專利名稱：一種基于網(wǎng)絡分析儀的測試方法和裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及網(wǎng)絡通訊技術領域，具體涉及一種基于網(wǎng)絡分析儀的測試方法和裝置。
背景技術：
網(wǎng)絡分析儀主要是用來對被測試件如電子器件或者設備的頻域特性進行測試的儀器。通過網(wǎng)絡分析儀測試的被測試件的頻域特性可獲知被測試件的端口反射特性，傳輸特性等技術指標。
目前的網(wǎng)絡分析儀主要有兩種，一種是標量網(wǎng)絡分析儀，一種是矢量網(wǎng)絡分析儀。由于標量網(wǎng)絡分析儀的測試結果只有幅度特性而沒有相位特性，而矢量網(wǎng)絡分析儀的測試結果則兼有幅度特性和相位特性，因此目前矢量網(wǎng)絡分析儀的應用范圍更為廣泛。
網(wǎng)絡分析儀無論是標量網(wǎng)絡分析儀還是矢量網(wǎng)絡分析儀，在測試被測試件前，首先需要操作者人工選取測試頻率點數(shù)目作為網(wǎng)絡分析儀的校準設定，然后通過校準部件根據(jù)人工選取的測試頻率點數(shù)目對網(wǎng)絡分析儀進行校準設定，校準設定后的數(shù)據(jù)可以存儲起來，下一次對同類的被測試件進行測試時可以直接調出來使用，而不需要重新進行校準設定。
校準設定根據(jù)測試頻率點數(shù)目的不同包括201點，401點，801點和1601點等校準設定。目前最大的測試頻率點數(shù)目為16001點。
網(wǎng)絡分析儀根據(jù)校準設定對被測試件進行測試時，由于是操作者人工選取測試頻率點數(shù)目作為網(wǎng)絡分析儀的校準設定，所以在不了解被測試件頻域特性的情況下，可能會出現(xiàn)選取的測試頻率點數(shù)目不足，或者選取的測試頻率點數(shù)目過多的情況。
測試頻率點數(shù)目不足會導致網(wǎng)絡分析儀對被測試件的測試精度下降，比如出現(xiàn)相位缺失情況，或者出現(xiàn)幅度誤差比較大等情況。對于人工選取的測試頻率點數(shù)目不足的情況，在沒有達到該網(wǎng)絡分析儀的最大測試頻率點數(shù)目時，可以人工再選取更多的測試頻率點數(shù)目，根據(jù)再選取的測試頻率點數(shù)目對網(wǎng)絡分析儀再進行校準設定，并在校準設定后再次對被測試件進行測試；如果在人工選取的測試頻率點數(shù)目不足，又達到了網(wǎng)絡分析儀的最大測試頻率點數(shù)目的情況下，只能夠使用頻率分段的方式對被測試件進行測試，最后由人工將頻率分段測試的測試結果合并到一起作為被測試件的測試結果。比如，利用網(wǎng)絡分析儀測試長度很長的電纜時，即使網(wǎng)絡分析儀根據(jù)最大測試頻率點數(shù)目的校準設定對電纜進行測試，仍然會發(fā)生測試頻率點數(shù)目不足的情況，需要對該電纜使用頻率分段的方式進行測試。
測試頻率點數(shù)目過多會導致測試的時間過長，由于測試結果和測試頻率點數(shù)目是對應的，所以測試頻率點數(shù)目過多還會導致測試結果的數(shù)據(jù)量龐大，使測試結果保存的時間過長；在其他利用到這些測試結果數(shù)據(jù)的場合，如進行電路仿真等，同樣會導致數(shù)據(jù)處理時間過長；而且測試結果中一些數(shù)據(jù)是不必要的，網(wǎng)絡分析儀根據(jù)少一些測試頻率點數(shù)目的校準設定對被測試件進行測試，測試結果同樣可以準確的反映被測試件的頻域特性。
另外，現(xiàn)有技術中在測試頻率點數(shù)目過多的情況下，只能夠使網(wǎng)絡分析儀直接根據(jù)少一些的測試頻率點數(shù)目對被測試件進行測試，而不考慮測試結果的波形特性，比如哪些頻段相位變化比較頻繁、哪些頻段相位變化比較小等。
綜上所述，現(xiàn)有技術需要人工為網(wǎng)絡分析儀選取測試頻率點數(shù)目進行校準設定，測試結果的準確性與人的經(jīng)驗關系緊密，人為主觀因素過多，使測試結果具有不確定性、使其準確性大打折扣；在頻率分段測試過程中，只能夠人工選取頻率分段，并人工將測試結果合并；測試結果的處理量大，工作復雜，出錯的幾率高；網(wǎng)絡分析儀的測試結果處理單一。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于，提供一種基于網(wǎng)絡分析儀的測試方法和裝置，通過采用多種校準設定對被測試件進行測試，比較測試結果，并根據(jù)比較結果自動確定適合被測試件的校準設定，避免了人為因素對校準設定的選取，實現(xiàn)了提高測試結果準確性，簡化測試結果的處理過程的目的。
為達到上述目的，本發(fā)明提供的一種基于網(wǎng)絡分析儀的測試方法，包括a、確定各校準設定，并確定標準校準設定；b、根據(jù)所述標準校準設定對被測試件進行測試，并獲取測試結果，將其作為標準測試結果；c、從所述的各校準設定中選擇一個比較校準設定，根據(jù)所述選擇的比較校準設定對被測試件進行測試，并獲取測試結果，將其作為比較測試結果；d、獲取所述標準測試結果與所述比較測試結果的相似度，并根據(jù)所述的相似度將相應的測試結果確定為所述被測試件的輸出測試結果，將對應的校準設定確定為所述被測試件的輸出校準設定。
