振蕩器的校準(zhǔn)裝置及校準(zhǔn)方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種振蕩器的校準(zhǔn)裝置及校準(zhǔn)方法，其中該振蕩器包括相位鎖存裝置，用于追蹤由該振蕩器產(chǎn)生的第一參考時(shí)鐘直至該第一參考時(shí)鐘相位對(duì)齊于反饋時(shí)鐘，以及用于接著追蹤由該振蕩器產(chǎn)生的第二參考時(shí)鐘直至該第二參考時(shí)鐘與該反饋時(shí)鐘的相位差為穩(wěn)定相位差，其中該反饋時(shí)鐘是通過(guò)以除數(shù)對(duì)該相位鎖存裝置的輸出振蕩信號(hào)進(jìn)行分頻處理而產(chǎn)生，該第二參考時(shí)鐘的頻率不同于該第一參考時(shí)鐘的頻率且兩者間具有頻率差；校正電路，用于將該除數(shù)校正至更新后除數(shù)以減少該穩(wěn)定相位差；以及校準(zhǔn)電路，用于依據(jù)該更新后除數(shù)校準(zhǔn)該振蕩器的該振蕩頻率，該更新后除數(shù)與該頻率差對(duì)應(yīng)。本發(fā)明實(shí)施例能夠?qū)φ袷幤鞯恼袷庮l率進(jìn)行校準(zhǔn)，使振蕩器的特性曲線線性化。
【專利說(shuō)明】振蕩器的校準(zhǔn)裝置及校準(zhǔn)方法
【【技術(shù)領(lǐng)域】】
[0001]本發(fā)明是有關(guān)于振蕩器的校準(zhǔn)裝置及校準(zhǔn)方法，尤其是關(guān)于一種可對(duì)振蕩器的特性曲線進(jìn)行校準(zhǔn)的裝置以及相關(guān)方法。
【【背景技術(shù)】】
[0002]在無(wú)線通信系統(tǒng)中，振蕩器用于產(chǎn)生具有所需振蕩頻率的振蕩時(shí)鐘信號(hào)。通常，振蕩器的振蕩頻率范圍可以通過(guò)兩個(gè)方面予以評(píng)估:動(dòng)態(tài)范圍(DR)及靜態(tài)范圍(SR)。理想的振蕩器動(dòng)態(tài)范圍與靜態(tài)范圍可參見圖1，圖1所示為一理想振蕩器所具有的多條特性曲線的示意圖。振蕩器可以依據(jù)自動(dòng)頻率控制(automatic frequency control, AFC)碼(例如0~8191)以及靜態(tài)頻率控制碼(CapID碼)(例如0~127)被控制以產(chǎn)生不同的振蕩頻率。具體的，位于中心的AFC碼用于判定振蕩器的靜態(tài)范圍，以及每一個(gè)AFC碼用于控制振蕩器以產(chǎn)生所需的振蕩頻率。理想狀態(tài)下，對(duì)于每一個(gè)CapID碼來(lái)說(shuō)，AFC碼與振蕩頻率之間的關(guān)系是線性的，即圖1中所示的多條特性曲線是直線的。但是在實(shí)際應(yīng)用中，AFC碼與振蕩器的振蕩頻率之間的關(guān)系并非是線性的，從而圖1所示的代表了 AFC碼與振蕩頻率之間的轉(zhuǎn)移函數(shù)的特性曲線實(shí)際應(yīng)用中應(yīng)是曲線狀的而并非是直線狀的。因此，該無(wú)線通信系統(tǒng)可能沒有足夠的裕量(margin)以追蹤溫度變換與晶體老化(crystal aging),以及沒有足夠的裕量以在制造過(guò)程中(例如焊錫過(guò)程中)初始化晶體偏移與靜態(tài)誤差。此外，使用傳統(tǒng)的芯片外(off-chip)手段以測(cè)試振蕩器的動(dòng)態(tài)范圍與動(dòng)態(tài)范圍不僅會(huì)消耗時(shí)間還會(huì)產(chǎn)生額外的成本。因此，在本【技術(shù)領(lǐng)域】，亟需一種有效以及低成本的方式以測(cè)試及校準(zhǔn)振蕩器的SR 與 DR0
【
【發(fā)明內(nèi)容】
】
[0003]本發(fā)明的目的之一在于提供一種校準(zhǔn)裝置及校準(zhǔn)方法以校準(zhǔn)振蕩器的特性曲線。
[0004]根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，提供一種校準(zhǔn)裝置，用于校準(zhǔn)一振蕩器的振蕩頻率，該校準(zhǔn)裝置包含有:相位鎖存裝置，用于追蹤由該振蕩器產(chǎn)生的第一參考時(shí)鐘直至該第一參考時(shí)鐘相位對(duì)齊于一反饋時(shí)鐘，以及用于接著追蹤由該振蕩器產(chǎn)生的第二參考時(shí)鐘直至該第二參考時(shí)鐘與該反饋時(shí)鐘的相位差為一穩(wěn)定相位差，其中該反饋時(shí)鐘是通過(guò)以一除數(shù)對(duì)該相位鎖存裝置的輸出振蕩信號(hào)進(jìn)行分頻處理而產(chǎn)生，該第二參考時(shí)鐘的頻率不同于該第一參考時(shí)鐘的頻率且兩者間具有一頻率差；校正電路，用于將該除數(shù)校正至一更新后除數(shù)以減少該第二參考時(shí)鐘與該反饋時(shí)鐘之間的該穩(wěn)定相位差；以及校準(zhǔn)電路，用于依據(jù)該更新后除數(shù)校準(zhǔn)該振蕩器的該振蕩頻率，該更新后除數(shù)與該頻率差對(duì)應(yīng)。
[0005]根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例，提供一種校準(zhǔn)方法，用于校準(zhǔn)一振蕩器的振蕩頻率，該校準(zhǔn)方法包含:控制相位鎖存裝置追蹤由該振蕩器產(chǎn)生的第一參考時(shí)鐘直至該第一參考時(shí)鐘相位對(duì)齊于一反饋時(shí)鐘，以及接著追蹤由該振蕩器產(chǎn)生的第二參考時(shí)鐘直至該第二參考時(shí)鐘與該反饋時(shí)鐘的相位差為一穩(wěn)定相位差，其中該反饋時(shí)鐘是通過(guò)以一除數(shù)對(duì)該相位鎖存裝置的輸出振蕩信號(hào)進(jìn)行分頻處理而產(chǎn)生，該第二參考時(shí)鐘的頻率不同于該第一參考時(shí)鐘的頻率且兩者間具有一頻率差；將該除數(shù)校正至一更新后除數(shù)以減少該第二參考時(shí)鐘與該反饋時(shí)鐘之間的該穩(wěn)定相位差；以及依據(jù)該更新后除數(shù)校準(zhǔn)該振蕩器的該振蕩頻率，該更新后除數(shù)與該頻率差對(duì)應(yīng)。
[0006]本發(fā)明實(shí)施例的校準(zhǔn)裝置及校準(zhǔn)方法可對(duì)振蕩器的振蕩頻率進(jìn)行校準(zhǔn)，使振蕩器的特性曲線線性化。
