一種測(cè)試系統(tǒng)及其應(yīng)用的測(cè)試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及測(cè)試領(lǐng)域，特別是涉及一種測(cè)試系統(tǒng)及其應(yīng)用的測(cè)試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]目前的終端頻段和制式非常多，生產(chǎn)線需要做天線耦合測(cè)試，已確保終端和天線的性能和一致性。由于空間環(huán)境和成本的限制，當(dāng)前耦合測(cè)試一般均是采用在屏蔽盒中測(cè)試。但是屏蔽盒存在以下問(wèn)題:
[0003]1、由于產(chǎn)線耦合測(cè)試屬于電磁波的近場(chǎng)測(cè)試，不同頻段，不同的天線方向性不同，這樣就導(dǎo)致在同一位置，不同的終端，不同的頻段無(wú)法同時(shí)滿足能判定天線的發(fā)射和接收的標(biāo)準(zhǔn)。
[0004]2、產(chǎn)線對(duì)于不同的終端，不同的天線會(huì)制作特殊的耦合箱，特殊的位置，這樣就導(dǎo)致耦合測(cè)試無(wú)法通用的問(wèn)題。
[0005]耦合測(cè)試的根本問(wèn)題是量產(chǎn)的終端不可能每一臺(tái)均做完整的天線TRP和TIS，只能采用簡(jiǎn)易耦合屏蔽箱的測(cè)試方法，而耦合測(cè)試由于屬于近場(chǎng)測(cè)試，不同的終端，不同的廠家天線又有不同的方向性，無(wú)法達(dá)到統(tǒng)一。
[0006]且現(xiàn)有的近場(chǎng)耦合測(cè)試均是針對(duì)特殊終端制作特殊的耦合屏蔽箱，對(duì)不同的頻段不同的制式有一個(gè)特殊的位置，換一個(gè)項(xiàng)目終端很可能就無(wú)法進(jìn)行耦合測(cè)試了。而且在耦合測(cè)試時(shí)大多只能一個(gè)頻段一個(gè)工位的測(cè)試，無(wú)法同一個(gè)工位完成全頻段任意測(cè)試。比如5模17頻段終端GSM、WCDMA, TDSCDMA、CDMA, LTE需要至少3個(gè)測(cè)試位完成高中低三個(gè)頻段的測(cè)試，這會(huì)增加測(cè)試的成本以及降低測(cè)試的效率。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，本發(fā)明的目的在于提供一種供電裝置，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中不能快速準(zhǔn)確的找出導(dǎo)致服務(wù)器掉電的供電單元的問(wèn)題。
[0008]為實(shí)現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的，本發(fā)明提供一種測(cè)試裝置，用于對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試系統(tǒng)中，包括:屏蔽盒，以為待測(cè)電子設(shè)備的測(cè)試提供屏蔽的環(huán)境；天線，設(shè)置于所述屏蔽盒內(nèi)，用以接收發(fā)送給所述待測(cè)電子設(shè)備的外部測(cè)試信號(hào)或發(fā)射所述待測(cè)電子設(shè)備的反饋信號(hào)；支架，用以支撐待測(cè)電子設(shè)備，其中，所述支架可調(diào)整為令所述待測(cè)電子設(shè)備處于多個(gè)角度的設(shè)置。
[0009]可選的，所述天線為全頻段天線。
[0010]可選的，所述天線為平板天線。
[0011]可選的，所述支架可根據(jù)測(cè)試的頻段調(diào)整所述電子設(shè)備處于相應(yīng)的角度設(shè)置。
[0012]可選的，所述支架為可360度旋轉(zhuǎn)以及可上下調(diào)整的活動(dòng)結(jié)構(gòu)。
[0013]可選的，所述測(cè)試系統(tǒng)為近場(chǎng)耦合測(cè)試系統(tǒng)。
[0014]可選的，所述天線通過(guò)一射頻線纜與一綜測(cè)設(shè)備電連接。
[0015]可選的，所述待測(cè)電子設(shè)備為智能手機(jī)或平板電腦。
[0016]為實(shí)現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的，本發(fā)明提供一種測(cè)試系統(tǒng)，包括如上任一項(xiàng)所述的測(cè)試裝置，以及一與所述天線電連接的綜測(cè)設(shè)備，用以對(duì)設(shè)置于所述屏蔽盒的支架上的待測(cè)電子設(shè)備進(jìn)行測(cè)試。
[0017]如上所述，本發(fā)明的測(cè)試系統(tǒng)及其應(yīng)用的測(cè)試裝置，用于對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試系統(tǒng)中，所述測(cè)試裝置包括:屏蔽盒，以為待測(cè)電子設(shè)備的測(cè)試提供屏蔽的環(huán)境；天線，設(shè)置于所述屏蔽盒內(nèi)，用以接收發(fā)送給所述待測(cè)電子設(shè)備的外部測(cè)試信號(hào)或發(fā)射所述待測(cè)電子設(shè)備的反饋信號(hào)；支架，用以支撐待測(cè)電子設(shè)備，其中，所述支架可調(diào)整為令所述待測(cè)電子設(shè)備處于多個(gè)角度的設(shè)置。所述支架可根據(jù)不同的測(cè)試頻段而調(diào)整為令待測(cè)電子設(shè)備更好的接收相應(yīng)測(cè)試頻段測(cè)試信號(hào)的方向，同時(shí)，天線與支架達(dá)到最合理的耦合。
