本發(fā)明涉及一種輻射探測(cè)器技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法。

背景技術(shù)：

隨著醫(yī)療技術(shù)水平的發(fā)展，X射線平板探測(cè)器在臨床上的普及率得到大大的提高。臨床醫(yī)生對(duì)探測(cè)器系統(tǒng)得到的圖像的要求也越來(lái)越嚴(yán)苛。平板探測(cè)器替代以前的膠片暗盒和IP板成為主要放射檢查成像部件。

如圖1所示，平板探測(cè)器的原理主要是通過(guò)一閃爍體層1將入射的X射線轉(zhuǎn)換為可見(jiàn)光，然后，通過(guò)一光電二極管陣列將可見(jiàn)光轉(zhuǎn)換為模擬電信號(hào)，該光電二極管陣列是由多個(gè)光電二極管2組成且按一定行數(shù)與列數(shù)以行列方式排列，最后，通過(guò)一讀出電路3將該光電二極管陣列所轉(zhuǎn)換的模擬電信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字圖像信號(hào)并傳輸?shù)接?jì)算機(jī)進(jìn)行圖像顯示，而該讀出電路3具有一電荷積分運(yùn)算放大器31，其中，該讀出電路3與該光電二極管陣列中的各光電二極管2的連通與斷開(kāi)是通過(guò)一薄膜晶體管陣列進(jìn)行通斷的控制，更詳而言之，該讀出電路3與該薄膜晶體管陣列之間還連接有多個(gè)數(shù)據(jù)通道，各該數(shù)據(jù)通道的數(shù)量是等于該光電二極管陣列的列數(shù)，如圖所示，在本實(shí)施例中，各該數(shù)據(jù)通道按列排列分別記為51、52、53、54，且每個(gè)數(shù)據(jù)通道是連接該讀出電路3的電荷積分運(yùn)算放大器31的，而該薄膜晶體管陣列是由分別連接各光電二極管2與所在列的數(shù)據(jù)通道的多個(gè)薄膜晶體管4所組成的，該薄膜晶體管4的數(shù)量是等于該光電二極管陣列的光電二極管21的數(shù)量，且各該薄膜晶體管4也是按該光電二極管陣列的排列以相同的行數(shù)與列數(shù)進(jìn)行排列，此外，該薄膜晶體管陣列中的各薄膜晶體管4的開(kāi)關(guān)狀態(tài)是通過(guò)一TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路6來(lái)控制的，該TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路6具有多個(gè)分別控制各行薄膜晶體管4的開(kāi)關(guān)狀態(tài)的門控制線，且各該門控制線的數(shù)量是等于該薄膜晶體管陣列的行數(shù)，如圖1所示，在本實(shí)施例中，各該門控制線按行排列分別記為61、62、63、64，另外，該探測(cè)器還具有一用來(lái)分別控制該TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路6以及該讀出電路3的處理單元7，優(yōu)選地，該處理單元7可例如為現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(Field－Programmable Gate Array；FPGA)。

現(xiàn)有的探測(cè)器讀取每一行像素的工作時(shí)序如圖2所示，其中，XRAY為曝光使能信號(hào)，低電平表示不響應(yīng)X射線的入射請(qǐng)求，高電平表示響應(yīng)X射線的入射請(qǐng)求；IRST為讀出電路3中的電荷積分運(yùn)算放大器31的復(fù)位信號(hào)，低電平表示電荷積分運(yùn)算放大器31兩端的復(fù)位開(kāi)關(guān)打開(kāi)，高電平表示電荷積分運(yùn)算放大器31兩端的復(fù)位開(kāi)關(guān)關(guān)閉；TFT ON為控制處于同一行的各薄膜晶體管的通斷的門信號(hào)，低電平表示斷開(kāi)該行各薄膜晶體管，高電平表示接通該行各薄膜晶體管；INTG為讀出電路的積分信號(hào)，低電平表示讀出電路不積分，高電平表示讀出電路積分；Readout start signal為圖像讀取信號(hào)，低電平表示不啟動(dòng)圖像信號(hào)讀取操作，高電平表示啟動(dòng)圖像信號(hào)讀取操作。

如圖2所示，探測(cè)器在待機(jī)狀態(tài)(即沒(méi)有X射線入射的standby狀態(tài))下，XRAY信號(hào)為低電平，探測(cè)器不做任何動(dòng)作，TFT ON信號(hào)為低電平，薄膜晶體管處于斷開(kāi)狀態(tài)，IRST信號(hào)為低電平，讀出電路3的電荷積分運(yùn)算放大器31兩端的復(fù)位開(kāi)關(guān)處于打開(kāi)狀態(tài)，這時(shí)候讀出電路3的電荷積分運(yùn)算放大器31一直處于自動(dòng)積累電荷的過(guò)程。

當(dāng)探測(cè)器有X射線入射請(qǐng)求且響應(yīng)X射線的入射請(qǐng)求時(shí)，XRAY信號(hào)為高電平，探測(cè)器的光電二極管將由閃爍體層轉(zhuǎn)換過(guò)來(lái)的可見(jiàn)光子進(jìn)行光電子轉(zhuǎn)換，然后讀出電路3進(jìn)行逐行讀取光電二極管所轉(zhuǎn)換的模擬電信號(hào)，讀取各行圖像信號(hào)的時(shí)序如圖2所示，先是由該處理單元7發(fā)送一個(gè)快速的高電平的IRST信號(hào)，IRST信號(hào)為短的高電平脈沖，將電荷積分運(yùn)算放大器31的兩端的復(fù)位開(kāi)關(guān)關(guān)閉進(jìn)行復(fù)位，電荷積分運(yùn)算放大器31進(jìn)行放電，接著由該處理單元7發(fā)送一高電平的INTG信號(hào)給讀出電路3，控制讀出電路3進(jìn)行積分操作，緊接著，由該處理單元7發(fā)送一高電平的TFT ON信號(hào)給TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路中其中一行的門控制線，以接通對(duì)應(yīng)行的各薄膜晶體管4，這時(shí)處于該行的各光電二極管2的電荷通過(guò)對(duì)應(yīng)的薄膜晶體管4和數(shù)據(jù)通道流入讀出電路3的電荷積分運(yùn)算放大器31，通過(guò)讀出電路3的積分而讀出所在行的圖像信號(hào)。

