本發(fā)明涉及掃描技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及掃描儀的出廠較正方法及系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

1990年起膠片數(shù)字化相繼在美國、歐洲、日本等國家出現(xiàn)，2002年起隨著PACS系統(tǒng)的興起，醫(yī)院對膠片數(shù)字化的要求越來越高，放射科無膠片化管理是當(dāng)今放射影像數(shù)字化發(fā)展的趨勢，醫(yī)用膠片掃描儀是將醫(yī)院普通的X光機(jī)、CT、MRI產(chǎn)生的膠片數(shù)字化，是醫(yī)院實(shí)現(xiàn)無膠片化管理的重要工具，采用專業(yè)的醫(yī)用膠片滾筒式掃描儀和管理軟件將傳統(tǒng)膠片高速掃描后，自動存儲為國際標(biāo)準(zhǔn)的DICOM圖像，方便瀏覽、打印及報(bào)告。但是不同的掃描儀生產(chǎn)完成后，同一型號的掃描儀的一致性會出現(xiàn)偏差，需要對其進(jìn)行校準(zhǔn)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是：提供一種掃描儀出廠校正方法及系統(tǒng)，提高相同型號掃描儀的一致性。

為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的技術(shù)方案為：一種掃描儀出廠校正方法，包括：

掃描測試膠片，得到測試膠片的電子圖像；

讀取所述電子圖像上各色塊的灰度值；

將讀取的灰度值與理論的灰度值進(jìn)行數(shù)據(jù)擬合，生成校準(zhǔn)曲線；

利用所述校準(zhǔn)曲線對后續(xù)掃描的圖像進(jìn)行校正。

本發(fā)明還涉及一種掃描儀出廠校正系統(tǒng)，包括：

掃描模塊，用于掃描測試膠片，得到測試膠片的電子圖像；

讀取模塊，用于讀取電子圖像上各色塊的灰度值；

擬合模塊，用于進(jìn)行數(shù)據(jù)擬合，生產(chǎn)校準(zhǔn)曲線；

校準(zhǔn)模塊，利用所述校準(zhǔn)曲線對后續(xù)掃描的圖像進(jìn)行校準(zhǔn)。

本發(fā)明的有益效果在于：通過將測試膠片的理論灰度值和實(shí)際灰度值進(jìn)行數(shù)據(jù)擬合生成校準(zhǔn)曲線，并對后續(xù)掃描的圖像進(jìn)行校正，可以提高同一型號的掃描儀的一致性，校正方法簡單可靠。

附圖說明

圖1為本發(fā)明實(shí)施例的掃描儀出廠校正方法流程圖；

圖2為本發(fā)明實(shí)施例的測試膠片的示意圖；

圖3為本發(fā)明掃描儀出廠校正方法流程圖；

圖4為本發(fā)明實(shí)施例的掃描儀出廠校正系統(tǒng)框圖；

標(biāo)號說明：

1、測量模塊；2、計(jì)算模塊；3、掃描模塊；4、讀取模塊；5、擬合模塊；6、對比模塊；7、校準(zhǔn)模塊。

具體實(shí)施方式

為詳細(xì)說明本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容、所實(shí)現(xiàn)目的及效果，以下結(jié)合實(shí)施方式并配合附圖予以說明。

本發(fā)明最關(guān)鍵的構(gòu)思在于：通過將測試膠片的理論灰度值和實(shí)際灰度值進(jìn)行數(shù)據(jù)擬合生成校準(zhǔn)曲線，并對后續(xù)掃描的圖像進(jìn)行校正，可以提高同一型號的掃描儀的一致性。

請參照圖1至圖4，一種掃描儀出廠校正方法，包括：

掃描測試膠片，得到測試膠片的電子圖像；

讀取所述電子圖像上各色塊的灰度值；

將讀取的灰度值與理論的灰度值進(jìn)行數(shù)據(jù)擬合，生成校準(zhǔn)曲線；

利用所述校準(zhǔn)曲線對后續(xù)掃描的圖像進(jìn)行校正。

從上述描述可知，本發(fā)明的有益效果在于：通過將測試膠片的理論灰度值和實(shí)際灰度值進(jìn)行數(shù)據(jù)擬合生成校準(zhǔn)曲線，并對后續(xù)掃描的圖像進(jìn)行校正，可以提高同一型號的掃描儀的一致性，校正方法簡單可靠。

