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燒錄設(shè)備的攝像頭模組檢測裝置的制造方法

文檔序號:10516157閱讀:231來源:國知局
燒錄設(shè)備的攝像頭模組檢測裝置的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種燒錄設(shè)備的攝像頭模組檢測裝置,包括供料機構(gòu);工作臺機構(gòu);用于將攝像頭模組從供料機構(gòu)移送至工作臺機構(gòu)上的機械手;第一測試機構(gòu),包括設(shè)有第一測試圖像的第一測試件、第一橫移架、用于驅(qū)動第一橫移架沿三維坐標(biāo)系的X軸方向移動的第一X向驅(qū)動機構(gòu)、安裝在第一橫移架上并用于帶動第一測試件沿該三維坐標(biāo)系的Z軸方向上下移動的第一Z向驅(qū)動機構(gòu);所述工作臺機構(gòu)、第一測試機構(gòu)沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向依次排布;第二測試機構(gòu);第三測試機構(gòu)。本發(fā)明可減少操作人員的參與,減輕操作人員的勞動強度;而且,還可提高工作效率。
【專利說明】
燒錄設(shè)備的攝像頭模組檢測裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001 ]本發(fā)明涉及一種燒錄設(shè)備的攝像頭模組檢測裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]在燒錄設(shè)備使用過程中,還需利用攝像頭模組檢測裝置配合檢測系統(tǒng)對攝像頭模組的光學(xué)性能進行檢測?,F(xiàn)有的攝像頭模組檢測裝置包括設(shè)有測試圖像的測試件、供攝像頭模組放置的工作臺。在使用時,將攝像頭模組放置在工作臺上,并通過調(diào)節(jié)測試件與攝像頭模組的距離,以通過攝像頭模組照攝測試件上的測試圖像,從而可通過檢測系統(tǒng)檢測攝像頭模組照攝性能。但由于測試件需人工調(diào)節(jié)位置,從而造成操作人員的勞動強度較大,遠不能滿足工業(yè)需求。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]為了克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,本發(fā)明的目的在于提供一種燒錄設(shè)備的攝像頭模組檢測裝置,其可自動調(diào)節(jié)第一測試件、第二測試件、第三測試件的位置,可減少操作人員的參與,減輕操作人員的勞動強度。
[0004]為解決上述問題,本發(fā)明所采用的技術(shù)方案如下:
[0005]燒錄設(shè)備的攝像頭模組檢測裝置,其特征在于:包括,
[0006]供料機構(gòu);
[0007]工作臺機構(gòu);
[0008]用于將攝像頭模組從供料機構(gòu)移送至工作臺機構(gòu)上的機械手;
[0009]第一測試機構(gòu),包括設(shè)有第一測試圖像的第一測試件、第一橫移架、用于驅(qū)動第一橫移架沿三維坐標(biāo)系的X軸方向移動的第一 X向驅(qū)動機構(gòu)、安裝在第一橫移架上并用于帶動第一測試件沿該三維坐標(biāo)系的Z軸方向上下移動的第一 Z向驅(qū)動機構(gòu);所述工作臺機構(gòu)、第一測試機構(gòu)沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向依次排布;
[0010]第二測試機構(gòu),包括設(shè)有第二測試圖像的第二測試件、第二橫移架、用于驅(qū)動第二橫移架沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向移動的第二 X向驅(qū)動機構(gòu)、安裝在第二橫移架上并用于帶動第二測試件沿該三維坐標(biāo)系的Z軸方向上下移動的第二 Z向驅(qū)動機構(gòu);所述工作臺機構(gòu)、第二測試機構(gòu)沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向依次排布;
