專利名稱：校準(zhǔn)采樣相位的方法及其裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種模數(shù)轉(zhuǎn)換器-鎖相環(huán)的采樣相位的技術(shù)，特別涉及一種利用周期性數(shù)字信號(hào)之間的移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)作為采樣相位的校準(zhǔn)依據(jù)的技術(shù)。
背景技術(shù)：
模數(shù)轉(zhuǎn)換器-鎖相環(huán)(ADC-PLL)在進(jìn)行采樣時(shí)會(huì)受到頻率抖動(dòng)(clock jitter) 的干擾，進(jìn)而影響采樣所得的數(shù)字信號(hào)的質(zhì)量。因此，便需對(duì)模數(shù)轉(zhuǎn)換器-鎖相環(huán)的采樣相位進(jìn)行校準(zhǔn)，以正確地對(duì)模擬信號(hào)進(jìn)行采樣。圖1是現(xiàn)有的頻率抖動(dòng)對(duì)于ADC-PLL的采樣影響的示意圖，請(qǐng)參照?qǐng)D1，ADC-PLL 于圖1中對(duì)模擬信號(hào)S進(jìn)行采樣，假設(shè)ADC-PLL每經(jīng)過一個(gè)時(shí)區(qū)TO Tl便對(duì)模擬信號(hào)S 采樣一次，而ADC-PLL在該實(shí)施例中具有4個(gè)采樣相位phl、ph2、ph3與ph4。如果ADC-PLL 處于理想狀態(tài)時(shí)(即不具有頻率抖動(dòng))，ADC-PLL便可依據(jù)其中一個(gè)采樣相位phl、ph2、ph3 或ph4而準(zhǔn)確地依據(jù)點(diǎn)DAI、DA2、DA3或DA4進(jìn)行采樣。但實(shí)際上由于頻率抖動(dòng)的干擾，以采樣相位Phl為例，ADC-PLL將可能會(huì)在范圍Dl的最高采樣點(diǎn)DAlH與最低采樣點(diǎn)DAlL之間取得一點(diǎn)而進(jìn)行采樣。依此類推，當(dāng)ADC-PLL依據(jù)采樣相位ph2、ph3或ph4對(duì)模擬信號(hào) S采樣時(shí)，便可能取得在范圍D2、D3或D4中任一個(gè)點(diǎn)來進(jìn)行采樣。由于范圍Dl當(dāng)中的信息差異較小，采樣后的數(shù)字信息差異應(yīng)較小，但是范圍D2、D3或D4當(dāng)中取得的信息差異相差可能過大，導(dǎo)致采樣后的數(shù)字信息差異應(yīng)過大而無法對(duì)模擬信號(hào)S進(jìn)行較佳的采樣。由此，采樣相位的校準(zhǔn)技術(shù)應(yīng)將ADC-PLL的采樣相位校準(zhǔn)至最佳的采樣相位phl，從而在采樣時(shí)將頻率抖動(dòng)的影響降到最低?，F(xiàn)有的采樣相位的校準(zhǔn)技術(shù)利用每一個(gè)采樣相位進(jìn)行采樣，并將采樣結(jié)果之間的絕對(duì)誤差和(sum of absolute difference，簡(jiǎn)稱SAD)為最大的采樣相位作為最佳采樣相位。但以此法取得的最佳采樣相位如果具有較大的頻率抖動(dòng)時(shí)，將會(huì)造成采樣不正確，或因而造成采樣質(zhì)量的不穩(wěn)定。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種校準(zhǔn)采樣相位的方法，其可校準(zhǔn)模數(shù)轉(zhuǎn)換器-鎖相環(huán)的采樣相位，此方法依據(jù)周期性數(shù)字信號(hào)之間計(jì)算求得的移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)，從而找出其最佳采樣相位，并依據(jù)此最佳采樣相位進(jìn)行采樣相位的校準(zhǔn)。于另一觀點(diǎn)而言，本發(fā)明提供校準(zhǔn)采樣相位的裝置，其可依據(jù)周期性數(shù)字信號(hào)之間計(jì)算求得的移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)，而找出其最佳采樣相位，并由此設(shè)定模數(shù)轉(zhuǎn)換器-鎖相環(huán)以進(jìn)行采樣。本發(fā)明提出一種校準(zhǔn)采樣相位的方法，此方法適用于模數(shù)轉(zhuǎn)換器-鎖相環(huán)中，此校準(zhǔn)采樣相位的方法包括下列步驟。首先先將采樣相位設(shè)定為第一預(yù)設(shè)相位值，并且依據(jù)此采樣相位對(duì)靜態(tài)且為高頻的周期性模擬信號(hào)進(jìn)行采樣，由此產(chǎn)生多個(gè)數(shù)字信號(hào)，每一個(gè)數(shù)字信號(hào)皆包括有多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)。