進(jìn)一步的，還包括：讀取所述電子圖像上各色塊的像素點(diǎn)陣，將讀取的像素點(diǎn)陣與理論的像素點(diǎn)陣進(jìn)行對比，得到掃描速度優(yōu)化參數(shù)，利用所述優(yōu)化參數(shù)對掃描儀進(jìn)行校正。

由上述描述可知，可通過像素點(diǎn)陣的變化來對掃描儀的掃描速度進(jìn)行校正。

進(jìn)一步的，掃描測試膠片之前還包括：用光密度計(jì)測量測試膠片各色塊的透射密度，對所述透射密度進(jìn)行理論計(jì)算，得到測試膠片各色塊的理論的灰度值。

進(jìn)一步的，掃描測試膠片之前還包括：用二次元機(jī)檢測各色塊的尺寸信息，對所述尺寸信息進(jìn)行理論計(jì)算，得到測試膠片各色塊的理論的像素點(diǎn)陣。

進(jìn)一步的，還包括：將所述校準(zhǔn)曲線進(jìn)行備份。

進(jìn)一步的，當(dāng)所述測試膠片超過保存周期時(shí)，更換新的測試膠片，并重新測量和計(jì)算其理論的灰度值和像素點(diǎn)陣。

一種掃描儀出廠校正系統(tǒng)，包括：

掃描模塊，用于掃描測試膠片，得到測試膠片的電子圖像；

讀取模塊，用于讀取電子圖像上各色塊的灰度值；

擬合模塊，用于進(jìn)行數(shù)據(jù)擬合，生產(chǎn)校準(zhǔn)曲線；

校準(zhǔn)模塊，利用所述校準(zhǔn)曲線對后續(xù)掃描的圖像進(jìn)行校準(zhǔn)。

進(jìn)一步的，還包括：

測量模塊，用于測量測試膠片各色塊的透射密度和尺寸信息；

計(jì)算模塊，用于根據(jù)所述透射密度和尺寸信息計(jì)算測試膠片各色塊的理論的灰度值和像素點(diǎn)陣。

進(jìn)一步的，所述讀取模塊還用于讀取電子圖像上各色塊的像素點(diǎn)陣。

進(jìn)一步的，還包括對比模塊，所述對比模快用于將讀取的像素點(diǎn)陣與理論的像素點(diǎn)陣進(jìn)行對比，得到掃描速度優(yōu)化參數(shù)。

實(shí)施例

請參照圖1至圖3，本發(fā)明的實(shí)施例一為：如圖1所示，一種掃描儀出廠校正方法，包括如下內(nèi)容：

首先打印一張測試膠片，如圖2所示，所述測試膠片上有不同灰度的色塊，用光密度計(jì)測量測試膠片各色塊的透射密度，對透射密度進(jìn)行理論計(jì)算，得到測試膠片各色塊的理論的灰度值，記做HDn0；用二次元機(jī)檢測各色塊的尺寸信息，并對尺寸信息進(jìn)行理論計(jì)算，得到測試膠片各色塊的理論的像素點(diǎn)陣，將理論X軸像素點(diǎn)數(shù)記作Xn0，理論Y軸像素點(diǎn)數(shù)記作Yn0，其中n表示測試膠片中不同區(qū)域的色塊。

