1200的內(nèi)表面，但是這次，由于來自參考LED的光被反射在陣 列1300而吸收，位于集成球1200的視場以內(nèi)的LED將會產(chǎn)生重新發(fā)射效應(yīng)。重新發(fā)射效 應(yīng)的程度依賴于位于視場以內(nèi)的LED的數(shù)目，或者等同意義上的重新發(fā)射面積。這接下來 依賴于LED的各個(gè)位置。例如，角落處的LED1310具有的相鄰LED比邊緣處的LED1312更 少，或比居中設(shè)置的LED1314更少。所以，為了生成修正分布圖，集成球1200的位置能夠被 如此改變以便于覆蓋相鄰LED的所有可能的模式。每個(gè)獨(dú)特模式的光學(xué)參數(shù)的測量值能夠 與缺少任何LED的情形下（即：在集成球1200設(shè)置在參考表面1250的上方）所獲得的參考 值比較，以便于獲得每個(gè)獨(dú)特模式的修正因子，因而生成修正分布圖。
[0082] 雖然本發(fā)明的特定實(shí)施例已經(jīng)得以詳細(xì)地闡述，在本發(fā)明的宗旨范圍內(nèi)，很多的 修改和改動(dòng)是可能的，這對于技術(shù)熟練的讀者而言將會是顯然的。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種生成用于LED測試流程的修正函數(shù)的方法，該方法包含有以下步驟： 在檢測器的視場內(nèi)，檢測參考LED發(fā)出的光和從位于板體上的一個(gè)或多個(gè)非激活LED反射的光；視場內(nèi)所述非激活LED的數(shù)目被如此改變以致于至少一個(gè)光學(xué)參數(shù)的錯(cuò)誤值作 為視場內(nèi)非激活LED的數(shù)目的函數(shù)得以獲得； 檢測在沒有任何其他LED的情形下參考LED或者激活LED發(fā)出的光，以確定該或每個(gè) 所述光學(xué)參數(shù)的至少一個(gè)參考值，該激活LED和參考LED具有相同的光學(xué)屬性；以及 計(jì)算該錯(cuò)誤值和該或每個(gè)參考值之間的差值，以生成修正函數(shù)，該修正函數(shù)是依賴于 檢測器檢測處于測試條件下LED發(fā)出的光時(shí)檢測器的視場內(nèi)所設(shè)置的非激活LED的數(shù)目。
2. 如權(quán)利要求1所述的方法，其中，該非激活LED的數(shù)目是通過改變該板體位于視場內(nèi) 的區(qū)域而得以變化。
3. 如權(quán)利要求2所述的方法，其中，該非激活LED的數(shù)目是通過有選擇性地將視場或者 板體或者二者掩飾而得以變化。
4. 如權(quán)利要求2所述的方法，其中，該非激活LED的數(shù)目是通過改變該板體上參考LED 的位置而得以變化。
5. 如權(quán)利要求4所述的方法，其中，激活LED的位置選自以下的組群，該組群包括： 采樣區(qū)域的面積最大時(shí)的內(nèi)部區(qū)域； 至少一個(gè)角落區(qū)域； 至少一個(gè)邊緣區(qū)域。
6. 如權(quán)利要求3所述的方法，該方法還包括： 改變檢測器的輸入端口的孔洞。
7. 如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述的參考LED設(shè)置在參考LED的標(biāo)準(zhǔn)板上，所述 的標(biāo)準(zhǔn)板和所述的板體具有相同的LED布置。
8. 如權(quán)利要求1所述的方法，該方法還包含有以下步驟： 在集成球的輸入端口位于漫反射表面上方的情形下，通過參考LED照射集成球的內(nèi)表 面，以獲得參考值； 在多個(gè)位置處設(shè)置輸入端口，在每個(gè)位置處的視場具有設(shè)置在那里的不同數(shù)目的非激 活LED; 在多個(gè)位置處測量該至少一個(gè)光學(xué)參數(shù)，以獲得該至少一個(gè)光學(xué)參數(shù)的錯(cuò)誤值；以及 計(jì)算該錯(cuò)誤值和該或每個(gè)參考值之間的差值。