所述的步驟a包括確定校準設定數(shù)據(jù)庫中不同測試頻率點數(shù)目的校準設定，并從所述的校準設定數(shù)據(jù)庫中選擇測試頻率點數(shù)目最多或者最少的校準設定，將其確定為所述標準校準設定。
所述步驟c包括從所述的校準設定數(shù)據(jù)庫中選擇除所述標準設定外，測試頻率點數(shù)目最多/最少的校準設定作為比較校準設定，并根據(jù)所述比較校準設定對所述被測試件進行測試，同時獲取測試結果，將該測試結果作為比較測試結果存儲。
當所述步驟c中選擇的比較校準設定是除所述標準設定外的測試頻率點數(shù)目最多的校準設定時，所述步驟d包括獲取所述標準測試結果與所述比較測試結果的相似度，并判斷該相似度和第一預定值的大??；如果所述相似度大于所述第一預定值，將所述比較測試結果作為標準測試結果，并判斷校準設定數(shù)據(jù)庫中是否還有未選擇過的校準設定；如果沒有未選擇過的校準設定，將比較測試結果確定為所述被測試件的輸出測試結果，將比較校準設定確定為所述被測試件的輸出校準設定，所述方法結束；如果有未選擇過的校準設定，則繼續(xù)從所述校準設定數(shù)據(jù)庫未選擇過的校準設定中選擇一個測試頻率點數(shù)目最多的校準設定作為比較校準設定，根據(jù)所述比較校準設定對被測試件進行測試，并獲取測試結果，將其作為比較測試結果，繼續(xù)所述相似度和第一預定值的判斷；如果所述相似度不大于所述第一預定值，將所述標準測試結果確定為所述被測試件的輸出測試結果，將相應的標準校準設定確定為所述被測試件的輸出校準設定，所述方法結束；當所述步驟c中選擇的比較校準設定是除所述標準設定外的測試頻率點數(shù)目最少的校準設定時，所述步驟d包括獲取所述標準測試結果與所述比較測試結果的相似度，并判斷該相似度和第一預定值的大小；如果所述相似度小于所述第一預定值，將所述比較測試結果作為標準測試結果，并判斷校準設定數(shù)據(jù)庫中是否還有未選擇過的校準設定；如果沒有未選擇過的校準設定，將比較測試結果確定為所述被測試件的輸出測試結果，將比較校準設定確定為所述被測試件的輸出校準設定，所述方法結束；如果有未選擇過的校準設定，則繼續(xù)從所述校準設定數(shù)據(jù)庫未選擇的校準設定中選擇一個測試頻率點數(shù)目最少的校準設定作為比較校準設定，根據(jù)所述比較校準設定對被測試件進行測試，并獲取測試結果，將其作為比較測試結果，繼續(xù)所述相似度和第一預定值的判斷；如果不小于所述第一預定值，將所述標準測試結果確定為所述被測試件的輸出測試結果，將相應的標準校準設定確定為所述被測試件的輸出校準設定，所述方法結束。
所述的步驟a包括確定校準設定數(shù)據(jù)庫中不同頻率分段數(shù)目的校準設定，并從所述的校準設定數(shù)據(jù)庫中選擇頻率分段數(shù)目最多或者最少的校準設定，將其確定為所述標準校準設定。
所述的步驟c包括從所述的校準設定數(shù)據(jù)庫中選擇除所述標準設定外，頻率分段數(shù)目最多/最少的校準設定作為比較校準設定；根據(jù)所述比較校準設定對所述被測試件進行分段測試，同時獲取各段測試結果并合并，將所述合并后的測試結果作為比較測試結果存儲。
當所述步驟c中選擇的比較校準設定是除所述標準設定的分段組數(shù)目外的頻率分段數(shù)目最多的頻率分段校準設定時，所述步驟d包括獲取所述標準測試結果與所述比較頻率分段測試結果的相似度，并判斷所述相似度與第二預定值的大??；如果所述相似度大于所述第二預定值，將所述比較頻率分段測試結果作為標準測試結果，并判斷校準設定數(shù)據(jù)庫中是否還有未選擇過的校準設定；如果沒有未選擇過的校準設定，將比較測試結果確定為所述被測試件的輸出測試結果，將比較校準設定確定為所述被測試件的輸出校準設定，所述方法結束；如果有未選擇過的校準設定，則繼續(xù)從所述校準設定數(shù)據(jù)庫未選擇的校準設定中選擇一個頻率分段數(shù)目最多的校準設定作為比較校準設定，根據(jù)所述比較校準設定對被測試件進行分段測試，獲取測試結果并合并，將所述合并后的測試結果作為比較測試結果，繼續(xù)所述相似度與第二預定值的判斷；如果所述相似度不大于所述的第二預定值，將所述標準測試結果確定為所述被測試件的輸出測試結果，將相應的標準校準設定確定為所述被測試件的輸出校準設定，所述方法結束；當所述步驟c中選擇的比較校準設定是除所述標準設定的分段數(shù)目外的頻率分段數(shù)目最少的頻率分段校準設定時，所述步驟d包括獲取所述標準測試結果與所述比較測試結果的相似度，并判斷該相似度與第二預定值的大小；如果所述相似度小于所述第二預定值，將所述比較測試結果作為標準測試結果，并判斷校準設定數(shù)據(jù)庫中是否還有未選擇過的校準設定；如果沒有未選擇過的校準設定，將比較測試結果確定為所述被測試件的輸出測試結果，將比較校準設定確定為所述被測試件的輸出校準設定，所述方法結束；如果有未選擇過的校準設定，則繼續(xù)從所述校準設定數(shù)據(jù)庫未選擇的校準設定中選擇一個頻率分段數(shù)目最少的校準設定作為比較校準設定，根據(jù)所述比較校準設定對被測試件進行分段測試，獲取測試結果并合并，將所述合并后的測試結果作為比較測試結果，繼續(xù)所述相似度與第二預定值的判斷；如果所述相似度不小于所述第二預定值，將所述標準測試結果確定為所述被測試件的輸出測試結果，將相應的標準校準設定確定為所述被測試件的輸出校準設定，所述方法結束。
