325中，則記錄的加權設定信息基于從輸入裝置340輸入的加權設定信息來更新。加權系數(shù)的值是從加權設定信息提取的并且被添加到閉合曲線長度，如圖22所示。并且在由步驟14添加加權系數(shù)之后，輸出裝置330輸關于關閉合曲線長度的信息(步驟15)。另一方面，如果第二平面導電體檢測單元326沒有檢測第二平面導電體，也就是，如果在步驟13中確定選擇“否”，則輸出裝置330輸出關于由閉合曲線長度檢測單元324檢測的閉合曲線長度的信息(步驟16)。例如，為每個布線輸出將要被輸出的信息。以上面提到的方式進行本示例性實施例的布線檢查系統(tǒng)300的布線檢查。接下來，將利用示例詳細地描述通過本示例性實施例中的布線檢查系統(tǒng)300的布線檢查。這里，將描述進行圖23中所示的印刷布線板250的布線檢查的情形。圖23中所示的印刷布線板250包括其中在圖11中所示的布線241-245的下層和平面導電體246和247中增加了平面導電體251的結構。圖23A示出了印刷布線板250的頂視圖，并且圖23B示出了其透視圖。盡管沒有寫出平面導電體251的詳細尺寸，但平面形狀對應于以圖23A的曲線圍繞的斜線部分。如從圖23A可以看到的，在點A、B、C、F、G、H和I的正下方的位置存在平面導電體251。因此，檢測平面導電體251，作為減小電磁噪聲特性惡化的風險的第二平面導電體。另一方面，平面導電體251在點D、E和J的正下方的位置缺失，且沒有形成。因此，沒有檢測第二平面導電體。

在圖24中示出了利用布線檢查系統(tǒng)300進行印刷布線板250的布線檢查所獲得的結果。加權系數(shù)設定為0.2。也就是說，如果由第二平面導電體檢測單元326檢測到第二平面導電體，則由閉合曲線長度檢測單元324檢測的閉合曲線長度乘以加權系數(shù)0.2。例如，加權系數(shù)的值能夠經(jīng)由輸入裝置340適當?shù)馗淖?。如圖24所示，在通過平面導電體251減小電磁噪聲特性惡化的風險的部分，添加了加權系數(shù)(步驟14)。并且在沒有減小電磁噪聲特性惡化的風險的部分，沒有添加加權系數(shù)。因此，考慮到通過第二平面導電體減小電磁噪聲特性惡化的風險的效果，能夠從通過步驟15和16輸出的信息來判斷電磁噪聲特性惡化的風險的等級。從圖24發(fā)現(xiàn)，電磁噪聲惡化的風險在布線243的點D和布線245的點J是最高的，并且在布線243的點E是第二高的。如上所述，在本示例性實施例的布線檢查系統(tǒng)中，檢測第二平面導電體，第二平面導電體形成在平面導電體的形成區(qū)和非形成區(qū)之間的分界線的交叉布線所交叉的部分的正上方還是正下方的位置。并且通過第二平面導電體減小電磁噪聲特性惡化的風險的效果反映為風險的加權系數(shù)。從而，能夠更準確地理解電磁噪聲特性惡化的風險，并且優(yōu)先進行高風險部分的測量設計。因此，能夠有效且高效地防止電磁噪聲特性惡化。加權系數(shù)的值可以取決于第二平面導電體的布置而改變。從上面提到的圖16中所示的測量結果顯示出，Vpp隨著兩個平面之間的距離變近而變低，也就是，進一步減小了電磁噪聲特性惡化的風險。因此，如圖25所示，布線檢查系統(tǒng)300可以進一步包括距離測量單元328。距離測量單元328測量在平面導電體的層疊方向上第一平面導電體和第二平面導電體之間的距離。并且取決于由距離測量單元328測量的距離，可以改變步驟14中添加的加權系數(shù)。例如，如果兩個平面導電體之間的距離為0.1_，則加權可以被設定為0.1，而如果距離為0.3mm，則加權可以被設定為0.3。結果，平面導電體之間的距離被反映在指示電磁噪聲特性惡化的風險的值中，并且能夠更準確地理解風險的等級。因此，能夠更有效且高效地防止電磁噪聲特性的惡化。接下來，考慮第二平面導電體分別存在于第一平面導電體的上層和下層中的情形。作為示例，描述了進行圖26中所示的印刷布線板的布線檢查的情形。圖26A示出了其中第二平面導電體位于第一平面導電體的下層中的配置。圖26B示出了其中第二平面導電體位于交叉布線的上層中的配置。