專(zhuān)利名稱(chēng)：數(shù)據(jù)處理裝置的校準(zhǔn)裝置與方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明有關(guān)于校準(zhǔn)目標(biāo)集成電路的輸出信號(hào)電平，特別指一種可以應(yīng)用
于數(shù)據(jù)處理裝置(例如MPEG芯片)來(lái)確定設(shè)定于數(shù)據(jù)處理裝置的目標(biāo)固件 調(diào)整值的校準(zhǔn)機(jī)制。
背景技術(shù)：
集成電路在半導(dǎo)體襯底(例如硅晶片)上的制造過(guò)程非常復(fù)雜且包含許多 步驟，每個(gè)步驟都牽涉到很多過(guò)程參數(shù)，而這些參數(shù)必須嚴(yán)格控制以得到一 致而精確的結(jié)果。然而，還是有些物理因素可能會(huì)使得制造過(guò)程中的某個(gè)步 驟產(chǎn)生非預(yù)期的誤差。
這些制造過(guò)程中的誤差可能是時(shí)間的函數(shù)，而這個(gè)時(shí)間可能是連續(xù)晶片 之間的時(shí)間，或是同一晶片上不同部分之間的時(shí)間，又或者兩者都有。當(dāng)這 些制造過(guò)程誤差變得很大時(shí)，不管這些誤差是單獨(dú)發(fā)生還是一起發(fā)生，都會(huì) 使得制造出的集成電路的實(shí)際特性偏離其理想特性。
舉例來(lái)說(shuō)，多々某體錄放裝置內(nèi)的MPEG(Motion Picture Experts Group)芯 片通常是由一些集成半導(dǎo)體元件所組成。但正如熟悉相關(guān)技術(shù)者所了解的， 由于制造過(guò)程特性的難以控制以及難以維持穩(wěn)定，因此即使在同一個(gè)制造過(guò) 程中所制造出的元件也會(huì)呈現(xiàn)不同的電氣特性，導(dǎo)致這些元件的特性與原來(lái) 的設(shè)計(jì)要求大相徑庭。假定MPEG芯片是設(shè)計(jì)用來(lái)輸出符合電視規(guī)格的信號(hào)， 例如合成視頻信號(hào)(composite video signal),或者又稱(chēng)為CVBS(Composite Video Broadcast Signal)信號(hào)，以驅(qū)動(dòng)電視才幾顯示所需的圖^象。因此，MPEG 芯片就必須包括視頻數(shù)模轉(zhuǎn)換器(video DAC )來(lái)將解碼后或處理過(guò)的數(shù)字視 頻信號(hào)轉(zhuǎn)換成合成視頻信號(hào)。此外，具有預(yù)設(shè)驅(qū)動(dòng)能力的外部視頻緩沖器 (video buffer)耦接于MPEG芯片以寄存由視頻數(shù)模轉(zhuǎn)換器輸出至終端電視機(jī) 的合成視頻信號(hào)。然而制造過(guò)程的差異(process variation),電路元件的精確度 以及制造誤差(manufacture variation),都會(huì)使視頻輸出電平產(chǎn)生誤差。以熟知 的全國(guó)電^L系統(tǒng)委員會(huì)(National Television System Committee)所制定的NTSC合成視頻信號(hào)為例，白色電平(white level)信號(hào)被定義為等于100 IRE 單位(如1伏特)，而同步尖端電平(synctiplevd)信號(hào)被定義為等于-40 IRE 單位(如0伏特)。IRE單位是用來(lái)表示信號(hào)強(qiáng)度的度量單位，其中140 IRE 代表1伏特的峰對(duì)峰(peak-to-peak)電壓值。若是輸出的信號(hào)強(qiáng)度偏離所需 的電平，那么顯示在電視機(jī)上的圖像質(zhì)量便會(huì)大幅下降，因此急需一種針對(duì) MPEG芯片，尤其是針對(duì)其內(nèi)部的視頻數(shù)模轉(zhuǎn)換器的校準(zhǔn)機(jī)制，以補(bǔ)償輸出 信號(hào)強(qiáng)度的偏差。

發(fā)明內(nèi)容
為解決上述技術(shù)問(wèn)題，特提出以下技術(shù)方案
一種能夠通過(guò)調(diào)節(jié)固件調(diào)整值來(lái)對(duì)數(shù)據(jù)處理裝置進(jìn)行校準(zhǔn)的校準(zhǔn)系統(tǒng)， 包括數(shù)據(jù)處理裝置，用來(lái)在校準(zhǔn)模式下根據(jù)接收到的測(cè)試固件調(diào)整值(test firmware trim value )將測(cè)試式樣(test pattern )轉(zhuǎn)換成測(cè)試車(chē)命出，而在正常才莫 式下則根據(jù)所存儲(chǔ)的目標(biāo)固件調(diào)整值(target firmware trim value )將非測(cè)試式 樣(non-test pattern )轉(zhuǎn)換成非測(cè)試輸出；以及校準(zhǔn)裝置，耦接于數(shù)據(jù)處理裝 置，用來(lái)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)處理裝置，該校準(zhǔn)裝置能夠分析測(cè)試輸出以調(diào)節(jié)輸出至數(shù) 據(jù)處理裝置的測(cè)試固件調(diào)整值，且當(dāng)參考特定測(cè)試固件調(diào)整值所產(chǎn)生的測(cè)試 輸出的分析結(jié)果滿(mǎn)足預(yù)定條件時(shí)，控制數(shù)據(jù)處理裝置以將特定測(cè)試固件調(diào)整 值存儲(chǔ)為目標(biāo)固件調(diào)整值。
一種能夠利用固件調(diào)整值進(jìn)行補(bǔ)償?shù)臄?shù)據(jù)處理裝置，包括存儲(chǔ)裝置， 用來(lái)存儲(chǔ)目標(biāo)固件調(diào)整值；以及數(shù)據(jù)處理電路，耦接于存儲(chǔ)裝置，用來(lái)在校 準(zhǔn)模式下根據(jù)測(cè)試固件調(diào)整值將測(cè)試式樣轉(zhuǎn)換成測(cè)試輸出，而在正常模式下 則根據(jù)目標(biāo)固件調(diào)整值將非測(cè)試式樣轉(zhuǎn)換成非測(cè)試輸出，其特征在于數(shù)據(jù) 處理電路在校準(zhǔn)模式下可將特定測(cè)試固件調(diào)整值作為目標(biāo)固件調(diào)整值存儲(chǔ)于 存儲(chǔ)裝置中。