【附圖說(shuō)明】
[0018]圖1顯示為本發(fā)明的測(cè)試裝置在一具體實(shí)施例中的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0019]圖2顯示為本發(fā)明的測(cè)試系統(tǒng)在一具體實(shí)施例中的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0020]元件標(biāo)號(hào)說(shuō)明
[0021]1、21測(cè)試裝置
[0022]11 屏蔽盒
[0023]12 天線
[0024]13 支架
[0025]2 測(cè)試系統(tǒng)
[0026]21 綜測(cè)設(shè)備
【具體實(shí)施方式】
[0027]以下通過(guò)特定的具體實(shí)例說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施方式，本領(lǐng)域技術(shù)人員可由本說(shuō)明書(shū)所揭露的內(nèi)容輕易地了解本發(fā)明的其他優(yōu)點(diǎn)與功效。本發(fā)明還可以通過(guò)另外不同的【具體實(shí)施方式】加以實(shí)施或應(yīng)用，本說(shuō)明書(shū)中的各項(xiàng)細(xì)節(jié)也可以基于不同觀點(diǎn)與應(yīng)用，在沒(méi)有背離本發(fā)明的精神下進(jìn)行各種修飾或改變。需說(shuō)明的是，在不沖突的情況下，以下實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。
[0028]需要說(shuō)明的是，以下實(shí)施例中所提供的圖示僅以示意方式說(shuō)明本發(fā)明的基本構(gòu)想，遂圖示中僅顯示與本發(fā)明中有關(guān)的組件而非按照實(shí)際實(shí)施時(shí)的組件數(shù)目、形狀及尺寸繪制，其實(shí)際實(shí)施時(shí)各組件的型態(tài)、數(shù)量及比例可為一種隨意的改變，且其組件布局型態(tài)也可能更為復(fù)雜。
[0029]請(qǐng)參閱圖1，顯示為本發(fā)明的一種測(cè)試裝置在一具體實(shí)施例中的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0030]所述測(cè)試裝置I應(yīng)用于對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試系統(tǒng)中，其中，所述測(cè)試系統(tǒng)為近場(chǎng)耦合測(cè)試系統(tǒng)，所述電子設(shè)備例如為智能手機(jī)、平板電腦等，所述測(cè)試裝置I包括屏蔽盒11、天線12、以及支架。
[0031]所述屏蔽盒11以為待測(cè)電子設(shè)備的測(cè)試提供屏蔽的環(huán)境。
[0032]所述天線12設(shè)置于所述屏蔽盒11內(nèi)，用以接收發(fā)送給所述待測(cè)電子設(shè)備的外部測(cè)試信號(hào)或發(fā)射所述待測(cè)電子設(shè)備的反饋信號(hào)；優(yōu)選的，所述天線12為全頻段天線可選的，且更優(yōu)選的，于本實(shí)施例中，所述天線12為平板天線。
[0033]所述支架13用以支撐待測(cè)電子設(shè)備，由于產(chǎn)線耦合測(cè)試屬于電磁波的近場(chǎng)測(cè)試，不同頻段，不同的天線方向性不同，這樣就導(dǎo)致在同一位置，不同的終端，不同的頻段無(wú)法同時(shí)滿足能判定天線的發(fā)射和接收的標(biāo)準(zhǔn)。所以，本實(shí)施例中，所述支架13可調(diào)整為令所述待測(cè)電子設(shè)備處于多個(gè)角度的設(shè)置。優(yōu)選的，所述支架13可根據(jù)測(cè)試的頻段調(diào)整所述電子設(shè)備處于相應(yīng)的角度設(shè)置，例如所述支架為可360度旋轉(zhuǎn)以及可上下調(diào)整的活動(dòng)結(jié)構(gòu)，以滿足全頻段的耦合測(cè)試。
[0034]請(qǐng)參閱圖2，顯示為本發(fā)明的一種測(cè)系統(tǒng)在一具體實(shí)施例中的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0035]所述測(cè)試系統(tǒng)2包括一測(cè)試裝置21以及一綜測(cè)設(shè)備22，其中所述測(cè)試裝置21的結(jié)構(gòu)以及應(yīng)用原理與圖1所述實(shí)施例中的測(cè)試裝置I相同，其中，于本實(shí)施例中，所述測(cè)試裝置21中的天線與所述綜測(cè)設(shè)備22通過(guò)一射頻線纜通信，用以對(duì)設(shè)置于所述屏蔽盒內(nèi)的支架上的待測(cè)電子設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，即實(shí)現(xiàn)同一個(gè)耦合箱，同一個(gè)工位能夠同時(shí)完成任何頻段耦合測(cè)試。