圖26C示出了其中第二平面導電體分別位于交叉布線的上層和第一平面導電體的下層中的配置。在進行圖26A和圖26B中所示的印刷布線板的布線檢查時，能夠以與圖23中所示的印刷布線板的布線檢查的情況相同的方法將加權系數(shù)添加到閉合曲線長度。另一方面，在圖26C中所示的印刷布線板的情況下，相比圖26A和圖26B中所示的印刷布線板的配置，考慮通過圖中的兩片第二平面導電體來大大地減小電磁噪聲特性惡化的風險。在這種情況下，例如通過檢測兩片第二平面導電體，加權系數(shù)可以加倍閉合曲線長度?；蛘?，通過考慮電磁噪聲特性惡化的風險很低，加權系數(shù)可以被設定為零?；蛘撸紤]到不是交叉布線，還能夠不輸出閉合曲線長度的提取結果。從而，能夠更準確地理解電磁噪聲特性惡化的風險，以及更有效且高效地防止電磁噪聲特性的惡化。在本示例性實施例中，盡管提供了輸入裝置340，但不限于此。也就是說，沒有提供輸入裝置340，并且可以利用預先在加權信息記錄單元312中的設定信息來添加加權系數(shù)。不用說，通過準備其中記錄了實現(xiàn)每個示例性實施例的功能的軟件程序代碼的記錄介質，以及通過使通用計算機讀取記錄在記錄介質中的程序代碼并且作為布線檢查裝置來操作，能夠實現(xiàn)第一示例性實施例至第三示例性實施例。作為提供程序的記錄介質，例如，可以使用能夠記憶上述程序的諸如⑶-ROM(壓縮盤只讀存儲器)、DVD-R (可記錄數(shù)字多用盤)、光盤、磁盤和非易失性存儲卡。第一示例性實施例 至第三示例性實施例中描述的布線檢查系統(tǒng)可應用于諸如用于提高電磁噪聲特性的印刷布線板的布線檢查工具的用途。上面描述的示例性實施例的全部或部分能夠被描述為，但不限于，以下的附加注釋。(附加注釋I)一種布線檢查裝置，其特征包括:布線信息獲取單元，用于獲取布線的布線信息；第一平面導電體檢測單元，用于檢測與布線相鄰的第一平面導電體；交叉布線確定單元，用于檢測布線和第一平面導電體的重疊投影，并且確定布線是否是與第一平面導電體的形成區(qū)和第一平面導電體的非形成區(qū)之間的分界線交叉的交叉布線；以及閉合曲線長度檢測單元，如果確定布線是交叉布線，則閉合曲線長度檢測單元用于檢測分界線的閉合曲線長度。(附加注釋2)附加注釋I中所述的布線檢查裝置，特征在于進一步包括輸出單元，用于基于通過閉合曲線檢測單元的檢測結果對布線分組并輸出該分組的結果。(附加注釋3)附加注釋I或2中所述的布線檢查裝置，特征在于進一步包括第二平面導電體檢測單元，用于檢測在第一平面導電體的上方和下方相鄰的平面導電體當中，在交叉布線與分界線交叉的部分的正下方或正上方的位置形成的第二平面導電體。(附加注釋4)附加注釋3中所述的布線檢查裝置，特征在于進一步包括距離測量單元，用于測量在平面導電體層疊方向上第一平面導電體和第二平面導電體之間的距離。(附加注釋5)附加注釋3或4中所述的布線檢查裝置，特征在于進一步包括加權添加單元，用于基于通過第二平面導電體檢測單元的檢測結果，將加權系數(shù)添加到由閉合曲線長度提取單元提取的閉合曲線長度。(附加注釋6)附加注釋4中所述的布線檢查裝置，特征在于進一步包括加權添加單元，用于基于通過第二平面導電體檢測單元的檢測結果和通過距離測量單元的測量結果，將加權系數(shù)添加到由閉合曲線長度提取單元提取的閉合曲線長度。(附加注釋7)布線檢查系統(tǒng)，特征在于包括:布線信息獲取裝置，其用于獲取布線的布線信息；第一平面導電體檢測裝置，用于檢測與布線相鄰的第一平面導電體；交叉布線確定裝置，用于檢測布線和第一平面導電體的重疊投影，并且確定布線是否是與第一平面導電體的形成區(qū)和第一平面導電體的非形成區(qū)之間的分界線交叉的交叉布線；以及閉合曲線長度檢測裝置，如果確定布線是交叉布線，則閉合曲線長度檢測裝置用于檢測分界線的閉合曲線長度。(附加注釋8)附加注釋7中所述的布線檢查系統(tǒng)，特征在于進一步包括輸出裝置，用于基于閉合曲線檢測裝置的檢測結果對布線分組并輸出該分組的結果。