【【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】】
[0007]圖1所示為一理想振蕩器所具有的多條特性曲線的示意圖；
[0008]圖2為依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的校準(zhǔn)裝置200的電路示意圖；
[0009]圖3為依據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的校準(zhǔn)裝置300的電路示意圖；
[0010]圖4所示為依據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的校準(zhǔn)裝置200或校準(zhǔn)裝置300所執(zhí)行的校準(zhǔn)方法的流程示意圖；
[0011]圖5為依據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的對(duì)應(yīng)于不同增益下的計(jì)數(shù)值Ne的示意圖。
【【具體實(shí)施方式】】
[0012]在說(shuō)明書及后續(xù)的權(quán)利要求當(dāng)中使用了某些詞匯來(lái)指稱特定的元件。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)可理解，制造商可能會(huì)用不同的名詞來(lái)稱呼同樣的元件。本說(shuō)明書及后續(xù)的權(quán)利要求并不以名稱的差異來(lái)作為區(qū)分元件的方式，而是以元件在功能上的差異來(lái)作為區(qū)分的準(zhǔn)貝U。在通篇說(shuō)明書及后續(xù)的權(quán)利要求項(xiàng)當(dāng)中所提及的「包含」為一開放式的用語(yǔ)，故應(yīng)解釋成「包含但不限定于」。另外，「耦接」一詞在本文中應(yīng)解釋為包含任何直接及間接的電氣連接手段。因此，若文中描述第一裝置耦接于第二裝置，則代表該第一裝置可直接電氣連接于該第二裝置，或通過(guò)其他裝置或連接手段間接地電氣連接至該第二裝置。
[0013]請(qǐng)參見圖2，圖2為依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的校準(zhǔn)裝置200的示意圖。該校準(zhǔn)裝置200用于校準(zhǔn)振蕩器202的振蕩頻率，該振蕩器202同樣示意于圖2中。該振蕩器202可以是一數(shù)控晶體振蕩器、壓控晶體振蕩器、陶瓷振蕩器、通過(guò)傳導(dǎo)性元件或者電感性元件實(shí)現(xiàn)的共振器、或者弛張振蕩器(relaxation oscillator).該校準(zhǔn)裝置200包含相位鎖存裝置204、校正電路206、以及校準(zhǔn)電路208。需要注意的是，本實(shí)施例的校準(zhǔn)裝置200可以通過(guò)一模擬電路予以實(shí)現(xiàn)，此時(shí)該振蕩器202為壓控晶體振蕩器，該相位鎖存裝置204為模擬相位回路，以及該校正電路206通過(guò)一模擬或數(shù)字校正電路予以實(shí)現(xiàn)。該相位鎖存裝置204用于追蹤由振蕩器202產(chǎn)生的第一參考時(shí)鐘Srefl直至反饋時(shí)鐘Sfb與該第一參考時(shí)鐘Srefl的相位對(duì)齊為止，接著該相位鎖存裝置204用于追蹤由振蕩器202產(chǎn)生的第二參考時(shí)鐘Sref2直至該第二參考時(shí)鐘Sref2與該反饋時(shí)鐘Sfb之間的相位差為一穩(wěn)定的相位誤差，其中該反饋時(shí)鐘Sfb是通過(guò)使用一除數(shù)N對(duì)相位鎖存裝置204的輸出振蕩信號(hào)Sosc進(jìn)行分頻而得到。該校正電路206用于將除數(shù)N校正至一更新后除數(shù)Nu以降低第二參考時(shí)鐘Sref2與該反饋時(shí)鐘Sfb之間的相位差。該校準(zhǔn)電路208用于至少依據(jù)該更新后除數(shù)Nu來(lái)校正振蕩器202的振蕩頻率。此外，該第二參考時(shí)鐘Sref2是通過(guò)在該振蕩器202產(chǎn)生該第一參考時(shí)鐘Srefl時(shí)依據(jù)一預(yù)定值來(lái)改變振蕩器202的一控制信號(hào)Scl予以產(chǎn)生 。
[0014]該相位鎖存裝置204包含一偵測(cè)電路2042，一可控振蕩器2044，以及一反饋電路2046。該偵測(cè)電路2042用于偵測(cè)相應(yīng)的參考時(shí)鐘(例如Srefl或Sref2)與該反饋時(shí)鐘Sfb之間的相位誤差以產(chǎn)生一控制信號(hào)Sc2。該可控振蕩器2044用于依據(jù)該控制信號(hào)Sc2產(chǎn)生輸出振蕩信號(hào)Sosc。該反饋電路2046用于依據(jù)輸出振蕩信號(hào)Sosc以及除數(shù)N產(chǎn)生反饋時(shí)鐘Sfb至該偵測(cè)電路2042。該偵測(cè)電路2042包含一相位/頻率偵測(cè)器(PFD) 2042a，一電荷泵電路2042b，以及一環(huán)路濾波器2042c，其中該相位/頻率偵測(cè)器(PFD) 2042a、電荷泵電路2042b以及環(huán)路濾波器2042c的設(shè)置如圖2所示。
[0015]該校正電路206包含一相位偵測(cè)器2062，一控制電路2064，一計(jì)數(shù)電路2066，一邏輯電路2068以及一調(diào)制電路2070。該相位偵測(cè)器2062用于偵測(cè)上述穩(wěn)定的相位差以產(chǎn)生一偵測(cè)輸出Sd。該控制電路2064用于依據(jù)一增益適應(yīng)性地校正該偵測(cè)輸出Sd以產(chǎn)生一校正后輸出信號(hào)Sad，其中如圖2所示，該控制電路2064包含一適應(yīng)性控制器2064a以及一乘法器2064b。該計(jì)數(shù)電路2066用于依據(jù)該校正后輸出信號(hào)Sad產(chǎn)生一計(jì)數(shù)值Ne。該邏輯電路2068用于依據(jù)該計(jì)數(shù)值Ne以及一分?jǐn)?shù)Nfrac產(chǎn)生一校正后計(jì)數(shù)值Nac。該調(diào)制電路2070用于依據(jù)該校正后計(jì)數(shù)值Nac產(chǎn)生一校正信號(hào)Sa以更新該除數(shù)N至更新后除數(shù)Nu，以用于降低第二參考時(shí)鐘Sref2與反饋時(shí)鐘Sfb之間的相位差。于本實(shí)施例中，該邏輯電路2068為一加法電路，用于將該計(jì)數(shù)值Ne與分?jǐn)?shù)Nfrac相加以產(chǎn)生該校正后計(jì)數(shù)值Nac。因此，該更新后除數(shù)Nu的值與除數(shù)N、計(jì)數(shù)值Ne與該分?jǐn)?shù)Nfrac的總和相等，即Nu=N+Nc+Nfrac。
