技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種通過(guò)式探測(cè)器的線圈結(jié)構(gòu)及通過(guò)式探測(cè)器，屬于探測(cè)器技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)：

在原材料冶煉廠、金屬加工廠等企業(yè)中，為防止工作人員違規(guī)將廠內(nèi)銅或不銹鋼這些高價(jià)值的金屬面板或板材帶出，通常情況下都會(huì)安裝通過(guò)式探測(cè)器。然而，現(xiàn)有技術(shù)中的通過(guò)式探測(cè)器測(cè)試可靠性有待提高，在使用過(guò)程中經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)漏判的情況。

在通過(guò)式探測(cè)器內(nèi)，如果磁力線分布基本沿水平方向。在這種情況下，如果被測(cè)人員持有一銅或不銹鋼金屬面板，藏匿于腹部皮帶扣位置，通過(guò)通過(guò)式探測(cè)器。在通過(guò)通過(guò)式探測(cè)器過(guò)程中保持金屬面板截面基本與磁力線方向平行，這時(shí)候，金屬面板產(chǎn)生的渦流效應(yīng)較小，檢測(cè)到渦流信號(hào)較弱。這時(shí)候就有可能造成漏判。另一方面，在通過(guò)式探測(cè)器的頂部，由于磁感線分布比較少，產(chǎn)生的渦流信號(hào)也會(huì)比較弱，也會(huì)產(chǎn)生造成漏判。在用于檢測(cè)手機(jī)的場(chǎng)合，手機(jī)也常常被隱匿于皮帶扣下，這使通過(guò)式探測(cè)器出現(xiàn)該漏判情況。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明為了克服現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，提供一種通過(guò)式探測(cè)器的線圈結(jié)構(gòu)及通過(guò)式探測(cè)器。

本發(fā)明可以通過(guò)采取以下技術(shù)方案予以實(shí)現(xiàn)：

一種通過(guò)式探測(cè)器的線圈結(jié)構(gòu)，包括第一發(fā)射線圈組、第二發(fā)射線圈組和接收線圈，第一發(fā)射線圈組和第二發(fā)射線圈組分別與接收線圈以電磁耦合方式連接，其中，第一發(fā)射線圈組的兩個(gè)發(fā)射線圈的電流的法線方向在同一時(shí)刻相反，第二發(fā)射線圈組的兩個(gè)發(fā)射線圈的電流的法線方向在同一時(shí)刻相同。

優(yōu)選的是，所述第一發(fā)射線圈組的電流的頻率與所述第二發(fā)射線圈組的電流的頻率不同。

優(yōu)選的是，所述第一發(fā)射線圈組和所述第二發(fā)射線圈組平行設(shè)置。

優(yōu)選的是，所述第一發(fā)射線圈組的兩個(gè)發(fā)射線圈平行設(shè)置。

優(yōu)選的是，所述第二發(fā)射線圈組的兩個(gè)發(fā)射線圈平行設(shè)置。

優(yōu)選的是，所述接收線圈包括正向線圈和反向線圈，正向線圈與反向線圈反向連接。

優(yōu)選的是，所述正向線圈與反向線圈不相交。

優(yōu)選的是，所述正向線圈與反向線圈對(duì)稱設(shè)置。

優(yōu)選的是，所述接收線圈至少設(shè)有兩個(gè)，同一個(gè)接收線圈的正向線圈與反向線圈之間設(shè)有另一個(gè)接收線圈的正向線圈或者反向線圈。

一種通過(guò)式探測(cè)器，包括探測(cè)器殼體以及安裝在控制器殼體上的第一發(fā)射線圈組、第二發(fā)射線圈組、接收線圈和主機(jī)，探測(cè)器殼體的中部設(shè)有安檢通道，第一發(fā)射線圈組的兩個(gè)發(fā)射線圈分別設(shè)置在安檢通道的兩側(cè)，第二發(fā)射線圈組的兩個(gè)發(fā)射線圈分別設(shè)置在安檢通道的兩側(cè)，第一發(fā)射線圈組和第二發(fā)射線圈組分別與接收線圈以電磁耦合方式連接，第一發(fā)射線圈組、第二發(fā)射線圈組和接收線圈均與主機(jī)電連接，其中，第一發(fā)射線圈組的兩個(gè)發(fā)射線圈的電流的法線方向在同一時(shí)刻相反，第二發(fā)射線圈組的兩個(gè)發(fā)射線圈的電流的法線方向在同一時(shí)刻相同。