所述的步驟d中的相似度根據(jù)幅度特性和相位特性獲得。
所述的方法還包括獲取所述被測試件的測試結果，并分別獲取該測試結果數(shù)據(jù)的相位和幅度的變化值；將測試結果數(shù)據(jù)中相位變化值小于第三預定值且幅度變化值小于第四預定值的測試結果數(shù)據(jù)存儲并輸出。
所述的方法還包括獲取所述被測試件的測試結果；確定所述測試結果數(shù)據(jù)中預定頻率范圍內(nèi)對應的測試結果數(shù)據(jù)，并將其存儲、輸出。
本發(fā)明還提供一種基于網(wǎng)絡分析儀的測試裝置，包括校準設定數(shù)據(jù)庫存儲各測試頻率點數(shù)目的校準設定；控制模塊確定所述校準設定數(shù)據(jù)庫中的標準校準設定，并從所述校準設定數(shù)據(jù)庫中選擇一個比較校準設定，向網(wǎng)絡分析儀發(fā)送調用所述標準校準設定和比較校準設定的控制命令，接收所述網(wǎng)絡分析儀傳輸來的測試結果，并對應存儲為標準測試結果和比較測試結果，向數(shù)據(jù)處理模塊傳輸比較命令，根據(jù)數(shù)據(jù)處理模塊傳輸來的相似度，將其存儲的相應的測試結果確定為所述被測試件的輸出測試結果，將相應的校準設定確定為所述被測試件的輸出校準設定；網(wǎng)絡分析儀根據(jù)所述控制模塊傳輸來的控制命令，從所述校準設定數(shù)據(jù)庫中調用所述標準校準設定和所述比較校準設定，并根據(jù)所述調用的校準設定對被測試件進行測試，同時將測試結果傳輸至所述控制模塊；數(shù)據(jù)處理模塊根據(jù)所述控制模塊傳輸來的比較命令從所述控制模塊調用其存儲的標準測試結果和比較測試結果，獲取所述標準測試結果與所述比較測試結果的相似度，并將所述相似度傳輸至所述控制模塊。
通過上述技術方案的描述可明顯得知，本發(fā)明通過設置校準設定數(shù)據(jù)庫，可對網(wǎng)絡分析儀的各種校準設定進行管理；設定將測試頻率點數(shù)目最多或最少的校準設定設置為標準校準設定，從校準設定數(shù)據(jù)庫中選擇一個比較校準設定，并獲取比較校準設定的測試結果與標準校準設定的測試結果的相似度，當比較校準設定是按照測試頻率點數(shù)目的多少依次選擇時，根據(jù)相似度與預定值的比較來確定適合被測試件的輸出測試結果；為保證輸出測試結果是最適合被測試件的輸出測試結果，本發(fā)明還可通過上述獲取的相似度與預定值的大小比較來確定被測試件是否需要進行頻率分段校準設定；本發(fā)明對于頻率分段校準設定的測試結果可自動進行數(shù)據(jù)合并；對被測試件的輸出測試結果還可以根據(jù)波形變化選取適當?shù)臏y試結果數(shù)據(jù)，避免了對不必要的測試結果數(shù)據(jù)的存儲和相關處理；從而實現(xiàn)了提高測試結果的準確性，簡化測試結果的處理過程的目的。


圖1是本發(fā)明的基于網(wǎng)絡分析儀的測試裝置的工作原理圖。
具體實施例方式
本發(fā)明的核心是確定各校準設定，并確定標準校準設定；根據(jù)標準校準設定對被測試件進行測試，并獲取測試結果，將其作為標準測試結果；從各校準設定中選擇一個比較校準設定，根據(jù)選擇的比較校準設定對被測試件進行測試，并獲取測試結果，將其作為比較測試結果；獲取標準測試結果與所述比較測試結果的相似度，并根據(jù)相似度將相應的測試結果確定為被測試件的輸出測試結果，將對應的校準設定確定為被測試件的輸出校準設定。
基于本發(fā)明的核心，本發(fā)明提供如下技術方案來實現(xiàn)首先，確定網(wǎng)絡分析儀能夠對被測試件進行測試的各校準設定，利用校準設定數(shù)據(jù)庫存儲各個校準設定。然后，需要確定一個最適合被測試件的校準設定。最適合被測試件的校準設定包括最適合被測試件的頻率點數(shù)目的校準設定和最適合被測試件的頻率分段數(shù)目的校準設定。
校準設定數(shù)據(jù)庫中存儲的校準設定分為兩部分，一部分為頻率點數(shù)目不同的校準設定，另一部分為頻率分段數(shù)目不同的頻率分段校準設定。為了清晰描述，下面我們將這兩部分分別稱為頻率點數(shù)校準設定數(shù)據(jù)庫和頻率分段校準設定數(shù)據(jù)庫。
確定最適合被測試件的頻率點數(shù)目的校準設定的過程如下從頻率點數(shù)校準設定數(shù)據(jù)庫中選擇頻率點數(shù)目最多的校準設定，并將其作為標準校準設定。
網(wǎng)絡分析儀根據(jù)標準校準設定對被測試件進行測試，并將其測試結果儲存為標準測試結果。
然后，從頻率點數(shù)校準設定數(shù)據(jù)庫中選擇一個除標準校準設定之外的頻率點數(shù)目最多的校準設定作為比較校準設定。
網(wǎng)絡分析儀根據(jù)選取的比較校準設定對被測試件進行測試，并將其測試結果儲存為比較測試結果。
根據(jù)標準測試結果和比較測試結果的幅度特性和相位特性，確定這兩個測試結果的相似度，并對相似度和第一預定值的大小進行判斷。第一預定值可根據(jù)實際需要進行設定。