[0016]在本實(shí)施例中，振蕩器202的調(diào)諧范圍可以受控于多個(gè)CapID碼以及多個(gè)AFC碼(經(jīng)由該控制信號(hào)Scl )，其中振蕩器202的動(dòng)態(tài)范圍(例如子帶頻率范?取決于其中的一個(gè)CapID碼以及多個(gè)AFC碼，以及振蕩器202的靜態(tài)范圍取決于每一子帶的中心AFC碼。當(dāng)振蕩器被制造時(shí)，其提供的AFC碼與振蕩器202的振蕩頻率之間的關(guān)系是非線性的，從而振蕩器202需要得到校準(zhǔn)以使特性曲線線性化。依據(jù)圖2所示的設(shè)置，制造后的振蕩器202用于依據(jù)多個(gè)AFC碼以及一 CapID碼產(chǎn)生該第二參考時(shí)鐘Sref2。接著，該相位鎖存裝置204追蹤該第二參考時(shí)鐘Sref2直至該第二參考時(shí)鐘Sref2與反饋時(shí)鐘Sfb之間的相位差為穩(wěn)定的相位差，以及接著該校正電路206校正除數(shù)N以降低該穩(wěn)定的相位差。接著該校準(zhǔn)電路208依據(jù)更新后除數(shù)Nu校準(zhǔn)振蕩器的202的振蕩頻率。具體地，該校準(zhǔn)裝置200獲取振蕩器202的特性曲線，以及校準(zhǔn)電路208接著用于校準(zhǔn)該特性曲線以使該特性曲線線性化(可參見圖1所示的理想的特性曲線)。需要注意的是，校準(zhǔn)電路208所執(zhí)行的校準(zhǔn)/預(yù)矯正操作可以通過(guò)軟件或者固件予以完成。此外，在另一實(shí)施例中，在獲取振蕩器202的特性曲線后，校準(zhǔn)電路208預(yù)矯正反饋電路2046的除數(shù)N而不是直接對(duì)振蕩器202進(jìn)行校準(zhǔn)，以對(duì)振蕩器202的特性曲線進(jìn)行校準(zhǔn)，該校準(zhǔn)方式同樣屬于本發(fā)明所保護(hù)的范疇之內(nèi)。此夕卜，該由校準(zhǔn)電路208所執(zhí)行的校準(zhǔn)/預(yù)矯正操作可以通過(guò)軟件或者固件來(lái)完成。
[0017]于本發(fā)明的另一實(shí)施例中，校準(zhǔn)裝置可以是一全數(shù)字電路，如圖3所示。圖3為依據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的校準(zhǔn)裝置300的電路示意圖。該校準(zhǔn)裝置300用于校準(zhǔn)數(shù)控晶體振蕩器(DCXO) 302的振蕩頻率，其中該數(shù)控晶體振蕩器302也示于圖3中。該校準(zhǔn)裝置300包含一數(shù)字相位鎖存裝置304、一校正電路306，、以及一校準(zhǔn)電路308。該相位鎖存裝置304用于追蹤由振蕩器302所產(chǎn)生的第一參考時(shí)鐘Srefl’直至反饋時(shí)鐘Sfb’與該第一參考時(shí)鐘SrefT相位對(duì)齊，接著該相位鎖存裝置304用于追蹤振蕩器302產(chǎn)生的第二參考時(shí)鐘Sref2’直至該第二參考時(shí)鐘Sref2’與反饋時(shí)鐘Sfb’之間的相位差為一穩(wěn)定相位差，其中該反饋時(shí)鐘Sfb’是通過(guò)以一除數(shù)N’對(duì)相位鎖存裝置304的輸出振蕩信號(hào)Sosc’進(jìn)行分頻處理而得到。校正電路306用于校正除數(shù)N’至更新后除數(shù)Nu’以降低第二參考時(shí)鐘Sref2^與反饋時(shí)鐘Sfb’之間的穩(wěn)定相位差。而校準(zhǔn)電路308則用于至少依據(jù)該更新后除數(shù)Nu’校準(zhǔn)振蕩器302的振蕩頻率。此外，該第二參考時(shí)鐘Sref2’是當(dāng)振蕩器302產(chǎn)生該第一參考時(shí)鐘SrefT時(shí)通過(guò)依據(jù)一預(yù)定值以改變一控制信號(hào)Scl’而產(chǎn)生。
[0018]相位鎖存裝置304包含一偵測(cè)電路3042，一可控?cái)?shù)字振蕩器3044，以及一反饋電路3046。該偵測(cè)電路3042包含一時(shí)間至數(shù)字轉(zhuǎn)換器(TDC) 3042a和一數(shù)字濾波器3042b。該時(shí)間至數(shù)字轉(zhuǎn)換器3042a用于轉(zhuǎn)換相應(yīng)的參考時(shí)鐘(例如SrefT或Sref2’)與反饋時(shí)鐘Sfb’之間的相位差(即時(shí)間差)以產(chǎn)生一數(shù)字相位差Sd’。該數(shù)字濾波器3042b用于依據(jù)該數(shù)字相位差Sd’產(chǎn)生控制信號(hào)Sc2’。該可控?cái)?shù)字振蕩器3044用于依據(jù)該控制信號(hào)Sc2’產(chǎn)生輸出振蕩信號(hào)Socs’。該反饋電路3046用于依據(jù)該輸出振蕩信號(hào)Socs’與除數(shù)N’產(chǎn)生該反饋時(shí)鐘Sfb’至該偵測(cè)電路3042。
[0019]校正電路306包含一控制電路3064、一計(jì)數(shù)電路3066、一邏輯電路3068以及一調(diào)制電路3070。該控制電路3064用于通過(guò)一增益適應(yīng)性地校正該數(shù)字相位差Sd’以產(chǎn)生一校正后輸出信號(hào)Sad’，如圖3所示，該控制電路3064進(jìn)一步包含一適應(yīng)性控制器3064a與一乘法器3064b。該計(jì)數(shù)電路3066用于依據(jù)該校正后輸出信號(hào)Sad’產(chǎn)生一計(jì)數(shù)值Ne’。該邏輯電路3068用于依據(jù)該計(jì)數(shù)值Ne’與一分?jǐn)?shù)Nfrac’產(chǎn)生一校正后計(jì)數(shù)值Nac’。該調(diào)制電路3070用于產(chǎn)生一校正信號(hào)Sa’以更新除數(shù)N’至更新后除數(shù)Nu’，從而以依據(jù)該校正后計(jì)數(shù)值Nac’降低第二參考時(shí)鐘Sref2’與反饋時(shí)鐘Sfb’之間的相位差。于本實(shí)施例中，該邏輯電路3068為一加法電路，用于將計(jì)數(shù)值Ne’與分?jǐn)?shù)Nfrac’相加以產(chǎn)生該校正后計(jì)數(shù)值Nac’。因此，該更新后除數(shù)Nu’的值與除數(shù)N’、計(jì)數(shù)值Ne’與該分?jǐn)?shù)Nfrac’的總和相等，即 Nu，=N，+Ne，+Nfrac，。
