本發(fā)明涉及電子電路領(lǐng)域,具體涉及一種充電電路及具有該充電電路的電子裝置。
背景技術(shù):
請(qǐng)參閱圖1,目前,電子裝置的低壓快充方案大多是通過(guò)兩個(gè)相連的MOS(Metal Oxide Semiconductor,金屬氧化物半導(dǎo)體)管將充電器的VBUS輸出端與電池的VBAT輸入端直接連接。電子裝置的CPU(Central Processing Unit,中央處理器)可通過(guò)MOS管控制充電線路的通斷,進(jìn)行充電控制。在充電過(guò)程中,MOS管的熱量較為集中,溫度較高,現(xiàn)有快充方案未對(duì)其溫度進(jìn)行監(jiān)測(cè),無(wú)法對(duì)其進(jìn)行溫度保護(hù)。另外,現(xiàn)有電子裝置一般在電池端偵測(cè)充電電流,再將電池端的偵測(cè)數(shù)據(jù)送到CPU,由CPU判斷是充電電流是否異常,并在充電電流異常時(shí),控制MOS管斷開(kāi)充電線路,然而,上述控制過(guò)程較長(zhǎng),不能夠?qū)崟r(shí)在充電電流異常時(shí)斷開(kāi)充電線路。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
鑒于以上內(nèi)容,有必要提供一種兼具溫度保護(hù)及實(shí)時(shí)電流保護(hù)功能的電流保護(hù)電路。
另外,有必要提供一種具有該充電電路的電子裝置。
一種充電保護(hù)電路,用于在電池連接至充電裝置進(jìn)行充電時(shí),對(duì)該電池提供保護(hù),該充電保護(hù)電路包括:
開(kāi)關(guān)模塊,該開(kāi)關(guān)模塊連接至該充電裝置與該電池之間;
CPU(Central Processing Unit,中央處理器),該CPU與該開(kāi)關(guān)模塊相連,該CPU通過(guò)該開(kāi)關(guān)模塊控制該充電裝置開(kāi)始或者停止向該電池提供充電電流;
電流保護(hù)模塊,該電流保護(hù)模塊連接至該充電裝置與該電池之間,當(dāng)該充電電流大于預(yù)設(shè)電流時(shí),該電流保護(hù)模塊斷開(kāi),以控制該充電裝置停止向該電池提供該充電電流;
溫度保護(hù)模塊,該溫度保護(hù)模塊與該CPU相連,用于感測(cè)該開(kāi)關(guān)模塊周圍的溫度變化,該CPU根據(jù)該溫度變化調(diào)節(jié)該充電電流大小。
根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例,該電流保護(hù)模塊為自恢復(fù)保險(xiǎn)絲,當(dāng)流過(guò)該自恢復(fù)保險(xiǎn)絲的充電電流超過(guò)預(yù)設(shè)電流時(shí),該自恢復(fù)保險(xiǎn)絲斷路,當(dāng)流過(guò)該自恢復(fù)保險(xiǎn)絲的充電電流小于預(yù)設(shè)電流時(shí),則自恢復(fù)保險(xiǎn)絲恢復(fù)到導(dǎo)通狀態(tài)。
根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例,該溫度保護(hù)模塊包括串聯(lián)的熱敏電阻及分壓電阻,該串聯(lián)的熱敏電阻及分壓電阻一端接地,另一端連接電源,該熱敏電阻與該分壓電阻之間具有節(jié)點(diǎn),該節(jié)點(diǎn)與該CPU相連,當(dāng)該開(kāi)關(guān)模塊周圍的溫度變化,該熱敏電阻兩端的電壓發(fā)生相應(yīng)的變化,該CPU根據(jù)該電壓變化來(lái)調(diào)節(jié)該充電電流的大小。
根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例,所述熱敏電阻為串入正溫度系數(shù)電阻、并入負(fù)溫度系數(shù)電阻及采用串入正溫度系數(shù)電阻的同時(shí)并入負(fù)溫度系數(shù)電阻的組合方式任意一種。
根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例,該開(kāi)關(guān)模塊包括第一MOS(Metal Oxide Semiconductor,金屬氧化物半導(dǎo)體)管及第二MOS管,該第一MOS管的柵極與該CPU相連,漏極與該充電裝置相連,源極與該第二MOS管的漏極相連,該第二MOS管的柵極與該CPU相連,源極與該電池相連。