[0036]綜上所述，本發(fā)明的測(cè)試系統(tǒng)及其應(yīng)用的測(cè)試裝置，用于對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試系統(tǒng)中，所述測(cè)試裝置包括:屏蔽盒，以為待測(cè)電子設(shè)備的測(cè)試提供屏蔽的環(huán)境；天線，設(shè)置于所述屏蔽盒內(nèi)，用以接收發(fā)送給所述待測(cè)電子設(shè)備的外部測(cè)試信號(hào)或發(fā)射所述待測(cè)電子設(shè)備的反饋信號(hào)；支架，用以支撐待測(cè)電子設(shè)備，其中，所述支架可調(diào)整為令所述待測(cè)電子設(shè)備處于多個(gè)角度的設(shè)置。所述支架可根據(jù)不同的測(cè)試頻段而調(diào)整為令待測(cè)電子設(shè)備更好的接收相應(yīng)測(cè)試頻段測(cè)試信號(hào)的方向，同時(shí)，天線與支架達(dá)到最合理的耦合。所以，本發(fā)明有效克服了現(xiàn)有技術(shù)中的種種缺點(diǎn)而具高度產(chǎn)業(yè)利用價(jià)值。
[0037]上述實(shí)施例僅例示性說(shuō)明本發(fā)明的原理及其功效，而非用于限制本發(fā)明。任何熟悉此技術(shù)的人士皆可在不違背本發(fā)明的精神及范疇下，對(duì)上述實(shí)施例進(jìn)行修飾或改變。因此，舉凡所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識(shí)者在未脫離本發(fā)明所揭示的精神與技術(shù)思想下所完成的一切等效修飾或改變，仍應(yīng)由本發(fā)明的權(quán)利要求所涵蓋。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種測(cè)試裝置，其特征在于，用于對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試系統(tǒng)中，包括: 屏蔽盒，用以為待測(cè)電子設(shè)備的測(cè)試提供屏蔽的環(huán)境； 天線，設(shè)置于所述屏蔽盒內(nèi)，用以接收發(fā)送給所述待測(cè)電子設(shè)備的外部測(cè)試信號(hào)或發(fā)射所述待測(cè)電子設(shè)備的反饋信號(hào)； 支架，用以支撐待測(cè)電子設(shè)備，其中，所述支架可調(diào)整為令所述待測(cè)電子設(shè)備處于多個(gè)角度的設(shè)置。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述天線為全頻段天線。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述天線為平板天線。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述支架根據(jù)測(cè)試的頻段調(diào)整所述電子設(shè)備處于相應(yīng)的角度設(shè)置。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述支架為可360度旋轉(zhuǎn)以及可上下調(diào)整的活動(dòng)結(jié)構(gòu)。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試系統(tǒng)為近場(chǎng)耦合測(cè)試系統(tǒng)。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述天線通過(guò)一射頻線纜與一綜測(cè)設(shè)備電連接。8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述待測(cè)電子設(shè)備為智能手機(jī)或平板電腦。9.一種測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括如權(quán)利要求1?8中任一項(xiàng)所述的測(cè)試裝置，以及一與所述天線電連接的綜測(cè)設(shè)備，用以對(duì)設(shè)置于所述屏蔽盒內(nèi)的支架上的待測(cè)電子設(shè)備進(jìn)行測(cè)試。
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明的一種測(cè)試系統(tǒng)及其應(yīng)用的測(cè)試裝置，用于對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試系統(tǒng)中，所述測(cè)試裝置包括：屏蔽盒，以為待測(cè)電子設(shè)備的測(cè)試提供屏蔽的環(huán)境；天線，設(shè)置于所述屏蔽盒內(nèi)，用以接收發(fā)送給所述待測(cè)電子設(shè)備的外部測(cè)試信號(hào)或發(fā)射所述待測(cè)電子設(shè)備的反饋信號(hào)；支架，用以支撐待測(cè)電子設(shè)備，其中，所述支架可調(diào)整為令所述待測(cè)電子設(shè)備處于多個(gè)角度的設(shè)置。所述支架可根據(jù)不同的測(cè)試頻段而調(diào)整為令待測(cè)電子設(shè)備更好的接收相應(yīng)測(cè)試頻段測(cè)試信號(hào)的方向，同時(shí)，天線與支架達(dá)到最合理的耦合。
【IPC分類(lèi)】H04M1/24
【公開(kāi)號(hào)】CN105162929
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510548265
【發(fā)明人】鄧浩浩
【申請(qǐng)人】上海斐訊數(shù)據(jù)通信技術(shù)有限公司
【公開(kāi)日】2015年12月16日
【申請(qǐng)日】2015年8月31日