專利名稱：光通信用消光比測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及數(shù)字模塊測(cè)試領(lǐng)域，尤其是涉及一種光通信用消光比測(cè)試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
隨著光纖通信網(wǎng)絡(luò)傳輸技術(shù)的提高，光纖傳輸設(shè)備的批量應(yīng)用，光纖傳輸設(shè)備的核心器件一光模塊的參數(shù)測(cè)試成為了一個(gè)的重要問題，為了解決這個(gè)問題，人們開發(fā)出了高速示波器，它采用高速的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)將輸入的信號(hào)進(jìn)行采樣，得到輸入信號(hào)為“O”時(shí)的平均光功率Ptl及輸入信號(hào)為“I”時(shí)的平均光功率P1，進(jìn)而根據(jù)消光比公式得到模塊的消光比IOlg (P1/ P0)o例如安捷倫的86100C示波器，它不僅可以測(cè)試光模塊的輸出光功率和消光比，還可以測(cè)試光模塊的各種其他參數(shù)?，F(xiàn)在市場(chǎng)上測(cè)試光模塊參數(shù)的儀器價(jià)格都比較昂貴，且功能繁多，在光模塊大批 量生產(chǎn)時(shí)并不需進(jìn)行測(cè)試，而且現(xiàn)有的測(cè)試光模塊系統(tǒng)過(guò)于繁雜，使得生產(chǎn)、測(cè)試和開發(fā)成本相對(duì)較高，因此需要一種專門應(yīng)用于生產(chǎn)的測(cè)試系統(tǒng)?，F(xiàn)有的光通信用數(shù)字模塊測(cè)試系統(tǒng)，在進(jìn)行光模塊的性能測(cè)試時(shí)，需要多種其他設(shè)備進(jìn)行輔助測(cè)試，因此各種測(cè)試設(shè)備電性連接也比較復(fù)雜，校準(zhǔn)、維護(hù)比較困難，且容易出錯(cuò)。這樣給我們生產(chǎn)測(cè)試帶來(lái)了很大的不便，使測(cè)試變得繁瑣和耗時(shí)，消耗了大量的人力物力，而且不利于生產(chǎn)效率的提高。
發(fā)明內(nèi)容基于此，有必要針對(duì)上述背景技術(shù)存在的問題，提供一種電連接簡(jiǎn)單，制造成本低廉，測(cè)試更方便更快捷的光通信用消光比測(cè)試系統(tǒng)。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型公開了一種光通信用消光比測(cè)試系統(tǒng)，其包括被測(cè)光模塊、光分路器、光功率測(cè)試單元、消光比測(cè)試單元及MCU單元，所述被測(cè)光模塊與光分路器光連接，所述光分路器輸出端分別與光功率測(cè)試單元及消光比測(cè)試單元光連接，所述光功率測(cè)試單元及消光比測(cè)試單元輸出端分別與所述MCU單元連接，所述光分路器將被測(cè)光模塊的輸出光進(jìn)行比例分配。在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述光功率測(cè)試單元包括光電轉(zhuǎn)換器，所述光電轉(zhuǎn)換器一端與所述光分路器光連接，所述光電轉(zhuǎn)換器另一端與所述MCU單元電連接，所述光電轉(zhuǎn)換器檢測(cè)到所述光分路器的輸出光信號(hào)并將光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，所述MCU單元接收到所述光電轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換的電信號(hào)。在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述消光比測(cè)試單元包括PIN型光電二極管、跨阻放大器及信號(hào)檢測(cè)器，所述PIN型光電二極管一端與所述光分路器光連接，所述PIN型光電二極管另一端與所述跨阻放大器電連接，所述跨阻放大器另一端與所述信號(hào)檢測(cè)器電連接，所述信號(hào)檢測(cè)器另一端與所述MCU單元電連接，所述PIN型光電二極管檢測(cè)到所述光分路器分配的一定比例的輸出光信號(hào)，并將光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，所述跨阻放大器將電信號(hào)轉(zhuǎn)換成電壓差分信號(hào)，差分信號(hào)經(jīng)過(guò)所述信號(hào)檢測(cè)器后轉(zhuǎn)換成所述MCU單元可接收的信號(hào)。綜上所述，本實(shí)用新型光通信用消光比測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)將光分路器與被測(cè)光模塊光連接，并將被測(cè)光模塊的輸出光進(jìn)行比例分配給光功率測(cè)試單元及消光比測(cè)試單元，同時(shí)利用光電轉(zhuǎn)換器及信號(hào)檢測(cè)器將信號(hào)傳給MCU單元并計(jì)算得到被測(cè)光模塊的光功率及消光比，大大減少了光功率及消光比測(cè)試的外部設(shè)備，簡(jiǎn)化了測(cè)試程序，加快了測(cè)試速度，同時(shí)也大大降低了被測(cè)光模塊測(cè)試成本。