如果標準測試結果和比較測試結果的相似度大于第一預定值，將比較測試結果作為標準測試結果，將對應的比較校準設定作為標準校準設定，繼續(xù)從頻率點數(shù)校準設定數(shù)據(jù)庫中選擇其他未選擇過的頻率點數(shù)目最多的校準設定作為比較校準設定。網(wǎng)絡分析儀根據(jù)選取的比較校準設定對被測試件進行測試。繼續(xù)根據(jù)標準測試結果和比較測試結果的幅度特性和相位特性，確定這兩個測試結果的相似度，并對相似度和第一預定值的大小進行判斷。依照上述方法進行測試、判斷，直到標準測試結果和比較測試結果的相似度不大于第一預定值。
當標準測試結果和比較測試結果的相似度不大于第一預定值時，將標準測試結果確定為被測試件的輸出測試結果，將標準測試結果對應的校準設定確定為最適合被測試件的輸出校準設定，并結束網(wǎng)絡分析儀對被測試件的測試。
如果利用上述方法，從頻率點數(shù)校準設定數(shù)據(jù)庫中按照頻率點數(shù)目從多到少的順序一直選取到將測試頻率點數(shù)目最少的校準設定作為比較校準設定，并在判斷標準測試結果和比較測試結果的相似度與第一預定值的大小時，如果相似度仍然大于第一預定值，那么可以將比較校準設定的測試結果確定為被測試件的輸出測試結果，將比較校準設定確定為被測試件的輸出校準設定。
上述方法中，也可以將頻率點數(shù)校準設定數(shù)據(jù)庫中頻率點數(shù)目最少的校準設定設置為標準校準設定。
從頻率點數(shù)校準設定數(shù)據(jù)庫中選擇頻率點數(shù)目最少的校準設定，并將其作為標準校準設定時，確定最適合被測試件的頻率點數(shù)目的校準設定的具體過程如下網(wǎng)絡分析儀根據(jù)標準校準設定對被測試件進行測試，并將其測試結果確定儲存為標準測試結果。
然后，從頻率點數(shù)校準設定數(shù)據(jù)庫中選擇一個除標準校準設定之外的測試頻率點數(shù)目最少的校準設定作為比較校準設定。
網(wǎng)絡分析儀根據(jù)選取的比較校準設定對被測試件進行測試，并將其測試結果儲存為比較測試結果。
根據(jù)標準測試結果和比較測試結果的幅度特性和相位特性，確定這兩個測試結果的相似度，并對相似度和第一預定值的大小進行判斷。
如果標準測試結果和比較測試結果的相似度小于第一預定值，將比較測試結果作為標準測試結果，將對應的比較校準設定作為標準校準設定，繼續(xù)從頻率點數(shù)校準設定數(shù)據(jù)庫中選擇其他未選擇的頻率點數(shù)目最少的校準設定作為比較校準設定。網(wǎng)絡分析儀根據(jù)選取的比較校準設定對被測試件進行測試。同時，繼續(xù)根據(jù)標準測試結果和比較測試結果的幅度特性和相位特性，確定這兩個測試結果的相似度，并對相似度和第一預定值的大小進行判斷。依照上述方法進行測試、判斷，直到標準測試結果和比較測試結果的相似度不小于第一預定值。
當標準測試結果和比較測試結果的相似度不小于第一預定值時，將標準測試結果確定為被測試件的輸出測試結果，將標準測試結果對應的校準設定確定為最適合被測試件的輸出校準設定，并結束網(wǎng)絡分析儀對被測試件的測試。
如果利用上述方法，從頻率點數(shù)校準設定數(shù)據(jù)庫中按照頻率點數(shù)目從少到多的順序一直選取到將測試頻率點數(shù)目最多的校準設定作為比較校準設定，并在判斷標準測試結果和比較測試結果的相似度與第一預定值的大小時，如果相似度仍然小于第一預定值，那么可以將比較校準設定的測試結果確定為被測試件的輸出測試結果，將比較校準設定確定為被測試件的輸出校準設定。
對于上述的從頻率點數(shù)校準設定數(shù)據(jù)庫中一直選取到測試頻率點數(shù)目最多的校準設定，并在判斷相似度與第一預定值的大小時，如果標準測試結果和比較測試結果的相似度仍然小于第一預定值，雖然可以將比較測試結果確定為被測試件的輸出測試結果，將比較校準設定確定為被測試件的輸出校準設定，但是，這個確定的輸出測試結果、輸出校準設定對被測試件而言，會產(chǎn)生測試頻率點數(shù)目不足的現(xiàn)象，本發(fā)明為避免出現(xiàn)測試頻率點數(shù)目不足的現(xiàn)象，進一步完善本發(fā)明，對該測試件需要使用頻率分段的方式進行測試，以確定最適合被測試件的頻率分段校準設定。
利用頻率分段的方式對被測試件進行測試以確定最適合被測試件的頻率分段校準設定及測試結果的具體過程如下從頻率分段校準設定數(shù)據(jù)庫中選擇頻率點數(shù)據(jù)最多且頻率分段數(shù)目最少如頻率分段為1的校準設定，并將其作為標準校準設定。
網(wǎng)絡分析儀根據(jù)選擇的標準校準設定對被測試件進行測試，并將其測試結果儲存為標準測試結果。
然后，從頻率分段校準設定數(shù)據(jù)庫中選擇除標準校準設定外的頻率分段數(shù)目最低的校準設定作為比較校準設定。
網(wǎng)絡分析儀根據(jù)選取的比較校準設定對被測試件進行分段測試，并將各分段測試結果合并，將合并后的測試結果存儲為比較測試結果。