由于數(shù)據(jù)通道是直接與電荷積分運(yùn)算放大器31的一端相連，當(dāng)電荷積分運(yùn)算放大器31在探測(cè)器待機(jī)過(guò)程中持續(xù)積累電荷而達(dá)到飽和時(shí)，則電荷也會(huì)部分殘留在數(shù)據(jù)通道上，而在曝光過(guò)程，每行讀取的過(guò)程中只有一次快速?gòu)?fù)位過(guò)程，會(huì)出現(xiàn)電荷積分運(yùn)算放大器和數(shù)據(jù)通道復(fù)位不干凈的問(wèn)題，如此，則會(huì)導(dǎo)致前一行的信號(hào)串?dāng)_到下一行的信號(hào)，而造成整幅圖像的信號(hào)噪聲增加；此外，在待機(jī)過(guò)程中，如果外界環(huán)境溫度較高，在光電二極管側(cè)會(huì)積蓄一定的暗電流，如果待機(jī)時(shí)間較長(zhǎng)則積蓄的暗電流越多，在下次曝光過(guò)程中，隨著薄膜晶體管4的接通，這時(shí)光電二極管2的暗電流則會(huì)通過(guò)薄膜晶體管4和數(shù)據(jù)通道流入讀出電路3的電荷積分運(yùn)算放大器31，進(jìn)而在將暗電流產(chǎn)生的電荷殘留在數(shù)據(jù)通道和電荷積分運(yùn)算放大器31上，即使曝光過(guò)程中，會(huì)有一次復(fù)位過(guò)程，但由于復(fù)位過(guò)程極短，也會(huì)出現(xiàn)電荷積分運(yùn)算放大器和數(shù)據(jù)通道復(fù)位不干凈的問(wèn)題，進(jìn)而造成數(shù)據(jù)通道上每個(gè)圖像像素的讀取都會(huì)受到殘留在電荷積分運(yùn)算放大器31和數(shù)據(jù)通道上的電荷的影響，這樣就會(huì)導(dǎo)致圖像串?dāng)_問(wèn)題；再者，在曝光過(guò)程中(即產(chǎn)生高電平的曝光使能信號(hào)階段)，探測(cè)器的光電二極管即將由閃爍體層轉(zhuǎn)換過(guò)來(lái)的可見(jiàn)光子進(jìn)行光電子轉(zhuǎn)換，此時(shí)，光電二極管處于積分狀態(tài)，如圖2所示，在曝光過(guò)程中，TFT ON信號(hào)為低電平，薄膜晶體管4是保持?jǐn)嚅_(kāi)的狀態(tài)，使得光電二極管和讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器處于斷開(kāi)連接的狀態(tài)，隨著光電二極管產(chǎn)生的光電子的增加，其電荷會(huì)漏到數(shù)據(jù)通道上，同時(shí)，數(shù)據(jù)通道上的電容與光電二極管的結(jié)電容會(huì)產(chǎn)生感應(yīng)電荷，而在曝光過(guò)程，每行圖像信號(hào)讀取的過(guò)程中只有一次快速?gòu)?fù)位過(guò)程，會(huì)出現(xiàn)數(shù)據(jù)通道復(fù)位不干凈的問(wèn)題，則這些殘留的感應(yīng)電荷會(huì)對(duì)信號(hào)產(chǎn)生串?dāng)_的影響。

因此，有必要提出一種克服現(xiàn)有技術(shù)種種缺失的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法，以切實(shí)有效地防止復(fù)位不到位殘余電荷清楚不干凈而導(dǎo)致圖像串?dāng)_的問(wèn)題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，本發(fā)明的目的在于提供一種降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法，以切實(shí)有效地防止復(fù)位不到位殘余電荷清楚不干凈而導(dǎo)致圖像串?dāng)_的問(wèn)題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的，本發(fā)明提供一種降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法，其中，所述探測(cè)器包括一將X射線轉(zhuǎn)換成可見(jiàn)光的閃爍體層、一由可將可見(jiàn)光轉(zhuǎn)換成模擬電信號(hào)的多個(gè)光電二極管組成且按一定行數(shù)與列數(shù)以行列方式排列的光電二極管陣列、一將所述模擬電信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字圖像信號(hào)且具有一電荷積分運(yùn)算放大器的讀出電路、多條連接所述電荷積分運(yùn)算放大器且數(shù)量是對(duì)應(yīng)所述光電二極管陣列的列數(shù)的數(shù)據(jù)通道、一由分別連接各光電二極管與所在列的數(shù)據(jù)通道的多個(gè)薄膜晶體管組成且薄膜晶體管的數(shù)量是對(duì)應(yīng)所述光電二極管的數(shù)量的薄膜晶體管陣列、一控制所述薄膜晶體管陣列中的各薄膜晶體管的開(kāi)關(guān)狀態(tài)的TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路以及一分別控制所述TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路以及讀出電路的處理單元，而所述TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路具有多個(gè)分別控制各行薄膜晶體管的開(kāi)關(guān)狀態(tài)的門控制線，且門控制線的數(shù)量對(duì)應(yīng)所述薄膜晶體管陣列的行數(shù)，其特征在于，所述降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法包括：1)當(dāng)透過(guò)所述處理單元響應(yīng)X射線的入射請(qǐng)求時(shí)，即產(chǎn)生一高電平的曝光使能信號(hào)，在高電平的曝光使能信號(hào)結(jié)束后，即觸發(fā)產(chǎn)生一高電平的圖像讀取信號(hào)，以啟動(dòng)讀出電路逐行進(jìn)行圖像信號(hào)的讀??；其中，所述逐行進(jìn)行圖像信號(hào)的讀取步驟包括：2-1)在產(chǎn)生所述高電平的圖像讀取信號(hào)的同時(shí)，即透過(guò)所述處理單元開(kāi)始第一行圖像信號(hào)的讀取，即發(fā)送一具有一特定時(shí)長(zhǎng)的高電平的復(fù)位信號(hào)給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器，其中，所述特定時(shí)長(zhǎng)是大于或等于一最小復(fù)位時(shí)間，所述最小復(fù)位時(shí)間是根據(jù)復(fù)位電荷的總量除以復(fù)位電流得到的；2-2)透過(guò)所述處理單元在所述高電平的復(fù)位信號(hào)結(jié)束后，發(fā)送一高電平的積分信號(hào)給讀出電路，緊接著發(fā)送一高電平的門信號(hào)給TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路中處于第一行的門控制線，以接通處于第一行的各薄膜晶體管，而將處于第一行的各光電二極管與對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)通道連通，進(jìn)而連通讀出電路，以讀出第一行圖像信號(hào)；2-3)透過(guò)所述處理單元在所述高電平的積分信號(hào)結(jié)束后，發(fā)送所述高電平的復(fù)位信號(hào)給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器；2-4)透過(guò)所述處理單元在所述高電平的復(fù)位信號(hào)結(jié)束后，發(fā)送一高電平的積分信號(hào)給讀出電路，緊接著發(fā)送一高電平的門信號(hào)給TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路中處于下一行的門控制線，以接通處于所在行的各薄膜晶體管，而將處于所在行的各光電二極管與對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)通道連通，進(jìn)而連通讀出電路，以讀出所在行的圖像信號(hào)；以及2-5)透過(guò)所述處理單元判斷是否所有行的圖像信號(hào)都讀出，若否，則返回步驟2-3)，若是，則結(jié)束本次圖像信號(hào)的讀取過(guò)程。