一種電子裝置,其包括電池及與該電池相連的充電保護(hù)電路,該充電保護(hù)電路包括:開(kāi)關(guān)模塊,該開(kāi)關(guān)模塊連接至該充電裝置與該電池之間;CPU(Central Processing Unit,中央處理器),該CPU與該開(kāi)關(guān)模塊相連,該CPU通過(guò)該開(kāi)關(guān)模塊控制該充電裝置開(kāi)始或者停止向該電池提供充電電流;電流保護(hù)模塊,該電流保護(hù)模塊連接至該充電裝置與該電池之間,當(dāng)該充電電流大于預(yù)設(shè)電流時(shí),該電流保護(hù)模塊斷開(kāi),以控制該充電裝置停止向該電池提供該充電電流;溫度保護(hù)模塊,該溫度保護(hù)模塊與該CPU相連,用于感測(cè)該開(kāi)關(guān)模塊周圍的溫度變化,該CPU根據(jù)該溫度變化調(diào)節(jié)該充電電流大小。
相較于現(xiàn)有技術(shù),本發(fā)明的充電保護(hù)電路可在該充電電流過(guò)大時(shí)及時(shí)斷開(kāi)斷開(kāi)該充電裝置與該電池的連接,從而保護(hù)電池及其他器件避免其因電流過(guò)大而燒壞;同時(shí),該充電保護(hù)電路還可感測(cè)該開(kāi)關(guān)模塊的溫度變化,對(duì)該充電電流進(jìn)行調(diào)節(jié),防止該開(kāi)關(guān)模塊的溫度過(guò)大。
附圖說(shuō)明
圖1所示是現(xiàn)有技術(shù)的充電電路的電路圖。
圖2所示是本發(fā)明較佳實(shí)施例的具有充電保護(hù)電路的電子裝置的電路圖。
主要元件符號(hào)說(shuō)明
電子裝置 1
電池 10
充電保護(hù)電路 30
開(kāi)關(guān)模塊 31
第一MOS管 Q1
第二MOS管 Q2
柵極 G
漏極 D
源極 S
CPU 33
電流保護(hù)模塊 35
第一電阻 R1
第二電阻 R2
溫度保護(hù)模塊 37
熱敏電阻 R1
分壓電阻 R2
節(jié)點(diǎn) N
電源 Vmos
充電裝置 2
具體實(shí)施方式
下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖,對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清除、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明的一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例。
基于本發(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
參考圖2所示,是本發(fā)明較佳實(shí)施例的電子裝置100的電路圖。該電子裝置1包括電池10及與該電池10相連的充電保護(hù)電路30,該充電保護(hù)電路30用于在該電池10連接至充電裝置2進(jìn)行充電時(shí),對(duì)該電池10提供保護(hù)。
該充電保護(hù)電路30包括開(kāi)關(guān)模塊31、CPU(Central Processing Unit,中央處理器)33、電流保護(hù)模塊35及溫度保護(hù)模塊37。
該開(kāi)關(guān)模塊31連接至該充電裝置200與該電池10之間。該CPU 33與該開(kāi)關(guān)模塊31相連,該CPU 33通過(guò)該開(kāi)關(guān)模塊31控制該充電裝置2開(kāi)始或者停止向該電池10提供充電電流。
在本較佳實(shí)施例中,該開(kāi)關(guān)模塊31包括第一MOS(Metal Oxide Semiconductor,金屬氧化物半導(dǎo)體)管Q1及第二MOS管Q2。在本較佳實(shí)施例中,該第一MOS管Q1及第二MOS管Q2均為P溝道增強(qiáng)型MOS管。該第一MOS管Q1的柵極G與該CPU 33相連,漏極D與該充電裝置2相連,源極S與該第二MOS管Q2的源極S相連,該第二MOS管Q2的柵極G與該CPU 33相連,漏極D與該電池10相連。
該電流保護(hù)模塊35連接至該充電裝置2與該電池10之間,當(dāng)該充電電流大于預(yù)設(shè)電流時(shí),該電流保護(hù)模塊35斷開(kāi),以控制該充電裝置2停止向該電池10提供該充電電流。在本較佳實(shí)施例中,該電流保護(hù)模塊35為自恢復(fù)保險(xiǎn)絲,當(dāng)流過(guò)該自恢復(fù)保險(xiǎn)絲的充電電流超過(guò)預(yù)設(shè)電流時(shí),該自恢復(fù)保險(xiǎn)絲斷路,以斷開(kāi)該充電裝置2與該電池10的連接;當(dāng)流過(guò)該自恢復(fù)保險(xiǎn)絲的充電電流小于預(yù)設(shè)電流時(shí),則自恢復(fù)保險(xiǎn)絲恢復(fù)到導(dǎo)通狀態(tài),以恢復(fù)該充電裝置2與該電池10的連接。
