本發(fā)明涉及電子技術(shù)領域,更具體地,涉及一種石英晶體諧振器的加工方法。
背景技術(shù):
由于石英晶體諧振器是一種頻率控制元件,可以提供穩(wěn)定的時鐘信號,是武器裝備的關鍵特性配套元件,而頻率控制技術(shù)的核心元件,影響著武器裝備的性能與可靠性。比如,新一代戰(zhàn)略核導彈慣導平臺在頻率精度上有32年長貯穩(wěn)定度的要求,對此提出了32年老化率1×10-7,推算年老化率應達到1×10-8的水平,這對產(chǎn)品的潔凈度控制及應力控制提出了更高的要求。
目前國內(nèi)外諧振器的生產(chǎn)是均是按工序分步獨立進行的,如圖1所示,現(xiàn)有的諧振器電極制備分兩個步驟進行,分別為鍍膜和微調(diào),鍍膜工序是粗量級的電極制備,微調(diào)工序是精確的電極修調(diào)。該電極制備方式所帶來的問題有兩點,一是電極夾層,二是兩側(cè)電極的不對稱,而無論是電極夾層還是質(zhì)量不對稱,都會帶來頻率的老化響應,這是傳統(tǒng)工藝的弊端,也是技術(shù)瓶頸。同時,由于生產(chǎn)過程的不連續(xù),導致中間環(huán)節(jié)的產(chǎn)品滯留帶來了表面污染,難以實現(xiàn)低老化的要求。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
本發(fā)明提供一種可連續(xù)生產(chǎn)且產(chǎn)品性能穩(wěn)定的石英晶體諧振器的加工方法,以解決現(xiàn)有石英晶體諧振器生產(chǎn)過程不連續(xù)導致的產(chǎn)品壽命短且產(chǎn)品頻率老化響應高的技術(shù)問題。
根據(jù)本發(fā)明的一個方面,提供一種石英晶體諧振器的加工方法,其特征在于,其包括在真空環(huán)境下進行以下步驟:
S1.對待加工的晶片清洗,并對清洗后的晶片進行上片點膠;
S2.對點膠后的晶片,通過在線監(jiān)測濺鍍頻率,進行雙側(cè)濺鍍鍍膜,并對鍍膜后的晶片進行真空退火處理。
在上述方案基礎上優(yōu)選,所述步驟S2進一步包括以下步驟:
S21.對點膠后的晶片進行真空清洗;
S22.對真空清洗后的晶片,通過在線監(jiān)測濺鍍頻率,進行雙側(cè)濺鍍鍍膜,并對鍍膜后的晶片進行真空退火處理;
S23.將鍍膜后的晶片進行真空退火處理,然后對其進行真空密封。
在上述方案基礎上優(yōu)選,所述步驟S22進一步包括:
通過在線監(jiān)測濺鍍頻率,根據(jù)濺鍍頻率與目標頻率之間的差值大小,以調(diào)整濺鍍頻率的大小。
在上述方案基礎上優(yōu)選,所述步驟S22進一步包括:
通過在線監(jiān)測濺鍍頻率,在濺鍍頻率達到目標頻率的正100ppm之前,采用150w功率進行粗調(diào)鍍膜,當濺鍍頻率達到目標頻率的正100ppm后,采用15w功率進行微調(diào)鍍膜,且所述目標頻率為石英晶體諧振器的標稱頻率。
在上述方案基礎上優(yōu)選,所述步驟S23中進一步包括:
所述真空退火的溫度為200℃~240℃,真空退火的時間為1h~2h。
在上述方案基礎上優(yōu)選,所述步驟S22進一步包括在進行雙側(cè)濺鍍鍍膜前,對所述真空清洗后的晶片進行烘烤去水處理,其中,烘烤處理的溫度為150℃-200℃,烘烤時間為2~3小時。
在上述方案基礎上優(yōu)選,所述步驟S21中的真空清洗包括以下步驟:
對點膠后的晶片順序進行真空烘烤、UV清洗、離子轟擊處理。
在上述方案基礎上優(yōu)選,所述UV清洗為采用功率為60%P的UV燈,且清洗時間為30s。
在上述方案基礎上優(yōu)選,所述離子轟擊處理的轟擊功率為300w,且轟擊時間為10s。
在上述方案基礎上優(yōu)選,所述步驟S1中對待加工的晶片清洗具體包括:
