一種應(yīng)用測(cè)試方法和系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種應(yīng)用測(cè)試方法和系統(tǒng)，應(yīng)用測(cè)試方法包括：對(duì)待測(cè)應(yīng)用程序進(jìn)行解析，得到所述待測(cè)應(yīng)用程序的多個(gè)應(yīng)用控件；根據(jù)所述多個(gè)應(yīng)用控件生成測(cè)試用例；根據(jù)所述測(cè)試用例分別對(duì)基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端進(jìn)行測(cè)試；對(duì)所述基準(zhǔn)終端輸出的測(cè)試結(jié)果和測(cè)試終端輸出的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行比對(duì)，得到比對(duì)誤差；當(dāng)所述比對(duì)誤差小于第一閾值時(shí)，確定所述待測(cè)應(yīng)用程序通過所述測(cè)試。因此，本發(fā)明實(shí)施例提供的應(yīng)用測(cè)試方法，采用控件進(jìn)行應(yīng)用適配性測(cè)試，能夠保證每個(gè)控件都能被覆蓋，提高測(cè)試覆蓋率，且能夠節(jié)省大量的人力和物力，提高測(cè)試效率。
【專利說明】_種應(yīng)用測(cè)試方法和系統(tǒng)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及應(yīng)用適配性測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及一種應(yīng)用測(cè)試方法和系統(tǒng)。

【背景技術(shù)】
[0002]隨著電子信息技術(shù)和互聯(lián)網(wǎng)技術(shù)的的蓬勃發(fā)展，終端設(shè)備不斷增加，基于終端設(shè)備的基礎(chǔ)上，海量的軟件應(yīng)運(yùn)而生，不同的應(yīng)用軟件實(shí)現(xiàn)不同的功能，通過各種軟件豐富了用戶的生活，給人們的生活帶來了巨大的改變。然而，不同的終端設(shè)備在內(nèi)存、操作系統(tǒng)、屏幕尺寸等軟件和硬件方面也都千差萬別，并且這些終端設(shè)備也都在各自不斷的升級(jí)更新。比如蘋果手機(jī)，每年都會(huì)推出自己新的產(chǎn)品，新的產(chǎn)品在軟件和硬件方面都有新的提升和改善；安卓系統(tǒng)的智能終端，由于安卓的開源性，使得安卓系統(tǒng)在短短的時(shí)間內(nèi)已經(jīng)升級(jí)了無數(shù)版本。但是，同一款軟件面對(duì)不同的終端設(shè)備，其適配性也是不同的，因此，軟件對(duì)不同終端的適配性測(cè)試必不可少。常見傳統(tǒng)的適配性測(cè)試方法有兩種:(1)人工進(jìn)行測(cè)試；(2)只是對(duì)應(yīng)用進(jìn)行適配性測(cè)試，并未給出適配性測(cè)試結(jié)果。
[0003]而上述適配性測(cè)試方法存在以下缺點(diǎn):人工測(cè)試會(huì)浪費(fèi)大量的人力和物力，且不能精確得到測(cè)試結(jié)果；只進(jìn)行應(yīng)用適配性測(cè)試得不到適配性測(cè)試結(jié)果的測(cè)試仍然需要浪費(fèi)大量的人力。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明提供的一種應(yīng)用的測(cè)試方法和系統(tǒng)，用以提高應(yīng)用適配性測(cè)試的效率。
[0005]第一方面，本發(fā)明提供了一種應(yīng)用測(cè)試方法，所述應(yīng)用測(cè)試方法包括:
[0006]對(duì)待測(cè)應(yīng)用程序進(jìn)行解析，得到所述待測(cè)應(yīng)用程序的多個(gè)應(yīng)用控件；
[0007]根據(jù)所述多個(gè)應(yīng)用控件生成測(cè)試用例；
[0008]根據(jù)所述測(cè)試用例分別對(duì)基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端進(jìn)行測(cè)試；
[0009]對(duì)所述基準(zhǔn)終端輸出的測(cè)試結(jié)果和測(cè)試終端輸出的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行比對(duì)，得到比對(duì)誤差;
[0010]當(dāng)所述比對(duì)誤差小于第一閾值時(shí)，確定所述待測(cè)應(yīng)用程序通過所述測(cè)試。
[0011]優(yōu)選地，所述根據(jù)所述多個(gè)應(yīng)用控件生成測(cè)試用例具體為:
[0012]根據(jù)所述多個(gè)應(yīng)用控件的類型、數(shù)量以及所述多個(gè)應(yīng)用控件之間的關(guān)系，通過所述基準(zhǔn)終端生成所述測(cè)試用例。
[0013]優(yōu)選地，所述測(cè)試終端為一個(gè)或多個(gè)。
