專利名稱：資料回復(fù)系統(tǒng)及其方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是關(guān)于一種資料回復(fù)系統(tǒng)及其方法，尤指一種在序列傳輸中資料回復(fù)的系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)：
于高速序列傳輸中，在對(duì)序列資料(serial data)進(jìn)行取樣時(shí)會(huì)產(chǎn)生時(shí)脈歪斜(clock skew)的問題，其主要原因在于用來決定取樣時(shí)間的相位(phase)的恢復(fù)時(shí)脈(recovered clock)與被取樣的序列資料不同相位，一種直接的解決方法即對(duì)被取樣的序列資料進(jìn)行過取樣(Over Sampling)，由提高取樣頻率來避免可能產(chǎn)生的時(shí)脈歪斜。在美國(guó)專利第5,905,769號(hào)案即提出一種基于過取樣以解決對(duì)序列資料進(jìn)行取樣時(shí)所產(chǎn)生的時(shí)脈歪斜的問題，其以運(yùn)用上一資料窗的相位訊號(hào)，來對(duì)此次取樣資料窗的資料進(jìn)行修正，然而此種運(yùn)用上一資料窗的相位訊號(hào)來對(duì)此次取樣資料窗的資料進(jìn)行修正時(shí)，會(huì)有無法及時(shí)修正的問題，尤其是當(dāng)時(shí)脈歪斜造成的相位變化僅出現(xiàn)在此次取樣資料窗時(shí)，依據(jù)上一資料窗的相位訊號(hào)來對(duì)此次取樣資料窗的資料位進(jìn)行修正，不僅無法及時(shí)修正，同時(shí)亦容易導(dǎo)致錯(cuò)誤的結(jié)果，故公知用以解決時(shí)脈歪斜的技術(shù)實(shí)有予以改進(jìn)的必要。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于提供一種資料回復(fù)系統(tǒng)及其方法，可即時(shí)解決時(shí)脈歪斜的問題。
本發(fā)明的另一目的在于序列傳輸中，可即時(shí)修正時(shí)脈歪斜的問題。
為達(dá)到上述目的，本發(fā)明的資料回復(fù)系統(tǒng)主要包括一過取樣電路，其以n倍頻率對(duì)一輸入訊號(hào)進(jìn)行過取樣；一相位偵測(cè)電路，其接收該過取樣電路所取樣的過取樣訊號(hào)，配合上次最后一筆過取樣訊號(hào)以進(jìn)行相位偵測(cè)；以及一資料選取電路，接收該相位偵測(cè)電路所測(cè)得的相位訊號(hào)，將該過取樣訊號(hào)分成n組并選取一組m位元資料作輸出。
所述的系統(tǒng)，還包含一資料重疊/略過偵測(cè)電路，接收該相位偵測(cè)電路所輸出的相位訊號(hào)，配合上次的相位訊號(hào)，決定是否有資料重疊或是資料略過的情形并輸出一相關(guān)的狀態(tài)訊號(hào)；以及一資料更正電路，由資料選取電路所輸出的m位元資料和上次最后一筆過取樣訊號(hào)中，依據(jù)資料重疊/略過偵測(cè)電路輸出的狀態(tài)訊號(hào)以選取m+1或m或m-1位元資料來進(jìn)行資料更正，輸出一m位元正確資料。
所述的系統(tǒng)中，該相位偵測(cè)電路包括一變遷偵測(cè)器，用以偵測(cè)該取樣的過取樣訊號(hào)與上次最后一筆過取樣訊號(hào)的復(fù)數(shù)個(gè)變遷；以及一計(jì)數(shù)單位，將該等變遷分為n組，選擇具有最多變遷的一組，而輸出對(duì)應(yīng)的相位訊號(hào)。