[0011]第三測試機構(gòu),包括設(shè)有第三測試圖像的第三測試件、用于帶動第三測試件沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向移動的第三X向驅(qū)動機構(gòu);所述工作臺機構(gòu)、第三測試機構(gòu)沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向依次排布。
[0012]所述工作臺機構(gòu)包括沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向延伸的第一絲桿、用于驅(qū)動第一絲桿轉(zhuǎn)動的第一電機、沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向延伸的第一導(dǎo)向件、移動座、設(shè)置在移動座上并匹配地套接在第一絲桿上的第一絲桿螺母、用于固定安裝攝像頭模組并通過樞軸樞接在移動座上的工作臺、以及用于帶動工作臺繞樞軸中心軸線轉(zhuǎn)動且機體固定在移動座上的驅(qū)動電機;所述移動座上設(shè)置有與第一導(dǎo)向件滑動配合并可沿第一導(dǎo)向件的延伸方向滑動的第一配合部;所述機械手用于將攝像頭模組從供料機構(gòu)移送至工作臺上。
[0013]第一X向驅(qū)動機構(gòu)、第二 X向驅(qū)動機構(gòu)均包括沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向延伸的第二絲桿、用于驅(qū)動第二絲桿轉(zhuǎn)動的第二電機、以及匹配地套接在第二絲桿上的第二絲桿螺母;所述第一 X向驅(qū)動機構(gòu)的第二絲桿螺母與第一橫移架固定連接;所述第二 X向驅(qū)動機構(gòu)的第二絲桿螺母與第二橫移架固定連接;該攝像頭模組檢測裝置還包括第二導(dǎo)向件、第三導(dǎo)向件;所述第二導(dǎo)向件、第三導(dǎo)向件均沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向延伸;所述第一橫移架上設(shè)置有與第二導(dǎo)向件滑動配合并可沿第二導(dǎo)向件的延伸方向滑動的第二配合部;所述第二橫移架上設(shè)置有與第三導(dǎo)向件滑動配合并可沿第三導(dǎo)向件的延伸方向滑動的第三配合部。
[0014]第一Z向驅(qū)動機構(gòu)、第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)均包括沿該三維坐標(biāo)系的Z軸方向延伸的第三絲桿、用于驅(qū)動第三絲桿轉(zhuǎn)動的第三電機、第一升降架、設(shè)置在第一升降架上并匹配地套接在第三絲桿上的第三絲桿螺母;第一 Z向驅(qū)動機構(gòu)的第三電機的機體固定在第一橫移架上;第一橫移架上設(shè)置有沿該三維坐標(biāo)系的Z軸方向延伸的第四導(dǎo)向件;所述第一 Z向驅(qū)動機構(gòu)的第一升降架上設(shè)置有與第四導(dǎo)向件滑動配合并可沿第四導(dǎo)向件的延伸方向滑動的第四配合部;第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)的第三電機的機體固定在第二橫移架上;第二橫移架上設(shè)置有沿該三維坐標(biāo)系的Z軸方向延伸的第五導(dǎo)向件;所述第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)的第一升降架上設(shè)置有與第五導(dǎo)向件滑動配合并可沿第五導(dǎo)向件的延伸方向滑動的第五配合部;所述第一測試件固定在第一 Z向驅(qū)動機構(gòu)的第一升降架上;所述第二測試件固定在第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)的第一升降架上。
[0015]所述第一測試件包括第一光源、設(shè)置在第一光源靠近工作臺機構(gòu)的一側(cè)并設(shè)有第一測試圖像的第一透射式標(biāo)板;所述第二測試件包括第二光源、設(shè)置在第二光源靠近工作臺機構(gòu)的一側(cè)并設(shè)有第二測試圖像的第二透射式標(biāo)板。