[0020]相對(duì)于校準(zhǔn)裝置200，校準(zhǔn)裝置300省略了校準(zhǔn)裝置200的相位偵測(cè)器2062，因?yàn)橄辔绘i存裝置304就相當(dāng)于一全數(shù)字相位鎖存回路。因此，該時(shí)間至數(shù)字轉(zhuǎn)換器3042a可以被數(shù)字相位鎖存裝置304與校正電路306共同使用。需要注意的是，本實(shí)施例中校準(zhǔn)裝置300的運(yùn)作類似于上一實(shí)施例中校準(zhǔn)裝置200的運(yùn)作，因此為簡(jiǎn)潔起見，在此不再對(duì)校準(zhǔn)裝置300的運(yùn)作進(jìn)行贅述。
[0021]進(jìn)一步請(qǐng)參見圖4，圖4所示為依據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的校準(zhǔn)裝置200或校準(zhǔn)裝置300所執(zhí)行的校準(zhǔn)方法的流程示意圖。為簡(jiǎn)潔起見，在下文中，校準(zhǔn)方法400將結(jié)合校準(zhǔn)裝置200 一起進(jìn)行描述。需要了解的是，圖4所示流程中的各步驟并非一定要嚴(yán)格按照下述的順序進(jìn)行以及并非一定是要連續(xù)執(zhí)行，即前后步驟中間還能插入其他的步驟，其同樣能夠達(dá)到大致相同的效果。本實(shí)施例的校準(zhǔn)方法400包含:
[0022]步驟402，使用一 CapID碼以選擇振蕩器202的一子帶；
[0023]步驟404，使用一 AFC碼以設(shè)置振蕩器202的一振蕩頻率(即第一參考時(shí)鐘Srefl)；
[0024]步驟406，控制相位鎖存裝置204運(yùn)作于第一模式(即類型2)，以追蹤振蕩器202產(chǎn)生的該第一參考時(shí)鐘Srefl直至該第一參考時(shí)鐘Srefl的相位對(duì)齊于反饋時(shí)鐘Sfb的相位；
[0025]步驟408，控制相位鎖存裝置204運(yùn)作于第二模式(即類型I)；
[0026]步驟410，開啟校準(zhǔn)電路206 ；[0027]步驟412，獲取一初始計(jì)數(shù)值Ni ；
[0028]步驟414，控制上述AFC碼增加一預(yù)定值(或預(yù)定碼)，以使振蕩器202將第一參考時(shí)鐘Srefl變至第二參考時(shí)鐘Sref2 ；
[0029]步驟416，使用類型I的相位鎖存裝置204以追蹤第二參考時(shí)鐘Sref2直至該第二參考時(shí)鐘Sref2與反饋時(shí)鐘Sfb之間的相位差為一穩(wěn)定相位差；
[0030]步驟418，依據(jù)該第二參考時(shí)鐘Sref2與反饋時(shí)鐘Sfb之間的穩(wěn)定相位差對(duì)計(jì)數(shù)值Ne進(jìn)行計(jì)數(shù)；
[0031]步驟420，產(chǎn)生更新后除數(shù)Nu以對(duì)反饋電路2046的除數(shù)N進(jìn)行更新，以依據(jù)計(jì)數(shù)值Ne與分?jǐn)?shù)Nfrac降低該第二參考時(shí)鐘Sref2與反饋時(shí)鐘Sfb之間的相位差；
[0032]步驟422，當(dāng)?shù)诙⒖紩r(shí)鐘Sref2與反饋時(shí)鐘Sfb之間的相位差大致上等于零時(shí)，停止對(duì)計(jì)數(shù)值Ne的計(jì)數(shù)；
[0033]步驟424，依據(jù)除數(shù)N、計(jì)數(shù)值Ne以及分?jǐn)?shù)Nfrac (即根據(jù)更新后的除數(shù)Nu)，計(jì)算振蕩器202的當(dāng)前振蕩頻率的在單位為每百萬(wàn)分之一(parts per million,ppm)內(nèi)的頻率變化；
[0034]步驟426，判定是否選定子帶的所有AFC碼均已完成計(jì)算，若否，執(zhí)行步驟404，若是，執(zhí)行步驟428 ；
[0035]步驟428，校準(zhǔn)振蕩器202的AFC碼以使對(duì)應(yīng)于CapID碼的特性曲線線性化。
[0036]根據(jù)圖4，校準(zhǔn)方法400可用于校準(zhǔn)對(duì)應(yīng)于振蕩器202的一個(gè)CapID碼的特性曲線，但是這并非是對(duì)本發(fā)明的限制。在系統(tǒng)需求時(shí)，該校準(zhǔn)方法400還可以用于校準(zhǔn)振蕩器202的所有特性曲線。例如在上述步驟402中，一 CapID碼可輸入至振蕩器202中以選擇振蕩器202的所需的子帶，其中該CapID碼可以對(duì)振蕩器內(nèi)的電容陣列進(jìn)行控制從而以選擇所需的子帶，此外，對(duì)于振蕩器202本身來(lái)說(shuō)，可使用多個(gè)AFC碼來(lái)定義所選擇的振蕩器202子帶所對(duì)應(yīng)的動(dòng)態(tài)范圍。為了校準(zhǔn)對(duì)應(yīng)于上述CapID碼的特性曲線，振蕩器202的每一AFC碼可以被校準(zhǔn)。因此，在上述步驟404中，一 AFC碼(即該控制信號(hào)Scl)被輸入至振蕩器202以設(shè)置振蕩器202的振蕩頻率。需要注意的是，在步驟404中，選取AFC碼的順序可以是從最小值的AFC碼到最大值的AFC碼，或者從最大值的AFC碼到最小值的AFC碼，或者以任意的順序來(lái)進(jìn)行選取。
[0037]當(dāng)該CapID碼與第一個(gè)AFC碼輸入至振蕩器202后，該振蕩器202產(chǎn)生對(duì)應(yīng)該CapID碼與第一 AFC碼的第一參考時(shí)鐘Srefl。接著于步驟406中，相位鎖存裝置204被控制以運(yùn)作在第一模式(即類型2)下，以追蹤振蕩器202產(chǎn)生的該第一參考時(shí)鐘Srefl直至該第一參考時(shí)鐘Srefl與反饋時(shí)鐘Sfb的相位對(duì)齊為止。需要注意的是，當(dāng)相位鎖存裝置204運(yùn)作于類型2以及當(dāng)該第一參考時(shí)鐘Srefl與反饋時(shí)鐘Sfb相位對(duì)齊時(shí)，相位/頻率偵測(cè)器2042a將不會(huì)輸出偵測(cè)信號(hào)，其原因在于當(dāng)?shù)谝粎⒖紩r(shí)鐘Srefl的相位對(duì)齊于反饋時(shí)鐘Sfb時(shí)，該偵測(cè)信號(hào)的脈沖寬度實(shí)質(zhì)上等于零。