此外，本發(fā)明還提供一種降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法，其中，所述探測(cè)器包括一將X射線轉(zhuǎn)換成可見(jiàn)光的閃爍體層、一由可將可見(jiàn)光轉(zhuǎn)換成模擬電信號(hào)的多個(gè)光電二極管組成且按行列方式排列的光電二極管陣列、一將所述模擬電信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字圖像信號(hào)且具有一電荷積分運(yùn)算放大器的讀出電路、多條連接所述電荷積分運(yùn)算放大器且數(shù)量是對(duì)應(yīng)所述光電二極管陣列的列數(shù)的數(shù)據(jù)通道、一由分別連接各光電二極管與所在列的數(shù)據(jù)通道的多個(gè)薄膜晶體管組成且薄膜晶體管的數(shù)量是對(duì)應(yīng)所述光電二極管的數(shù)量的薄膜晶體管陣列、一控制所述薄膜晶體管陣列中的各薄膜晶體管的開(kāi)關(guān)狀態(tài)的TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路以及一分別控制所述TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路以及讀出電路的處理單元，而所述TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路具有多個(gè)分別控制各行薄膜晶體管的開(kāi)關(guān)狀態(tài)的門控制線，且門控制線的數(shù)量對(duì)應(yīng)所述薄膜晶體管陣列的行數(shù)，其特征在于，所述降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法包括：1)當(dāng)透過(guò)所述處理單元響應(yīng)X射線的入射請(qǐng)求時(shí)，即產(chǎn)生一高電平的曝光使能信號(hào)，在所述高電平的曝光使能信號(hào)結(jié)束后，即觸發(fā)產(chǎn)生一高電平的圖像讀取信號(hào)，以啟動(dòng)讀出電路逐行進(jìn)行圖像信號(hào)的讀??；其中，所述逐行進(jìn)行圖像信號(hào)的讀取步驟包括：2-1)在產(chǎn)生所述高電平的圖像讀取信號(hào)的同時(shí)，即透過(guò)所述處理單元開(kāi)始第一行圖像信號(hào)的讀取，即發(fā)送一具有一第一時(shí)長(zhǎng)的高電平的第一復(fù)位信號(hào)給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器，其中，所述第一時(shí)長(zhǎng)是大于或等于一最小復(fù)位時(shí)間，所述最小復(fù)位時(shí)間是根據(jù)復(fù)位電荷的總量除以復(fù)位電流得到的；2-2)透過(guò)所述處理單元在所述高電平的第一復(fù)位信號(hào)結(jié)束后，間隔一第一時(shí)間之后，發(fā)送一具有一第二時(shí)長(zhǎng)的高電平的第二復(fù)位信號(hào)給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器，其中，所述第二時(shí)長(zhǎng)小于所述第一時(shí)長(zhǎng)；2-3)透過(guò)所述處理單元在所述高電平的第二復(fù)位信號(hào)結(jié)束后，發(fā)送一高電平的積分信號(hào)給讀出電路，緊接著發(fā)送一高電平的門信號(hào)給TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路中處于第一行的門控制線，以接通處于第一行的各薄膜晶體管，而將處于第一行的各光電二極管與對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)通道連通，進(jìn)而連通讀出電路，以讀出第一行圖像信號(hào)；2-4)透過(guò)所述處理單元在所述高電平的積分信號(hào)結(jié)束后，發(fā)送所述高電平的第二復(fù)位信號(hào)給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器；2-5)透過(guò)所述處理單元在所述高電平的第二復(fù)位信號(hào)結(jié)束后，發(fā)送一高電平的積分信號(hào)給讀出電路，緊接著發(fā)送一高電平的門信號(hào)給TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路中處于下一行的門控制線，以接通處于所在行的各薄膜晶體管，而將處于所在行的各光電二極管與對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)通道連通，進(jìn)而連通讀出電路，以讀出所在行的圖像信號(hào)；以及2-6)透過(guò)所述處理單元判斷是否所有行的圖像信號(hào)都讀出，若否，則返回步驟2-4)，若是，則結(jié)束本次圖像信號(hào)的讀取過(guò)程。

而且，本發(fā)明還提供一種降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法，其中，所述探測(cè)器包括一將X射線轉(zhuǎn)換成可見(jiàn)光的閃爍體層、一由可將可見(jiàn)光轉(zhuǎn)換成模擬電信號(hào)的多個(gè)光電二極管組成且按行列方式排列的光電二極管陣列、一將所述模擬電信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字圖像信號(hào)且具有一電荷積分運(yùn)算放大器的讀出電路、多條連接所述電荷積分運(yùn)算放大器且數(shù)量是對(duì)應(yīng)所述光電二極管陣列的列數(shù)的數(shù)據(jù)通道、一由分別連接各光電二極管與所在列的數(shù)據(jù)通道的多個(gè)薄膜晶體管組成且薄膜晶體管的數(shù)量是對(duì)應(yīng)所述光電二極管的數(shù)量的薄膜晶體管陣列、一控制所述薄膜晶體管陣列中的各薄膜晶體管的開(kāi)關(guān)狀態(tài)的TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路以及一分別控制所述TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路以及讀出電路的處理單元，而所述TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路具有多個(gè)分別控制各行薄膜晶體管的開(kāi)關(guān)狀態(tài)的門控制線，且門控制線的數(shù)量對(duì)應(yīng)所述薄膜晶體管陣列的行數(shù)，其特征在于，所述降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法包括：1)當(dāng)透過(guò)所述處理單元判斷尚未接收到X射線的入射請(qǐng)求期間，即發(fā)送一高電平的復(fù)位信號(hào)給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器；2)透過(guò)所述處理單元從頭逐行給TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路的門控制線發(fā)送一高電平的門信號(hào)，以接通所在行的薄膜晶體管，而將所在行的各光電二極管與對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)通道連通，進(jìn)而連通讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器，以對(duì)所在行的各光電二極管的一暗電流進(jìn)行復(fù)位；3)透過(guò)所述處理單元判斷是否有接收到X射線的入射請(qǐng)求，若否，則進(jìn)至步驟4)，若是，則進(jìn)至步驟6)；4)透過(guò)所述處理單元給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器持續(xù)發(fā)送所述高電平的復(fù)位信號(hào)，并判斷是否完成對(duì)所有行的門控制線發(fā)送所述高電平的門信號(hào)的操作，若否，則進(jìn)至步驟5)，若是，則間隔一第二時(shí)間之后，返回步驟2)；5)透過(guò)所述處理單元繼續(xù)逐行給剩余行的門控制線發(fā)送所述高電平的門信號(hào)，接著，返回步驟3)；以及6)透過(guò)所述處理單元判斷是否完成對(duì)所有行的門控制線發(fā)送所述高電平的門信號(hào)的操作，若否，則給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器持續(xù)發(fā)送所述高電平的復(fù)位信號(hào)，直至完成對(duì)所有行的門控制線都發(fā)送所述高電平的門信號(hào)的操作后，終止所述高電平的復(fù)位信號(hào)，并響應(yīng)所述X射線的入射請(qǐng)求，若是，則終止所述高電平的復(fù)位信號(hào)，并響應(yīng)所述X射線的入射請(qǐng)求。