[0016]第三X向驅(qū)動機構(gòu)包括沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向延伸的第四絲桿、用于驅(qū)動第四絲桿轉(zhuǎn)動的第四電機、第三橫移架、設(shè)置在第三橫移架上并匹配地套接在第四絲桿上的第四絲桿螺母、沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向延伸的第六導(dǎo)向件;所述第三橫移架上設(shè)置有與第六導(dǎo)向件滑動配合并可沿第六導(dǎo)向件的延伸方向滑動的第六配合部;所述第三測試件固定在第三橫移架上;所述第三測試件包括第三光源、設(shè)置在第三光源靠近工作臺機構(gòu)的一側(cè)并設(shè)有第三測試圖像的第三透射式標(biāo)板。
[0017]該攝像頭模組檢測裝置還包括位于工作臺機構(gòu)與第二測試機構(gòu)之間的白場光源機構(gòu);所述第三測試機構(gòu)、第二測試機構(gòu)位于白場光源機構(gòu)的同一側(cè);白場光源機構(gòu)包括白場光源、以及用于帶動白場光源沿該三維坐標(biāo)系的Y軸方向移動的Y向驅(qū)動機構(gòu)。
[0018]該攝像頭模組檢測裝置還包括支撐架;所述Y向驅(qū)動機構(gòu)包括主動輪、從動輪、用于驅(qū)動主動輪轉(zhuǎn)動的第五電機、繞設(shè)于主動輪和從動輪上的傳送帶;所述主動輪、從動輪分別樞接在支撐架上;所述白場光源連接在傳送帶上。
[0019]白場光源機構(gòu)還包括增距鏡,且該Y向驅(qū)動機構(gòu)還用于帶動增距鏡沿該三維坐標(biāo)系的Y軸方向移動;所述白場光源、增距鏡沿該三維坐標(biāo)系的Y軸方向依次排列。
[0020]該攝像頭模組檢測裝置還包括機殼,所述工作臺機構(gòu)、第一測試機構(gòu)、第二測試機構(gòu)、第三測試機構(gòu)均位于機殼內(nèi);所述工作臺機構(gòu)、第一測試件、第二測試件位于第三測試件的同一側(cè)。
[0021]相比現(xiàn)有技術(shù),本發(fā)明的有益效果在于:
[0022]本發(fā)明通過采用供料機構(gòu)、工作臺機構(gòu)、機械手、第一測試機構(gòu)、第二測試機構(gòu)、第三測試機構(gòu)的結(jié)合設(shè)計,可自動調(diào)節(jié)第一測試件、第二測試件、第三測試件的位置,無需人工手動調(diào)節(jié)各測試件的位置,從而可減少操作人員的參與,減輕操作人員的勞動強度;而且,還可提高工作效率;此外,通過采用白場光源機構(gòu),還方便于提供白場檢測條件,并可有效縮小攝像頭模組檢測裝置的體積。
【附圖說明】
[0023]圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)不意圖;
[0024]圖2為工作臺機構(gòu)的示意圖;
[0025]圖3為第一測試機構(gòu)的示意圖;
[0026]圖4為第三測試機構(gòu)的示意圖;
[0027]圖5為白場光源機構(gòu)的不意圖;
[0028]圖6為機械手的示意圖;
[0029]其中,10、工作臺機構(gòu);12、第一電機;13、第一導(dǎo)向件;14、移動座;16、工作臺;17、驅(qū)動電機;18、第一配合部;20、第一測試機構(gòu);21、第一測試件;22、第一橫移架;23、第一 X向驅(qū)動機構(gòu);231、第二絲桿;232、第二電機;233、第二絲桿螺母;234、第二導(dǎo)向件;235、第二配合部;24、第一 Z向驅(qū)動機構(gòu);241、第三絲桿;242、第三電機;243、第一升降架;30、第二測試機構(gòu);40、第三測試機構(gòu);41、第三測試件;42、第三X向驅(qū)動機構(gòu);421、第四絲桿;422、第四電機;423、第三橫移架;424、第四絲桿螺母;425、第六導(dǎo)向件;426、第六配合部;50、白場光源機構(gòu);51、白場光源;52、增距鏡;53、Y向驅(qū)動機構(gòu);532、主動輪;533、從動輪;534、第五電機;535、傳送帶;60、供料機構(gòu);70、機械手。
【具體實施方式】
[0030]下面,結(jié)合附圖以及【具體實施方式】,對本發(fā)明做進一步描述:
[0031]如圖1-6所示,燒錄設(shè)備的攝像頭模組檢測裝置,包括,
[0032]供料機構(gòu)60;
[0033]工作臺機構(gòu)10;
[0034]用于將攝像頭模組從供料機構(gòu)60移送至工作臺機構(gòu)10上的機械手70;
