技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供一種基于光致發(fā)光評估多晶硅錠的晶體質(zhì)量的方法，涉及多晶硅生產(chǎn)領(lǐng)域，包括以下步驟：建立光致發(fā)光硅片檢測系統(tǒng)；以光致發(fā)光硅片檢測系統(tǒng)檢測多晶硅片；獲取多晶硅片的少子壽命、位錯、晶界信息和雜質(zhì)含量的影響因子；將多晶硅片制備成電池片，測試電池片的電性能參數(shù)；根據(jù)各個影響因子對電池片的電性能影響程度，獲取Q值；根據(jù)Q值評估多晶硅片的質(zhì)量。通過采用以上的方案，能夠構(gòu)建表征多晶硅片和硅錠晶體質(zhì)量的特征值，通過在線應(yīng)用檢測，評估多晶硅片的晶體質(zhì)量，同時以此評估整個硅錠的晶體質(zhì)量，提供熱場結(jié)構(gòu)改進和鑄錠工藝優(yōu)化的方向。

技術(shù)研發(fā)人員：李易成;梁學(xué)勤;陳發(fā)勤;李旭敏;李宏;張軍
受保護的技術(shù)使用者：宜昌南玻硅材料有限公司;中國南玻集團股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：2017.05.26
技術(shù)公布日：2017.08.15