此處需予以說(shuō)明的是，前述暗電流是由于外界環(huán)境溫度較高而在光電二極管側(cè)積蓄而成的電荷所形成的電流。

再者，本發(fā)明還提供一種降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法，其中，所述探測(cè)器包括一將X射線轉(zhuǎn)換成可見(jiàn)光的閃爍體層、一由可將可見(jiàn)光轉(zhuǎn)換成模擬電信號(hào)的多個(gè)光電二極管組成且按行列方式排列的光電二極管陣列、一將所述模擬電信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字圖像信號(hào)且具有一電荷積分運(yùn)算放大器的讀出電路、多條連接所述電荷積分運(yùn)算放大器且數(shù)量是對(duì)應(yīng)所述光電二極管陣列的列數(shù)的數(shù)據(jù)通道、一由分別連接各光電二極管與所在列的數(shù)據(jù)通道的多個(gè)薄膜晶體管組成且薄膜晶體管的數(shù)量是對(duì)應(yīng)所述光電二極管的數(shù)量的薄膜晶體管陣列、一控制所述薄膜晶體管陣列中的各薄膜晶體管的開(kāi)關(guān)狀態(tài)的TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路以及一分別控制所述TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路以及讀出電路的處理單元，而所述TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路具有多個(gè)分別控制各行薄膜晶體管的開(kāi)關(guān)狀態(tài)的門控制線，且門控制線的數(shù)量對(duì)應(yīng)所述薄膜晶體管陣列的行數(shù)，其特征在于，所述降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法包括：1)當(dāng)透過(guò)所述處理單元響應(yīng)X射線的入射請(qǐng)求時(shí)，即產(chǎn)生一高電平的曝光使能信號(hào)，同時(shí)，發(fā)送一具有一第三時(shí)長(zhǎng)的高電平的第三復(fù)位信號(hào)給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器，在所述高電平的第三復(fù)位信號(hào)結(jié)束的一第三時(shí)間間隔后，即觸發(fā)產(chǎn)生一高電平的圖像讀取信號(hào)，以啟動(dòng)讀出電路逐行進(jìn)行圖像信號(hào)的讀取，其中，定義所述高電平的曝光使能信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)為第四時(shí)長(zhǎng)，所述第三時(shí)長(zhǎng)是大于或等于一最小復(fù)位時(shí)間且大于或等于所述第四時(shí)長(zhǎng)，所述最小復(fù)位時(shí)間是根據(jù)復(fù)位電荷的總量除以復(fù)位電流得到的；其中，所述逐行進(jìn)行圖像信號(hào)的讀取步驟包括：2-1)在產(chǎn)生所述高電平的圖像讀取信號(hào)的同時(shí)，即透過(guò)所述處理單元開(kāi)始第一行圖像信號(hào)的讀取，發(fā)送一具有一第五時(shí)長(zhǎng)的高電平的第四復(fù)位信號(hào)給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器，其中，所述第五時(shí)長(zhǎng)小于所述第三時(shí)長(zhǎng)；2-2)透過(guò)所述處理單元在所述高電平的第四復(fù)位信號(hào)結(jié)束后，發(fā)送一高電平的積分信號(hào)給讀出電路，緊接著發(fā)送一高電平的門信號(hào)給TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路中處于第一行的門控制線，以接通處于第一行的各薄膜晶體管，而將處于第一行的各光電二極管與對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)通道連通，進(jìn)而連通讀出電路，以讀出第一行圖像信號(hào)；2-3)透過(guò)所述處理單元在所述高電平的積分信號(hào)結(jié)束后，發(fā)送所述高電平的第四復(fù)位信號(hào)給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器；2-4)透過(guò)所述處理單元在所述高電平的第四復(fù)位信號(hào)結(jié)束后，發(fā)送一高電平的積分信號(hào)給讀出電路，緊接著發(fā)送一高電平的門信號(hào)給TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路中處于下一行的門控制線，以接通處于所在行的各薄膜晶體管，而將處于所在行的各光電二極管與對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)通道連通，進(jìn)而連通讀出電路，以讀出所在行的圖像信號(hào)；以及2-5)透過(guò)所述處理單元判斷是否所有行的圖像信號(hào)都讀出，若否，則返回步驟2-3)，若是，則結(jié)束本次圖像信號(hào)的讀取過(guò)程。

優(yōu)選地，前述處理單元可例如為現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列。

如上所述，本發(fā)明提出一種降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法，針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)所存在的缺陷分別從不同時(shí)機(jī)點(diǎn)予以解決，例如：

方法一：在產(chǎn)生的高電平的曝光使能信號(hào)結(jié)束之后且在讀取每一行圖像信號(hào)之前，針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)對(duì)發(fā)送給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器的復(fù)位信號(hào)進(jìn)行改進(jìn)，適當(dāng)延長(zhǎng)了每次讀取一行圖像信號(hào)之前的復(fù)位信號(hào)的復(fù)位時(shí)間，至少延長(zhǎng)至最小復(fù)位時(shí)間，如此即可避免電荷積分運(yùn)算放大器和數(shù)據(jù)通道上殘余電荷對(duì)有用信號(hào)帶來(lái)的串?dāng)_問(wèn)題；

方法二：在產(chǎn)生的高電平的曝光使能信號(hào)結(jié)束之后且在讀取每一行圖像信號(hào)之前，針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)對(duì)發(fā)送給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器的復(fù)位信號(hào)進(jìn)行改進(jìn)，適當(dāng)延長(zhǎng)了在讀取第一行圖像信號(hào)之前的復(fù)位信號(hào)的復(fù)位時(shí)間，至少延長(zhǎng)至最小復(fù)位時(shí)間，而且還間隔一第一時(shí)間之后，提供一短的復(fù)位信號(hào)，以增強(qiáng)對(duì)電荷積分運(yùn)算放大器和數(shù)據(jù)通道上殘余電荷的清除，并且在剩下的每行圖像信號(hào)的讀取之前都有一次短的復(fù)位信號(hào)，以加強(qiáng)對(duì)電荷積分運(yùn)算放大器和數(shù)據(jù)通道上殘余電荷的清除；

方法三：針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的待機(jī)狀態(tài)進(jìn)行改進(jìn)，在待機(jī)狀態(tài)持續(xù)提供高電平的復(fù)位信號(hào)給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器，同時(shí)每間隔一定時(shí)間逐行接通各行的薄膜晶體管，從而復(fù)位各行光電二極管中的暗電流，防止因暗電流在光電二極管中的存在而致使在下次曝光過(guò)程中將暗電流產(chǎn)生的電荷殘留在數(shù)據(jù)通道和電荷積分運(yùn)算放大器上，即使曝光過(guò)程中，會(huì)有一次復(fù)位過(guò)程，但由于復(fù)位過(guò)程極短，也會(huì)出現(xiàn)電荷積分運(yùn)算放大器和數(shù)據(jù)通道復(fù)位不干凈，導(dǎo)致圖像串?dāng)_的問(wèn)題；