一種設(shè)定目標(biāo)固件調(diào)整值的方法，通過(guò)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)處理裝置來(lái)設(shè)定目標(biāo)固 件調(diào)整值。數(shù)據(jù)處理裝置在正常模式下根據(jù)目標(biāo)固件調(diào)整值將非測(cè)試式樣轉(zhuǎn) 換成非測(cè)試輸出，上述方法包括驅(qū)動(dòng)數(shù)據(jù)處理裝置以根據(jù)校準(zhǔn)模式下所接 收到的測(cè)試固件調(diào)整值將測(cè)試式樣轉(zhuǎn)換成測(cè)試輸出；以及分析測(cè)試輸出以調(diào) 節(jié)輸出至數(shù)據(jù)處理裝置的測(cè)試固件調(diào)整值，且當(dāng)參考特定測(cè)試固件調(diào)整值所 產(chǎn)生的測(cè)試輸出的分析結(jié)果滿(mǎn)足預(yù)定條件時(shí)，控制數(shù)據(jù)處理裝置以將特定測(cè)試固件調(diào)整值存儲(chǔ)為目標(biāo)固件調(diào)整值。
運(yùn)用上述的系統(tǒng)、裝置與方法，可通過(guò)固件調(diào)整值的校準(zhǔn)，確保輸出信 號(hào)電平符合所需條件，有效提高輸出信號(hào)的質(zhì)量，使得電視等電子裝置即使 在制造過(guò)程的差異，或制造誤差等造成非理想信號(hào)輸出的原因存在時(shí)，仍然 能夠提高校準(zhǔn)效率而大幅提高相關(guān)產(chǎn)品制造的良率。


圖1是依據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的校準(zhǔn)系統(tǒng)的功能方塊圖。 圖2是數(shù)模轉(zhuǎn)換器所產(chǎn)生的測(cè)試輸出的波形圖。 圖3是依據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的數(shù)模轉(zhuǎn)換器的電路圖。 圖4是依據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的校準(zhǔn)方法的流程圖。
具體實(shí)施例方式
在說(shuō)明書(shū)及后續(xù)的權(quán)利要求當(dāng)中使用了某些詞匯來(lái)指稱(chēng)特定的元件。所 屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)可理解，硬件制造商可能會(huì)用不同的名詞來(lái)稱(chēng)呼同 一個(gè)元件。本說(shuō)明書(shū)及后續(xù)的權(quán)利要求并不以名稱(chēng)的差異作為區(qū)分元件的方 式，而是以元件在功能上的差異作為區(qū)分的準(zhǔn)則。在通篇說(shuō)明書(shū)及后續(xù)的權(quán) 利要求項(xiàng)當(dāng)中所提及的「包括」為一開(kāi)放式的用語(yǔ)，故應(yīng)解釋成「包括但不 限定于」。此外，「耦接」 一詞在此包含任何直接及間接的電氣連接手段。因 此，若文中描述第一裝置耦接于第二裝置，則代表第一裝置可直接電氣連接 于第二裝置，或透過(guò)其它裝置或連接手段間接地電氣連接至第二裝置。
請(qǐng)參考圖1,圖1為依據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的校準(zhǔn)系統(tǒng)100的功能方塊圖。 如圖1所示，校準(zhǔn)系統(tǒng)100包括數(shù)據(jù)處理裝置(例如多媒體數(shù)據(jù)處理裝置110) 以及用來(lái)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)處理裝置(亦即多媒體數(shù)據(jù)處理裝置110)的相關(guān)特性的 校準(zhǔn)裝置120。多媒體數(shù)據(jù)處理裝置110包括存儲(chǔ)裝置112、具有數(shù)模轉(zhuǎn)換器 115的數(shù)據(jù)處理電路114以及緩沖器(buffer)116。存儲(chǔ)裝置112是用來(lái)存儲(chǔ)目 標(biāo)固件調(diào)整值(target firmware trim value ) Vtarget,而目標(biāo)固件調(diào)整值是用來(lái)在 正常模式(normal mode)下作為參考值。數(shù)據(jù)處理電路114用來(lái)在校準(zhǔn)模式 (calibration mode)下，根據(jù)接收到的測(cè)試固件調(diào)整值(test firmware trim value) Vtest將測(cè)試式樣(testpattern)轉(zhuǎn)換成測(cè)試輸出(testoutput);以及在正 常模式下根據(jù)目標(biāo)固件調(diào)整值V加get將非測(cè)試式樣(non-test pattern)轉(zhuǎn)換成非測(cè)試輸出(non-testoutput)。緩沖器116具有預(yù)先設(shè)定好的驅(qū)動(dòng)能力(driving strength),且可以寄存由數(shù)據(jù)處理電路114產(chǎn)生的輸出；在正常模式下，輸出 傳送至終端電子裝置(此處未標(biāo)示)，而在校準(zhǔn)模式下輸出則傳送至校準(zhǔn)裝置 120。校準(zhǔn)裝置120包括具有模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC) 125的分析裝置124以及用 來(lái)根據(jù)分析裝置124所產(chǎn)生的分析結(jié)果進(jìn)行測(cè)試固件調(diào)整值Vtest更新的微控 制器122。在本實(shí)施例中，多媒體數(shù)據(jù)處理裝置110與校準(zhǔn)裝置120之間通 過(guò)RS232接口來(lái)彼此連接以傳送固件調(diào)整值，然而，這并非本發(fā)明的限制條 件。本發(fā)明所提出的校準(zhǔn)機(jī)制的操作細(xì)節(jié)說(shuō)明如下。