所述的系統(tǒng)中，該資料重疊/略過偵測(cè)電路輸出重疊、略過及正常狀態(tài)訊號(hào)以分別代表有資料重疊、有資料略過及無資料重疊與略過的情形。
所述的系統(tǒng)中，該資料更正電路內(nèi)含一先進(jìn)先出緩沖單位，并依據(jù)該狀態(tài)訊號(hào)以選取m+1或m或m-1位元資料輸入至該先進(jìn)先出緩沖單位，而該先進(jìn)先出緩沖單位輸出該m位元正確資料。
所述的系統(tǒng)中，當(dāng)該狀態(tài)訊號(hào)為一重疊狀態(tài)訊號(hào)時(shí)，該先進(jìn)先出緩沖單位接受該m-1位元資料。
所述的系統(tǒng)中，當(dāng)該狀態(tài)訊號(hào)為一略過狀態(tài)訊號(hào)時(shí)，該先進(jìn)先出緩沖單位接受該m+1位元資料。
所述的系統(tǒng)中，當(dāng)該狀態(tài)訊號(hào)為一正常狀態(tài)訊號(hào)時(shí)，該先進(jìn)先出緩沖單位接受該m位元資料。
本發(fā)明的資料回復(fù)方法，包含以下步驟(A)過取樣步驟，以n倍頻率對(duì)所接收的一資料訊號(hào)進(jìn)行過取樣，并產(chǎn)生一連串過取樣訊號(hào)；(B)萃取步驟，將該一連串過取樣訊號(hào)，取出一nk+1位元過取樣訊號(hào)；
(C)變遷偵測(cè)步驟，用以偵測(cè)該nk+1位元過取樣訊號(hào)的nk個(gè)變遷，將該等變遷訊號(hào)分為n組并輸出該n組變遷訊號(hào)；(D)選擇步驟，選擇具有最多變遷的一組，輸出一相位訊號(hào)；以及(E)資料選取步驟，將該一連串過取樣訊號(hào)分成n組輸出資料，并依據(jù)該相位訊號(hào)，選取并輸出其中一組m位元輸出資料。
所述的方法還包含(F)重疊/略過偵測(cè)步驟，接收該相位訊號(hào)，配合上次的相位訊號(hào)，輸出一狀態(tài)訊號(hào)；以及(G)資料更正步驟，由該組m位元輸出資料和該上筆一連串過取樣訊號(hào)的最后一筆過取樣訊號(hào)中，依據(jù)該狀態(tài)訊號(hào)以選取m+1或m或m-1位元資料來進(jìn)行資料更正，以輸出一m位元正確資料。


為使進(jìn)一步了解本發(fā)明的結(jié)構(gòu)、特征及其目的，以附圖及較佳具體實(shí)施例作詳細(xì)說明如后圖1為本發(fā)明的方塊圖。
圖2為本發(fā)明的過取樣電路的取樣時(shí)序圖。
圖3為本發(fā)明的相位偵測(cè)電路的電路圖。
圖4為本發(fā)明的最佳資料選擇點(diǎn)的示意圖。
圖5為本發(fā)明的資科選取電路的電路圖。
圖6為本發(fā)明所產(chǎn)生資料重疊的示意圖。
圖7為本發(fā)明所產(chǎn)生資料略過的示意圖。
圖8為本發(fā)明資料重疊/略過偵測(cè)電路的虛擬碼。
圖9為本發(fā)明資料更正電路的虛擬碼。
圖10為本發(fā)明的資料回復(fù)方法的一流程圖。
具體實(shí)施例方式
有關(guān)本發(fā)明的資料回復(fù)系統(tǒng)的一較佳實(shí)施例，請(qǐng)參照?qǐng)D1所示的方塊圖，其包含一過取樣電路(Over Sampler)10、一相位偵測(cè)電路(Phase DetectCircuit)20、一資料選取電路(Data Picking Circuit)30、一資料重疊/略過偵測(cè)電路(Dara Overlap/Skip Detect Circuit)40、以及一資料更正電路(DataCorrection Circuit)50。其中，該過取樣電路10將輸入訊號(hào)做多倍頻的取樣，并以復(fù)數(shù)個(gè)輸入訊號(hào)為一單位，輸出其過取樣訊號(hào)，于本實(shí)施例中，是以將輸入訊號(hào)做三倍頻取樣并以10位元輸入訊為一單位，為例說明，且在過取樣訊號(hào)累積到30筆后，故得到30筆的過取樣訊號(hào)，一次同時(shí)輸出至相位偵測(cè)電路20及資料選取電路30。