方法四：針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)對(duì)發(fā)送給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器的復(fù)位信號(hào)進(jìn)行改進(jìn)，在開(kāi)始產(chǎn)生的高電平的曝光使能信號(hào)的同時(shí)，即提供一次長(zhǎng)的復(fù)位信號(hào)，并間隔一第三時(shí)間之后，發(fā)送一短的復(fù)位信號(hào)給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器，而對(duì)剩下的各行圖像信號(hào)的讀取只提供一次短的復(fù)位信號(hào)，如此，即可在曝光過(guò)程中同時(shí)保持讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器一直處于復(fù)位狀態(tài)，電荷積分運(yùn)算放大器得以開(kāi)始放電，直到電荷積分運(yùn)算放大器兩端的電壓變?yōu)樽x出電路的參考電壓為止，使得與該電荷積分運(yùn)算放大器相連的數(shù)據(jù)通道的電壓也一直處于一個(gè)固定的參考電壓，這樣在曝光期間，既不會(huì)出現(xiàn)如現(xiàn)有技術(shù)所述的在曝光過(guò)程中在數(shù)據(jù)通道上產(chǎn)生感應(yīng)電荷的問(wèn)題，進(jìn)而避免后續(xù)對(duì)圖像信號(hào)產(chǎn)生串?dāng)_的困擾。

附圖說(shuō)明

圖1顯示為一探測(cè)器的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2顯示為現(xiàn)有探測(cè)器讀取各行圖像信號(hào)的工作時(shí)序示意圖。

圖3A顯示為本發(fā)明的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法的第一實(shí)施例的操作流程示意圖。

圖3B顯示為應(yīng)用本發(fā)明的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法的第一實(shí)施例進(jìn)行讀取各行圖像信號(hào)的工作時(shí)序示意圖。

圖4A顯示為本發(fā)明的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法的第二實(shí)施例的操作流程示意圖。

圖4B顯示為應(yīng)用本發(fā)明的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法的第二實(shí)施例進(jìn)行讀取各行圖像信號(hào)的工作時(shí)序示意圖。

圖5A顯示為本發(fā)明的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法的第三實(shí)施例的操作流程示意圖。

圖5B顯示為應(yīng)用本發(fā)明的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法的第三實(shí)施例在待機(jī)狀態(tài)的工作時(shí)序示意圖。

圖6A顯示為本發(fā)明的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法的第四實(shí)施例的操作流程示意圖。

圖6B顯示為應(yīng)用本發(fā)明的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法的第四實(shí)施例進(jìn)行讀取各行圖像信號(hào)的工作時(shí)序示意圖。

元件標(biāo)號(hào)說(shuō)明

1 閃爍體層

2 光電二極管

3 讀出電路

31 電荷積分運(yùn)算放大器

4 薄膜晶體管

51、52、53、54 數(shù)據(jù)通道

6 TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路

61、62、63、64 門控制線

7 處理單元

R1 具有第一時(shí)長(zhǎng)的第一復(fù)位信號(hào)

R2 具有第二時(shí)長(zhǎng)的第二復(fù)位信號(hào)

R3 具有第三時(shí)長(zhǎng)的第三復(fù)位信號(hào)

R4 具有第五時(shí)長(zhǎng)的第四復(fù)位信號(hào)

S100～S150 步驟

S100’～S160’ 步驟

S200～S262 步驟

S100”～S150” 步驟

具體實(shí)施方式

以下通過(guò)特定的具體實(shí)例說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施方式，本領(lǐng)域技術(shù)人員可由本說(shuō)明書(shū)所揭露的內(nèi)容輕易地了解本發(fā)明的其他優(yōu)點(diǎn)與功效。本發(fā)明還可以通過(guò)另外不同的具體實(shí)施方式加以實(shí)施或應(yīng)用，本說(shuō)明書(shū)中的各項(xiàng)細(xì)節(jié)也可以基于不同觀點(diǎn)與應(yīng)用，在沒(méi)有背離本發(fā)明的精神下進(jìn)行各種修飾或改變。需說(shuō)明的是，在不沖突的情況下，以下實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。

需要說(shuō)明的是，以下實(shí)施例中所提供的圖示僅以示意方式說(shuō)明本發(fā)明的基本構(gòu)想，遂圖式中僅顯示與本發(fā)明中有關(guān)的組件而非按照實(shí)際實(shí)施時(shí)的組件數(shù)目、形狀及尺寸繪制，其實(shí)際實(shí)施時(shí)各組件的型態(tài)、數(shù)量及比例可為一種隨意的改變，且其組件布局型態(tài)也可能更為復(fù)雜。此外，為讓說(shuō)明書(shū)附圖更加明了易懂，以下各實(shí)施例的時(shí)序圖(圖3B、圖4B、圖5B、以及圖6B)中的各信號(hào)在圖中是以英文字母描述的，如XRAY、IRST、TFT ON、INTG以及Readout start signal，其中，XRAY為曝光使能信號(hào)，低電平表示不響應(yīng)X射線的入射請(qǐng)求，高電平表示響應(yīng)X射線的入射請(qǐng)求；IRST為讀出電路中的電荷積分運(yùn)算放大器的復(fù)位信號(hào)，低電平表示電荷積分運(yùn)算放大器兩端的復(fù)位開(kāi)關(guān)打開(kāi)，高電平表示電荷積分運(yùn)算放大器兩端的復(fù)位開(kāi)關(guān)關(guān)閉；TFT ON為控制處于同一行的各薄膜晶體管的通斷的門信號(hào)，低電平表示斷開(kāi)該行各薄膜晶體管，高電平表示接通該行各薄膜晶體管；INTG為讀出電路的積分信號(hào)，低電平表示讀出電路不積分，高電平表示讀出電路積分；Readout start signal為圖像讀取信號(hào)，低電平表示不啟動(dòng)圖像信號(hào)讀取操作，高電平表示啟動(dòng)圖像信號(hào)讀取操作。而且，以下各實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法是應(yīng)用于如圖1所示的探測(cè)器中，該探測(cè)器由閃爍體層1、由多個(gè)光電二極管2按一定行數(shù)與列數(shù)以行列方式排列組成的光電二極管陣列、具有一電荷積分運(yùn)算放大器31的讀出電路3、由多個(gè)分別連接各光電二極管2的薄膜晶體管4組成的薄膜晶體管陣列、具有對(duì)應(yīng)該光電二極管陣列的列數(shù)個(gè)數(shù)量的數(shù)據(jù)通道(在本實(shí)施例中，按列排列分別記為51、52、53、54)、由具有對(duì)應(yīng)該薄膜晶體管陣列的行數(shù)個(gè)數(shù)量的門控制線(在本實(shí)施例中，按行排列分別記為61、62、63、64)組成的TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路6以及用來(lái)分別控制該TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路6以及該讀出電路3的處理單元7，優(yōu)選地，該處理單元7可例如為現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列。