假定存儲(chǔ)裝置112是通過(guò)非易失性(non-volatile)存儲(chǔ)器，例如閃存(flash memory)或電可才察除可編禾呈只讀存卡者器(Electrically Erasable Programmable Read Only Memory, EEPROM)來(lái)實(shí)現(xiàn)；數(shù)據(jù)處理電-各114是具有數(shù)才莫轉(zhuǎn)換 器115的MPEG芯片，其中數(shù)模轉(zhuǎn)換器115用來(lái)作為視頻數(shù)模轉(zhuǎn)換器以輸出 視頻信號(hào)(如CVBS信號(hào)或S視頻信號(hào))；而緩沖器116在此則作為傳統(tǒng)的視 頻緩沖器，用來(lái)寄存由MPEG芯片所產(chǎn)生的輸出信號(hào)，其中在正常模式下， 輸出傳送至電子裝置，而在校準(zhǔn)模式下輸出則傳送至校準(zhǔn)裝置120。當(dāng)校準(zhǔn) 模式被啟動(dòng)時(shí)，數(shù)據(jù)處理電路114開(kāi)始處理上述的測(cè)試式樣(數(shù)字視頻數(shù)據(jù)) 以產(chǎn)生測(cè)試輸出(模擬視頻信號(hào))，并將測(cè)試輸出傳送至用來(lái)寄存輸出信號(hào)的 緩沖器116。測(cè)試式樣可通過(guò)讀取測(cè)試光盤(pán)或是任何其它可用的數(shù)據(jù)源而產(chǎn)
生。最初，微控制器122會(huì)輸出初始的測(cè)試固件調(diào)整值Vtea至數(shù)據(jù)處理電路
114，以通過(guò)固件控制方式來(lái)對(duì)數(shù)模轉(zhuǎn)換器115進(jìn)行設(shè)定。換句話(huà)說(shuō)，在校準(zhǔn)
程序開(kāi)始時(shí)，數(shù)據(jù)處理電路114的固件執(zhí)行會(huì)參照初始的測(cè)試固件調(diào)整值V^t
來(lái)調(diào)校數(shù)模轉(zhuǎn)換器115。于是在初始的測(cè)試固件調(diào)整值Vtest的控制的下，數(shù) 模轉(zhuǎn)換器115接著便將數(shù)字視頻數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成模擬視頻信號(hào)，而模擬視頻信號(hào) 則會(huì)通過(guò)緩沖器116饋送入后面的校準(zhǔn)裝置120。在本實(shí)施例中，數(shù)字視頻 數(shù)據(jù)被定義成用來(lái)在屏幕上顯示全白的圖像。然而這僅作為說(shuō)明之用，并非 本發(fā)明的限制條件。
請(qǐng)參考圖2，圖2所示為圖1中數(shù)模轉(zhuǎn)換器115所產(chǎn)生的測(cè)試輸出的波 形圖。模擬視頻信號(hào)包括水平消隱部分(horizontal blanking portion )以及有 效碎見(jiàn)頻部分(active video portion)的CVBS信號(hào)，其中有效浮見(jiàn)頻部分維持在 白色電平。舉例來(lái)說(shuō)，如圖所示，同步尖端電平(sync tip level)等于-40 IRE 單位(如0伏特),消隱電平(blanking level )等于0 IRE單位，黑色電平(blacklevel)等于7.5IRE單位，而白色電平等于100 IRE單位(如1伏特)。因?yàn)?CVBS信號(hào)的規(guī)范已詳細(xì)定義在傳統(tǒng)電視規(guī)格中，且已被熟悉該技術(shù)者所了 解，故為了簡(jiǎn)潔起見(jiàn)，細(xì)節(jié)部分在此不再贅述。圖2所示的信號(hào)波形會(huì)被傳 送至校準(zhǔn)裝置120以進(jìn)行進(jìn)一步的信號(hào)處理。
如上所述，分析裝置124是用來(lái)分析來(lái)自多媒體數(shù)據(jù)處理裝置110的輸 出，然后輸出分析結(jié)果至微控制器122。在本實(shí)施例中，分析裝置124具有 模數(shù)轉(zhuǎn)換器125,可用來(lái)對(duì)圖2所示的CVBS信號(hào)進(jìn)行取樣以產(chǎn)生所需的分 析結(jié)果。在具有高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器125的情況下，CVBS信號(hào)在對(duì)應(yīng)于同步尖 端電平的一個(gè)周期內(nèi)會(huì)被多次取樣以產(chǎn)生多個(gè)第一取樣值；此外，CVBS信 號(hào)在對(duì)應(yīng)于白色電平的另一個(gè)周期內(nèi)會(huì)被多次取樣以產(chǎn)生多個(gè)第二取樣值， 這樣，至少包括上述第 一取樣值與上述第二取樣值的分析結(jié)果會(huì)被輸出至微 控制器122，然后微控制器122會(huì)處理接收到的分析結(jié)果以檢查預(yù)定條件是 否滿(mǎn)足。在采用高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器125的情況下，微控制器122會(huì)對(duì)接收進(jìn)來(lái) 的分析結(jié)果執(zhí)行數(shù)字濾波處理以使噪聲干擾降至最低，而接收進(jìn)來(lái)的分析結(jié) 果包括對(duì)應(yīng)于同步尖端電平的多個(gè)第一取樣值以及對(duì)應(yīng)于白色電平的多個(gè)第 二取樣值。例如，微控制器122會(huì)先計(jì)算上述第一取樣值的第一平均值A(chǔ)以 及上述第二取樣值的第二平均值B,然后根據(jù)第一平均值A(chǔ)以及第二平均值 B決定兩者的差值C(C二B - A);在得到差值C之后，微控制器122會(huì)對(duì) 差值C以及參考值進(jìn)行比較，以判斷預(yù)定條件是否滿(mǎn)足。請(qǐng)參考圖2。顯然， 同步尖端電平以及白色電平之間理想的強(qiáng)度差異應(yīng)等于140IRE單位，亦即1 伏特的峰對(duì)峰電壓。