1.一種降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法，其中，所述探測(cè)器包括一將X射線轉(zhuǎn)換成可見(jiàn)光的閃爍體層、一由可將可見(jiàn)光轉(zhuǎn)換成模擬電信號(hào)的多個(gè)光電二極管組成且按一定行數(shù)與列數(shù)以行列方式排列的光電二極管陣列、一將所述模擬電信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字圖像信號(hào)且具有一電荷積分運(yùn)算放大器的讀出電路、多條連接所述電荷積分運(yùn)算放大器且數(shù)量是對(duì)應(yīng)所述光電二極管陣列的列數(shù)的數(shù)據(jù)通道、一由分別連接各光電二極管與所在列的數(shù)據(jù)通道的多個(gè)薄膜晶體管組成且薄膜晶體管的數(shù)量是對(duì)應(yīng)所述光電二極管的數(shù)量的薄膜晶體管陣列、一控制所述薄膜晶體管陣列中的各薄膜晶體管的開(kāi)關(guān)狀態(tài)的TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路以及一分別控制所述TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路以及讀出電路的處理單元，而所述TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路具有多個(gè)分別控制各行薄膜晶體管的開(kāi)關(guān)狀態(tài)的門(mén)控制線，且門(mén)控制線的數(shù)量對(duì)應(yīng)所述薄膜晶體管陣列的行數(shù)，其特征在于，所述降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法包括：
1)當(dāng)透過(guò)所述處理單元響應(yīng)X射線的入射請(qǐng)求時(shí)，即產(chǎn)生一高電平的曝光使能信號(hào)，在高電平的曝光使能信號(hào)結(jié)束后，即觸發(fā)產(chǎn)生一高電平的圖像讀取信號(hào)，以啟動(dòng)讀出電路逐行進(jìn)行圖像信號(hào)的讀??；
其中，所述逐行進(jìn)行圖像信號(hào)的讀取步驟包括：
2-1)在產(chǎn)生所述高電平的圖像讀取信號(hào)的同時(shí)，即透過(guò)所述處理單元開(kāi)始第一行圖像信號(hào)的讀取，即發(fā)送一具有一特定時(shí)長(zhǎng)的高電平的復(fù)位信號(hào)給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器，其中，所述特定時(shí)長(zhǎng)是大于或等于一最小復(fù)位時(shí)間，所述最小復(fù)位時(shí)間是根據(jù)復(fù)位電荷的總量除以復(fù)位電流得到的；
2-2)透過(guò)所述處理單元在所述高電平的復(fù)位信號(hào)結(jié)束后，發(fā)送一高電平的積分信號(hào)給讀出電路，緊接著發(fā)送一高電平的門(mén)信號(hào)給TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路中處于第一行的門(mén)控制線，以接通處于第一行的各薄膜晶體管，而將處于第一行的各光電二極管與對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)通道連通，進(jìn)而連通讀出電路，以讀出第一行圖像信號(hào)；
2-3)透過(guò)所述處理單元在所述高電平的積分信號(hào)結(jié)束后，發(fā)送所述高電平的復(fù)位信號(hào)給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器；
2-4)透過(guò)所述處理單元在所述高電平的復(fù)位信號(hào)結(jié)束后，發(fā)送一高電平的積分信號(hào)給讀出電路，緊接著發(fā)送一高電平的門(mén)信號(hào)給TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路中處于下一行的門(mén)控制線，以接通處于所在行的各薄膜晶體管，而將處于所在行的各光電二極管與對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)通道連通，進(jìn)而連通讀出電路，以讀出所在行的圖像信號(hào)；以及
2-5)透過(guò)所述處理單元判斷是否所有行的圖像信號(hào)都讀出，若否，則返回步驟2-3)，若是，則結(jié)束本次圖像信號(hào)的讀取過(guò)程。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法，其特征在于：所述處理單元為現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列。
