本發(fā)明涉及一種待測設備的測試方法，尤其涉及一種待測設備的快速測試方法，并涉及采用了該待測設備的快速測試方法的快速測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

工業(yè)生產(chǎn)對Wi-Fi(Wireless Fidelity)類的待測設備(DUT，Device Under Test，例如家用無線路由器等)進行大批量生產(chǎn)測試時，需要進行功率校準、頻偏校準和指標測試等過程。待測設備的目標功率與可調(diào)功率參數(shù)之間是一個近似線性的關(guān)系。假設目標功率記為Pt，功率校準是從初始功率參數(shù)I₀開始，經(jīng)過待測設備發(fā)射，在經(jīng)過儀器接受并測量、調(diào)整功率參數(shù)再測試，直到找到符合要求的目標功率參數(shù)It，最后將目標功率參數(shù)It寫入待測設備的存儲空間中。

現(xiàn)有技術(shù)中，從初始參數(shù)I₀到目標功率參數(shù)I_t所要經(jīng)歷的調(diào)整次數(shù)記為T，單次調(diào)整所消耗的時間比較固定，因此校準時間與T_n成正比，n為0～T的自然數(shù)。而校準時間又占整個待測設備的單片測試時間的30～50％左右，而單片測試時間與生產(chǎn)成本也是正相關(guān)。因此，如果能有效降低T_n就是能夠降低待測設備的生產(chǎn)成本。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是需要提供一種能夠有效降低待測設備的校準時間的待測設備的快速測試方法，進而提高待測設備的生產(chǎn)效率，降低其生產(chǎn)成本；并提供采用了該待測設備的快速測試方法的快速測試系統(tǒng)。

對此，本發(fā)明提供一種待測設備的快速測試方法，包括以下步驟：

步驟S1，統(tǒng)計并確定當前待測設備的歷史功率參數(shù)統(tǒng)計值；

步驟S2，以步驟S1得到的所述歷史功率參數(shù)統(tǒng)計值作為當前待測設備的初始功率參數(shù)進行測試，直到測試得到的實際功率與目標功率之間的差值小于閾值，則記錄該實際功率對應的實際功率參數(shù)作為當前待測設備的目標功率參數(shù)；

其中，所述歷史功率參數(shù)統(tǒng)計值為在所述當前待測設備之前的所有待測設備的目標功率參數(shù)的統(tǒng)計值。

本發(fā)明的進一步改進在于，所述目標功率參數(shù)的統(tǒng)計值為在所述當前待測設備之前的所有待測設備中出現(xiàn)頻率最高的目標功率參數(shù)。

本發(fā)明的進一步改進在于，所述目標功率參數(shù)的統(tǒng)計值為在所述當前待測設備之前的所有待測設備的目標功率參數(shù)的平均值。

本發(fā)明的進一步改進在于，所述步驟S1包括以下子步驟：

步驟S101，隨機產(chǎn)生一個初始功率參數(shù)作為第一待測設備的初始功率參數(shù)，對第一待測設備進行測試，得到第一待測設備的目標功率參數(shù)；

步驟S102，以第一待測設備的目標功率參數(shù)作為第二待測設備的初始功率參數(shù)，對第二待測設備進行測試，得到第二待測設備的目標功率參數(shù)；

以及，步驟S103，通過對第一待測設備至第N-1待測設備的目標功率參數(shù)進行統(tǒng)計，得到第N待測設備的歷史功率參數(shù)統(tǒng)計值，N為大于2的自然數(shù)；

所述步驟S2以所述步驟S103中得到的歷史功率參數(shù)統(tǒng)計值作為第N待測設備的初始功率參數(shù)進行測試。

本發(fā)明的進一步改進在于，所述步驟S101包括以下子步驟：

步驟S1011，輸入第一待測設備的初始功率參數(shù)，第一待測設備實現(xiàn)發(fā)射測試，在第一待測設備的接收端接收并測量其實際功率；

步驟S1012，判斷所述實際功率與第一待測設備的目標功率之間的差值是否小于閾值，若是，則記錄該實際功率對應的實際功率參數(shù)作為第一待測設備的目標功率參數(shù)，并結(jié)束；若否，則對當前的初始功率參數(shù)實現(xiàn)步進方式調(diào)整，并以步進方式調(diào)整后的初始功率參數(shù)作為第一待測設備的新的初始功率參數(shù)，跳轉(zhuǎn)至步驟S1011。

本發(fā)明的進一步改進在于，所述步驟S102包括以下子步驟：

步驟S1021，輸入第一待測設備的目標功率參數(shù)作為第二待測設備的初始功率參數(shù)，第二待測設備實現(xiàn)發(fā)射測試，在第二待測設備的接收端接收并測量其實際功率；