換句話(huà)說(shuō)，同步尖端電平的理想信號(hào)強(qiáng)度應(yīng)等于O伏特， 而白色電平的理想信號(hào)強(qiáng)度應(yīng)等于1伏特。如果測(cè)量到的白色電平與測(cè)量到 的同步尖端電平之間實(shí)際的信號(hào)強(qiáng)度差異為1伏特，那么就能保證實(shí)際的白 色電平是正確的。因此，上述的參考值是根據(jù)白色電平與同步尖端電平之間 理想的信號(hào)強(qiáng)度差異而事先確定的。當(dāng)差值C與參考值之間的差值落在某個(gè) 事先確定的范圍或是差值C等于參考值時(shí)(視設(shè)計(jì)要求而定)，則可以判定預(yù) 定條件滿(mǎn)足；另一方面，若是預(yù)定條件未滿(mǎn)足，則微控制器122會(huì)更新饋送 入數(shù)據(jù)處理電路114的測(cè)試固件調(diào)整值Vtest以隨之改變數(shù)模轉(zhuǎn)換特性。應(yīng)用 在數(shù)模轉(zhuǎn)換器115上的校準(zhǔn)機(jī)制的細(xì)節(jié)說(shuō)明如下。
請(qǐng)參考圖3，圖3所示是依本發(fā)明實(shí)施例的數(shù)模轉(zhuǎn)換器115的電路圖。 在本實(shí)施例中，內(nèi)建于數(shù)據(jù)處理電路114 (例如MPEG芯片)中的數(shù)^f莫轉(zhuǎn)換器115是以電流驅(qū)動(dòng)(currentsteering)數(shù)模轉(zhuǎn)換器配置來(lái)實(shí)現(xiàn)的。如圖3所示， 電流驅(qū)動(dòng)數(shù)模轉(zhuǎn)換器115包括用來(lái)提供電源電壓Vin的電壓供給器302,電壓 供給器302包括能帶間隙參考電壓發(fā)生器303以提供穩(wěn)定的電壓輸出。此外， 電流驅(qū)動(dòng)數(shù)模轉(zhuǎn)換器115還包括可控分壓器304、參考電流供給器306以及 轉(zhuǎn)換電路308?？煽胤謮浩?04耦接于電壓供給器302且受固件調(diào)整值(目
標(biāo)固件調(diào)整值V^get或測(cè)試固件調(diào)整值Vtest)所控制，用來(lái)根據(jù)固件調(diào)整值對(duì)
供給電壓Vin進(jìn)行分壓以輸出參考電壓Vref;參考電流供給器306耦接于可控 分壓器304，用來(lái)根據(jù)參考電壓Vw產(chǎn)生參考電流Iref;轉(zhuǎn)換電路308則耦接 于參考電流供給器306以及數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)(如數(shù)據(jù)位DO以及Dl ),用來(lái)根據(jù)參考
電流Iref將數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成模擬信號(hào)V。ut。轉(zhuǎn)換電路308的電路配置僅作為說(shuō) 明之用，任何可參照參考電流W進(jìn)行所需的數(shù)模轉(zhuǎn)換的轉(zhuǎn)換電路皆可適用。
由于電壓供給器302、參考電流供給器306以及轉(zhuǎn)換電路308的操作與電路 配置已為熟悉電流驅(qū)動(dòng)數(shù)模轉(zhuǎn)換器相關(guān)領(lǐng)域的人士所了解，因此細(xì)節(jié)部分在 此不再贅述。
與傳統(tǒng)的電流驅(qū)動(dòng)數(shù)模轉(zhuǎn)換器相比，數(shù)模轉(zhuǎn)換器115包括可控分壓器
304，可用來(lái)對(duì)參考電流Iref進(jìn)行微調(diào)操作，并進(jìn)而調(diào)節(jié)相同數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)下的模
擬輸出。舉例來(lái)說(shuō)，如果微控制器122發(fā)現(xiàn)差值C大于參考值，也就是說(shuō)模 擬輸出電平對(duì)于目前用來(lái)校準(zhǔn)數(shù)模轉(zhuǎn)換器115的測(cè)試固件調(diào)整值而言過(guò)高， 微控制器122會(huì)調(diào)節(jié)測(cè)試固件調(diào)整值Vtea以降低數(shù)模轉(zhuǎn)換器115中的參考電 流Iw;同理，如果微控制器122發(fā)現(xiàn)差值C小于參考值，即模擬輸出電平對(duì) 于目前用來(lái)校準(zhǔn)數(shù)模轉(zhuǎn)換器115的測(cè)試固件調(diào)整值而言過(guò)低，則微控制器122
會(huì)調(diào)節(jié)測(cè)試固件調(diào)整值Vtest以升高凝j莫轉(zhuǎn)換器115中的參考電流Iref。在本發(fā)
明的實(shí)施例中，微控制器122會(huì)才艮據(jù)差值C與參考值的比較結(jié)果而從多個(gè)預(yù) 設(shè)的調(diào)整值當(dāng)中選擇一個(gè)以更新測(cè)試固件調(diào)整值Vtest，例如，共有16個(gè)不同 的預(yù)設(shè)調(diào)整值可用來(lái)設(shè)定測(cè)試固件調(diào)整值。此外，上述預(yù)設(shè)調(diào)整值中包括一 個(gè)默認(rèn)(default)調(diào)整值，用來(lái)在校準(zhǔn)過(guò)程開(kāi)始時(shí)作為初始值來(lái)設(shè)定測(cè)試固件調(diào) 整值，因此，微控制器122會(huì)選擇默認(rèn)調(diào)整值來(lái)測(cè)試預(yù)定條件是否滿(mǎn)足，若 是預(yù)定條件未被滿(mǎn)足，則微控制器122會(huì)從上述預(yù)設(shè)調(diào)整值當(dāng)中選擇另一個(gè) 數(shù)值來(lái)測(cè)試預(yù)定條件是否滿(mǎn)足。換句話(huà)說(shuō)，上述檢索算法相當(dāng)于逐一測(cè)試上 述預(yù)設(shè)調(diào)整值直到找到目標(biāo)固件調(diào)整值為止。如果所有的預(yù)設(shè)調(diào)整值均被測(cè) 試過(guò)而仍無(wú)法找到目標(biāo)固件調(diào)整值Vtarset，這可能是因?yàn)樵谛?zhǔn)過(guò)程中發(fā)生了某些非預(yù)期的干擾或是校準(zhǔn)系統(tǒng)100變得不穩(wěn)定，因此，若有必要，校準(zhǔn)過(guò) 程可能要重新啟動(dòng)以便再次檢索目標(biāo)固件調(diào)整值。請(qǐng)注意，本發(fā)明并不限定 于使用上述的搜檢索機(jī)制，例如，其它傳統(tǒng)的算法亦可用來(lái)檢索目標(biāo)固件調(diào) 整值。 一旦預(yù)定條件滿(mǎn)足，目前的測(cè)試固件調(diào)整值Vtest會(huì)被存儲(chǔ)在存儲(chǔ)裝置 112 (如閃存)中以在正常模式下作為用于參考的目標(biāo)固件調(diào)整值Vtarget。當(dāng) 多媒體數(shù)據(jù)處理裝置110在正常模式下運(yùn)作時(shí)，模擬輸出的誤差會(huì)由于數(shù)模