[0014]優(yōu)選地，所述根據(jù)所述測(cè)試用例分別對(duì)基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端分別進(jìn)行測(cè)試具體為:
[0015]依次根據(jù)所述測(cè)試用例中的每一個(gè)應(yīng)用控件，對(duì)所述基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端分別進(jìn)行測(cè)試；
[0016]在每個(gè)應(yīng)用控件測(cè)試結(jié)束后，所述基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端分別輸出測(cè)試結(jié)果項(xiàng)。
[0017]優(yōu)選地，所述對(duì)所述基準(zhǔn)終端輸出的測(cè)試結(jié)果和測(cè)試終端輸出的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行比對(duì)，得到比對(duì)誤差具體為:
[0018]對(duì)所述基準(zhǔn)終端和所述測(cè)試終端依次輸出的每一所述應(yīng)用控件的結(jié)果項(xiàng)進(jìn)行比對(duì)；
[0019]對(duì)所述基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端輸出的全部測(cè)試結(jié)果項(xiàng)的比對(duì)結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，得到所述對(duì)比誤差。
[0020]第二方面，本發(fā)明提供一種應(yīng)用測(cè)試系統(tǒng)，所述應(yīng)用測(cè)試系統(tǒng)包括:測(cè)試控制模塊、測(cè)試用例模塊、測(cè)試執(zhí)行模塊、結(jié)果處理模塊；
[0021]所述測(cè)試控制模塊，用于對(duì)待測(cè)應(yīng)用程序進(jìn)行解析，得到所述待測(cè)應(yīng)用程序的多個(gè)應(yīng)用控件；
[0022]所述測(cè)試用例模塊，用于根據(jù)所述多個(gè)應(yīng)用控件生成測(cè)試用例；
[0023]所述測(cè)試執(zhí)行模塊，用于根據(jù)所述測(cè)試用例分別對(duì)基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端進(jìn)行測(cè)試；
[0024]所述結(jié)果處理模塊，用于對(duì)所述基準(zhǔn)終端輸出的測(cè)試結(jié)果和測(cè)試終端輸出的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行比較，得到匹配誤差；
[0025]所述測(cè)試處理模塊還用于，當(dāng)所述匹配誤差小于第一閾值時(shí)，確定所述待測(cè)應(yīng)用程序通過所述測(cè)試。
[0026]優(yōu)選地，所述測(cè)試用例模塊具體用于，根據(jù)所述多個(gè)應(yīng)用控件的類型、數(shù)量以及所述多個(gè)控件之間的關(guān)系，通過所述基準(zhǔn)終端生成所述測(cè)試用例。
[0027]優(yōu)選地，所述測(cè)試執(zhí)行模塊具體用于，
[0028]依次根據(jù)所述測(cè)試用例中的每一個(gè)應(yīng)用控件，對(duì)所述基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端分別進(jìn)行測(cè)試；
[0029]在每個(gè)應(yīng)用控件測(cè)試結(jié)束后，所述基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端分別輸出測(cè)試結(jié)果項(xiàng)。
[0030]優(yōu)選地，所述結(jié)果處理模塊具體用于，
[0031]對(duì)所述基準(zhǔn)終端和所述測(cè)試終端依次輸出的每一所述應(yīng)用控件的結(jié)果項(xiàng)進(jìn)行比對(duì)；
[0032]對(duì)所述基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端輸出的全部測(cè)試結(jié)果項(xiàng)的比對(duì)結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，得到所述匹配誤差。
[0033]因此，本發(fā)明提供的一種應(yīng)用的測(cè)試方法和系統(tǒng)，通過在所需的多個(gè)終端中選擇基準(zhǔn)終端為例，在基準(zhǔn)終端上進(jìn)行適配性測(cè)試，生成測(cè)試用例，根據(jù)測(cè)試用例，通過應(yīng)用控件在多個(gè)測(cè)試終端上上進(jìn)行適配性測(cè)試，并將多個(gè)測(cè)試終端的測(cè)試結(jié)果與基準(zhǔn)測(cè)試終端的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行比對(duì)，得到適配性測(cè)試結(jié)果。能夠節(jié)省大量的人力和物力，提高測(cè)試效率。此夕卜，采用控件進(jìn)行應(yīng)用適配性測(cè)試，能夠保證每個(gè)控件都能被覆蓋，提高測(cè)試覆蓋率。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0034]圖1為本發(fā)明實(shí)施例一提供的一種應(yīng)用測(cè)試系統(tǒng)的示意圖；