步驟S1022，判斷所述實際功率與第二待測設備的目標功率之間的差值是否小于閾值，若是，則記錄該實際功率對應的實際功率參數(shù)作為第二待測設備的目標功率參數(shù)，并結(jié)束；若否，則對當前的初始功率參數(shù)實現(xiàn)步進方式調(diào)整，并以步進方式調(diào)整后的初始功率參數(shù)作為第二待測設備的新的初始功率參數(shù)，跳轉(zhuǎn)至步驟S1021。

本發(fā)明的進一步改進在于，所述步驟S103中，通過對第一待測設備至第N-1待測設備的目標功率參數(shù)進行出現(xiàn)頻率或平均值的統(tǒng)計，進而得到第N待測設備的歷史功率參數(shù)統(tǒng)計值。

本發(fā)明的進一步改進在于，若所述第N待測設備的歷史功率參數(shù)統(tǒng)計值為第一待測設備至第N-1待測設備中出現(xiàn)頻率最高的目標功率參數(shù)，且所述出現(xiàn)頻率最高的目標功率參數(shù)的數(shù)量為兩個或兩個以上，則取所述兩個或兩個以上出現(xiàn)頻率最高的目標功率參數(shù)中的中間參數(shù)，或，取所述兩個或兩個以上出現(xiàn)頻率最高的目標功率參數(shù)中兩個中間參數(shù)中的任意一個。

本發(fā)明的進一步改進在于，所述閾值的取值范圍為±0.5；所述閾值為目標功率的閾值。

本發(fā)明還提供一種待測設備的快速測試系統(tǒng)，采用了如上所述的待測設備的快速測試方法。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果在于：只有第一待測設備在測試時，使用隨機產(chǎn)生的一個初始功率參數(shù)作為所述第一待測設備的初始功率參數(shù)；之后的每一個待測設備都根據(jù)前面所有待測設備的歷史功率參數(shù)統(tǒng)計值作為本次測試的初始功率參數(shù)來進行測試，這樣就無需人工小批量進行測試，只有第一待測設備的測試時間較長，后面的待測設備測試時由于采用了更為合理的初始功率參數(shù)，進而使得測試重試的次數(shù)大大減小，保證了合理的目標功率參數(shù)的同時，還能夠有效降低待測設備的校準時間，提高了待測設備的生產(chǎn)效率，降低了其生產(chǎn)成本。

附圖說明

圖1是本發(fā)明一種實施例的工作流程示意圖；

圖2是本發(fā)明一種實施例的詳細工作流程示意圖；

圖3是本發(fā)明一種實施例中待測設備通過輸入初始功率參數(shù)進行測試得到其目標功率參數(shù)的工作流程示意圖。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖，對本發(fā)明的較優(yōu)的實施例作進一步的詳細說明。

如圖1和圖2所示，本例提供一種待測設備的快速測試方法，包括以下步驟：

步驟S1，統(tǒng)計并確定當前待測設備的歷史功率參數(shù)統(tǒng)計值；

步驟S2，以步驟S1得到的所述歷史功率參數(shù)統(tǒng)計值作為當前待測設備的初始功率參數(shù)進行測試，直到測試得到的實際功率與目標功率之間的差值小于閾值，則記錄該實際功率對應的實際功率參數(shù)作為當前待測設備的目標功率參數(shù)；

其中，所述歷史功率參數(shù)統(tǒng)計值為在所述當前待測設備之前的所有待測設備的目標功率參數(shù)的統(tǒng)計值。

優(yōu)選的，本例所述目標功率參數(shù)的統(tǒng)計值為在所述當前待測設備之前的所有待測設備中出現(xiàn)頻率最高的目標功率參數(shù)?；蛘撸瞿繕斯β蕝?shù)的統(tǒng)計值為在所述當前待測設備之前的所有待測設備的目標功率參數(shù)的平均值。本例所述初始功率參數(shù)和目標功率參數(shù)均優(yōu)選為電流參數(shù)。

如圖2所示，本例所述步驟S1包括以下子步驟：

步驟S101，隨機產(chǎn)生一個初始功率參數(shù)作為第一待測設備的初始功率參數(shù)，對第一待測設備進行測試，得到第一待測設備的目標功率參數(shù)；

步驟S102，以第一待測設備的目標功率參數(shù)作為第二待測設備的初始功率參數(shù)，對第二待測設備進行測試，得到第二待測設備的目標功率參數(shù)；

以及，步驟S103，通過對第一待測設備至第N-1待測設備的目標功率參數(shù)進行統(tǒng)計，得到第N待測設備的歷史功率參數(shù)統(tǒng)計值，N為大于2的自然數(shù)；

