本申請(qǐng)屬于集成電路,尤其涉及一種采樣數(shù)據(jù)的相位差檢測(cè)方法及裝置。
背景技術(shù):
1、目前,在現(xiàn)場(chǎng)可編程邏輯門陣列(field?programmable?gate?array,fpga)芯片內(nèi)部進(jìn)行源同步接口時(shí)序收斂驗(yàn)證時(shí),存在時(shí)序分析模型計(jì)算得到的時(shí)序報(bào)告中的源同步接口的時(shí)鐘與采樣數(shù)據(jù)之間的相位差,與實(shí)際的源同步接口的時(shí)鐘與采樣數(shù)據(jù)之間的相位差存在區(qū)別的現(xiàn)象,使得即便源同步接口時(shí)序收斂了,也會(huì)出現(xiàn)源同步接口接收數(shù)據(jù)失敗的問題。
2、因此,亟需提供一種對(duì)源同步接口的時(shí)鐘和采樣數(shù)據(jù)之間的相位差進(jìn)行檢測(cè)的技術(shù)方案,便于根據(jù)源同步接口的時(shí)鐘和采樣數(shù)據(jù)之間的相位差對(duì)源同步接口接收鎖相環(huán)(phase?locked?loop,pll)的相位進(jìn)行調(diào)整,以提高源同步接口接收數(shù)據(jù)的成功率。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、有鑒于此,本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種采樣數(shù)據(jù)的相位差檢測(cè)方法及裝置,以克服以上現(xiàn)有技術(shù)的問題。
2、第一方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種采樣數(shù)據(jù)的相位差檢測(cè)方法,包括:確定源同步接口輸入的源同步接口時(shí)鐘與本地預(yù)設(shè)相位時(shí)鐘的第一相位差;確定所述源同步接口輸入的源同步接口數(shù)據(jù)與所述本地預(yù)設(shè)相位時(shí)鐘的第二相位差;根據(jù)所述第一相位差及所述第二相位差,確定所述源同步接口時(shí)鐘與所述源同步接口數(shù)據(jù)的目標(biāo)相位差。
3、其中,在一些可選實(shí)施例中,所述確定源同步接口輸入的源同步接口時(shí)鐘與本地預(yù)設(shè)相位時(shí)鐘的第一相位差,包括:基于所述源同步接口時(shí)鐘對(duì)本地時(shí)鐘計(jì)數(shù)器進(jìn)行采樣,得到第一采樣值;根據(jù)所述第一采樣值,確定所述源同步接口時(shí)鐘與所述本地預(yù)設(shè)相位時(shí)鐘的所述第一相位差。
4、其中,在一些可選實(shí)施例中,所述根據(jù)所述第一采樣值,確定所述源同步接口時(shí)鐘與所述本地預(yù)設(shè)相位時(shí)鐘的所述第一相位差,包括:將所述第一采樣值跨時(shí)鐘域處理至所述本地預(yù)設(shè)相位時(shí)鐘的時(shí)鐘域,得到第二采樣值;根據(jù)所述第二采樣值查找第一本地時(shí)鐘相位差表,得到所述第一相位差,所述第一本地時(shí)鐘相位差表用于表征所述第二采樣值與所述第二采樣值關(guān)聯(lián)的所述源同步接口時(shí)鐘相對(duì)于所述本地預(yù)設(shè)相位時(shí)鐘的相位差的對(duì)應(yīng)關(guān)系。
5、其中,在一些可選實(shí)施例中,所述基于所述源同步接口時(shí)鐘對(duì)本地時(shí)鐘計(jì)數(shù)器進(jìn)行采樣,得到第一采樣值,包括:基于本地時(shí)鐘驅(qū)動(dòng)所述本地時(shí)鐘計(jì)數(shù)器進(jìn)行計(jì)數(shù),得到計(jì)數(shù)值;基于所述源同步接口時(shí)鐘對(duì)所述計(jì)數(shù)值進(jìn)行采樣,得到所述第一采樣值。
6、其中,在一些可選實(shí)施例中,所述確定所述源同步接口輸入的源同步接口數(shù)據(jù)與所述本地預(yù)設(shè)相位時(shí)鐘的第二相位差,包括:基于本地時(shí)鐘對(duì)所述源同步接口數(shù)據(jù)進(jìn)行采樣,得到第三采樣值;根據(jù)所述第三采樣值,確定所述源同步接口數(shù)據(jù)與所述本地預(yù)設(shè)相位時(shí)鐘的所述第二相位差。
7、其中,在一些可選實(shí)施例中,所述根據(jù)所述第三采樣值,確定所述源同步接口數(shù)據(jù)與所述本地預(yù)設(shè)相位時(shí)鐘的所述第二相位差,包括:將所述第三采樣值跨時(shí)鐘域處理至所述本地預(yù)設(shè)相位時(shí)鐘的時(shí)鐘域,得到第四采樣值;根據(jù)所述第四采樣值查找第二本地時(shí)鐘相位差表,得到所述第二相位差,所述第二本地時(shí)鐘相位差表用于表征所述第四采樣值與所述第四采樣值關(guān)聯(lián)的所述源同步接口數(shù)據(jù)相對(duì)于所述本地預(yù)設(shè)相位時(shí)鐘的相位差的對(duì)應(yīng)關(guān)系。
8、其中,在一些可選實(shí)施例中,相位差檢測(cè)方法,還包括:根據(jù)所述目標(biāo)相位差,確定源同步接口接收鎖相環(huán)的補(bǔ)償相位;發(fā)送所述補(bǔ)償相位至所述源同步接口接收鎖相環(huán),使得所述源同步接口接收鎖相環(huán)根據(jù)所述補(bǔ)償相位對(duì)源同步接口接收時(shí)鐘進(jìn)行相位補(bǔ)償。
9、第二方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種采樣數(shù)據(jù)的相位差檢測(cè)裝置,所述相位差檢測(cè)裝置包括第一確定模塊、第二確定模塊以及第三確定模塊。第一確定模塊,用于確定源同步接口輸入的源同步接口時(shí)鐘與本地預(yù)設(shè)相位時(shí)鐘的第一相位差;第二確定模塊,用于確定所述源同步接口輸入的源同步接口數(shù)據(jù)與所述本地預(yù)設(shè)相位時(shí)鐘的第二相位差;第三確定模塊,用于根據(jù)所述第一相位差及所述第二相位差,確定所述源同步接口時(shí)鐘與所述源同步接口數(shù)據(jù)的目標(biāo)相位差。