[0035]圖2為本發(fā)明實(shí)施例二提供的一種應(yīng)用測(cè)試方法的流程圖；
[0036]圖3為本發(fā)明實(shí)施例三提供的一種應(yīng)用測(cè)試系統(tǒng)的網(wǎng)絡(luò)拓?fù)涫疽鈭D。

【具體實(shí)施方式】
[0037]為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0038]為便于對(duì)本發(fā)明申請(qǐng)的理解，下面結(jié)合附圖以具體實(shí)施例做進(jìn)一步的解釋和說明。
[0039]圖1為本發(fā)明實(shí)施例二提供的一種應(yīng)用測(cè)試系統(tǒng)的示意圖。
[0040]如圖1所示，本發(fā)明實(shí)施例提供的一種應(yīng)用的測(cè)試系統(tǒng)包括測(cè)試控制模塊101、測(cè)試用例模塊102、測(cè)試執(zhí)行模塊103和結(jié)果處理模塊104。
[0041]測(cè)試控制模塊101，用于對(duì)待測(cè)應(yīng)用程序進(jìn)行解析，得到待測(cè)應(yīng)用程序的多個(gè)應(yīng)用控件。
[0042]測(cè)試用例模塊102，用于根據(jù)所述多個(gè)應(yīng)用控件生成測(cè)試用例。
[0043]優(yōu)選地，測(cè)試用例模塊102具體用于，根據(jù)多個(gè)應(yīng)用控件的類型、數(shù)量以及多個(gè)控件之間的關(guān)系，通過基準(zhǔn)終端生成所述測(cè)試用例。
[0044]測(cè)試執(zhí)行模塊103，用于根據(jù)所述測(cè)試用例分別對(duì)基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端進(jìn)行測(cè)試。
[0045]其中，測(cè)試執(zhí)行模塊具體用于，依次根據(jù)測(cè)試用例中的每一個(gè)應(yīng)用控件，對(duì)基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端分別進(jìn)行測(cè)試。
[0046]在每個(gè)應(yīng)用控件測(cè)試結(jié)束后，基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端分別輸出測(cè)試結(jié)果項(xiàng)。
[0047]所述結(jié)果處理模塊104，用于對(duì)基準(zhǔn)終端輸出的測(cè)試結(jié)果和測(cè)試終端輸出的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行比較，得到匹配誤差。
[0048]具體地，結(jié)果處理模塊具體用于，對(duì)基準(zhǔn)終端和所述測(cè)試終端依次輸出的每一應(yīng)用控件的結(jié)果項(xiàng)進(jìn)行比對(duì)。
[0049]對(duì)基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端輸出的全部測(cè)試結(jié)果項(xiàng)的比對(duì)結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，得到匹配誤差。
[0050]所述測(cè)試處理模塊104還用于，當(dāng)所述匹配誤差小于第一閾值時(shí)，確定待測(cè)應(yīng)用程序通過測(cè)試。
[0051]因此，本發(fā)明實(shí)施例提供的一種應(yīng)用測(cè)試系統(tǒng)，通過測(cè)試控制模塊對(duì)待測(cè)應(yīng)用程序的解析，以使測(cè)試用例模塊生成測(cè)試用例，測(cè)試執(zhí)行模塊根據(jù)測(cè)試用例對(duì)基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端進(jìn)行測(cè)試，得到測(cè)試結(jié)果，能夠節(jié)省大量的人力和物力，提高測(cè)試效率。
[0052]圖2為本發(fā)明實(shí)施例二提供的一種應(yīng)用測(cè)試方法的流程圖。
[0053]如圖2所示，一種應(yīng)用測(cè)試方法包括如下步驟:
[0054]步驟201，對(duì)待測(cè)應(yīng)用程序進(jìn)行解析，得到所述待測(cè)應(yīng)用程序的多個(gè)應(yīng)用控件。
[0055]具體地，對(duì)接收到的待測(cè)應(yīng)用程序進(jìn)行反編譯，得到待測(cè)應(yīng)用程序的源碼，并根據(jù)源碼得到待測(cè)應(yīng)用程序中的多個(gè)應(yīng)用控件，其中應(yīng)用控件可以具體為應(yīng)用程序中的應(yīng)用按鍵，在應(yīng)用程序使用過程中，方便用戶的查找應(yīng)用。
[0056]步驟202，根據(jù)所述多個(gè)應(yīng)用控件生成測(cè)試用例。