根據(jù)標準測試結果和比較測試結果的幅度特性和相位特性，確定比較測試結果和標準測試結果的相似度，并判斷相似度和第二預定值的大小，如果相似度小于第二預定值，將比較測試結果存儲為標準測試結果，將比較校準設定存儲為標準校準設定，繼續(xù)從頻率分段校準設定數(shù)據(jù)庫其他未被選擇過的頻率分段校準設定中選擇頻率分段數(shù)目最少的校準設定，并將其作為比較校準設定，網(wǎng)絡分析儀根據(jù)比較校準設定對被測試件進行分段測試，并將各分段測試結果合并，將合并后的測試結果確定并存儲為比較測試結果；繼續(xù)根據(jù)標準測試結果和比較測試結果的幅度特性和相位特性，確定這兩個測試結果的相似度，并判斷相似度和第二預定值的大小。依照上述方法進行測試、判斷，直到標準測試結果和比較測試結果的相似度不小于第二預定值。當標準測試結果和比較測試結果的相似度不小于第二預定值時，將標準測試結果確定為被測試件的輸出測試結果，將標準校準設定確定為被測試件的輸出校準設定。
如果從頻率分段校準設定數(shù)據(jù)庫中一直選擇到將頻率分段數(shù)目最多的校準設定作為比較校準設定，且標準測試結果和比較測試結果的相似度仍然小于第二預定值，那么將頻率分段數(shù)目最多的校準設定確定為被測試件的輸出校準設定，將其對應的比較測試結果確定為被測試件的輸出測試結果。
由于根據(jù)測試結果可得到被測試件的相位和幅度的變化情況，所以對于上述描述過程中獲得的任意一個測試結果都可以根據(jù)相位和幅度的變化情況對測試結果數(shù)據(jù)做多樣化處理。如將被測試件的輸出測試結果數(shù)據(jù)中相位變化值不小于第三預定值或幅度變化值不小于第四預定值的輸出測試結果數(shù)據(jù)刪除，將被測試件的輸出測試結果數(shù)據(jù)中相位變化值小于第三預定值且幅度變化值小于第四預定值的輸出測試結果數(shù)據(jù)存儲并輸出。這樣在不影響被測試件的輸出測試結果準確性的前提下，可保留一些必要的、能夠充分反映被測試件頻域特性的輸出測試結果數(shù)據(jù)，將不必要的輸出測試結果數(shù)據(jù)進行刪減，可以節(jié)約輸出測試結果的存儲空間，在利用輸出測試結果數(shù)據(jù)做相關處理時，可以減少相關處理的時間。再如，由于被測試件的輸出測試結果是一定頻域范圍內(nèi)的輸出測試結果，如果我們確定一個預定頻域范圍，只希望得到這個確定的預定頻域范圍內(nèi)的輸出測試結果數(shù)據(jù)，那么可以將輸出測試結果數(shù)據(jù)中超出預定頻域范圍的輸出測試結果數(shù)據(jù)刪除，只保留確定的頻域范圍內(nèi)的輸出測試結果數(shù)據(jù)，這樣在不影響輸出測試結果準確性的前提下，可實現(xiàn)保留一些需要的測試結果數(shù)據(jù)，將不需要的測試結果數(shù)據(jù)進行刪減，同樣可以節(jié)約測試結果的存儲空間，在利用測試結果數(shù)據(jù)做相關處理時，同樣可以減少相關處理的時間。
本發(fā)明提供的基于網(wǎng)絡分析儀的裝置的工作原理如附圖1所示。
在圖1中，本發(fā)明提供的基于網(wǎng)絡分析儀的裝置包括校準設定數(shù)據(jù)庫，控制模塊，網(wǎng)絡分析儀，數(shù)據(jù)處理模塊。
校準設定數(shù)據(jù)庫用于存儲各校準設定。
校準設定數(shù)據(jù)庫中存儲的校準設定分為兩部分，一部分為頻率點數(shù)目不同的校準設定，另一部分為頻率分段數(shù)目不同的頻率分段校準設定。為了清晰描述，我們將這兩部分分別稱為頻率點數(shù)校準設定數(shù)據(jù)庫和頻率分段校準設定數(shù)據(jù)庫。
控制模塊首先需要確定頻率點數(shù)校準設定數(shù)據(jù)庫中的頻率點數(shù)目最少的校準設定，并將其確定為標準校準設定。然后控制模塊從頻率點數(shù)校準設定數(shù)據(jù)庫中選擇除標準校準設定之外的頻率點數(shù)目最少的校準設定，并將其作為比較校準設定。分別向網(wǎng)絡分析儀發(fā)送調用標準校準設定和比較校準設定的控制命令。
網(wǎng)絡分析儀根據(jù)控制模塊傳輸來的調用標準校準設定的控制命令，從頻率點數(shù)校準設定數(shù)據(jù)庫中調用標準校準設定，并根據(jù)標準校準設定對被測試件進行測試，將標準測試結果傳輸至控制模塊。網(wǎng)絡分析儀根據(jù)控制模塊傳輸來的調用比較校準設定的控制命令，從頻率點數(shù)校準設定數(shù)據(jù)庫中調用比較校準設定，并根據(jù)比較校準設定對被測試件進行測試，將比較測試結果傳輸至控制模塊。
控制模塊接收并存儲網(wǎng)絡分析儀傳輸來的標準測試結果和比較測試結果，并向數(shù)據(jù)處理模塊傳輸比較命令。
數(shù)據(jù)處理模塊接收到控制模塊傳輸來的比較命令后，獲取控制模塊存儲的標準測試結果和比較測試結果，并根據(jù)這兩個測試結果反映的幅度特性和相位特性獲取這兩個測試結果的相似度。將相似度傳輸至控制模塊。
控制模塊接收到數(shù)據(jù)處理模塊傳輸來的相似度，判斷相似度和第一預定值的大小，如果相似度不小于第一預定值，控制模塊將標準測試結果存儲為被測試件的輸出測試結果，將標準校準設定存儲為被測試件的輸出校準設定。