9. 如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述至少一個(gè)光學(xué)參數(shù)選自以下的組群，該組群包 括：色度座標(biāo)；相關(guān)色溫；顯色指數(shù)；輻射通量和光通量。
10. -種在LED板上進(jìn)行的LED測試流程，該流程包含有以下步驟： 測量位于該LED板上處于測試條件下的LED的至少一個(gè)光學(xué)參數(shù)，來自所述LED的光 福射在光學(xué)檢測器的視場以內(nèi)； 確定位于該LED板上處于視場以內(nèi)的非激活LED的數(shù)目； 提取或否則獲得修正因子，所述修正因子從依賴于非激活LED的數(shù)目的修正函數(shù)中獲 取，當(dāng)光學(xué)檢測器檢測處于測試條件下的LED發(fā)出的光時(shí)該非激活LED設(shè)置在檢測器的視 場內(nèi)；以及 將修正因子應(yīng)用在被測量的光學(xué)參數(shù)上。
11. 如權(quán)利要求10所述的流程，該流程還包含有：生成修正函數(shù)。
12. 如權(quán)利要求11所述的流程，其中，所述的生成包含有以下步驟： 檢測參考LED發(fā)出的光和從一個(gè)或多個(gè)位于視場內(nèi)的非激活LED反射的光，所述非激 活LED的數(shù)目被如此改變以致于至少一個(gè)光學(xué)參數(shù)的錯(cuò)誤值作為視場內(nèi)非激活LED的數(shù)目 的函數(shù)而得以獲得； 檢測在沒有任何其他LED的情形下參考LED或者激活LED發(fā)出的光，以確定該或每個(gè) 所述光學(xué)參數(shù)的至少一個(gè)參考值，該激活LED和參考LED具有相同的光學(xué)屬性；以及 計(jì)算該錯(cuò)誤值和該或每個(gè)參考值之間的差值，以生成修正函數(shù)，該修正函數(shù)是依賴于 光學(xué)檢測器檢測處于測試條件下的LED發(fā)出的光時(shí)視場內(nèi)所設(shè)置的非激活LED的數(shù)目。
13. -種生成用于LED板的LED測試流程的修正函數(shù)的系統(tǒng)，該系統(tǒng)包含有： 光學(xué)檢測器，其具有視場； 參考LED，其具有公知的光學(xué)屬性； 驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，其用于將光學(xué)檢測器定位以檢測參考LED發(fā)出的光或者激活LED發(fā)出的光， 和從LED板的一個(gè)或多個(gè)位于視場內(nèi)的非激活LED反射的光，該激活LED和參考LED具有 相同的光學(xué)屬性； 面模，其用于改變位于視場內(nèi)的非激活LED的數(shù)目，以致于被檢測光的至少一個(gè)光學(xué) 參數(shù)的錯(cuò)誤值作為視場內(nèi)非激活LED的數(shù)目的函數(shù)而得以獲得； 至少一個(gè)處理器，其用于計(jì)算該錯(cuò)誤值和參考值之間的差值，以生成修正函數(shù)，該參考 值通過檢測在沒有任何其他LED的情形下參考LED或者激活LED發(fā)出的光而得以確定，該 修正函數(shù)是依賴于光學(xué)檢測器檢測處于測試條件下的LED發(fā)出的光時(shí)視場內(nèi)所設(shè)置的非 激活LED的數(shù)目。
14. 如權(quán)利要求13所述的系統(tǒng)，其中，所述的面模是可移動(dòng)的，以掩飾LED板位于視場 內(nèi)的可變的局部，藉此改變視場內(nèi)非激活LED的數(shù)目。