[0035]第一測試機構(gòu)20,包括設(shè)有第一測試圖像的第一測試件21、第一橫移架22、用于驅(qū)動第一橫移架22沿三維坐標(biāo)系的X軸方向移動的第一 X向驅(qū)動機構(gòu)23、安裝在第一橫移架22上并用于帶動第一測試件21沿該三維坐標(biāo)系的Z軸方向上下移動的第一 Z向驅(qū)動機構(gòu)24;所述工作臺機構(gòu)1、第一測試機構(gòu)20沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向依次排布;
[0036]第二測試機構(gòu)30,包括設(shè)有第二測試圖像的第二測試件、第二橫移架、用于驅(qū)動第二橫移架沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向移動的第二 X向驅(qū)動機構(gòu)、安裝在第二橫移架上并用于帶動第二測試件沿該三維坐標(biāo)系的Z軸方向上下移動的第二 Z向驅(qū)動機構(gòu);所述工作臺機構(gòu)
10、第二測試機構(gòu)30沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向依次排布;
[0037]第三測試機構(gòu)40,包括設(shè)有第三測試圖像的第三測試件41、用于帶動第三測試件41沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向移動的第三X向驅(qū)動機構(gòu)42;所述工作臺機構(gòu)10、第三測試機構(gòu)40沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向依次排布。其中,在本實施例中,所述工作臺機構(gòu)10位于第一測試機構(gòu)20、第二測試機構(gòu)30的前方,所述第三測試件41位于第一測試件21、第二測試件的后方,也就是說,所述工作臺機構(gòu)10、第一測試件21、第二測試件位于第三測試件41的同一側(cè)。
[0038]在使用時,可利用機械手70將供料機構(gòu)60的攝像頭模組移送至工作臺機構(gòu)10上,而通過將第一測試件21、第二測試件、第三測試件41移動至距離工作臺機構(gòu)10近、中、遠的三個不同位置,并使攝像頭模組分別照攝第一測試件21、第二測試件、第三測試件41上的測試圖像,從而通過與檢測系統(tǒng)配合可檢測出攝像頭模組的近景、中景、遠景攝像能力。而在使用過程中,可通過第一X向驅(qū)動機構(gòu)23、第一Z向驅(qū)動機構(gòu)24帶動第一測試件21移動以調(diào)節(jié)第一測試件21的位置,通過第二 X向驅(qū)動機構(gòu)、第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)帶動第二測試件移動以調(diào)節(jié)第二測試件的位置,通過第三X向驅(qū)動機構(gòu)42帶動第三測試件41以調(diào)節(jié)第三測試件41的位置,因而,本發(fā)明無需人工手動調(diào)節(jié)各測試件的位置,從而可減少操作人員的參與,減輕操作人員的勞動強度;而且,還可提高工作效率。
[0039]優(yōu)選的,所述工作臺機構(gòu)10包括沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向延伸的第一絲桿、用于驅(qū)動第一絲桿轉(zhuǎn)動的第一電機12、沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向延伸的第一導(dǎo)向件13、移動座14、設(shè)置在移動座14上并匹配地套接在第一絲桿上的第一絲桿螺母、用于固定安裝攝像頭模組并通過樞軸樞接在移動座14上的工作臺16、用于帶動工作臺16繞樞軸中心軸線轉(zhuǎn)動且機體固定在移動座14上的驅(qū)動電機17;所述移動座14上設(shè)置有與第一導(dǎo)向件13滑動配合并可沿第一導(dǎo)向件13滑動的第一配合部18。在使用時,第一電機12工作,可帶動第一絲桿轉(zhuǎn)動,從而可帶動移動座14沿三維坐標(biāo)系的X軸方向移動,以調(diào)節(jié)工作臺16的位置,而通過利用驅(qū)動電機17還可帶動工作臺16轉(zhuǎn)動,從而可將工作臺16轉(zhuǎn)動至水平位置,以方便于承接機械手70釋放的攝像頭模組,還可將工作臺16轉(zhuǎn)動至其他位置,以方便于攝像頭照攝圖像。