之后，計(jì)算在上述數(shù)字信號(hào)中具有相同相對(duì)位置的像素?cái)?shù)據(jù)且其差異大于第一閾值的數(shù)量，因而獲得對(duì)應(yīng)采樣相位的移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)。接著便改變上述采樣相位，來取得對(duì)應(yīng)每一個(gè)采樣相位的移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)。最后，本方法將移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)最小、 或者移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)小于第二閾值所對(duì)應(yīng)的眾多采樣相位其中之一設(shè)定為最佳的采樣相位。從另一角度來看，本發(fā)明提出一種校準(zhǔn)采樣相位的裝置，此裝置與模數(shù)轉(zhuǎn)換器-鎖相環(huán)耦接，而此模數(shù)轉(zhuǎn)換器-鎖相環(huán)會(huì)依據(jù)采樣相位來對(duì)周期性的靜態(tài)高頻模擬信號(hào)采樣，并由此產(chǎn)生多個(gè)數(shù)字信號(hào)，其中每一個(gè)數(shù)字信號(hào)包括多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)。校準(zhǔn)采樣相位的裝置包括存儲(chǔ)單元、移動(dòng)檢測(cè)單元與控制單元。存儲(chǔ)單元接收并存儲(chǔ)上述像素?cái)?shù)據(jù)。移動(dòng)檢測(cè)單元?jiǎng)t耦接至存儲(chǔ)單元，用以計(jì)算在數(shù)字信號(hào)之中具有相同相對(duì)位置的像素?cái)?shù)據(jù)的差異大于第一閾值的數(shù)量，從而取得對(duì)應(yīng)采樣相位的移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)?？刂茊卧?jiǎng)t耦接至移動(dòng)檢測(cè)單元，用以改變采樣相位從而取得對(duì)應(yīng)每一個(gè)采樣相位的移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)，并且將移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)為最小、或者移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)小于第二閾值所對(duì)應(yīng)的采樣相位其中之一設(shè)定為最佳采樣相位?；谏鲜觯景l(fā)明的實(shí)施例利用同一個(gè)采樣相位對(duì)靜態(tài)且高頻的模擬信號(hào)進(jìn)行多次采樣以產(chǎn)生多個(gè)周期性數(shù)字信號(hào)，并利用移動(dòng)控制單元來計(jì)算這些周期性數(shù)字信號(hào)中具有相同位置且像素?cái)?shù)據(jù)具相當(dāng)差異的移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)?？刂茊卧酶淖儾蓸酉辔灰匀〉妹恳粋€(gè)采樣相位對(duì)應(yīng)的移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)，并將移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)最小或移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)小于某一閾值的采樣相位其中之一設(shè)定為最佳采樣相位，使得模數(shù)轉(zhuǎn)換器-鎖相環(huán)可通過最佳采樣相位來對(duì)模擬信號(hào)進(jìn)行正確地采樣，以使頻率抖動(dòng)的影響降到最低。


