專利名稱：一種利用壓電晶體進(jìn)行轉(zhuǎn)子對中的調(diào)整機(jī)構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及轉(zhuǎn)子對中技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種利用壓電晶體進(jìn)行轉(zhuǎn)子對中的調(diào)整機(jī)構(gòu)。
背景技術(shù)：
不對中對轉(zhuǎn)子系統(tǒng)的平穩(wěn)運(yùn)行危害極大，它會導(dǎo)致設(shè)備的振動、軸承的磨損、軸的撓曲變形和轉(zhuǎn)子與定子間的碰摩等。美國某化工公司在5年的振動實(shí)踐中發(fā)現(xiàn)，在旋轉(zhuǎn)機(jī)械眾多常見故障中，轉(zhuǎn)子不對中所引起的軸系故障約占總故障的60%。不對中在旋轉(zhuǎn)機(jī)械中如此常見，主要是由于不對中的找正和調(diào)整難度大、精度低所造成的。隨著激光測試技術(shù)在找正工作中的應(yīng)用，轉(zhuǎn)子的不對中找正變得簡單、快捷，且找正精度比傳統(tǒng)的打表方法提高了約10倍，可以實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量軸對中的要求。然而，對中調(diào)整技術(shù)卻相對滯后。目前，對中調(diào)整依舊靠挪動機(jī)座和在機(jī)座地腳下墊墊片等傳統(tǒng)手段來實(shí)現(xiàn)，這需要反復(fù)測量反復(fù)調(diào)整，調(diào)整周期長，勞動強(qiáng)度大，不但耗時(shí)耗力，而且調(diào)整精度難以保證。因此，急需一種精度高、簡單快捷的對中調(diào)整技術(shù)。

發(fā)明內(nèi)容
為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，本發(fā)明的目的在于提供一種利用壓電晶體進(jìn)行轉(zhuǎn)子對中的調(diào)整機(jī)構(gòu)，該調(diào)整機(jī)構(gòu)利用壓電晶體的逆壓電效應(yīng)和輸出力大的特性，具有對中簡單快捷和精度高的優(yōu)點(diǎn)。為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案為一種利用壓電晶體進(jìn)行轉(zhuǎn)子對中的調(diào)整機(jī)構(gòu)，包括軸承-轉(zhuǎn)子系統(tǒng)，軸承-轉(zhuǎn)子系統(tǒng)安裝在軸承座1內(nèi)，軸承座1通過壓電執(zhí)行單元安裝在殼體2內(nèi)，兩組或兩組以上的壓電執(zhí)行單元沿軸承座1軸向方向分布，并與軸承座1上對應(yīng)的圓錐形孔3配合，每組壓電執(zhí)行單元包括兩個(gè)或兩個(gè)以上的壓電晶體執(zhí)行器，每組壓電執(zhí)行單元中的壓電晶體執(zhí)行器沿軸承座1周向方向分布，每個(gè)壓電晶體執(zhí)行器包括端帽4、熱縮片5和壓電晶體6，壓電晶體6 的圓臺形頭部與圓錐形孔3配合，壓電晶體6的另一端裝有熱縮片5，熱縮片5嵌入在端帽 4中，端帽4與殼體2通過螺紋進(jìn)行連接。本發(fā)明的有益效果是通過控制壓電晶體的伸縮變形，可以簡單快捷地實(shí)現(xiàn)轉(zhuǎn)子的對中調(diào)整；壓電晶體的輸出力大，能夠提供足夠大的支承力；使用了熱縮片，降低了工作過程中溫度對壓電晶體執(zhí)行器的影響；壓電晶體執(zhí)行器的圓臺形頭部和軸承座上與之對應(yīng)的圓錐形孔相配合，保證了轉(zhuǎn)子在軸向的穩(wěn)定。


圖1為本發(fā)明的俯視圖。圖2為圖1的G-G方向剖視圖。圖3為圖1的H-H方向剖視圖。
圖4為本發(fā)明的壓電晶體執(zhí)行器的結(jié)構(gòu)示意圖。圖5為本發(fā)明在平行不對中情況下調(diào)整的示意圖。圖6為本發(fā)明在偏角不對中情況下調(diào)整的示意圖。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖對本發(fā)明做詳細(xì)描述。參照圖1、圖2和圖3，一種利用壓電晶體進(jìn)行轉(zhuǎn)子對中的調(diào)整機(jī)構(gòu)，包括軸承-轉(zhuǎn)子系統(tǒng)，軸承-轉(zhuǎn)子系統(tǒng)安裝在軸承座1內(nèi)，軸承座1通過壓電執(zhí)行單元安裝在殼體2內(nèi)，兩組或兩組以上的壓電執(zhí)行單元沿軸承座1軸向方向分布，并與軸承座1上對應(yīng)的圓錐形孔 3配合，每組壓電執(zhí)行單元包括兩個(gè)或兩個(gè)以上的壓電晶體執(zhí)行器，每組壓電執(zhí)行單元中的壓電晶體執(zhí)行器沿軸承座1周向方向分布，參照圖4，每個(gè)壓電晶體執(zhí)行器包括端帽4、熱縮片5和壓電晶體6，壓電晶體6的圓臺形頭部與圓錐形孔3配合，壓電晶體6的另一端裝有熱縮片5，熱縮片5嵌入在端帽4中，端帽4與殼體2通過螺紋進(jìn)行連接。