最低甚至完全消除。
請(qǐng)注意，圖3所示的電路配置僅作為說(shuō)明之用，并非作為本發(fā)明的限制
條件，在閱讀上述說(shuō)明之后，熟悉此項(xiàng)技術(shù)者應(yīng)可理解，其它數(shù)模轉(zhuǎn)換器配 置亦可用在本發(fā)明所提出的校準(zhǔn)機(jī)制上。舉例來(lái)說(shuō)，任何能夠調(diào)節(jié)其對(duì)應(yīng)于
固件調(diào)整值的模擬輸出電平的數(shù)模轉(zhuǎn)換器皆可用在數(shù)據(jù)處理電路114上，而 固件調(diào)整值是根據(jù)本發(fā)明提出的校準(zhǔn)機(jī)制來(lái)設(shè)定的。此外，本發(fā)明并未限制 一定要使用高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器來(lái)對(duì)多媒體數(shù)據(jù)處理裝置110的模擬輸出進(jìn)行取 樣，在改用一般模數(shù)轉(zhuǎn)換器125的情況下，有可能在對(duì)應(yīng)于同步尖端電平的 時(shí)段只得到一個(gè)第一取樣值，且在對(duì)應(yīng)于白色電平的時(shí)段只得到一個(gè)第二取 樣值。接著，微控制器122會(huì)直接利用上述第一取樣值以及上述第二取樣值 來(lái)計(jì)算差值，再比較這個(gè)差值與參考值以驗(yàn)證預(yù)定條件是否滿(mǎn)足。盡管上述 數(shù)字濾波未被執(zhí)行以使整個(gè)校準(zhǔn)過(guò)程具有抗噪聲干擾的能力，但通過(guò)參考分 析裝置124所得到的分析結(jié)果來(lái)調(diào)節(jié)固件調(diào)整值仍可達(dá)到校準(zhǔn)數(shù)模轉(zhuǎn)換器 115的相同目的。在上述實(shí)施例中，被選取來(lái)進(jìn)行監(jiān)控的信號(hào)電平為同步尖 端電平以及白色電平，然而，這并非本發(fā)明的限制條件，在其它實(shí)施例中， 只要被定義為具有固定且已知電壓電平的兩信號(hào)電平皆可被選取來(lái)進(jìn)行監(jiān)控 以調(diào)節(jié)固件調(diào)整值，例如，白色電平、黑色電平、消隱電平以及同步尖端電 平的各種可能組合中的一種都可以被選取來(lái)對(duì)模擬輸出誤差進(jìn)行監(jiān)控，此外， 上述的參考值應(yīng)一并適當(dāng)選取以滿(mǎn)足相應(yīng)的設(shè)計(jì)要求。
在本發(fā)明中，多媒體數(shù)據(jù)處理裝置110設(shè)置于光盤(pán)播放裝置(如DVD 或DVD刻錄機(jī))或機(jī)頂盒(set-top box )中。在產(chǎn)品推出到市場(chǎng)之前，上述 的校準(zhǔn)步驟可用來(lái)將模擬輸出誤差降至最低，甚至完全消除。值得注意的是， 模擬輸出誤差并非完全由數(shù)模轉(zhuǎn)換器115的非理想特性所造成。既然校準(zhǔn)裝 置120可根據(jù)多媒體數(shù)據(jù)處理裝置110的模擬輸出來(lái)對(duì)固件調(diào)整值進(jìn)行微調(diào)，那么對(duì)數(shù)模轉(zhuǎn)換器115進(jìn)行校準(zhǔn)即相當(dāng)于對(duì)多媒體數(shù)據(jù)處理裝置110的所有 輸出誤差進(jìn)行補(bǔ)償，而這些誤差是由半導(dǎo)體制造過(guò)程差異、電路元件的差異 以及制造誤差所造成。換句話(huà)說(shuō)，本發(fā)明的校準(zhǔn)機(jī)制能夠估計(jì)整個(gè)系統(tǒng)的模 擬輸出誤差，然后僅通過(guò)調(diào)節(jié)數(shù)模轉(zhuǎn)換器115即可對(duì)整個(gè)系統(tǒng)所測(cè)量到的誤 差進(jìn)行補(bǔ)償。此外，通過(guò)采用本發(fā)明的自動(dòng)校準(zhǔn)機(jī)制，校準(zhǔn)效率得以大幅提 升，因而可以大幅提高產(chǎn)品制造的良率。
請(qǐng)注意，圖1所示的校準(zhǔn)裝置120是在產(chǎn)品制造過(guò)程中用來(lái)校準(zhǔn)多個(gè)多 媒體數(shù)據(jù)處理裝置110的外接裝置，但在其它實(shí)施例中，校準(zhǔn)裝置120可以 被整合至多媒體數(shù)據(jù)處理裝置110中，亦即校準(zhǔn)裝置120以及多媒體數(shù)據(jù)處 理裝置110皆位于同一光盤(pán)播放裝置或機(jī)頂盒中，因此，校準(zhǔn)裝置120便可 隨時(shí)隨地被使能以校準(zhǔn)多媒體數(shù)據(jù)處理裝置110。此設(shè)計(jì)變化仍符合本發(fā)明 的宗旨，亦屬于本發(fā)明的涵蓋范圍。