為使本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文結(jié)合附圖對(duì)實(shí)施例進(jìn)行了詳細(xì)說明。圖1是現(xiàn)有的頻率抖動(dòng)對(duì)于ADC-PLL的采樣影響的示意圖。圖2是依照本發(fā)明一實(shí)施例說明一種校準(zhǔn)采樣相位的裝置方塊圖。圖3是依照本發(fā)明一實(shí)施例說明一種校準(zhǔn)采樣相位的方法流程圖。圖4是圖3的步驟S311的方法流程圖。圖5是依照本發(fā)明一實(shí)施例說明絕對(duì)誤差和的示意圖。圖6是依照本發(fā)明一實(shí)施例說明576i模擬圖像信號(hào)所取得對(duì)應(yīng)采樣相位的移動(dòng)像素?cái)?shù)的曲線圖。圖7是依照本發(fā)明一實(shí)施例說明IOSOi模擬圖像信號(hào)所取得對(duì)應(yīng)采樣相位的移動(dòng)像素?cái)?shù)的曲線圖。主要元件符號(hào)說明20:校準(zhǔn)采樣相位的裝置210 模數(shù)轉(zhuǎn)換器-鎖相環(huán)(ADC-PLL)220:存儲(chǔ)單元230 移動(dòng)檢測(cè)單元240 控制單元250 模擬信號(hào)檢測(cè)單元AS 模擬信號(hào)
AIS 模擬圖像信號(hào)Dl D4 采樣范圍Dl 1 D15 數(shù)字采樣結(jié)果DAl DA4、DAlH DA4H、DAlL DA4L 采樣點(diǎn)Ll 采樣相位phi的采樣結(jié)果phi ph4:采樣相位S310 S440 步驟S 模擬信號(hào)TO Tl:時(shí)區(qū)
具體實(shí)施例方式現(xiàn)將詳細(xì)參考本發(fā)明的示范性實(shí)施例，在附圖中說明所述示范性實(shí)施例的實(shí)例。 另外，凡可能之處，在圖式及實(shí)施方式中使用相同附圖標(biāo)記的元件/構(gòu)件/符號(hào)代表相同或類似部分。請(qǐng)參考圖2，圖2是依照本發(fā)明一實(shí)施例說明一種校準(zhǔn)采樣相位的裝置20的方塊圖。校準(zhǔn)采樣相位的裝置20與模數(shù)轉(zhuǎn)換器-鎖相環(huán)(ADC-PLL) 210相互耦接。ADC-PLL 210 依據(jù)由控制單元240所控制的采樣相位對(duì)周期性的模擬信號(hào)AS進(jìn)行采樣，從而產(chǎn)生多個(gè)數(shù)字信號(hào)DS(未顯示)，而每一個(gè)數(shù)字信號(hào)DS皆包括多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)。并且，本實(shí)施例的周期性的模擬信號(hào)AS為靜態(tài)(即每一周期的模擬信號(hào)之間的差異較小)且高頻(即模擬信號(hào)中承載的數(shù)據(jù)變動(dòng)頻率較高)的周期性模擬信號(hào)。此外，應(yīng)用本實(shí)施例者可以視其需求將 ADC-PLL 210設(shè)計(jì)為具有多個(gè)采樣相位以增加采樣質(zhì)量，在本實(shí)施例中，ADC-PLL210具有 32個(gè)采樣相位，而在其它實(shí)施例中ADC-PLL 210也可以具有8個(gè)或者64個(gè)采樣相位，因此本發(fā)明不應(yīng)以此為限。校準(zhǔn)采樣相位的裝置20可包括存儲(chǔ)單元220、移動(dòng)檢測(cè)單元230與控制單元M0。存儲(chǔ)單元220接收并存儲(chǔ)由ADC-PLL 210采樣所得的數(shù)字信號(hào)DS。移動(dòng)檢測(cè)單元230耦接至存儲(chǔ)單元220，其可將兩個(gè)采樣時(shí)間相鄰的輸入圖像的數(shù)字信號(hào)DS中相對(duì)位置相同的像素?cái)?shù)據(jù)相減，并且計(jì)算這些像素?cái)?shù)據(jù)的差異大于第一閾值THl的數(shù)量，從而取得對(duì)應(yīng)采樣相位的移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)。請(qǐng)繼續(xù)參照?qǐng)D2，控制單元240耦接至移動(dòng)檢測(cè)單元230與ADC-PLL 210，其可通過改變采樣相位來取得對(duì)應(yīng)每一個(gè)采樣相位的移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)。當(dāng)已經(jīng)取得對(duì)應(yīng)所有采樣相位的移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)后，控制單元240將移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)為最小、或者移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)小于第二閾值TH2所對(duì)應(yīng)的采樣相位其中之一設(shè)定為最佳采樣相位，以使ADC-PLL 210可通過該最佳采樣相位來對(duì)模擬信號(hào)AS進(jìn)行采樣，且讓頻率抖動(dòng)的影響降到最低。