相位偵測(cè)電路20接收30筆過取樣訊號(hào)后，配合內(nèi)部所保留的上次最后一筆過取樣訊號(hào)以進(jìn)行相位偵測(cè)，并將得到的相位送到資料選取電路30和資料重疊/略過偵測(cè)電路40，資料選取電路30依相位偵測(cè)電路20所測(cè)得的相位，將該30筆過取樣訊號(hào)分成三組并選取一組最合宜的10位元資料以輸出到資料更正電路50中，資料重疊/略過偵測(cè)電路40接收相位偵測(cè)電路20所輸出的相位，配合上次的相位，決定是否有資料重疊或是資料略過的情形，并將判斷后的結(jié)果送至資料更正電路50，資料更正電路50依據(jù)有無資料重疊或是資料略過的情形，決定由資料選取電路30所輸出的10位元資料和上次最后一筆的過取樣訊號(hào)共11位元的資料中，選取11或10或9位元資料來進(jìn)行資料更正，以輸出一10位元的正確資料。
在圖2所顯示的時(shí)序圖中，過取樣電路10是規(guī)律地將輸入訊號(hào)以三倍頻的取樣頻率進(jìn)行取樣，以得到30筆的過取樣訊號(hào)S[29:0]，其中S29是最先被取樣而S0是最后被取樣，S0′是上筆一10位元輸入訊號(hào)的最后一筆被取樣的過取樣訊號(hào)，而S29”是下筆一10位元輸入訊號(hào)的第一筆被取樣的過取樣訊號(hào)，而過取樣電路10是在過取樣訊號(hào)累積到30筆后，一次同時(shí)將其輸出至相位偵測(cè)電路20及資料選取電路30。
圖3顯示前述相位偵測(cè)電路20的電路結(jié)構(gòu)，主要是由一變遷偵測(cè)器(Transition Dectector)21及一計(jì)數(shù)單位(Tally)22所組成，變化偵測(cè)器21包含30個(gè)XOR閘，由此等XOR閘，輸入的30筆過取樣訊號(hào)S[29:0]及前次的最后一個(gè)過取樣訊號(hào)S0’的兩兩相鄰者互相作互斥或運(yùn)算以偵測(cè)出變遷(Transition)，而S[29:0]及S0’共31筆資料可測(cè)出30筆變遷，分別編號(hào)為PA[9:0]、PB[9:0]、以及PC[9:0]，其中，Pan＝S3n+2，①S3n，PBn＝S3n+1，①S3n+2，PCn＝S3n，①S3n+1，當(dāng)中n＝0-9，即當(dāng)PCn為1時(shí)，表示S3n和S3n+1之間有變遷，當(dāng)PBn為“1”時(shí)，表示S3n+1和S3n+2(或S3n-1)之間有變遷，當(dāng)PAn為“1”時(shí)，表示S3n+2(或S3n-1)和S3n之間有變遷。
計(jì)數(shù)單位22的功能為選擇具有最多變遷的一組，而輸出對(duì)應(yīng)的相位訊號(hào)。其一實(shí)施例為具有一最大值選擇器225及三組加法器221、222及223，其將30筆變遷分為PA[9:0]、PB[9:0]、以及PC[9:0]三組個(gè)別相加，即加法器221對(duì)PA9-PA0進(jìn)行加法運(yùn)算而得到SumA訊號(hào)，加法器222對(duì)PB9-PB 0進(jìn)行加法運(yùn)算而得到SumB訊號(hào)，加法器223對(duì)PC9-PC0進(jìn)行加法運(yùn)算而得到SumC訊號(hào)，用以判別資料由0變?yōu)?及由1變?yōu)?