如果控制模塊判斷相似度小于第一預定值，將比較測試結果存儲為標準測試結果，將比較校準設定存儲為標準校準設定，并繼續(xù)從頻率點數(shù)校準設定數(shù)據(jù)庫未選擇過的校準設定中選取頻率點數(shù)目最少的校準設定，將其作為比較校準設定，向網(wǎng)絡分析儀發(fā)送調用比較校準設定的控制命令。
當網(wǎng)絡分析儀接收到控制模塊接收傳輸來的調用比較校準設定的控制命令時，從頻率點數(shù)校準設定數(shù)據(jù)庫中調用比較校準設定，并根據(jù)比較校準設定對被測試件進行測試，將比較測試結果傳輸至控制模塊。
控制模塊接收到網(wǎng)絡分析儀傳輸來的比較測試結果，按照上述方法繼續(xù)向數(shù)據(jù)處理模塊傳輸比較命令，并在接收到數(shù)據(jù)處理模塊傳輸來的相似度后，繼續(xù)上述相似度與第一預定值大小的判斷，直到相似度不小于第一預定值時，控制模塊將標準測試結果存儲為被測試件的輸出測試結果，將標準校準設定存儲為被測試件的輸出校準設定。
如果控制模塊已將頻率點數(shù)校準設定數(shù)據(jù)庫中的校準設定按照頻率點數(shù)目從少到多的順序選擇到頻率點數(shù)目最多的校準設定后，并在接收到數(shù)據(jù)處理模塊傳輸來的相似度，進行相似度和第一預定值的大小判斷時，如果相似度仍然小于第一預定值，則控制模塊可以將比較測試結果存儲為被測試件的輸出測試結果，將比較校準設定存儲為被測試件的輸出校準設定；為進一步保證被測試件的輸出測試結果的準確性，控制模塊也可以決定再對被測試件進行頻率分段的測試，具體實現(xiàn)過程為控制模塊從頻率分段校準設定數(shù)據(jù)庫中選擇頻率分段數(shù)目最少的校準設定，并將其存儲為標準校準設定。然后控制模塊從頻率分段校準設定數(shù)據(jù)庫中選擇除標準校準設定之外的頻率分段數(shù)目最少的校準設定，并將其存儲為比較校準設定?？刂颇K分別向網(wǎng)絡分析儀發(fā)送調用標準校準設定和比較校準設定的控制命令。
網(wǎng)絡分析儀根據(jù)控制模塊傳輸來的調用標準校準設定的控制命令，從頻率分段校準設定數(shù)據(jù)庫中調用標準校準設定，并根據(jù)標準校準設定對被測試件進行分段測試，并將測試結果傳輸至控制模塊。網(wǎng)絡分析儀根據(jù)控制模塊傳輸來的調用比較校準設定的控制命令，從頻率分段校準設定數(shù)據(jù)庫中調用比較校準設定，并根據(jù)比較校準設定對被測試件進行分段測試，并將測試結果傳輸至控制模塊。
控制模塊接收網(wǎng)絡分析儀傳輸來的測試結果，將標準校準設定對應的測試結果進行合并，將合并后的測試結果作為標準測試結果存儲，將比較校準設定對應的測試結果進行合并，將合并后的測試結果作為比較測試結果存儲，并向數(shù)據(jù)處理模塊傳輸比較命令。
數(shù)據(jù)處理模塊接收到控制模塊傳輸來的比較命令后，獲取控制模塊存儲的標準測試結果和比較測試結果，并根據(jù)這兩個測試結果反映的幅度特性和相位特性獲取這兩個測試結果的相似度。將相似度傳輸至控制模塊。
控制模塊接收到數(shù)據(jù)處理模塊傳輸來的相似度，判斷相似度和第二預定值的大小，如果相似度不小于第二預定值，將標準測試結果存儲為被測試件的輸出測試結果，將標準校準設定存儲為被測試件的輸出校準設定。
如果控制模塊判斷相似度小于第二預定值，將比較測試結果存儲為標準測試結果，將比較校準設定存儲為標準校準設定，并繼續(xù)從頻率分段校準設定數(shù)據(jù)庫未選擇過的校準設定中選取頻率分段數(shù)目最少的校準設定，將其作為比較校準設定，向網(wǎng)絡分析儀發(fā)送調用比較校準設定的控制命令。
當網(wǎng)絡分析儀接收到控制模塊接收傳輸來的調用比較校準設定的控制命令時，從頻率分段校準設定數(shù)據(jù)庫中調用比較校準設定，并根據(jù)比較校準設定對被測試件進行分段測試，將測試結果傳輸至控制模塊。
控制模塊將網(wǎng)絡分析儀傳輸來的測試結果進行合并，將合并后的測試結果對應存儲為比較測試結果，并按照上述方法繼續(xù)向數(shù)據(jù)處理模塊傳輸比較命令；控制模塊在接收到數(shù)據(jù)處理模塊傳輸來的相似度后，繼續(xù)上述相似度與第二預定值大小的判斷，直到相似度不小于第二預定值時，控制模塊將標準測試結果存儲為被測試件的輸出測試結果，將標準校準設定存儲為被測試件的輸出校準設定。
如果控制模塊已將頻率分段校準設定數(shù)據(jù)庫中的校準設定按照頻率分段從少到多的順序選擇到頻率分段數(shù)目最多的校準設定，但是在接收到數(shù)據(jù)處理模塊傳輸來的相似度，進行相似度和第一預定值的大小判斷時，如果相似度仍然小于第一預定值，則控制模塊可以將比較測試結果確定為被測試件的輸出測試結果，將比較校準設定確定為被測試件的輸出校準設定。
上述描述中控制模塊從頻率點數(shù)校準設定數(shù)據(jù)庫中選擇標準校準設定和比較校準設定是按照頻率點數(shù)從少到多的順序依次選取的，控制模塊從頻率分段校準設定數(shù)據(jù)庫中選擇標準校準設定和比較校準設定是按照頻率分段數(shù)從少到多的順序依次選取的，控制模塊從頻率點數(shù)校準設定數(shù)據(jù)庫中選擇標準校準設定和比較校準設定也可以按照頻率點數(shù)從多到少的順序依次選取，控制模塊從頻率分段校準設定數(shù)據(jù)庫中選擇標準校準設定和比較校準設定也可以按照頻率分段數(shù)從多到少的順序依次選取，控制模塊比較相似度與預定值的大小的過程與本實施例中方法的描述相同，在此不再詳細描述。