此外，校準(zhǔn)采樣相位的裝置20在本實(shí)施例中可以進(jìn)一步包括模擬信號(hào)檢測(cè)單元 250，其耦接至存儲(chǔ)單元220、移動(dòng)檢測(cè)單元230以及控制單元M0。模擬信號(hào)檢測(cè)單元250 用以檢測(cè)模擬信號(hào)AS，當(dāng)模擬信號(hào)AS為高頻，并且兩個(gè)采樣時(shí)間相鄰的場(chǎng)(Field)(或可稱為畫面(Frame))的輸入模擬信號(hào)AS之間的差異小于評(píng)估值時(shí)，即模擬信號(hào)AS為本實(shí)施例所符合的靜態(tài)且高頻的周期性模擬圖像，控制單元便可開始對(duì)采樣相位進(jìn)行校準(zhǔn)。此實(shí)施例包括了模擬信號(hào)檢測(cè)單元250，但不用來限定本發(fā)明，如果送入的模擬信號(hào)AS本來就是一個(gè)合格的校準(zhǔn)用模擬輸入信號(hào)，則應(yīng)可省略該模擬信號(hào)檢測(cè)單元250。
為了使本領(lǐng)域技術(shù)人員能更加了解本發(fā)明，在此將周期性的模擬信號(hào)AS以模擬圖像信號(hào)AIS作為舉例，從而詳細(xì)說明本實(shí)施例。因此，數(shù)字信號(hào)DS便是數(shù)字圖像信號(hào)DIS， 每一周期的圖像信號(hào)便為一個(gè)圖像場(chǎng)/畫面，而在數(shù)字信號(hào)DS中相對(duì)位置相同的像素?cái)?shù)據(jù)便為數(shù)字圖像信號(hào)DIS中具有相同水平與垂直位置的像素?cái)?shù)據(jù)。但本發(fā)明所述的周期性的模擬信號(hào)AS不應(yīng)限于模擬圖像信號(hào)，在其它實(shí)施例中，周期性的模擬信號(hào)AS也可以是聲音模擬信號(hào)或者其它受到頻率抖動(dòng)干擾的周期性模擬信號(hào)。由此，本實(shí)施例的操作流程請(qǐng)同時(shí)參照?qǐng)D2與圖3，圖3是依照本發(fā)明一實(shí)施例說明校準(zhǔn)采樣相位的方法流程圖。首先進(jìn)入步驟S310，模擬信號(hào)檢測(cè)單元250檢測(cè)周期性的模擬圖像信號(hào)AIS (即模擬信號(hào)AS的一例)，當(dāng)模擬圖像信號(hào)AIS為高頻，并且模擬圖像信號(hào)AIS中每一個(gè)模擬圖像畫面之間的像素?cái)?shù)據(jù)差異小于評(píng)估值時(shí)(即兩個(gè)采樣時(shí)間相鄰的場(chǎng)/畫面的輸入模擬信號(hào)之間的差異小于評(píng)估值的一例)，便進(jìn)入步驟S320以開始對(duì)采樣相位進(jìn)行校準(zhǔn)。在此請(qǐng)注意，本發(fā)明可以應(yīng)用任何可能的方法來檢測(cè)周期性的模擬圖像信號(hào)AIS，由此開始對(duì)采樣相位進(jìn)行校準(zhǔn)。在此詳細(xì)描述本實(shí)施例的步驟S310的方法流程，請(qǐng)繼續(xù)參考圖2與圖3，模擬信號(hào)檢測(cè)單元250在步驟S311時(shí)找出一個(gè)最大高頻相位phM，其中ADC-PLL 210可依據(jù)該最大高頻相位PhM對(duì)模擬圖像信號(hào)AIS采樣，且由此獲得的采樣結(jié)果之間的絕對(duì)誤差和(SAD) 為最大，M為整數(shù)且1 < M < 32。詳言之，步驟S311的詳細(xì)流程請(qǐng)參照?qǐng)D4，圖4是圖3的步驟S311的方法流程圖。首先在步驟S410中控制單元240將采樣相位設(shè)定為第二預(yù)設(shè)相位值(本實(shí)施例的第二預(yù)設(shè)相位值為采樣相位Phl)，接著進(jìn)入步驟S420，ADC-PLL 210依據(jù)采樣相位Phl對(duì)模擬圖像信號(hào)AIS采樣，并且模擬信號(hào)檢測(cè)單元250計(jì)算采樣結(jié)果之間的絕對(duì)誤差和，而絕對(duì)誤差和的計(jì)算方式請(qǐng)參照?qǐng)D5，圖5是依照本發(fā)明一實(shí)施例說明絕對(duì)誤差和的示意圖。由于ADC-PLL 210將獲得的采樣結(jié)果(參照?qǐng)D5的曲線Li)傳送至模擬信號(hào)檢測(cè)單元250。模擬信號(hào)檢測(cè)單元250將采樣結(jié)果Dll D15相減，且將相減結(jié)果取絕對(duì)值相加，以求得對(duì)應(yīng)此采樣相位的絕對(duì)誤差和SADphl，其算式請(qǐng)參照式(1)SADphl = I D11-D12| + |D12-D13| + |D13-D14| + |D14-D15|+. · · |· · · (1)接著在圖4的步驟S430中，控制單元便依序改變采樣相位，以利用模擬信號(hào)檢測(cè)單元250依序求得對(duì)應(yīng)每個(gè)采樣相位的絕對(duì)誤差和。