發(fā)生的時(shí)機(jī)，SumA訊號(hào)值即為S3n+2(或S3n-1)和S3n之間有變遷次數(shù)總和，SumB訊號(hào)值即為S3n+1和S3n+2(或S3n-1)之間有變遷次數(shù)總和，SumC訊號(hào)值即為S3n和S3n+1之間有變遷次數(shù)總和，最大值選擇器225從前述的三個(gè)加法器221、222及223的輸出值中選出一與最大值相關(guān)的相位訊號(hào)，例如，當(dāng)SumA訊號(hào)值為最大時(shí)，輸出的相位訊號(hào)為相位A(Phase A)，當(dāng)SumB訊號(hào)值為最大時(shí)，輸出的相位訊號(hào)為相位B(Phase B)，當(dāng)SumC訊號(hào)值為最大時(shí)，輸出的相位訊號(hào)為相位C(Phase C)。
比較SumA、SumB、以及SumC訊號(hào)值，如果SumA訊號(hào)值最大，即該相位訊號(hào)為相位A(Phase A)時(shí)，則表示資料在S3n+2(或S3n-1)和S3n之間變遷次數(shù)最多，如圖4中A處所顯示，為了能選擇一穩(wěn)定且正確的資料，選擇點(diǎn)應(yīng)離變遷越遠(yuǎn)越好，因此應(yīng)該選擇S3n+2當(dāng)作正確的資料，即圖4中B處為最佳資料選擇點(diǎn)；同樣地，如果SumB訊號(hào)值最大，即該相位訊號(hào)為相位B(Phase B)時(shí)，則表示資料在S3n+1和S3n+2(或S3n-1)之間變遷次數(shù)最多，因此應(yīng)該選擇S3n當(dāng)作正確的資料；如果SumC訊號(hào)值最大，即該相位訊號(hào)為相位C(Phase C)時(shí)，則表示資料在為S3n和S3n+1之間變遷次數(shù)最多，因此應(yīng)該選擇S3n+2當(dāng)作正確的資料。
該最大值選擇器225的一實(shí)施例為包含三個(gè)比較器，該等比較器分別比較SumA、SumB以及SumC三者中任兩者的大小關(guān)系，即獲得(SumA，SumB)、(SumB，SumC)以及(SumC，SumA)的大小關(guān)系，即得知SumA、SumB以及SumC之中何者最大。
圖5顯示該資料選取電路30的結(jié)構(gòu)，其將該30筆過取樣訊號(hào)分成S3n+2＝{S29，S26…，S2}、S3n+1＝{S28，S25…，S1}、以及S3n＝{S27，S24…，S0}等三組訊號(hào)，依相位偵測(cè)電路20所輸出的相位訊號(hào)，將該三組訊號(hào)選取一組最合宜的訊號(hào)作為資料dat[9:0]輸出，若相位偵測(cè)電路20所輸出的相位訊號(hào)為Phase A時(shí)，資料dat[9:0]為S3n+1＝{S28，S25…，S1}，亦dat9＝S28、dat8＝S25、…dat0＝S1；若相位偵測(cè)電路20所輸出的相位訊號(hào)為Phase B時(shí)，資料dat[9:0]則為S3n＝{S27，S24…，S0}；若相位偵測(cè)電路20所輸出的相位訊號(hào)為Phase C時(shí)，資料dat[9:0]則為S3n+2＝{S29，S26…，S2}。
雖然本發(fā)明的過取樣電路10將輸入訊號(hào)永遠(yuǎn)以三倍頻的頻率取樣規(guī)律地進(jìn)行取樣，然而經(jīng)由傳輸通道或纜線的輸入訊號(hào)會(huì)有遲延或超前的現(xiàn)象，此種現(xiàn)象會(huì)產(chǎn)生資料重疊或是資料略過的問題，為了方便說明資料重疊或是資料略過的問題，假設(shè)輸入訊號(hào)是以3位元為一單位，并將3位元資料定義為一資料窗(Data Window，DW)，圖6是用來說明資料重疊所產(chǎn)生的問題，在第1資料窗中，相位訊號(hào)為Phase