(附加注釋9)附加注釋7或8中所述的布線檢查系統(tǒng)，特征在于進一步包括第二平面導電體檢測裝置，用于檢測在第一平面導電體的上方和下方相鄰的平面導電體當中，在交叉布線與分界線交叉的部分的正下方或正上方的位置形成的第二平面導電體。(附加注釋10)附加注釋9中所述的布線檢查系統(tǒng)，特征在于進一步包括距離測量裝置，用于測量第一平面導電體和第二平面導電體在平面導電體層疊方向上的距離。(附加注釋11)附加注釋9或10中所述的布線檢查系統(tǒng)，特征在于進一步包括加權添加裝置，用于基于通過第二平面導電體檢測裝置的檢測結果，將加權系數(shù)添加到由閉合曲線長度提取裝置提取的閉合曲線長度。(附加注釋12)附加注釋10中所述的布線檢查系統(tǒng)，特征在于進一步包括加權添加裝置，用于基于通過 第二平面導電體檢測裝置的檢測結果和通過距離測量裝置的測量結果，將加權系數(shù)添加到由閉合曲線長度提取裝置提取的閉合曲線長度。(附加注釋13)—種布線檢查方法，特征在于包括:布線信息獲取步驟，用于獲取布線的布線信息；第一平面導電體檢測步驟，用于檢測與布線相鄰的第一平面導電體；交叉布線確定步驟，用于檢測布線和第一平面導電體的重疊投影，并且確定布線是否是與第一平面導電體的形成區(qū)和第一平面導電體的非形成區(qū)之間的分界線交叉的交叉布線；以及閉合曲線長度檢測步驟，如果確定布線是交叉布線，則用于檢測分界線的閉合曲線長度。(附加注釋14)附加注釋7中所述的布線檢查方法，特征在于進一步包括輸出步驟，用于基于通過閉合曲線檢測步驟的檢測結果對布線分組并輸出該分組的結果。(附加注釋15)附加注釋13或14中所述的布線檢查方法，特征在于進一步包括第二平面導電體檢測步驟，用于檢測在第一平面導電體的上方和下方相鄰的平面導電體當中，在交叉布線與分界線交叉的部分的正下方或正上方的位置形成的第二平面導電體。(附加注釋16)附加注釋15中所述的布線檢查方法，特征在于進一步包括距離測量步驟，用于測量第一平面導電體和第二平面導電體在平面導電體層疊方向上的距離。(附加注釋17)附加注釋15或16中所述的布線檢查方法，特征在于進一步包括加權添加步驟，用于基于通過第二平面導電體檢測步驟的檢測結果，將加權系數(shù)添加到由閉合曲線長度提取步驟提取的閉合曲線長度。
(附加注釋18)附加注釋16中所述的布線檢查方法，特征在于進一步包括加權添加步驟，用于基于通過第二平面導電體檢測步驟的檢測結果和通過距離測量步驟的測量結果，將加權系數(shù)添加到由閉合曲線長度提取步驟提取的閉合曲線長度。(附加注釋19)一種布線檢查程序，特征在于使計算機執(zhí)行附加注釋13至18中任一項中所述的布線檢查方法。(附加注釋20)—種由計算機可讀取的信息存儲介質，其中在附加注釋19中描述的布線檢查程序記錄于其中。本申請基于2010年12月I日申請的日本專利申請N0.2010-268547并且要求其優(yōu)先權的權益，其公開通過引用而整體合并在本文中。附圖標記的說明1、11、240、250 印刷布線板2、12、111、241、242、243、244、245 布線3 焊盤4同軸連接器5電阻器6、7、8、13、14、15、246、247、251、301、302 平面導電體9 通孔10、248、249、250 縫隙100,200,300布線檢查系統(tǒng)101布線信息獲取裝置102第一平面導電體檢測裝置103交叉布線確定裝置104閉合曲線長度檢測裝置112第一平面導電體113分界線210,310 記錄裝置211、311設計信息記錄單元220,320布線檢查裝置221,321布線信息獲取單元222,322第一平面導電體檢測單元223,323交 叉布線確定單元224、324閉合曲線長度檢測單元230,330 輸出裝置340輸入裝置312加權信息記錄單元325臨時記錄單元326第二平面導電體檢測單元327加權添加單元328距離測量單元
權利要求