[0038]接著在步驟408中，相位鎖存裝置204被控制以運(yùn)作在第二模式(即類型I)下，需要注意的是，當(dāng)相位鎖存裝置204運(yùn)作于類型I時(shí)，該相位鎖存裝置204僅會(huì)鎖存反饋時(shí)鐘Sfb的振蕩頻率至等于第二參考時(shí)鐘Sref2的振蕩頻率，而不會(huì)鎖存第二參考時(shí)鐘Sref2的相位至等于反饋時(shí)鐘Sfb的相位。換句話說(shuō)，當(dāng)該相位鎖存裝置204處于穩(wěn)定的類型I的狀態(tài)下時(shí)，第二參考時(shí)鐘Sref2的相位不會(huì)對(duì)齊于反饋時(shí)鐘Sfb的相位。需要注意的是，當(dāng)相位鎖存裝置204被控制運(yùn)作在第一模式下時(shí)，該相位鎖存裝置204可當(dāng)作一類型2相位鎖存回路，以及當(dāng)相位鎖存裝置204被控制運(yùn)作在第二模式下時(shí)，該相位鎖存裝置204可當(dāng)作一類型I相位鎖存回路。
[0039]此外，需要注意的是，盡管在相位鎖存裝置204運(yùn)作于類型2時(shí)該反饋時(shí)鐘Sfb的相位已被鎖存至對(duì)齊于該第一參考時(shí)鐘Srefl的相位，當(dāng)相位鎖存裝置從類型2轉(zhuǎn)換至類型I時(shí)，反饋時(shí)鐘Sfb的相位與第一參考時(shí)鐘Srefl的相位間仍會(huì)產(chǎn)生相位噪聲。因此，當(dāng)在步驟410中校正電路206被開啟時(shí)，該計(jì)數(shù)電路2066首先用于依據(jù)第一參考時(shí)鐘Srefl與反饋時(shí)鐘Sfb之間的相位差對(duì)一初始計(jì)數(shù)值Ni進(jìn)行計(jì)數(shù)，其中該相位差是由該第一參考時(shí)鐘Srefl與反饋時(shí)鐘Sfb之間的相位噪聲引起的。與此同時(shí)，該調(diào)制電路2070產(chǎn)生校正信號(hào)Sa來(lái)校正除數(shù)N，以依據(jù)計(jì)數(shù)值Ne與一分?jǐn)?shù)Nfrac來(lái)降低上述相位差。該調(diào)制電路2070 可以是一 2-A 調(diào)制器(sigma-delta modulator)。
[0040]需要注意的是,在校正電路206中，一砰砰相位/頻率檢測(cè)器(bang-bang phase/frequency detector)(即上述相位偵測(cè)器2062)用于偵測(cè)第一參考時(shí)鐘Srefl與反饋時(shí)鐘Sfb之間的相位差。因此，該相位偵測(cè)器2062的偵測(cè)輸出Sd的值為+1或者-1，其中當(dāng)偵測(cè)輸出Sd的值為+1時(shí)代表該第一參考時(shí)鐘Srefl的相位領(lǐng)先于反饋時(shí)鐘Sfb的相位，而反之，當(dāng)偵測(cè)輸出Sd的值為-1時(shí)代表該第一參考時(shí)鐘Srefl的相位落后于反饋時(shí)鐘Sfb的相位。經(jīng)過(guò)對(duì)除數(shù)N的幾次校正后，若相位偵測(cè)器2062的偵測(cè)輸出Sd為+1與-1的一連串的交替循環(huán)值時(shí)，代表類型I相位鎖存裝置204處于穩(wěn)定狀態(tài)。
[0041]于步驟414中，該AFC碼被控制增加一預(yù)定碼以使振蕩器202的第一參考時(shí)鐘Srefl變?yōu)榈诙⒖紩r(shí)鐘Sref2。相應(yīng)的，該第二參考時(shí)鐘Sref2的相位與反饋時(shí)鐘Sfb的相位之間也會(huì)產(chǎn)生偏離。于是，在步驟416中，上述類型I相位鎖存裝置204用于追蹤該第二參考時(shí)鐘Sref2直至第二參考時(shí)鐘Sref2與反饋時(shí)鐘Sfb之間的相位差變?yōu)橐环€(wěn)定的相位差。當(dāng)?shù)诙⒖紩r(shí)鐘Sref2與反饋時(shí)鐘Sfb之間的相位差為一穩(wěn)定相位差時(shí)，相位偵測(cè)器2062偵測(cè)該第二參考時(shí)鐘Sref2與反饋時(shí)鐘Sfb之間的相位差并輸出數(shù)值為+1或_1的該偵測(cè)輸出。需要注意的是，該穩(wěn)定的相位差依賴于第一參考時(shí)鐘Srefl的振蕩頻率與第二參考時(shí)鐘Sref2的振蕩頻率之間的頻率范圍，以及在校正電路206于第二模式下對(duì)反饋電路2046的除數(shù)N進(jìn)行校正之前，該穩(wěn)定的相位為一固定值。
[0042]同樣的，當(dāng)偵測(cè)輸出Sd的值為+1時(shí)代表該第二參考時(shí)鐘Sref2的相位領(lǐng)先于反饋時(shí)鐘Sfb的相位，而反之，當(dāng)偵測(cè)輸出Sd的值為-1時(shí)代表該第二參考時(shí)鐘Sref2的相位落后于反饋時(shí)鐘Sfb的相位。同時(shí)，該計(jì)數(shù)電路2066可以為一可逆計(jì)數(shù)器(up-downcounter)，用于對(duì)偵測(cè)輸出Sd進(jìn)行計(jì)數(shù)以產(chǎn)生計(jì)數(shù)值Ne。該調(diào)制電路2070可以為一 2-A調(diào)制器，用于調(diào)制該計(jì)數(shù)值Ne與分?jǐn)?shù)Nfrac的總和(即該校正后計(jì)數(shù)值Nac)，以產(chǎn)生校正信號(hào)Sa來(lái)更新除數(shù)N至更新后除數(shù)Nu，該更新后除數(shù)Nu用于降低第二參考時(shí)鐘Sref2與反饋時(shí)鐘Sfb之間的上述穩(wěn)定相位差。同樣地，經(jīng)過(guò)對(duì)除數(shù)N的幾次校正后，若相位偵測(cè)器2062的偵測(cè)輸出Sd為+1與-1的一連串的交替循環(huán)值時(shí)，代表類型I相位鎖存裝置204處于穩(wěn)定狀態(tài)。