A，故S3n+2(或S3n-1)和S3n之間變遷次數(shù)最多，如圖6中A處所顯示，因本實(shí)施例是以固定3倍頻取樣，故最佳資料選擇點(diǎn)應(yīng)為離A處的平均距離最遠(yuǎn)的取樣點(diǎn)，亦即在圖6的B處；在第2資料窗中，相位訊號(hào)為Phase B，故S3n+1和S3n+2(或S3n-1)之間變遷次數(shù)最多，如圖6中C處所顯示，而最佳資料選擇點(diǎn)為圖6的D處；在第3資料窗中，相位訊號(hào)為Phase C，故S3n和S3n+1之間變遷次數(shù)最多，如圖6中E處所顯示，其最佳資料選擇點(diǎn)如圖6中F處所示，在圖6中T1、T2的過取樣訊號(hào)，根據(jù)前述的相位偵測(cè)電路20及資料選取電路30，其均會(huì)被當(dāng)成正確的資料而輸出，然而該T1、T2的過取樣訊號(hào)是相對(duì)于資料DATA-OL，故資料DATA-OL會(huì)被輸出兩次，而產(chǎn)生資料重疊的問題。
同樣地，在圖7是來說明資料略過所產(chǎn)生的問題，在第1資料窗中，相位訊號(hào)為Phase A，故S3n+2(或S3n-1)和S3n之間變遷次數(shù)最多，如圖7中A處所顯示，而最佳資料選擇點(diǎn)為離A處的平均距離最遠(yuǎn)的取樣點(diǎn)，亦即在圖7的B處；在第2資料窗中，相位訊號(hào)為Phase C，故S3n和S3n+1之間變遷次數(shù)最多，如圖7的G處所顯示，而最佳資料選擇點(diǎn)為在圖7的H處；在第3資料窗中，相位訊號(hào)為Phase B，故S3n+1和S3n+2(或S3n-1)之間變遷次數(shù)最多，如圖7中I處所顯示，其最佳資料選擇點(diǎn)為圖7的J處，在圖7中的資料DATA-SK的過取樣訊號(hào)會(huì)在T3、T4被取樣，但根據(jù)前述的相位偵測(cè)電路20及資料選取電路30，其不會(huì)被輸出，故資料DATA-SK會(huì)被忽略掉，而產(chǎn)生資料略過的問題。
為了解決前述的資料重疊/略過的問題，資料重疊/略過偵測(cè)電路40接收相位偵測(cè)電路20所輸出的相位訊號(hào)，配合上一個(gè)資料窗中的相位訊號(hào)，判斷資料選取電路30選取資料時(shí)是否有資料重疊、資料略過、或是二者皆沒發(fā)生的情形，并將判斷后的狀態(tài)訊號(hào)(Status)輸出至資料更正電路50，若本次資料窗中的相位訊號(hào)為相位B(Phase B)，而上一個(gè)資料窗中的相位訊號(hào)為相位C(Phase C)，則為圖6的情況，亦即有資料重疊的問題，此時(shí)狀態(tài)訊號(hào)(Status)為Overlap，若本次資料窗中的相位訊號(hào)為相位C(Phase C)而上一個(gè)資料窗中的相位訊號(hào)為相位B(Phase B)，則為圖7的情況，亦即有資料略過的問題，此時(shí)狀態(tài)(Status)為Skip，若非為上述兩種情形，狀態(tài)(Status)則為Normal。資料重疊/略過偵測(cè)電路40可由圖8的虛擬碼(Pseudo Code)經(jīng)由例如Verilog或VHDL的硬件描述語(yǔ)言(Hardware Description Language，HDL)所實(shí)現(xiàn)。
資料更正電路50依據(jù)資料重疊/略過偵測(cè)電路40輸?shù)臓顟B(tài)(Status)，以決定由資料選取電路30所輸出的10位元資料和上次最后一筆過取樣訊號(hào)S0’中，選取11或10或9位元來進(jìn)行資料更正，最后該資料更正電路50恒輸出10位元的正確資料，其中，當(dāng)狀態(tài)為Overlap時(shí)，如圖6所示，資料更正電路50保留上一個(gè)資料窗中解出的資料，而因?yàn)閐at9已經(jīng)在前一筆資料出現(xiàn)，故此次資料窗中解出的資料只使用9個(gè)資料dat[8:0]，依先后順序輸入一先進(jìn)先出單位(First