圖I為本實(shí)用新型一種實(shí)施例的電路原理圖。
具體實(shí)施方式
如圖I所示，本實(shí)用新型光通信用消光比測(cè)試系統(tǒng)包括被測(cè)光模塊10、光分路器20、光功率測(cè)試單元30、消光比測(cè)試單元40及MCU單元50，所述被測(cè)光模塊10與光分路器20光連接，所述光分路器20將被測(cè)光模塊10的輸出光進(jìn)行了一定比例的分配，分光比為N，所述光分路器20輸出端分別與光功率測(cè)試單元30及消光比測(cè)試單元40光連接，所述光功率測(cè)試單元30及消光比測(cè)試單元40輸出端分別與所述MCU單元50連接。 所述光功率測(cè)試單元30包括光電轉(zhuǎn)換器31，所述光電轉(zhuǎn)換器31 —端與所述光分路器20光連接，所述光電轉(zhuǎn)換器31另一端與所述MCU單元50電連接，所述光電轉(zhuǎn)換器31檢測(cè)到所述光分路器20分配的一定比例輸出光信號(hào)，并將光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，此時(shí)光電轉(zhuǎn)換器31內(nèi)的電信號(hào)電流值為IPD，所述MCU單元50接收到所述光電轉(zhuǎn)換器31轉(zhuǎn)換的電信號(hào)，配合所述光電轉(zhuǎn)換器31的響應(yīng)度數(shù)值，計(jì)算可以得到被測(cè)光模塊10的平均光功率 Pavc= ( 1 + 1/N ) *IPD/ R響應(yīng)度。所述消光比測(cè)試單元40包括PIN型光電二極管41、跨阻放大器42及信號(hào)檢測(cè)器43，所述PIN型光電二極管41 一端與所述光分路器20光連接，所述PIN型光電二極管41另一端與所述跨阻放大器42電連接，所述跨阻放大器42另一端與所述信號(hào)檢測(cè)器43電連接，所述信號(hào)檢測(cè)器43另一端與所述MCU單元50電連接，所述PIN型光電二極管41檢測(cè)到所述光分路器20分配的一定比例的輸出光信號(hào)，并將光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，并通過(guò)跨阻放大器42將電信號(hào)轉(zhuǎn)換成電壓差分信號(hào)VP_P，所述跨阻放大器42的跨導(dǎo)值為Rgtil,差分信號(hào)Vp-p經(jīng)過(guò)所述信號(hào)檢測(cè)器43后轉(zhuǎn)換成所述MCU單元50可接收的信號(hào)，此時(shí)，所述MCU單元50識(shí)別到經(jīng)轉(zhuǎn)換后的差分信號(hào)值。所述MCU單元50通過(guò)平均光功率計(jì)算公式P=Ipd/ Rntes、電壓計(jì)算公式V=Rgfil*Ipd/ 、及電壓差分信號(hào)Vpp=V1-Vci，其中V1為被測(cè)光模塊10輸入信號(hào)為“I”時(shí)的平均電壓值，VO為被測(cè)光模塊10輸入信號(hào)為“O”時(shí)的平均電壓值，得到P=V/ Rgtil,進(jìn)而光功率差分信號(hào) Pf-P=P1-Po= V1/
R跨導(dǎo)-V。/ R跨導(dǎo) ;配合公式Patc= (P^P0) /2就算得到P1及Ptl值，其中Ptl輸入信號(hào)為“O”時(shí)的平均光功率，P1為輸入信號(hào)為“I”時(shí)的平均光功率；進(jìn)而根據(jù)消光比公式得到被測(cè)光模塊10的消光比IOlg (P1/ Po)。綜上所述，本實(shí)用新型光通信用消光比測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)將光分路器20與被測(cè)光模塊10光連接，并將被測(cè)光模塊10的輸出光進(jìn)行比例分配給光功率測(cè)試單元30及消光比測(cè)試單元40，同時(shí)利用光電轉(zhuǎn)換器31及信號(hào)檢測(cè)器43將信號(hào)傳給MCU單元50并計(jì)算得到被測(cè)光模塊10的光功率及消光比，大大減少了光功率及消光比測(cè)試的外部設(shè)備，簡(jiǎn)化了測(cè)試程序,加快了測(cè)試速度，同時(shí)也大大降低了被測(cè)光模塊10測(cè)試成本。