在步驟S440時(shí)，控制單元240找出具有最大值的絕對(duì)誤差和SADpha，并將其所對(duì)應(yīng)的采樣相位設(shè)定為最大高頻相位phM。請(qǐng)繼續(xù)參照?qǐng)D3，取得最大高頻相位phM后便進(jìn)入步驟S312，控制單元240利用移動(dòng)檢測(cè)單元230取得對(duì)應(yīng)最大高頻相位phM的移動(dòng)像素?cái)?shù)MPC_(即移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)MDCpm的一例)。在本實(shí)施例中，ADC-PLL 210首先依據(jù)最大高頻相位phM對(duì)模擬圖像信號(hào)AIS進(jìn)行采樣以求得第一數(shù)字圖像IMl與第二數(shù)字圖像IM2。模擬信號(hào)檢測(cè)單元250將第一數(shù)字圖像 IMl存儲(chǔ)于存儲(chǔ)單元220中，并且將第二數(shù)字圖像IM2傳送至移動(dòng)檢測(cè)單元230。移動(dòng)檢測(cè)單元230將第一數(shù)字圖像IMl與第二數(shù)字圖像IM2中具有相同水平與垂直位置的像素?cái)?shù)據(jù)兩兩相減，以計(jì)算這兩個(gè)數(shù)字圖像間的像素?cái)?shù)據(jù)的差異大于第一閾值THl的數(shù)量(即計(jì)算像素的移動(dòng)數(shù)量)，而求得對(duì)應(yīng)最大高頻相位PhM的移動(dòng)像素?cái)?shù)MPC_。接著，控制單元240在步驟S315中判斷最大的絕對(duì)誤差和SADpha大于第三閾值 TH3 (即判斷模擬圖像信號(hào)AIS是否為高頻)，并且最大高頻相位phM的移動(dòng)像素?cái)?shù)MPCpm小于第四閾值TH4時(shí)(即判斷模擬信號(hào)AS每一周期之間的差異小于評(píng)估值)，則可開始對(duì)采樣相位進(jìn)行校準(zhǔn)，否則便回到步驟S311繼續(xù)檢測(cè)合適的模擬圖像信號(hào)AIS，以作為校準(zhǔn)采樣相位的依據(jù)。請(qǐng)繼續(xù)參照?qǐng)D2與圖3，當(dāng)步驟S310已檢測(cè)取得合適的模擬圖像信號(hào)AIS后，便進(jìn)入步驟S320，控制單元240將采樣相位設(shè)定為第一預(yù)設(shè)相位值，本實(shí)施例中的第一預(yù)設(shè)相位值為預(yù)設(shè)相位phi。接著，步驟S330的ADC-PLL 210依據(jù)采樣相位phi對(duì)模擬圖像信號(hào) AIS進(jìn)行采樣，從而產(chǎn)生多個(gè)數(shù)字圖像。在本實(shí)施例中，ADC-PLL 210依據(jù)采樣相位phi對(duì)模擬圖像信號(hào)AIS采樣兩次，以產(chǎn)生第一數(shù)字圖像IMl與第二數(shù)字圖像IM2，其中將第一數(shù)字圖像IMl存于存儲(chǔ)單元220內(nèi)，并且把第二數(shù)字圖像IM2傳送至移動(dòng)檢測(cè)單元230，而每一個(gè)數(shù)字圖像皆包括有多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)。在其它實(shí)施例中，ADC-PLL 210也可依據(jù)采樣相位 Phl對(duì)模擬圖像信號(hào)AIS進(jìn)行多次采樣，從而更加明確地得知頻率抖動(dòng)對(duì)于采樣的影響，在此不多加贅述。取得第一數(shù)字圖像IMl與第二數(shù)字圖像IM2后便進(jìn)入步驟S340，移動(dòng)檢測(cè)單元 230將第一數(shù)字圖像IMl與第二數(shù)字圖像IM2中具有相同水平與垂直位置的像素?cái)?shù)據(jù)兩兩相減，以計(jì)算數(shù)字圖像IMl與IM2之間像素?cái)?shù)據(jù)的差異大于第一閾值THl的數(shù)量(即計(jì)算像素的移動(dòng)數(shù)量)，而求得對(duì)應(yīng)采樣相位Phl的移動(dòng)像素?cái)?shù)MPCphl。接著在圖3中，控制單元240在步驟S350時(shí)改變ADC-PLL 210中的采樣相位， 并通過步驟S330與S340取得對(duì)應(yīng)每一個(gè)采樣相位phi的移動(dòng)像素?cái)?shù)MPCphi，i為整數(shù)且 1 < i < 32。