[0040]優(yōu)選的,第一X向驅(qū)動機構(gòu)23、第二X向驅(qū)動機構(gòu)均包括沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向延伸的第二絲桿231、用于驅(qū)動第二絲桿231轉(zhuǎn)動的第二電機232、以及匹配地套接在第二絲桿231上的第二絲桿螺母233;所述第一 X向驅(qū)動機構(gòu)23的第二絲桿螺母233與第一橫移架22固定連接;所述第二 X向驅(qū)動機構(gòu)的第二絲桿螺母233與第二橫移架固定連接;該攝像頭模組檢測裝置還包括第二導(dǎo)向件234、第三導(dǎo)向件;所述第二導(dǎo)向件234、第三導(dǎo)向件均沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向延伸;所述第一橫移架22上設(shè)置有與第二導(dǎo)向件234滑動配合并可沿第二導(dǎo)向件234滑動的第二配合部235;所述第二橫移架上設(shè)置有與第三導(dǎo)向件滑動配合并可沿第三導(dǎo)向件的延伸方向滑動的第三配合部。在使用時,第一X向驅(qū)動機構(gòu)23的第二電機232工作可帶動第二絲桿231轉(zhuǎn)動,從而可驅(qū)動第一橫移架22沿三維坐標(biāo)系的X軸方向移動,以調(diào)節(jié)第一測試件21與工作臺機構(gòu)10在X軸方向之間的距離;而通過利用第二 X向驅(qū)動機構(gòu)的第二電機232可帶動第二絲桿231轉(zhuǎn)動,從而可驅(qū)動第二橫移架沿三維坐標(biāo)系的X軸方向移動,以調(diào)節(jié)第二測試件與工作臺機構(gòu)10在X軸方向之間的距離。而通過采用上述結(jié)構(gòu),可方便于提高移動精度。
[0041 ]優(yōu)選的,第一Z向驅(qū)動機構(gòu)24、第二Z向驅(qū)動機構(gòu)均包括沿該三維坐標(biāo)系的Z軸方向延伸的第三絲桿241、用于驅(qū)動第三絲桿241轉(zhuǎn)動的第三電機242、第一升降架243、設(shè)置在第一升降架243上并匹配地套接在第三絲桿241上的第三絲桿螺母;第一 Z向驅(qū)動機構(gòu)24的第三電機242的機體固定在第一橫移架22上;第一橫移架22上設(shè)置有沿該三維坐標(biāo)系的Z軸方向延伸的第四導(dǎo)向件;所述第一 Z向驅(qū)動機構(gòu)24的第一升降架243上設(shè)置有與第四導(dǎo)向件滑動配合并可沿第四導(dǎo)向件的延伸方向滑動的第四配合部;第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)的第三電機242的機體固定在第二橫移架上;第二橫移架上設(shè)置有沿該三維坐標(biāo)系的Z軸方向延伸的第五導(dǎo)向件;所述第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)的第一升降架243上設(shè)置有與第五導(dǎo)向件滑動配合并可沿第五導(dǎo)向件的延伸方向滑動的第五配合部;所述第一測試件21固定在第一 Z向驅(qū)動機構(gòu)24的第一升降架243上;所述第二測試件固定在第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)的第一升降架243上。在使用時,第一 Z向驅(qū)動機構(gòu)24的第三電機242工作可帶動第三絲桿241轉(zhuǎn)動,從而可通過第一升降架243帶動第一測試件21沿該三維坐標(biāo)系的Z軸方向上下移動,而通過第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)的第三電機242可帶動第三絲桿241轉(zhuǎn)動,從而可通過第一升降架243帶動第二測試件沿該三維坐標(biāo)系的Z軸方向上下移動。而第一測試件21、第二測試件沿Z軸方向移動,可方便于避讓第三測試件41。
[0042]所述第一測試件21包括第一光源、設(shè)置在第一光源靠近工作臺機構(gòu)10的一側(cè)并設(shè)有第一測試圖像的第一透射式標(biāo)板;所述第二測試件包括第二光源、設(shè)置在第二光源靠近工作臺機構(gòu)10的一側(cè)并設(shè)有第二測試圖像的第二透射式標(biāo)板。其中,透射式標(biāo)板作為行業(yè)內(nèi)現(xiàn)有的測試板,可供光源的光線透射過去。