[0015]以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本實(shí)用新型的幾種實(shí)施方式，其描述較為具體和詳細(xì)，但并不能因此而理解為對(duì)本實(shí)用新型專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本實(shí)用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。因此，本實(shí)用新型專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)?！?br> 權(quán)利要求1.一種光通信用消光比測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于包括被測(cè)光模塊、光分路器、光功率測(cè)試單元、消光比測(cè)試單元及MCU單元，所述被測(cè)光模塊與光分路器光連接，所述光分路器輸出端分別與光功率測(cè)試單元及消光比測(cè)試單元光連接，所述光功率測(cè)試單元及消光比測(cè)試單元輸出端分別與所述MCU單元連接，所述光分路器將被測(cè)光模塊的輸出光進(jìn)行比例分配。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的光通信用消光比測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述光功率測(cè)試單元包括光電轉(zhuǎn)換器，所述光電轉(zhuǎn)換器一端與所述光分路器光連接，所述光電轉(zhuǎn)換器另一端與所述MCU單元電連接，所述光電轉(zhuǎn)換器檢測(cè)到所述光分路器的輸出光信號(hào)并將光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，所述MCU單元接收到所述光電轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換的電信號(hào)。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的光通信用消光比測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述消光比測(cè)試單元包括PIN型光電二極管、跨阻放大器及信號(hào)檢測(cè)器，所述PIN型光電二極管一端與所述光分路器光連接，所述PIN型光電二極管另一端與所述跨阻放大器電連接，所述跨阻放大器另一端與所述信號(hào)檢測(cè)器電連接，所述信號(hào)檢測(cè)器另一端與所述MCU單元電連接，所述PIN型光電二極管檢測(cè)到所述光分路器分配的一定比例的輸出光信號(hào)，并將光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，所述跨阻放大器將電信號(hào)轉(zhuǎn)換成電壓差分信號(hào)，差分信號(hào)經(jīng)過(guò)所述信號(hào)檢測(cè)器后轉(zhuǎn)換成所述MCU單元可接收的信號(hào)。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種光通信用消光比測(cè)試系統(tǒng)，其包括被測(cè)光模塊、光分路器、光功率測(cè)試單元、消光比測(cè)試單元及MCU單元，所述被測(cè)光模塊與光分路器光連接，所述光分路器輸出端分別與光功率測(cè)試單元及消光比測(cè)試單元光連接，所述光功率測(cè)試單元及消光比測(cè)試單元輸出端分別與所述MCU單元連接，所述光分路器將被測(cè)光模塊的輸出光進(jìn)行比例分配。本實(shí)用新型通過(guò)將光分路器與被測(cè)光模塊光連接，并將被測(cè)光模塊的輸出光進(jìn)行比例分配給光功率測(cè)試單元及消光比測(cè)試單元，同時(shí)利用光電轉(zhuǎn)換器及信號(hào)檢測(cè)器將信號(hào)傳給MCU單元并計(jì)算得到被測(cè)光模塊的光功率及消光比，大大減少了光功率及消光比測(cè)試的外部設(shè)備，測(cè)試更方便更快捷，也降低了測(cè)試成本。
文檔編號(hào)H04B10/07GK202713307SQ20122032556
公開日2013年1月30日 申請(qǐng)日期2012年7月6日 優(yōu)先權(quán)日2012年7月6日
發(fā)明者劉昭, 夏哲, 葉裕強(qiáng) 申請(qǐng)人:東莞銘普光磁股份有限公司