在以上實(shí)施例中，數(shù)據(jù)處理電路114是能夠通過(guò)內(nèi)建的數(shù)模轉(zhuǎn)換器115 產(chǎn)生模擬視頻輸出(如CVBS信號(hào)或S視頻信號(hào))的MPEG芯片。然而在閱 讀上述的說(shuō)明之后，應(yīng)可理解在其它實(shí)施例中，本發(fā)明所提出的校準(zhǔn)機(jī)制亦 可用來(lái)校準(zhǔn)數(shù)模轉(zhuǎn)換器115 (如音頻數(shù)模轉(zhuǎn)換器)的模擬音頻輸出誤差。舉 例來(lái)說(shuō)，測(cè)試式樣為數(shù)字音頻數(shù)據(jù)，而測(cè)試輸出為具有多個(gè)特定信號(hào)電平的 模擬音頻信號(hào)，因此就可通過(guò)監(jiān)測(cè)上述特定信號(hào)電平來(lái)確定音頻輸出的誤差。 所以，根據(jù)數(shù)據(jù)處理電路114輸出的取樣結(jié)果所產(chǎn)生的分析結(jié)果來(lái)調(diào)節(jié)固件 調(diào)整值亦可達(dá)到校準(zhǔn)數(shù)模轉(zhuǎn)換器115的類(lèi)似目的。上述設(shè)計(jì)變化同樣符合本 發(fā)明的宗旨。
請(qǐng)參考圖4，圖4所示是依本發(fā)明實(shí)施例的校準(zhǔn)方法的流程圖，且由圖1 所示的校準(zhǔn)系統(tǒng)IOO沖丸行。該校準(zhǔn)方法如下所示 步驟400:開(kāi)始。
步驟402:微控制器122根據(jù)初始值(例如默認(rèn)調(diào)整值)設(shè)定測(cè)試固件
調(diào)整值Vtest。
步驟404:數(shù)模轉(zhuǎn)換器115將測(cè)試式樣(例如數(shù)字視頻數(shù)據(jù))轉(zhuǎn)換為測(cè) 試輸出(例如模擬視頻輸出)。
步驟406:模數(shù)轉(zhuǎn)換器125對(duì)測(cè)試輸出(例如CVBS信號(hào))進(jìn)行取樣以 產(chǎn)生分析結(jié)果，分析結(jié)果包括一個(gè)以上的第一取樣值以及一個(gè)以上的第二取 樣值；第一取樣值是在對(duì)應(yīng)于第一預(yù)設(shè)信號(hào)電平(如同步尖端電平)的第一時(shí)段中所取樣，而第二取樣值則是在對(duì)應(yīng)于第二預(yù)定信號(hào)電平(如白色電平) 的第二時(shí)段中所取樣。
步驟408:微控制器122對(duì)接收到的分析結(jié)果進(jìn)行數(shù)字濾波，并根據(jù)模 數(shù)轉(zhuǎn)換器125所產(chǎn)生的結(jié)果計(jì)算差值。
步驟409:微控制器122比較差值與參考值。
步驟410:微控制器122檢查預(yù)定條件是否滿(mǎn)足。若預(yù)定條件已滿(mǎn)足， 則執(zhí)行步驟420;否則執(zhí)行步驟412。
步驟412:是否所有的預(yù)設(shè)調(diào)整值皆被測(cè)試過(guò)？如果是，執(zhí)行步驟414; 否則執(zhí)行步驟416。
步驟414:是否重試？如果是，執(zhí)行步驟402;否則執(zhí)行步驟415。
步驟415:校準(zhǔn)失敗。
步驟416:選擇一個(gè)尚未被測(cè)試過(guò)的預(yù)設(shè)調(diào)整值。
步驟418:微控制器122用所選取的預(yù)設(shè)調(diào)整值更新測(cè)試固件調(diào)整值Vtest。 執(zhí)行步驟404。
步驟420:微控制器122指示數(shù)據(jù)處理電路114將目前的測(cè)試固件調(diào)整 值作為目標(biāo)固件調(diào)整值Vt,t存儲(chǔ)至存儲(chǔ)裝置112中，而目標(biāo)固件調(diào)整值Vtarget 是用來(lái)在正常模式下作為參考值。
步驟422:校準(zhǔn)成功。
由于校準(zhǔn)系統(tǒng)100的操作已于上面詳細(xì)描述，為簡(jiǎn)潔起見(jiàn)，圖4所示相 關(guān)流程的進(jìn)一步說(shuō)明在此不另贅述。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，凡依本發(fā)明權(quán)利要求所進(jìn)行的等效 變化與修改，皆應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。
權(quán)利要求
1.一種校準(zhǔn)系統(tǒng)，包括數(shù)據(jù)處理裝置，用來(lái)在校準(zhǔn)模式下根據(jù)接收到的測(cè)試固件調(diào)整值將測(cè)試式樣轉(zhuǎn)換成測(cè)試輸出，而在正常模式下則根據(jù)存儲(chǔ)于其中的目標(biāo)固件調(diào)整值將非測(cè)試式樣轉(zhuǎn)換成非測(cè)試輸出；以及校準(zhǔn)裝置，耦接于該數(shù)據(jù)處理裝置，并用來(lái)校準(zhǔn)該數(shù)據(jù)處理裝置，該校準(zhǔn)裝置分析該測(cè)試輸出以調(diào)整輸出至該數(shù)據(jù)處理裝置的該測(cè)試固件調(diào)整值，且當(dāng)參考特定測(cè)試固件調(diào)整值所產(chǎn)生的該測(cè)試輸出的分析結(jié)果滿(mǎn)足預(yù)定條件時(shí)，控制該數(shù)據(jù)處理裝置以將該特定測(cè)試固件調(diào)整值存儲(chǔ)為該目標(biāo)固件調(diào)整值。
2. 如權(quán)利要求1所述的校準(zhǔn)系統(tǒng)，其特征在于該測(cè)試式樣以及該非測(cè) 試式樣分別為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)，該測(cè)試輸出以及該非測(cè)試輸出分別為模擬信號(hào)，以 及該數(shù)據(jù)處理裝置包括存儲(chǔ)裝置，用來(lái)存儲(chǔ)該目標(biāo)固件調(diào)整值；以及數(shù)據(jù)處理電路，耦接于該存儲(chǔ)裝置，用來(lái)處理該測(cè)試式樣以及該非測(cè)試 式樣以分別產(chǎn)生該測(cè)試輸出以及該非測(cè)試輸出，該數(shù)據(jù)處理電路包括由固件 調(diào)整值所控制的數(shù)模轉(zhuǎn)換器以將該數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為該模擬信號(hào)，該固件調(diào)整 值為該測(cè)試固件調(diào)整值或該目標(biāo)固件調(diào)整值。