[0043]當(dāng)類型I相位鎖存裝置204處于穩(wěn)定狀態(tài)時(shí)，這代表第二參考時(shí)鐘Sref2與反饋時(shí)鐘Sfb之間的相位差大致上等于零，此時(shí)該計(jì)數(shù)電路2066會(huì)于步驟422中停止對(duì)相位偵測(cè)器2062的偵測(cè)輸出Sd的計(jì)數(shù)。同樣需要注意的時(shí)，當(dāng)該第二參考時(shí)鐘Sref2與反饋時(shí)鐘Sfb之間的相位差大致上等于零時(shí)，該可控振蕩器2044的當(dāng)前振蕩頻率(fvco’)與反饋電路2046被校正之前可控振蕩器2044的振蕩頻率(fvco)(即該可控振蕩器2044于步驟416時(shí)的振蕩頻率)是相等的。因此，在步驟424中，振蕩器202的當(dāng)前振蕩頻率fref’的頻率變化A f (即振蕩頻率fref’與AFC碼增加預(yù)定值之前的振蕩頻率fref兩者之間的頻率差)可通過(guò)下述公式(I)計(jì)算獲得，其中Af的單位為ppm (parts per million):
[0044]fvco = (N + Nfrac) * fref = fvco' = (A, + Nfrac + Ne)>:; fref'
[0045]
=> A/ 二 (MW),欣=(^-Jll^)(I)
frefN + Nfrac + Ne
[0046]其中fref代表在AFC碼增加預(yù)定值之前的振蕩器202的振蕩頻率，即代表振蕩器202于步驟408時(shí)的振蕩頻率。需要注意的是，步驟422中所獲得的計(jì)數(shù)值Ne也需要經(jīng)由在步驟412下獲得的初始計(jì)數(shù)值Ni進(jìn)行校準(zhǔn)，以據(jù)此消除當(dāng)相位鎖存裝置204從類型2轉(zhuǎn)換至類型I時(shí)所產(chǎn)生的相位噪聲。
[0047]在步驟426中，當(dāng)被選擇子帶的所有AFC碼的頻率變化都得到校準(zhǔn)之后，對(duì)應(yīng)于CapID碼的特性曲線可以獲得。在步驟428中，振蕩器202的AFC碼可以通過(guò)多個(gè)適當(dāng)碼得到校準(zhǔn)或預(yù)矯正以使對(duì)應(yīng)于CapID碼的特性曲線線性化。在步驟426中，若被選擇子帶中還有AFC碼未被校準(zhǔn)時(shí)，該校準(zhǔn)裝置200會(huì)返回至步驟404以繼續(xù)輸入剩余的AFC碼至少振蕩器202中直至被選擇子帶中所有的AFC碼的頻率變化都得到校準(zhǔn)為止。
[0048]請(qǐng)?jiān)俅螀⒖紙D2，為了加速步驟418-422中相位鎖存裝置204的運(yùn)作，適應(yīng)性控制器2064a被用來(lái)適應(yīng)性的提供對(duì)應(yīng)于偵測(cè)輸出Sd的增益G。乘法器2064b用于將偵測(cè)輸出Sd乘以該增益G以產(chǎn)生校正后輸出信號(hào)Sad以用于計(jì)數(shù)電路2066。更具體的是，為了加速步驟418-422中相位鎖存裝置204的運(yùn)作，當(dāng)相位偵測(cè)器2062于步驟418中開始偵測(cè)第二參考時(shí)鐘Sref2與反饋時(shí)鐘Sfb之間的相位差時(shí)，該適應(yīng)性控制器2064a首先設(shè)置增益G為一最大增益值。該乘法器2064b接著將偵測(cè)輸出Sd與該最大增益相乘以產(chǎn)生校正后輸出信號(hào)Sad。因此，當(dāng)在步驟418中相位偵測(cè)器2062開始偵測(cè)上述相位差時(shí)，由計(jì)數(shù)電路2066產(chǎn)生的計(jì)數(shù)值Ne被放大至一最大計(jì)數(shù)值。而若該放大后計(jì)數(shù)值超出了第一預(yù)定計(jì)數(shù)值邊界508 (參加圖5中所示的曲線506和508)，該適應(yīng)性控制器2064a將降低增益G以減少計(jì)數(shù)值Ne的紋波。該校正電路206可以加速步驟418-422中相位鎖存裝置204的運(yùn)作。通過(guò)應(yīng)用上述方法，當(dāng)反饋時(shí)鐘Sfb的相位接近參考時(shí)鐘Sref的相位時(shí),該適應(yīng)性控制器2064a可以降低增益G至低于某一數(shù)值(例如數(shù)值I)，從而使得如圖5所示的在反饋時(shí)鐘Sfb與第二參考時(shí)鐘Sref2之間的相位差大致上等于零時(shí)，計(jì)數(shù)值Ne的紋波得到減緩。換句話說(shuō)，該適應(yīng)性控制器2064a可以使用一第二預(yù)定計(jì)數(shù)邊界510(參見圖5所示的曲線506和510)以判定是否增益G已被設(shè)置為低于數(shù)值I。若該放大后計(jì)數(shù)值超出該第二預(yù)定計(jì)數(shù)邊界510時(shí)，該適 應(yīng)性控制器2064a可以至低于數(shù)值1，以在反饋時(shí)鐘Sfb與第二參考時(shí)鐘Sref2之間的相位差大致上等于零時(shí),減緩計(jì)數(shù)值Ne的紋波。
[0049]圖5為依據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的對(duì)應(yīng)于不同增益下的計(jì)數(shù)值Ne的示意圖，其中曲線502所示為通過(guò)將一固定低增益與偵測(cè)輸出Sd相乘所得到的計(jì)數(shù)值Ne，曲線504所示為通過(guò)將一固定高增益與偵測(cè)輸出Sd相乘所得到的計(jì)數(shù)值Ne，以及曲線506所示為通過(guò)將一由適應(yīng)性控制器2064a所控制得到的適應(yīng)性增益與偵測(cè)輸出Sd相乘所得到的計(jì)數(shù)值Ne。可以看出，當(dāng)使用該固定低增益乘以偵測(cè)輸出Sd時(shí)，該計(jì)數(shù)值Ne (即曲線502)的變化比較平緩，但是此時(shí)用于設(shè)置計(jì)數(shù)值Ne的時(shí)間也很長(zhǎng)。而當(dāng)使用該固定高增益乘以該偵測(cè)輸出Sd時(shí)，計(jì)數(shù)值Ne (即曲線504)的設(shè)置時(shí)間很快，但是當(dāng)計(jì)數(shù)值Ne被設(shè)置之后依舊會(huì)存在紋波。在本實(shí)施例中，當(dāng)使用適應(yīng)性增益乘以該偵測(cè)輸出Sd時(shí)，計(jì)數(shù)值Ne (即曲線506)的設(shè)置時(shí)間會(huì)更快，同時(shí)當(dāng)計(jì)數(shù)值Ne得到設(shè)置之后紋波問題也能得到解決。振蕩器202的頻率變化Af的分辨率也會(huì)得到降低。需要了解的是，上述頻率變化Af的實(shí)際分辨率還依賴于2-A調(diào)制器(即調(diào)制電路2070)的次序、分?jǐn)?shù)值Nfrac、環(huán)路增益、校準(zhǔn)時(shí)間以及校準(zhǔn)機(jī)制。此外，調(diào)制電路2070的次序以及分?jǐn)?shù)值Nfrac還能夠決定增益以及砰砰相位/頻率偵測(cè)器(即相位偵測(cè)器2062)的死區(qū)(dead zone),以及因此對(duì)相位偵測(cè)器2062的偵測(cè)精確度產(chǎn)生影響。而為了避免該死區(qū)問題以及擴(kuò)展相位偵測(cè)器2062的偵測(cè)范圍，需要一更高次序的I:-A調(diào)制器以及更小數(shù)值的分?jǐn)?shù)。