將拋光后的待加工晶片,順序進行酸熱浸洗,用去離子水放入超聲波中進行超洗,堿熱浸洗,用去離子水放入超聲波中進行二次超洗,最后使用無水乙醇進行脫水,并在100-120℃下真空烘干。
本申請?zhí)岢鲆环N石英晶體諧振器的加工方法,將所有的加工步驟都設置在真空下,以防止產(chǎn)品加工過程中暴露在空氣中,影響其性能;同時,采用了在線監(jiān)測濺鍍頻率以實現(xiàn)電極制備,將兩次鍍膜合成一次,縮減加工工藝同時提高加工效率。
附圖說明
圖1為背景技術(shù)中的現(xiàn)有石英晶體諧振器的加工方法的流程圖;
圖2為本發(fā)明的一種石英晶體諧振器的加工方法的流程圖。
具體實施方式
下面結(jié)合附圖和實施例,對本發(fā)明的具體實施方式作進一步詳細描述。以下實施例用于說明本發(fā)明,但不用來限制本發(fā)明的范圍。
請參閱圖2所示,本發(fā)明提供了一種石英晶體諧振器的加工方法,其包括以下步驟:
將拋光后的晶片作為待加工的晶片,進行晶片清洗,以去除晶片表面的雜質(zhì)。
其中,對晶片清洗具體包括一下幾個步驟:
第一步,將待加工的晶片放入溫度為80℃的酸溶液中,浸泡沖洗15min,以去除待加工的晶片表面金屬及器氧化物;優(yōu)選的,酸溶液為硫酸;
第二步,將第一步得到的晶片放入超聲波中用離子水進行超洗,以去除晶片表面的酸液和酸液清洗后的雜質(zhì);
第三步,為了進一步去除晶體表面的油脂并中和酸液,本發(fā)明還需要將晶片用堿性溶液進行浸泡清洗,優(yōu)選的,堿液優(yōu)選為氫氧化鈉,清洗的時間為15min,堿液的溫度為80℃;
第四步,將堿液清洗后的晶片放入超聲波中用離子水進行沖洗,以去除晶片表面的堿液殘留物;
第五步,為了進一步的去除晶片表面的雜質(zhì)顆粒,本發(fā)明還可以將堿液清洗后的晶片用離子水進行超聲波二次超洗,以保證晶片表面無雜質(zhì),提高諧振器的性能;
由于清洗后的晶片表面仍然殘存少量的水,本發(fā)明還需要將二次超洗的晶片用無水乙醇進行超聲波清洗,然后通過不銹鋼熱板在200℃下烘烤5min,以保證晶片表面無任何雜質(zhì)水分,保證上片點膠效果。
將清洗后的晶片放入帶狀支架的兩金屬片之間,讓帶槽孔的兩金屬片緊緊夾住石英片,然后在電極和金屬片接觸處涂上一層導電膠,使電極膜通過邊緣上的導電膠與金屬片接觸而產(chǎn)生電連接,點膠后,將晶片用無水乙醇進行超聲波清洗,以去除晶片表面的灰塵顆粒并脫水,最后,將處理后的晶片通過烘烤以固定導電膠與晶片之間的相對位置。
由于點膠烘烤后的晶片表面存在大量的OH-,OH-對水的親和力很強,會導致晶片表面吸附大量水分子和少量CO2,而這部分氣體與表面結(jié)合力不牢,屬于物理吸附和弱化學吸附,所以,本發(fā)明需要將點膠烘烤后的晶片放置在真空環(huán)境下,以加熱到150℃~200℃左右時,加熱時間為2~3小時,優(yōu)選加熱溫度為200℃,從而使其表面的水分子和少量CO2在幾分鐘內(nèi)便可以從晶片表面被解吸。
而真空烘烤后的晶片表面仍然存在碳氫化合物和有機物,為了去除晶片表面的碳氫化合物和有機物,本發(fā)明還將真空烘烤后的晶片進行UV清洗,本發(fā)明的UV清洗是通過紫外光和氧原子作用在晶片表面,以將晶片表面的碳氫化合物分解合成為CO2↑和H2O↑,通過抽高真空,可使污染物逸出,該過程中,UV清洗所使用的UV燈功率為60%p,清洗的時間為30s,該過程主要控制參數(shù)為工藝氣體的流量以確保其處理效果。
最后,采用惰性離子轟擊最終晶體的清潔表面,可使晶片表面的潔凈度進一步提高,達到原子級的清潔表面,其中本發(fā)明的離子轟擊的時間為10s,所使用的轟擊功率為300w。主要控制參數(shù)為工藝氣體流量、轟擊功率。