[0057]具體地，可以根據(jù)多個(gè)應(yīng)用控件的類型、數(shù)量以及所述多個(gè)應(yīng)用控件之間的關(guān)系，通過基準(zhǔn)終端生成所述測(cè)試用例。
[0058]在步驟202之前，為了測(cè)試待應(yīng)用程序可以應(yīng)用在不同終端上的適配性測(cè)試，先選擇待測(cè)應(yīng)用程序需要的適配性的多個(gè)終端，其中，終端可以包括多種不同機(jī)型的手機(jī)，基準(zhǔn)終端可以具體為從多種不同機(jī)型的手機(jī)中選擇的任一機(jī)型的手機(jī)。
[0059]依基準(zhǔn)終端為測(cè)試?yán)?，根?jù)多種應(yīng)用控件得到測(cè)試用例，節(jié)約測(cè)試用例生成的時(shí)間以及資源上的耗費(fèi)。
[0060]步驟203，根據(jù)所述測(cè)試用例分別對(duì)基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端進(jìn)行測(cè)試。
[0061]具體地，測(cè)試終端可以為一個(gè)或者多個(gè)終端。
[0062]將通過基準(zhǔn)終端生成的測(cè)試用例，分別用以基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端上進(jìn)行應(yīng)用程序的測(cè)試，以滿足應(yīng)用程序的適配性測(cè)試。
[0063]步驟204，對(duì)所述基準(zhǔn)終端輸出的測(cè)試結(jié)果和測(cè)試終端輸出的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行比對(duì)，得到比對(duì)誤差。
[0064]具體地，根據(jù)測(cè)試用例，依次對(duì)基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端應(yīng)用程序中的每一個(gè)應(yīng)用控件對(duì)進(jìn)行測(cè)試，當(dāng)基準(zhǔn)終端與測(cè)試終端的一個(gè)應(yīng)用控件測(cè)試結(jié)束，另個(gè)一個(gè)應(yīng)用控件開始測(cè)試時(shí)，基準(zhǔn)終端輸出該應(yīng)用控件的測(cè)試結(jié)果項(xiàng)，測(cè)試終端輸出該項(xiàng)應(yīng)用控件測(cè)試結(jié)果項(xiàng)，并對(duì)輸出的兩個(gè)測(cè)試結(jié)果項(xiàng)進(jìn)行比對(duì)。對(duì)所述基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端依次輸出的每一應(yīng)用控件的結(jié)果項(xiàng)進(jìn)行比對(duì)；并對(duì)基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端輸出的全部測(cè)試結(jié)果項(xiàng)的比對(duì)結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，得到對(duì)比誤差。
[0065]步驟205，當(dāng)所述比對(duì)誤差小于第一閾值時(shí)，確定所述待測(cè)應(yīng)用程序通過所述測(cè)試。
[0066]具體地，預(yù)設(shè)第一閾值，當(dāng)比對(duì)誤差小于預(yù)設(shè)的第一閾值時(shí)，可以確定待測(cè)應(yīng)用程序適配與基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端。
[0067]優(yōu)選地，第一閾值可以設(shè)定為10%。
[0068]本發(fā)明實(shí)施例提供的應(yīng)用測(cè)試方法，還包括:當(dāng)比對(duì)誤差大于第一閾值值，確定待測(cè)應(yīng)用程序不通過測(cè)試，即可以確定待測(cè)應(yīng)用程序不適用于測(cè)試終端。
[0069]在一個(gè)具體實(shí)施例中，當(dāng)一個(gè)應(yīng)用程序中包括二十個(gè)應(yīng)用控件，在對(duì)比結(jié)果中，任一測(cè)試終端的一個(gè)應(yīng)用控件的測(cè)試結(jié)果與基準(zhǔn)終端的測(cè)試結(jié)果不同，則，該比對(duì)誤差為5%，該待測(cè)應(yīng)用程序適用于基準(zhǔn)終端與測(cè)試終端。
[0070]因此，本發(fā)明實(shí)施例提供的一種應(yīng)用測(cè)試方法，通過待測(cè)應(yīng)用程序，在所需要的多個(gè)終端中選擇基準(zhǔn)終端為例，在基準(zhǔn)終端上進(jìn)行適配性測(cè)試，生成測(cè)試用例，根據(jù)測(cè)試用例，通過應(yīng)用控件在多個(gè)測(cè)試終端上進(jìn)行適配性測(cè)試，并將多個(gè)測(cè)試終端的測(cè)試結(jié)果與基準(zhǔn)測(cè)試終端的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行比對(duì)，得到適配性測(cè)試結(jié)果。采用控件進(jìn)行應(yīng)用適配性測(cè)試，能夠保證每個(gè)控件都能被覆蓋，提高測(cè)試覆蓋率，且能夠節(jié)省大量的人力和物力，提高測(cè)試效率。