[0050]簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)，通過(guò)使用上述校準(zhǔn)方法400，可使一更有效及精確的獲取振蕩器202的特性曲線的方法得以實(shí)現(xiàn)。振蕩器202的AFC碼可以經(jīng)由適當(dāng)碼得到校準(zhǔn)或預(yù)矯正，從而使得對(duì)應(yīng)于CapID碼的特性曲線線性化(參見圖1所示的理想的特性曲線)。
[0051]雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，本領(lǐng)域任何技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可做些許更動(dòng)與潤(rùn)飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視本發(fā)明的權(quán)利要求書所界定的范圍為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種校準(zhǔn)裝置，用于校準(zhǔn)一振蕩器的振蕩頻率，其特征在于，包含有: 相位鎖存裝置，用于追蹤由該振蕩器產(chǎn)生的第一參考時(shí)鐘直至該第一參考時(shí)鐘相位對(duì)齊于一反饋時(shí)鐘，以及用于接著追蹤由該振蕩器產(chǎn)生的第二參考時(shí)鐘直至該第二參考時(shí)鐘與該反饋時(shí)鐘的相位差為一穩(wěn)定相位差，其中該反饋時(shí)鐘是通過(guò)以一除數(shù)對(duì)該相位鎖存裝置的輸出振蕩信號(hào)進(jìn)行分頻處理而產(chǎn)生，該第二參考時(shí)鐘的頻率不同于該第一參考時(shí)鐘的頻率且兩者間具有一頻率差； 校正電路，用于將該除數(shù)校正至一更新后除數(shù)以減少該第二參考時(shí)鐘與該反饋時(shí)鐘之間的該穩(wěn)定相位差；以及 校準(zhǔn)電路，用于依據(jù)該更新后除數(shù)校準(zhǔn)該振蕩器的該振蕩頻率，該更新后除數(shù)與該頻率差對(duì)應(yīng)。
2.如權(quán)利要求1所述的校準(zhǔn)裝置，其特征在于，該校正電路持續(xù)對(duì)該第二參考時(shí)鐘與該反饋時(shí)鐘之間的該穩(wěn)定相位差進(jìn)行校正直至該穩(wěn)定相位差大致上等于零為止。
3.如權(quán)利要求1所述的校準(zhǔn)裝置，其特征在于，該相位鎖存裝置包含: 偵測(cè)電路，用于偵測(cè)相應(yīng)的參考時(shí)鐘與該反饋時(shí)鐘之間的相位差，以產(chǎn)生第二控制信號(hào) 可控振蕩器，用于依據(jù)該第二控制信號(hào)產(chǎn)生該輸出振蕩信號(hào)； 反饋電路，用于依據(jù)該輸出振蕩信號(hào)與該更新后除數(shù)產(chǎn)生該反饋時(shí)鐘至該偵測(cè)電路。
4.如權(quán)利要求1所述的校準(zhǔn)裝置，其特征在于，當(dāng)該相位鎖存裝置被控制運(yùn)作在第一模式下時(shí)，該相位鎖存裝置追`蹤該第一參考時(shí)鐘直至該參考時(shí)鐘的相位對(duì)齊于該反饋時(shí)鐘的相位；以及當(dāng)該相位鎖存裝置被控制從該第一模式切換至第二模式時(shí)，該第一參考時(shí)鐘變?yōu)樵摰诙⒖紩r(shí)鐘，該相位鎖存裝置追蹤該第二參考時(shí)鐘直至該第二參考時(shí)鐘與該反饋時(shí)鐘之間的相位差為該穩(wěn)定相位差。
5.如權(quán)利要求4所述的校準(zhǔn)裝置，其特征在于，當(dāng)該相位鎖存裝置運(yùn)作在該第一模式下時(shí)，該相位鎖存裝置運(yùn)作為一類型2相位鎖存回路，以及當(dāng)該相位鎖存裝置運(yùn)作在該第二模式下時(shí)，該相位鎖存裝置運(yùn)作為一類型I相位鎖存回路。
6.如權(quán)利要求4所述的校準(zhǔn)裝置，其特征在于，該穩(wěn)定相位差于該第一參考時(shí)鐘的頻率與該第二參考時(shí)鐘的頻率之間的頻率范圍有關(guān)，以及該穩(wěn)定相位差為在該校正電路于該第二模式下開始校正該反饋電路的除數(shù)之前該第二參考時(shí)鐘與該反饋時(shí)鐘之間的固定的相位差。
7.如權(quán)利要求1所述的校準(zhǔn)裝置，其特征在于，該校正電路包含: 相位偵測(cè)器，用于偵測(cè)該穩(wěn)定相位差以產(chǎn)生偵測(cè)輸出； 計(jì)數(shù)電路，用于根據(jù)該偵測(cè)輸出產(chǎn)生一計(jì)數(shù)值； 調(diào)制電路，用于依據(jù)該計(jì)數(shù)值產(chǎn)生一校正信號(hào)以校正該除數(shù)至該更新后除數(shù)，以降低該第二參考時(shí)鐘與該反饋時(shí)鐘之間的該穩(wěn)定相位差。
8.如權(quán)利要求7所述的校準(zhǔn)裝置，其特征在于，該校正電路還包含: 控制電路，用于根據(jù)一增益校正該偵測(cè)輸出以產(chǎn)生校正后輸出信號(hào)，其中該計(jì)數(shù)電路為可逆計(jì)數(shù)器，用于依據(jù)該校正后輸出信號(hào)產(chǎn)生該計(jì)數(shù)值。