優(yōu)選的是，所述第一發(fā)射線圈組的電流的頻率與所述第二發(fā)射線圈組的電流的頻率不同。

優(yōu)選的是，所述第一發(fā)射線圈組和所述第二發(fā)射線圈組平行設(shè)置。

優(yōu)選的是，所述第一發(fā)射線圈組的兩個(gè)發(fā)射線圈平行設(shè)置。

優(yōu)選的是，所述第二發(fā)射線圈組的兩個(gè)發(fā)射線圈平行設(shè)置。

優(yōu)選的是，所述接收線圈包括正向線圈和反向線圈，正向線圈與反向線圈反向連接。

優(yōu)選的是，所述正向線圈與反向線圈不相交。

優(yōu)選的是，所述正向線圈與反向線圈對(duì)稱設(shè)置。

優(yōu)選的是，所述接收線圈至少設(shè)有兩個(gè)，同一個(gè)接收線圈的正向線圈與反向線圈之間設(shè)有另一個(gè)接收線圈的正向線圈或者反向線圈。

與現(xiàn)有技術(shù)相比較，本發(fā)明的有益效果是：本發(fā)明在探測(cè)器殼體的中部設(shè)有安檢通道，第一發(fā)射線圈組的兩個(gè)發(fā)射線圈分別設(shè)置在安檢通道的兩側(cè)，第二發(fā)射線圈組的兩個(gè)發(fā)射線圈分別設(shè)置在安檢通道的兩側(cè)，第一發(fā)射線圈組和第二發(fā)射線圈組分別與接收線圈以電磁耦合方式連接，第一發(fā)射線圈組、第二發(fā)射線圈組和接收線圈均與主機(jī)電連接，其中，第一發(fā)射線圈組的兩個(gè)發(fā)射線圈的法線方向在同一時(shí)刻相反，第二發(fā)射線圈組的兩個(gè)發(fā)射線圈的法線方向在同一時(shí)刻相同，利用第一發(fā)射線圈組產(chǎn)生發(fā)散磁場(chǎng)和第二發(fā)射線圈組產(chǎn)生的同向磁場(chǎng)依次對(duì)以不同擺放姿態(tài)通過(guò)安檢通道的金屬面板進(jìn)行檢測(cè)，同時(shí)，利用同向磁場(chǎng)條件，解決在發(fā)散磁場(chǎng)條件下金屬面板平行于第一發(fā)射線圈從安檢通道的中間位置通過(guò)時(shí)難檢測(cè)的問(wèn)題，利用發(fā)散磁場(chǎng)條件，解決在同向磁場(chǎng)條件下金屬面板藏匿于腹部皮帶扣位置難檢測(cè)的問(wèn)題，兩者互補(bǔ)，大大提高了金屬檢測(cè)的可靠性，有效地避免了通過(guò)式探測(cè)器漏判錯(cuò)判現(xiàn)象，保證安檢工作的順利進(jìn)行。

附圖說(shuō)明

圖1是本發(fā)明的通過(guò)式探測(cè)器的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本發(fā)明的通過(guò)式探測(cè)器的接收線圈的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是本發(fā)明的通過(guò)式探測(cè)器的接收線圈的正線圈和反線圈的連接結(jié)構(gòu)圖；

圖4是本發(fā)明的通過(guò)式探測(cè)器的接收線圈的正線圈和反線圈的另一連接結(jié)構(gòu)圖；

圖5是本發(fā)明的通過(guò)式探測(cè)器的接收線圈的正線圈和反線圈的另一連接結(jié)構(gòu)圖。

具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施方式作詳細(xì)描述。

如圖1所示，一種通過(guò)式探測(cè)器的線圈結(jié)構(gòu)，包括第一發(fā)射線圈組1、第二發(fā)射線圈組2和接收線圈501，第一發(fā)射線圈組1和第二發(fā)射線圈組2分別與接收線圈3以電磁耦合方式連接，其中，第一發(fā)射線圈組1的兩個(gè)發(fā)射線圈11、12的電流的法線方向在同一時(shí)刻相反，第二發(fā)射線圈2組的兩個(gè)發(fā)射線圈21、22的電流的法線方向在同一時(shí)刻相同。其中，所述第一發(fā)射線圈組1和所述第二發(fā)射線圈組2平行設(shè)置；所述第一發(fā)射線圈組1的兩個(gè)發(fā)射線圈11、12平行設(shè)置；所述第二發(fā)射線圈組2的兩個(gè)發(fā)射線圈21、22平行設(shè)置，所述第一發(fā)射線圈組1的電流的頻率與所述第二發(fā)射線圈組2的電流的頻率不同。