接著，進(jìn)入步驟S360，控制單元240將移動(dòng)像素?cái)?shù)MPCphi為最小、或者移動(dòng)像素?cái)?shù)MPCphi小于第二閾值TH2所對(duì)應(yīng)的采樣相位phi設(shè)定為最佳的采樣相位，使得ADC-PLL 210可通過最佳采樣相位來對(duì)模擬圖像信號(hào)AIS進(jìn)行正確地采樣，并使頻率抖動(dòng)的影響降到最低。如果有許多的采樣相位phi符合最佳采樣相位的條件，控制單元240便會(huì)從上述符合條件的采樣相位Phi取其中間相位，并將此中間相位設(shè)定為最佳采樣相位。在此提出實(shí)例數(shù)據(jù)以說明本實(shí)施例的步驟S350與S360，假設(shè)模擬圖像信號(hào)AIS 為576i的圖像信號(hào)格式，其中“576”表示垂直方向有576條水平掃描線，而“i”則表示采用隔行掃描視頻顯示方式(interlacedscan)，因此依據(jù)本實(shí)施例所求得的對(duì)應(yīng)每一個(gè)采樣相位Phi的移動(dòng)像素?cái)?shù)MPCphi如圖6所示，圖6是依照本發(fā)明實(shí)施例說明通過576i的模擬圖像信號(hào)AIS所取得對(duì)應(yīng)采樣相位的移動(dòng)像素?cái)?shù)MPCphi的曲線圖，圖6的橫軸為采樣相位i 的值，i為整數(shù)且1 < i < 32。此外，圖6的縱軸則為對(duì)應(yīng)每個(gè)采樣相位phi的移動(dòng)像素?cái)?shù) MPCphi0由圖6可知，移動(dòng)像素?cái)?shù)MPCphi最小所對(duì)應(yīng)的采樣相位phi應(yīng)為采樣相位ph21 ph32，因此在步驟S360中便可將位于中間的采樣相位pM6 (或采樣相位ph27)設(shè)定為最佳采樣相位。而在另一實(shí)施例中，假設(shè)模擬圖像信號(hào)AIS為IOSOi的高清晰度圖像信號(hào)格式，因此本實(shí)施例的對(duì)應(yīng)每一個(gè)采樣相位phi的移動(dòng)像素?cái)?shù)MPCphi便如圖7所示，圖7是依照本發(fā)明實(shí)施例說明通過IOSOi的模擬圖像信號(hào)AIS所取得對(duì)應(yīng)采樣相位的移動(dòng)像素?cái)?shù)的曲線圖。由圖7可知，移動(dòng)像素?cái)?shù)MPCphi小于第二閾值TH2所對(duì)應(yīng)的采樣相位phi應(yīng)為采樣相位 phll ph21，因此在步驟S360中便可將位于中間的采樣相位phl6設(shè)定為最佳采樣相位， 從而取得最佳的采樣質(zhì)量。綜上所述，本發(fā)明的實(shí)施例利用同一個(gè)采樣相位對(duì)靜態(tài)且高頻的模擬信號(hào)進(jìn)行多次采樣以產(chǎn)生多個(gè)周期性數(shù)字信號(hào)，并通過移動(dòng)檢測(cè)單元來計(jì)算這些周期性數(shù)字信號(hào)中具有相同位置且像素?cái)?shù)據(jù)具相當(dāng)差異的移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)。接著，控制單元改變采樣相位以使每一個(gè)采樣相位均具有移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)，并將移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)最小或移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)小于某一閾值的采樣相位其中之一設(shè)定為最佳采樣相位，使得模數(shù)轉(zhuǎn)換器-鎖相環(huán)可通過最佳采樣相位來對(duì)模擬信號(hào)進(jìn)行正確地采樣，讓頻率抖動(dòng)的影響降到最低。 雖然本發(fā)明已描述了上述實(shí)施例，但是其并非用以限定本發(fā)明，任何本領(lǐng)域技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可進(jìn)行更動(dòng)與修改，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)當(dāng)以權(quán)利要求所限定的為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種校準(zhǔn)采樣相位的方法，用于模數(shù)轉(zhuǎn)換器-鎖相環(huán)中，該校準(zhǔn)采樣相位的方法包括設(shè)定該采樣相