In First Out，F(xiàn)IFO)中；當(dāng)狀態(tài)為Skip時(shí)，如圖7所示，資料更正電路50保留上一個(gè)資料窗中解出的資料，而這次資料窗中解出的資料使用10個(gè)資料dat[9:0]，再加上前一資料窗中最后一筆的過取樣訊號(hào)S0’，并將兩組資料共11筆資料依先后順序輸入一先進(jìn)先出單位中；當(dāng)狀態(tài)為Normal時(shí)，則將資料更正電路50保留上一個(gè)資料窗中解出的資料，而此次資料窗中解出的資料使用10個(gè)資料dat[9:0]，依先后順序輸入一先進(jìn)先出裝置中；最后該先進(jìn)先出裝置依序輸出10位元正確資料data[9:0]。
該資料更正電路50可由圖9的虛擬碼(Pseudo Code)經(jīng)由例如Verilog或VHDL的硬件描述語(yǔ)言所實(shí)現(xiàn)。
圖10為進(jìn)一步顯示本發(fā)明的資料回復(fù)方法的流程圖，首先，于步驟S30 1輸入一輸入序列訊號(hào)；于步驟S302中(過取樣步驟)，規(guī)律地將輸入序列訊號(hào)以三倍頻的取樣頻率進(jìn)行取樣，以得到30筆的過取樣訊號(hào)S[29:0)；于步驟S303中(萃取步驟)，將該一連串過取樣訊號(hào)，取出一30+1位元過取樣訊號(hào)，該30+1位元過取樣訊號(hào)是過取樣訊號(hào)S[29:0]及前次最后一個(gè)過取樣訊號(hào)S0’。
于步驟S304中(變遷偵測(cè)步驟)，用以偵測(cè)該30+1位元過取樣訊號(hào)的30個(gè)變遷，過取樣訊號(hào)S[29:0]及前次最后一個(gè)過取樣訊號(hào)S0’的兩兩相鄰者互相作互斥或運(yùn)算以偵測(cè)出變遷，并輸出一30個(gè)變遷訊號(hào)并將該等變遷訊號(hào)分為3組PA[9:0)、PB[9:0)以及PC[9:0)變遷訊號(hào)，其中，PAn＝S3n+2，①S3n，PBn＝S3n+1，①S3n+2，PCn＝S3n，①S3n+1，當(dāng)中n＝0-9，即當(dāng)PCn為“1”時(shí)，表示S3n和S3n+1之間有變遷，當(dāng)PBn為“1”時(shí)，表示S3n+1和S3n+2(或S3n-1)之間有變遷，當(dāng)PAn為“1”時(shí)，表示S3n+2(或S3n-1)和S3n之間有變遷。
于步驟S305中(選擇步驟)，由該等3組變遷訊號(hào)PA[9:0]、PB[9:0)以及PC[9:0]中，選擇具有最多變遷的一組，輸出一相關(guān)的相位訊號(hào)，亦即對(duì)PA9-PA0進(jìn)行加法運(yùn)算而得到SumA訊號(hào)，對(duì)PB9-PB0進(jìn)行加法運(yùn)算而得到SumB訊號(hào)，對(duì)PC9-PC0進(jìn)行加法運(yùn)算而得到SumC訊號(hào)，從前述的三個(gè)加法運(yùn)算的結(jié)果SumA、SumB以及SumC中選出一最大值以及與該最大值相關(guān)的相位訊號(hào)，例如，當(dāng)SumA訊號(hào)值為最大時(shí)，輸出的相位訊號(hào)為相位A(Phase A)，當(dāng)SumB訊號(hào)值為最大時(shí)，輸出的相位訊號(hào)為相位B(Phase B)，當(dāng)SumC訊號(hào)值為最大時(shí)，輸出的相位訊號(hào)為相位C(Phase C)。