數(shù)據(jù)處理模塊還可以將控制模塊中存儲的輸出測試結果根據(jù)相位和幅度的變化情況，將被測試件的輸出測試結果數(shù)據(jù)中相位變化值不小于第三預定值或幅度變化值不小于第四預定值的輸出測試結果數(shù)據(jù)刪除，將相位變化值小于第三預定值且幅度變化值小于第四預定值的輸出測試結果數(shù)據(jù)保留并存儲至控制模塊中。
數(shù)據(jù)處理模塊還可以將控制模塊中存儲的輸出測試結果根據(jù)相位和幅度的變化情況，將輸出測試結果數(shù)據(jù)中超出預定頻域范圍的輸出測試結果數(shù)據(jù)刪除，將預定頻域范圍內(nèi)的輸出測試結果數(shù)據(jù)保留并存儲至控制模塊中。
雖然通過實施例描繪了本發(fā)明，本領域普通技術人員知道，本發(fā)明有許多變形和變化而不脫離本發(fā)明的精神，希望所附的權利要求包括這些變形和變化。
權利要求
1.一種基于網(wǎng)絡分析儀的測試方法，其特征在于包括a、確定各校準設定，并確定標準校準設定；b、根據(jù)所述標準校準設定對被測試件進行測試，并獲取測試結果，將其作為標準測試結果；c、從所述的各校準設定中選擇一個比較校準設定，根據(jù)所述選擇的比較校準設定對被測試件進行測試，并獲取測試結果，將其作為比較測試結果；d、獲取所述標準測試結果與所述比較測試結果的相似度，并根據(jù)所述的相似度將相應的測試結果確定為所述被測試件的輸出測試結果，將對應的校準設定確定為所述被測試件的輸出校準設定。
2.如權利要求1所述的一種基于網(wǎng)絡分析儀的測試方法，其特征在于所述的步驟a包括確定校準設定數(shù)據(jù)庫中不同測試頻率點數(shù)目的校準設定，并從所述的校準設定數(shù)據(jù)庫中選擇測試頻率點數(shù)目最多或者最少的校準設定，將其確定為所述標準校準設定。
3.如權利要求2所述的一種基于網(wǎng)絡分析儀的測試方法，其特征在于所述步驟c包括從所述的校準設定數(shù)據(jù)庫中選擇除所述標準設定外，測試頻率點數(shù)目最多/最少的校準設定作為比較校準設定，并根據(jù)所述比較校準設定對所述被測試件進行測試，同時獲取測試結果，將該測試結果作為比較測試結果存儲。
4.如權利要求3所述的一種基于網(wǎng)絡分析儀的測試方法，其特征在于當所述步驟c中選擇的比較校準設定是除所述標準設定外的測試頻率點數(shù)目最多的校準設定時，所述步驟d包括獲取所述標準測試結果與所述比較測試結果的相似度，并判斷該相似度和第一預定值的大?。蝗绻鱿嗨贫却笥谒龅谝活A定值，將所述比較測試結果作為標準測試結果，并判斷校準設定數(shù)據(jù)庫中是否還有未選擇過的校準設定；如果沒有未選擇過的校準設定，將比較測試結果確定為所述被測試件的輸出測試結果，將比較校準設定確定為所述被測試件的輸出校準設定，所述方法結束；如果有未選擇過的校準設定，則繼續(xù)從所述校準設定數(shù)據(jù)庫未選擇過的校準設定中選擇一個測試頻率點數(shù)目最多的校準設定作為比較校準設定，根據(jù)所述比較校準設定對被測試件進行測試，并獲取測試結果，將其作為比較測試結果，繼續(xù)所述相似度和第一預定值的判斷；如果所述相似度不大于所述第一預定值，將所述標準測試結果確定為所述被測試件的輸出測試結果，將相應的標準校準設定確定為所述被測試件的輸出校準設定，所述方法結束；當所述步驟c中選擇的比較校準設定是除所述標準設定外的測試頻率點數(shù)目最少的校準設定時，所述步驟d包括獲取所述標準測試結果與所述比較測試結果的相似度，并判斷該相似度和第一預定值的大?。蝗绻鱿嗨贫刃∮谒龅谝活A定值，將所述比較測試結果作為標準測試結果，并判斷校準設定數(shù)據(jù)庫中是否還有未選擇過的校準設定；如果沒有未選擇過的校準設定，將比較測試結果確定為所述被測試件的輸出測試結果，將比較校準設定確定為所述被測試件的輸出校準設定，所述方法結束；如果有未選擇過的校準設定，則繼續(xù)從所述校準設定數(shù)據(jù)庫未選擇的校準設定中選擇一個測試頻率點數(shù)目最少的校準設定作為比較校準設定，根據(jù)所述比較校準設定對被測試件進行測試，并獲取測試結果，將其作為比較測試結果，繼續(xù)所述相似度和第一預定值的判斷；如果不小于所述第一預定值，將所述標準測試結果確定為所述被測試件的輸出測試結果，將相應的標準校準設定確定為所述被測試件的輸出校準設定，所述方法結束。
5.如權利要求1所述的一種基于網(wǎng)絡分析儀的測試方法，其特征在于所述的步驟a包括確定校準設定數(shù)據(jù)庫中不同頻率分段數(shù)目的校準設定，并從所述的校準設定數(shù)據(jù)庫中選擇頻率分段數(shù)目最多或者最少的校準設定，將其確定為所述標準校準設定。
6.如權利要求5所述的一種基于網(wǎng)絡分析儀的測試方法，其特征在于所述的步驟c包括從所述的校準設定數(shù)據(jù)庫中選擇除所述標準設定外，頻率分段數(shù)目最多/最少的校準設定作為比較校準設定；根據(jù)所述比較校準設定對所述被測試件進行分段測試，同時獲取各段測試結果并合并，將所述合并后的測試結果作為比較測試結果存儲。