第一發(fā)射線圈組1的兩個(gè)發(fā)射線圈11、12、第二發(fā)射線圈組2的兩個(gè)發(fā)射線圈21、22與接收線圈501以耦合方式連接。由于發(fā)射線圈11、12、21、22與接收線圈配合設(shè)置方式是一樣的，在此僅描述發(fā)射線圈11與接收線圈501的結(jié)構(gòu)。

如圖2所示，第一發(fā)射線圈11與接收線圈501以耦合方式連接。接收線圈501包括正向線圈502和反向線圈503，正向線圈502與反向線圈503反向連接。第一發(fā)射線圈11與接收線圈501與主機(jī)連接。圖4中示出四個(gè)接收線圈501，需要說(shuō)明的是，接收線圈501的個(gè)數(shù)根據(jù)需要來(lái)進(jìn)行設(shè)置。

在繞線規(guī)則上，第一發(fā)射線圈11的繞線方向可以采用順時(shí)針或者逆時(shí)針?lè)较颉＝邮站€圈501中的正向線圈502與反向線圈503的繞線方向相反，即正向線圈502與反向線圈503反向連接。若正向線圈502采用順時(shí)針繞線方向，那么反向線圈503采用逆時(shí)針繞線方向，若正向線圈502采用逆時(shí)針繞線方向，那么反向線圈503采用順時(shí)針繞線方向。

根據(jù)上述繞線規(guī)則，在第一發(fā)射線圈11通過(guò)變化的電流時(shí)，通過(guò)調(diào)節(jié)正向線圈502或者反向線圈503的面積大小，正向線圈502產(chǎn)生的磁感應(yīng)效應(yīng)與反向線圈503產(chǎn)生的磁感應(yīng)效應(yīng)正好抵消。完成生產(chǎn)過(guò)程中的調(diào)零步驟。在另一方面，將接收線圈501設(shè)置成上述不相交，對(duì)稱形式，更有利于增強(qiáng)通過(guò)式探測(cè)器抗干擾的能力。

為了使通過(guò)式探測(cè)器設(shè)計(jì)上有更方便，接收線圈501的布局可以有多種設(shè)計(jì)形式。

如圖3所示，第一發(fā)射線圈11與接收線圈501以耦合方式連接。接收線圈501包括正向線圈502和反向線圈503，正向線圈502與反向線圈503反向連接。第一發(fā)射線圈11與接收線圈501與主機(jī)連接。圖3中示出兩個(gè)接收線圈501，需要說(shuō)明的是，接收線圈501的個(gè)數(shù)根據(jù)需要來(lái)進(jìn)行設(shè)置。

在繞線規(guī)則上，跟上述實(shí)施例方式相同，在這就不再贅述。

如圖4所示，第一發(fā)射線圈11與接收線圈501以耦合方式連接。接收線圈501包括正向線圈502和反向線圈503，正向線圈502與反向線圈503反向連接。第一發(fā)射線圈11與接收線圈501與主機(jī)連接。圖4中示出兩個(gè)接收線圈501，需要說(shuō)明的是，接收線圈501的個(gè)數(shù)根據(jù)需要來(lái)進(jìn)行設(shè)置。

在繞線規(guī)則上，跟上述相同，在這就不再贅述。

同一個(gè)接收線圈501的正向線圈502與反向線圈503之間設(shè)有另一個(gè)接收線圈501的正向線圈502或者反向線圈503。

圖5所示，第一發(fā)射線圈11與接收線圈501以耦合方式連接。接收線圈501包括正向線圈502和反向線圈503，正向線圈502與反向線圈503反向連接。第一發(fā)射線圈11與接收線圈501與主機(jī)連接。圖5中示出兩個(gè)接收線圈501，需要說(shuō)明的是，接收線圈501的個(gè)數(shù)根據(jù)需要來(lái)進(jìn)行設(shè)置。