于步驟S306中(資料選取步驟)，將該30筆過取樣訊號(hào)分成3組輸出資料S3n+2＝{S29，S26…，S2}、S3n+2＝{S28，S25…，S1}、以及S3n＝{S27，S24…，S0}等三組訊號(hào)，并依據(jù)于步驟S305中輸出的該相位訊號(hào)，將該三組訊號(hào)選取一組最合宜的訊號(hào)作為10位元資料dat[9:0]輸出，若步驟S305中輸出的該相位訊號(hào)為Phase A時(shí)，資料dat[9:0]為S3n＝{S28，S25…，S1}，亦dat9＝S28、datS＝S25、…dat0＝S1；若相位偵測(cè)電路20所輸出的相位訊號(hào)為Phase B時(shí)，資料dat[9:0]則為S3n＝{S27，S24…，S0}；若相位偵測(cè)電路20所輸出的相位訊號(hào)為Phase C時(shí)，資料dat[9:0]則為S3n+2＝{S29，S26，…，S2}。
于步驟S307中(重疊/略過偵測(cè)步驟)，接收步驟S305中輸出的該相位訊號(hào)，配合上一個(gè)資料窗中的相位訊號(hào)，若本次資料窗中的相位訊號(hào)為相位B(Phase B)，而上一個(gè)資料窗中的相位訊號(hào)為相位C(Phase C)，即有資料重疊的問題，此時(shí)狀態(tài)訊號(hào)(Status)為Overlap，若本次資料窗中的相位訊號(hào)為相位C(Phase C)而上一個(gè)資料窗中的相位訊號(hào)為相位B(PhaseB)，即有資料略過的問題，此時(shí)狀態(tài)(Status)為Skip，若非為上述兩種情形，狀態(tài)訊號(hào)(Status)則為Normal。
于步驟S308中(資料更正步驟)，由該組10位元輸出資料和該上筆一連串過取樣訊號(hào)的最后一筆過取樣訊號(hào)中，依據(jù)步驟S307中輸出的該狀態(tài)訊號(hào)以選取10+1或10或10-1位元資料來進(jìn)行資料更正，以輸出一10位元正確資料data[9:0]。
由以上說明可知，本發(fā)明可解決時(shí)脈歪斜的問題。
應(yīng)注意的是，上述實(shí)施例只是為了便于說明而已，本發(fā)明所主張的權(quán)利范圍非僅限于上述實(shí)施例，而凡與本發(fā)明有關(guān)的技術(shù)構(gòu)想，均屬于本發(fā)明的范疇。
權(quán)利要求
1.一種資料回復(fù)系統(tǒng)，主要包括一過取樣電路，其以n倍頻率對(duì)一輸入訊號(hào)進(jìn)行過取樣；一相位偵測(cè)電路，其接收該過取樣電路所取樣的過取樣訊號(hào)，配合上次最后一筆過取樣訊號(hào)以進(jìn)行相位偵測(cè)；以及一資料選取電路，接收該相位偵測(cè)電路所測(cè)得的相位訊號(hào)，將該過取樣訊號(hào)分成n組并選取一組m位元資料作輸出。
2.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，還包含一資料重疊/略過偵測(cè)電路，接收該相位偵測(cè)電路所輸出的相位訊號(hào)，配合上次的相位訊號(hào)，決定是否有資料重疊或是資料略過的情形并輸出一相關(guān)的狀態(tài)訊號(hào)；以及一資料更正電路，由資料選取電路所輸出的m位元資料和上次最后一筆過取樣訊號(hào)中，依據(jù)資料重疊/略過偵測(cè)電路輸出的狀態(tài)訊號(hào)以選取m+1或m或m-1位元資料來進(jìn)行資料更正，輸出一m位元正確資料。
3.如權(quán)利要求1或2所述的系統(tǒng)，其特征在于，該相位偵測(cè)電路包括一變遷偵測(cè)器，用以偵測(cè)該取樣的過取樣訊號(hào)與上次最后一筆過取樣訊號(hào)的復(fù)數(shù)個(gè)變遷；以及一計(jì)數(shù)單位，將該等變遷分為n組，選擇具有最多變遷的一組，而輸出對(duì)應(yīng)的相位訊號(hào)。