[0071]圖3為本發(fā)明實(shí)施例三提供的一種應(yīng)用測(cè)試的網(wǎng)絡(luò)拓?fù)涫疽鈭D。
[0072]如圖3所示，一種應(yīng)用測(cè)試的網(wǎng)絡(luò)包括實(shí)施例1提供的應(yīng)用測(cè)試系統(tǒng)301，網(wǎng)絡(luò)302以及終端303。
[0073]其中，應(yīng)用測(cè)試系統(tǒng)301包括測(cè)試控制模塊101、測(cè)試用例模塊102、測(cè)試執(zhí)行模塊103和結(jié)果處理模塊104。終端包括多個(gè)被測(cè)終端，在本實(shí)施例中為四個(gè)被測(cè)終端。
[0074]應(yīng)用測(cè)試系統(tǒng)301，用于實(shí)現(xiàn)待測(cè)應(yīng)用程序適配性測(cè)試終端的系統(tǒng)。
[0075]網(wǎng)絡(luò)302，用于連接應(yīng)用測(cè)試系統(tǒng)301與終端303。
[0076]終端303，用于根據(jù)應(yīng)用測(cè)試系統(tǒng)通過網(wǎng)絡(luò)302發(fā)送的測(cè)試用例，測(cè)試終端的適配性。
[0077]專業(yè)人員應(yīng)該還可以進(jìn)一步意識(shí)到，結(jié)合本文中所公開的實(shí)施例描述的各示例的單元及算法步驟，能夠以電子硬件、計(jì)算機(jī)軟件或者二者的結(jié)合來實(shí)現(xiàn)，為了清楚地說明硬件和軟件的可互換性，在上述說明中已經(jīng)按照功能一般性地描述了各示例的組成及步驟。這些功能宄竟以硬件還是軟件方式來執(zhí)行，取決于技術(shù)方案的特定應(yīng)用和設(shè)計(jì)約束條件。專業(yè)技術(shù)人員可以對(duì)每個(gè)特定的應(yīng)用來使用不同方法來實(shí)現(xiàn)所描述的功能，但是這種實(shí)現(xiàn)不應(yīng)認(rèn)為超出本發(fā)明的范圍。
[0078]結(jié)合本文中所公開的實(shí)施例描述的方法或算法的步驟可以用硬件、處理器執(zhí)行的軟件模塊，或者二者的結(jié)合來實(shí)施。軟件模塊可以置于隨機(jī)存儲(chǔ)器(RAM)、內(nèi)存、只讀存儲(chǔ)器(ROM)、電可編程ROM、電可擦除可編程ROM、寄存器、硬盤、可移動(dòng)磁盤、CD-ROM、或【技術(shù)領(lǐng)域】?jī)?nèi)所公知的任意其它形式的存儲(chǔ)介質(zhì)中。
[0079]以上所述的【具體實(shí)施方式】，對(duì)本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和有益效果進(jìn)行了進(jìn)一步詳細(xì)說明，所應(yīng)理解的是，以上所述僅為本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】而已，并不用于限定本發(fā)明的保護(hù)范圍，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種應(yīng)用測(cè)試方法，其特征在于，所述應(yīng)用測(cè)試方法包括: 對(duì)待測(cè)應(yīng)用程序進(jìn)行解析，得到所述待測(cè)應(yīng)用程序的多個(gè)應(yīng)用控件； 根據(jù)所述多個(gè)應(yīng)用控件生成測(cè)試用例； 根據(jù)所述測(cè)試用例分別對(duì)基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端進(jìn)行測(cè)試； 對(duì)所述基準(zhǔn)終端輸出的測(cè)試結(jié)果和測(cè)試終端輸出的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行比對(duì)，得到比對(duì)誤差; 當(dāng)所述比對(duì)誤差小于第一閾值時(shí)，確定所述待測(cè)應(yīng)用程序通過所述測(cè)試。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用測(cè)試方法，其特征在于，所述根據(jù)所述多個(gè)應(yīng)用控件生成測(cè)試用例具體為: 根據(jù)所述多個(gè)應(yīng)用控件的類型、數(shù)量以及所述多個(gè)應(yīng)用控件之間的關(guān)系，通過所述基準(zhǔn)終端生成所述測(cè)試用例。