1.一種布線檢查裝置，包括: 布線信息獲取單元，所述布線信息獲取單元用于獲取布線的布線信息； 第一平面導電體檢測單元，所述第一平面導電體檢測單元用于檢測與所述布線相鄰的第一平面導電體； 交叉布線確定單元，所述交叉布線確定單元用于檢測所述布線和所述第一平面導電體的重疊投影，并且確定所述布線是否是與所述第一平面導電體的形成區(qū)和所述第一平面導電體的非形成區(qū)之間的分界線交叉的交叉布線；以及 閉合曲線長度檢測單元，如果確定所述布線是交叉布線，則所述閉合曲線長度檢測單元用于檢測所述分界線的閉合曲線長度。
2.根據(jù)權利要求1所述的布線檢查裝置，進一步包括輸出單元，所述輸出單元用于基于所述閉合曲線檢測單元的檢測結果對所述布線分組并輸出所述分組的結果。
3.根據(jù)權利要求1或2所述的布線檢查裝置，進一步包括第二平面導電體檢測單元，所述第二平面導電體檢測單元用于檢測在所述第一平面導電體的上方和下方相鄰的平面導電體當中，在所述交叉布線與所述分界線交叉的部分的正下方或正上方的位置形成的第二平面導電體。
4.根據(jù)權利要求3所述的布線檢查裝置，進一步包括距離測量單元，所述距離測量單元用于測量在平面導電體層疊方向上所述第一平面導電體和所述第二平面導電體之間的距離。
5.根據(jù)權利要求3或4所述的布線檢查裝置，進一步包括加權添加單元，所述加權添加單元用于基于所述第二平面導電體檢測單元的檢測結果，將加權系數(shù)添加到由所述閉合曲線長度提取單元提取的所述閉合曲線長度?！?br> 6.根據(jù)權利要求4所述的布線檢查裝置，進一步包括加權添加單元，所述加權添加單元用于基于所述第二平面導電體檢測單元的檢測結果和所述距離測量單元的測量結果，將加權系數(shù)添加到由所述閉合曲線長度提取單元提取的所述閉合曲線長度。
7.—種布線檢查系統(tǒng),包括: 布線信息獲取裝置，所述布線信息獲取裝置用于獲取布線的布線信息； 第一平面導電體檢測裝置，所述第一平面導電體檢測裝置用于檢測與所述布線相鄰的第一平面導電體； 交叉布線確定裝置，所述交叉布線確定裝置用于檢測所述布線和所述第一平面導電體的重疊投影，并且確定所述布線是否是與所述第一平面導電體的形成區(qū)和所述第一平面導電體的非形成區(qū)之間的分界線交叉的交叉布線；以及 閉合曲線長度檢測裝置，如果確定所述布線是交叉布線，則所述閉合曲線長度檢測裝置用于檢測所述分界線的閉合曲線長度。
8.一種布線檢查方法，包括以下步驟: 布線信息獲取步驟，所述布線信息獲取步驟用于獲取布線的布線信息； 第一平面導電體檢測步驟，所述第一平面導電體檢測步驟用于檢測與所述布線相鄰的第一平面導電體； 交叉布線確定步驟，所述交叉布線確定步驟用于檢測所述布線和所述第一平面導電體的重疊投影，并且確定所述布線是否是與所述第一平面導電體的形成區(qū)和所述第一平面導電體的非形成區(qū)之間的分界線交叉的交叉布線；以及 閉合曲線長度檢測步驟，如果確定所述布線是交叉布線，則所述閉合曲線長度檢測步驟用于檢測所述分界線的閉合曲線長度。
9.一種布線檢查程序，使計算機執(zhí)行根據(jù)權利要求8所述的布線檢查方法。
10.一種由計算機可讀取的信息存儲介質，其中根據(jù)權利要求9所述的布線檢查程序記錄于其 中。
全文摘要
本發(fā)明的目的是提供一種布線檢查裝置、布線檢查系統(tǒng)、布線檢查方法、布線檢查程序和記錄介質，其能夠考慮縫隙形狀的差異以發(fā)現(xiàn)電磁噪聲特性惡化的風險。布線檢查裝置包括布線信息獲取單元，用于獲取布線的布線信息；第一平面導電體檢測單元，用于檢測與布線相鄰的第一平面導電體；交叉布線確定單元，用于檢測布線和第一平面導電體的重疊投影，并且確定布線是否是與第一平面導電體的形成區(qū)和第一平面導電體的非形成區(qū)之間的分界線交叉的交叉布線；以及閉合曲線長度檢測單元，如果確定布線是交叉布線，則用于檢測分界線的閉合曲線長度。
文檔編號H05K3/00GK103250154SQ201180058268
公開日2013年8月14日 申請日期2011年11月22日 優(yōu)先權日2010年12月1日
發(fā)明者森下健 申請人:日本電氣株式會社