第一實(shí)施例

請(qǐng)參閱圖3A，是顯示本發(fā)明所提供一種降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法的第一實(shí)施例的操作流程圖，以下即配合圖3B所示的時(shí)序圖對(duì)本實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法的操作步驟進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。

如圖3A所示，首先，執(zhí)行步驟S100，當(dāng)透過(guò)該處理單元7響應(yīng)X射線的入射請(qǐng)求時(shí)，即產(chǎn)生一高電平的曝光使能信號(hào)(XRAY)，在高電平的曝光使能信號(hào)結(jié)束后，即觸發(fā)產(chǎn)生一高電平的圖像讀取信號(hào)(Readout start signal)，以啟動(dòng)讀出電路3逐行進(jìn)行圖像信號(hào)的讀取。接著，進(jìn)行步驟S110。

在步驟S110中，在產(chǎn)生該高電平的圖像讀取信號(hào)的同時(shí)，即透過(guò)該處理單元7開(kāi)始第一行圖像信號(hào)的讀取，即發(fā)送一具有一特定時(shí)長(zhǎng)的高電平的復(fù)位信號(hào)(IRST)給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器，其中，該特定時(shí)長(zhǎng)是大于或等于一最小復(fù)位時(shí)間，該最小復(fù)位時(shí)間是根據(jù)復(fù)位電荷的總量除以復(fù)位電流得到的。更詳而言之，當(dāng)該讀出電路3接收到該高電平的復(fù)位信號(hào)時(shí)，電荷積分運(yùn)算放大器31即開(kāi)始放電，直到電荷積分運(yùn)算放大器31兩端的電壓變?yōu)樽x出電路3的參考電壓為止。更詳而言之，由于現(xiàn)有技術(shù)中每一行圖像信號(hào)讀取之前給出的復(fù)位信號(hào)極短，短到小于該最小復(fù)位時(shí)間，則會(huì)導(dǎo)致殘余電荷復(fù)位不干凈，從而造成前一行的信號(hào)串?dāng)_到下一行的信號(hào)，導(dǎo)致整幅圖像的信號(hào)噪聲增加，引發(fā)圖像串?dāng)_的現(xiàn)象，而本實(shí)施例在現(xiàn)有技術(shù)的基礎(chǔ)上延長(zhǎng)了復(fù)位信號(hào)的復(fù)位時(shí)間，至少延長(zhǎng)至最小復(fù)位時(shí)間，如此即可避免電荷積分運(yùn)算放大器和數(shù)據(jù)通道上殘余電荷對(duì)有用信號(hào)帶來(lái)的串?dāng)_問(wèn)題。接著，進(jìn)行步驟S120。

在步驟S120中，透過(guò)該處理單元7在該高電平的復(fù)位信號(hào)結(jié)束后，發(fā)送一高電平的積分信號(hào)(INTG)給讀出電路3，緊接著發(fā)送一高電平的門信號(hào)(TFT ON)給TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路6中處于第一行的門控制線61，以接通處于第一行的各薄膜晶體管，而將處于第一行的各光電二極管與對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)通道連通，進(jìn)而連通讀出電路3，以讀出第一行圖像信號(hào)。接著，進(jìn)行步驟S130。

在步驟S130中，透過(guò)該處理單元7在該高電平的積分信號(hào)結(jié)束后，發(fā)送前述高電平的復(fù)位信號(hào)給讀出電路3的電荷積分運(yùn)算放大器31。接著，進(jìn)行步驟S140。

在步驟S140中，透過(guò)該處理單元7在所述高電平的復(fù)位信號(hào)結(jié)束后，發(fā)送一高電平的積分信號(hào)給讀出電路3，緊接著發(fā)送一高電平的門信號(hào)給TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路中處于下一行的門控制線，以接通處于所在行的各薄膜晶體管，而將處于所在行的各光電二極管與對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)通道連通，進(jìn)而連通讀出電路3，以讀出所在行的圖像信號(hào)。接著，進(jìn)行步驟S150。

在步驟S150中，透過(guò)該處理單元7判斷是否所有行的圖像信號(hào)都讀出，若否，則返回步驟S130，若是，則結(jié)束本次圖像信號(hào)的讀取過(guò)程。

因此，本實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法主要是在現(xiàn)有技術(shù)的基礎(chǔ)上延長(zhǎng)了復(fù)位信號(hào)的復(fù)位時(shí)間，至少延長(zhǎng)至最小復(fù)位時(shí)間，如此即可避免電荷積分運(yùn)算放大器和數(shù)據(jù)通道上殘余電荷對(duì)有用信號(hào)帶來(lái)的串?dāng)_問(wèn)題。

第二實(shí)施例

請(qǐng)參閱第4A圖，是用以顯示本發(fā)明的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法的第二實(shí)施例的操作流程示意圖，其中，與前述實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法(如圖3A所示)相同或近似的元件是以相同或近似的元件符號(hào)表示，并省略詳細(xì)的敘述，以使本案的說(shuō)明更清楚易懂。

第二實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法與第一實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法最大不同之處在于，第一實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法是在產(chǎn)生的高電平的曝光使能信號(hào)結(jié)束之后且在讀取每一行圖像信號(hào)之前都有提供一次長(zhǎng)的復(fù)位信號(hào)(即具有特定時(shí)長(zhǎng)的復(fù)位信號(hào))給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器(如圖3B所示的時(shí)序圖)；而第二實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法(如圖4A并配合圖4B所示)則只是在產(chǎn)生的高電平的曝光使能信號(hào)結(jié)束之后且準(zhǔn)備讀取第一行圖像信號(hào)之前有一次長(zhǎng)的復(fù)位信號(hào)(即如圖4B所示的具有第一時(shí)長(zhǎng)的第一復(fù)位信號(hào)R1)，并間隔一第一時(shí)間之后，發(fā)送一短的復(fù)位信號(hào)(即如圖4B所示的具有一第二時(shí)長(zhǎng)的高電平的第二復(fù)位信號(hào)R2)給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器，其中，該第二時(shí)長(zhǎng)小于該第一時(shí)長(zhǎng)，而對(duì)剩下的各行圖像信號(hào)的讀取只提供一次短的復(fù)位信號(hào)(即具有第二時(shí)長(zhǎng)的第二復(fù)位信號(hào)R2)。換而言之，假設(shè)如圖1所示，圖像信號(hào)有4行，則應(yīng)用第一實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法讀取一幀圖像信號(hào)會(huì)提供4次長(zhǎng)的復(fù)位信號(hào)(即具有特定時(shí)長(zhǎng)的復(fù)位信號(hào))，而應(yīng)用第二實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法讀取一幀圖像信號(hào)則是提供1次長(zhǎng)的復(fù)位信號(hào)(即具有第一時(shí)長(zhǎng)的第一復(fù)位信號(hào)R1)和4次短的復(fù)位信號(hào)(即具有第二時(shí)長(zhǎng)的第二復(fù)位信號(hào)R2)。