[0043]第三X向驅(qū)動機構(gòu)42包括沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向延伸的第四絲桿421、用于驅(qū)動第四絲桿421轉(zhuǎn)動的第四電機422、第三橫移架423、設(shè)置在第三橫移架423上并匹配地套接在第四絲桿421上的第四絲桿螺母424、沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向延伸的第六導(dǎo)向件425;所述第三橫移架423上設(shè)置有與第六導(dǎo)向件425滑動配合并可沿第六導(dǎo)向件425延伸方向滑動的第六配合部426;所述第三測試件41固定在第三橫移架423上。在使用時,第四電機422帶動第四絲桿421轉(zhuǎn)動,從而可帶動第三橫移架423沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向移動,以帶動第三測試件41移動。而通過采用上述結(jié)構(gòu),可提高運動精度。
[0044]所述第三測試件41包括第三光源、設(shè)置在第三光源靠近工作臺機構(gòu)10的一側(cè)并設(shè)有第三測試圖像的第三透射式標(biāo)板。
[0045]該攝像頭模組檢測裝置還包括位于工作臺機構(gòu)10與第二測試機構(gòu)30之間的白場光源機構(gòu)50 ;所述第三測試機構(gòu)40、第二測試機構(gòu)30位于白場光源機構(gòu)50的同一側(cè);白場光源機構(gòu)50包括白場光源51、以及用于帶動白場光源51沿該三維坐標(biāo)系的Y軸方向移動的Y向驅(qū)動機構(gòu)53。而通過采用上述結(jié)構(gòu),可方便于Y向驅(qū)動機構(gòu)53帶動白場光源51移動至正對工作臺,從而通過白場光源51發(fā)光,可提供攝像頭模組白場檢測條件。其中,所述白場光源51可采用現(xiàn)有的各種白場光源51。
[0046I該攝像頭模組檢測裝置還包括支撐架;所述Y向驅(qū)動機構(gòu)53包括主動輪532、從動輪533、用于驅(qū)動主動輪532轉(zhuǎn)動的第五電機534、繞設(shè)于主動輪532和從動輪533上的傳送帶535;所述主動輪532的中心軸線與從動輪533的中心軸線相互平行且錯開;所述主動輪532、從動輪533分別樞接在支撐架上;所述白場光源51連接在傳送帶535上。在使用時,第五電機534工作可帶動傳送帶535運動,從而可帶動白場光源51沿該三維坐標(biāo)系的Y軸方向移動。
[0047]白場光源機構(gòu)50還包括增距鏡52,且該Y向驅(qū)動機構(gòu)53還用于帶動增距鏡52沿該三維坐標(biāo)系的Y軸方向移動;所述白場光源51、增距鏡52沿該三維坐標(biāo)系的Y軸方向依次排列。具體的,所述白場光源51、增距鏡52分別連接在傳送帶535上。而通過采用增距鏡52的結(jié)構(gòu),可使得焦距變長,從而可縮短第三測試機構(gòu)40、第二測試機構(gòu)30與工作臺機構(gòu)10的實際距離,從而可縮小整個裝置的體積。
[0048]其中,第一導(dǎo)向件13、第二導(dǎo)向件234、第三導(dǎo)向件、第四導(dǎo)向件、第五導(dǎo)向件、第六導(dǎo)向件425可為直線滑軌,第一配合部18、第二配合部235、第三配合部、第四配合部、第五配合部、第六配合部426可為滑塊。當(dāng)然,并不限于上述,例如,各導(dǎo)向件還可采用導(dǎo)桿,而各配合部則可匹配地設(shè)置為套筒。
[0049]其中,所述供料機構(gòu)60可為供料流道、或者供料傳送帶機構(gòu)等等各種現(xiàn)有的供料機構(gòu)。
[0050]該攝像頭模組檢測裝置還包括機殼,所述工作臺機構(gòu)10、第一測試機構(gòu)20、第二測試機構(gòu)30、第三測試機構(gòu)40、白場光源機構(gòu)50均位于機殼內(nèi)。其中,在本實施例中,所述機殼包括支撐架。