3. 如權(quán)利要求2所述的校準(zhǔn)系統(tǒng)，其特征在于該數(shù)模轉(zhuǎn)換器為根據(jù)參 考電流而運(yùn)作的電流驅(qū)動(dòng)數(shù)模轉(zhuǎn)換器，且該電流驅(qū)動(dòng)數(shù)模轉(zhuǎn)換器是依據(jù)該固 件調(diào)整值來(lái)改變?cè)搮⒖茧娏鳌?br> 4. 如權(quán)利要求3所述的校準(zhǔn)系統(tǒng)，其特征在于該電流驅(qū)動(dòng)數(shù)模轉(zhuǎn)換器 包括電壓供給器，用來(lái)提供電源電壓；可控分壓器，耦接于該電壓供給器并且受該固件調(diào)整值控制，用來(lái)根據(jù) 該固件調(diào)整值對(duì)該電源電壓進(jìn)行分壓以輸出參考電壓；參考電流供給器，耦接于該可控分壓器，用來(lái)根據(jù)該參考電壓產(chǎn)生該參 考電流；以及轉(zhuǎn)換電路，耦接于該參考電流供給器以及該數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)，用來(lái)根據(jù)該參考 電流將該數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成該模擬信號(hào)。
5. 如權(quán)利要求1所述的校準(zhǔn)系統(tǒng)，其特征在于該校準(zhǔn)裝置包括 分析裝置，用來(lái)分析該測(cè)試輸出以產(chǎn)生該分析結(jié)果；以及 微控制器，耦接于該分析裝置，用來(lái)處理該分析結(jié)果以調(diào)整該測(cè)試固件調(diào)整值。
6. 如權(quán)利要求5所述的校準(zhǔn)系統(tǒng)，其特征在于該測(cè)試輸出為模擬信號(hào)， 以及該分析裝置包括模數(shù)轉(zhuǎn)換器以對(duì)該模擬信號(hào)取樣來(lái)產(chǎn)生該分析結(jié)果。
7. 如權(quán)利要求6所述的校準(zhǔn)系統(tǒng)，其特征在于該模數(shù)轉(zhuǎn)換器輸出的該 分析結(jié)果包括至少一個(gè)第 一取樣值與至少一個(gè)第二取樣值，該第一取樣值是 在對(duì)應(yīng)于第一預(yù)設(shè)信號(hào)電平的第一時(shí)段中所取樣，而該第二取樣值是在對(duì)應(yīng) 于第二預(yù)設(shè)信號(hào)電平的第二時(shí)段中所取樣，且該第 一預(yù)設(shè)信號(hào)電平以及該第 二預(yù)設(shè)信號(hào)電平由 一種電視規(guī)格定義；以及該微控制器根據(jù)至少該第 一取樣 值與該第二取樣值來(lái)確定差值，然后將該差值與參考值進(jìn)行比較以判斷該預(yù) 定條件是否滿(mǎn)足。
8. 如權(quán)利要求7所述的校準(zhǔn)系統(tǒng)，其特征在于該分析結(jié)果包括多個(gè)第 一取樣值以及多個(gè)第二取樣值；以及該微控制器進(jìn)一步計(jì)算該多個(gè)第一取樣 值的第一平均值與該多個(gè)第二取樣值的第二平均值，然后根據(jù)該第一平均值 與該第二平均值確定該差值。
9. 如權(quán)利要求7所述的校準(zhǔn)系統(tǒng)，其特征在于該第一預(yù)設(shè)信號(hào)電平為 同步尖端電平，而該第二預(yù)設(shè)信號(hào)電平為白色電平。
10. —種數(shù)據(jù)處理裝置，包括 存儲(chǔ)裝置，用來(lái)存儲(chǔ)目標(biāo)固件調(diào)整值；以及數(shù)據(jù)處理電路，耦接于該存儲(chǔ)裝置，用來(lái)在校準(zhǔn)模式下根據(jù)測(cè)試固件調(diào) 整值將測(cè)試式樣轉(zhuǎn)換成測(cè)試輸出，而在正常模式下則根據(jù)該目標(biāo)固件調(diào)整值 將非測(cè)試式樣轉(zhuǎn)換成非測(cè)試輸出，該數(shù)據(jù)處理電路在該校準(zhǔn)模式下可將特定 測(cè)試固件調(diào)整值作為該目標(biāo)固件調(diào)整值存儲(chǔ)至該存儲(chǔ)裝置中。
11. 如權(quán)利要求IO所述的數(shù)據(jù)處理裝置，其特征在于該測(cè)試式樣以及 該非測(cè)試式樣分別為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)，該測(cè)試輸出以及該非測(cè)試輸出分別為模擬信 號(hào)，以及該數(shù)據(jù)處理電路包括由固件調(diào)整值控制的數(shù)模轉(zhuǎn)換器以將該數(shù)字?jǐn)?shù) 據(jù)轉(zhuǎn)換為該模擬信號(hào)，且該固件調(diào)整值為該測(cè)試固件調(diào)整值或該目標(biāo)固件調(diào) 整值。
12. 如權(quán)利要求11所述的數(shù)據(jù)處理裝置，其特征在于該數(shù)模轉(zhuǎn)換器為根據(jù)參考電流而運(yùn)作的電流驅(qū)動(dòng)數(shù)模轉(zhuǎn)換器，且該電流驅(qū)動(dòng)數(shù)模轉(zhuǎn)換器依據(jù) 該固件調(diào)整值來(lái)改變?cè)搮⒖茧娏鳌?br> 13. 如權(quán)利要求12所述的數(shù)據(jù)處理裝置，其中該電流驅(qū)動(dòng)數(shù)模轉(zhuǎn)換器包括電壓供給器，用來(lái)提供電源電壓；可控分壓器，耦接于該電壓供給器并且受該固件調(diào)整值控制，用來(lái)根據(jù) 該固件調(diào)整值來(lái)對(duì)該電源電壓進(jìn)行分壓以輸出參考電壓；參考電流供給器，耦接于該可控分壓器，用來(lái)根據(jù)該參考電壓產(chǎn)生該參 考電流；以及轉(zhuǎn)換電路，耦接于該參考電流供給器以及該數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)，用來(lái)根據(jù)該參考 電流將該數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成該模擬信號(hào)。