10、第三方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種fpga芯片,包括存儲(chǔ)器;一個(gè)或者多個(gè)處理器,與所述存儲(chǔ)器耦接;一個(gè)或者多個(gè)應(yīng)用程序,其中,所述一個(gè)或者多個(gè)應(yīng)用程序被存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中并被配置為由所述一個(gè)或者多個(gè)處理器執(zhí)行,所述一個(gè)或者多個(gè)應(yīng)用程序被配置用于執(zhí)行如上述第一方面提供的采樣數(shù)據(jù)的相位差檢測(cè)方法。
11、其中,在一些可選實(shí)施例中,所述fpga芯片還包括存儲(chǔ)器,所述存儲(chǔ)器與處理器通過電路或電線連接。
12、其中,在一些可選實(shí)施例中,所述fpga芯片還包括通信接口。
13、第四方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種電子設(shè)備,包括存儲(chǔ)器、fpga芯片以及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中并可在所述fpga芯片上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序,所述fpga芯片執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí),使得電子設(shè)備執(zhí)行如上述第一方面提供的采樣數(shù)據(jù)的相位差檢測(cè)方法。
14、第五方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì),所述計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有程序代碼,所述程序代碼可被處理器調(diào)用執(zhí)行如上述第一方面提供的采樣數(shù)據(jù)的相位差檢測(cè)方法。
15、第六方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,所述計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品在計(jì)算機(jī)設(shè)備上運(yùn)行時(shí),使得所述計(jì)算機(jī)設(shè)備執(zhí)行如上述第一方面提供的采樣數(shù)據(jù)的相位差檢測(cè)方法。
16、本申請(qǐng)?zhí)峁┑姆桨福ㄟ^確定源同步接口輸入的源同步接口時(shí)鐘與本地預(yù)設(shè)相位時(shí)鐘的第一相位差,并確定源同步接口輸入的源同步接口數(shù)據(jù)與本地預(yù)設(shè)相位時(shí)鐘的第二相位差,以及根據(jù)第一相位差及第二相位差,確定源同步接口時(shí)鐘與源同步接口數(shù)據(jù)的目標(biāo)相位差,實(shí)現(xiàn)了將源同步接口時(shí)鐘和源同步接口數(shù)據(jù)的相位同步到本地時(shí)鐘相位,并根據(jù)同步后的相位確定源同步接口時(shí)鐘與源同步接口數(shù)據(jù)的相位差,以便于根據(jù)源同步接口時(shí)鐘與源同步接口數(shù)據(jù)的相位差對(duì)源同步接口接收鎖相環(huán)的相位進(jìn)行調(diào)整,有利于提高源同步接口接收數(shù)據(jù)的成功率。
1.一種采樣數(shù)據(jù)的相位差檢測(cè)方法,其特征在于,包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的相位差檢測(cè)方法,其特征在于,所述確定源同步接口輸入的源同步接口時(shí)鐘與本地預(yù)設(shè)相位時(shí)鐘的第一相位差,包括:
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的相位差檢測(cè)方法,其特征在于,所述根據(jù)所述第一采樣值,確定所述源同步接口時(shí)鐘與所述本地預(yù)設(shè)相位時(shí)鐘的所述第一相位差,包括:
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的相位差檢測(cè)方法,其特征在于,所述基于所述源同步接口時(shí)鐘對(duì)本地時(shí)鐘計(jì)數(shù)器進(jìn)行采樣,得到第一采樣值,包括:
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的相位差檢測(cè)方法,其特征在于,所述確定所述源同步接口輸入的源同步接口數(shù)據(jù)與所述本地預(yù)設(shè)相位時(shí)鐘的第二相位差,包括:
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的相位差檢測(cè)方法,其特征在于,所述根據(jù)所述第三采樣值,確定所述源同步接口數(shù)據(jù)與所述本地預(yù)設(shè)相位時(shí)鐘的所述第二相位差,包括:
7.根據(jù)權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的相位差檢測(cè)方法,其特征在于,還包括:
8.一種采樣數(shù)據(jù)的相位差檢測(cè)裝置,其特征在于,包括:
9.一種fpga芯片,其特征在于,包括:
10.一種計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì),其特征在于,所述計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有程序代碼,所述程序代碼可被處理器調(diào)用執(zhí)行如權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的相位差檢測(cè)方法。