3.一種降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法，其中，所述探測(cè)器包括一將X射線轉(zhuǎn)換成可見(jiàn)光的閃爍體層、一由可將可見(jiàn)光轉(zhuǎn)換成模擬電信號(hào)的多個(gè)光電二極管組成且按行列方式排列的光電二極管陣列、一將所述模擬電信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字圖像信號(hào)且具有一電荷積分運(yùn)算放大器的讀出電路、多條連接所述電荷積分運(yùn)算放大器且數(shù)量是對(duì)應(yīng)所述光電二極管陣列的列數(shù)的數(shù)據(jù)通道、一由分別連接各光電二極管與所在列的數(shù)據(jù)通道的多個(gè)薄膜晶體管組成且薄膜晶體管的數(shù)量是對(duì)應(yīng)所述光電二極管的數(shù)量的薄膜晶體管陣列、一控制所述薄膜晶體管陣列中的各薄膜晶體管的開(kāi)關(guān)狀態(tài)的TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路以及一分別控制所述TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路以及讀出電路的處理單元，而所述TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路具有多個(gè)分別控制各行薄膜晶體管的開(kāi)關(guān)狀態(tài)的門(mén)控制線，且門(mén)控制線的數(shù)量對(duì)應(yīng)所述薄膜晶體管陣列的行數(shù)，其特征在于，所述降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法包括：
1)當(dāng)透過(guò)所述處理單元響應(yīng)X射線的入射請(qǐng)求時(shí)，即產(chǎn)生一高電平的曝光使能信號(hào)，在所述高電平的曝光使能信號(hào)結(jié)束后，即觸發(fā)產(chǎn)生一高電平的圖像讀取信號(hào)，以啟動(dòng)讀出電路逐行進(jìn)行圖像信號(hào)的讀??；
其中，所述逐行進(jìn)行圖像信號(hào)的讀取步驟包括：
2-1)在產(chǎn)生所述高電平的圖像讀取信號(hào)的同時(shí)，即透過(guò)所述處理單元開(kāi)始第一行圖像信號(hào)的讀取，即發(fā)送一具有一第一時(shí)長(zhǎng)的高電平的第一復(fù)位信號(hào)給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器，其中，所述第一時(shí)長(zhǎng)是大于或等于一最小復(fù)位時(shí)間，所述最小復(fù)位時(shí)間是根據(jù)復(fù)位電荷的總量除以復(fù)位電流得到的；
2-2)透過(guò)所述處理單元在所述高電平的第一復(fù)位信號(hào)結(jié)束后，間隔一第一時(shí)間之后，發(fā)送一具有一第二時(shí)長(zhǎng)的高電平的第二復(fù)位信號(hào)給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器，其中，所述第二時(shí)長(zhǎng)小于所述第一時(shí)長(zhǎng)；
2-3)透過(guò)所述處理單元在所述高電平的第二復(fù)位信號(hào)結(jié)束后，發(fā)送一高電平的積分信號(hào)給讀出電路，緊接著發(fā)送一高電平的門(mén)信號(hào)給TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路中處于第一行的門(mén)控制線，以接通處于第一行的各薄膜晶體管，而將處于第一行的各光電二極管與對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)通道連通，進(jìn)而連通讀出電路，以讀出第一行圖像信號(hào)；
2-4)透過(guò)所述處理單元在所述高電平的積分信號(hào)結(jié)束后，發(fā)送所述高電平的第二復(fù)位信號(hào)給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器；
2-5)透過(guò)所述處理單元在所述高電平的第二復(fù)位信號(hào)結(jié)束后，發(fā)送一高電平的積分信號(hào)給讀出電路，緊接著發(fā)送一高電平的門(mén)信號(hào)給TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路中處于下一行的門(mén)控制線，以接通處于所在行的各薄膜晶體管，而將處于所在行的各光電二極管與對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)通道連通，進(jìn)而連通讀出電路，以讀出所在行的圖像信號(hào)；以及
2-6)透過(guò)所述處理單元判斷是否所有行的圖像信號(hào)都讀出，若否，則返回步驟2-4)，若是，則結(jié)束本次圖像信號(hào)的讀取過(guò)程。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法，其特征在于：所述處理單元為現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列。