所述步驟S2以所述步驟S103中得到的歷史功率參數(shù)統(tǒng)計值作為第N待測設備的初始功率參數(shù)進行測試。

也就是說，所述步驟S101和步驟S102其實就是對應的待測設備通過輸入其初始功率參數(shù)進行測試以得到對應的目標功率參數(shù)的過程，其實現(xiàn)過程如圖3所示，具體的，本例所述步驟S101包括以下子步驟：

步驟S1011，輸入第一待測設備的初始功率參數(shù)，第一待測設備實現(xiàn)發(fā)射測試，在第一待測設備的接收端接收并測量其實際功率；

步驟S1012，判斷所述實際功率與第一待測設備的目標功率之間的差值是否小于閾值，若是，則記錄該實際功率對應的實際功率參數(shù)作為第一待測設備的目標功率參數(shù)，并結(jié)束；若否，則對當前的初始功率參數(shù)實現(xiàn)步進方式調(diào)整，并以步進方式調(diào)整后的初始功率參數(shù)作為第一待測設備的新的初始功率參數(shù)，跳轉(zhuǎn)至步驟S1011。

同樣的，本例所述步驟S102包括以下子步驟：

步驟S1021，輸入第一待測設備的目標功率參數(shù)作為第二待測設備的初始功率參數(shù)，第二待測設備實現(xiàn)發(fā)射測試，在第二待測設備的接收端接收并測量其實際功率；

步驟S1022，判斷所述實際功率與第二待測設備的目標功率之間的差值是否小于閾值，若是，則記錄該實際功率對應的實際功率參數(shù)作為第二待測設備的目標功率參數(shù)，并結(jié)束；若否，則對當前的初始功率參數(shù)實現(xiàn)步進方式調(diào)整，并以步進方式調(diào)整后的初始功率參數(shù)作為第二待測設備的新的初始功率參數(shù)，跳轉(zhuǎn)至步驟S1021。

本例所述步驟S103中，通過對第一待測設備至第N-1待測設備的目標功率參數(shù)進行出現(xiàn)頻率或平均值的統(tǒng)計，進而得到第N待測設備的歷史功率參數(shù)統(tǒng)計值。若所述第N待測設備的歷史功率參數(shù)統(tǒng)計值為第一待測設備至第N-1待測設備中出現(xiàn)頻率最高的目標功率參數(shù)，且所述出現(xiàn)頻率最高的目標功率參數(shù)的數(shù)量為兩個或兩個以上，則取所述兩個或兩個以上出現(xiàn)頻率最高的目標功率參數(shù)中的中間參數(shù)，或，取所述兩個或兩個以上出現(xiàn)頻率最高的目標功率參數(shù)中兩個中間參數(shù)中的任意一個。

也就是說，在實現(xiàn)過程中，很有可能會出現(xiàn)出現(xiàn)頻率最高的目標功率參數(shù)不唯一的情況，即多個目標功率參數(shù)的出現(xiàn)頻率并列最高，經(jīng)過實際統(tǒng)計，分以下兩種情況處理效果最好：第一、出現(xiàn)頻率并列最高的目標功率參數(shù)的個數(shù)是奇數(shù)時，將出現(xiàn)頻率并列最高的目標功率參數(shù)按照從小到大順序排列，取其中間參數(shù)作為目標功率參數(shù)的統(tǒng)計值；例如出現(xiàn)頻率并列最高的目標功率參數(shù)分別為16、18和20，那么取18作為當前待測設備的歷史功率參數(shù)統(tǒng)計值，作為當前待測設備測試的初始功率參數(shù)。第二、出現(xiàn)頻率并列最高的目標功率參數(shù)的個數(shù)是偶數(shù)時，將出現(xiàn)頻率并列最高的目標功率參數(shù)按照從小到大順序排列，取其中間的兩個中間參數(shù)中的任意一個作為目標功率參數(shù)的統(tǒng)計值；例如出現(xiàn)頻率并列最高的目標功率參數(shù)分別為16、18、20和21，則從18和20中任選一個作為當前待測設備的歷史功率參數(shù)統(tǒng)計值，作為當前待測設備測試的初始功率參數(shù)。

本例所述閾值的取值范圍優(yōu)選為±0.5，當閾值為目標功率的閾值時，其單位為dB；也就是說，當待測設備經(jīng)過測試得到的實際功率與目標功率之間的差值小于±0.5時，默認滿足待測設備的測試要求；當然，這個閾值可以根據(jù)實際情況和要求進行調(diào)整和修改。

本例假設待測設備的目標功率為Pt，功率校準的過程是從初始功率參數(shù)I₀開始，經(jīng)過待測設備發(fā)射，在經(jīng)過儀器接受并測量、調(diào)整功率參數(shù)再測試，直到找到符合要求的目標功率參數(shù)It，最后將目標功率參數(shù)It寫入待測設備的存儲空間中；本例所述初始功率參數(shù)I₀和目標功率參數(shù)It均優(yōu)選為電流參數(shù)，t為待測設備的次序，因此，t為取值范圍為0～N的自然數(shù)。