[0051]對本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說,可根據(jù)以上描述的技術(shù)方案以及構(gòu)思,做出其它各種相應(yīng)的改變以及形變,而所有的這些改變以及形變都應(yīng)該屬于本發(fā)明權(quán)利要求的保護范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.燒錄設(shè)備的攝像頭模組檢測裝置,其特征在于:包括, 供料機構(gòu); 工作臺機構(gòu); 用于將攝像頭模組從供料機構(gòu)移送至工作臺機構(gòu)上的機械手; 第一測試機構(gòu),包括設(shè)有第一測試圖像的第一測試件、第一橫移架、用于驅(qū)動第一橫移架沿三維坐標(biāo)系的X軸方向移動的第一 X向驅(qū)動機構(gòu)、安裝在第一橫移架上并用于帶動第一測試件沿該三維坐標(biāo)系的Z軸方向上下移動的第一 Z向驅(qū)動機構(gòu);所述工作臺機構(gòu)、第一測試機構(gòu)沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向依次排布; 第二測試機構(gòu),包括設(shè)有第二測試圖像的第二測試件、第二橫移架、用于驅(qū)動第二橫移架沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向移動的第二 X向驅(qū)動機構(gòu)、安裝在第二橫移架上并用于帶動第二測試件沿該三維坐標(biāo)系的Z軸方向上下移動的第二 Z向驅(qū)動機構(gòu);所述工作臺機構(gòu)、第二測試機構(gòu)沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向依次排布; 第三測試機構(gòu),包括設(shè)有第三測試圖像的第三測試件、用于帶動第三測試件沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向移動的第三X向驅(qū)動機構(gòu);所述工作臺機構(gòu)、第三測試機構(gòu)沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向依次排布。2.如權(quán)利要求1所述的燒錄設(shè)備的攝像頭模組檢測裝置,其特征在于:所述工作臺機構(gòu)包括沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向延伸的第一絲桿、用于驅(qū)動第一絲桿轉(zhuǎn)動的第一電機、沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向延伸的第一導(dǎo)向件、移動座、設(shè)置在移動座上并匹配地套接在第一絲桿上的第一絲桿螺母、用于固定安裝攝像頭模組并通過樞軸樞接在移動座上的工作臺、以及用于帶動工作臺繞樞軸中心軸線轉(zhuǎn)動且機體固定在移動座上的驅(qū)動電機;所述移動座上設(shè)置有與第一導(dǎo)向件滑動配合并可沿第一導(dǎo)向件的延伸方向滑動的第一配合部;所述機械手用于將攝像頭模組從供料機構(gòu)移送至工作臺上。3.如權(quán)利要求1所述的燒錄設(shè)備的攝像頭模組檢測裝置,其特征在于:第一X向驅(qū)動機構(gòu)、第二 X向驅(qū)動機構(gòu)均包括沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向延伸的第二絲桿、用于驅(qū)動第二絲桿轉(zhuǎn)動的第二電機、以及匹配地套接在第二絲桿上的第二絲桿螺母;所述第一 X向驅(qū)動機構(gòu)的第二絲桿螺母與第一橫移架固定連接;所述第二 X向驅(qū)動機構(gòu)的第二絲桿螺母與第二橫移架固定連接;該攝像頭模組檢測裝置還包括第二導(dǎo)向件、第三導(dǎo)向件;所述第二導(dǎo)向件、第三導(dǎo)向件均沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向延伸;所述第一橫移架上設(shè)置有與第二導(dǎo)向件滑動配合并可沿第二導(dǎo)向件的延伸方向滑動的第二配合部;所述第二橫移架上設(shè)置有與第三導(dǎo)向件滑動配合并可沿第三導(dǎo)向件的延伸方向滑動的第三配合部。4.