5.一種降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法，其中，所述探測(cè)器包括一將X射線轉(zhuǎn)換成可見(jiàn)光的閃爍體層、一由可將可見(jiàn)光轉(zhuǎn)換成模擬電信號(hào)的多個(gè)光電二極管組成且按行列方式排列的光電二極管陣列、一將所述模擬電信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字圖像信號(hào)且具有一電荷積分運(yùn)算放大器的讀出電路、多條連接所述電荷積分運(yùn)算放大器且數(shù)量是對(duì)應(yīng)所述光電二極管陣列的列數(shù)的數(shù)據(jù)通道、一由分別連接各光電二極管與所在列的數(shù)據(jù)通道的多個(gè)薄膜晶體管組成且薄膜晶體管的數(shù)量是對(duì)應(yīng)所述光電二極管的數(shù)量的薄膜晶體管陣列、一控制所述薄膜晶體管陣列中的各薄膜晶體管的開(kāi)關(guān)狀態(tài)的TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路以及一分別控制所述TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路以及讀出電路的處理單元，而所述TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路具有多個(gè)分別控制各行薄膜晶體管的開(kāi)關(guān)狀態(tài)的門(mén)控制線，且門(mén)控制線的數(shù)量對(duì)應(yīng)所述薄膜晶體管陣列的行數(shù)，其特征在于，所述降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法包括：
1)當(dāng)透過(guò)所述處理單元判斷尚未接收到X射線的入射請(qǐng)求期間，即發(fā)送一高電平的復(fù)位信號(hào)給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器；
2)透過(guò)所述處理單元從頭逐行給TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路的門(mén)控制線發(fā)送一高電平的門(mén)信號(hào)，以接通所在行的薄膜晶體管，而將所在行的各光電二極管與對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)通道連通，進(jìn)而連通讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器，以對(duì)所在行的各光電二極管的一暗電流進(jìn)行復(fù)位；
3)透過(guò)所述處理單元判斷是否有接收到X射線的入射請(qǐng)求，若否，則進(jìn)至步驟4)，若是，則進(jìn)至步驟6)；
4)透過(guò)所述處理單元給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器持續(xù)發(fā)送所述高電平的復(fù)位信號(hào)，并判斷是否完成對(duì)所有行的門(mén)控制線發(fā)送所述高電平的門(mén)信號(hào)的操作，若否，則進(jìn)至步驟5)，若是，則間隔一第二時(shí)間之后，返回步驟2)；
5)透過(guò)所述處理單元繼續(xù)逐行給剩余行的門(mén)控制線發(fā)送所述高電平的門(mén)信號(hào)，接著，返回步驟3)；以及
6)透過(guò)所述處理單元判斷是否完成對(duì)所有行的門(mén)控制線發(fā)送所述高電平的門(mén)信號(hào)的操作，若否，則給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器持續(xù)發(fā)送所述高電平的復(fù)位信號(hào)，直至完成對(duì)所有行的門(mén)控制線都發(fā)送所述高電平的門(mén)信號(hào)的操作后，終止所述高電平的復(fù)位信號(hào)，并響應(yīng)所述X射線的入射請(qǐng)求，若是，則終止所述高電平的復(fù)位信號(hào)，并響應(yīng)所述X射線的入射請(qǐng)求。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法，其特征在于：所述暗電流是在外界沒(méi)有X射線入射時(shí)，由于溫度原因?qū)е鹿怆姸O管一直存在熱生電荷，隨著時(shí)間的累積而形成的電流。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法，其特征在于：所述處理單元為現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列。