該溫度保護(hù)模塊37與該CPU 33相連,用于感測(cè)該開(kāi)關(guān)模塊31周圍的溫度變化,該CPU 33根據(jù)該溫度變化調(diào)節(jié)該充電電流大小。在本較佳實(shí)施例中,該溫度保護(hù)模塊37包括串聯(lián)的熱敏電阻R1及分壓電阻R3,該串聯(lián)的熱敏電阻R1及分壓電阻R2一端接地,另一端連接電源Vmos,該熱敏電阻R1與該分壓電阻R2之間具有節(jié)點(diǎn)N,該節(jié)點(diǎn)N與該CPU 33相連,當(dāng)該開(kāi)關(guān)模塊31的該第一MOS管Q1及第二MOS管Q2周圍的溫度變化,該熱敏電阻R1兩端的電壓發(fā)生相應(yīng)的變化,該CPU 33根據(jù)該電壓變化來(lái)調(diào)節(jié)該充電電流的大小。
可以理解,所述熱敏電阻R1為串入PTC(Positive Temperature Coefficient,正溫度系數(shù))電阻、并入NTC負(fù)溫度系數(shù)(Negative Temperature Coefficient,負(fù)溫度系數(shù))電阻及采用串入PTC電阻的同時(shí)并入NTC電阻的組合方式任意一種。
當(dāng)該電池10連接至該充電裝置2進(jìn)行充電時(shí),該CPU 33控制第一MOS管Q1及第二MOS管Q2導(dǎo)通,該充電電流經(jīng)該第一MOS管Q1及第二MOS管Q2進(jìn)入至該電池10。如果充電過(guò)程中,該充電電流發(fā)生異常,且大于預(yù)設(shè)電流時(shí),該保險(xiǎn)絲熔斷,以斷開(kāi)該充電裝置2與該電池10的連接。另外,當(dāng)?shù)谝籑OS管Q1及第二MOS管Q2溫度升高,該熱敏電阻R1的電阻值降低,節(jié)點(diǎn)N的電壓也相應(yīng)降低,該CPU 33根據(jù)該電壓變化來(lái)調(diào)節(jié)充電電流大小,避免第一MOS管Q1及第二MOS管Q2的溫度持續(xù)過(guò)高,從而對(duì)電子裝置1提供溫度保護(hù)。
本發(fā)明的充電保護(hù)電路30可在該充電電流過(guò)大時(shí)及時(shí)斷開(kāi)斷開(kāi)該充電裝置2與該電池10的連接,從而保護(hù)電池10及其他器件避免其因電流過(guò)大而燒壞;同時(shí),該充電保護(hù)電路30還可感測(cè)該第一MOS管Q1及第二MOS管Q2的溫度變化,對(duì)該充電電流進(jìn)行調(diào)節(jié),防止該第一MOS管Q1及第二MOS管Q2的溫度過(guò)大。
對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員而言,顯然本發(fā)明不限于上述示范性實(shí)施例的細(xì)節(jié),而且在不背離本發(fā)明的精神或基本特征的情況下,能夠以其他的具體形式實(shí)現(xiàn)本發(fā)明。因此,無(wú)論從哪一點(diǎn)來(lái)看,均應(yīng)將實(shí)施例看作是示范性的,而且是非限制性的,本發(fā)明的范圍由所附權(quán)利要求而不是上述說(shuō)明限定,因此旨在將落在權(quán)利要求的等同要件的含義和范圍內(nèi)的所有變化涵括在本發(fā)明內(nèi)。不應(yīng)將權(quán)利要求中的任何附圖標(biāo)記視為限制所涉及的權(quán)利要求。此外,顯然“包括”一詞不排除其他單元或,單數(shù)不排除復(fù)數(shù)。系統(tǒng)權(quán)利要求中陳述的多個(gè)單元或裝置也可以由一個(gè)單元或裝置通過(guò)軟件或者硬件來(lái)實(shí)現(xiàn)。第一,第二等詞語(yǔ)用來(lái)表示名稱,而并不表示任何特定的順序。
最后應(yīng)說(shuō)明的是,以上實(shí)施例僅用以說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案而非限制,盡管參照較佳實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)說(shuō)明,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解,可以對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行修改或等同替換,而不脫離本發(fā)明技術(shù)方案的精神和范圍。