如圖3所示，掃描儀在出廠一致性檢測時(shí)，在儀器調(diào)試完成后，需要掃描測試膠片，得到測試膠片的電子圖像，同一型號的每一臺掃描儀都用同一張測試膠片進(jìn)行掃描。然后讀取所述電子圖像上不同區(qū)域各色塊的灰度值和像素點(diǎn)陣大小，將實(shí)際讀取到的灰度值記作HDni，X軸像素點(diǎn)數(shù)記作Xni，Y軸的像素點(diǎn)數(shù)記作Yni，其中n代表測試膠片中不同區(qū)域的色塊，i代表不同的掃描儀。然后將讀取的灰度值與理論的灰度值進(jìn)行數(shù)據(jù)擬合，生成校準(zhǔn)曲線，其具體做法是：以HDn0為Y，HDni為X，對理論數(shù)據(jù)和實(shí)際數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合，可采用二次、三次或四次方程進(jìn)行擬合，也可以采用對數(shù)擬合或指數(shù)擬合的方式。最后將擬合后得到的校準(zhǔn)曲線保存在掃描儀中，以用作對后續(xù)掃描的圖像進(jìn)行校正，當(dāng)然也可以以只讀的形式將校準(zhǔn)曲線備份到與掃描儀對應(yīng)的安裝軟件的光盤中，可以保證安裝時(shí)不會將其他掃描儀的校準(zhǔn)曲線誤裝。

本實(shí)施例中，還通過實(shí)際像素點(diǎn)陣Xni和Yni與理論像素點(diǎn)陣Xn0和Yn0進(jìn)行對比，得到掃描儀的掃描速度優(yōu)化參數(shù)，然后利用所述優(yōu)化參數(shù)對掃描儀的掃描速度進(jìn)行校正，以保證獲取的掃描圖像更加精準(zhǔn)，對所述掃描速度進(jìn)行校正具體體現(xiàn)在校正掃描儀電機(jī)的轉(zhuǎn)速。

本實(shí)施例中，所述測試膠片具有一定的保存期限，一般不超過70年，當(dāng)更換新的測試膠片時(shí)，需要重新測量和計(jì)算其理論的灰度值和像素點(diǎn)陣。為了保證結(jié)果的準(zhǔn)確性，每生產(chǎn)一批新的掃描儀時(shí)，都對測試膠片的理論值進(jìn)行重新測量和計(jì)算。

如圖4所示，本實(shí)施例還涉及一種掃描儀出廠校正系統(tǒng)，與上述的掃描儀出廠校正方法相對應(yīng)，包括：

測量模塊1，用于測量測試膠片各色塊的透射密度和尺寸信息；

計(jì)算模塊2，用于根據(jù)所述透射密度和尺寸信息計(jì)算測試膠片各色塊的理論的灰度值和像素點(diǎn)陣；

掃描模塊3，用于掃描測試膠片，得到測試膠片的電子圖像；

讀取模塊4，用于讀取電子圖像上各色塊的灰度值和讀取電子圖像上各色塊的像素點(diǎn)陣；

擬合模塊5，用于進(jìn)行數(shù)據(jù)擬合，生產(chǎn)校準(zhǔn)曲線；

對比模塊6，用于將讀取的像素點(diǎn)陣與理論的像素點(diǎn)陣進(jìn)行對比，得到掃描速度優(yōu)化參數(shù)；

校準(zhǔn)模塊7，利用所述校準(zhǔn)曲線對后續(xù)掃描的圖像進(jìn)行校準(zhǔn)，和利用掃描速度優(yōu)化參數(shù)對掃描儀進(jìn)行校準(zhǔn)。

綜上所述，本發(fā)明提供的掃描儀出產(chǎn)校正方法及系統(tǒng)，通過將測試膠片的理論灰度值和實(shí)際灰度值進(jìn)行數(shù)據(jù)擬合生成校準(zhǔn)曲線，并對后續(xù)掃描的圖像進(jìn)行校正，可以提高同一型號的掃描儀的一致性，校正方法簡單可靠；通過校正膠片的理論像素點(diǎn)陣與實(shí)際像素點(diǎn)陣對比，得到掃描儀的掃描速度優(yōu)化參數(shù)，然后利用所述優(yōu)化參數(shù)對掃描儀的掃描速度進(jìn)行校正，以保證獲取的掃描圖像更加精準(zhǔn)。

以上所述僅為本發(fā)明的實(shí)施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等同變換，或直接或間接運(yùn)用在相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。