技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明揭露一種取樣相位差的補(bǔ)償裝置，包含一信號產(chǎn)生器、一信號分析器以及一補(bǔ)償器。所述信號產(chǎn)生器用來于一第一時間區(qū)間內(nèi)輸出一第一信號至一第一路徑，以及用來于一第二時間區(qū)間內(nèi)輸出一第二信號至一第二路徑，其中該第一與第二時間區(qū)間不同，且該第一與第二路徑不同。所述信號分析器用來接收來自該第一路徑的一傳送后第一信號以及來自該第二路徑的一傳送后第二信號，并對該傳送后第一與第二信號施以一預(yù)定運(yùn)算，藉此測定該傳送后第一與第二信號之間的相位差關(guān)系，其中該相位差關(guān)系關(guān)聯(lián)一頻率相依相位差與一取樣相位差，該傳送后第一信號相關(guān)于該第一信號，以及該傳送后第二信號相關(guān)于該第二信號。所述補(bǔ)償器用來依據(jù)該相位差關(guān)系執(zhí)行相位差補(bǔ)償。

技術(shù)研發(fā)人員：劉柏宏;楊子頤;蔡騰漢;童泰來
受保護(hù)的技術(shù)使用者：晨星半導(dǎo)體股份有限公司
文檔號碼：201510361886
技術(shù)研發(fā)日：2015.06.26
技術(shù)公布日：2017.01.04