14. 一種設(shè)定目標(biāo)固件調(diào)整值的方法，通過(guò)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)處理裝置來(lái)設(shè)定該 目標(biāo)固件調(diào)整值，該數(shù)據(jù)處理裝置在正常模式下根據(jù)該目標(biāo)固件調(diào)整值將非 測(cè)試式樣轉(zhuǎn)換成非測(cè)試輸出，該方法包括驅(qū)動(dòng)該數(shù)據(jù)處理裝置以根據(jù)校準(zhǔn)模式下所接收到的測(cè)試固件調(diào)整值將測(cè) 試式樣轉(zhuǎn)換成測(cè)試輸出；以及分析該測(cè)試輸出以調(diào)整輸出至該數(shù)據(jù)處理裝置的該測(cè)試固件調(diào)整值，且 當(dāng)參考特定測(cè)試固件調(diào)整值所產(chǎn)生的該測(cè)試輸出的分析結(jié)果滿(mǎn)足預(yù)定條件 時(shí)，控制該數(shù)據(jù)處理裝置以將該特定測(cè)試固件調(diào)整值存儲(chǔ)為該目標(biāo)固件調(diào)整 值。
15. 如權(quán)利要求14所述的設(shè)定目標(biāo)固件調(diào)整值的方法，其特征在于該 測(cè)試式樣以及該非測(cè)試式樣分別為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)，該測(cè)試輸出以及該非測(cè)試輸出 分別為模擬信號(hào)，該數(shù)據(jù)處理裝置包括由固件調(diào)整值所控制的數(shù)模轉(zhuǎn)換器， 且驅(qū)動(dòng)該數(shù)據(jù)處理裝置將該測(cè)試式樣轉(zhuǎn)換成該測(cè)試輸出的步驟包括利用該測(cè)試固件調(diào)整值來(lái)調(diào)整該數(shù)模轉(zhuǎn)換器以將該數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為該模 擬信號(hào)。
16. 如權(quán)利要求15所述的設(shè)定目標(biāo)固件調(diào)整值的方法，其特征在于該 數(shù)模轉(zhuǎn)換器為根據(jù)參考電流而運(yùn)作的電流驅(qū)動(dòng)數(shù)模轉(zhuǎn)換器，且利用該測(cè)試固件調(diào)整值來(lái)調(diào)整該數(shù)模轉(zhuǎn)換器的步驟包括 依據(jù)該固件調(diào)整值以改變?cè)搮⒖茧娏鳌?br> 17. 如權(quán)利要求14所述的設(shè)定目標(biāo)固件調(diào)整值的方法，其特征在于分析該測(cè)試輸出以調(diào)整輸出至該數(shù)據(jù)處理裝置的該測(cè)試固件調(diào)整值的步驟包括分析該測(cè)試輸出以產(chǎn)生該分析結(jié)果；以及處理該分析結(jié)果以連續(xù)地更新該測(cè)試固件調(diào)整值直到該預(yù)定條件滿(mǎn)足。
18. 如權(quán)利要求17所述的設(shè)定目標(biāo)固件調(diào)整值的方法，其特征在于該 測(cè)試輸出為模擬信號(hào)，而分析該測(cè)試輸出以產(chǎn)生該分析結(jié)果的步驟包括執(zhí)行模數(shù)轉(zhuǎn)換以對(duì)該模擬信號(hào)進(jìn)行取樣來(lái)輸出該分析結(jié)果。
19. 如權(quán)利要求18所述的設(shè)定目標(biāo)固件調(diào)整值的方法，其特征在于該 分析結(jié)果包括至少一個(gè)第 一取樣值與至少一個(gè)第二取樣值，該第 一取樣值是 在對(duì)應(yīng)于第 一預(yù)設(shè)信號(hào)電平的第 一 時(shí)段中所取樣，而該第二取樣值是在對(duì)應(yīng) 于第二預(yù)設(shè)信號(hào)電平的第二時(shí)段中所取樣，且該第 一預(yù)設(shè)信號(hào)電平以及該第 二預(yù)設(shè)信號(hào)電平由一種電視規(guī)格定義；以及處理該分析結(jié)果以連續(xù)地更新該 測(cè)試固件調(diào)整值直到該預(yù)定條件滿(mǎn)足的步驟包括根據(jù)至少該第 一取樣值與該第二取樣值來(lái)確定差值；以及 將該差值與參考值進(jìn)行比較以判斷該預(yù)定條件是否滿(mǎn)足。
20. 如權(quán)利要求19所述的設(shè)定目標(biāo)固件調(diào)整值的方法，其特征在于該 分析結(jié)果包括多個(gè)第一取樣值以及多個(gè)第二取樣值；以及確定該差值的步驟 包括計(jì)算該多個(gè)第 一取樣值的第 一平均值與該多個(gè)第二取樣值的第二平均 值；以及根據(jù)該第 一平均值與該第二平均值來(lái)確定該差值。
全文摘要
一種通過(guò)調(diào)節(jié)固件調(diào)整值來(lái)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)處理裝置的裝置與方法。數(shù)據(jù)處理裝置是用來(lái)在正常模式下根據(jù)目標(biāo)固件調(diào)整值將非測(cè)試式樣轉(zhuǎn)換成非測(cè)試輸出。上述方法包括驅(qū)動(dòng)數(shù)據(jù)處理裝置以根據(jù)校準(zhǔn)模式下接收到的測(cè)試固件調(diào)整值將測(cè)試式樣轉(zhuǎn)換成測(cè)試輸出；以及分析測(cè)試輸出以調(diào)節(jié)輸出至數(shù)據(jù)處理裝置的測(cè)試固件調(diào)整值，且當(dāng)參考特定測(cè)試固件調(diào)整值所產(chǎn)生的測(cè)試輸出的分析結(jié)果滿(mǎn)足預(yù)定條件時(shí)，控制數(shù)據(jù)處理裝置以將特定測(cè)試固件調(diào)整值存儲(chǔ)為目標(biāo)固件調(diào)整值。上述技術(shù)方案可以校準(zhǔn)目標(biāo)集成電路的輸出信號(hào)電平，有效提高輸出信號(hào)質(zhì)量并補(bǔ)償系統(tǒng)誤差。
文檔編號(hào)H04N17/00GK101304542SQ200710305438
公開(kāi)日2008年11月12日 申請(qǐng)日期2007年12月28日 優(yōu)先權(quán)日2007年5月10日
發(fā)明者黃湘松 申請(qǐng)人:聯(lián)發(fā)科技股份有限公司