7.如權利要求6所述的一種基于網(wǎng)絡分析儀的測試方法，其特征在于當所述步驟c中選擇的比較校準設定是除所述標準設定的分段組數(shù)目外的頻率分段數(shù)目最多的頻率分段校準設定時，所述步驟d包括獲取所述標準測試結果與所述比較頻率分段測試結果的相似度，并判斷所述相似度與第二預定值的大??；如果所述相似度大于所述第二預定值，將所述比較頻率分段測試結果作為標準測試結果，并判斷校準設定數(shù)據(jù)庫中是否還有未選擇過的校準設定；如果沒有未選擇過的校準設定，將比較測試結果確定為所述被測試件的輸出測試結果，將比較校準設定確定為所述被測試件的輸出校準設定，所述方法結束；如果有未選擇過的校準設定，則繼續(xù)從所述校準設定數(shù)據(jù)庫未選擇的校準設定中選擇一個頻率分段數(shù)目最多的校準設定作為比較校準設定，根據(jù)所述比較校準設定對被測試件進行分段測試，獲取測試結果并合并，將所述合并后的測試結果作為比較測試結果，繼續(xù)所述相似度與第二預定值的判斷；如果所述相似度不大于所述的第二預定值，將所述標準測試結果確定為所述被測試件的輸出測試結果，將相應的標準校準設定確定為所述被測試件的輸出校準設定，所述方法結束；當所述步驟c中選擇的比較校準設定是除所述標準設定的分段數(shù)目外的頻率分段數(shù)目最少的頻率分段校準設定時，所述步驟d包括獲取所述標準測試結果與所述比較測試結果的相似度，并判斷該相似度與第二預定值的大??；如果所述相似度小于所述第二預定值，將所述比較測試結果作為標準測試結果，并判斷校準設定數(shù)據(jù)庫中是否還有未選擇過的校準設定；如果沒有未選擇過的校準設定，將比較測試結果確定為所述被測試件的輸出測試結果，將比較校準設定確定為所述被測試件的輸出校準設定，所述方法結束；如果有未選擇過的校準設定，則繼續(xù)從所述校準設定數(shù)據(jù)庫未選擇的校準設定中選擇一個頻率分段數(shù)目最少的校準設定作為比較校準設定，根據(jù)所述比較校準設定對被測試件進行分段測試，獲取測試結果并合并，將所述合并后的測試結果作為比較測試結果，繼續(xù)所述相似度與第二預定值的判斷；如果所述相似度不小于所述第二預定值，將所述標準測試結果確定為所述被測試件的輸出測試結果，將相應的標準校準設定確定為所述被測試件的輸出校準設定，所述方法結束。
8.如權利要求1所述的一種基于網(wǎng)絡分析儀的測試方法，其特征在于所述的步驟d中的相似度根據(jù)幅度特性和相位特性獲得。
9.如權利要求1至8中任一權利要求中所述的一種基于網(wǎng)絡分析儀的測試方法，其特征在于所述的方法還包括獲取所述被測試件的測試結果，并分別獲取該測試結果數(shù)據(jù)的相位和幅度的變化值；將測試結果數(shù)據(jù)中相位變化值小于第三預定值且幅度變化值小于第四預定值的測試結果數(shù)據(jù)存儲并輸出。
10.如權利要求1至8中任一權利要求中所述的一種基于網(wǎng)絡分析儀的測試方法，其特征在于所述的方法還包括獲取所述被測試件的測試結果；確定所述測試結果數(shù)據(jù)中預定頻率范圍內(nèi)對應的測試結果數(shù)據(jù)，并將其存儲、輸出。
11.一種基于網(wǎng)絡分析儀的測試裝置，其特征在于包括校準設定數(shù)據(jù)庫存儲各測試頻率點數(shù)目的校準設定；控制模塊確定所述校準設定數(shù)據(jù)庫中的標準校準設定，并從所述校準設定數(shù)據(jù)庫中選擇一個比較校準設定，向網(wǎng)絡分析儀發(fā)送調用所述標準校準設定和比較校準設定的控制命令，接收所述網(wǎng)絡分析儀傳輸來的測試結果，并對應存儲為標準測試結果和比較測試結果，向數(shù)據(jù)處理模塊傳輸比較命令，根據(jù)數(shù)據(jù)處理模塊傳輸來的相似度，將其存儲的相應的測試結果確定為所述被測試件的輸出測試結果，將相應的校準設定確定為所述被測試件的輸出校準設定；網(wǎng)絡分析儀根據(jù)所述控制模塊傳輸來的控制命令，從所述校準設定數(shù)據(jù)庫中調用所述標準校準設定和所述比較校準設定，并根據(jù)所述調用的校準設定對被測試件進行測試，同時將測試結果傳輸至所述控制模塊；數(shù)據(jù)處理模塊根據(jù)所述控制模塊傳輸來的比較命令從所述控制模塊調用其存儲的標準測試結果和比較測試結果，獲取所述標準測試結果與所述比較測試結果的相似度，并將所述相似度傳輸至所述控制模塊。
全文摘要
本發(fā)明提供一種基于網(wǎng)絡分析儀的測試方法和裝置，其核心為通過設定標準校準設定，采用多種校準設定對被測試件進行測試，比較測試結果，并根據(jù)比較結果自動確定適合被測試件的輸出校準設定和輸出測試結果，避免了人為因素影響校準設定的選擇，同時可根據(jù)被測試件的波形特性或頻域特性對測試結果進行多樣化處理，實現(xiàn)了提高測試結果的準確性，簡化測試結果的處理過程的目的。
文檔編號H04L12/26GK1719791SQ20041007152
公開日2006年1月11日 申請日期2004年7月7日 優(yōu)先權日2004年7月7日
發(fā)明者莫道春 申請人:華為技術有限公司