如權(quán)利要求1所述的燒錄設(shè)備的攝像頭模組檢測裝置,其特征在于:第一Z向驅(qū)動機構(gòu)、第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)均包括沿該三維坐標(biāo)系的Z軸方向延伸的第三絲桿、用于驅(qū)動第三絲桿轉(zhuǎn)動的第三電機、第一升降架、設(shè)置在第一升降架上并匹配地套接在第三絲桿上的第三絲桿螺母;第一 Z向驅(qū)動機構(gòu)的第三電機的機體固定在第一橫移架上;第一橫移架上設(shè)置有沿該三維坐標(biāo)系的Z軸方向延伸的第四導(dǎo)向件;所述第一 Z向驅(qū)動機構(gòu)的第一升降架上設(shè)置有與第四導(dǎo)向件滑動配合并可沿第四導(dǎo)向件的延伸方向滑動的第四配合部;第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)的第三電機的機體固定在第二橫移架上;第二橫移架上設(shè)置有沿該三維坐標(biāo)系的Z軸方向延伸的第五導(dǎo)向件;所述第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)的第一升降架上設(shè)置有與第五導(dǎo)向件滑動配合并可沿第五導(dǎo)向件的延伸方向滑動的第五配合部;所述第一測試件固定在第一 Z向驅(qū)動機構(gòu)的第一升降架上;所述第二測試件固定在第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)的第一升降架上。5.如權(quán)利要求1所述的燒錄設(shè)備的攝像頭模組檢測裝置,其特征在于:所述第一測試件包括第一光源、設(shè)置在第一光源靠近工作臺機構(gòu)的一側(cè)并設(shè)有第一測試圖像的第一透射式標(biāo)板;所述第二測試件包括第二光源、設(shè)置在第二光源靠近工作臺機構(gòu)的一側(cè)并設(shè)有第二測試圖像的第二透射式標(biāo)板。6.如權(quán)利要求1所述的燒錄設(shè)備的攝像頭模組檢測裝置,其特征在于:第三X向驅(qū)動機構(gòu)包括沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向延伸的第四絲桿、用于驅(qū)動第四絲桿轉(zhuǎn)動的第四電機、第三橫移架、設(shè)置在第三橫移架上并匹配地套接在第四絲桿上的第四絲桿螺母、沿該三維坐標(biāo)系的X軸方向延伸的第六導(dǎo)向件;所述第三橫移架上設(shè)置有與第六導(dǎo)向件滑動配合并可沿第六導(dǎo)向件的延伸方向滑動的第六配合部;所述第三測試件固定在第三橫移架上;所述第三測試件包括第三光源、設(shè)置在第三光源靠近工作臺機構(gòu)的一側(cè)并設(shè)有第三測試圖像的第三透射式標(biāo)板。7.如權(quán)利要求1所述的燒錄設(shè)備的攝像頭模組檢測裝置,其特征在于:該攝像頭模組檢測裝置還包括位于工作臺機構(gòu)與第二測試機構(gòu)之間的白場光源機構(gòu);所述第三測試機構(gòu)、第二測試機構(gòu)位于白場光源機構(gòu)的同一側(cè);白場光源機構(gòu)包括白場光源、以及用于帶動白場光源沿該三維坐標(biāo)系的Y軸方向移動的Y向驅(qū)動機構(gòu)。8.如權(quán)利要求7所述的燒錄設(shè)備的攝像頭模組檢測裝置,其特征在于:該攝像頭模組檢測裝置還包括支撐架;所述Y向驅(qū)動機構(gòu)包括主動輪、從動輪、用于驅(qū)動主動輪轉(zhuǎn)動的第五電機、繞設(shè)于主動輪和從動輪上的傳送帶;所述主動輪、從動輪分別樞接在支撐架上;所述白場光源連接在傳送帶上。9.如權(quán)利要求7所述的燒錄設(shè)備的攝像頭模組檢測裝置,其特征在于:白場光源機構(gòu)還包括增距鏡,且該Y向驅(qū)動機構(gòu)還用于帶動增距鏡沿該三維坐標(biāo)系的Y軸方向移動;所述白場光源、增距鏡沿該三維坐標(biāo)系的Y軸方向依次排列。10.如權(quán)利要求1所述的燒錄設(shè)備的攝像頭模組檢測裝置,其特征在于:該攝像頭模組檢測裝置還包括機殼,所述工作臺機構(gòu)、第一測試機構(gòu)、第二測試機構(gòu)、第三測試機構(gòu)均位于機殼內(nèi);所述工作臺機構(gòu)、第一測試件、第二測試件位于第三測試件的同一側(cè)。
【文檔編號】H04N17/00GK105872533SQ201610200961
【公開日】2016年8月17日
【申請日】2016年3月31日
【發(fā)明人】雷萬春, 張?zhí)? 馬忠耀, 朱文飛
【申請人】深圳大宇精雕科技有限公司
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