因此，本實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法主要是在現(xiàn)有技術(shù)的基礎(chǔ)上延長(zhǎng)了在讀取第一行圖像信號(hào)之前的復(fù)位信號(hào)的復(fù)位時(shí)間，至少延長(zhǎng)至最小復(fù)位時(shí)間，而且還間隔一第一時(shí)間之后，提供一短的復(fù)位信號(hào)，以增強(qiáng)對(duì)電荷積分運(yùn)算放大器和數(shù)據(jù)通道上殘余電荷的清除，并且在剩下的每行圖像信號(hào)的讀取之前都有一次短的復(fù)位信號(hào)，以加強(qiáng)對(duì)電荷積分運(yùn)算放大器和數(shù)據(jù)通道上殘余電荷的清除，如此即可避免電荷積分運(yùn)算放大器和數(shù)據(jù)通道上殘余電荷對(duì)有用信號(hào)帶來(lái)的串?dāng)_問(wèn)題。

第三實(shí)施例

請(qǐng)參閱第5A圖，是用以顯示本發(fā)明的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法的第三實(shí)施例的操作流程示意圖，其中，與前述第一實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法(如圖3A所示)以及第二實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法(如圖4A所示)相同或近似的元件是以相同或近似的元件符號(hào)表示，并省略詳細(xì)的敘述，以使本案的說(shuō)明更清楚易懂。

第三實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法與第一實(shí)施例以及第二實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法最大不同之處在于，第一實(shí)施例以及第二實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法都是在產(chǎn)生的高電平的曝光使能信號(hào)結(jié)束之后且在讀取每一行圖像信號(hào)之前，針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)對(duì)發(fā)送給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器的復(fù)位信號(hào)進(jìn)行改進(jìn)；而第三實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法(如圖5A并配合圖5B所示)則是針對(duì)待機(jī)狀態(tài)進(jìn)行改進(jìn)，在待機(jī)狀態(tài)下，改變現(xiàn)有技術(shù)中，始終提供一低電平的復(fù)位信號(hào)給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器，而是持續(xù)提供一高電平的復(fù)位信號(hào)給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器，直至該處理單元響應(yīng)了X射線的入射請(qǐng)求才終止，并且在持續(xù)提供高電平的復(fù)位信號(hào)的過(guò)程中，透過(guò)該處理單元逐行給TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路的門控制線(為使本案的附圖說(shuō)明更清楚易懂，如圖5B所示，L1表示提供給第一行門控制線的門信號(hào)、L2表示提供給第二行門控制線的門信號(hào)、L3表示提供給第三行門控制線的門信號(hào)、Ln表示提供給最后一行門控制線的門信號(hào))發(fā)送所述高電平的門信號(hào)，以接通其所在行的各薄膜晶體管，而將其所在行的各光電二極管與對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)通道連通，進(jìn)而連通讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器，此時(shí)，因電荷積分運(yùn)算放大器得到高電平的復(fù)位信號(hào)，電荷積分運(yùn)算放大器在此階段一直處于放電狀態(tài)，如此，即可將與電荷積分運(yùn)算放大器相連的光電二極管中殘留的暗電流通過(guò)放電方式予以清除。

此外，當(dāng)遍歷所有行的門控制線都得到過(guò)一次高電平的門信號(hào)之后，此時(shí)該處理單元還未接收到X射線的入射請(qǐng)求，則間隔一第二時(shí)間之后，仍持續(xù)給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器發(fā)送所述高電平的復(fù)位信號(hào)，并透過(guò)所述處理單元從頭逐行給TFT行掃描驅(qū)動(dòng)電路的門控制線發(fā)送一高電平的門信號(hào)。而倘若，在遍歷給所有行的門控制線逐行發(fā)送高電平的門信號(hào)過(guò)程中，即在此次遍歷過(guò)程中還剩余部分行的門控制線沒(méi)有得到高電平的門信號(hào)時(shí)，而該處理單元恰好接收到X射線的入射請(qǐng)求，此時(shí)，則仍需給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器持續(xù)發(fā)送所述高電平的復(fù)位信號(hào)，直至完成對(duì)剩余行的門控制線都發(fā)送所述高電平的門信號(hào)的操作后，才終止所述高電平的復(fù)位信號(hào)，并響應(yīng)所述X射線的入射請(qǐng)求，換而言之，當(dāng)在透過(guò)所述處理單元判斷尚未接收到X射線的入射請(qǐng)求期間，處理單元已經(jīng)完成3次遍歷給所有行的門控制線逐行發(fā)送高電平的門信號(hào)的過(guò)程，而且正在執(zhí)行第4次遍歷給所有行的門控制線逐行發(fā)送高電平的門信號(hào)的過(guò)程中，即在該第4次遍歷過(guò)程中還剩余部分行的門控制線沒(méi)有得到高電平的門信號(hào)時(shí)，而該處理單元恰好接收到X射線的入射請(qǐng)求，此時(shí)，則仍需給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器持續(xù)發(fā)送所述高電平的復(fù)位信號(hào)，直至完成對(duì)該第4次遍歷過(guò)程中的剩余行的門控制線都發(fā)送所述高電平的門信號(hào)的操作后，才終止所述高電平的復(fù)位信號(hào)，并響應(yīng)所述X射線的入射請(qǐng)求，如5B圖所示的第n次遍歷各行門控制線中的n是表示處理單元接收到X射線的入射請(qǐng)求后正在遍歷的次數(shù)。

因此，應(yīng)用本實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法即可以從根源上清除暗電流在下次曝光過(guò)程中對(duì)數(shù)據(jù)通道和電荷積分運(yùn)算放大器的影響，防止因暗電流在光電二極管中的存在而致使在下次曝光過(guò)程中將暗電流產(chǎn)生的電荷殘留在數(shù)據(jù)通道和電荷積分運(yùn)算放大器上，即使曝光過(guò)程中，會(huì)有一次復(fù)位過(guò)程，但由于復(fù)位過(guò)程極短，也會(huì)出現(xiàn)電荷積分運(yùn)算放大器和數(shù)據(jù)通道復(fù)位不干凈的問(wèn)題，導(dǎo)致圖像串?dāng)_的問(wèn)題。

第四實(shí)施例

請(qǐng)參閱第6A圖，是用以顯示本發(fā)明的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法的第四實(shí)施例的操作流程示意圖，其中，與前述第一實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法(如圖3A所示)、第二實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法(如圖4A所示)以及第三實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法(如圖5A所示)相同或近似的元件是以相同或近似的元件符號(hào)表示，并省略詳細(xì)的敘述，以使本案的說(shuō)明更清楚易懂。