本發(fā)明的工作原理為利用壓電晶體的逆壓電效應(yīng)，通過改變壓電晶體執(zhí)行器中的電流的大小來實(shí)現(xiàn)壓電晶體6的變形，由于壓電晶體6與浮動的軸承座1相接觸，壓電晶體6的變形將引起軸承座1位置的變化，這種變化經(jīng)過軸承-轉(zhuǎn)子系統(tǒng)傳遞至轉(zhuǎn)子7，轉(zhuǎn)子7的位置因此發(fā)生改變， 兩組或兩組以上的壓電執(zhí)行單元沿軸承座1軸向方向分布在不同的位置，每組壓電執(zhí)行單元包含有兩個(gè)或兩個(gè)以上的壓電晶體執(zhí)行器，每組壓電執(zhí)行單元中的壓電晶體執(zhí)行器沿軸承座1周向方向分布，這種結(jié)構(gòu)可以動態(tài)、高精度地實(shí)現(xiàn)轉(zhuǎn)子7空間位置的控制。參照圖5，對于平行不對中的情況，轉(zhuǎn)子7需要向上平移，這時(shí)，通過控制系統(tǒng)，減小第一壓電晶體執(zhí)行器A和第五壓電晶體執(zhí)行器E上的電流，使第一壓電晶體執(zhí)行器A和第五壓電晶體執(zhí)行器E收縮，收縮長度為轉(zhuǎn)子需要的向上平移量，增大第三壓電晶體執(zhí)行器C和第六壓電晶體執(zhí)行器F上的電流，使其伸長，伸長量亦為轉(zhuǎn)子需要的向上平移量。參照圖6，對于偏角不對中的情況，此時(shí)的不對中調(diào)整方法有兩種方法一，通過控制系統(tǒng)，增大第一壓電晶體執(zhí)行器A上的電流，使其伸長，減小第三壓電晶體執(zhí)行器C上的電流，使其對應(yīng)縮短，將偏角不對中轉(zhuǎn)變成平行不對中，再按照平行不對中的調(diào)整方法進(jìn)行調(diào)整；方法二，通過控制系統(tǒng)，增大第一壓電晶體執(zhí)行器A和第五壓電晶體執(zhí)行器E上的電流，使A、E兩壓電晶體執(zhí)行器的伸長量符合一定的比例關(guān)系，同時(shí)減小第三壓電晶體執(zhí)行器C和第六壓電晶體執(zhí)行器F上的電流，使C、F兩壓電晶體執(zhí)行器的收縮量與A、E兩壓電晶體執(zhí)行器的伸長量分別對應(yīng)即可。附圖中1為軸承座，2為殼體，3為圓錐形孔，4為端帽，5為熱縮片，6為壓電晶體， 7為轉(zhuǎn)子，A為第一壓電晶體執(zhí)行器，B為第二壓電晶體執(zhí)行器，C為第三壓電晶體執(zhí)行器，D 為第四壓電晶體執(zhí)行器，E為第五壓電晶體執(zhí)行器，F(xiàn)為第六壓電晶體執(zhí)行器。
權(quán)利要求
1. 一種利用壓電晶體進(jìn)行轉(zhuǎn)子對中的調(diào)整機(jī)構(gòu)，包括軸承-轉(zhuǎn)子系統(tǒng)，軸承-轉(zhuǎn)子系統(tǒng)安裝在軸承座(1)內(nèi)，其特征在于軸承座(1)通過壓電執(zhí)行單元安裝在殼體O)內(nèi)，兩組或兩組以上的壓電執(zhí)行單元沿軸承座(1)軸向方向分布，并與軸承座(1)上對應(yīng)的圓錐形孔C3)配合，每組壓電執(zhí)行單元包括兩個(gè)或兩個(gè)以上的壓電晶體執(zhí)行器，每組壓電執(zhí)行單元中的壓電晶體執(zhí)行器沿軸承座(1)周向方向分布，每個(gè)壓電晶體執(zhí)行器包括端帽、熱縮片(5)和壓電晶體(6)，壓電晶體(6)的圓臺形頭部與圓錐形孔(3)配合，壓電晶體(6) 的另一端裝有熱縮片(5)，熱縮片(5)嵌入在端帽中，端帽(4)與殼體(2)通過螺紋進(jìn)行連接。
全文摘要
一種利用壓電晶體進(jìn)行轉(zhuǎn)子對中的調(diào)整機(jī)構(gòu)，包括軸承-轉(zhuǎn)子系統(tǒng)，軸承-轉(zhuǎn)子系統(tǒng)安裝在軸承座內(nèi)，軸承座通過多組沿其軸向方向分布的壓電執(zhí)行單元安裝在殼體內(nèi)，每組壓電執(zhí)行單元包括多個(gè)沿軸承座周向方向分布的壓電晶體執(zhí)行器，每個(gè)壓電晶體執(zhí)行器包括端帽、熱縮片和壓電晶體，壓電晶體的圓臺形頭部與軸承座上對應(yīng)的圓錐形孔配合，壓電晶體的另一端裝有熱縮片，熱縮片嵌入在與殼體通過螺紋進(jìn)行連接的端帽中，利用壓電晶體的逆壓電效應(yīng)，通過改變壓電晶體執(zhí)行器中的電流的大小來實(shí)現(xiàn)壓電晶體的變形，從而引起軸承座位置的變化，再通過軸承-轉(zhuǎn)子系統(tǒng)帶來轉(zhuǎn)子位置的改變，以達(dá)到轉(zhuǎn)子對中的目的，本發(fā)明具有對中簡單快捷、精度高的優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號H02K15/16GK102324816SQ20111009814
公開日2012年1月18日 申請日期2011年4月19日 優(yōu)先權(quán)日2011年4月19日
發(fā)明者周健, 孫巖樺, 戚社苗, 王歡, 耿海鵬, 虞烈, 谷苗雨 申請人:西安交通大學(xué)