4.如權(quán)利要求2所述的系統(tǒng)，其特征在于，該資料重疊/略過偵測(cè)電路輸出重疊、略過及正常狀態(tài)訊號(hào)以分別代表有資料重疊、有資料略過及無資料重疊與略過的情形。
5.如權(quán)利要求2所述的系統(tǒng)，其特征在于，該資料更正電路內(nèi)含一先進(jìn)先出緩沖單位，并依據(jù)該狀態(tài)訊號(hào)以選取m+1或m或m-1位元資料輸入至該先進(jìn)先出緩沖單位，而該先進(jìn)先出緩沖單位輸出該m位元正確資料。
6.如權(quán)利要求5所述的系統(tǒng)，其特征在于，當(dāng)該狀態(tài)訊號(hào)為一重疊狀態(tài)訊號(hào)時(shí)，該先進(jìn)先出緩沖單位接受該m-1位元資料。
7.如權(quán)利要求5所述的系統(tǒng)，其特征在于，當(dāng)該狀態(tài)訊號(hào)為一略過狀態(tài)訊號(hào)時(shí)，該先進(jìn)先出緩沖單位接受該m+1位元資料。
8.如權(quán)利要求5所述的系統(tǒng)，其特征在于，當(dāng)該狀態(tài)訊號(hào)為一正常狀態(tài)訊號(hào)時(shí)，該先進(jìn)先出緩沖單位接受該m位元資料。
9.一種資料回復(fù)方法，該方法包含以下步驟(A)過取樣步驟，以n倍頻率對(duì)所接收的一資料訊號(hào)進(jìn)行過取樣，并產(chǎn)生一連串過取樣訊號(hào)；(B)萃取步驟，將該一連串過取樣訊號(hào)，取出一nk+1位元過取樣訊號(hào)；(C)變遷偵測(cè)步驟，用以偵測(cè)該nk+1位元過取樣訊號(hào)的nk個(gè)變遷，將該等變遷訊號(hào)分為n組并輸出該n組變遷訊號(hào)；(D)選擇步驟，選擇具有最多變遷的一組，輸出一相位訊號(hào)；以及(E)資料選取步驟，將該一連串過取樣訊號(hào)分成n組輸出資料，并依據(jù)該相位訊號(hào)，選取并輸出其中一組m位元輸出資料。
10.如權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，還包含(F)重疊/略過偵測(cè)步驟，接收該相位訊號(hào)，配合上次的相位訊號(hào)，輸出一狀態(tài)訊號(hào)；以及(G)資料更正步驟，由該組m位元輸出資料和該上筆一連串過取樣訊號(hào)的最后一筆過取樣訊號(hào)中，依據(jù)該狀態(tài)訊號(hào)以選取m+1或m或m-1位元資料來進(jìn)行資料更正，以輸出一m位元正確資料。
全文摘要
一種資料回復(fù)系統(tǒng)及其方法，其包含一過取樣電路、一相位偵測(cè)電路、一資料選取電路、一資料重疊/略過偵測(cè)電路、以及一資料更正電路，該過取樣電路以n倍頻率對(duì)輸入訊號(hào)進(jìn)行過取樣；該相位偵測(cè)電路接收該過取樣電路所取樣的過取樣訊號(hào)，配合上次最后一筆過取樣訊號(hào)以進(jìn)行相位偵測(cè)；該資料選取電路接收該相位偵測(cè)電路所測(cè)得的相位訊號(hào)，以將該過取樣訊號(hào)分成n組并選取一組m位元資料作輸出；該資料重疊/略過偵測(cè)電路根據(jù)該相位訊號(hào)與上次相位訊號(hào)的關(guān)系，以決定是否有資料重疊/略過的情形；該資料更正電路在有資料童疊/略過時(shí)，將資料予以更正。
文檔編號(hào)H03D3/02GK1481072SQ0214155
公開日2004年3月10日 申請(qǐng)日期2002年9月2日 優(yōu)先權(quán)日2002年9月2日
發(fā)明者呂昭信, 張義樹, 童旭榮, 謝光熙 申請(qǐng)人:瑞昱半導(dǎo)體股份有限公司