Wi-Fi類的待測設備的發(fā)射功率與其功率參數(shù)的關(guān)系由其所集成的Wi-Fi芯片決定。以MTK(MediaTek)和Realtek公司的Wi-Fi芯片為例，功率參數(shù)與實際功率P_n之間存在近似線性的關(guān)系，把功率參數(shù)每調(diào)整1個單位，發(fā)射功率的改變值記為步進s，則步進從初始參數(shù)I₀到目標功率參數(shù)I_t所要經(jīng)歷的調(diào)整次數(shù)記為T，單次調(diào)整所消耗的時間比較固定，因此校準時間與T_n成正比，n為0～T的自然數(shù)。

步進s的理論值記為s₀，根據(jù)芯片廠商(MTK、Realtek)的設計，s₀＝0.5。但由于射頻器件的非線性，實際上s是一個0.5左右的一個值，而且不同的功率參數(shù)下，s的值也會有小幅的波動，通常s的值介于s₀±0.1之間。

實際功率參數(shù)I_n和實際功率P_n分別為第n次測量時的功率參數(shù)和實際功率；I_n+1和P_n+1為下一次測量的功率參數(shù)和實際功率。由此公式可知，為了達到目標功率P_t，功率參數(shù)應該設置為

那么：一、如果初始功率參數(shù)I₀所對應的初始功率P₀已經(jīng)滿足要求，結(jié)束調(diào)整，調(diào)整次數(shù)T＝0，時間最短；二、如果初始功率P₀不滿足要求，則T＝1，用功率參數(shù)I₁進行發(fā)射，并通過接收端儀器測量得到第一次測試的實際功率P₁，如果第一次測試的實際功率P₁滿足要求，結(jié)束調(diào)整；否則調(diào)整新的初始功率參數(shù)為并以此類推，直到滿足要求或調(diào)整次數(shù)T超過設定次數(shù)為止，如圖3所示。

基于以上的前提條件，由于誤差累計，初始功率參數(shù)I₀離滿足要求的功率參數(shù)I_t相差越大，需要的調(diào)整次數(shù)也就越多。因此初始功率參數(shù)I₀的選取非常重要。目前業(yè)內(nèi)大多采用固定的初始參數(shù)I₀，確定方法是手工小批量測試，然后使用出現(xiàn)頻率最高的值，或者平均值。這種現(xiàn)有技術(shù)的缺陷是顯而易見的：若手工測試的批量較小，則統(tǒng)計的結(jié)果與實際值偏差較大，若手工測試批量較大，則增加人工操作的繁瑣度，耗時長，也容易出錯；對于一個較大的生產(chǎn)訂單，通常會分多批批次進行加工生產(chǎn)，不同批次之間所用的元器件也可能略有差異，導致目標參數(shù)的范圍也會有所不同，例如：批次1的80％的DUT的目標參數(shù)在30～34，批次2的80％的DUT的目標參數(shù)在34～38，把第1批次手工測量的統(tǒng)計值用在第2批次顯然效果就不佳。因此，本例特別適合用于同一批次的多個待測設備之間的校準和測試。

本例只有在第一待測設備測試時，使用隨機產(chǎn)生的一個初始功率參數(shù)作為所述第一待測設備的初始功率參數(shù)；之后的每一個待測設備都根據(jù)前面所有待測設備的歷史功率參數(shù)統(tǒng)計值作為本次測試的初始功率參數(shù)來進行測試，這樣就無需人工小批量進行測試，只有第一待測設備的測試時間較長，后面的待測設備測試時由于采用了更為合理的初始功率參數(shù)，進而使得測試重試的次數(shù)大大減小，保證了合理的目標功率參數(shù)的同時，還能夠有效降低待測設備的校準時間，提高了待測設備的生產(chǎn)效率，降低了其生產(chǎn)成本。

本例與傳統(tǒng)方式分別對待測試設備進行校準測試的有明顯區(qū)別，效果也非常顯著，如下表所示，其中其中S(N)表示對第一待測設備至第N-1待測設備的目標功率參數(shù)進行統(tǒng)計所得到第N待測設備的歷史功率參數(shù)統(tǒng)計值。

本例還提供一種待測設備的快速測試系統(tǒng)，采用了如上所述的待測設備的快速測試方法。

以上內(nèi)容是結(jié)合具體的優(yōu)選實施方式對本發(fā)明所作的進一步詳細說明，不能認定本發(fā)明的具體實施只局限于這些說明。對于本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干簡單推演或替換，都應當視為屬于本發(fā)明的保護范圍。