位為第一預(yù)設(shè)相位值；依據(jù)該采樣相位，對(duì)周期性的模擬信號(hào)采樣而產(chǎn)生多個(gè)數(shù)字信號(hào)，每一數(shù)字信號(hào)包括多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)；計(jì)算在所述數(shù)字信號(hào)之中相對(duì)位置相同的像素?cái)?shù)據(jù)的差異大于第一閾值的數(shù)量，以取得對(duì)應(yīng)該采樣相位的移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)；改變?cè)摬蓸酉辔唬匀〉脤?duì)應(yīng)每一采樣相位的所述移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)；以及將該移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)為最小或該移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)小于第二閾值所對(duì)應(yīng)的所述采樣相位其中之一設(shè)定為最佳采樣相位。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校準(zhǔn)采樣相位的方法，進(jìn)一步包括檢測(cè)該模擬信號(hào)，當(dāng)該模擬信號(hào)為高頻且該模擬信號(hào)的每一周期之間的差異小于評(píng)估值時(shí)，開始對(duì)該采樣相位進(jìn)行校準(zhǔn)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的校準(zhǔn)采樣相位的方法，其中檢測(cè)該模擬信號(hào)的步驟包括找出最大高頻相位，其中依據(jù)該最大高頻相位對(duì)該模擬信號(hào)采樣，并使所獲得的采樣結(jié)果之間的絕對(duì)誤差和為最大；取得對(duì)應(yīng)該最大高頻相位的該移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)；以及當(dāng)最大的該絕對(duì)誤差和大于第三閾值且該移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)小于第四閾值時(shí)，則開始對(duì)該采樣相位進(jìn)行校準(zhǔn)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的校準(zhǔn)采樣相位的方法，其中找出該最大高頻相位的步驟包括設(shè)定該采樣相位為第二預(yù)設(shè)相位值；依據(jù)該采樣相位對(duì)該模擬信號(hào)采樣，并計(jì)算采樣結(jié)果之間的該絕對(duì)誤差和； 改變?cè)摬蓸酉辔?，以取得?duì)應(yīng)每一采樣相位的該絕對(duì)誤差和；以及將該絕對(duì)誤差和為最大所對(duì)應(yīng)的該采樣相位設(shè)定為該最大高頻相位。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校準(zhǔn)采樣相位的方法，其中該模擬信號(hào)為模擬圖像信號(hào)，則該數(shù)字信號(hào)為數(shù)字圖像信號(hào)，而所述數(shù)字信號(hào)之中相對(duì)位置相同的所述像素?cái)?shù)據(jù)為所述數(shù)字圖像信號(hào)中在水平與垂直位置相同的像素?cái)?shù)據(jù)。
6.一種校準(zhǔn)采樣相位的裝置，耦接至模數(shù)轉(zhuǎn)換器-鎖相環(huán)，該模數(shù)轉(zhuǎn)換器-鎖相環(huán)依據(jù)該采樣相位對(duì)周期性輸入的模擬信號(hào)采樣而產(chǎn)生多個(gè)數(shù)字信號(hào)，每一數(shù)字信號(hào)包括多個(gè)像素?cái)?shù)據(jù)，該校準(zhǔn)采樣相位的裝置包括存儲(chǔ)單元，用以接收并存儲(chǔ)所述像素?cái)?shù)據(jù)；移動(dòng)檢測(cè)單元，耦接至該存儲(chǔ)單元，用以計(jì)算在所述數(shù)字信號(hào)之中相對(duì)位置相同的像素?cái)?shù)據(jù)的差異大于第一閾值的數(shù)量，以取得對(duì)應(yīng)該采樣相位的移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)；以及控制單元，耦接至該移動(dòng)檢測(cè)單元，用以改變?cè)摬蓸酉辔唬匀〉脤?duì)應(yīng)每一采樣相位的該移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)，將該移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)為最小或該移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)小于第二閾值所對(duì)應(yīng)的所述采樣相位其中之一設(shè)定為最佳采樣相位。