15. 如權(quán)利要求14所述的系統(tǒng)，其中，所述的面?？杀徊僮鱽眈罱又罼Y轉(zhuǎn)換平臺上。
16. 如權(quán)利要求13所述的系統(tǒng)，其中，所述的面模包含有耦接至該檢測器的輸入端口 上的光圈。
17. -種生成用于LED板的LED測試流程的修正函數(shù)的系統(tǒng)，該系統(tǒng)包含有： 光學(xué)檢測器，其具有反射性的內(nèi)表面和定義視場的輸入端口，該光學(xué)檢測器被配置來 測量由光學(xué)檢測器所檢測的光的至少一個(gè)光學(xué)參數(shù)； 參考LED，其具有公知的光學(xué)屬性，并被設(shè)置來照射該光學(xué)檢測器的內(nèi)表面； 漫反射參考表面，其上設(shè)置有輸入端口，以檢測從該參考表面處所反射的光；以及 驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，其用于在多個(gè)位置處將輸入端口定位于LED板的上方，藉此改變位于視場 內(nèi)的LED的數(shù)目，以使用從檢測器的內(nèi)表面處所反射的光照射所述的LED，并檢測從所述的 LED所反射的光； 其中： 輸入端口設(shè)置在漫反射參考表面的上方，以測量該至少一個(gè)光學(xué)參數(shù)，和藉此獲得該 至少一個(gè)光學(xué)參數(shù)的參考值；以及 輸入端口設(shè)置在該多個(gè)位置的上方，以獲得該至少一個(gè)光學(xué)參數(shù)的多個(gè)錯(cuò)誤值。
18. -種生成用于LED測試流程的修正因子分布圖的方法，該方法包含有以下步驟： 檢測參考LED發(fā)出的光和從與位于LED板上一位置相鄰的一個(gè)或多個(gè)非激活LED反射 的光；該位置被如此改變以致于至少一個(gè)光學(xué)參數(shù)的錯(cuò)誤值作為位置的函數(shù)得以獲得； 檢測在沒有任何其他LED的情形下參考LED或者激活LED發(fā)出的光，以確定該或每個(gè) 所述光學(xué)參數(shù)的至少一個(gè)參考值，該激活LED和參考LED具有相同的光學(xué)屬性；以及 計(jì)算該錯(cuò)誤值和該或每個(gè)參考值之間的差值，以生成修正因子的分布圖，該修正因子 的分布圖是依賴于檢測器檢測處于測試條件下LED發(fā)出的光時(shí)檢測器的視場內(nèi)所設(shè)置的 非激活LED的數(shù)目。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種生成用于LED測試流程的修正函數(shù)的方法，該方法包含有以下步驟：在檢測器的視場內(nèi)，檢測參考LED發(fā)出的光和從位于板體上的一個(gè)或多個(gè)非激活LED反射的光；視場內(nèi)所述非激活LED的數(shù)目被如此改變以致于至少一個(gè)光學(xué)參數(shù)的錯(cuò)誤值作為視場內(nèi)非激活LED的數(shù)目的函數(shù)得以獲得；檢測在沒有任何其他LED的情形下參考LED或者激活LED發(fā)出的光，以確定該或每個(gè)所述光學(xué)參數(shù)的至少一個(gè)參考值，該激活LED和參考LED具有相同的光學(xué)屬性；以及計(jì)算該錯(cuò)誤值和該或每個(gè)參考值之間的差值，以生成修正函數(shù)，該修正函數(shù)是依賴于檢測器檢測處于測試條件下LED發(fā)出的光時(shí)檢測器的視場內(nèi)所設(shè)置的非激活LED的數(shù)目。
【IPC分類】H01L33-00, H01L21-66
【公開號】CN104779325
【申請?zhí)枴緾N201410013271
【發(fā)明人】麥家儀, 汪世杰, 劉曉蘭, 俱劍君
【申請人】先進(jìn)科技新加坡有限公司
【公開日】2015年7月15日
【申請日】2014年1月10日
【公告號】US20150198480