第四實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法與第一實(shí)施例、第二實(shí)施例以及第三實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法最大不同之處在于，第三實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法(如圖5A并配合圖5B所示)是針對(duì)待機(jī)狀態(tài)進(jìn)行改進(jìn)；第一實(shí)施例以及第二實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法都是在產(chǎn)生的高電平的曝光使能信號(hào)結(jié)束之后且在讀取每一行圖像信號(hào)之前，針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)對(duì)發(fā)送給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器的復(fù)位信號(hào)進(jìn)行改進(jìn)；而第四實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法則是在開(kāi)始產(chǎn)生的高電平的曝光使能信號(hào)的同時(shí)，即提供一次長(zhǎng)的復(fù)位信號(hào)(即具有第三時(shí)長(zhǎng)的高電平的第三復(fù)位信號(hào)R3)，并間隔一第三時(shí)間之后，發(fā)送一短的復(fù)位信號(hào)(即具有一第五時(shí)長(zhǎng)的高電平的第四復(fù)位信號(hào)R4)給讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器，其中，該第五時(shí)長(zhǎng)小于該第三時(shí)長(zhǎng)，而對(duì)剩下的各行圖像信號(hào)的讀取只提供一次短的復(fù)位信號(hào)(即具有一第五時(shí)長(zhǎng)的高電平的第四復(fù)位信號(hào)R4)。換而言之，假設(shè)如圖1所示，一幀圖像信號(hào)有4行，應(yīng)用第一實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法讀取一幀圖像信號(hào)會(huì)提供4次長(zhǎng)的復(fù)位信號(hào)，而應(yīng)用第四實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法與第二實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法一樣在讀取一幀圖像信號(hào)時(shí)都會(huì)提供1次長(zhǎng)的復(fù)位信號(hào)和4次短的復(fù)位信號(hào)，但是，第四實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法與第二實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法在提供1次長(zhǎng)的復(fù)位信號(hào)的時(shí)間點(diǎn)上不同，第二實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法是在產(chǎn)生的高電平的曝光使能信號(hào)結(jié)束之后且準(zhǔn)備讀取第一行圖像信號(hào)之前有一次長(zhǎng)的復(fù)位信號(hào)(即如圖4B所示的具有第一時(shí)長(zhǎng)的第一復(fù)位信號(hào)R1)，而第四實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法則是在開(kāi)始產(chǎn)生的高電平的曝光使能信號(hào)的同時(shí)，即提供一次長(zhǎng)的復(fù)位信號(hào)(即如圖6B所示的具有第三時(shí)長(zhǎng)的高電平的第三復(fù)位信號(hào)R3)。

如此，應(yīng)用本實(shí)施例的降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法即可在曝光過(guò)程中同時(shí)保持讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器一直處于復(fù)位狀態(tài)(通過(guò)發(fā)送高電平的復(fù)位信號(hào)給電荷積分運(yùn)算放大器，使電荷積分運(yùn)算放大器開(kāi)始放電，直到電荷積分運(yùn)算放大器兩端的電壓變?yōu)樽x出電路的參考電壓為止)，使得與該電荷積分運(yùn)算放大器相連的數(shù)據(jù)通道的電壓也一直處于一個(gè)固定的參考電壓，這樣在曝光期間，既不會(huì)出現(xiàn)如現(xiàn)有技術(shù)所述的在曝光過(guò)程中在數(shù)據(jù)通道上產(chǎn)生感應(yīng)電荷的問(wèn)題，進(jìn)而避免后續(xù)對(duì)圖像信號(hào)產(chǎn)生串?dāng)_的影響。

此處需予以說(shuō)明的是，前述第二實(shí)施例、第三實(shí)施例以及第四實(shí)施例中依次出現(xiàn)的第一時(shí)間、第二時(shí)間與第三時(shí)間，這三個(gè)時(shí)間的時(shí)長(zhǎng)的設(shè)定是不限定的，只要第二實(shí)施例中的第一時(shí)間的時(shí)長(zhǎng)能保證第一復(fù)位信號(hào)與第二復(fù)位信號(hào)之間有一定的時(shí)間間隔即可，第三實(shí)施例中的第二時(shí)間的時(shí)長(zhǎng)能保證前一次遍歷給所有行的門控制線逐行發(fā)送高電平的門信號(hào)的過(guò)程與后一次遍歷給所有行的門控制線逐行發(fā)送高電平的門信號(hào)的過(guò)程之間有一定的時(shí)間間隔即可，第四實(shí)施例中的第三時(shí)間的時(shí)長(zhǎng)能保證第三復(fù)位信號(hào)與第四復(fù)位信號(hào)之間有一定的時(shí)間間隔即可。

綜上所述，本發(fā)明提供一種降低探測(cè)器圖像串?dāng)_的方法，主要是從多個(gè)途徑抑制圖像串?dāng)_的現(xiàn)象，途徑一是在現(xiàn)有技術(shù)的基礎(chǔ)上延長(zhǎng)了復(fù)位信號(hào)的復(fù)位時(shí)間，至少延長(zhǎng)至最小復(fù)位時(shí)間，以保證對(duì)數(shù)據(jù)通道和電荷積分運(yùn)算放大器上的殘余電荷的徹底清除；途徑二是在產(chǎn)生的高電平的曝光使能信號(hào)結(jié)束之后且在每讀取一幀圖像信號(hào)的第一行圖像信號(hào)之前，除了提供一次長(zhǎng)的復(fù)位信號(hào)，間隔一第一時(shí)間后，還提供一短的復(fù)位信號(hào)，并且在剩下的每行圖像信號(hào)的讀取之前都有一次短的復(fù)位信號(hào)，以加強(qiáng)對(duì)電荷積分運(yùn)算放大器和數(shù)據(jù)通道上殘余電荷的清除；途徑三是在待機(jī)狀態(tài)持續(xù)提供高電平的復(fù)位信號(hào)，同時(shí)每間隔一定時(shí)間逐行接通各行的薄膜晶體管，從而復(fù)位各行光電二極管中的暗電流；途徑四則是在曝光過(guò)程中同時(shí)保持讀出電路的電荷積分運(yùn)算放大器處于復(fù)位狀態(tài)，使得與該電荷積分運(yùn)算放大器相連的數(shù)據(jù)通道的電壓也一直處于一個(gè)固定的參考電壓，這樣在曝光期間，既不會(huì)在數(shù)據(jù)通道上產(chǎn)生感應(yīng)電荷，總之，通過(guò)上述不同的途徑將電荷積分運(yùn)算放大器或者數(shù)據(jù)通道上可能殘留的電荷清除干凈，以防止后續(xù)對(duì)有用信號(hào)的串?dāng)_。所以，本發(fā)明有效克服了現(xiàn)有技術(shù)中的種種缺點(diǎn)而具高度產(chǎn)業(yè)利用價(jià)值。

上述實(shí)施例僅例示性說(shuō)明本發(fā)明的原理及其功效，而非用于限制本發(fā)明。任何熟悉此技術(shù)的人士皆可在不違背本發(fā)明的精神及范疇下，對(duì)上述實(shí)施例進(jìn)行修飾或改變。因此，舉凡所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識(shí)者在未脫離本發(fā)明所揭示的精神與技術(shù)思想下所完成的一切等效修飾或改變，仍應(yīng)由本發(fā)明的權(quán)利要求所涵蓋。