其中,對晶片表面的真空清洗效果的檢測,可以通過俄歇電子能譜儀來檢測表面的有機元素殘留,該檢測方法比較直觀。對于潔凈度等級高的晶片表面,在相同的鍍膜工藝條件下,其牢固度必然很好,因此可以通過檢測電極膜的牢固度來評價清洗技術(shù)與清洗工藝參數(shù)的有效性。對電極膜牢固度的測量可以采用百格法來測量表面結(jié)合力,從而評估清洗技術(shù)的有效性,參數(shù)設置的合理性。
以下將詳細介紹本發(fā)明的電極制備和封裝過程。
將上述離子轟擊后的晶片,放置在真空環(huán)境下,通過兩個用于濺鍍的產(chǎn)品對稱設置在晶片兩側(cè),同時,對晶片的兩側(cè)進行濺鍍處理,濺鍍過程中,通過采用250C網(wǎng)絡分析儀對產(chǎn)品頻率進行實時在線監(jiān)測,控制用于濺鍍的產(chǎn)品濺鍍頻率,以保證晶片的頻率準確性。具體操作方法為,利用控制軟件將頻率監(jiān)測系統(tǒng)與濺鍍系統(tǒng)相關聯(lián),當頻率距目標頻率較遠時,濺鍍系統(tǒng)采用較大的濺鍍功率進行粗調(diào)鍍膜,具體為當濺鍍系統(tǒng)的濺鍍功率大于石英晶體諧振器的標稱頻率的100ppm時,采用150w功率的濺射系統(tǒng)對晶片進行粗調(diào)鍍膜;當頻率接近目標頻率時,濺鍍系統(tǒng)自動將建設功率調(diào)小,采用15w功率的濺射系統(tǒng)對晶片進行微調(diào)鍍膜。從而將傳統(tǒng)工藝中鍍膜與微調(diào)合二為一,從根本上解決電極膜夾層和質(zhì)量不對稱的問題,保證了頻率的精確調(diào)整。
優(yōu)選的,本發(fā)明基于消除電極膜內(nèi)應力與熱應力的初衷,在原材料的層面上選擇了穩(wěn)定性高、導電性優(yōu)良的金屬材料作為電極膜,而在眾多金屬材料中,通常采用的是金屬銀,但對于更高穩(wěn)定性要求的產(chǎn)品,應采用金屬金,并且金的純度最好為99.999%,從而有效降低電機模內(nèi)的應力作用,提高其使用壽命。
最后,將鍍膜后的產(chǎn)品進行真空退火,以去除濺鍍過程產(chǎn)生的晶片與電極膜間應力,優(yōu)選的,退火的溫度為200℃~240℃,時間為1h~2h條件下,通過設置退火曲線,可有效去除晶體內(nèi)部應力,且應力是否去除可采用臺階儀對晶片表面的翹曲度進行測量。
最后,將通過手套箱實現(xiàn)壓封機與真空退火爐的連接,避免了產(chǎn)品暴露在空氣中,可通過向手套箱內(nèi)持續(xù)充入高純氮氣來保證產(chǎn)品與外界環(huán)境隔絕。
本申請?zhí)岢鲆环N石英晶體諧振器的加工方法,將所有的加工步驟都設置在真空下,實現(xiàn)真空連續(xù)生產(chǎn),以防止產(chǎn)品加工過程中暴露在空氣中,影響其性能;同時,采用了在線監(jiān)測濺鍍頻率以實現(xiàn)電極制備,將兩次鍍膜合成一次,不僅可以縮減加工工藝、提高加工效率,而且排除電極夾層及兩側(cè)電極的不對稱帶來的頻率老化響應的問題。
與現(xiàn)有技術(shù)相比較,本發(fā)明具備以下優(yōu)點:
1、電極制備一次完成消除了電極膜夾層及質(zhì)量不對稱性造成的污染及應力影響,提高了產(chǎn)品的可靠性,日老化率優(yōu)于1×10-10,年老化率優(yōu)于1×10-8。
2、采用了三種真空清洗技術(shù),徹底去除了晶片表面的多余物,提高了電極膜與晶片的結(jié)合力并提高了產(chǎn)品的頻率穩(wěn)定性,即提高了老化水平。
最后,本申請的方法僅為較佳的實施方案,并非用于限定本發(fā)明的保護范圍。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所作的任何修改、等同替換、改進等,均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。