8.一種降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法，其中，所述探測(cè)器包括一將X射線轉(zhuǎn)換成可見(jiàn)光的閃爍體層、一由可將可見(jiàn)光轉(zhuǎn)換成模擬電信號(hào)的多個(gè)光電二極管組成且按行列方式排列的光電二極管陣列、一將所述模擬電信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字圖像信號(hào)且具有一電荷積分運(yùn)算放大器的讀出電路、多條連接所述電荷積分運(yùn)算放大器且數(shù)量是對(duì)應(yīng)所述光電二極管陣列的列數(shù)的數(shù)據(jù)通道、一由分別連接各光電二極管與所在列的數(shù)據(jù)通道的多個(gè)薄膜晶體管組成且薄膜晶體管的數(shù)量是對(duì)應(yīng)所述光電二極管的數(shù)量的薄膜晶體管陣列、一控制所述薄膜晶體管陣列中的各薄膜晶體管的開(kāi)關(guān)狀態(tài)的TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路以及一分別控制所述TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路以及讀出電路的處理單元，而所述TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路具有多個(gè)分別控制各行薄膜晶體管的開(kāi)關(guān)狀態(tài)的門(mén)控制線，且門(mén)控制線的數(shù)量對(duì)應(yīng)所述薄膜晶體管陣列的行數(shù)，其特征在于，所述降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法包括：
1)當(dāng)透過(guò)所述處理單元響應(yīng)X射線的入射請(qǐng)求時(shí)，即產(chǎn)生一高電平的曝光使能信號(hào)，同時(shí)，發(fā)送一具有一第三時(shí)長(zhǎng)的高電平的第三復(fù)位信號(hào)給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器，在所述高電平的第三復(fù)位信號(hào)結(jié)束的一第三時(shí)間間隔后，即觸發(fā)產(chǎn)生一高電平的圖像讀取信號(hào)，以啟動(dòng)讀出電路逐行進(jìn)行圖像信號(hào)的讀取，其中，定義所述高電平的曝光使能信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)為第四時(shí)長(zhǎng)，所述第三時(shí)長(zhǎng)是大于或等于一最小復(fù)位時(shí)間且大于或等于所述第四時(shí)長(zhǎng)，所述最小復(fù)位時(shí)間是根據(jù)復(fù)位電荷的總量除以復(fù)位電流得到的；
其中，所述逐行進(jìn)行圖像信號(hào)的讀取步驟包括：
2-1)在產(chǎn)生所述高電平的圖像讀取信號(hào)的同時(shí)，即透過(guò)所述處理單元開(kāi)始第一行圖像信號(hào)的讀取，發(fā)送一具有一第五時(shí)長(zhǎng)的高電平的第四復(fù)位信號(hào)給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器，其中，所述第五時(shí)長(zhǎng)小于所述第三時(shí)長(zhǎng)；
2-2)透過(guò)所述處理單元在所述高電平的第四復(fù)位信號(hào)結(jié)束后，發(fā)送一高電平的積分信號(hào)給讀出電路，緊接著發(fā)送一高電平的門(mén)信號(hào)給TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路中處于第一行的門(mén)控制線，以接通處于第一行的各薄膜晶體管，而將處于第一行的各光電二極管與對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)通道連通，進(jìn)而連通讀出電路，以讀出第一行圖像信號(hào)；
2-3)透過(guò)所述處理單元在所述高電平的積分信號(hào)結(jié)束后，發(fā)送所述高電平的第四復(fù)位信號(hào)給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器；
2-4)透過(guò)所述處理單元在所述高電平的第四復(fù)位信號(hào)結(jié)束后，發(fā)送一高電平的積分信號(hào)給讀出電路，緊接著發(fā)送一高電平的門(mén)信號(hào)給TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路中處于下一行的門(mén)控制線，以接通處于所在行的各薄膜晶體管，而將處于所在行的各光電二極管與對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)通道連通，進(jìn)而連通讀出電路，以讀出所在行的圖像信號(hào)；以及
2-5)透過(guò)所述處理單元判斷是否所有行的圖像信號(hào)都讀出，若否，則返回步驟2-3)，若是，則結(jié)束本次圖像信號(hào)的讀取過(guò)程。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法，其特征在于：所述處理單元為現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列。