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試終端為一個(gè)或多個(gè)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用測(cè)試方法，其特征在于，所述根據(jù)所述測(cè)試用例分別對(duì)基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端分別進(jìn)行測(cè)試具體為: 依次根據(jù)所述測(cè)試用例中的每一個(gè)應(yīng)用控件，對(duì)所述基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端分別進(jìn)行測(cè)試； 在每個(gè)應(yīng)用控件測(cè)試結(jié)束后，所述基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端分別輸出測(cè)試結(jié)果項(xiàng)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的應(yīng)用測(cè)試方法，其特征在于，所述對(duì)所述基準(zhǔn)終端輸出的測(cè)試結(jié)果和測(cè)試終端輸出的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行比對(duì)，得到比對(duì)誤差具體為: 對(duì)所述基準(zhǔn)終端和所述測(cè)試終端依次輸出的每一所述應(yīng)用控件的結(jié)果項(xiàng)進(jìn)行比對(duì)； 對(duì)所述基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端輸出的全部測(cè)試結(jié)果項(xiàng)的比對(duì)結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，得到所述對(duì)比誤差。
6.一種應(yīng)用測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述應(yīng)用測(cè)試系統(tǒng)包括:測(cè)試控制模塊、測(cè)試用例模塊、測(cè)試執(zhí)行模塊、結(jié)果處理模塊； 所述測(cè)試控制模塊，用于對(duì)待測(cè)應(yīng)用程序進(jìn)行解析，得到所述待測(cè)應(yīng)用程序的多個(gè)應(yīng)用控件； 所述測(cè)試用例模塊，用于根據(jù)所述多個(gè)應(yīng)用控件生成測(cè)試用例； 所述測(cè)試執(zhí)行模塊，用于根據(jù)所述測(cè)試用例分別對(duì)基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端進(jìn)行測(cè)試；所述結(jié)果處理模塊，用于對(duì)所述基準(zhǔn)終端輸出的測(cè)試結(jié)果和測(cè)試終端輸出的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行比較，得到匹配誤差； 所述測(cè)試處理模塊還用于，當(dāng)所述匹配誤差小于第一閾值時(shí)，確定所述待測(cè)應(yīng)用程序通過所述測(cè)試。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的應(yīng)用測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試用例模塊具體用于，根據(jù)所述多個(gè)應(yīng)用控件的類型、數(shù)量以及所述多個(gè)控件之間的關(guān)系，通過所述基準(zhǔn)終端生成所述測(cè)試用例。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的應(yīng)用測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試執(zhí)行模塊具體用于， 依次根據(jù)所述測(cè)試用例中的每一個(gè)應(yīng)用控件，對(duì)所述基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端分別進(jìn)行測(cè)試； 在每個(gè)應(yīng)用控件測(cè)試結(jié)束后，所述基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端分別輸出測(cè)試結(jié)果項(xiàng)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的應(yīng)用測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述結(jié)果處理模塊具體用于， 對(duì)所述基準(zhǔn)終端和所述測(cè)試終端依次輸出的每一所述應(yīng)用控件的結(jié)果項(xiàng)進(jìn)行比對(duì)； 對(duì)所述基準(zhǔn)終端和測(cè)試終端輸出的全部測(cè)試結(jié)果項(xiàng)的比對(duì)結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，得到所述匹配誤差。
【文檔編號(hào)】G06F11/36GK104461888SQ201410766137
【公開日】2015年3月25日 申請(qǐng)日期:2014年12月11日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月11日
【發(fā)明者】馮麗如, 田野 申請(qǐng)人:中國科學(xué)院聲學(xué)研究所