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的校準(zhǔn)采樣相位的裝置，進(jìn)一步包括模擬信號(hào)檢測(cè)單元，耦接至該存儲(chǔ)單元、該移動(dòng)檢測(cè)單元與該控制單元，用以檢測(cè)該模擬信號(hào)，當(dāng)該模擬信號(hào)為高頻且該模擬信號(hào)的每一周期之間的差異小于評(píng)估值時(shí)，該控制單元開始對(duì)采樣相位進(jìn)行校準(zhǔn)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的校準(zhǔn)采樣相位的裝置，該模擬信號(hào)檢測(cè)單元找出最大高頻相位，以依據(jù)該最大高頻相位對(duì)該模擬信號(hào)采樣，使獲得的采樣結(jié)果之間的絕對(duì)誤差和為最大，該校準(zhǔn)采樣相位的裝置取得對(duì)應(yīng)該最大高頻相位的該移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)，當(dāng)最大的該絕對(duì)誤差和大于第三閾值且該移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)小于第四閾值時(shí)，該控制單元開始對(duì)該采樣相位進(jìn)行校準(zhǔn)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的校準(zhǔn)采樣相位的裝置，其中該校準(zhǔn)采樣相位的裝置設(shè)定該采樣相位為第二預(yù)設(shè)相位值，以依據(jù)該采樣相位對(duì)該模擬信號(hào)采樣來計(jì)算采樣結(jié)果之間的該絕對(duì)誤差和，并改變?cè)摬蓸酉辔灰匀〉脤?duì)應(yīng)每一采樣相位的該絕對(duì)誤差和，以把該絕對(duì)誤差和為最大所對(duì)應(yīng)的該采樣相位設(shè)定為該最大高頻相位。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的校準(zhǔn)采樣相位的裝置，其中該模擬信號(hào)為模擬圖像信號(hào)，則該數(shù)字信號(hào)為數(shù)字圖像信號(hào)，而所述數(shù)字信號(hào)之中相對(duì)位置相同的所述像素?cái)?shù)據(jù)為所述數(shù)字圖像信號(hào)中在水平與垂直位置相同的像素?cái)?shù)據(jù)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種校準(zhǔn)采樣相位的方法及其裝置，適用于模數(shù)轉(zhuǎn)換器-鎖相環(huán)。模數(shù)轉(zhuǎn)換器-鎖相環(huán)依據(jù)采樣相位對(duì)周期性的模擬信號(hào)采樣以產(chǎn)生多個(gè)數(shù)字信號(hào)。校準(zhǔn)采樣相位的裝置包括存儲(chǔ)單元、移動(dòng)檢測(cè)單元與控制單元。移動(dòng)檢測(cè)單元用以計(jì)算取得對(duì)應(yīng)采樣相位的移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)?？刂茊卧罱又烈苿?dòng)檢測(cè)單元，其可改變采樣相位以取得對(duì)應(yīng)每個(gè)采樣相位的移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)，并且將移動(dòng)數(shù)據(jù)數(shù)最小所對(duì)應(yīng)的采樣相位設(shè)定為最佳采樣相位。模數(shù)轉(zhuǎn)換器-鎖相環(huán)可通過最佳采樣相位來對(duì)模擬信號(hào)進(jìn)行正確地采樣，并使頻率抖動(dòng)的影響降到最低。
文檔編號(hào)H03M1/12GK102299708SQ201010213578
公開日2011年12月28日 申請(qǐng)日期2010年6月23日 優(yōu)先權(quán)日2010年6月23日
發(fā)明者呂威龍, 李瑞耀, 陳謙文 申請(qǐng)人:凌陽(yáng)科技股份有限公司