在繞線規(guī)則上，跟上述相同，在這就不再贅述。

如圖1、圖2所示，一種通過(guò)式探測(cè)器，采用了上述的線圈結(jié)構(gòu)，其具體結(jié)構(gòu)包括探測(cè)器殼體3以及安裝在控制器殼體上的第一發(fā)射線圈組1、第二發(fā)射線圈組2、接收線圈501和主機(jī)（圖中未標(biāo)示），探測(cè)器殼體3的中部設(shè)有安檢通道，第一發(fā)射線圈組1的兩個(gè)發(fā)射線圈11、12分別設(shè)置在安檢通道的兩側(cè)，第二發(fā)射線圈組2的兩個(gè)發(fā)射線圈21、22分別設(shè)置在安檢通道的兩側(cè)，第一發(fā)射線圈組1和第二發(fā)射線圈組2分別與接收線圈501以電磁耦合方式連接，第一發(fā)射線圈組1、第二發(fā)射線圈組2和接收線圈501均與主機(jī)電連接，其中，第一發(fā)射線圈組1的兩個(gè)發(fā)射線圈11、12的電流的法線方向在同一時(shí)刻相反，第二發(fā)射線圈組2的兩個(gè)發(fā)射線圈21、22的電流的法線方向在同一時(shí)刻相同。其中，第一發(fā)射線圈組1和第二發(fā)射線圈組2的設(shè)置也可以如下：第一發(fā)射線圈組1的兩個(gè)發(fā)射線圈11、12的法線方向在同一時(shí)刻相同，第二發(fā)射線圈組2的兩個(gè)發(fā)射線圈21、22的法線方向在同一時(shí)刻相反。

主機(jī)用于控制，發(fā)射激勵(lì)信號(hào)給第一發(fā)射線圈組1的發(fā)射線圈11、12并測(cè)量接收線圈501的電壓信號(hào)。發(fā)射線圈11的電流的法線方向和發(fā)射線圈12的電流的法線方向相反，此時(shí)，發(fā)射線圈11產(chǎn)生的磁場(chǎng)的方向與發(fā)射線圈12產(chǎn)生的磁場(chǎng)的方向相反，磁場(chǎng)線分布較為發(fā)散?？紤]安檢通道的中間位置的檢測(cè)情況，因?yàn)樵撐恢脼闄z測(cè)的薄弱點(diǎn)。此時(shí)，若金屬面板垂直于發(fā)射線圈11從安檢通道的中間位置通過(guò)通過(guò)式探測(cè)器時(shí)，金屬面板的最大截面是垂直于磁場(chǎng)方向，金屬面板的渦流效應(yīng)較強(qiáng)，檢測(cè)效果較好；若金屬面板平行于發(fā)射線圈11從安檢通道的中間位置通過(guò)通過(guò)式探測(cè)器時(shí)，金屬面板的最大截面是平行于磁場(chǎng)方向，金屬面板的渦流效應(yīng)較弱，檢測(cè)效果較差。金屬面板通過(guò)通過(guò)式探測(cè)器，通過(guò)式探測(cè)器檢測(cè)到一組發(fā)散磁場(chǎng)下的渦流效應(yīng)數(shù)據(jù)并保存到主機(jī)中。

發(fā)射線圈21的電流方向與發(fā)射線圈22的電流方向相同，兩者產(chǎn)生的磁場(chǎng)方向相同，磁場(chǎng)線分布基本沿水平方向?？紤]安檢通道的中間位置的檢測(cè)情況，因?yàn)樵撐恢脼闄z測(cè)的薄弱點(diǎn)。此時(shí)，若金屬面板垂直于第一發(fā)射線圈21從安檢通道的中間位置通過(guò)通過(guò)式探測(cè)器時(shí)，金屬面板的最大截面是平行于磁場(chǎng)方向，金屬面板的渦流效應(yīng)較弱，檢測(cè)效果較差，此時(shí)通過(guò)式探測(cè)器有可能會(huì)產(chǎn)生漏判；若金屬面板平行于第一發(fā)射線圈21從安檢通道的中間位置通過(guò)通過(guò)式探測(cè)器時(shí)，金屬面板的最大截面是垂直于磁場(chǎng)方向，金屬面板的渦流效應(yīng)較強(qiáng)，檢測(cè)效果較好。金屬面板通過(guò)通過(guò)式探測(cè)器，通過(guò)式探測(cè)器檢測(cè)到一組同向磁場(chǎng)下的渦流效應(yīng)數(shù)據(jù)并保存到主機(jī)中。

金屬面板在短時(shí)間內(nèi)先后通過(guò)第一發(fā)射線圈組1和第二發(fā)射線圈組2，主機(jī)將上述檢測(cè)到的兩組渦流效應(yīng)數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，判斷兩組數(shù)據(jù)中的最佳值是否在標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)。無(wú)論金屬面板以怎樣的擺放方式通過(guò)安檢通道，通過(guò)式探測(cè)器都能從兩組數(shù)據(jù)中得到渦流效應(yīng)較強(qiáng)的數(shù)據(jù)，提高金屬面板的檢出率。

以上結(jié)合較佳實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了描述，但本發(fā)明并不局限于以上揭示的實(shí)施例，而應(yīng)當(dāng)涵蓋各種根據(jù)本發(fā)明的本質(zhì)進(jìn)行的修改、等效組合。