9.如權(quán)利要求1所述的校準(zhǔn)裝置，其特征在于，該校正電路包含: 計(jì)數(shù)電路，用于依據(jù)該穩(wěn)定相位差產(chǎn)生一計(jì)數(shù)值；調(diào)制電路，用于依據(jù)該計(jì)數(shù)值產(chǎn)生一校正信號(hào)以校正該除數(shù)至該更新后除數(shù)，以降低該第二參考時(shí)鐘與該反饋時(shí)鐘之間的該穩(wěn)定相位差。
10.如權(quán)利要求9所述的校準(zhǔn)裝置，其特征在于，該校正電路還包含: 控制電路，用于根據(jù)一增益校正該穩(wěn)定相位差以產(chǎn)生校正后輸出信號(hào)，其中該計(jì)數(shù)電路為可逆計(jì)數(shù)器，用于依據(jù)該校正后輸出信號(hào)產(chǎn)生該計(jì)數(shù)值。
11.如權(quán)利要求8或10所述的校準(zhǔn)裝置，其特征在于，該控制電路依據(jù)該計(jì)數(shù)值適應(yīng)性地校正該增益。
12.如權(quán)利要求8或10所述的校準(zhǔn)裝置，其特征在于，當(dāng)該計(jì)數(shù)值超出一預(yù)定計(jì)數(shù)值邊界時(shí)，該控制電路降低施加于該偵測(cè)輸出上的該增益。
13.一種校準(zhǔn)方法，用于校準(zhǔn)一振蕩器的振蕩頻率，其特征在于，該校準(zhǔn)方法包含: 控制相位鎖存裝置追蹤由該振蕩器產(chǎn)生的第一參考時(shí)鐘直至該第一參考時(shí)鐘相位對(duì)齊于一反饋時(shí)鐘，以及接著追蹤由該振蕩器產(chǎn)生的第二參考時(shí)鐘直至該第二參考時(shí)鐘與該反饋時(shí)鐘的相位差為一穩(wěn)定相位差，其中該反饋時(shí)鐘是通過(guò)以一除數(shù)對(duì)該相位鎖存裝置的輸出振蕩信號(hào)進(jìn)行分頻處理而產(chǎn)生，該第二參考時(shí)鐘的頻率不同于該第一參考時(shí)鐘的頻率且兩者間具有一頻率差； 將該除數(shù)校正至一更新后除數(shù)以減少該第二參考時(shí)鐘與該反饋時(shí)鐘之間的該穩(wěn)定相位差；以及 依據(jù)該更新后除數(shù)校準(zhǔn)該振蕩器的該振蕩頻率，該更新后除數(shù)與該頻率差對(duì)應(yīng)。
14.如權(quán)利要求13所 述的方法，其特征在于，該將該除數(shù)校正至該更新后除數(shù)以減少該第二參考時(shí)鐘與該反饋時(shí)鐘之間的該穩(wěn)定相位差的步驟包括: 持續(xù)對(duì)該第二參考時(shí)鐘與該反饋時(shí)鐘之間的該穩(wěn)定相位差進(jìn)行校正直至該穩(wěn)定相位差大致上等于零為止。
15.如權(quán)利要求13所述的方法，其特征在于: 當(dāng)該相位鎖存裝置被控制運(yùn)作在第一模式下時(shí)，該方法還包括:控制該相位鎖存裝置以追蹤該第一參考時(shí)鐘直至該第一參考時(shí)鐘的相位對(duì)齊于該反饋時(shí)鐘的相位； 當(dāng)該相位鎖存裝置被控制從該第一模式切換至第二模式時(shí)，該方法還包括:將該第一參考時(shí)鐘變?yōu)樵摰诙⒖紩r(shí)鐘。
16.如權(quán)利要求15所述的方法，其特征在于，該穩(wěn)定相位差與該第一參考時(shí)鐘的頻率與該第二參考時(shí)鐘的頻率之間的頻率范圍有關(guān)，以及該穩(wěn)定相位差為在該校正電路于該第二模式下開始校正該反饋電路的除數(shù)之前該第二參考時(shí)鐘與該反饋時(shí)鐘之間的固定的相位差。
17.如權(quán)利要求13所述的方法，其特征在于，該將該除數(shù)校正至一更新后除數(shù)以減少該第二參考時(shí)鐘與該反饋時(shí)鐘之間的該穩(wěn)定相位差的步驟包括: 偵測(cè)該穩(wěn)定相位差以產(chǎn)生偵測(cè)輸出； 根據(jù)該偵測(cè)輸出產(chǎn)生一計(jì)數(shù)值； 依據(jù)該計(jì)數(shù)值產(chǎn)生一校正信號(hào)以校正該除數(shù)至該更新后除數(shù)，以減少該第二參考時(shí)鐘與該反饋時(shí)鐘之間的該穩(wěn)定相位差。
18.如權(quán)利要求17所述的方法，其特征在于: 該將該除數(shù)校正至該更新后除數(shù)以減少該第二參考時(shí)鐘與該反饋時(shí)鐘之間的該穩(wěn)定相位差的步驟包括:根據(jù)一增益校正該偵測(cè)輸出以產(chǎn)生校正后輸出信號(hào)；以及 該根據(jù)該偵測(cè)輸出產(chǎn)生該計(jì)數(shù)值的步驟包括:依據(jù)該校正后輸出信號(hào)產(chǎn)生該計(jì)數(shù)值。
19.如權(quán)利要求13所述的方法，其特征在于，該將該除數(shù)校正至該更新后除數(shù)以減少該第二參考時(shí)鐘與該反饋時(shí)鐘之間的該穩(wěn)定相位差的步驟包括: 依據(jù)該穩(wěn)定相位差產(chǎn)生一計(jì)數(shù)值； 依據(jù)該計(jì)數(shù)值產(chǎn)生一校正信號(hào)以校正該除數(shù)至該更新后除數(shù)，以減少該第二參考時(shí)鐘與該反饋時(shí)鐘之間的該穩(wěn)定相位差。
20.如權(quán)利要求19所述的方法，其特征在于: 該將該除數(shù)校正至該更新后除數(shù)以降低該第二參考時(shí)鐘與該反饋時(shí)鐘之間的該穩(wěn)定相位差的步驟還包括:根據(jù)一增益校正該偵測(cè)輸出以產(chǎn)生校正后輸出信號(hào)； 該依據(jù)該穩(wěn)定相位差產(chǎn)生該計(jì)數(shù)值的步驟包括:依據(jù)該校正后輸出信號(hào)產(chǎn)生該計(jì)數(shù)值。
21.如權(quán)利要求18或20所述的方法，其特征在于，該產(chǎn)生校正后輸出信號(hào)的步驟包括: 依據(jù)該計(jì)數(shù)值適應(yīng)性地校正該增益。
22.如權(quán)利要求18或20所述的方法，其特征在于，當(dāng)該計(jì)數(shù)值超出一預(yù)定計(jì)數(shù)值邊界時(shí)，該控制電路降低施加于該偵測(cè)輸出`上的該增益。
【文檔編號(hào)】H03L7/099GK103490774SQ201310074624
【公開日】2014年1月1日 申請(qǐng)日期:2013年3月8日 優(yōu)先權(quán)日:2012年3月8日
【發(fā)明者】李文昶, 汪炳穎 申請(qǐng)人:聯(lián)發(fā)科技（新加坡）私人有限公司